JP2017009542A - 撮像システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】撮像システム1は、反射面112、212によって一端側が狭空間に他端側が広空間を形成する反射手段110、210を有する反射機構10と、反射手段110、210の内側に形成される撮像空間120、220と、被撮像体6を、反射機構10内において変位させる変位手段30と、反射機構10内で、第一の姿勢で位置決めされる被撮像体6の第一部分像6Pが欠落した第一反射像と、第一の姿勢で位置決めされる被撮像体6の第二部分像6Qが欠落した第二反射像とを撮像する撮像手段160、260とを備えるようにした。
【選択図】図1
Description
5 雄ねじ体
6 線状体
5A、6A 体軸
10 反射機構
14 錐軸
30 変位手段
75 合否判定手段
90 照明手段
94 発光面
95A〜95D 部分発光領域
110 第一反射手段
112 反射面
112E 部分範囲
116A 狭空間
116B 広空間
120 撮像空間
210 第二反射手段
212 反射面
212E 部分範囲
216A 狭空間
216B 広空間
220 撮像空間
310 反射手段
312 反射面
Claims (13)
- 互いに非平行状態で対向して設けられる反射面により一端側が狭空間且つ他端側が広空間を画成する反射手段を、一つ以上有する反射機構と、
上記反射面間に設けられ、被撮像体を位置及び/又は通過させ得、上記被撮像体のほぼ中心を通る体軸に対して直角方向の多方位からの像を撮像可能とする撮像空間と、
上記反射機構の系内で、第一の姿勢において前記被撮像体の第一部分像が欠落した状態の第一反射像を撮像すると共に、第二の姿勢において該被撮像体の該第一部分像と相異なる第二部分像が欠落した状態の第二反射像を撮像する、撮像手段と、
を備えることを特徴とする撮像システム。 - 前記反射面は、前記体軸に対する所定の直交方向における部分範囲が欠落しており、該欠落した部分範囲を、前記被撮像体が通過可能に構成されることを特徴とする、
請求項1に記載の撮像システム。 - 前記被撮像体の姿勢を、前記反射機構内において変位させる変位手段を有し、
前記変位手段は、前記体軸を中心として前記被撮像体を適宜角度回転させることで、前記第一の姿勢から前記第二の姿勢へと変位させることを特徴とする、
請求項2に記載の撮像システム。 - 前記反射機構は、複数の前記反射手段を有しており、
複数の前記反射手段の前記反射面は、それぞれ、前記被撮像体の前記体軸に対する所定の直交方向における部分範囲が欠落しており、
上記欠落した部分を、前記被撮像体が通過可能に構成されることを特徴とする、
請求項1に記載の撮像システム。 - 前記被撮像体の姿勢を、前記反射機構内において変位させる変位手段を有し、
第一の前記反射手段の前記反射面は、前記被撮像体の前記体軸に対する所定の直交方向における第一部分範囲が欠落しており、
第二の前記反射手段の前記反射面は、前記被撮像体の前記体軸に対する所定の直交方向における前記第一部分範囲と相異なる第二部分範囲が欠落しており、
前記変位手段は、前記第一の反射手段と前記第二の反射手段の間で前記被撮像体を変位させることを特徴とする、
請求項4に記載の撮像システム。 - 前記反射機構は、前記体軸方向に離間して配置される第一の前記反射手段と第二の前記反射手段とを有しており、
前記反射機構は、
第一の前記反射手段の前記反射像を更に第一方向に反射させて、前記被撮像体の存在による第一死角像を含む前記第一反射像を前記撮像手段に案内する第一補助反射手段と、
第二の前記反射手段の前記反射像を更に前記第一方向と相異なる第二方向に反射させて、該被撮像体の存在による上記第一死角像と相異なる第二死角像を含む前記第二反射像を前記撮像手段に案内する第二補助反射手段と、
を有することを特徴とする、
請求項1に記載の撮像システム。 - 前記反射機構は、前記反射手段の前記体軸に対して傾斜配置される一つ以上の補助反射面を有する補助反射手段を有し、
前記補助反射面は、前記被撮像体が通過可能な開口が形成されることを特徴とする請求項1乃至6の何れかに記載の撮像システム。 - 前記開口は、前記補助反射面の面方向から視た場合に、第一方向が長く且つ該第一方向に対して直角となる第二方向に短い長孔であることを特徴とする、
請求項7に記載の撮像システム。 - 前記開口は、前記補助反射面の反射方向から視た場合に、正円形又は正多角形であることを特徴とする、
請求項7又は8に記載の撮像システム。 - 前記第一反射像を撮像する第一の前記撮像手段と、前記第二反射像を撮像する第二の前記撮像手段を備えることを特徴とする請求項1乃至9の何れかに記載の撮像システム。
- 前記第一反射像と前記第二反射像を撮像して得られた複数の撮像画像と、マスター画像とを比較して画像分析することを特徴とする請求項1乃至10の何れかに記載の撮像システム。
- 前記第一反射像と前記第二反射像を撮像して得られた複数の撮像画像と、マスター画像とを比較して、これら該撮像画像と該マスター画像との一致度を算出する画像一致度算出手段を有することを特徴とする請求項1乃至11の何れかに記載の撮像システム。
- 前記被撮像体の姿勢を、前記反射機構内において変位させ得る変位手段を備え、
該変位手段が、該被撮像体を
前記体軸方向に変位さる、
前記体軸直角方向に変位させる、
前記体軸を中心とした回転によって位相を変位させる、
の何れかに該当するものであることを特徴とする請求項1乃至12の何れかに記載の撮像システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015128162A JP2017009542A (ja) | 2015-06-25 | 2015-06-25 | 撮像システム |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2015128162A JP2017009542A (ja) | 2015-06-25 | 2015-06-25 | 撮像システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017009542A true JP2017009542A (ja) | 2017-01-12 |
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ID=57764494
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2015128162A Pending JP2017009542A (ja) | 2015-06-25 | 2015-06-25 | 撮像システム |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2017009542A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2022131279A1 (ja) * | 2020-12-17 | 2022-06-23 | 日立Astemo株式会社 | 外観検査装置および外観検査方法 |
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-
2015
- 2015-06-25 JP JP2015128162A patent/JP2017009542A/ja active Pending
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