JP2017015434A - 環境試験装置 - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は上述した事情に鑑みてなされたものであり、アンダーシュートが発生しない条件下でも冷凍能力の過不足判定を可能とし、最適な冷凍能力を得ることができる環境試験装置を提供することにある。
上記した以外の課題、構成および効果は、以下の実施の形態により明らかにされる。
以下、図1に示す構成の模式図、図2に示すブロック図を参照し、本発明の第1実施形態による環境試験装置1の構成を説明する。
図1において、環境試験装置1は、被試験物70を配置する試験槽10と、前記試験槽10に通風口28,29を介して連通する低温槽20と、前記低温槽20内に設けられた冷凍機24と、低温槽送風部27と、前記試験槽10に通風口38,39を介して連通する高温槽30と、前記高温槽30内に設けられた高温槽側ヒータ36と、高温槽送風部37とを有する。
前記低温槽20は、低温槽温度センサ22を備える。低温槽温度センサ22は、前記低温槽20内の気体の温度を検出して、検出した気体の温度データを前記制御部40に出力する。
この第1実施形態の冷凍機24は、低温槽側ヒータ26とともに、もしくは単独で起動して、運転状態および停止状態となるように交互に切替えられる。そして、制御部40は、前記低温槽側ヒータの利用率に基づいて、前記運転モードを複数の運転モード間で切替える。
すなわち、前記制御部40によって冷凍機24は、駆動が制御されて、運転状態にて前記低温槽20内の気体を冷却して予冷に必要な温度である予冷温度TLとするとともに、低温試験が行われている状態では試験槽温度(A)が低温試験槽温度(BL)に保たれる。
さらに制御部40は、前記低温槽側送風機52を駆動している状態で、低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51を閉じることにより予冷状態における低温槽20内の気体の循環を行うことができる。
この場合、前記低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51のアクチュエータ54,55は、機構および動作ともにさらに簡略化もしくは省略してもよい。
この場合、前記高温側吹出開閉ダンパ60,高温側吸込開閉ダンパ61のアクチュエータ64,65は、機構および動作ともにさらに簡略化もしくは省略してもよい。
図2に示す第1実施形態の制御部40は、入力部41と、演算部42と、タイマ部44と、記憶部46と、出力部48とを有していて、RAMに展開されたアプリケーションプログラムによって実現される機能を、ブロック図として示しているものである。
しかしながら、試験状態に対して冷凍機24の能力が過大な状態である場合、設定低温試験温度(BL)を下回り、試験槽温度(A)が仮想線で示すようなアンダーシュート(AL)しないように、制御部40は、低温槽側ヒータ26の出力(以下、利用率とも記す)を上げる制御を行う。このため、低温槽側ヒータ26の利用率Rの増大とともに消費電力も増大してしまう。
また、試験状態に対して冷凍機24の能力が不足している場合、試験槽10の温度を設定された低温試験温度(BL)まで下げることができない。このため、安定した低温試験温度(BL)を得るまで時間がかかり(時刻b〜時刻c1)、試験精度が低下するおそれがあった。
低温試験が開始されると、ステップS1では、制御部40にて低温試験残り時間があるか否かが判定される。低温試験残り時間がある場合(ステップS1でYES)は、次のステップS2に処理を進め、冷凍機24による冷凍能力が不足していないか否かを監視する。
ここで安定状態とは、試験槽温度が設定試験槽温度に対して上下に所定温度a以内となっている状態を示す。
ステップS2にて試験槽温度が安定状態であると判定された場合(ステップS2でYES)は、次のステップS3に処理を進め、安定状態でないと判定された場合(ステップS2でNO)、ステップS1に戻り処理を繰り返す。
ステップS7では、冷凍能力増加済フラグがONとして立てられている場合、制御部40は、ステップS8に処理を進めて、ステップS8にて前記冷凍能力増加済フラグをOFFとする。
ステップS9にて、制御部40は、冷凍機24の冷凍能力を低下させて、低温試験を終了するとともに、今回の温度サイクルの高温試験が実施される。そして高温試験の終了後に続いて次回の温度サイクルの低温試験が開始される。次回の温度サイクルの低温試験は、今回の低温試験により冷凍機24の冷凍能力の調整が行われている。したがって、より適切な運転条件、例えば、試験槽温度をアンダーシュートさせることがないように早期に目標とする低温試験温度(BL)に試験槽温度(A)が近づいて安定するように実施可能である。
時刻aにて、低温試験が開始される(高温試験が終了する)と、予冷されていた低温槽温度(B)は、今まで高温試験が行われていた試験槽10と連通することで上昇を開始するとともに、試験槽温度(A)は、低下を開始する。
冷凍機24の冷凍能力が試験条件に対して過大の場合は、温度調整用に用いられる低温槽側ヒータ26の出力も多く必要とされるが、次回の温度サイクルでは低温槽側ヒータ26の利用率Rを上昇させないために、冷凍機24の冷凍能力を低下させる。
このため、時刻aにて今回のnサイクル目の低温試験が開始されると、試験槽温度(A)は低下を開始し、冷凍機24の駆動とともに、低温槽側ヒータ26が駆動状態となる。試験槽温度(A)が設定低温試験温度(BL)に到達する時刻bからは、試験槽温度(A)がアンダーシュートしないように、低温槽側ヒータ26の利用率Rが最大となる。
例えば、第1実施形態では、今回の温度サイクル(図5中、nサイクル目)中、試験槽温度(A)が設定低温試験温度(BL)より所定温度a以上高くなった時点ccにて、試験槽温度(A)が目標試験槽温度値よりも高く、冷凍機24による冷凍能力が不足していると判断して、冷凍機24のコンプレッサの駆動力を増大させて冷凍能力を増加させる。増加された冷凍機24の冷凍能力は、後の次回の温度サイクル(n+1サイクル目)以降に行われる低温試験中も継続して増加されたままの状態(MAX)となっている。
冷凍機24の駆動による予冷後に、時刻aにてnサイクル目の低温試験が開始されると、試験槽温度(A)は低下して低温槽側ヒータ26が駆動状態となる。時刻b3にて、試験槽温度(A)が設定低温試験温度(BL)に到達した後、試験槽温度(A)が設定低温試験温度(BL)のまま、かい離しない場合は、冷凍機24の冷凍能力が充足している「裕度」がある状態であるとして冷凍能力を低下させる。
このように、前回のnサイクル目の低温試験中と比較して、冷凍機24の冷凍能力および低温槽側ヒータ26の駆動を低下させていても、所望の時間(時刻b3〜時刻d3)に試験槽温度(A)を設定低温試験温度(BL)とすることができ、かつ、試験槽温度(A)を設定低温試験温度(BL)のかい離量も少なくすることができる。
また、第1実施形態の環境試験装置1では、例えば、高負荷モード、通常モード、省エネ(低負荷)モードなど複数の運転モードに応じて実施可能である。
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。上述した実施形態は本発明を理解しやすく説明するために例示したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について削除し、若しくは他の構成の追加・置換をすることが可能である。上記実施形態に対して可能な変形は、例えば以下のようなものである。
また、図3に示した処理は、上記実施形態では、図2に示す制御部40により実行されるプログラムを用いたソフトウエア的な処理として説明したが、その一部または全部をASIC(Application Specific Integrated Circuit;特定用途向けIC)、あるいはFPGA(field-programmable gate array)等を用いたハードウエア的な処理に置き換えても良い。
以上のように、実施形態における環境試験装置1によれば、制御部40は、裕度が大きい状態では、冷凍機24の冷凍能力が低くなるように運転条件を変更する。また、制御部40は、逆に裕度がないもしくは試験精度が悪化している場合には、冷凍能力が高くなるように運転条件を変更する。このため、試験対象や周囲条件に影響されることなく冷凍能力の裕度に応じて、最適な運転条件を選択できる。したがって、試験精度の維持と消費電力の低減を両立することができる。
また、制御部40は、低温試験状態で、目標温度よりも所定値以上高い温度を検知した場合は、運転モードを冷凍機24の運転能力が高く増加する方へ切替える。このため、より適切な運転条件で実施可能である。
10 試験槽
12 試験槽温度センサ
20 低温槽
22 低温槽温度センサ
24 冷凍機
26 低温槽側ヒータ
27 低温槽送風部
28,38 通風口
30 高温槽
32 高温槽温度センサ
36 高温槽側ヒータ
37 高温槽送風部
40 制御部
41 入力部
42 演算部
44 タイマ部
46 記憶部
48 出力部
50 低温側吹出開閉ダンパ
51 低温側吸込開閉ダンパ
52 低温槽側送風機
54,64 アクチュエータ
60 高温側吹出開閉ダンパ
61 高温側吸込開閉ダンパ
62 高温槽側送風機
70 被試験物
Claims (5)
- 被試験物を配置する試験槽と、
前記試験槽と連通する低温槽と、
前記低温槽内の気体を冷却して予冷状態とする冷凍機と、
前記低温槽内の気体を加熱する温度微調整用ヒータと、
前記試験槽と連通する高温槽と、
前記高温槽内の気体を加熱して予熱状態とする高温槽側ヒータと、
前記低温槽側ヒータの利用率に基づき、前記冷凍機の能力を変更する制御部とを有する、環境試験装置。 - 前記制御部は、前記冷凍機の運転能力が異なる複数の運転モードを有し、前記低温槽側ヒータの利用率に基づいて、前記運転モードを切替える、請求項1記載の環境試験装置。
- 前記制御部は、低温試験状態で、目標温度よりも高い温度を検知した場合は、前記冷凍機の能力を変更する、請求項2に記載の環境試験装置。
- 前記制御部は、低温試験状態で、目標温度よりも所定値以上高い温度を検知した場合、前記運転モードを前記冷凍機の運転能力が高くなるように切替える、請求項2に記載の環境試験装置。
- 前記制御部は、低温試験状態で、目標温度よりも所定以上高い温度を検知した同一試験サイクルでは、前記低温槽側ヒータの利用率が前記冷凍機の能力変更の条件を満たしていても、前記冷凍機の運転能力の変更を行わない、請求項2記載の環境試験装置。
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