JP2017036935A - 熱伝導式湿度センサ - Google Patents

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Abstract

【課題】圧力が大きく変動するような環境下でも、被測定雰囲気中の水分量を正確に計測できるようにする。【解決手段】被測定雰囲気に晒される第1の空間17aに計測用の感熱抵抗素子(計測用センサ)18を配置し、乾燥状態に保たれた第2の空間17bに参照の感熱抵抗素子(参照用センサ)19を配置する。第2の空間17bを囲む壁面の一部をなすキャビティ16aの底部(ダイアフラム部)16b1にピエゾ抵抗式の圧力センサ20を形成する。このピエゾ抵抗式の圧力センサ20のゲージ抵抗の変化に基づいて被測定雰囲気の現在の圧力を求め、計測用センサ18と参照用センサ19とから求められる被測定雰囲気中の水分量を補正する。【選択図】 図1

Description

この発明は、空気中の水蒸気により熱を奪われることによる抵抗変化を利用して被測定雰囲気中の水分量を計測する熱伝導式湿度センサに関するものである。
従来より、この種の熱伝導式湿度センサとして、2つの感熱抵抗素子と2つの外部抵抗とでブリッジ回路を構成し、一方の感熱抵抗素子を計測用の感熱抵抗素子として被測定雰囲気に晒される第1の空間に配置し、他方の感熱抵抗素子を参照用の感熱抵抗素子として乾燥状態に保たれた第2の空間に配置するようにした熱伝導式湿度センサが用いられている(例えば、特許文献1参照)。
図4に計測用の感熱抵抗素子と参照用の感熱抵抗素子とを用いた従来の熱伝導式湿度センサの一例を示す。同図において、1は計測用の感熱抵抗素子(計測用センサ)、2は参照用の感熱抵抗素子(参照用センサ)、3は金属シールドケース、4は支持ピン、5は導線、6はステムである。計測用センサ1および参照用センサ2としてはサーミスタ(バルクサーミスタ)が用いられている。
この熱伝導式湿度センサ100において、計測用センサ1は金属シールドケース3とステム6との間に形成された第1の空間3−1に配置されており、参照用センサ2は金属シールドケース3とステム6との間に形成された第2の空間3−2に配置されている。計測用センサ1は、第1の空間3−1内において、ステム6に固定された支持ピン4に導線5を介して接続されている。参照用センサ2は、 第2の空間3−2内において、ステム6に固定された支持ピン4に導線5を介して接続されている。
また、この熱伝導式湿度センサ100において、第1の空間3−1に対しては通気孔3aが形成されており、この通気孔3aを介して計測用センサ1が被測定雰囲気に晒される。また、第2の空間3−2にはドライN2が封入されており、第2の空間3−2内において参照用センサ2は乾燥状態に保たれる。
この熱伝導式湿度センサ100は、計測用センサ1(抵抗値RHT)と参照用センサ2(抵抗値RH)と外部抵抗R1,R2(抵抗値R1,R2(R1=R2))とにより、図5に示すようなブリッジ回路を組んで使用される。
このブリッジ回路において、A−C間に定電圧Vccを印加すると、計測用センサ1および参照用センサ2は自己発熱し、周囲温度よりも高くなる。計測用センサ1および参照用センサ2の温度は、計測用センサ1および参照用センサ2に加わる電力と計測用センサ1および参照用センサ2の熱放散により決定されるが、被測定雰囲気中に水蒸気が含まれていると、水蒸気が含まれていない場合に対して熱伝導が大きくなり、熱放散が大きくなる。
このため、計測用センサ1の温度が参照用センサ2の温度よりも低くなり、計測用センサ1でのみ抵抗値RHTの変化が発生し、BD間の出力電圧VOUTが変化する。この出力電圧VOUTの変化(計測用センサ1と参照用センサ2との間に発生する抵抗値の差)から、被測定雰囲気中の水分量を計測することができる。すなわち、被測定雰囲気中の絶対湿度を計測することができ、この絶対湿度から相対湿度を求めることができる。但し、RHとRHTの温度−抵抗特性は等しく、絶対湿度0g/m3時にVOUT=0とする。
特開平8−29370号公報
しかしながら、上述した熱伝導式湿度センサ100によると、計測用センサ1での熱の奪われ方が被測定雰囲気の圧力の影響を受ける。このため、圧力による誤差が生じ、例えば、送風ファンからの空気が流れるダクト内など圧力が大きく変化する環境では、正確な水分量の計測ができない。
図6に気圧の変化前と変化後の水分量の計測例を示す。この例では、カタログ値で、1000mの高さ変化で、絶対湿度が−2.5g/m3変化するものとする。この場合、気圧変動は、10hPa/100mであるので、1000mで100hPa相当となる。変化前の気温が20℃、気圧が1013hPa、絶対湿度が8.6g/m3、相対湿度が50%RHであったとする。ここで、気圧が1013hPaから913hPaに変化(−100hPa)したと仮定すると、絶対湿度は6.1g/m3(−2.5g/m3)となり、相対湿度は35%RH(−15%RH)となる。
ここで、気圧の変化をダクト内の圧力の変化に置き換え、ダクト内の圧力の変化が10hPaであったとすると、絶対湿度は0.3g/m3変化することになり、相対湿度は2%RH変化することになる。センサの仕様を±3%とすると、ダクト内の圧力の変化による2%RHが上乗せされて、相対湿度は5%RH変化することになる。例えば、外気を取り入れて室内の空調を行うようなシステムでは、ダンパの開閉などによって、ダクト内の圧力が10hPa程度変動することがある。
本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、圧力が大きく変動するような環境下でも、被測定雰囲気中の水分量を正確に計測することができる熱伝導式湿度センサを提供することにある。
このような目的を達成するために本発明は、被測定雰囲気に晒される第1の空間に配置された計測用の感熱抵抗素子と、乾燥状態に保たれた第2の空間に配置された参照用の感熱抵抗素子と、計測用の感熱抵抗素子と参照用の感熱抵抗素子との間に発生する抵抗値の差に基づいて被測定雰囲気中の水分量を求める水分量演算部とを備えた熱伝導式湿度センサにおいて、第2の空間を囲む壁面の一部をなし被測定雰囲気の圧力の変動に応じて撓むダイアフラム部と、ダイアフラム部の所定領域に形成されたゲージ式圧力センサと、ゲージ式圧力センサのゲージ抵抗の変化に基づいて被測定雰囲気の現在の圧力を求める圧力演算部と、水分量演算部で求められた被測定雰囲気中の水分量を圧力演算部で求められた被測定雰囲気の現在の圧力によって補正する水分量補正部とを備えることを特徴とする。
本発明において、参照用の感熱抵抗素子が配置される乾燥状態に保たれた第2の空間を囲む壁面の一部は、被測定雰囲気の圧力の変動に応じて撓むダイアフラム部とされており、このダイアフラム部の所定領域にゲージ式圧力センサが形成されている。本発明では、このダイアフラム部に形成されたゲージ式圧力センサのゲージ抵抗の変化に基づいて被測定雰囲気の現在の圧力が求められ、この求められた被測定雰囲気の現在の圧力によって水分量演算部で求められた被測定雰囲気中の水分量が補正される。すなわち、計測用の感熱抵抗素子と参照用の感熱抵抗素子との間に発生する抵抗値の差に基づいて求められた被測定雰囲気中の水分量が被測定雰囲気の現在の圧力によって補正される。
本発明において、ゲージ式圧力センサとしては、例えば、ピエゾ抵抗効果を有する複数のゲージ抵抗からなるピエゾ抵抗式の圧力センサが挙げられる。本発明において、ゲージ式圧力センサは、ピエゾ抵抗式の圧力センサに限られるものではなく、歪ゲージ式の圧力センサなどとしてもよい。
本発明によれば、参照用の感熱抵抗素子が配置される乾燥状態に保たれた第2の空間を囲む壁面の一部を被測定雰囲気の圧力の変動に応じて撓むダイアフラム部とし、このダイアフラム部の所定領域にゲージ式圧力センサを形成し、このゲージ式圧力センサのゲージ抵抗の変化に基づいて被測定雰囲気の現在の圧力を求め、この求めた被測定雰囲気の現在の圧力によって水分量演算部で求められた被測定雰囲気中の水分量を補正するようにしたので、圧力が大きく変動するような環境下でも、被測定雰囲気中の水分量を正確に計測することが可能となる。
本発明に係る熱伝導式湿度センサの一実施の形態の要部を示す断面図である。 この熱伝導式湿度センサの回路構成を示す図である。 この熱伝導式湿度センサをプローブ型の湿度センサに搭載した事例を示す図である。 従来の熱伝導式湿度センサの一例を示す断面図である。 従来の熱伝導式湿度センサの回路構成を示す図である。 従来の熱伝導式湿度センサによる気圧の変化前と変化後の水分量の計測例を示す図である。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。図1は本発明に係る熱伝導式湿度センサの一実施の形態の要部を示す断面図である。
本実施の形態の熱伝導式湿度センサ101は、薄膜/MEMS型の絶対湿度センサとされ、シリコン基板11上に低応力Si34,SiO2,SiOxNy,SiO2/Si34/SiO2などからなる薄膜12が形成され、この薄膜12上に温度抵抗係数(TCR)を有する抵抗体を堆積させ、パターニングして抵抗体薄膜13aと13bとが形成されている。ここで、抵抗体薄膜13a,13bはTi,Pt,Ni,VO2などからなる。
また、抵抗体薄膜13a,13bに接触するように電極パッド14が形成されており、抵抗体薄膜13a,13bの全面を覆うように抵抗体薄膜13a,13b上に絶縁膜15が形成されている。絶縁膜15は絶縁特性に優れたSiO2,Si34,SiOxNy,PSG,ポリイミドなどからなる。
また、シリコン基板11にはエッチングしてキャビティ11a,11bが形成されており、このキャビティ11a,11bに抵抗体薄膜13a,13bが形成された領域の薄膜12が面している。
また、抵抗体薄膜13a,13bの全面を覆うようにシリコンキャップ16が被せられ、このシリコンキャップ16の下端部が絶縁膜15に接合されている。シリコンキャップ16にはキャビティ16a,16bが形成されており、キャビティ16aと薄膜12とで囲まれた空間を第1の空間17aとし、キャビティ16bと薄膜12とで囲まれた空間を第2の空間17bとし、第1の空間17aに抵抗体薄膜13aをセンサ部とする計測用の感熱抵抗素子(計測用センサ)19が配置され、第2の空間17bに抵抗体薄膜13bをセンサ部とする参照用の感熱抵抗素子(参照用センサ)19が配置されている。なお、この場合、計測用センサ18および参照用センサ19は、薄膜12と絶縁膜15との間に挟まれた状態で、第1の空間17aおよび17bに配置されているものと考えればよい。
シリコンキャップ16には、キャビティ17aに面する位置に通気孔16cが形成されており、この通気孔16cを介して第1の空間17aに配置されている計測用センサ18が被測定雰囲気に晒される。また、第2の空間17bにはドライN2が封入されており、第2の空間3−2内において参照用センサ19は乾燥状態に保たれる。
また、シリコンキャップ16のキャビティ16aの底部16b1は、被測定雰囲気の圧力の変動に応じて撓むダイアフラム構造となっている。以下、キャビティ16aの底部16b1をダイアフラム部と呼ぶ。このダイアフラム部16b1は第2の空間17bを囲む壁面の一部であり、第2の空間17bが密閉構造とされていることから、ダイアフラム部16b1は被測定雰囲気の圧力の変動に応じて撓むものとなる。
本実施の形態において、ダイアフラム部16b1の所定領域には、ゲージ式圧力センサとしてピエゾ抵抗式の圧力センサ20が形成されている。ピエゾ抵抗式の圧力センサ20は、ピエゾ抵抗効果を有する複数のゲージ抵抗からなり、加えられる圧力によってゲージ抵抗の抵抗値が変化する。
図2にこの熱伝導式湿度センサ101の回路構成を示す。この熱伝導式湿度センサ101は、計測用センサ18(抵抗値RHT)と参照用センサ19(抵抗値RH)と外部抵抗R1,R2(抵抗値R1,R2(R1=R2))とにより第1のブリッジ回路を組んで、またピエゾ抵抗式の圧力センサ20を構成するゲージ抵抗ra,rb,rc,rdにより第2のブリッジ回路を組んで使用される。
図2において、計測用センサ18は第1の外部抵抗R1と直列に接続され、参照用センサ19は第2の外部抵抗R2と直列に接続されている。そして、この計測用センサ18と第1の外部抵抗R1との直列接続回路と、参照用センサ19と第2の外部抵抗R2との直列接続回路とが、定電圧電源に並列に接続されている。なお、RHとRHTの温度−抵抗特性は等しいものとされている。
また、図2において、ゲージ抵抗raはゲージ抵抗rbと直列に接続され、ゲージ抵抗rcはゲージ抵抗rdと直列に接続されている。そして、このゲージ抵抗raとゲージ抵抗rbとの直列接続回路と、ゲージ抵抗rcとゲージ抵抗rdとの直列接続回路とが、定電圧電源に並列に接続されている。なお、圧力が加えられていない状態において、ゲージ抵抗ra,rb,rc,rdの抵抗値は等しく、圧力が加えられるとゲージ抵抗ra,rdの抵抗値はゲージ抵抗rb,rcの抵抗値とは逆に変化する。
また、この第1のブリッジ回路と第2のブリッジ回路とから構成される回路に対して、マイクロコンピュータ(以下、マイコンと略す)21が設けられている。マイコン21は、プロセッサや記憶装置からなるハードウェアと、これらのハードウェアと協働して各種機能を実現させるプログラムとによって実現され、本実施の形態特有の機能として水分量演算部21−1と、圧力演算部21−2と、水分量補正部21−3と、圧力補正値記憶部21−4とを備えている。
水分量演算部21−1は、計測用センサ18と第1の外部抵抗R1との接続点P1に生じる第1の電圧値V1と、参照用センサ19と第2の外部抵抗R2との接続点P2に生じる第2の電圧値V2とを入力とし、この入力される第1の電圧値V1と第2の電圧値V2との電圧差(計測用センサ18と参照用センサ19との間に発生する抵抗値の差)に基づいて被測定雰囲気中の水分量を絶対湿度や相対湿度として求め、その求めた湿度計測値を水分量補正部21−3へ出力する。
圧力演算部21−2は、ゲージ抵抗raとゲージ抵抗rbとの接続点P3に生じる第3の電圧値V3と、ゲージ抵抗rcとゲージ抵抗rdとの接続点P4に生じる第4の電圧値V4とを入力とし、この入力される第3の電圧値V3と第4の電圧値V4との電圧差に基づいて被測定雰囲気の現在の圧力を求め、その求めた被測定雰囲気の現在の圧力を水分量補正部21−3へ出力する。
水分量補正部21−3は、水分量演算部21−1からの湿度計測値(被測定雰囲気中の水分量)と圧力演算部21−2からの被測定雰囲気の現在の圧力とを入力とし、被測定雰囲気の現在の圧力に応ずる補正値を圧力補正値記憶部21−4から取得し、この取得した補正値によって水分量演算部21−1からの湿度計測値を補正して、被測定雰囲気の現在の圧力による誤差が除去された湿度計測値を求め、外部に出力する。また、求めた湿度計測値を表示器22に表示する。
このようにして、本実施の形態の熱伝導式湿度センサ101によれば、被測定雰囲気の現在の圧力によって水分量演算部21−1で求められた被測定雰囲気中の水分量が補正されるので、圧力が大きく変動するような環境下でも、被測定雰囲気中の水分量を正確に計測することが可能となり、空気中の水分量計測の精度を向上させることができる。
なお、熱伝導式湿度センサとは別に圧力センサを設け、この圧力センサによって検出される被測定雰囲気の現在の圧力によって被測定雰囲気中の計測湿度を補正するようにすることが考えられる。しかし、熱伝導式湿度センサとは別に圧力センサを設ける方法では、例えばダクト内の湿度をプローブ型の湿度センサで計測するような場合、センサ配置の制約から圧力センサを湿度センサ近傍に配置できず、湿度計測ポイント周辺の圧力変動を測定できないことがある。このような場合、湿度計測ポイントの圧力と圧力計測ポイントの圧力との違いから、被測定雰囲気中の計測湿度を正しく補正することができない。
これに対して、本実施の形態の熱伝導式湿度センサ101によれば、図3にプローブ型の湿度センサに搭載した事例を示すように、プローブ23の壁面から取り込まれる気流の圧力変化を湿度の計測部と略同じ位置で検出することができるので、被測定雰囲気中の計測湿度を正しく補正することができる。
なお、上述した実施の形態では、ダイアフラム部16b1の所定領域にゲージ式圧力センサとしてピエゾ抵抗式の圧力センサ20を形成するようにしたが、必ずしもピエゾ抵抗式の圧力センサに限られるものではなく、歪ゲージ式の圧力センサなどとしてもよい。また、ゲージ式圧力センサを抵抗体薄膜13b側のダイアフラム部へ形成するようにしてもよい。
また、図2に示した回路構成はあくまでも一例であり、計測用センサ18と参照用センサ19との間に発生する抵抗値の差に基づいて求められる被測定雰囲気中の水分量を被測定雰囲気の現在の圧力で補正することができれば、どのような回路構成としても構わない。
〔実施の形態の拡張〕
以上、実施の形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明の技術思想の範囲内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
11…シリコン基板、11a,11b…キャビティ、12…薄膜、13a,13b…抵抗体薄膜、14…電極パッド、15…絶縁膜、16…シリコンキャップ、16a,16b…キャビティ、16b1…底部(ダイアフラム部)、16c…通気孔、17a…第1の空間、17b…第2の空間、18…計測用の感熱抵抗素子(計測用センサ)、19…参照用の感熱抵抗素子(参照用センサ)、20…ピエゾ抵抗式の圧力センサ、21…マイクロコンピュータ(マイコン)、21−1…水分量演算部、21−2…圧力演算部、21−3…水分量補正部、21−4…圧力補正値記憶部、101…熱伝導式湿度センサ。

Claims (2)

  1. 被測定雰囲気に晒される第1の空間に配置された計測用の感熱抵抗素子と、乾燥状態に保たれた第2の空間に配置された参照用の感熱抵抗素子と、前記計測用の感熱抵抗素子と前記参照用の感熱抵抗素子との間に発生する抵抗値の差に基づいて前記被測定雰囲気中の水分量を求める水分量演算部とを備えた熱伝導式湿度センサにおいて、
    前記第2の空間を囲む壁面の一部をなし前記被測定雰囲気の圧力の変動に応じて撓むダイアフラム部と、
    前記ダイアフラム部の所定領域に形成されたゲージ式圧力センサと、
    前記ゲージ式圧力センサのゲージ抵抗の変化に基づいて前記被測定雰囲気の現在の圧力を求める圧力演算部と、
    前記水分量演算部で求められた前記被測定雰囲気中の水分量を前記圧力演算部で求められた前記被測定雰囲気の現在の圧力によって補正する水分量補正部と
    を備えることを特徴とする熱伝導式湿度センサ。
  2. 請求項1に記載された熱伝導式湿度センサにおいて、
    前記ゲージ式圧力センサは、
    ピエゾ抵抗効果を有する複数のゲージ抵抗からなるピエゾ抵抗式の圧力センサである
    ことを特徴とする熱伝導式湿度センサ。
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