JP2017001164A - Polishing device - Google Patents

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ペキヤ デヤン
Pekija Degen
ペキヤ デヤン
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a polishing device enhanced in cleaning workability.SOLUTION: A polishing device includes: cover means (52) which covers a chuck table (20) and polishing means (32) and prevents scattering of powder dust generated in polishing; suction means which includes an exhaust duct (64) connected to an exhaust port (62) provided in the cover means from the outside of the cover means and a suction source (66) connected to the exhaust port via the exhaust duct, sucks air containing powder dust in the cover means during the polishing and discharges the air to the outside of the cover means; and a suction cleaning unit (70) which is detachably connected to the suction means and removes powder dust deposited in the cover means while the polishing is stopped. The suction cleaning unit includes: a flexible hose (72); a connection section (74) which is provided at one end of the flexible hose and is detachably connected to the exhaust port from the inside of the cover means; and a suction section (76) which is provided at the other end of the flexible hose and has an opening (76a) smaller than the exhaust port.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、板状の被加工物を乾式研磨する研磨装置に関する。   The present invention relates to a polishing apparatus for dry polishing a plate-like workpiece.

小型軽量なデバイスチップを製造するため、シリコン等の半導体材料でなるウェーハを100μm以下の厚みにまで薄く加工する機会が増えている。例えば、研削用の砥石が固定された円盤状の研削ホイールを回転させてウェーハの被加工面に接触させることで、ウェーハを研削して薄くできる。   In order to manufacture small and light device chips, there are increasing opportunities to process a wafer made of a semiconductor material such as silicon to a thickness of 100 μm or less. For example, a wafer can be ground and thinned by rotating a disk-shaped grinding wheel to which a grinding wheel is fixed and bringing it into contact with the work surface of the wafer.

ところで、上述のような研削によってウェーハを薄くすると、被加工面に研削歪やマイクロクラックが形成されて、デバイスチップの抗折強度は低下してしまう。そこで、ウェーハを研削した後には、被加工面を研磨することで、研削歪やマイクロクラックを除去してデバイスチップの抗折強度を高めている。   By the way, when the wafer is thinned by grinding as described above, grinding distortion and microcracks are formed on the work surface, and the bending strength of the device chip is lowered. Therefore, after grinding the wafer, the work surface is polished to remove grinding distortion and microcracks, thereby increasing the bending strength of the device chip.

ウェーハの研磨には、スラリー等の研磨液を使用する湿式研磨の他、研磨液を使用しない乾式研磨が採用されることもある。乾式研磨では、発生する粉塵が飛散し易いので、ウェーハを保持するチャックテーブルや研磨ユニット等をカバーで覆った研磨装置が使用されている(例えば、特許文献1参照)。   In addition to wet polishing using a polishing liquid such as slurry, dry polishing without using a polishing liquid may be employed for polishing the wafer. In dry polishing, generated dust is likely to be scattered, and therefore a polishing apparatus in which a chuck table, a polishing unit, and the like for holding a wafer are covered with a cover is used (see, for example, Patent Document 1).

特開2004−1118号公報JP 2004-1118 A

上述したカバーは、例えば、排気ダクトを介して吸引源に接続されており、研磨によって発生する粉塵の大部分は空気と共にカバーの外部へと排出される。ところが、この研磨装置では、発生する粉塵の全てを完全に排出することはできず、カバーの内部には残存した粉塵が徐々に堆積していく。   The above-described cover is connected to a suction source through, for example, an exhaust duct, and most of the dust generated by polishing is discharged together with air to the outside of the cover. However, this polishing apparatus cannot completely discharge all the generated dust, and the remaining dust gradually accumulates inside the cover.

そのため、定期的にカバーの内部を清掃する必要がある。しかしながら、この研磨装置では、オペレータの手作業によって実施される清掃の作業性が必ずしも良いとは言えなかった。本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、清掃の作業性を高めた研磨装置を提供することである。   Therefore, it is necessary to periodically clean the inside of the cover. However, with this polishing apparatus, the workability of the cleaning performed by the operator's manual work is not necessarily good. The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to provide a polishing apparatus with improved cleaning workability.

本発明によれば、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を乾式研磨する研磨パッドを有する研磨手段と、を備える研磨装置であって、該チャックテーブル及び該研磨手段を覆い、研磨加工で発生する粉塵の飛散を防ぐカバー手段と、該カバー手段に設けられた排気口に該カバー手段の外部から接続する排気ダクト及び該排気ダクトを介して該排気口に接続する吸引源を有し、研磨加工中に該カバー手段の内部の粉塵を含む空気を吸引して該カバー手段の外部に排出する吸引手段と、該吸引手段に対して着脱可能に接続され、研磨加工停止中に該カバー手段の内部で堆積した粉塵を除去する吸引掃除ユニットと、を備え、該吸引掃除ユニットは、フレキシブルホースと、該フレキシブルホースの一端に設けられ、該カバー手段の内部から該排気口に着脱可能に接続される接続部と、該フレキシブルホースの他端に設けられ、該排気口より小さい開口を有する吸引部と、を有することを特徴とする研磨装置が提供される。   According to the present invention, there is provided a polishing apparatus comprising: a chuck table for holding a workpiece; and a polishing means having a polishing pad for dry polishing the workpiece held on the chuck table, the chuck table and Cover means for covering the polishing means and preventing scattering of dust generated in the polishing process, an exhaust duct connected from the outside of the cover means to an exhaust port provided in the cover means, and the exhaust port through the exhaust duct A suction source that is connected to the suction means, sucks air containing dust inside the cover means during polishing, and discharges the air to the outside of the cover means, and is detachably connected to the suction means A suction cleaning unit that removes dust accumulated inside the cover means when the polishing process is stopped, and the suction cleaning unit includes a flexible hose and one of the flexible hoses. A connecting portion that is detachably connected to the exhaust port from the inside of the cover means, and a suction portion that is provided at the other end of the flexible hose and has an opening smaller than the exhaust port. A featured polishing apparatus is provided.

本発明に係る研磨装置は、フレキシブルホースと、フレキシブルホースの一端に設けられ、カバー手段の内部から排気口に着脱可能に接続される接続部と、フレキシブルホースの他端に設けられた吸引部と、を有する吸引掃除ユニットを備えるので、外部の掃除機等を用いることなくカバー手段の内部を清掃できる。   A polishing apparatus according to the present invention includes a flexible hose, a connection portion provided at one end of the flexible hose and detachably connected to the exhaust port from the inside of the cover means, and a suction portion provided at the other end of the flexible hose. , The inside of the cover means can be cleaned without using an external cleaner or the like.

また、本発明に係る研磨装置では、吸引掃除ユニットの吸引部に排気口より小さい開口を設けているので、開口の近傍で空気の流速を高めて強い吸引力を得ることができる。よって、カバー手段の内部で堆積した粉塵を強力に除去できる。このように、本発明によれば、清掃の作業性を高めた研磨装置を提供できる。   Further, in the polishing apparatus according to the present invention, since an opening smaller than the exhaust port is provided in the suction portion of the suction cleaning unit, a strong suction force can be obtained by increasing the air flow rate in the vicinity of the opening. Therefore, the dust accumulated inside the cover means can be removed strongly. Thus, according to the present invention, it is possible to provide a polishing apparatus with improved cleaning workability.

研磨装置の構成例を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structural example of a grinding | polishing apparatus typically. カバーの構造等を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure etc. of a cover typically. 吸引掃除ユニットがカバーの内部から排気管に装着される様子を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically a mode that a suction cleaning unit is mounted | worn with an exhaust pipe from the inside of a cover. 吸引掃除ユニットでカバーの内部を清掃する様子を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically a mode that the inside of a cover is cleaned with a suction cleaning unit. 変形例に係る吸引掃除ユニットの構成例を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically the structural example of the suction cleaning unit which concerns on a modification.

添付図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。図1は、本実施形態に係る研磨装置の構成例を模式的に示す斜視図である。図1に示すように、本実施形態に係る研磨装置2は、各構成要素が搭載される直方体状の基台4を備えている。基台4の後端には、上方に広がる壁状の支持構造6が設けられている。   Embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view schematically showing a configuration example of a polishing apparatus according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, the polishing apparatus 2 according to this embodiment includes a rectangular parallelepiped base 4 on which each component is mounted. A wall-like support structure 6 that extends upward is provided at the rear end of the base 4.

基台4の上面前側には、開口4aが形成されており、この開口4a内には、板状の被加工物11を搬送する搬送ユニット8が設けられている。被加工物11は、例えば、円盤状の半導体ウェーハや樹脂基板、セラミックス基板等である。ただし、他の基板を被加工物11としても良い。   An opening 4 a is formed on the front side of the upper surface of the base 4, and a transport unit 8 for transporting the plate-shaped workpiece 11 is provided in the opening 4 a. The workpiece 11 is, for example, a disk-shaped semiconductor wafer, a resin substrate, a ceramic substrate, or the like. However, another substrate may be used as the workpiece 11.

開口4aの側方の領域には、被加工物11を収容するカセット10a,10bが載せられる。カセット10aが載せられる領域の後方には、アライメント機構12が設けられている。アライメント機構12は、例えば、カセット10aから搬送ユニット8で搬送された被加工物11の中心の位置を調整する。   Cassettes 10a and 10b for accommodating the workpiece 11 are placed in a region on the side of the opening 4a. An alignment mechanism 12 is provided behind the area where the cassette 10a is placed. The alignment mechanism 12 adjusts the center position of the workpiece 11 conveyed by the conveyance unit 8 from the cassette 10a, for example.

アライメント機構12の後方には、被加工物11を保持して旋回する搬入ユニット14が設けられている。搬入ユニット14の後方には、開口4bが形成されている。この開口4b内には、X軸移動テーブル16、X軸移動テーブル16をX軸方向(前後方向)に移動させるX軸移動ユニット(不図示)、及びX軸移動ユニットを覆う防塵防滴カバー18が配置されている。   A carry-in unit 14 that holds and holds the workpiece 11 is provided behind the alignment mechanism 12. An opening 4 b is formed behind the carry-in unit 14. In this opening 4b, an X-axis moving table 16, an X-axis moving unit (not shown) for moving the X-axis moving table 16 in the X-axis direction (front-rear direction), and a dustproof and drip-proof cover 18 that covers the X-axis moving unit. Is arranged.

X軸移動ユニットは、X軸方向に平行な一対のX軸ガイドレール(不図示)を備えており、X軸ガイドレールには、X軸移動テーブル16がスライド可能に取り付けられている。X軸移動テーブル16の下面側には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、X軸ガイドレールと平行なX軸ボールネジ(不図示)が螺合されている。   The X-axis movement unit includes a pair of X-axis guide rails (not shown) parallel to the X-axis direction, and an X-axis movement table 16 is slidably attached to the X-axis guide rails. A nut portion (not shown) is provided on the lower surface side of the X-axis moving table 16, and an X-axis ball screw (not shown) parallel to the X-axis guide rail is screwed to the nut portion.

X軸ボールネジの一端部には、X軸パルスモータ(不図示)が連結されている。X軸パルスモータでX軸ボールネジを回転させることにより、X軸移動テーブル16はX軸ガイドレールに沿ってX軸方向に移動する。X軸移動テーブル16の上面には、被加工物11を吸引、保持するチャックテーブル20が設けられている。   An X-axis pulse motor (not shown) is connected to one end of the X-axis ball screw. By rotating the X-axis ball screw with the X-axis pulse motor, the X-axis moving table 16 moves in the X-axis direction along the X-axis guide rail. A chuck table 20 for sucking and holding the workpiece 11 is provided on the upper surface of the X-axis moving table 16.

チャックテーブル20は、モータ等の回転駆動源(不図示)に連結されており、Z軸方向(鉛直方向)に概ね平行な回転軸の周りに回転する。また、チャックテーブル20は、上述のX軸移動ユニットにより、被加工物11が搬入、搬出される前方の搬入搬出領域と、被加工物11が研磨される後方の研磨領域との間を移動する。   The chuck table 20 is connected to a rotation drive source (not shown) such as a motor, and rotates around a rotation axis substantially parallel to the Z-axis direction (vertical direction). Further, the chuck table 20 is moved between a front loading / unloading area where the workpiece 11 is loaded and unloaded and a rear polishing area where the workpiece 11 is polished by the X-axis moving unit. .

チャックテーブル20の上面は、被加工物11を吸引、保持する保持面となっている。この保持面は、チャックテーブル20の内部に形成された流路(不図示)を通じて吸引源(不図示)に接続されている。搬入ユニット14でチャックテーブル20に搬入された被加工物11は、保持面に作用する吸引源の負圧で吸引、保持される。   The upper surface of the chuck table 20 is a holding surface that sucks and holds the workpiece 11. This holding surface is connected to a suction source (not shown) through a flow path (not shown) formed inside the chuck table 20. The workpiece 11 carried into the chuck table 20 by the carry-in unit 14 is sucked and held by the negative pressure of the suction source acting on the holding surface.

支持構造6の前面には、Z軸移動ユニット22が設けられている。Z軸移動ユニット22は、Z軸方向に平行な一対のZ軸ガイドレール24を備えており、このZ軸ガイドレール24には、Z軸移動プレート26がスライド可能に取り付けられている。Z軸移動プレート26の後面側(裏面側)には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、Z軸ガイドレール24と平行なZ軸ボールネジ28が螺合されている。   A Z-axis moving unit 22 is provided on the front surface of the support structure 6. The Z-axis moving unit 22 includes a pair of Z-axis guide rails 24 parallel to the Z-axis direction, and a Z-axis moving plate 26 is slidably attached to the Z-axis guide rails 24. A nut portion (not shown) is provided on the rear surface side (back surface side) of the Z-axis moving plate 26, and a Z-axis ball screw 28 parallel to the Z-axis guide rail 24 is screwed into the nut portion. Yes.

Z軸ボールネジ28の一端部には、Z軸パルスモータ30が連結されている。Z軸パルスモータ30でZ軸ボールネジ28を回転させることにより、Z軸移動プレート26はZ軸ガイドレール24に沿ってZ軸方向に移動する。   A Z-axis pulse motor 30 is connected to one end of the Z-axis ball screw 28. By rotating the Z-axis ball screw 28 by the Z-axis pulse motor 30, the Z-axis moving plate 26 moves in the Z-axis direction along the Z-axis guide rail 24.

Z軸移動プレート26の前面(表面)には、被加工物11を研磨する研磨ユニット(研磨手段)32が設けられている。研磨ユニット32は、Z軸移動プレート26に固定された筒状のスピンドルハウジング34を備えている。スピンドルハウジング34の内部には、回転軸となるスピンドル36が収容されている。   On the front surface (surface) of the Z-axis moving plate 26, a polishing unit (polishing means) 32 for polishing the workpiece 11 is provided. The polishing unit 32 includes a cylindrical spindle housing 34 fixed to the Z-axis moving plate 26. A spindle 36 serving as a rotation shaft is accommodated in the spindle housing 34.

スピンドルハウジング34から露出するスピンドル36の下端部には、円盤状のマウント38が固定されており、このマウント38の下面には、マウント38と概ね同径の研磨パッド40が装着されている。なお、本実施形態に係る研磨装置2では、スラリー等の研磨液を使用しない乾式研磨用の研磨パッド40が使用される。   A disc-shaped mount 38 is fixed to the lower end portion of the spindle 36 exposed from the spindle housing 34, and a polishing pad 40 having substantially the same diameter as the mount 38 is attached to the lower surface of the mount 38. In the polishing apparatus 2 according to the present embodiment, a polishing pad 40 for dry polishing that does not use a polishing liquid such as slurry is used.

スピンドル36の上端側には、モータ等の回転駆動源(不図示)が連結されており、研磨パッド40は、回転駆動源から伝達される回転力で回転する。また、研磨パッド40は、上述したZ軸移動ユニット22でチャックテーブル20に保持された被加工物11の上面(被研磨面)に押し当てられる。   A rotary drive source (not shown) such as a motor is connected to the upper end side of the spindle 36, and the polishing pad 40 rotates with a rotational force transmitted from the rotary drive source. The polishing pad 40 is pressed against the upper surface (surface to be polished) of the workpiece 11 held on the chuck table 20 by the Z-axis moving unit 22 described above.

搬入ユニット14に隣接する位置には、被加工物11を保持して旋回する搬出ユニット42が設けられている。搬出ユニット42の前方、かつ、カセット10bが載せられる領域の後方には、研磨加工後の被加工物11を洗浄する洗浄ユニット44が配置されている。   At a position adjacent to the carry-in unit 14, a carry-out unit 42 that holds and turns the workpiece 11 is provided. A cleaning unit 44 for cleaning the workpiece 11 after polishing is disposed in front of the carry-out unit 42 and behind the area where the cassette 10b is placed.

洗浄ユニット44で洗浄された被加工物11は、搬送ユニット8で搬送され、例えば、カセット10bに収容される。開口4aの前方には、研磨条件等を入力するための操作パネル46が設置されている。   The workpiece 11 cleaned by the cleaning unit 44 is transported by the transport unit 8 and is accommodated in, for example, the cassette 10b. An operation panel 46 for inputting polishing conditions and the like is installed in front of the opening 4a.

この研磨装置2で被加工物11を研磨する際には、被加工物11をチャックテーブル20に吸引、保持させた状態で、チャックテーブル20と研磨パッド40とを相互に回転させて、被加工物11の上面に研磨パッド40を押し当てる。これにより、被加工物11を研磨(乾式研磨)できる。なお、本実施形態に係る研磨装置2では、スラリー等の研磨液を使用しない。   When the workpiece 11 is polished by the polishing apparatus 2, the chuck table 20 and the polishing pad 40 are rotated with each other while the workpiece 11 is sucked and held by the chuck table 20. The polishing pad 40 is pressed against the upper surface of the object 11. Thereby, the workpiece 11 can be polished (dry polishing). In the polishing apparatus 2 according to this embodiment, a polishing liquid such as slurry is not used.

上述のように、研磨パッド40で被加工物11を研磨(乾式研磨)すると、チャックテーブル20や研磨パッド40の周囲には粉塵が飛散し易い。そこで、本実施形態に係る研磨装置2の研磨領域には、チャックテーブル20や研磨ユニット32(研磨パッド40)を覆うカバー(カバー手段)52が設けられている。   As described above, when the workpiece 11 is polished (dry polishing) with the polishing pad 40, dust is likely to be scattered around the chuck table 20 and the polishing pad 40. Therefore, a cover (cover means) 52 that covers the chuck table 20 and the polishing unit 32 (polishing pad 40) is provided in the polishing region of the polishing apparatus 2 according to the present embodiment.

図2は、カバー52の構造等を模式的に示す断面図である。図2に示すように、カバー52は、研磨領域を覆う本体54と、本体54の上部に形成された開口54aを閉じる蓋56とで構成されている。蓋56は、蝶番60を介して本体54に連結されており、本体54に対して所定の角度範囲で回転する。   FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing the structure of the cover 52 and the like. As shown in FIG. 2, the cover 52 includes a main body 54 that covers the polishing region and a lid 56 that closes an opening 54 a formed in the upper portion of the main body 54. The lid 56 is connected to the main body 54 via a hinge 60 and rotates with respect to the main body 54 within a predetermined angle range.

本体54の側部には、本体54を内外に貫通する筒状の排気管(排気口)62が設けられている。この排気管62には、カバー52の外部から排気ダクト(吸引手段)64の一端が接続されている。一方、排気ダクト64の他端には、吸引源(吸引手段)66(図1)が接続されている。すなわち、排気管62のカバー52より外側の部分には、排気ダクト64を介して吸引源66が接続されている。   A cylindrical exhaust pipe (exhaust port) 62 that penetrates the main body 54 inward and outward is provided on the side of the main body 54. One end of an exhaust duct (suction means) 64 is connected to the exhaust pipe 62 from the outside of the cover 52. On the other hand, a suction source (suction means) 66 (FIG. 1) is connected to the other end of the exhaust duct 64. That is, the suction source 66 is connected to the portion of the exhaust pipe 62 outside the cover 52 via the exhaust duct 64.

吸引源66は、吸引力の発生を制御する制御スイッチ68を有している。この制御スイッチ68を操作することで、吸引源66で発生する吸引力を排気管62に作用させることができる。被加工物11の研磨加工中には、例えば、排気管62のカバー52より内側の部分をカバー52の内部で露出させる。この状態で吸引源66の吸引力を作用させれば、カバー52の内部の粉塵を含む空気を排気ダクト64及び吸引源66で吸引してカバー52の外部に排出できる。   The suction source 66 has a control switch 68 that controls generation of suction force. By operating this control switch 68, the suction force generated by the suction source 66 can be applied to the exhaust pipe 62. During polishing of the workpiece 11, for example, a portion inside the cover 52 of the exhaust pipe 62 is exposed inside the cover 52. If the suction force of the suction source 66 is applied in this state, air containing dust inside the cover 52 can be sucked by the exhaust duct 64 and the suction source 66 and discharged to the outside of the cover 52.

一方、研磨加工の停止中には、排気管62のカバー52より内側の部分に吸引掃除ユニット70を装着できる。図3は、吸引掃除ユニット70が排気管62に装着される様子を模式的に示す斜視図である。なお、図3では、説明の便宜上、カバー52を構成する構成要素の一部又は全部を省略している。   On the other hand, when the polishing process is stopped, the suction cleaning unit 70 can be attached to a portion inside the cover 52 of the exhaust pipe 62. FIG. 3 is a perspective view schematically showing how the suction cleaning unit 70 is attached to the exhaust pipe 62. In FIG. 3, for convenience of explanation, some or all of the constituent elements constituting the cover 52 are omitted.

図2及び図3に示すように、吸引掃除ユニット70は、樹脂等の材料で形成されたフレキシブルホース72を有している。フレキシブルホース72の一端には、カバー52(本体54)の内部から排気管62に接続される接続部材(接続部)74が設けられている。この接続部材74は、排気管62のカバー52より内側の部分に対して着脱自在に構成されている。   As shown in FIG.2 and FIG.3, the suction cleaning unit 70 has the flexible hose 72 formed with materials, such as resin. One end of the flexible hose 72 is provided with a connection member (connection portion) 74 connected to the exhaust pipe 62 from the inside of the cover 52 (main body 54). The connecting member 74 is configured to be detachable with respect to a portion inside the cover 52 of the exhaust pipe 62.

フレキシブルホース72の他端には、筒状の吸引部材(吸引部)76が固定されている。吸引部材76の先端面には、排気管62の内径よりも小さい楕円状の開口76aが設けられている。この開口76aは、カバー52の内部に堆積した粉塵等の異物を吸引する吸引口として機能する。   A cylindrical suction member (suction part) 76 is fixed to the other end of the flexible hose 72. An elliptical opening 76 a smaller than the inner diameter of the exhaust pipe 62 is provided on the distal end surface of the suction member 76. The opening 76 a functions as a suction port for sucking foreign matter such as dust accumulated in the cover 52.

吸引掃除ユニット70を排気管62に装着する際には、カバー52の蓋56を開き、吸引掃除ユニット70の接続部材74をカバー52の内部から排気管62に接続する。この状態で吸引源66を作動させることで、粉塵等の異物を吸引するための吸引力を開口76aに作用させることができる。   When the suction cleaning unit 70 is attached to the exhaust pipe 62, the cover 56 of the cover 52 is opened, and the connection member 74 of the suction cleaning unit 70 is connected to the exhaust pipe 62 from the inside of the cover 52. By operating the suction source 66 in this state, a suction force for sucking foreign matters such as dust can be applied to the opening 76a.

上述のように、開口76aは、排気管62の内径よりも小さく形成されている。より詳細には、排気管62の面積(断面積)よりも開口76aの面積(断面積)が小さくなっている。そのため、例えば、排気管62の内径と同程度の大きさの開口を設ける場合等と比較して、開口76aの近傍で空気の流速を高めて強い吸引力を得ることができる。よって、カバー52の内部で堆積した粉塵等の異物を強力に除去できる。   As described above, the opening 76 a is formed smaller than the inner diameter of the exhaust pipe 62. More specifically, the area (cross-sectional area) of the opening 76 a is smaller than the area (cross-sectional area) of the exhaust pipe 62. Therefore, for example, compared with the case where an opening having the same size as the inner diameter of the exhaust pipe 62 is provided, a strong suction force can be obtained by increasing the air flow rate near the opening 76a. Therefore, foreign matters such as dust accumulated inside the cover 52 can be strongly removed.

また、開口76aは、楕円状に形成されているので、真円状の開口を設ける場合等と比較して大きな異物を吸引することができる。このように、本実施形態に係る吸引掃除ユニット70では、排気管62の内径よりも小さい楕円状の開口76aを設けることで、吸引力と吸引できる異物のサイズとを両立させている。   Moreover, since the opening 76a is formed in an elliptical shape, a larger foreign object can be sucked compared to the case where a perfect circular opening is provided. Thus, in the suction cleaning unit 70 according to the present embodiment, by providing the elliptical opening 76a smaller than the inner diameter of the exhaust pipe 62, both the suction force and the size of the foreign matter that can be sucked are made compatible.

図4は、吸引掃除ユニット70でカバー52の内部を清掃する様子を模式的に示す斜視図である。図4に示すように、X軸移動テーブル16やチャックテーブル20に堆積した粉塵等の異物78を吸引掃除ユニット70で吸引することにより、カバー52の内部を清掃できる。なお、この清掃の際には、スクレーパーやブラシ等を併用して、堆積している異物78を除去しても良い。   FIG. 4 is a perspective view schematically showing how the inside of the cover 52 is cleaned by the suction cleaning unit 70. As shown in FIG. 4, the inside of the cover 52 can be cleaned by sucking foreign matter 78 such as dust accumulated on the X-axis moving table 16 and the chuck table 20 with the suction cleaning unit 70. In this cleaning, the accumulated foreign matter 78 may be removed using a scraper, a brush, or the like.

以上のように、本実施形態に係る研磨装置2は、フレキシブルホース72と、フレキシブルホース72の一端に設けられ、カバー(カバー手段)52の内部から排気管(排気口)62に着脱可能に接続される接続部材(接続部)74と、フレキシブルホース72の他端に設けられた吸引部材(吸引部)76と、を有する吸引掃除ユニット70を備えるので、外部の掃除機等を用いることなくカバー52の内部を清掃できる。   As described above, the polishing apparatus 2 according to this embodiment is provided at one end of the flexible hose 72 and the flexible hose 72 and is detachably connected to the exhaust pipe (exhaust port) 62 from the inside of the cover (cover means) 52. Provided with a suction cleaning unit 70 having a connecting member (connecting portion) 74 to be connected and a suction member (suction portion) 76 provided at the other end of the flexible hose 72, so that a cover can be provided without using an external cleaner or the like. The inside of 52 can be cleaned.

また、本実施形態に係る研磨装置2では、吸引掃除ユニット70の吸引部材76に排気管62の内径より小さい開口76aを設けているので、開口76aの近傍で空気の流速を高めて強い吸引力を得ることができる。よって、カバー52の内部で堆積した粉塵等の異物78を強力に除去できる。このように、本実施形態によれば、清掃の作業性を高めた研磨装置2を提供できる。   Further, in the polishing apparatus 2 according to this embodiment, since the opening 76a smaller than the inner diameter of the exhaust pipe 62 is provided in the suction member 76 of the suction cleaning unit 70, the air flow velocity is increased in the vicinity of the opening 76a to increase the suction force. Can be obtained. Therefore, the foreign matter 78 such as dust accumulated inside the cover 52 can be strongly removed. Thus, according to the present embodiment, it is possible to provide the polishing apparatus 2 with improved cleaning workability.

なお、本発明は上記実施形態の記載に限定されず、種々変更して実施可能である。例えば、上記実施形態では、吸引掃除ユニット70を構成するフレキシブルホース72の他端に筒状の吸引部材(吸引部)76を固定しているが、この吸引部材の形状、構造等は、任意に変更できる。   In addition, this invention is not limited to description of the said embodiment, A various change can be implemented. For example, in the above embodiment, the cylindrical suction member (suction part) 76 is fixed to the other end of the flexible hose 72 constituting the suction cleaning unit 70, but the shape, structure, etc. of this suction member can be arbitrarily set. Can be changed.

図5は、変形例に係る吸引掃除ユニットの構成例を模式的に示す斜視図である。図5に示すように、変形例に係る吸引掃除ユニット80は、樹脂等の材料で形成されたフレキシブルホース82を有している。フレキシブルホース82の一端には、カバー52(本体54)の内部から排気管62に接続される接続部材(接続部)84が設けられている。   FIG. 5 is a perspective view schematically showing a configuration example of a suction cleaning unit according to a modification. As shown in FIG. 5, the suction cleaning unit 80 according to the modification has a flexible hose 82 formed of a material such as resin. One end of the flexible hose 82 is provided with a connecting member (connecting portion) 84 connected to the exhaust pipe 62 from the inside of the cover 52 (main body 54).

フレキシブルホース82の他端には、伸縮可能に構成された吸引部材(吸引部)86が固定されている。この伸縮部材86は、筒状の第1部材88と、第1部材88に挿入された筒状の第2部材90と、第2部材90に挿入された筒状の第3部材92とで構成されている。   At the other end of the flexible hose 82, a suction member (suction part) 86 configured to be extendable and retractable is fixed. The expandable member 86 includes a cylindrical first member 88, a cylindrical second member 90 inserted into the first member 88, and a cylindrical third member 92 inserted into the second member 90. Has been.

第1部材88の基端側には、フレキシブルホース82の他端が接続されている。一方、第3部材92の先端面には、排気管62の内径よりも小さい楕円状の開口92aが設けられている。この開口92aは、カバー52の内部に堆積した粉塵等の異物を吸引する吸引口として機能する。   The other end of the flexible hose 82 is connected to the proximal end side of the first member 88. On the other hand, an elliptical opening 92 a smaller than the inner diameter of the exhaust pipe 62 is provided on the tip surface of the third member 92. The opening 92 a functions as a suction port for sucking foreign matter such as dust accumulated in the cover 52.

変形例に係る吸引掃除ユニット80のように、伸縮可能に構成された吸引部材(吸引部)86を用いることで、オペレータの手が届きにくい部分に堆積した粉塵等の異物78を容易に除去できる。   By using a suction member (suction unit) 86 configured to be extendable and contractable like the suction cleaning unit 80 according to the modification, foreign matter 78 such as dust accumulated on a portion that is difficult for an operator to reach can be easily removed. .

また、スクレーパーやブラシ等の清掃用具を吸引部材として用いても良い。この場合、例えば、フレキシブルホースの他端に清掃用具の基端側を接続し、清掃用具の任意の部分(例えば、先端側)に吸引口として機能する開口を設ける。これにより、吸引部材(清掃用具)で清掃しながら粉塵等の異物78を吸引できる。また、スクレーパーやブラシ等の清掃用具を別に用いる必要がないので、清掃の作業性が更に高まる。   Further, a cleaning tool such as a scraper or a brush may be used as the suction member. In this case, for example, the proximal end side of the cleaning tool is connected to the other end of the flexible hose, and an opening that functions as a suction port is provided in an arbitrary portion (for example, the distal end side) of the cleaning tool. Thereby, foreign matter 78, such as dust, can be attracted | sucked, cleaning with a suction member (cleaning tool). Further, since it is not necessary to use a separate cleaning tool such as a scraper or a brush, the cleaning workability is further enhanced.

その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。   In addition, the structure, method, and the like according to the above-described embodiment can be appropriately modified and implemented without departing from the scope of the object of the present invention.

2 研磨装置
4 基台
4a,4b 開口
6 支持構造
8 搬送ユニット
10a,10b カセット
12 アライメント機構
14 搬入ユニット
16 X軸移動テーブル
18 防塵防滴カバー
20 チャックテーブル
22 Z軸移動ユニット
24 Z軸ガイドレール
26 Z軸移動プレート
28 Z軸ボールネジ
30 Z軸パルスモータ
32 研磨ユニット(研磨手段)
34 スピンドルハウジング
36 スピンドル
38 マウント
40 研磨パッド
42 搬出ユニット
44 洗浄ユニット
46 操作パネル
52 カバー(カバー手段)
54 本体
54a 開口
56 蓋
60 蝶番
62 排気管(排気口)
64 排気ダクト(吸引手段)
66 吸引源(吸引手段)
68 制御スイッチ
70 吸引掃除ユニット
72 フレキシブルホース
74 接続部材(接続部)
76 吸引部材(吸引部)
76a 開口
80 吸引掃除ユニット
82 フレキシブルホース
84 接続部材(接続部)
86 吸引部材(吸引部)
88 第1部材
90 第2部材
92 第3部材
92a 開口
11 被加工物
DESCRIPTION OF SYMBOLS 2 Polishing apparatus 4 Base 4a, 4b Opening 6 Support structure 8 Transport unit 10a, 10b Cassette 12 Alignment mechanism 14 Carry-in unit 16 X-axis moving table 18 Dust-proof drip-proof cover 20 Chuck table 22 Z-axis moving unit 24 Z-axis guide rail 26 Z-axis moving plate 28 Z-axis ball screw 30 Z-axis pulse motor 32 Polishing unit (polishing means)
34 Spindle housing 36 Spindle 38 Mount 40 Polishing pad 42 Unloading unit 44 Cleaning unit 46 Operation panel 52 Cover (cover means)
54 Body 54a Opening 56 Lid 60 Hinge 62 Exhaust pipe (exhaust port)
64 Exhaust duct (suction means)
66 Suction source (suction means)
68 Control switch 70 Suction cleaning unit 72 Flexible hose 74 Connection member (connection part)
76 Suction member (suction part)
76a Opening 80 Suction cleaning unit 82 Flexible hose 84 Connection member (connection part)
86 Suction member (suction part)
88 1st member 90 2nd member 92 3rd member 92a Opening 11 Workpiece

Claims (1)

被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を乾式研磨する研磨パッドを有する研磨手段と、を備える研磨装置であって、
該チャックテーブル及び該研磨手段を覆い、研磨加工で発生する粉塵の飛散を防ぐカバー手段と、
該カバー手段に設けられた排気口に該カバー手段の外部から接続する排気ダクト及び該排気ダクトを介して該排気口に接続する吸引源を有し、研磨加工中に該カバー手段の内部の粉塵を含む空気を吸引して該カバー手段の外部に排出する吸引手段と、
該吸引手段に対して着脱可能に接続され、研磨加工停止中に該カバー手段の内部で堆積した粉塵を除去する吸引掃除ユニットと、を備え、
該吸引掃除ユニットは、
フレキシブルホースと、
該フレキシブルホースの一端に設けられ、該カバー手段の内部から該排気口に着脱可能に接続される接続部と、
該フレキシブルホースの他端に設けられ、該排気口より小さい開口を有する吸引部と、を有することを特徴とする研磨装置。
A polishing apparatus comprising: a chuck table for holding a workpiece; and a polishing means having a polishing pad for dry polishing the workpiece held on the chuck table,
Cover means for covering the chuck table and the polishing means and preventing scattering of dust generated in the polishing process;
The exhaust port provided in the cover means has an exhaust duct connected from the outside of the cover means and a suction source connected to the exhaust port via the exhaust duct, and dust inside the cover means during polishing processing Suction means for sucking air containing air and discharging it to the outside of the cover means;
A suction cleaning unit that is detachably connected to the suction means and removes dust accumulated inside the cover means when the polishing process is stopped,
The suction cleaning unit comprises:
A flexible hose,
A connecting portion provided at one end of the flexible hose and detachably connected to the exhaust port from the inside of the cover means;
And a suction part provided at the other end of the flexible hose and having an opening smaller than the exhaust port.
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