JPH03159150A - 冷熱環境試験装置の制御方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は冷熱環境試験装置における低温試験時の低温ヒ
ータの制御方法に関する。

〔従来の技術〕

従来の装置は低温試験時は二元冷凍機で低温室に蓄冷し
ていた冷気を低温ダンパを開くことにより試験室に導入
し、設定した試験室温度で低温ヒータをＰＩＤ制御して
いた。

なお、この種の装置として関連するものには例えば、特
願昭６１−３３０１０号、特願平１−４６５３０号明細
書等が挙げられる。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術は低温設定値に安定する迄の時間を短くす
ることに対しての考慮がされておらず、低温試験に切り
換って低温試験設定温度以下に試験室温度がアンダーシ
ュートした場合に、低温ヒータがＰｉＤ制御によりＯＮ
することによて低温試験温度が上昇してしまうという問
題があった。

本発明の目的は、アンダーシュートしても低温ヒータを
ＯＮさせず、低温設定温度以上に試験室温度を上昇させ
ないように低温ヒータを制御することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、低温設定温度を低温試験切
り換え直後はその設定温度より低い値に自動的に設定し
ておいて、アンダーシュート時にも低温ヒータがＯＮＬ
ないようにし、一定時間経過後に最初の低温設定温度に
戻すように制御したものである。

〔作用〕

低温ヒータは低温設定温度と低温測定温度との偏差によ
りＰｉＤ制御される。簡単に言えば、設定温度より測定
温度が低い場合には、低温ヒータをＯＮして測定温度を
上昇させて設定温度に近づけようとする。

また、低温ダンパが開いて低温試験に切り換った直後は
、試験室の設定温度より一般的に低い温度に設定しであ
る低温室の冷気が試験室に流入するため、試験室の空気
温度は一時的に設定温度より降下するが、試験室が高温
試験時に蓄熱していた熱の放出により次第に空気温度は
上昇する。この空気温度の上昇をキャンセルするだけの
冷却容量があれば、温度上昇は少なくなるのだが、試験
温度が低く、冷却能力の限界に近い設定温度時にはアン
ダーシュート後、設定温度値以上に温度上昇することに
なる。

アンダーシュート時には設定温度をそれ以下とし、温度
上昇に従って設定値を戻すことにより、アンダーシュー
ト時の低温ヒータのＯＮをなくし、試験室温度の上昇を
少なくすることができる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。

第１図は冷熱環境試験装置の断面図である。１は試験室
であり、その下部に断熱材で仕切られた低温室２が設置
され、上部に高温室３が設置される。４は冷風供給口で
あり、冷風切換ダンパ６゜７及び冷風切換サブダンパ２
０が破線状態の時に低温室２より試験室１に冷風を供給
する。

また、８は熱風供給口であり熱風切換ダンパ１０．１１
及び熱風切換えサブダンパ２１が開の時に高温室３より
試験室１へ熱風を供給する。

１２は蒸発器であり冷凍機（図示せず）により冷却され
る。、１３は低温ヒータであり、蒸発器１２と低温ヒー
タ１３とで冷却、加熱を行いながら低温室、または、試
験室の温度を一定に保持する。

１６は低温送風機であり、１７は低温送風機用モータで
ある。

１４は高温ヒータであり、１５は蓄熱器で、１８は高温
送風機、１９は高温送風機用モータである。また、２２
は試験室センサ、２３は高温室センサ、２４は低温室セ
ンサである。

次に本装置の動作について説明する。

まず、準備運転時には、６，７の冷風切換ダンパ、２０
の冷風切換サブダンパ、及び、１０゜１１の熱風切換ダ
ンパ、２１の熱風切換サブダンパが閉じた状態で、１８
の高温送風機、１６の低温送風機が運転し、１２の蒸発
器で冷却された冷風は、破線のようにし、低温室２内を
循環し、同様に１８の高温ヒータで加熱された熱風は、
破線のように、高温室３を循環しながら、低温室２゜高
温室３を設定した予冷、予熱温度に冷却、加熱する。

低温室２．高温室３が設定した予冷、予熱温度に到達し
たかどうかを２４．２３のセンサで検知する。到達した
ら、まず、低温試験を行う。低温試験時は冷風切換ダン
パ６．７及び冷風切換サブダンパ２ｏを破線のように開
き、冷風供給口４より冷風を試験室１に供給し、冷風排
出口５より低温室２へ循環する。試験室１の温度は試験
室センサ２２で管理する。低温試験設定時間が終了する
と低温側のダンパが閉じて低温試験を完了する。

低温試験が終了すると、１０．１１の熱風切換ダンパ、
２１の熱風切換サブダンパが開いて高温試験を行う。高
温試験時は、８の熱風供給口より試験室１に熱風を供給
し、熱風排出口９へと循環する。高温試験設定時間が終
了すると高温側のダンパが閉じ高温試験を終了し、同時
に低温側ダンパを開いて低温試験に移る。このサイクル
を設定したサイクルだけ繰り返す。

第２図は、従来の試験室温度の制御方法を説明する。図
で太い実線で示すのが試験室設定温度であり、二点鎖線
が実際の試験室測定温度である。

準備運転が終り低温試験に移ると試験室温度は、例えば
、−５５”Ｃとなり、低温ダンパが開いて冷風が試験室
に供給され試験室温度が急激に降下する。低温室の設定
温度は−７０”Ｃで予冷していたので、低温室温度は一
５５℃をオーバーしてアンダーシュートし、低温ヒータ
がＯＮとなる。また、空気温度は一５５℃以下となって
いても、試験室の壁面温度等はまだ一５５℃となってお
らず、低温ヒータもＯＮすることから、温度上昇して一
度は一５５℃以上となるが、すぐに、−５５℃に安定す
る。次に高温試験から低温試験に移行する時は、試験室
の壁面が今迄高温にさらされていたのでアンダーシュー
ト後の温度上昇が顕著になり、なかなか、−５５℃の安
定状態とならない。

これを改善するための制御方法を第３図に示す。

第２図と異なる所は、低温試験の最初の設定温度をΔＴ
’Ｃだけｔ分間下げていることである。

高温試験から低温試験に移った時、低温設定温度−５５
℃をΔＴ’Ｃ（約−３〜−８℃）だけ下げた温度をｔ分
間（約１〜１０分間）低温ヒータを制御する温調器の設
定値としてやる。そうすると、アンダーシュートしても
実際の設定温度はそれより低く設定されているため、低
温ヒータはＯＮとならない。従って、壁面温度等が冷却
されずに温度上昇する現象はなくならないが、低温ヒー
タがＯＮすることによる温度上昇を防止することが出来
、−５５℃への安定時間が短くなる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、低温試験開始直後は、低温設定温度を
低くするので、アンダーシュート時の低温ヒータのＯＮ
をなくすることができるので、低温設定温度安定迄の時
間を短縮する効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の断面図、第２図は従来の制
御方法による設定温度と測定温度のサイクルパターン図
、第３図は本発明による設定温度と測定温度のサイクル
パターン図である。 １・・・試験室、２・・・低温室、１３・・・低温ヒー
タ、第　１　口 第　２１￥］

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、試験室、低温室、高温室を独立に配設し、ダンパの
   切換えにより前記低温室の冷風または前記高温室の熱風
   を前記試験室に循環させるようにした冷熱環境試験装置
   において、 低温試験の開始直後は低温ヒータ制御用温度調節器の設
   定温度を実低温設定温度より約１ないし１０分だけ、約
   ３ないし８℃低く設定するようにしたことを特徴とする
   冷熱環境試験装置の制御方法。