JP2017044643A - 補正装置およびロス補正ステージ - Google Patents

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誠一郎 浜口
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Abstract

【課題】無線基板の検査をいっそう容易にする技術を提供することである。【解決手段】補正装置1は、ロス補正ステージ20と、制御装置10とを備える。ロス補正ステージ20は、コネクタ変換部211を含む。コネクタ変換部211は、RF検査コネクタ52と端部で接続するためのプローブ、および、無線信号発生器80とケーブルにより接続するためのコネクタを有する。制御装置10は、プローブの移動を制御することにより、コネクタ変換部211のプローブの位置を、無線検査治具50のRF検査コネクタ52に接続可能な位置に合わせてプローブとRF検査コネクタ52とを接続させる。制御装置10は、プローブとRF検査コネクタ52とを接続させた状態で、無線機テスター90が測定した測定結果を取得して、取得した測定結果に基づいて、無線検査治具50の電力のロスの補正値を出力する。【選択図】図1

Description

本開示は、電子部品が搭載される基板の検査をするための技術に関する。
従来より、電子部品などが搭載される基板を、検査治具を用いて検査することが行われている。例えば、検査治具において被検査基板と接触する接触プローブと、各種の電源部および測定器が接続されるコネクタとの間で、複数のケーブルを手作業で接続することで、被検査基板を検査することもある。ただし、この場合、被検査基板の種類が変わる都度、配線作業を要することとなる。電子部品等が実装された基板の検査を容易にするために、様々な技術が検討されている。例えば、特開平8−254569号公報(特許文献1)には、検査用治具基板を文字通り基板化し、被検査基板の検査箇所と電気的に接続し得る接触プローブと、接触プローブと接続された配線パターンと、配線パターン及び支持フレーム間を接続するコネクタ機構とを有する検査治具について記載されている。
特開平8−254569号公報
近年は、スマートフォンなどの無線通信機能を有する装置が広く普及しており、これら装置に搭載される基板には、無線通信機能を実現するための通信ユニット、プロセッサ、メモリその他の回路が搭載されている。これらスマートフォンなどの装置は、無線通信機能を安定して発揮できることが装置の性能に大きく影響し、予め規定された信号強度に収まるように無線信号を送信することが必要とされている。したがって、基板の無線通信機能を検査する機会がますます増加してきている。
このように無線通信機能を検査するための無線検査治具は、無線信号発生器および無線機テスターと、例えば同軸ケーブルなどにより接続されるために、電力のロスが発生する。そのため、無線検査治具は、上記電力のロスに対して必要なロス補正を行うことで、基板の無線通信機能を精度よく検査することができる。このような無線検査治具のロス補正を行うために、従来、電力を被検査基板に供給するためのパワーサンプル基板を用意している。このような被検査基板は、検査を行うために、基板の表面に実装されるコネクタを有している。パワーサンプル基板は、次々と製造される基板のうちから取り出される数枚の基板について、送信電力を測定するための基板である。パワーサンプル基板は、無線検査用の周波数の信号を、予め定められた送信パワーの設定で、必要に応じて変調方式を設定して被検査基板に強制的に無線信号を送信させることにより被検査基板の送信電力を測定する。こうすることで、被検査基板の送信出力にかかる電力値を特徴づけることができる。ロスの補正値は、このようなパワーサンプル基板と、その送信出力値とを用いて、例えば検査者等により算出される。
しかし、無線基板の設計変更により、無線回路の変更、無線基板に搭載される検査用のコネクタの位置が変更されることがある。そのため、無線基板のモデルが変わるたびに、パワーサンプル基板の作成が必要となり、その都度、検査治具を作成し直す必要が生じる。
そこで、本開示のある局面における目的は、無線基板の検査をいっそう容易にする技術を提供することである。
一実施形態に従う補正装置は、無線検査治具の電力のロスを補正するためのものである。補正装置は、無線検査治具に装着可能なロス補正ステージと、補正装置の動作を制御するように構成された制御部とを備える。ロス補正ステージは、コネクタ変換部と、駆動部とを含む。コネクタ変換部は、無線検査治具のRF(Radio Frequency)検査コネクタと端部で接続するためのプローブ、および、無線信号発生器とケーブルにより接続するためのコネクタを有し、ケーブルを介して無線信号発生器が出力する信号をプローブと接続されるRF検査コネクタへ与えるように構成される。駆動部は、無線検査治具のRF検査コネクタが配置される面に対向するプローブの位置を移動させるためのものである。制御部は、駆動部によるプローブの移動を制御することにより、コネクタ変換部のプローブの位置を、無線検査治具のRF検査コネクタに接続可能な位置に合わせてプローブとRF検査コネクタとを接続させる駆動制御部を含む。
別の実施形態に従うと、ロス補正ステージが提供される。ロス補正ステージは、無線検査治具に装着可能である。ロス補正ステージは、無線検査治具のRF検査コネクタと端部で接続するためのプローブ、および、無線信号発生器とケーブルにより接続するためのコネクタを有し、ケーブルを介して無線信号発生器が出力する信号をプローブと接続されるRF検査コネクタへ与えるように構成されるコネクタ変換部と、無線検査治具のRF検査コネクタが配置される面に対向するプローブの位置を移動させるための駆動部とを含む。
一実施形態に従うと、無線基板のモデル変更が発生し、検査コネクタの位置の変更が発生したとしても、コネクタ変換部の位置を調整することで対応することができる。
この発明の上記および他の目的、特徴、局面および利点は、添付の図面と関連して理解されるこの発明に関する次の詳細な説明から明らかとなるであろう。
実施の形態の補正装置1の外観を概略的に示す図である。 実施の形態の補正装置1の構成を、X軸に平行な方向から示した図である。 補正装置1を構成する制御装置10とロス補正ステージ20との機能的な構成を示す図である。 実施の形態において、無線検査治具50のロス補正をするための制御装置10の動作を示すフローチャートである。 駆動部231を駆動させて、X軸、Y軸およびZ軸の各レールに沿ってボックス部(X軸)231X等を移動させるための機構の具体例を示す図である。
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明は繰り返さない。
<実施の形態>
図1は、実施の形態の補正装置1の外観を概略的に示す図である。図2は、実施の形態の補正装置1の構成を、X軸に平行な方向から示した図である。
補正装置1は、無線検査治具50の電力のロスを補正するための装置である。補正装置1は、制御装置10と、ロス補正ステージ20とを含む。ロス補正ステージ20は、無線検査治具50に装着可能なステージである。
制御装置10は、プロセッサと、メモリとを備え、プログラムに従って動作するコンピュータシステムである。制御装置10は、例えば、汎用のPC(Personal Computer)などを用いることができる。制御装置10は、ロス補正ステージ20の動作を制御することと、無線信号発生器80および無線機テスター90の動作により出力される、無線機テスター90の測定結果を取得することにより無線検査治具50の電力のロスの補正値を算出すること等を行う。
ロス補正ステージ20は、レール部(X軸)233Xと、レール部(Y軸)233Yと、レール部(Z軸)233Zと、コネクタ変換部211とを含む。ロス補正ステージ20は、レール部(X軸)233Xのレール上(X軸)をレールに沿って移動可能なボックス部(X軸)231Xと、レール部(Y軸)233Yのレール上(Y軸)をレールに沿って移動可能なボックス部(Y軸)231Yと、レール部(Z軸)233Zのレール上(Z軸)をレールに沿って移動可能なボックス部(Z軸)231Zとを含む。レール部(Y軸)233Yは、ボックス部(X軸)231Xと接続されており、ボックス部(X軸)231XのX軸上の移動に伴い移動する。レール部(Z軸)233Zは、ボックス部(Y軸)231Yと接続されており、ボックス部(Y軸)231YのY軸上の移動に伴い移動する。すなわち、コネクタ変換部211は、レール部(X軸)233X、レール部(Y軸)233Yおよびレール部(Z軸)233Zによって、X軸方向、Y軸方向およびZ軸方向に移動可能である。コネクタ変換部211とボックス部(Z軸)231Zとが、例えば棒状の部材を介して接続されている。
コネクタ変換部211は、汎用の無線コネクタと、プローブとを変換する役割を担う。具体的には、コネクタ変換部211は、同軸ケーブル82と接続するための汎用の無線コネクタであるコネクタ213と、RF検査コネクタ52と接続するためのプローブ215とを有する。プローブ215は、RF検査コネクタ52と嵌合するコネクタである。コネクタ変換部211は、例えば棒状の部材を介してカメラ70と接続されている。コネクタ変換部211は、先端部に、無線検査治具50のRF検査コネクタ52と接続するためのプローブ215を有する。コネクタ変換部211のボックス接続部217と、ボックス部(Z軸)231Zとが、例えば棒状の部材により接続されている。ボックス部(Z軸)231ZがZ軸に沿ってレール部(Z軸)233Zのレール上を移動することにより、コネクタ変換部211の先端部のプローブがRF検査コネクタ52と接続される。また、コネクタ変換部211は、同軸ケーブル82を介して無線信号発生器80と接続される。
無線信号発生器80は、無線信号の検査用の信号を生成し、生成した信号を、同軸ケーブル82を介してコネクタ変換部211へ供給する。同軸ケーブル82は、既にロス特性が判明しているケーブルである。無線信号発生器80は、送信周波数、信号の変調方式、信号の送信電力などの指定に従って信号を生成し、生成した信号をコネクタ変換部211へ供給する。例えば、無線信号発生器80は、制御装置10などの装置と接続し、制御装置10の制御に従って、無線信号の検査用の信号を生成する。例えば、制御装置10は、無線信号を検査するためのテストモード用のソフトウェアを実装している。例えば、制御装置10は、テストモードで動作することで、テスト用の基板との間でコマンドを送受信することができる。
無線機テスター90は、同軸ケーブル92を介して入力される信号を測定する。
無線検査治具50は、RF検査コネクタ52を有する。無線検査治具50は、無線検査治具50にロス補正ステージ20が装着された場合にロス補正ステージ20のコネクタ変換部211の先端と対向する平面を有する。無線検査治具50の平面の領域は、複数の小領域に分割されて制御装置10によって管理されている。カメラ70は、この無線検査治具50の複数の小領域を含む平面を撮影可能に配置されている。制御装置10は、カメラ70が撮影した撮影画像データを取得することができる。制御装置10は、カメラ70の撮影画像を画像認識すること等により、RF検査コネクタ52の位置(RF検査コネクタ52が配置される小領域の座標)を決定する。
無線検査治具50の電力ロスを補正するために、コネクタ変換部211の先端のプローブ215とRF検査コネクタ52とを接続する。RF検査コネクタ52は、同軸ケーブル56、コネクタ54、コネクタ58および同軸ケーブル92により無線機テスター90と接続される。
図3は、補正装置1を構成する制御装置10とロス補正ステージ20との機能的な構成を示す図である。
図3に示すように、ロス補正ステージ20は、コネクタ変換部211と、駆動部231とを含む。コネクタ変換部211は、無線検査治具50のRF検査コネクタ52と端部で接続するためのプローブ(プローブ215)、および、無線信号発生器80と同軸ケーブル82により接続するためのコネクタ(コネクタ213)を有し、同軸ケーブル82を介して無線信号発生器80が出力する信号を、プローブ(プローブ215)と接続されるRF検査コネクタ52へ与えるように構成される。
駆動部231は、無線検査治具50のRF検査コネクタ52が配置される面に対向するプローブ(プローブ215)の位置を移動させるための駆動機構である。
制御装置10は、通信部111と、記憶部150と、制御部160とを含む。
通信部111は、制御装置10が他の無線機器と通信するため信号を送受信するための変復調処理などを行う。通信部111は、チューナー、RSSI(Received Signal Strength Indicator)算出回路、CRC(Cyclic Redundancy Check)算出回路、高周波回路などを含む通信モジュールである。通信部111は、制御装置10が送受信する信号の変復調や周波数変換を行い、受信信号を制御部160へ与える。
記憶部150は、例えばRAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリ等により構成され、制御装置10が使用するデータおよびプログラムを記憶する。ある局面において、記憶部150は、RF検査コネクタ座標位置151を記憶する。RF検査コネクタ座標位置151は、RF検査コネクタ52が配置される座標を示す。すなわち、RF検査コネクタ座標位置151は、コネクタ変換部211の先端部のプローブ215が位置すべきX軸およびY軸の座標を示す。
制御部160は、記憶部150に記憶されるプログラムを読み込んで、当該プログラムに含まれる命令を実行することにより、制御装置10の動作を制御する。制御部160は、例えばプロセッサである。制御部160は、プログラムに従って動作することにより、駆動制御部161と、補正値出力部162としての機能を発揮する。
駆動制御部161は、駆動部231によるプローブ(プローブ215)の移動を制御することにより、コネクタ変換部211のプローブ(プローブ215)の位置を、無線検査治具50のRF検査コネクタ52に接続可能な位置に合わせてプローブ(プローブ215)とRF検査コネクタ52とを接続させる。例えば、駆動制御部161は、RF検査コネクタ座標位置151、または、カメラ70の撮影画像に基づいて、RF検査コネクタ52の位置を特定し、特定した位置にプローブ(プローブ215)を移動させるよう駆動部231を制御する。
補正値出力部162は、駆動制御部161によりプローブ(プローブ215)とRF検査コネクタ52とを接続させた状態で、コネクタ変換部211を介して無線信号発生器80から無線検査治具50へ出力される無線信号を無線機テスター90が測定した測定結果を取得して、取得した測定結果に基づいて、無線検査治具50の電力のロスの補正値を出力する。
<動作例>
図4は、実施の形態において、無線検査治具50のロス補正をするための制御装置10の動作を示すフローチャートである。
ステップS41において、制御装置10は、カメラ70の撮影画像に対して画像認識処理を行うことにより、撮影画像におけるRF検査コネクタ52の位置を特定し、特定した位置と、カメラ70の撮影位置(カメラ70がコネクタ変換部211の移動に伴って移動する場合は、コネクタ変換部211の位置に基づいて決定されるカメラ70の撮影位置)とにより無線検査治具50の面におけるRF検査コネクタ52の座標を決定する。
ステップS43において、制御装置10は、RF検査コネクタ52の位置にコネクタ変換部211のプローブ215を移動させるよう駆動部231によりボックス部(X軸)231X、ボックス部(Y軸)231Yおよびボックス部(Z軸)231Zを移動させる。すなわち、制御装置10は、プローブ215の先端と、RF検査コネクタ52とが嵌合可能になるように対向させる。制御装置10は、コネクタ変換部211がRF検査コネクタ52の存在する領域に移動した後、カメラ70の撮影画像データに基づき、コネクタ変換部211の水平方向(平面方向)の位置を微調整してコネクタ変換部211のプローブ215の中心と、RF検査コネクタ52の中心とを位置合わせする。
ステップS45において、制御装置10は、コネクタ変換部211のプローブ215をZ軸に沿って移動させることにより(駆動部231を駆動することにより)、プローブ215の先端と、無線検査治具50のRF検査コネクタ52とを接続させる。
ステップS47において、制御装置10は、無線信号発生器80に、予め設定された無線信号を出力させ、この無線信号の出力において無線機テスター90で測定された測定結果を受信する。制御装置10は、無線機テスター90の測定結果に基づいて、無線検査治具50のロスの補正値を算出する。同軸ケーブル82のロス(L1(dB))と、コネクタ変換部211のロス(Lc(dB))とは、予め評価されており、既知である。無線信号発生器80が、周波数f(MHz)、出力Pt(dBm)で信号を出力する。無線機テスター90は、同軸ケーブル82、コネクタ変換部211、RF検査コネクタ52、同軸ケーブル56および同軸ケーブル92を経由した電力を測定し、測定結果Pm(dBm)を出力する。この場合、制御装置10は、無線検査治具50の電力のロスLt(dB)を、Lt(dB)=Pt(dBm)−L1(dB)−Lc(dB)−Pm(dBm)により算出することで、電力ロスの補正値を得る。
<駆動部231の具体例>
図5は、駆動部231を駆動させて、X軸、Y軸およびZ軸の各レールに沿ってボックス部(X軸)231X等を移動させるための機構の具体例を示す図である。
図5の例では、レール部(X軸)233X等のレール部の断面と、駆動部231の内部の構造とを示している。図5に示すように、例えば、ボックス部(X軸)231Xは、矩形状の筐体の中に、レール部233に形成された溝に沿って、回転しつつ移動可能な歯車235と、歯車235を回転させる軸237とを有する。駆動部231は、図示しないモーター機構などの軸237を回転させる機構を有することで、例えば制御装置10の制御に従って駆動部231を移動させる。なお、図5の例の他に、歯車機構としては、ウォームギアによりレール部233に形成された溝に沿って移動可能であるとしてもよい。これにより、ウォームギアの稼働歯車数を調整することで、駆動部231の稼働速度を調整することができる。
<まとめ>
(1) 従来の構成によると、無線基板の設計変更により、無線回路の変更、検査用コネクタの位置の変更が発生するため、無線基板のモデルが変わるごとに、パワーサンプルの作成が必要となり、検査治具を作り直す必要がある。
また、無線基板の通信システムによっては、無線基板の送信出力の安定性が悪く、パワーサンプルには好適ではないものがある。例えば、(A)送信出力の温度特定が大きく、送信時間の経過とともに送信電力の変化が大きかったり、送信開始時の温度管理が必要になることがある。また、例えば、(B)送信出力制御のバラツキが大きく、テスターで測定するごとに、送信出力値が変化するものがある。
(A)の場合、測定開始時の基板の温度状態を管理することで、この問題を回避できるが、送信開始時から数分後にパワーサンプルの送信電力の測定を行うことが必要となる。基板の温度が一定温度以下に低下してから送信開始し、またすぐにパワーサンプルの送信電力を測定することが必要となる。ただし、この場合、測定を再度実行する作業が発生した場合、基板の温度を低下させるための時間が必要となり、パワーサンプルの送信電力の測定に時間を要するという課題がある。
(B)の場合、測定の回数を増やし、その測定値の平均値を採用することでバラツキを抑えることはできるが、測定回数が増加するため、測定時間が長期化するという課題がある。
(2) これに対し、本発明の上記実施の形態によると、ロス補正ステージ20を用いることで、ロス補正時の送信出力は、より安定したバラツキの小さな無線信号を実現することができる。また、温度特性的にも安定した無線信号を実現できる。また、コネクタ変換ブロックがX軸、Y軸およびZ軸方向に可変に移動できるため、無線基板のモデル変換があり、無線検査コネクタの位置の変更が発生したとしても、コネクタ変換ブロックの位置を調整することで対応することができる。
本実施の形態に係る補正装置1は、プロセッサと、その上で実行されるプログラムにより実現される。本実施の形態を実現するプログラムは、通信インタフェースを介してネットワークを利用した送受信等により提供される。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものでないと考えられるべきである。この発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 補正装置、10 制御装置、20 ロス補正ステージ、50 無線検査治具、52 RF検査コネクタ、54 コネクタ、56 同軸ケーブル、58 コネクタ、70 カメラ、80 無線信号発生器、82 同軸ケーブル、90 無線機テスター、92 同軸ケーブル、160 制御部、211 コネクタ変換部、231 駆動部。

Claims (5)

  1. 無線検査治具の電力のロスを補正するための補正装置であって、
    前記無線検査治具に装着可能なロス補正ステージと、
    前記補正装置の動作を制御するように構成された制御部とを備え、
    前記ロス補正ステージは、前記無線検査治具のRF(Radio Frequency)検査コネクタと端部で接続するためのプローブ、および、無線信号発生器とケーブルにより接続するためのコネクタを有し、前記ケーブルを介して前記無線信号発生器が出力する信号を前記プローブと接続される前記RF検査コネクタへ与えるように構成されるコネクタ変換部と、
    前記無線検査治具の前記RF検査コネクタが配置される面に対向する前記プローブの位置を移動させるための駆動部とを含み、
    前記制御部は、前記駆動部による前記プローブの移動を制御することにより、前記コネクタ変換部の前記プローブの位置を、前記無線検査治具の前記RF検査コネクタに接続可能な位置に合わせて前記プローブと前記RF検査コネクタとを接続させる駆動制御部を含む、補正装置。
  2. 前記制御部は、前記駆動制御部により前記プローブと前記RF検査コネクタとを接続させた状態で、前記コネクタ変換部を介して前記無線信号発生器から前記無線検査治具へ出力される無線信号を測定器が測定した測定結果を取得して、取得した測定結果に基づいて、前記無線検査治具の電力のロスの補正値を出力する補正値出力部とを含む、請求項1に記載の補正装置。
  3. 前記補正装置は、さらに、
    前記無線検査治具の前記RF検査コネクタが配置される面を撮影するように構成されたカメラを備え、
    前記駆動制御部は、
    前記カメラの撮影画像に基づいて、前記RF検査コネクタの位置を特定し、特定した位置に前記プローブを移動させるよう前記駆動部を制御するように構成されている、請求項1または2に記載の補正装置。
  4. 前記駆動部は、前記プローブの位置を、前記RF検査コネクタが配置される面と平行な面における第1の軸に沿って移動させるための第1のレール部、前記第1の軸に垂直な第2の軸に沿って移動させるための第2のレール部、および前記平行な面に対して垂直方向の第3の軸に沿って移動させるための第3のレール部を含み、
    前記駆動制御部は、
    前記RF検査コネクタの位置に基づいて前記第1のレール部および前記第2のレール部に沿って前記プローブの位置を前記RF検査コネクタに接続可能な位置に合わせ、前記第3のレール部に沿って前記プローブを移動させることで前記プローブと前記RF検査コネクタとを接続させるように構成されている、請求項1から3のいずれか1項に記載の補正装置。
  5. ロス補正ステージであって、
    前記ロス補正ステージは、無線検査治具に装着可能であり、
    前記無線検査治具のRF検査コネクタと端部で接続するためのプローブ、および、無線信号発生器とケーブルにより接続するためのコネクタを有し、前記ケーブルを介して前記無線信号発生器が出力する信号を前記プローブと接続される前記RF検査コネクタへ与えるように構成されるコネクタ変換部と、
    前記無線検査治具の前記RF検査コネクタが配置される面に対向する前記プローブの位置を移動させるための駆動部とを含む、ロス補正ステージ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114509715A (zh) * 2022-01-25 2022-05-17 上海特斯汀电子科技有限公司 射频探针校准装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5934171A (ja) * 1982-08-19 1984-02-24 Fujitsu Ltd 高周波電力測定系の較正方法
JP2008161994A (ja) * 2006-12-29 2008-07-17 Mitsubishi Electric Corp コネクタ自動挿抜装置及びコネクタ挿抜方法
US20110301905A1 (en) * 2010-06-04 2011-12-08 Justin Gregg Methods for calibration of radio-frequency path loss in radio-frequency test equipment
US20140122009A1 (en) * 2012-10-25 2014-05-01 Microsoft Corporation Wireless device test station calibration

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5934171A (ja) * 1982-08-19 1984-02-24 Fujitsu Ltd 高周波電力測定系の較正方法
JP2008161994A (ja) * 2006-12-29 2008-07-17 Mitsubishi Electric Corp コネクタ自動挿抜装置及びコネクタ挿抜方法
US20110301905A1 (en) * 2010-06-04 2011-12-08 Justin Gregg Methods for calibration of radio-frequency path loss in radio-frequency test equipment
US20140122009A1 (en) * 2012-10-25 2014-05-01 Microsoft Corporation Wireless device test station calibration

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114509715A (zh) * 2022-01-25 2022-05-17 上海特斯汀电子科技有限公司 射频探针校准装置

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