JP2014079822A - Processing apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the possibility of adhesion of foreign matter and prevent deterioration of suction force of a fan by separating waste fluid of a processing fluid mixed with exhaust gas from a processing chamber from the exhaust gas.SOLUTION: A processing apparatus is provided with an exhaust passage communicating with the processing chamber at one end and with the fan at the other end to discharge an atmosphere of the inside of the processing chamber and separation means of separating, from the exhaust gas, waste fluid containing processed waste and contained in exhaust gas. The separation means comprises a separation chamber 54, a suction port 58 communicating with the processing chamber, a discharge port 60 communicating with the fan, a waste fluid discharge port 62 formed at the lower end of the separation chamber, and a waste fluid discharge passage 68 connected to the waste fluid discharge port. The waste fluid contained in the exhaust gas is discharged through the waste fluid discharge port into the waste fluid discharge passage by a swirling air flow produced in the separation chamber by the exhaust gas sucked from the suction port, and the exhaust gas is discharged through the gas discharge port. A water-sealing part 72 is formed in the waste fluid discharge passage to prevent back flow of the gas toward the fan in the waste fluid discharge passage.

Description

本発明は、半導体ウエーハ等の被加工物を加工する加工装置に関し、特に、加工室内の雰囲気を排気するファンと排気路とを備えた加工装置に関する。   The present invention relates to a processing apparatus for processing a workpiece such as a semiconductor wafer, and more particularly, to a processing apparatus including a fan and an exhaust path for exhausting an atmosphere in a processing chamber.

半導体デバイス製造プロセスでは、シリコンやガリウム砒素等の半導体材料からなるウエーハの表面に格子状の分割予定ラインが設定され、分割予定ラインで区画された各領域にIC、LSI等のデバイスが形成される。   In the semiconductor device manufacturing process, lattice-shaped division lines are set on the surface of a wafer made of a semiconductor material such as silicon or gallium arsenide, and devices such as ICs and LSIs are formed in each region partitioned by the division lines. .

このようなウエーハは、裏面が研削されて所定の厚みに薄化された後、分割予定ラインに沿って切断することにより、多数のデバイスチップに分割される。このようにして得られたデバイスチップは、樹脂やセラミックスでパッケージングされ、各種電気機器に実装される。   Such a wafer is divided into a large number of device chips by cutting along the scheduled dividing line after the back surface is ground and thinned to a predetermined thickness. The device chip thus obtained is packaged with resin or ceramics and mounted on various electric devices.

ウエーハを分割する装置としては、回転する切削ブレードを分割予定ラインに沿ってウエーハに切り込ませて切削する切削装置が一般的であり、ウエーハの裏面研削には、ウエーハの裏面に回転する砥石を押し付けて研削する研削装置が用いられる。   As a device that divides a wafer, a cutting device that cuts a rotating cutting blade into a wafer along a planned dividing line is generally used, and a grinding wheel that rotates on the back surface of the wafer is used for grinding the back surface of the wafer. A grinding device for pressing and grinding is used.

この種の切削装置や研削装置といった加工装置においては、密閉された加工室内においてチャックテーブルで保持した被加工物を切削ブレードや研削砥石等の加工手段で加工する構成が一般的である。   In a processing apparatus such as this type of cutting apparatus or grinding apparatus, a configuration in which a workpiece held by a chuck table is processed in a sealed processing chamber by a processing means such as a cutting blade or a grinding wheel.

そして加工の際には、加工手段が被加工物に接する加工点に加工液を供給しながら加工が遂行される。加工液は、加工によって生じる加工屑を被加工物から除去したり加工点を冷却したりする目的で供給され、加工屑が混入した加工液は廃液として加工装置外に排出される。   In the processing, the processing is performed while supplying the processing liquid to the processing point where the processing means contacts the workpiece. The machining fluid is supplied for the purpose of removing the machining waste generated by machining from the workpiece or cooling the machining point, and the machining fluid mixed with the machining waste is discharged out of the machining apparatus as waste liquid.

一方、加工室内の雰囲気はダクト(排気路)を通じて装置外に排気され、ダクトの途中には、加工室内の雰囲気をダクト内に吸入して排気口に送り込むファンが設けられている。加工装置の中には、ダクト及びファンが内蔵されているタイプのものもある(例えば、特開2000−124165号公報参照)。   On the other hand, the atmosphere in the processing chamber is exhausted outside the apparatus through a duct (exhaust passage), and a fan is provided in the middle of the duct to suck the atmosphere in the processing chamber into the duct and send it to the exhaust port. Some processing apparatuses include a duct and a fan (see, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 2000-124165).

特開2000−124165号公報JP 2000-124165 A

ところで、このような構成の加工装置では、加工室からの排気中に加工屑が混じった加工液(廃液)が混入すると、ファンに加工屑が付着し、ファンの回転が低下したり振動が発生して吸引力が低下する恐れがある。   By the way, in the processing apparatus having such a configuration, when processing liquid (waste liquid) mixed with processing waste is mixed into the exhaust from the processing chamber, processing waste adheres to the fan, and the rotation of the fan is reduced or vibration is generated. As a result, the suction force may be reduced.

また、加工液の循環路(循環ライン)を設けて加工液を循環して使用している加工装置の場合には、加工室からの排気中に加工液が混入すると加工液が循環ラインから排出されてしまうため、頻繁に加工液を補充しなければならないという問題がある。   Also, in the case of a machining device that circulates and uses the machining fluid circulation path (circulation line), the machining fluid is discharged from the circulation line when the machining fluid enters the exhaust from the machining chamber. Therefore, there is a problem that the machining fluid must be replenished frequently.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、加工室からの排気中に混じった加工液(廃液)を排気から分離することでファンに異物が付着する恐れを低減し、ファンの吸引力低下を防止するとともに、加工液を循環して使用している場合には、加工液の消失を低減可能な加工装置を提供することである。   The present invention has been made in view of the above points, and the object of the present invention is to separate the processing liquid (waste liquid) mixed in the exhaust from the processing chamber from the exhaust so that foreign matter adheres to the fan. It is intended to provide a machining apparatus capable of reducing fears, preventing a reduction in the suction force of a fan, and reducing the disappearance of the machining liquid when the machining liquid is circulated and used.

本発明によると、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルで保持された被加工物を加工する加工手段と、該加工手段と被加工物とに加工液を供給する加工液供給手段と、該チャックテーブルと該加工手段と該加工液供給手段とを囲繞する加工室と、一端が該加工室に連通すると共に他端がファンに連通して該加工室内の雰囲気を排気する排気路とを備えた加工装置であって、該加工室と該ファンとの間の該排気路中に配設され、該加工室から該排気路に流入した排気に含まれる加工屑を含んだ廃液を気体から分離する分離手段を更に具備し、該分離手段は、漏斗状の下チャンバーと該下チャンバーの上端から立ち上がる円筒状の上チャンバーとで構成された分離チャンバーと、該上チャンバーの側面に形成された該加工室に連通する吸気口と、該上チャンバーの上端に形成された該ファンに連通する気体排出口と、該下チャンバーの下端に形成された廃液排出口と、該廃液排出口に接続された廃液排出路と、を有し、該吸気口から吸入された排気によって該分離チャンバー内に渦巻き気流が発生することで、該排気に含まれる廃液が該廃液排出口を介して該廃液排出路に排出されるとともに、該排気は該気体排出口を介して排出され、該廃液排出路中には水封部が形成され、該廃液排出路内を気体が該ファンに向かって逆流するのを防止することを特徴とする加工装置が提供される。   According to the present invention, a chuck table for holding a workpiece, a processing means for processing the workpiece held by the chuck table, and a processing liquid supply means for supplying a processing liquid to the processing means and the workpiece. A processing chamber that surrounds the chuck table, the processing means, and the processing fluid supply means, and an exhaust passage that exhausts the atmosphere in the processing chamber with one end communicating with the processing chamber and the other end communicating with a fan. A wastewater containing processing waste contained in the exhaust gas that is disposed in the exhaust passage between the processing chamber and the fan and flows into the exhaust passage from the processing chamber. Separation means for separating from a gas is further provided, and the separation means is formed on a side surface of the upper chamber, which is composed of a funnel-shaped lower chamber and a cylindrical upper chamber rising from the upper end of the lower chamber. The processed An air inlet communicating with the upper chamber, a gas exhaust port communicating with the fan formed at the upper end of the upper chamber, a waste liquid exhaust port formed at the lower end of the lower chamber, and a waste liquid exhaust connected to the waste liquid exhaust port And the waste liquid contained in the exhaust is discharged to the waste liquid discharge path through the waste liquid discharge port by generating a swirl airflow in the separation chamber by the exhaust sucked from the intake port. In addition, the exhaust is discharged through the gas discharge port, and a water seal is formed in the waste liquid discharge path to prevent the gas from flowing back toward the fan in the waste liquid discharge path. Is provided.

好ましくは、該廃液排出路は、前記廃液排出口に一端が接続され上方から下方に伸長する第1廃液排出路と、該第1廃液排出路の他端よりも一端が上方に位置付けられた上方から下方に伸長する第2廃液排出路と、該第1廃液排出路の該他端と該第2廃液排出路の該一端とを接続する屈曲部と、を有し、前記水封部は、該屈曲部に液体が貯留さることで形成される。   Preferably, the waste liquid discharge path includes a first waste liquid discharge path that has one end connected to the waste liquid discharge port and extends downward from above, and an upper position in which one end is positioned above the other end of the first waste liquid discharge path. A second waste liquid discharge path extending downward from the first, and a bent portion connecting the other end of the first waste liquid discharge path and the one end of the second waste liquid discharge path. It is formed by storing liquid in the bent portion.

本発明の加工装置は、廃液排出路中に形成された水封部を有するため、廃液排出路中を気体がファンに向かって逆流して廃液が分離チャンバー内で巻き上げられる恐れがなく、分離チャンバー内で効果的に排気と廃液とを分離することができる。   Since the processing apparatus of the present invention has a water sealing portion formed in the waste liquid discharge path, there is no possibility that the gas flows backward toward the fan in the waste liquid discharge path and the waste liquid is wound up in the separation chamber. The exhaust and the waste liquid can be effectively separated in the interior.

更に、吸気口と気体排出口間に隔壁を有するため、吸気口から吸入された廃液を含む排気が気体排気口を通じてファンへと流出することを防止できるため、ファンに加工屑が付着する恐れを低減できファンの吸引力低下を防止できる。   In addition, since a partition is provided between the air inlet and the gas outlet, exhaust gas containing waste liquid sucked from the air inlet can be prevented from flowing out to the fan through the gas outlet. It is possible to reduce the fan's suction power.

切削装置の外観斜視図である。It is an external appearance perspective view of a cutting device. 切削装置の要部の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the principal part of a cutting device. 分離チャンバーの斜視図である。It is a perspective view of a separation chamber. 図4(A)は分離チャンバーの横断面図、図4(B)は図4(A)の4B−4B線断面図である。4A is a cross-sectional view of the separation chamber, and FIG. 4B is a cross-sectional view taken along line 4B-4B of FIG. 4A. 図5(A)は分離チャンバーに接続された第1実施形態の廃液排出路の縦断面図、図5(B)は分離チャンバーに接続された第2実施形態の廃液排出路の縦断面図である。5A is a longitudinal sectional view of the waste liquid discharge path of the first embodiment connected to the separation chamber, and FIG. 5B is a vertical sectional view of the waste liquid discharge path of the second embodiment connected to the separation chamber. is there.

以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると、加工装置の一種である本発明実施形態に係る切削装置(ダイシング装置)2の外観斜視図が示されている。切削装置2の前面側には、オペレータが加工条件等の装置に対する指示を入力するための操作パネル4が設けられている。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Referring to FIG. 1, an external perspective view of a cutting device (dicing device) 2 according to an embodiment of the present invention, which is a kind of processing device, is shown. On the front side of the cutting apparatus 2, an operation panel 4 is provided for an operator to input instructions to the apparatus such as machining conditions.

切削対象のウエーハWは粘着テープであるダイシングテープTに貼着され、ダイシングテープTの外周縁部は環状フレームFに貼着される。これにより、ウエーハWはダイシングテープTを介して環状フレームFに支持された状態となり、ウエーハカセット6中にウエーハが複数枚(例えば25枚)収容される。ウエーハカセット6は上下動可能なカセットエレベータ8上に載置される。   The wafer W to be cut is attached to a dicing tape T that is an adhesive tape, and the outer peripheral edge of the dicing tape T is attached to an annular frame F. As a result, the wafer W is supported by the annular frame F via the dicing tape T, and a plurality of wafers (for example, 25 sheets) are accommodated in the wafer cassette 6. The wafer cassette 6 is placed on a cassette elevator 8 that can move up and down.

ウエーハカセット6の後方には、ウエーハカセット6から切削前のウエーハWを搬出するとともに、切削後のウエーハをウエーハカセット6に搬入する搬出入手段10が配設されている。ウエーハカセット8と搬出入手段10との間には、搬出入対象のウエーハが一時的に載置される領域である仮置き領域12が設けられており、仮置き領域12には、ウエーハWを一定の位置に位置合わせする位置合わせ手段14が配設されている。   Behind the wafer cassette 6, a loading / unloading means 10 for unloading the wafer W before cutting from the wafer cassette 6 and loading the wafer after cutting into the wafer cassette 6 is disposed. Between the wafer cassette 8 and the loading / unloading means 10, a temporary placement area 12, which is an area on which a wafer to be carried in / out, is temporarily placed, is provided. Positioning means 14 for positioning at a certain position is provided.

仮置き領域12の近傍には、ウエーハWと一体となったフレームFを吸着して搬送する旋回アームを有する搬送手段16が配設されており、仮置き領域12に搬出されたウエーハWは、搬送手段16により吸着されてチャックテーブル18上に搬送され、このチャックテーブル18に吸引されるとともに、複数のクランプ19によりフレームFが固定されることでチャックテーブル18上に保持される。   In the vicinity of the temporary placement area 12, transport means 16 having a turning arm that sucks and transports the frame F integrated with the wafer W is disposed, and the wafer W carried to the temporary placement area 12 is It is sucked by the transport means 16 and transported onto the chuck table 18 and is sucked by the chuck table 18 and is held on the chuck table 18 by fixing the frame F by a plurality of clamps 19.

チャックテーブル18は、回転可能且つX軸方向に往復動可能に構成されており、チャックテーブル18のX軸方向の移動経路の上方には、ウエーハWの切削すべきストリートを検出するアライメントユニット20が配設されている。   The chuck table 18 is configured to be rotatable and reciprocally movable in the X-axis direction, and an alignment unit 20 that detects a street of the wafer W to be cut is located above the movement path of the chuck table 18 in the X-axis direction. It is arranged.

アライメントユニット20は、ウエーハWの表面を撮像する撮像ユニット22を備えており、撮像により取得した画像に基づき、パターンマッチング等の処理によって切削すべきストリートを検出することができる。撮像ユニット22によって取得された画像は、図示を省略した表示モニタに表示される。   The alignment unit 20 includes an imaging unit 22 that images the surface of the wafer W, and can detect a street to be cut by processing such as pattern matching based on an image acquired by imaging. The image acquired by the imaging unit 22 is displayed on a display monitor (not shown).

アライメントユニット20の左側には、チャックテーブル18に保持されたウエーハWに対して切削加工を施す切削ユニット24が配設されている。切削ユニット24はアライメントユニット20と一体的に構成されており、両者が連動してY軸方向及びZ軸方向に移動する。   On the left side of the alignment unit 20, a cutting unit 24 for cutting the wafer W held on the chuck table 18 is disposed. The cutting unit 24 is configured integrally with the alignment unit 20, and both move together in the Y-axis direction and the Z-axis direction.

切削ユニット24は、回転可能なスピンドル26の先端に切削ブレード28が装着されて構成され、Y軸方向及びZ軸方向に移動可能となっている。切削ブレード28は撮像ユニット22のX軸方向の延長線上に位置している。   The cutting unit 24 is configured by attaching a cutting blade 28 to the tip of a rotatable spindle 26 and is movable in the Y-axis direction and the Z-axis direction. The cutting blade 28 is located on the extended line of the imaging unit 22 in the X-axis direction.

切削加工の終了したウエーハWは搬送手段25によりスピンナ洗浄装置27まで搬送され、スピンナ洗浄装置27で洗浄されるとともにスピン乾燥される。   The wafer W that has been subjected to the cutting process is transported to the spinner cleaning device 27 by the transport means 25, cleaned by the spinner cleaning device 27, and spin-dried.

切削装置2の上述したような機構部分は筐体30内に収容されている。筐体30はフレーム32と、フレーム32に装着されたアクリル樹脂等から形成された透明プレート34から構成される。   The above-described mechanism portion of the cutting device 2 is accommodated in the housing 30. The housing 30 includes a frame 32 and a transparent plate 34 formed from acrylic resin or the like attached to the frame 32.

オペレータは、取っ手36を掴んでカバー37を開閉することによりチャックテーブル18にアクセスすることができ、取っ手38を掴んでカバー39を開閉することにより切削ユニット24にアクセスすることができる。   The operator can access the chuck table 18 by grasping the handle 36 and opening and closing the cover 37, and can access the cutting unit 24 by grasping the handle 38 and opening and closing the cover 39.

更に、取っ手40を掴んでカバー41を開閉することによりカセットエレベータ8上にウエーハカセット6を載置したり、ウエーハカセット6をカセットエレベータ8上から取り出すことができる。   Further, by grasping the handle 40 and opening and closing the cover 41, the wafer cassette 6 can be placed on the cassette elevator 8, or the wafer cassette 6 can be taken out from the cassette elevator 8.

図2を参照すると、本発明実施形態に係る切削装置2の要部断面図が示されている。切削装置2の筐体30内には加工室31が画成されている。加工室31内には、チャックテーブル18に保持されたウエーハWと、切削ユニット24が収容されている。切削ユニット24の切削ブレード28の両側には切削液供給ノズル29が配設されている。   Referring to FIG. 2, a cross-sectional view of the main part of the cutting device 2 according to the embodiment of the present invention is shown. A processing chamber 31 is defined in the housing 30 of the cutting apparatus 2. A wafer W held on the chuck table 18 and a cutting unit 24 are accommodated in the processing chamber 31. Cutting fluid supply nozzles 29 are disposed on both sides of the cutting blade 28 of the cutting unit 24.

加工室31の後側(図2で左側)には隔壁42が設けられており、この隔壁42には排気口43が形成されている。排気口43には排気路(ダクト)44の一端が連通されている。排気路44の他端は切削装置2内に設置されたファン45に連通しており、排気路44の他端側には切削装置2の外部まで伸びる排気管46が接続されている。   A partition wall 42 is provided on the rear side (left side in FIG. 2) of the processing chamber 31, and an exhaust port 43 is formed in the partition wall 42. One end of an exhaust path (duct) 44 communicates with the exhaust port 43. The other end of the exhaust path 44 communicates with a fan 45 installed in the cutting apparatus 2, and an exhaust pipe 46 extending to the outside of the cutting apparatus 2 is connected to the other end side of the exhaust path 44.

排気路44の途中の加工室31とファン45との間には、排気を気体と液体とに分離する分離手段48が配設されている。ここで、排気路44を加工室31と分離手段48との間と、分離手段48とファン45との間の二つに分け、前者を上流側排気路44A、後者を下流側排気路44Bとする。排気管46は、下流側排気路44Bの末端に接続されている。   Separating means 48 for separating the exhaust gas into a gas and a liquid is disposed between the processing chamber 31 and the fan 45 in the middle of the exhaust path 44. Here, the exhaust passage 44 is divided into two parts between the processing chamber 31 and the separation means 48 and between the separation means 48 and the fan 45, the former being the upstream exhaust passage 44A and the latter being the downstream exhaust passage 44B. To do. The exhaust pipe 46 is connected to the end of the downstream exhaust path 44B.

図3及び図4(B)に示すように、分離手段48は、漏斗状の下チャンバー50と、下チャンバー50の上端から立ち上がった円筒状の上チャンバー52とから構成された分離チャンバー54を含んでいる。下チャンバー50と、上チャンバー52は連結部56で連結されている。   As shown in FIGS. 3 and 4B, the separation means 48 includes a separation chamber 54 constituted by a funnel-shaped lower chamber 50 and a cylindrical upper chamber 52 rising from the upper end of the lower chamber 50. It is out. The lower chamber 50 and the upper chamber 52 are connected by a connecting portion 56.

上チャンバー52の側面には加工室31に連通する吸気口58が形成されており、上チャンバー52の上部にはファン45に連通する気体排出口60が形成されている。一方、下チャンバー50の下端には廃液排出口62が形成されており、廃液排出口62は廃液排出路68(図2参照)に接続されている。   An intake port 58 that communicates with the processing chamber 31 is formed on the side surface of the upper chamber 52, and a gas exhaust port 60 that communicates with the fan 45 is formed on the upper portion of the upper chamber 52. On the other hand, a waste liquid discharge port 62 is formed at the lower end of the lower chamber 50, and the waste liquid discharge port 62 is connected to a waste liquid discharge path 68 (see FIG. 2).

上チャンバー52の内部には、吸気口55から吸入された排気が気体排出口60に直に流入することを防止する隔壁61が吸気口58に対面して配設されている。隔壁61を上チャンバー52内に設けたことにより、吸気口58から吸入された排気は隔壁61に衝突してから上チャンバー52の内周面に沿って流動し、分離チャンバー54内に渦巻き気流64が発生する。   A partition wall 61 is disposed inside the upper chamber 52 so as to face the intake port 58 so as to prevent the exhaust gas sucked from the intake port 55 from flowing directly into the gas discharge port 60. By providing the partition wall 61 in the upper chamber 52, the exhaust gas sucked from the intake port 58 collides with the partition wall 61 and then flows along the inner peripheral surface of the upper chamber 52, and the swirl airflow 64 in the separation chamber 54. Occurs.

図5(A)を参照すると、分離チャンバー54に接続された第1実施形態の廃液排出路68の縦断面図が示されている。廃液排出路68は、その上端が廃液排出口62に接続され上方から下方に伸長する第1廃液排出路70と、第1廃液排出路70の下端よりも上方にその上端が位置づけられた上方から下方に伸長する第2廃液排出路74と、第1廃液排出路70の下端と第2廃液排出路74の上端と接続する屈曲部72とから構成される。屈曲部72内に廃液が貯留されることで水封部76が形成される。   Referring to FIG. 5A, a longitudinal sectional view of the waste liquid discharge path 68 of the first embodiment connected to the separation chamber 54 is shown. The waste liquid discharge path 68 is connected to the waste liquid discharge port 62 at its upper end and extends downward from above, and from above the upper end of the first waste liquid discharge path 70 is positioned above the lower end. The second waste liquid discharge path 74 extends downward, and includes a lower end of the first waste liquid discharge path 70 and a bent portion 72 connected to the upper end of the second waste liquid discharge path 74. A water seal 76 is formed by storing the waste liquid in the bent portion 72.

図5(B)を参照すると、分離チャンバー54に接続された第2実施形態の廃液排出路68Aの縦断面図が示されている。本実施形態の廃液排出路68Aでは、第1実施形態の屈曲部72に代わって、第1廃液排出路70と第2廃液排出路74との間に廃液を貯留する廃液貯留ボックス78が配設されている。   Referring to FIG. 5B, a longitudinal sectional view of the waste liquid discharge path 68A of the second embodiment connected to the separation chamber 54 is shown. In the waste liquid discharge path 68A of the present embodiment, a waste liquid storage box 78 for storing the waste liquid is disposed between the first waste liquid discharge path 70 and the second waste liquid discharge path 74, instead of the bent portion 72 of the first embodiment. Has been.

即ち、廃液貯留ボックス78の下側開口78aに第1廃液排出路70の下端70aが接続され、廃液貯留ボックス78の上側開口78bに第2廃液排出路74の上端74aが接続されている。廃液貯留ボックス78内に貯留された廃液により水封部80が形成される。   That is, the lower end 70 a of the first waste liquid discharge path 70 is connected to the lower opening 78 a of the waste liquid storage box 78, and the upper end 74 a of the second waste liquid discharge path 74 is connected to the upper opening 78 b of the waste liquid storage box 78. A water seal 80 is formed by the waste liquid stored in the waste liquid storage box 78.

本実施形態では、廃液貯留ボックス78の下側開口78aと上側開口78bにより、第1実施形態の屈曲部72と等価な屈曲部が形成されている。よって、この屈曲部により廃液貯留ボックス78内に貯留された廃液により水封部80が形成されていることになる。   In the present embodiment, a bent portion equivalent to the bent portion 72 of the first embodiment is formed by the lower opening 78a and the upper opening 78b of the waste liquid storage box 78. Therefore, the water sealing portion 80 is formed by the waste liquid stored in the waste liquid storage box 78 by the bent portion.

本実施形態の切削装置2では、ファン45を駆動すると、加工室31内の雰囲気が排気口43を介して上流側排気路44A内に吸入されて、分離手段48の吸気口58から分離チャンバー54内に導入される。そして、分離チャンバー54内を通って気体排出口60を介して下流側排気路44Bに排出され、排気管46を経て切削装置2の外部に排気される。   In the cutting apparatus 2 of the present embodiment, when the fan 45 is driven, the atmosphere in the processing chamber 31 is sucked into the upstream exhaust passage 44 </ b> A through the exhaust port 43, and is separated from the intake port 58 of the separation unit 48. Introduced in. Then, the gas passes through the separation chamber 54 and is discharged to the downstream side exhaust passage 44 </ b> B through the gas discharge port 60, and is exhausted to the outside of the cutting apparatus 2 through the exhaust pipe 46.

このようにして、加工室31内の雰囲気が排気されることにより、加工室31内は清浄な雰囲気に維持される。排気が通過する分離手段48においては、排気が上チャンバー52内に形成された隔壁61に衝突して分離チャンバー54内に渦巻き気流64が発生する。即ち、分離チャンバー54内では、排気が渦巻状に回転してから上方の気体排出口60を介して下流側排気路44Bに排出されていく。   In this manner, the atmosphere in the processing chamber 31 is exhausted, whereby the inside of the processing chamber 31 is maintained in a clean atmosphere. In the separation means 48 through which the exhaust passes, the exhaust collides with the partition wall 61 formed in the upper chamber 52 and a spiral air flow 64 is generated in the separation chamber 54. That is, in the separation chamber 54, the exhaust gas rotates in a spiral shape and is then discharged to the downstream exhaust path 44 </ b> B through the upper gas discharge port 60.

ウエーハWの切削加工時には、切削液供給ノズル29から切削液を供給しながら切削ブレード28による切削加工が実施されており、切削液は回転する切削ブレード18により跳ね上げられてミスト状に飛散する。   At the time of cutting the wafer W, cutting is performed by the cutting blade 28 while supplying the cutting fluid from the cutting fluid supply nozzle 29, and the cutting fluid is splashed by the rotating cutting blade 18 and scattered in a mist form.

このミスト状となった切削液は廃液であって、その中には加工屑等の異物が混じっている場合が多く、排気に混入した状態で排気口43から上流側排気路44Aを経て分離手段48の吸気口58を介して分離チャンバー54内に導入される。   This mist-like cutting fluid is a waste fluid, and there are many cases in which foreign matters such as machining scraps are mixed therein, and in a state where it is mixed in the exhaust gas, the separating means passes from the exhaust port 43 through the upstream exhaust passage 44A. It is introduced into the separation chamber 54 via 48 intake ports 58.

分離チャンバー54内に導入された廃液55を含む排気は、分離チャンバー54内で渦巻き気流64となって回転し、遠心分離作用で気体と液体、即ち排気と廃液に分離される。そして、排気のみが気体排出口60から下流側排気路44Bに排出され、異物を含む廃液55は廃液排出口62から落下して廃液排出路68に排出される。   The exhaust gas including the waste liquid 55 introduced into the separation chamber 54 rotates as a swirl airflow 64 in the separation chamber 54 and is separated into gas and liquid, that is, exhaust gas and waste liquid by a centrifugal separation action. Then, only the exhaust gas is discharged from the gas discharge port 60 to the downstream exhaust passage 44 </ b> B, and the waste liquid 55 containing foreign matter falls from the waste liquid discharge port 62 and is discharged to the waste liquid discharge passage 68.

このように、ミスト状の廃液を含む加工室31内の雰囲気を排気しても、その排気が分離手段48を通過することによって気体と液体とに分離され、気体のみが気体排出口60から排出され、異物を含む廃液は廃液排出口62から廃液排出路68に排出される。   Thus, even if the atmosphere in the processing chamber 31 containing the mist-like waste liquid is exhausted, the exhaust gas is separated into gas and liquid by passing through the separating means 48, and only the gas is discharged from the gas discharge port 60. Then, the waste liquid containing the foreign matter is discharged from the waste liquid discharge port 62 to the waste liquid discharge path 68.

従って、ミスト状の廃液がファン45を通ることがなく、このため廃液に含まれる加工屑等の異物がファン45に付着する恐れが低減される。その結果、ファン45の吸引力の低下が防止される。   Accordingly, the mist-like waste liquid does not pass through the fan 45, and therefore, the possibility that foreign matters such as processing waste contained in the waste liquid adhere to the fan 45 is reduced. As a result, a reduction in the suction force of the fan 45 is prevented.

図5(A)に示した第1実施形態の廃液排出路68は屈曲部72に貯留された廃液によって水封部76が形成されているため、廃液排出路68中を気体がファン45に向かって逆流して廃液が分離チャンバー54内で巻き上げられる恐れがなく、分離チャンバー54内で効果的に排気と廃液とを分離できる。   In the waste liquid discharge path 68 of the first embodiment shown in FIG. 5A, the water seal 76 is formed by the waste liquid stored in the bent portion 72, so that the gas flows in the waste liquid discharge path 68 toward the fan 45. Thus, there is no fear that the waste liquid flows back up in the separation chamber 54 and the exhaust gas and the waste liquid can be effectively separated in the separation chamber 54.

図5(B)に示した第2実施形態では、廃液排出路68Aに廃液貯留ボックス78が設けられているため、図5(A)に示した第1実施形態と同様に、廃液排出路68A中を気体がファン45に向かって逆流して廃液が分離チャンバー54内で巻き上げられる恐れがなく、分離チャンバー54内で効果的に排気と廃液とを分離できる。   In the second embodiment shown in FIG. 5B, since the waste liquid storage box 78 is provided in the waste liquid discharge path 68A, as in the first embodiment shown in FIG. 5A, the waste liquid discharge path 68A. There is no risk that the gas flows back toward the fan 45 and the waste liquid is wound up in the separation chamber 54, and the exhaust gas and the waste liquid can be effectively separated in the separation chamber 54.

加工装置2が加工液の循環ラインを設けて加工液を循環して使用している場合には、分離チャンバー54の廃液排出口62を濾過装置を介して循環ラインに接続することにより、加工液の消失を低減することができる。   In the case where the processing device 2 is provided with a processing fluid circulation line and circulates the processing fluid, the waste fluid discharge port 62 of the separation chamber 54 is connected to the circulation line via the filtration device, thereby providing the processing fluid. Disappearance can be reduced.

上述した実施形態では、加工装置2内にファン45及び分離手段48を配設した例について説明したが、加工室内の雰囲気を排気するファンを有する排気設備が加工装置が設置された工場内に設けられている場合には、排気設備に分離手段48を設けるようにしてもよい。   In the embodiment described above, the example in which the fan 45 and the separating means 48 are disposed in the processing apparatus 2 has been described. However, an exhaust facility having a fan for exhausting the atmosphere in the processing chamber is provided in the factory where the processing apparatus is installed. In such a case, the separation means 48 may be provided in the exhaust equipment.

尚、上述した実施形態は本発明を切削装置に適用した例について説明したが、本発明は切削装置に限らず、研削装置、研磨装置、バイト切削装置等の各種加工装置に適用可能である。   In the above-described embodiment, the example in which the present invention is applied to the cutting apparatus has been described. However, the present invention is not limited to the cutting apparatus, and can be applied to various processing apparatuses such as a grinding apparatus, a polishing apparatus, and a cutting tool.

2 切削装置
24 切削ユニット
28 切削ブレード
30 筐体
31 加工室
44 排気路
45 ファン
46 排気管
48 分離手段
50 下チャンバー
52 上チャンバー
54 分離チャンバー
60 隔壁
68,68A 廃液排出路
70 第1廃液排出路
72 屈曲部
74 第2廃液排出路
76,80 水封部
78 廃液貯留ボックス
2 Cutting device 24 Cutting unit 28 Cutting blade 30 Housing 31 Processing chamber 44 Exhaust path 45 Fan 46 Exhaust pipe 48 Separation means 50 Lower chamber 52 Upper chamber 54 Separation chamber 60 Separator 68, 68A Waste liquid discharge path 70 First waste liquid discharge path 72 Bent part 74 Second waste liquid discharge path 76, 80 Water seal part 78 Waste liquid storage box

Claims (2)

被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルで保持された被加工物を加工する加工手段と、該加工手段と被加工物とに加工液を供給する加工液供給手段と、該チャックテーブルと該加工手段と該加工液供給手段とを囲繞する加工室と、一端が該加工室に連通すると共に他端がファンに連通して該加工室内の雰囲気を排気する排気路とを備えた加工装置であって、
該加工室と該ファンとの間の該排気路中に配設され、該加工室から該排気路に流入した排気に含まれる加工屑を含んだ廃液を気体から分離する分離手段を更に具備し、
該分離手段は、漏斗状の下チャンバーと該下チャンバーの上端から立ち上がる円筒状の上チャンバーとで構成された分離チャンバーと、
該上チャンバーの側面に形成された該加工室に連通する吸気口と、
該上チャンバーの上端に形成された該ファンに連通する気体排出口と、
該下チャンバーの下端に形成された廃液排出口と、
該廃液排出口に接続された廃液排出路と、を有し、
該吸気口から吸入された排気によって該分離チャンバー内に渦巻き気流が発生することで、該排気に含まれる廃液が該廃液排出口を介して該廃液排出路に排出されるとともに、該排気は該気体排出口を介して排出され、
該廃液排出路中には水封部が形成され、該廃液排出路内を気体が該ファンに向かって逆流するのを防止することを特徴とする加工装置。
A chuck table for holding a workpiece, a processing means for processing the workpiece held by the chuck table, a processing fluid supply means for supplying a processing fluid to the processing means and the workpiece, and the chuck table And a machining chamber that surrounds the machining means and the machining fluid supply means, and an exhaust passage that has one end communicating with the machining chamber and the other end communicating with a fan and exhausting the atmosphere in the machining chamber. A device,
Separating means is provided in the exhaust path between the processing chamber and the fan and separates waste fluid containing processing waste contained in the exhaust gas flowing into the exhaust path from the processing chamber from the gas. ,
The separation means comprises a separation chamber composed of a funnel-shaped lower chamber and a cylindrical upper chamber rising from the upper end of the lower chamber;
An intake port communicating with the processing chamber formed on the side surface of the upper chamber;
A gas exhaust port communicating with the fan formed at the upper end of the upper chamber;
A waste liquid discharge port formed at the lower end of the lower chamber;
A waste liquid discharge path connected to the waste liquid discharge port,
A swirling airflow is generated in the separation chamber by the exhaust sucked from the intake port, so that the waste liquid contained in the exhaust is discharged to the waste liquid discharge path through the waste liquid discharge port, and the exhaust is Discharged through the gas outlet,
A processing apparatus, wherein a water seal portion is formed in the waste liquid discharge path to prevent a gas from flowing back toward the fan in the waste liquid discharge path.
該廃液排出路は、
前記廃液排出口に一端が接続され上方から下方に伸長する第1廃液排出路と、
該第1廃液排出路の他端よりも一端が上方に位置付けられた上方から下方に伸長する第2廃液排出路と、
該第1廃液排出路の該他端と該第2廃液排出路の該一端とを接続する屈曲部と、を有し、
前記水封部は、該屈曲部に液体が貯留さることで形成される請求項1記載の加工装置。
The waste liquid discharge path is
A first waste liquid discharge passage that is connected at one end to the waste liquid discharge port and extends downward from above;
A second waste liquid discharge path extending downward from above, with one end positioned above the other end of the first waste liquid discharge path;
A bent portion connecting the other end of the first waste liquid discharge path and the one end of the second waste liquid discharge path;
The processing apparatus according to claim 1, wherein the water sealing portion is formed by storing liquid in the bent portion.
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