JP2004001118A - Dust disposer and machine tool equipped with dust disposer - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、乾式研磨機等の加工機から発生せしめられた粉塵を処理するための粉塵処理装置および粉塵処理装置を備えた加工機に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリートと呼ばれる切断ラインによって多数の矩形領域を区画し、該矩形領域の各々に半導体回路を形成する。このように多数の半導体回路が形成された半導体ウエーハをストリートに沿って分離することにより、個々の半導体チップを形成する。半導体チップの小型化および軽量化を図るために、通常、半導体ウエーハをストリートに沿って切断して個々の矩形領域を分離するのに先立って、半導体ウエーハの裏面を研削して所定の厚さに形成している。半導体ウエーハの裏面の研削は、通常、ダイヤモンド砥粒をレジンボンドの如き適宜のボンドで固着して形成した研削工具を、高速回転せしめながら半導体ウエーハの裏面に押圧せしめることによって遂行されている。このような研削方式によって半導体ウエーハの裏面を研削すると、半導体ウエーハの裏面に所謂加工歪が生成され、これによって個々に分割された半導体チップの抗折強度が相当低減される。この研削された半導体ウエーハの裏面に生成される加工歪を除去する対策として、研削された半導体ウエーハの裏面を硝酸および弗化水素酸を含むエンチング液を使用して化学的エッチングするウエットエッチング法やエッチングガスを用いるドライエッチング法が使用されている。また、研削された半導体ウエーハの裏面を遊離砥粒を使用してポリッシングするポリッシング法も実用化されている。
【0003】
しかしながら、上述したウエットエッチング法、ドライエッチング法およびポリッシング法は、生産性が悪いとともに、廃液が環境汚染の原因となる。このような問題を解決するために本出願人は、フエルトに砥粒を分散させ適宜のボンド剤で固定したフエルト砥石からなる研磨工具を用いて、研削された半導体ウエーハの裏面を研磨し、研削歪みを取り除く技術を特願2001−93397として提案した。この研磨技術を用いた研磨機は、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を研磨するための研磨工具を備えた研磨手段とを具備しており、被加工物を乾式で研磨する。このように被加工物を乾式で研磨すると研磨粉が生成されるため、この研磨粉の飛散を防止するための対策が必要となる。そこで、研磨手段の研磨工具によって被加工物を研磨する研磨域を覆う防塵カバーを配設し、該防塵カバーに設けられた排出口を粉塵処理装置に接続させ、研磨によって防塵カバー内に飛散した研磨粉を粉塵処理装置で処理している。この研磨粉を処理する粉塵処理装置としては、サイクロン集塵装置によって粉塵とエアーとを分離し、分離されたエアーをフィルターによって濾過して排出するようにした構成が効果的である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
而して、サイクロン集塵装置によって集塵された粉塵を廃棄処理する際に、粉塵が舞い上がり加工機が配置されたクリーンルーム等の環境を汚染するとともに、粉塵爆発を起こす虞があるという問題がある。
【0005】
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、粉塵を処理する際に飛散させることなく、且つ安全に処理することができる粉塵処理装置および粉塵処理装置を装備した加工機を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、含塵エアー取り入れ口を上部に備えた外筒と該外筒内に配設され該外筒との間に分離室を形成する内筒とからなり、該含塵エアー取り入れ口から該分離室に流入された含塵エアーを旋回せしめて粉塵とエアーとに分離するサイクロン式分離手段と、
該サイクロン式分離手段の該外筒の内周面および該内筒の外周面に向けて水を噴射し該外筒の内周面および該内筒の外周面に付着した粉塵を洗い流すシャワー手段と、
該サイクロン式分離手段によって分離された粉塵および該噴霧手段に洗い流された粉塵とからなる廃液を収容する廃液収容手段と、
該廃液収容手段に収容された廃液を排出するドレン手段と、
該サイクロン式分離手段の該内筒内に配設され該サイクロン式分離手段によって粉塵と分離されたエアーを濾過するフィルター手段と、
該フィルター手段によって濾過されたエアーを排気する排気手段と、を具備している、
ことを特徴とする粉塵処理装置が提供される。
【0007】
また、本発明によれば、被加工物を保持し被加工物搬入・搬出域と研磨域との間を移動可能に構成されたチャックテーブルと、該研磨域に位置付けられた該チャックテーブルに保持された被加工物を乾式研磨するための研磨工具を備えた研磨手段と、該研磨域に位置付けられた該チャックテーブルおよび該研磨工具を覆う防塵カバーと、を具備する研磨機において、
該防塵カバーの排気ダクトと接続される含塵エアー取り入れ口を上部に備えた外筒と該外筒内に配設され該外筒との間に分離室を形成する内筒とからなり、該含塵エアー取り入れ口から該分離室に流入された含塵エアーを旋回せしめて粉塵とエアーとに分離するサイクロン式分離手段と、該サイクロン式分離手段の該外筒の内周面および該内筒の外周面に向けて水を噴射し該外筒の内周面および該内筒の外周面に付着した粉塵を洗い流すシャワー手段と、該サイクロン式分離手段によって分離された粉塵および該噴霧手段に洗い流された粉塵とからなる廃液を収容する廃液収容手段と、該廃液収容手段に収容された廃液を排出するドレン手段と、該サイクロン式分離手段の該内筒内に配設され該サイクロン式分離手段によって粉塵と分離されたエアーを濾過するフィルター手段と、該フィルター手段によって濾過されたエアーを排気する排気手段と、を具備する粉塵処理装置を装備した、
ことを特徴とする加工機が提供される。
本発明の他の特徴については、以下に述べる説明によって明らかにされる。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に従って構成された粉塵処理装置および粉塵処理装置を装備した加工機の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
【0009】
図1には本発明による粉塵処理装置を適用する加工機としての研磨機の斜視図が示されている。
研磨機は、全体を番号2で示す機体ハウジングを具備している。機体ハウジング2は、細長く延在する直方体形状の主部21と、該主部21の後端部(図1において右上端)に設けられ実質上鉛直に上方に延びる直立壁22とを有している。直立壁22の前面には、上下方向に延びる一対の案内レール221、221が設けられている。この一対の案内レール221、221に研磨手段としての研磨ユニット3が上下方向に移動可能に装着されている。
【0010】
研磨ユニット3は、移動基台31と該移動基台31に装着されたスピンドルユニット32を具備している。移動基台31は、後面両側に上下方向に延びる一対の脚部311、311が設けられており、この一対の脚部311、311に上記一対の案内レール221、221と摺動可能に係合する被案内溝312、312が形成されている。このように直立壁22に設けられた一対の案内レール221、221に摺動可能に装着された移動基台31の前面には前方に突出した支持部313が設けられている。この支持部313にスピンドルユニット32が取り付けられる。
【0011】
スピンドルユニット32は、支持部313に装着されたスピンドルハウジング321と、該スピンドルハウジング321に回転自在に配設された回転スピンドル322と、該回転スピンドル322を回転駆動するための駆動源としてのサーボモータ323とを具備している。回転スピンドル322の下端部はスピンドルハウジング321の下端を越えて下方に突出せしめられており、その下端には円板形状の工具装着部材324が設けられている。なお、工具装着部材324には、周方向に間隔をおいて複数のボルト挿通孔(図示していない)が形成されている。この工具装着部材324の下面に研磨工具325が装着される。研磨工具325は、図2および図3に図示する如く、円板形状の支持部材326と円板形状の研磨部材327とから構成されている。支持部材326には周方向に間隔をおいてその上面から下方に延びる複数の盲ねじ穴326aが形成されている。支持部材326の下面は円形支持面を構成しており、研磨部材327はエポキシ樹脂系接着剤の如き適宜の接着剤によって支持部材326の円形支持面に接合されている。研磨部材327は、図示の実施形態においてはフエルトに砥粒を分散させ適宜のボンド剤で固定したフエルト砥石が用いられている。このフエルト砥石からなる研磨部材327自体の構成についての詳細な説明は、本出願人が既に提案した特願2001−93397の明細書および図面に詳細に説明されているのでかかる記載に委ね、本明細書においては説明を省略する。上記回転スピンドル322の下端に固定されている工具装着部材324の下面に研磨工具325を位置付け、工具装着部材324に形成されている貫通孔を通して研磨工具325の支持部材326に形成されている盲ねじ孔326aに締結ボルト328を螺着することによって、工具装着部材324に研磨工具325が装着される。
【0012】
図1に戻って説明を続けると、図示の実施形態における研磨機は、上記研磨ユニット3を上記一対の案内レール221、221に沿って上下方向(後述するチャックテーブルの載置面と垂直な方向)に移動せしめる研磨ユニット送り機構4を備えている。この研磨ユニット送り機構4は、直立壁22の前側に配設され実質上鉛直に延びる雄ねじロッド41を具備している。この雄ねじロッド41は、その上端部および下端部が直立壁22に取り付けられた軸受部材42および43によって回転自在に支持されている。上側の軸受部材42には雄ねじロッド41を回転駆動するための駆動源としてのパルスモータ44が配設されており、このパルスモータ44の出力軸が雄ねじロッド41に伝動連結されている。移動基台31の後面にはその幅方向中央部から後方に突出する連結部(図示していない)も形成されており、この連結部には鉛直方向に延びる貫通雌ねじ穴が形成されており、この雌ねじ穴に上記雄ねじロッド41が螺合せしめられている。従って、パルスモータ44が正転すると移動基台31即ち研磨ユニット3が下降即ち前進せしめられ、パルスモータ44が逆転すると移動基台31即ち研磨ユニット3が上昇即ち後退せしめられる。
【0013】
図1および図4を参照して説明を続けると、ハウジング2の主部21の後半部上には略矩形状の没入部211が形成されており、この没入部211にはチャックテーブル機構5が配設されている。チャックテーブル機構5は、支持基台51とこの支持基台51に実質上鉛直に延びる回転中心軸線を中心として回転自在に配設された円板形状のチャックテーブル52とを含んでいる。支持基台51は、上記没入部211上に前後方向(直立壁22の前面に垂直な方向)である矢印23aおよび23bで示す方向に延在する一対の案内レール23、23上に摺動自在に載置されており、後述するチャックテーブル移動機構56によって図1に示す被加工物搬入・搬出域24(図4において実線で示す位置)と上記スピンドルユニット32を構成する研磨工具325の研磨部材327と対向する研磨域25(図4において2点鎖線で示す位置)との間で移動せしめられる。
【0014】
上記チャックテーブル52は、上面に被加工物を載置する載置面を有し、上記支持基台51に回転可能に支持されている。このチャックテーブル52は、その下面に装着された回転軸(図示せず)に連結されたサーボモータ53によって回転せしめられる。なお、チャックテーブル52は、多孔質セラミッックスの如き適宜の多孔性材料から構成されており、図示しない吸引手段に接続されている。従って、チャックテーブル52を図示しない吸引手段に選択的に連通することにより、載置面上に載置された被加工物を吸引保持する。なお、図示のチャックテーブル機構5は、チャックテーブル52を挿通する穴を有し上記支持基台51等を覆い支持基台51とともに移動可能に配設されたカバー部材54(図1参照)を備えている。
【0015】
図4を参照して説明を続けると、図示の実施形態における研磨機は、上記チャックテーブル機構5を一対の案内レール23に沿って矢印23aおよび23bで示す方向に移動せしめるチャックテーブル移動機構56を具備している。チャックテーブル移動機構56は、一対の案内レール23間に配設され案内レール23と平行に延びる雄ねじロッド561と、該雄ねじロッド561を回転駆動するサーボモータ562を具備している。雄ねじロッド561は、上記支持基台51に設けられたネジ穴511と螺合して、その先端部が一対の案内レール23、23を連結して取り付けられた軸受部材563によって回転自在に支持されている。サーボモータ562は、その駆動軸が雄ねじロッド561の基端と伝動連結されている。従って、サーボモータ562が正転すると支持基台53即ちチャックテーブル機構5が矢印23aで示す方向に移動し、サーボモータ562が逆転すると支持基台53即ちチャックテーブル機構5が矢印23bで示す方向に移動せしめられる。矢印23aおよび23bで示す方向に移動せしめられるチャックテーブル機構5は、図4において実線で示す被加工物搬入・搬出域と2点鎖線で示す研磨域に選択的に位置付けられる。また、チャックテーブル機構5は、研磨域においては所定範囲に渡って矢印23aおよび23bで示す方向に往復動せしめられる。
【0016】
図1に戻って説明を続けると、上記チャックテーブル機構5を構成する支持基台51の移動方向両側には、図1に示すように横断面形状が逆チャンネル形状であって、上記一対の案内レール23、23や雄ねじロッド561およびサーボモータ562等を覆っている蛇腹手段61および62が付設されている。蛇腹手段61および62はキャンパス布の如き適宜の材料から形成することができる。蛇腹手段61の前端は没入部211の前面壁に固定され、後端はチャックテーブル機構5のカバー部材54の前端面に固定されている。蛇腹手段62の前端はチャックテーブル機構5のカバー部材54の後端面に固定され、後端は装置ハウジング2の直立壁22の前面に固定されている。チャックテーブル機構5が矢印23aで示す方向に移動せしめられる際には蛇腹手段61が伸張されて蛇腹手段62が収縮され、チャックテーブル機構5が矢印23bで示す方向に移動せしめられる際には蛇腹手段61が収縮されて蛇腹手段62が伸張せしめられる。
【0017】
図示の実施形態における研磨機は、研磨域52に位置せしめられているチャックテーブル機構5とともに、チャックテーブル52上に保持された被加工物に押圧せしめらている研磨工具325を囲繞する防塵カバー7を具備している。この防塵カバー7は全体として箱形状であり、上壁71、前壁72および両側壁73、73を有する。防塵カバー7の両側壁73、73は上下方向中間に下方を向いた肩面73a、73aを有し、両側壁73、73の下半部は上記没入部211の両側面に密接せしめられ、肩面73a、73aがハウジング2の主部21の両側縁部の上面に載置せしめられる。防塵カバー7の前壁72にはチャックテーブル機構5の通過を許容するための矩形開口72aが形成されている。防塵カバー7の上壁71には、研磨工具325の通過を許容するための円形開口71aが形成されている。また、防塵カバー7の上壁71には、円形開口71aの周縁から上方に延びる円筒部材74が設けられている。防塵カバー7の上壁71の一部には、開閉自在な保守点検用の扉75が配設されている。更に、防塵カバー7の上壁71には、防塵カバー7内を排気するための排気ダクト76が付設されている。排気ダクト76は後述する粉塵処理装置に接続される。
【0018】
図1に基づいて説明を続けると、機体ハウジング2の主部21における前半部上には、第1のカセット11と、第2のカセット12と、被加工物仮載置手段13と、洗浄手段14と、被加工物搬送手段15と、被加工物搬入手段16および被加工物搬出手段17が配設されている。第1のカセット11は研磨加工前の被加工物を収納し、装置ハウジング2の主部21におけるカセット搬入域に載置される。第2のカセット12は装置ハウジング2の主部21におけるカセット搬出域に載置され、研磨加工後の被加工物を収納する。被加工物仮載置手段13は第1のカセット11と被加工物搬入・搬出域24との間に配設され、研磨加工前の被加工物を仮載置する。洗浄手段14は被加工物搬入・搬出域24と第2のカセット12との間に配設され、研磨加工後の被加工物を洗浄する。被加工物搬送手段15第1のカセット11と第2のカセット12との間に配設され、第1のカセット11内に収納された被加工物を被加工物仮載置手段13に搬出するとともに洗浄手段14で洗浄された被加工物を第2のカセット12に搬送する。被加工物搬入手段16は被加工物仮載置手段13と被加工物搬入・搬出域24との間に配設され、被加工物仮載置手段13上に載置された研磨加工前の被加工物を被加工物搬入・搬出域24に位置付けられたチャックテーブル機構5のチャックテーブル52上に搬送する。被加工物搬出手段17は被加工物搬入・搬出域24と洗浄手段14との間に配設され、被加工物搬入・搬出域24に位置付けられたチャックテーブル52上に載置されている研磨加工後の被加工物を洗浄手段14に搬送する。また、図示の実施形態における研磨装置は、装置ハウジング2の主部21における中央部に上記チャックテーブル52を洗浄する洗浄水噴射ノズル18を備えている。この洗浄水噴射ノズル18は、チャックテーブル機構5が被加工物搬入・搬出域24に位置付けられた状態において、チャックテーブル52に向けて洗浄水を噴出する。
【0019】
上記第1のカセット11に収容される被加工物は、環状のフレームに保護テープを介して表面側が装着された半導体ウエーハ(従って、半導体ウエーハは裏面が上側に位置する)、或いは支持基板(サブストレート)上に表面側が装着された半導体ウエーハ(従って、半導体ウエーハは裏面が上側に位置する)でよい。このような被加工物である半導体ウエーハを収容した第1のカセット11は、装置ハウジング2の主部21における所定のカセット搬入域に載置される。そして、カセット搬入域に載置された第1のカセット11に収容されていた研磨加工前の半導体ウエーハが全て搬出されると、空のカセット11に代えて複数個の半導体ウエーハを収容した新しいカセット11が手動でカセット搬入域に載置される。一方、装置ハウジング2の主部21における所定のカセット搬出域に載置された第2のカセット12に所定数の研磨加工後の半導体ウエーハが搬入されると、かかる第2のカセット12が手動で搬出され、新しい空の第2のカセット12が載置される。
【0020】
次に、上述した研磨機の加工処理動作について、図1を参照して簡単に説明する。
第1のカセット11に収容された研磨加工前の被加工物としての半導体ウエーハは被加工物搬送手段15の上下動作および進退動作により搬送され、被加工物仮載置手段13に載置される。被加工物仮載置手段13に載置された半導体ウエーハは、ここで中心合わせが行われた後に被加工物搬入手段16の旋回動作によって被加工物搬入・搬出域24に位置せしめられているチャックテーブル機構5のチャックテーブル52上に載置される。チャックテーブル52上に載置された半導体ウエーハは、図示しない吸引手段によってチャックテーブル52上に吸引保持される。
【0021】
チャックテーブル52上に半導体ウエーハを吸引保持したならば、上記チャックテーブル移動機構56のサーボモータ562が正転駆動されチャックテーブル機構5が矢印23aで示す方向に移動され研磨域25の研磨開始位置に位置付けられる。研磨域25の研磨開始位置おいては、上記サーボモータ53を駆動して半導体ウエーハを保持したチャックテーブル52を回転し、上記サーボモータ323を駆動して研磨工具325を回転するとともに、上記研磨ユニット送り機構4のパルスモータ44を正転駆動して研磨ユニット3を下降即ち前進せしめ、研磨工具325の研磨部材327をチャックテーブル52上の半導体ウエーハの裏面を所定の荷重で押圧する。次に、上記チャックテーブル移動機構56のサーボモータ562を正転駆動してチャックテーブル機構5を矢印23aで示す方向に研磨工具325の研磨部材327がチャックテーブル62に保持された半導体ウエーハの中心位置を僅かに越えた研磨終了位置迄移動する。そして、チャックテーブル52が研磨終了位置迄移動したら、サーボモータ562を逆転駆動してチャックテーブル機構5を矢印23bで示す方向に移動して研磨開始位置に戻し、上記研磨動作を繰り返し実行する。この研磨動作を予め設定された時間、またはチャックテーブル機構5の往復動を設定された回数実行することにより、研磨部材327の作用によって半導体ウエーハの裏面が所定量乾式研磨され、残留加工歪が除去される。なお、上述した乾式研磨作用によって研磨粉が生成され防塵カバー7内に飛散するが、この研磨粉は排気ダクト76を通して後述する粉塵処理装置に排出される。
【0022】
上述したようにして研磨が終了すると、研磨工具325が半導体ウエーハの裏面から上方に離隔され、チャックテーブル機構5が矢印23bで示す方向に被加工物搬入・搬出域24まで移動せしめられる。しかる後に、チャックテーブル52上の研磨加工された半導体ウエーハの吸引保持が解除され、吸引保持が解除された半導体ウエーハは被加工物搬出手段17により搬出されて洗浄手段14に搬送される。洗浄手段14に搬送された半導体ウエーハは、ここで洗浄された後に被加工物搬送手段15よって第2のカセット12の所定位置に収納される。
【0023】
次に、上述した乾式研磨作用によって生成された研磨粉を処理する粉塵処理装置について、図5乃至図13を参照して説明する。
図示の実施形態における粉塵処理装置8は、上述した研磨機の機体ハウジング2の側方に配置される。粉塵処理装置8は、図5および図6に示すように直方体形状の装置ハウジング81を具備しており、この装置ハウジング81の下面には移動を容易にするためのキャスター82が装着されており、ユニットとして移動可能に構成されている。装置ハウジング81の上壁811には、含塵エアーを取り入れ粉塵とエアーとに分離するサイクロン式分離手段83が配設されている。サイクロン式分離手段83は、図6に示すようにステンレス鋼等の金属材によって形成された外筒831と該外筒831内に配設された内筒832とからなっており、該両筒間に分離室830が形成される。なお、外筒831と内筒832の上端には閉塞板833が取り付けられている。外筒831の上部には含塵エアー取り入れ口831aが形成されており、この含塵エアー取り入れ口831aに取り入れ管834が装着されている。なお、取り入れ管834は図7に示すように分離室830に対して接線方向に向けて取り付けられている。この取り入れ管834に上述した研磨機の防塵カバー7に装着された排気ダクト76が接続される。外筒831の下端には下方に向かって径が減少された漏斗状の廃液受部831bが設けられており、この廃液受部831bの中心部には落下口831cが設けられている。このように構成されたサイクロン式分離手段83は、排気ダクト76および取り入れ管834を通して含塵エアー取り入れ口831aから流入した含塵エアーを分離室830で旋回せしめ、旋回による遠心力の作用で粉塵とエアーとを分離し、粉塵が廃液受部831bに落下し、エアーが内筒832に流入する。
【0024】
上述したようにサイクロン式分離手段83の分離室830で遠心力の作用によって分離された粉塵は、分離室830を形成する外筒831の内周面および内筒832の外周面特に外筒831の内周面に付着する。この外筒831の内周面および内筒832の外周面に付着した粉塵を洗い流すために図示の実施形態においては、外周筒831の内周面および内筒832の外周面に水を噴射するシャワー手段84を備えている。このシャワー手段84は、サイクロン式分離手段83の分離室830の上端部に配設され外筒831の内周面および内筒832の外周面に向けて斜め下方に水を噴射する噴口を備えた環状のノズル841を具備している。環状のノズル841には図8に示すように180度の位相差をもって2個の水流入パイプ842、842が取り付けられており、この2個の水供給パイプ842、842は外筒831を径方向に貫通して配設されている。パイプ842、842には図5に示すようにそれぞれホース843(図5には一方のみが示されている)が接続されており、このホース843が図示しない水供給手段に接続されている。従って、図示しない水供給手段によって供給された水は、ホース843およびパイプ842を介して環状のノズル841に流入し、噴口から外筒831の内面および内筒832に向けて噴射される。この結果、外筒831の内面および内筒832に付着した粉塵はノズル841から噴射された水によって洗い流され、廃液となって廃液受部831bの落下口831cから後述する廃液収容手段に排出される。
【0025】
上記遠心分離手段83の下方には、図6に示すようにサイクロン式分離手段83によって分離され廃液受部831bの落下口831cから排出される粉塵および廃液を収容する廃液収容手段85が配設されている。廃液収容手段85は、上端部が上記サイクロン式分離手段83の廃液受部831bの落下口831c部に接続された落下導管851と、該落下導管851を通して排出された廃液を収容する廃液槽852とからなっている、この廃液槽852は透明な合成樹脂によって形成されている、その底面から所定量上方の位置に排出口852aが設けられている。この排出口852a部にドレンパイプ852bが一体に形成されている。ドレンパイプ852bにはドレン手段としてのドレンホース853が接続されており、このドレンホース853は図5に示すように装置ハウジング81の外に導かれ図示しない廃液処理装置に達している。このように、図示の粉塵処理装置8においては、サイクロン式分離手段83によって分離された粉塵は上記シャワー手段84によって噴射された水と混合され廃液となって廃液槽852に収容されドレン手段によって図示しない廃液処理装置に排出されるので、粉塵が飛散することがないとともに、粉塵爆発の虞がなく安全に処理することができる。
【0026】
ここで、上記廃液槽852に設けられた排出口852aと上記落下導管851との関係について説明する。即ち、落下導管851の下端は排出口852aより下方に位置して開口されている。従って、廃液槽852内に収容される廃液の液面は少なくとも排出口852aの位置にあるため、落下導管851の下端は常に廃液の液面より下側即ち廃液中に漬侵している状態となる。この結果、排出口852a側から落下導管851を通してエアーが逆流することが防止される。このように、上記落下導管851の下端を廃液槽852に設けられた排出口852aの位置より下方に位置付けた構成は、落下導管851を通してエアーが逆流すること防止する逆流防止手段として機能する。なお、図示の実施形態における廃液槽852は透明な合成樹脂によって形成されているので、廃液槽852内の廃液の状態を外側から目視することができる。このように廃液槽852が透明な合成樹脂によって形成されているのに関連して、装置ハウジング81の側壁812には廃液槽852と対向する位置に覗き窓813が設けられている。従って、装置ハウジング81の外側から覗き窓813を通して廃液槽852内の廃液の状態を確認することができる。
【0027】
図示の実施形態における粉塵処理装置8は、図6および図9に示すように上記サイクロン式分離手段83を構成する内筒832内に配設されサイクロン式分離手段83によって粉塵と分離されたエアーを濾過するためのフィルター手段86を備えている。図示のフィルター手段86は円筒状の3個のフィルター861を備えており、この円筒状の3個のフィルター861は下端面が封鎖されている。各フィルター861は、内筒832の上端に取り付けられた上記閉塞板833に設けられた取付け穴833a(図6参照)を挿通して配設され、上端に設けられた取付けフランジ861aが閉塞板833にビス等の固定手段によって取付けられる。従って、内筒832の下端から流入されたエアーは、フィルター861の外周から中心穴861bに至る間に微細な粉塵が濾過され、清浄なエアーとなって中心穴861bの上端から流出する。
【0028】
上記サイクロン式分離手段83の上端には、図6に示すように上記3個のフィルター861を通った清浄なエアーが流出する室870を備えた蓋87が開閉可能に装着されている。この蓋87はステンレス鋼等の金属材によって形成され、その側壁には排気口871が設けられており、この排気口871に排気管872が装着されている。排気管872には排気ダクト875が接続され、この排気ダクト875に装置ハウジング81内に配設された強制排気手段としてのエアーポンプ876の吸入側が接続されている。エアーポンプ876の吐出側には排気ダクト877が接続されており、この排気ダクト877によって上述したように清浄化されたエアーは装置ハウジング81の外に排気される。従って、蓋87に形成された室870、排気ダクト875、エアーポンプ876および排気ダクト877は、フィルター手段86によって濾過されたエアーを排気する排気手段として機能する。
【0029】
図示の実施形態における粉塵処理装置8は、図5、図6および図9に示すように上記3個のフィルター861によって捕集された微細な粉塵を除去するためのフィルター再生手段88を具備している。フィルター再生手段88は、蓋87の上壁の内側に配設されそれぞれ3個のフィルター861の中心穴861bに向けて高圧エアーを噴射する3個の噴射ノズル881と、該3個の噴射ノズル881に供給する高圧エアーを貯蔵するエアータンク882と、該エアータンク882と噴射ノズル881とを接続するエアーホース883と、該エアーホース883から噴射ノズル881に供給するエアーをそれぞれ制御する3個の制御バルブ884と、該3個の制御バルブ884をそれぞれ作動せしめるための制御エアーを供給する3個のエアーパイプ885とを具備している。このように構成されたフィルター再生手段88は、図示しない制御エアー供給手段によってエアーパイプ885を介して制御バルブ884に制御エアーを作用せしめると、制御バルブ884が開路せしめられてエアータンク882内の高圧エアーがエアーホース883および制御バルブ884を通り噴射ノズル881からフィルター861の中心穴861bに向けて噴射される。この結果、フィルター861の中心穴861b側から外周に向けて濾過時とは逆に高圧エアーが流れるため、フィルター861によって捕集された微細な粉塵が外周から吹き飛ばされ、フィルター861が洗浄される。なお、このフィルター再生手段88は、所定時間稼働した時点で定期的に作動すればよく、また、粉塵処理装置8の作動中に定期的に3個の制御バルブ884を順次作動して、3個のフィルター861を1本づつ順次洗浄することが効果的である。
【0030】
次に、上記サイクロン式分離手段83の上端に蓋87を開閉可能に装着する取付け機構について、図5および図10乃至図13を参照して説明する。
図示の取付け機構は、図5に示すように一対のヒンジ機構89、89からなっている。この一対のヒンジ機構89、89は実質的に同一の構成であるため、以下一方のみについて図10乃至図13に基づいて説明する。ヒンジ機構89は、サイクロン式分離手段83を構成する外筒831の上部外周面に一端が溶接によって取り付けられた第1のヒンジ部材891と、蓋87の外周面に一端が溶接によって取り付けられたL字状の第2のヒンジ部材892と、第1のヒンジ部材891の他端部と第2のヒンジ部材892の他端部を互いに回動可能に連結する支持軸893とからなっている。従って、蓋87のヒンジ機構89と反対側の外周面に取り付けられた把手877を把持して持ち上げ上げることにより、蓋87は支持軸893を中心に回動して開けることができる。このようにして蓋87を開けることにより、上記フィルター861の交換が可能となる。
【0031】
上記のようにして蓋87を開けた後、蓋87を閉める際に蓋87が非常に重いため操作を誤って蓋87と外筒831との間に指を挟む危険性がある。そこで、図示のヒンジ機構89の一方には、蓋87が閉止する前に図12および図13に示す位置で蓋87の閉止方向の作動を停止させるストッパー手段895が配設されている。ストッパー手段895は、第2のヒンジ部材892に取り付けられたブラケット896と、該ブラケット896に上記支持軸893と直行する方向に配設された支持ピン897によって上端部が支持されたストッパーレバー898とからなっている。ストッパーレバー898の下端部には直角に延びる係止部898aが設けられており、中間部には把手898bが取り付けられている。このように構成されたストッパーレバー898は、その上端部が支持ピン897によって回動可能に支持されているため、蓋87を開位置から閉位置に回動していくと自重によってその下端即ち係止部898aが上記第1のヒンジ部材891の上側に位置するように構成されている。なお、必要に応じてストッパーレバー898を支持ピン897を中心として図11および図13において反時計方向に付勢するバネ手段を設けてもよい。従って、蓋87を開位置から閉位置に向けて所定の角度まで回動すると、図12および図13に示すようにストッパーレバー898の係止部898aが第1のヒンジ部材891の上面に当接して蓋87の回動が規制される。このため、蓋87を開位置から閉位置に向けて勢い良く回動することにより誤って蓋87と外筒831との間に指を挟む危険性を未然に防止することができる。このようにして蓋87を所定の角度位置で一端停止したら、蓋87をその状態で保持しつつ把手898bを持ってストッパーレバー898を押して支持ピン897に図13において時計方向に回動し、係止部898aと第1のヒンジ部材891との係合を解除する。そして、蓋87を閉位置に向けて回動することにより、図10および図11に示すように閉位置に位置付けることができる。
【0032】
次に、粉塵処理装置の他の実施形態について、図14を参照して説明する。なお、図14に示す粉塵処理装置9においては、上記粉塵処理装置8の構成部材と同一部材には同一符号を付してその説明は省略する。
図14に示す粉塵処理装置9は、サイクロン式分離手段93を構成する外筒931が下方に延長して形成されその底部に廃液収容手段としての廃液槽94を構成している。この廃液槽94には、その底面から所定量上方の位置に排出口941が設けられている。この排出口941にはドレン手段としてのドレンパイプ942が挿通されている。なお、ドレンパイプ942の入口側端部は、廃液槽94内において底部に近接して開口している。廃液槽94内に収容される廃液の液面は少なくとも排出口941の位置にあるため、ドレンパイプ942の入口側端部は常に廃液の液面より下方即ち廃液中に漬侵している状態となる。この結果、排出口941側から内筒932を通してエアーが逆流することが防止される。また、サイクロン式分離手段93を構成する内筒932も下方に延長して形成され、その下端は排出口941より下方に位置して開口されている。従って、廃液槽94内に収容される廃液の液面は少なくとも排出口941の位置にあるため、内筒932の下端は常に廃液の液面より下側即ち廃液中に漬侵している状態となる。この結果、排出口941側から内筒932を通してエアーが逆流することが防止されるとともに、確実に粉塵が廃液に混入する。以上のように構成された粉塵処理装置9においては、粉塵取り入れ管934を通して粉塵取り入れ口931aから流入した粉塵とエアーを分離室930で旋回せしめ、旋回による遠心力の作用で粉塵とエアーとを分離し、シャワー手段84から噴射される水によって粉塵が廃液槽94に落下し、エアーが廃液槽94内の廃液の液面を押し退けて内筒932に流入する。なお、その後の廃液およびエアーの排出は上述した粉塵処理装置8と同様である。
【0033】
【発明の効果】
本発明による粉塵処理装置は以上のように構成されているので、サイクロン式分離手段によって分離された粉塵はシャワー手段によって噴射された水と混合され廃液となって廃液収容手段に収容されドレン手段によって排出されるため、粉塵排出作業を行う必要がない。従って、粉塵の廃棄処理時に粉塵が舞い上がり環境を汚染するという問題が解消解消されるとともに、粉塵爆発の虞がなく安全に処理することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による粉塵処理装置を装備する加工機としての研磨機の一実施形態を示す斜視図。
【図2】図1に示す研磨機に装備される研磨ユニットを構成する研磨工具を示す斜視図。
【図3】図2に示す研磨工具その下面側から見た状態を示す斜視図。
【図4】図1に示す研磨機に装備されるチャックテーブル機構およびチャックテーブル移動機構を示す斜視図。
【図5】本発明による粉塵処理装置の一実施形態を示す斜視図。
【図6】図5に示す粉塵処理装置の断面図。
【図7】図6におけるA−A断面図。
【図8】図5に示す粉塵処理装置を構成するシャワー手段のノズルを示す斜視図。
【図9】図5に示す粉塵処理装置を構成するサイクロン式分離手段に装着される蓋を開けた状態を示す斜視図。
【図10】図5に示す粉塵処理装置を構成するサイクロン式分離手段に蓋を開閉可能に装着するヒンジ機構の要部側面図
【図11】図10に示すヒンジ機構の要部正面図。
【図12】図10に示すヒンジ機構の作動状態を示す側面図、
【図13】図10に示すヒンジ機構の作動状態を示す正面図、
【図14】本発明による粉塵処理装置の他の実施形態を示す斜視図。
【符号の説明】
2:装置ハウジング
3:研磨ユニット
32:スピンドルユニット
4:研磨ユニット送り機構
5:チャックテーブル機構
61、62:蛇腹手段
7:防塵カバー
8:粉塵処理装置
81:装置ハウジング
82:キャスター
83:サイクロン式分離手段
831:サイクロン式分離手段の外筒
832:サイクロン式分離手段の内筒
84:シャワー手段
841:ノズル
85:廃液収容手段
851:落下導管
852:廃液槽
853:ドレンホース
86:フィルター手段
861:フィルター
87:蓋
872:排気管
875:排気ダクト
876:エアーポンプ
877:排気ダクト
88:フィルター再生手段
881:噴射ノズル
882:エアータンク
884:制御バルブ
89:ヒンジ機構
9:粉塵処理装置
93:サイクロン式分離手段
931:サイクロン式分離手段の外筒
932:サイクロン式分離手段の内筒
94:廃液槽
942:ドレンパイプ
11:第1のカセット
12:第2のカセット
13:被加工物仮載置手段
14:洗浄手段
15:被加工物搬送手段
16:被加工物搬入手段
17:被加工物搬出手段
18:洗浄水噴射ノズル[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a dust processing device for processing dust generated from a processing machine such as a dry polishing machine, and a processing machine provided with the dust processing device.
[0002]
[Prior art]
In a semiconductor device manufacturing process, a large number of rectangular regions are partitioned by cutting lines called streets arranged in a grid on the surface of a substantially disk-shaped semiconductor wafer, and a semiconductor circuit is formed in each of the rectangular regions. By separating the semiconductor wafer on which a large number of semiconductor circuits are formed along the streets, individual semiconductor chips are formed. In order to reduce the size and weight of the semiconductor chip, the semiconductor wafer is usually ground to a predetermined thickness by cutting the semiconductor wafer along streets to separate individual rectangular regions. Has formed. The grinding of the back surface of the semiconductor wafer is usually performed by pressing a grinding tool formed by fixing diamond abrasive grains with an appropriate bond such as a resin bond against the back surface of the semiconductor wafer while rotating at a high speed. When the back surface of the semiconductor wafer is ground by such a grinding method, a so-called processing strain is generated on the back surface of the semiconductor wafer, thereby considerably reducing the bending strength of the individually divided semiconductor chips. As a measure for removing processing strain generated on the back surface of the ground semiconductor wafer, a wet etching method of chemically etching the back surface of the ground semiconductor wafer using an etching solution containing nitric acid and hydrofluoric acid, A dry etching method using an etching gas is used. In addition, a polishing method for polishing the back surface of a polished semiconductor wafer using free abrasive grains has also been put to practical use.
[0003]
However, the above-described wet etching method, dry etching method, and polishing method have low productivity, and the waste liquid causes environmental pollution. In order to solve such a problem, the present applicant has polished the back surface of the ground semiconductor wafer using a polishing tool made of a felt whetstone in which abrasive grains are dispersed in a felt and fixed with an appropriate bonding agent. A technique for removing distortion has been proposed as Japanese Patent Application No. 2001-93397. A polishing machine using this polishing technique includes a chuck table for holding a workpiece, and polishing means provided with a polishing tool for polishing the workpiece held on the chuck table. The workpiece is polished dry. As described above, when the workpiece is polished in a dry manner, polishing powder is generated. Therefore, a measure for preventing the scattering of the polishing powder is required. Therefore, a dustproof cover that covers the polishing area for polishing the workpiece by the polishing tool of the polishing means is provided, and the discharge port provided in the dustproof cover is connected to the dust treatment device, and the dustproof cover is scattered into the dustproof cover by polishing. Abrasive powder is processed by a dust treatment device. As a dust treatment device for treating the abrasive powder, a configuration in which dust and air are separated by a cyclone dust collector, and the separated air is filtered and discharged by a filter is effective.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
Thus, when the dust collected by the cyclone dust collecting device is disposed of, there is a problem that the dust soars and contaminates an environment such as a clean room in which the processing machine is disposed, and may cause a dust explosion. .
[0005]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned facts, and a main technical problem thereof is to prevent dust from being scattered when processing dust, and to provide a dust processing device capable of safely processing the dust and a process equipped with the dust processing device. The machine.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the main technical problem, according to the present invention, an outer cylinder provided with a dust-containing air intake port at an upper portion and an inner cylinder disposed in the outer cylinder and forming a separation chamber between the outer cylinder and the outer cylinder Cyclone-type separation means for turning the dust-containing air flowing into the separation chamber from the dust-containing air intake port to separate the dust and air into dust and air,
Shower means for injecting water toward the inner peripheral surface of the outer cylinder and the outer peripheral surface of the inner cylinder of the cyclone-type separation means to wash away dust adhering to the inner peripheral surface of the outer cylinder and the outer peripheral surface of the inner cylinder; ,
Waste liquid storage means for storing a waste liquid composed of dust separated by the cyclone-type separation means and dust washed away by the spray means;
Drain means for discharging waste liquid stored in the waste liquid storage means,
Filter means disposed in the inner cylinder of the cyclone-type separation means and filtering air separated from dust by the cyclone-type separation means;
Exhaust means for exhausting the air filtered by the filter means,
A dust treatment device is provided.
[0007]
Further, according to the present invention, a chuck table configured to hold a workpiece and to be movable between a workpiece loading / unloading area and a polishing area, and to be held by the chuck table positioned in the polishing area. A polishing means having a polishing tool for dry-polishing the processed workpiece, and a dustproof cover covering the chuck table and the polishing tool positioned in the polishing area, a polishing machine comprising:
An outer cylinder having a dust-containing air intake port connected to an exhaust duct of the dust-proof cover at an upper portion thereof; and an inner cylinder disposed in the outer cylinder and forming a separation chamber between the outer cylinder and the outer cylinder. A cyclone-type separating means for rotating dust-containing air flowing into the separation chamber from the dust-containing air inlet to separate the dust and air, an inner peripheral surface of the outer cylinder and the inner cylinder of the cyclone-type separating means Shower means for injecting water toward the outer peripheral surface of the outer cylinder to wash out dust adhering to the inner peripheral surface of the outer cylinder and the outer peripheral surface of the inner cylinder; and washing the dust separated by the cyclone-type separation means and the spraying means. Waste liquid storage means for storing waste liquid composed of collected dust, drain means for discharging waste liquid stored in the waste liquid storage means, and the cyclone separation means disposed in the inner cylinder of the cyclone separation means Separated from dust by A filter means for filtering the air, equipped with dust processing apparatus comprising, an exhaust means for exhausting the filtered air by the filter means,
A processing machine characterized by the above is provided.
Other features of the present invention will become apparent from the following description.
[0008]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments of a dust processing apparatus and a processing machine equipped with the dust processing apparatus configured according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[0009]
FIG. 1 is a perspective view of a polishing machine as a processing machine to which the dust treatment apparatus according to the present invention is applied.
The polisher includes a machine housing, generally designated by the
[0010]
The polishing unit 3 includes a moving
[0011]
The
[0012]
Returning to FIG. 1, the polishing machine in the illustrated embodiment moves the polishing unit 3 vertically along the pair of
[0013]
1 and 4, a substantially
[0014]
The chuck table 52 has a mounting surface on which a workpiece is mounted on an upper surface, and is rotatably supported by the
[0015]
4, the polishing machine according to the illustrated embodiment includes a chuck
[0016]
Returning to FIG. 1, the description will be continued. On both sides of the
[0017]
The polishing machine in the illustrated embodiment includes a
[0018]
Continuing the description with reference to FIG. 1, a
[0019]
The workpiece accommodated in the
[0020]
Next, the processing operation of the above-described polishing machine will be briefly described with reference to FIG.
The semiconductor wafer as a workpiece before polishing stored in the
[0021]
When the semiconductor wafer is sucked and held on the chuck table 52, the
[0022]
When the polishing is completed as described above, the
[0023]
Next, a dust processing apparatus for processing abrasive powder generated by the above-described dry polishing operation will be described with reference to FIGS.
The
[0024]
As described above, the dust separated by the action of the centrifugal force in the
[0025]
Below the centrifugal separating means 83, a waste liquid storing means 85 for storing dust and waste liquid separated by the cyclone type separating means 83 and discharged from the dropping
[0026]
Here, the relationship between the
[0027]
The
[0028]
As shown in FIG. 6, a
[0029]
The
[0030]
Next, a description will be given of an attachment mechanism for attaching the
The illustrated attachment mechanism comprises a pair of
[0031]
After the
[0032]
Next, another embodiment of the dust treatment apparatus will be described with reference to FIG. In the dust treatment device 9 shown in FIG. 14, the same members as those of the
In the dust treatment apparatus 9 shown in FIG. 14, an
[0033]
【The invention's effect】
Since the dust treatment apparatus according to the present invention is configured as described above, the dust separated by the cyclone-type separation means is mixed with water jetted by the shower means to become a waste liquid, is stored in the waste liquid storage means, and is discharged by the drain means. Since it is discharged, there is no need to perform dust discharge work. Therefore, the problem of dust soaring during the dust disposal process and contaminating the environment can be eliminated, and the dust can be safely treated without fear of explosion.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a polishing machine as a processing machine equipped with a dust treatment device according to the present invention.
FIG. 2 is a perspective view showing a polishing tool constituting a polishing unit provided in the polishing machine shown in FIG. 1;
FIG. 3 is a perspective view showing a state of the polishing tool shown in FIG. 2 viewed from a lower surface side;
FIG. 4 is a perspective view showing a chuck table mechanism and a chuck table moving mechanism provided in the polishing machine shown in FIG. 1;
FIG. 5 is a perspective view showing one embodiment of a dust treatment apparatus according to the present invention.
FIG. 6 is a sectional view of the dust treatment apparatus shown in FIG.
FIG. 7 is a sectional view taken along the line AA in FIG. 6;
FIG. 8 is a perspective view showing a nozzle of a shower unit included in the dust processing apparatus shown in FIG.
FIG. 9 is a perspective view showing a state in which a lid attached to a cyclone-type separation unit constituting the dust treatment apparatus shown in FIG. 5 is opened.
FIG. 10 is a side view of a main part of a hinge mechanism for opening and closing a lid on a cyclone-type separating means constituting the dust treatment apparatus shown in FIG. 5;
11 is a front view of a main part of the hinge mechanism shown in FIG. 10;
FIG. 12 is a side view showing an operation state of the hinge mechanism shown in FIG. 10;
FIG. 13 is a front view showing an operation state of the hinge mechanism shown in FIG. 10;
FIG. 14 is a perspective view showing another embodiment of the dust treatment apparatus according to the present invention.
[Explanation of symbols]
2: Device housing
3: Polishing unit
32: Spindle unit
4: Polishing unit feed mechanism
5: Chuck table mechanism
61, 62: bellows means
7: dust cover
8: Dust treatment device
81: Device housing
82: Caster
83: cyclone type separation means
831: outer cylinder of cyclone type separation means
832: inner cylinder of cyclone type separation means
84: shower means
841: Nozzle
85: Waste liquid storage means
851: Falling conduit
852: Waste liquid tank
853: Drain hose
86: Filter means
861: Filter
87: Lid
872: Exhaust pipe
875: Exhaust duct
876: Air pump
877: Exhaust duct
88: Filter regeneration means
881: Injection nozzle
882: Air tank
884: Control valve
89: Hinge mechanism
9: Dust treatment device
93: cyclone type separation means
931: outer cylinder of cyclone type separation means
932: Inner cylinder of cyclone type separation means
94: waste liquid tank
942: Drain pipe
11: first cassette
12: second cassette
13: Workpiece temporary placement means
14: Cleaning means
15: Workpiece transfer means
16: Workpiece loading means
17: Workpiece unloading means
18: Cleaning water injection nozzle
Claims (10)
該サイクロン式分離手段の該外筒の内周面および該内筒の外周面に向けて水を噴射し該外筒の内周面および該内筒の外周面に付着した粉塵を洗い流すシャワー手段と、
該サイクロン式分離手段によって分離された粉塵および該噴霧手段に洗い流された粉塵とからなる廃液を収容する廃液収容手段と、
該廃液収容手段に収容された廃液を排出するドレン手段と、
該サイクロン式分離手段の該内筒内に配設され該サイクロン式分離手段によって粉塵と分離されたエアーを濾過するフィルター手段と、
該フィルター手段によって濾過されたエアーを排気する排気手段と、を具備している、
ことを特徴とする粉塵処理装置。An outer cylinder having a dust-containing air intake port at an upper portion thereof, and an inner cylinder disposed in the outer cylinder and forming a separation chamber between the outer cylinder and the outer cylinder, and from the dust-containing air intake port to the separation chamber. Cyclone-type separation means for turning the dust-containing air that has flowed in and separating it into dust and air;
Shower means for injecting water toward the inner peripheral surface of the outer cylinder and the outer peripheral surface of the inner cylinder of the cyclone-type separation means to wash away dust adhering to the inner peripheral surface of the outer cylinder and the outer peripheral surface of the inner cylinder; ,
Waste liquid storage means for storing a waste liquid composed of dust separated by the cyclone-type separation means and dust washed away by the spray means;
Drain means for discharging waste liquid stored in the waste liquid storage means,
Filter means disposed in the inner cylinder of the cyclone-type separation means and filtering air separated from dust by the cyclone-type separation means;
Exhaust means for exhausting the air filtered by the filter means,
A dust treatment device characterized by the above-mentioned.
該防塵カバーの排気ダクトと接続される含塵エアー取り入れ口を上部に備えた外筒と該外筒内に配設され該外筒との間に分離室を形成する内筒とからなり、該含塵エアー取り入れ口から該分離室に流入された含塵エアーを旋回せしめて粉塵とエアーとに分離するサイクロン式分離手段と、該サイクロン式分離手段の該外筒の内周面および該内筒の外周面に向けて水を噴射し該外筒の内周面および該内筒の外周面に付着した粉塵を洗い流すシャワー手段と、該サイクロン式分離手段によって分離された粉塵および該噴霧手段に洗い流された粉塵とからなる廃液を収容する廃液収容手段と、該廃液収容手段に収容された廃液を排出するドレン手段と、該サイクロン式分離手段の該内筒内に配設され該サイクロン式分離手段によって粉塵と分離されたエアーを濾過するフィルター手段と、該フィルター手段によって濾過されたエアーを排気する排気手段と、を具備する粉塵処理装置を装備した、
ことを特徴とする加工機。A chuck table configured to hold a workpiece and to be movable between a workpiece loading / unloading area and a polishing area, and dry-grind the workpiece held by the chuck table positioned in the polishing area; Polishing means provided with a polishing tool for performing, and a dustproof cover that covers the chuck table and the polishing tool positioned in the polishing area, a polishing machine comprising:
An outer cylinder having a dust-containing air intake port connected to an exhaust duct of the dust-proof cover at an upper portion thereof; and an inner cylinder disposed in the outer cylinder and forming a separation chamber between the outer cylinder and the outer cylinder. A cyclone-type separating means for rotating dust-containing air flowing into the separation chamber from the dust-containing air inlet to separate the dust and air, an inner peripheral surface of the outer cylinder and the inner cylinder of the cyclone-type separating means Shower means for injecting water toward the outer peripheral surface of the outer cylinder to wash out dust adhering to the inner peripheral surface of the outer cylinder and the outer peripheral surface of the inner cylinder; and washing the dust separated by the cyclone-type separation means and the spraying means. Waste liquid storage means for storing waste liquid composed of collected dust, drain means for discharging waste liquid stored in the waste liquid storage means, and the cyclone separation means disposed in the inner cylinder of the cyclone separation means Separated from dust by A filter means for filtering the air, equipped with dust processing apparatus comprising, an exhaust means for exhausting the filtered air by the filter means,
A processing machine characterized by the following.
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