JP2014232103A5 - - Google Patents

Description

本発明の一態様によれば、偏光データを処理する方法が提供される。該方法は、
偏光感受型の光干渉断層計による偏光データの処理方法であって、
偏光感受型の光干渉断層計の偏光データの処理方法であって、
測定光で照射された計測対象のサンプルからの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合成することにより得られる合成光を、偏光ビームスプリッタを用いて分離することにより得られる光を検出し、
前記検出された光から得られた複数セットの偏光データを取得し、
前記複数セットの前記偏光データを、リターデーションおよび軸オリエンテーションに関する情報を含むベクトル形式の表現に変換し、
前記表現で表された前記複数セットの前記変換された偏光データを平均化し、
前記複数セットの前記平均化された偏光データからリターデーションおよび軸オリエンテーションを計算し、
前記計算されたリターデーションおよび軸オリエンテーションを用いて異なる種類の偏光感受型のＢスキャン画像を生成し、
前記生成された偏光感受型のＢスキャン画像の少なくとも１つを表示部に表示させる、ことを有する。
本発明の更なる特徴は、以下に添付の図面を参照して例示される実施形態の記載から明らかとなろう。

Claims (21)

1. 偏光感受型の光干渉断層計の偏光データの処理方法であって、
   測定光で照射された計測対象のサンプルからの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合成することにより得られる合成光を、偏光ビームスプリッタを用いて分離することにより得られる光を検出し、
   前記検出された光から得られた複数セットの偏光データを取得し、
   前記複数セットの前記偏光データを、リターデーションおよび軸オリエンテーションに関する情報を含むベクトル形式の表現に変換し、
   前記表現で表された前記複数セットの前記変換された偏光データを平均化し、
   前記複数セットの前記平均化された偏光データからリターデーションおよび軸オリエンテーションを計算し、
   前記計算されたリターデーションおよび軸オリエンテーションを用いて異なる種類の偏光感受型のＢスキャン画像を生成し、
   前記生成された偏光感受型のＢスキャン画像の少なくとも１つを表示部に表示させる、ことを有することを特徴とする偏光データの処理方法。
2. 前記複数セットの前記偏光データは、少なくとも２つの互いに異なる方向に係る偏光データ同士を除算し、２つの偏光データ間の位相差を前記表現に含まれる軸オリエンテーションへ変換することにより、前記表現に変換されることを特徴とする請求項１に記載の偏光データの処理方法。
3. 前記複数セットの前記偏光データは、少なくとも２つの互いに異なる方向に係る偏光データ同士を除算し、前記サンプルのリターデーションおよび軸オリエンテーションを含む複素データを生成することにより、前記表現に変換されることを特徴とする請求項１または２に記載の偏光データの処理方法。
4. 前記偏光データのセットは、異なる時刻に取得された偏光データを含むことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の偏光データの処理方法。
5. 前記偏光データのセットは、異なる空間的位置で取得された偏光データを含むことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の偏光データの処理方法。
6. 前記複数セットの前記偏光データは、前記偏光データのセットとしてＳｔｏｋｅｓベクトルのセットを計算することにより、前記表現に変換されることを特徴とする請求項１に記載の偏光データの処理方法。
7. 平均化された偏光データとして平均化Ｓｔｏｋｅｓベクトルを生成し、偏光データの強度に関してノルム１となるように前記平均化されたＳｔｏｋｅｓベクトルを正規化することにより、前記表現において表される前記複数セットの前記変換された偏光データが平均化される、ことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の偏光データの処理方法。
8. 前記複数セットの偏光データは、通信可能に接続されている、前記サンプルを撮像する偏光感受型の光干渉断層計によって取得される、ことを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の偏光データの処理方法。
9. 前記計算されたリターデーションおよび軸オリエンテーションを用いることにより、前記偏光感受型のＢスキャン画像としてリターデーション画像および軸オリエンテーション画像が生成される、ことを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の偏光データの処理方法。
10. 前記サンプルは眼であることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の偏光データの処理方法。
11. 偏光感受型の光干渉断層計の偏光データの処理装置であって、
    測定光で照射された計測対象のサンプルからの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合成することにより得られる合成光を、偏光ビームスプリッタを用いて分離することにより得られる光を検出する検出部と、
    前記検出された光から得られた複数セットの偏光データを取得する取得手段と、
    前記複数セットの前記偏光データを、リターデーションおよび軸オリエンテーションに関する情報を含むベクトル形式の表現に変換する変換手段と、
    前記表現で表された前記複数セットの前記変換された偏光データを平均化する平均化手段と、
    前記複数セットの前記平均化された偏光データからリターデーションおよび軸オリエンテーションを計算する計算手段と、
    前記計算されたリターデーションおよび軸オリエンテーションを用いて異なる種類の偏光感受型のＢスキャン画像を生成する生成手段と、
    前記生成された偏光感受型のＢスキャン画像の少なくとも１つを表示部に表示させる制御手段と、を有することを特徴とする偏光データの処理装置。
12. 前記変換手段は、少なくとも２つの互いに異なる方向に係る偏光データ同士を除算する計算を実行し、２つの偏光データ間の位相差を前記表現に含まれる軸オリエンテーションに変換することにより、前記表現に変換することを特徴とする請求項１１に記載の偏光データの処理装置。
13. 前記変換手段は、少なくとも２つの互いに異なる方向に係る偏光データ同士を除算する計算を実行し、前記サンプルのリターデーションおよび軸オリエンテーションを含む複素数データを生成することにより、前記表現に変換することを特徴とする請求項１１または１２に記載の偏光データの処理装置。
14. 前記取得手段は、異なる時刻に偏光データを取得することを特徴とする請求項１１乃至１３のいずれか１項に記載の偏光データの処理装置。
15. 前記取得手段は、異なる空間的位置で偏光データを取得することを特徴とする請求項１１乃至１４のいずれか１項に記載の偏光データの処理装置。
16. 前記変換手段は、前記偏光データのセットとしてＳｔｏｋｅｓベクトルのセットを計算することを特徴とする請求項１１に記載の偏光データの処理装置。
17. 前記平均化手段は、平均化された偏光データとして平均化Ｓｔｏｋｅｓベクトルを生成し、
    偏光データの強度に関してノルム１となるように前記平均化されたＳｔｏｋｅｓベクトルを正規化する正規化手段をさらに備える、ことを特徴とする請求項１１乃至１６のいずれか１項に記載の偏光データの処理装置。
18. 前記取得手段は、通信接続が可能な、前記サンプルを撮像する偏光感受型の光干渉断層計によって取得された前記複数セットの偏光データを取得する、ことを特徴とする請求項１１乃至１７のいずれか１項に記載の偏光データの処理装置。
19. 前記生成手段は、前記計算されたリターデーションおよび軸オリエンテーションを用いることにより、前記偏光感受型のＢスキャン画像としてリターデーション画像および軸オリエンテーション画像を生成する、ことを特徴とする請求項１１乃至１８のいずれか１項に記載の偏光データの処理装置。
20. 前記サンプルは眼であることを特徴とする請求項１１乃至１９のいずれか１項に記載の偏光データの処理装置。
21. 請求項１乃至１０のいずれか１項に記載された偏光データの処理方法の各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラム。