JP6647013B2 - 画像処理装置、画像処理方法及び光干渉断層撮影装置 - Google Patents
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Description
光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理装置において、
前記複数の断層信号に基づいて、前記被検体のリターデーションの値を演算する第一の演算手段と、
前記演算されたリターデーションの値の分布に基づいて、前記被検体のリターデーション画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する第一の抽出手段と、
前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値の分布を演算する第二の演算手段と、
前記演算された偏光の均一性を示す値の分布に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する第二の抽出手段と、を有する。
光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理装置において、
前記複数の断層信号を用いて得た前記被検体の偏光の位相差を示す値に基づいて、前記被検体の偏光の位相差を示す画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する第一の抽出手段と、
前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号を用いて得た前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する第二の抽出手段と、を有する。
次に、干渉光学計100の構成について説明する。光源101は、低コヒーレント光源であるSLD(super luminescent diode)であり、中心波長850nm、バンド幅50nmの光を出射する。光源101としてSLDを用いたが、ASE(Amplified Spontaneous Emission)等、低コヒーレント光が出射できる光源であれば何れでも良い。光源101から出射された光は、偏光保持ファイバ102、偏光コントローラ103を介して、偏光保持ファイバカップラ104に導かれ、測定光と参照光に分岐される。
前眼部撮像部160について説明する。前眼部撮像部160は、波長1000nmの照明光を発するLED115a、115bから成る照明光源115により前眼部Eaを照射する。前眼部Eaで反射された光は、フォーカスレンズ114、λ/4波長板113、レンズ112、ダイクロイックミラー111を介し、ダイクロイックミラー161に達する。ダイクロイックミラー161は、980nm〜1100nmの光を反射し、それ以外の光を透過する特性を有する。ダイクロイックミラー161で反射された光は、レンズ162、163、164を介し、前眼部カメラ165で受光される。前眼部カメラ165で受光された光は、電気信号に変換され、信号処理部182で受ける。
内部固視灯170について説明する。内部固視灯170は、表示部171及びレンズ172を有する。表示部171には、複数の発光ダイオード(LD)がマトリックス状に配置されたものを用いる。発光ダイオードの点灯位置は、駆動制御部181の制御により撮像したい部位に合わせて変更される。表示部171からの光は、レンズ172を介し、被検眼に導かれる。表示部171から出射される光は520nmで、駆動制御部181により所望のパターンが表示される。
制御装置180について説明する。制御装置180は、駆動制御部181、信号処理部182、制御部183、表示部184から構成される。駆動制御部181は、上述の通り各部を制御する。信号処理部182は、ラインカメラ129、133及び前眼部カメラ165それぞれから出力される信号に基づき、画像を生成する。信号処理部182はまた、生成した画像の解析、解析結果の可視化情報の生成を行う。なお、画像の生成などの詳細については、後述する。制御部183は、光干渉断層撮影装置全体を制御すると共に、信号処理部182で生成された画像等を表示部184の表示画面に表示する。表示部184は、制御部183の制御の下、後述するように種々の情報を表示する。ここで、表示部184は、例えば、液晶等のディスプレイである。なお、信号処理部182で生成された画像データは、制御部183に有線で送信されても良いし、無線で送信されても良い。この場合、制御部183を画像処理装置とみなすことができる。なお、制御装置180は、CPU、ROM、RAM等で構成され、後述する制御装置180の機能や処理は、CPUがROM等に格納されているプログラムを読み出し、このプログラムを実行することにより実現されるものである。
次に、信号処理部182における画像生成、画像解析について説明する。
信号処理部182は、ラインカメラ129、133から入力した干渉信号に対して、SD−PS−OCTに用いられる再構成処理を行うことで、断層信号を生成する。まず信号処理部182は、干渉信号から固定パターンノイズ除去を行う。固定パターンノイズ除去は検出した複数のAスキャンを平均することで固定パターンノイズを抽出し、これを入力した干渉信号から減算することで行われる。次に信号処理部182は、干渉信号を波長から波数の関数に変換し、フーリエ変換を行うことによって断層信号を生成する。以上の処理を2つの偏光成分の干渉信号に対して行うことにより、各偏光成分に基づいた2つの断層信号AH、AVと断層信号の位相ΦH、ΦVが生成される。
信号処理部182は、前述した2つの断層信号から断層輝度画像を生成する。信号処理部182は、断層信号を、Xスキャナ107及びYスキャナ110の駆動に同期して整列させることにより、各偏光成分に基づいた2つの断層画像(第1の偏光に対応する断層画像、第2の偏光に対応する断層画像とも言う)を生成する。輝度画像は従来のOCTにおける断層画像と基本的に同じもので、その画素値rは各ラインカメラ129、133から得られた断層信号AH、AVから(式1)によって計算される。図3(a)に黄斑部の輝度画像の例を示す。
<リターデーション画像生成>
次に、偏光の位相差を示す画像の一例であるリターデーション画像の生成について説明する。第一の演算手段の一例である信号処理部182は、互いに直行する偏光成分の断層信号からリターデーション画像を生成する。リターデーション画像の各画素の値δは、断層像を構成する各画素の位置において、垂直偏光成分と水平偏光成分の間の位相差を数値化したものであり、各断層信号AH、AVの振幅から(式2)によって計算される。
δ=arctan[AV/AH] ・・・(式2)
図3(b)は、このように生成された黄斑部のリターデーション画像(偏光の位相差を示す断層画像とも言う)の例を示したものであり、各Bスキャン画像に対して(式2)を計算することによって得ることができる。図3(b)は、断層画像において位相差が生じる箇所を表示しており、濃淡の濃い場所は位相差が小さく、濃淡の淡い場所は位相差が大きいことを表している。図3(b)の右側の濃淡バーは、リターデーションが0から90°の値を表す。リターデーション画像を生成することにより、複屈折性のある層を把握することが可能となる。網膜内の構造においては、視神経繊維層(nerve fiber layer;以下、NFL)が特異的な複屈折性を持つ。
δ=arctan(AV/AH)=tan−1(1)=45° ・・・(式3)
偏光解消する領域では、リターデーションは定義できない為、不正確な値が算出されている事になる。
網膜の平面方向であるリターデーションマップを生成する画像生成手段の一例である信号処理部182は、複数のBスキャン像に対して得たリターデーション(Retardation)画像からリターデーションマップを生成する。まず、信号処理部182は、各Bスキャン画像において、網膜色素上皮(以下、「RPE」ともいう)を検出する。RPEは偏光を解消する性質を持っているため、各Aスキャンを深度方向に沿って内境界膜(以下、「ILM」ともいう)からRPEを含まない範囲でリターデーションの分布を調べ、その最大値を当該Aスキャンにおけるリターデーションの代表値とする。信号処理部182は、以上の処理を全てのリターデーション画像に対して行うことにより、リターデーションマップを生成する。図6(a)には、視神経乳頭部のリターデーションマップの例が示されている。また、図6(c)には、視神経乳頭部及び黄斑部のリターデーションマップの例が示されている。濃淡の濃い場所は上記比を示す値が小さく、濃淡の淡い場所は上記比を示す値が大きいことを表している。視神経乳頭部において、複屈折性を持つ層としては網膜神経線維層(以下、「RNFL」ともいう)であり、リターデーションマップは、2つの偏光がRNFLの複屈折性とRNFLの厚みとで受ける影響の違いを示す画像である。そのため、RNFLが厚い箇所では上記比を示す値が大きくなり、RNFLが薄い箇所では上記比を示す値が小さくなる。したがって、リターデーションマップにより、眼底全体のRNFLの厚みを把握することが出来、緑内障の診断に用いることが出来る。
信号処理部182は、先に生成されたリターデーション画像の各Aスキャン画像において、ILMからRNFLの範囲でリターデーションδの値を線形近似し、その傾きを当該Aスキャン画像の網膜上の位置における複屈折として決定する。すなわち、リターデーションはRNFLにおける距離と複屈折と積であるため、各Aスキャン画像において深さとリターデーションの値をプロットすると線形の関係が得られる。したがって、このプロットに対して最小二乗法等により線形近似を行い、その傾きを求めればそれが当該Aスキャン画像におけるRNFLの複屈折の値となる。この処理を取得した全てのリターデーション画像に対して行うことで、網膜の平面方向である複屈折マップを生成する。図6(b)には、視神経乳頭部の複屈折マップの例が示されている。複屈折マップは、複屈折の値を直接マップ化するため、RNFLの厚さが変化しない場合であっても、その繊維構造が変化した場合に、複屈折の変化として描出することができる。
次に、偏光の位相差を示す画像の一例であるオリエンテーション画像の生成について説明する。信号処理部182は、互いに直行する偏光成分の断層信号の位相ΦH、ΦVからオリエンテーション画像を生成する。オリエンテーション画像の各画素の値θは、断層像を構成する各画素の位置において、測定光に対する光軸の方向を表している。互いに直行する偏光成分の断層信号の位相の差ΔΦ(=ΦV−ΦH)から(式4)によって計算される。
θ=(π−ΔΦ)/2 ・・・(式4)
図6(d)には、視神経乳頭部及び黄斑部のオリエンテーションマップの例が示されている。光学軸の向きは、被検体の内部構造の異方性に起因する。異方性は例えば、神経繊維の走行によって発生する。そのため、オリエンテーション画像を生成する事により、複屈折がある層の異方性の向きを把握する事が可能となる。干渉光が偏光解消されている場合について説明する。偏光解消されている場合、各偏光成分の位相に相関が無い(もしくはランダムになる)ため、位相差ΔΦは、ばらついた値となる。偏光解消する領域では、オリエンテーションは定義できない為、断層像で表示した場合、不正確な値が算出されている事になる。
次に、DOPU(degree of polarization uniformity)像の生成について説明する。DOPUは、偏光の均一性を表す数値であり、偏光が保たれている個所においては1に近い数値となり、偏光が解消された箇所においては1よりも小さい数値となるものである。第二の演算手段の一例である信号処理部182は、取得した断層信号AH、AVとそれらの位相ΦH、ΦVの差ΔΦ(=ΦV−ΦH)から、画素毎にストークスベクトルSを(式5)により計算する。
次に、信号処理部182は、各Bスキャン画像を概ね測定光の主走査方向に70μm、深度方向に18μm程度の大きさのウィンドウを設定する。そして、信号処理部182は、各ウィンドウにおいて(式5)で画素毎に計算されたストークスベクトルの各要素(ストークスパラメータ)を平均する。そして、信号処理部182は、当該ウィンドウ内のDOPUを(式6)により計算する。
ただし、Qm、Um、Vmは、各ウィンドウ内のストークスパラメータQ、U、Vを平均し、強度Iで規格化した値である。DOPUにより、ウィンドウ内の均一性を算出する事で、安定して偏光解消を評価する事ができる。DOPUのウィンドウサイズを適切に選択することにより偏光解消時に、リターデーションが一定値となる場合と、不均一となる場合どちらでも評価できる。平均化する領域はウィンドウの大きさで決まるが、被検体及び撮影装置の分解能や画素サイズ等を考慮して、決定すれば良い。
偏光解消の候補領域の抽出にあたり、リターデーションの値を用いる方法について説明する。偏光解消の候補領域の抽出は、第一の抽出手段の一例である信号処理部182により実行される。一般に被検体が人眼場合、リターデーションは45°より小さいため、この特性を利用することで、偏光解消の候補領域を抽出する事ができる。偏光解消をしない場合、すなわちリターデーションが保たれている場合、被検体の組織の偏光特性を反映した分布(ピーク)をもつ。一方、偏光解消をする場合、一定値(45°)あるいは、平均すると約45°となるように画素毎にばらついた値となる。リターデーションが一定値となるか不均一となるかは、撮影装置の相対的な分解能の違いによる。微小構造による反射に対し、撮影装置の分解能が低ければ、不均一な偏光が平均化されて観測されるため偏光の偏りが無くなる。偏光の偏りが無くなると、偏光成分の強度比は等しくなる(AV=AH)。従って、リターデーションδは一定値となる。一方、微小構造による反射に対し、撮影装置の分解能が高ければ、不均一(ランダム)な偏光は分離して観測される為、偏光成分の強度比(AV/AH)も不均一な値となる。この場合、画素毎のリターデーションも不均一となる。リターデーションの不均一性は、DOPU計算時と同様に、所定のウィンドウを設けて、平均値やばらつきで評価すればよい。図5(a)はRFNLに、図5(b)はRPE層にウィンドウを設定したときのリターデーションの分布例である。図5(a)では、リターデーションは45°以下に偏りを持って分布しているが、一方、図5(b)は、0°から89度まで、ウィンドウ内でばらつきが大きく、偏光が解消していると判断できる。
表1は、網膜層の中で、神経線維層(NFL)、内網状層(IPL)、網膜色素上皮(RPE)、脈絡膜(Chroid)の4層に対し、ウィンドウを設定した時のリターデーションの平均値と標準偏差を示している。発明者らの鋭意検討の結果、RPE層に設定したウィンドウ内のリターデーションの平均値μは44.9°が、標準偏差σは23°が得られている。
自由度Nとしてウィンドウ内の画素数から1を除いた89を、99.9%の信頼水準を保証するt値として3.29を式(7)に代入し、Rthとして44.9±8.0°が得られる。即ち、RPE層に対し同様のウィンドウを設定した場合、リターデーションの平均値は99.9%の確率で36.9°から52.9°の値に収まることなる。
信号処理部182は、前述した輝度画像を用いて断層画像のセグメンテーションを行う。まず、信号処理部182は、処理の対象とする断層画像に対して、メディアンフィルタとSobelフィルタをそれぞれ適用して画像を作成する(以下、メディアン画像、Sobel画像とする)。次に、信号処理部182は、作成したメディアン画像とSobel画像から、Aスキャン毎にプロファイルを作成する。メディアン画像では輝度値のプロファイル、Sobel画像では勾配のプロファイルとなる。そして、信号処理部182は、Sobel画像から作成したプロファイル内のピークを検出する。信号処理部182は、検出したピークの前後やピーク間に対応するメディアン画像のプロファイルを参照することで、網膜層の各領域の境界を抽出する。更に、信号処理部182は、Aスキャンラインの方向に各層厚をそれぞれ計測し、網膜の平面方向である各層の層厚マップを作成することができる。
次に、本実施形態の撮影フローを、図1を用いて説明する。図1のフローチャートは、撮影装置による、測定処理を示すフローチャートである。検者が、例えば表示部184に表示された測定開始ボタン(不図示)や物理的に本装置に設けられた測定開始ボタンを操作することで測定モードが選択されたとする。すると、制御装置180は、測定開始指示を受け付け、動作モードを測定モードに設定し、測定を開始する。
<比較例>
ここで、ストークスベクトルの計算を用いずに偏光解消を検出する公知文献として、国際公開第2012/0265059号がある。この文献には、測定光の偏光を変化させながら信号を取得し、検出光の強度情報が変化しない領域を特定することで、偏光解消を検知するシステムが開示されている。このシステムは、測定光の偏光状態を変化させながら信号の取得を行うため、偏光を変化させながら信号を取得るための制御システムが必要となる。また、同じ撮影箇所において測定光の偏光状態を変えた複数枚の信号データが必要となるため、信号処理の計算量やデータ量が多くなり、解析に長時間を要するといった同様の課題が生じる。
上記の説明においては、光源101から出射された出射光は偏光コントローラ103で垂直偏光に調整されたが、出射光は、水平偏光等の他の方位角の直線偏光に調整されてもよい。他の方位角とする場合、波長板の角度、及び算出式を対応した形にすればよい。
Claims (14)
- 光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理装置において、
前記複数の断層信号に基づいて、前記被検体のリターデーションの値を演算する第一の演算手段と、
前記演算されたリターデーションの値の分布に基づいて、前記被検体のリターデーション画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する第一の抽出手段と、
前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値の分布を演算する第二の演算手段と、
前記演算された偏光の均一性を示す値の分布に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する第二の抽出手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 前記第一の抽出手段は、前記リターデーション画像における前記演算されたリターデーションの値の分布が35°以上である領域を、前記候補領域として抽出することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記第一の抽出手段は、前記リターデーション画像に設定するウィンドウ内における前記演算されたリターデーションの値の分布の平均値が閾値以上である領域を、前記候補領域として抽出することを特徴とする請求項1または2に記載の画像処理装置。
- 前記抽出された偏光解消領域に基づいて、前記リターデーション画像の深さ方向に垂直な方向である前記被検体の平面方向のマップを生成する画像生成手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記複数の断層信号に基づいて、前記リターデーション画像の深さ方向に垂直な方向である前記被検体の平面方向の複数の位置で、前記深さ方向におけるリターデーションの代表値を特定し、前記特定された代表値を用いてリターデーションマップを生成する画像生成手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理装置において、
前記複数の断層信号を用いて得た前記被検体の偏光の位相差を示す値に基づいて、前記被検体の偏光の位相差を示す画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する第一の抽出手段と、
前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号を用いて得た前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する第二の抽出手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 前記第一の抽出手段は、前記偏光の位相差を示す画像における前記偏光の位相差を示す値の平均値が35°以上である領域を、前記候補領域として抽出することを特徴とする請求項6に記載の画像処理装置。
- 前記第二の抽出手段は、前記演算された偏光の均一性を示す値が閾値以下である領域を、前記偏光解消領域として抽出することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記抽出された偏光解消領域を、前記複数の断層信号に基づいて生成された前記被検体の断層輝度画像に重ねて表示手段に表示させる表示制御手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 測定光を照射した前記被検体からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉して得た干渉光を分割して得た互いに異なる偏光の光を検出する検出手段を有する光干渉断層撮影装置に通信可能に接続され、
前記検出された互いに異な偏光の光に基づいて前記断層信号が取得されることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記被検体は、被検眼であることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理方法において、
前記複数の断層信号に基づいて、前記被検体のリターデーションの値を演算する工程と、
前記演算されたリターデーションの値の分布に基づいて、前記被検体のリターデーション画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する工程と、
前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値の分布を演算する工程と、
前記演算された偏光の均一性を示す値の分布に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。 - 光干渉を用いて被検体から取得される互いに異なる偏光の光に対応する複数の断層信号を処理する画像処理方法において、
前記複数の断層信号を用いて得た前記被検体の偏光の位相差を示す値に基づいて、前記被検体の偏光の位相差を示す画像における前記被検体の偏光解消領域の候補領域を抽出する工程と、
前記抽出された候補領域の前記複数の断層信号を用いて得た前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す値に基づいて、前記抽出された候補領域の偏光の均一性を示す画像における前記被検体の偏光解消領域を抽出する工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。 - 請求項12または13に記載の画像処理方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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