JP2016536617A - X線製品品質自動検出装置 - Google Patents

X線製品品質自動検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2016536617A
JP2016536617A JP2016546141A JP2016546141A JP2016536617A JP 2016536617 A JP2016536617 A JP 2016536617A JP 2016546141 A JP2016546141 A JP 2016546141A JP 2016546141 A JP2016546141 A JP 2016546141A JP 2016536617 A JP2016536617 A JP 2016536617A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
product
automatic detection
quality automatic
product quality
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016546141A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6291068B2 (ja
Inventor
タン,フアピン
チェン,ジーチャン
リ,ユアンジン
リウ,ジュオイェン
ワン,ヨンガン
シン,ジャンファン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nuctech Co Ltd
Original Assignee
Nuctech Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nuctech Co Ltd filed Critical Nuctech Co Ltd
Publication of JP2016536617A publication Critical patent/JP2016536617A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6291068B2 publication Critical patent/JP6291068B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
    • B07C5/3416Sorting according to other particular properties according to radiation transmissivity, e.g. for light, x-rays, particle radiation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/33Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
    • G01N2223/3304Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts helicoidal scan
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/33Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
    • G01N2223/3307Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts source and detector fixed; object moves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60Specific applications or type of materials
    • G01N2223/643Specific applications or type of materials object on conveyor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60Specific applications or type of materials
    • G01N2223/645Specific applications or type of materials quality control

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本発明のX線製品品質自動検出装置は、複数のターゲットポイントから被検製品を照射するX線を所定の順番で生成できる、複数のターゲットポイントを有する分散型X線源と、前記分散型X線源によって生成されるX線を受信し、且つその受信されたX線の特徴を表す信号を出力する検出器と、前記被検製品を搬送してX線照射領域を通過させる輸送装置と、前記X線製品品質自動検出装置に電力を供給してそれを制御し、前記検出器からの信号に基づいて前記被検製品の特徴情報を形成し、前記特徴情報に基づいて前記被検製品の検出分析結果を出力する、電源及び制御装置と、を備える。【選択図】 図1

Description

本発明は、工場ライン製品の品質をX線で検出する装置に関し、特に分散型X線源を用いてライン生産の製品に対して3次元イメージング検出を行う装置に関する。
X線源は、工業非破壊検査、安全検査、医療診断及び治療等の分野に広く応用される。X線の高透過能力を利用して、物体に対する透視イメージングを行うと、オブジェクトの微細構造を分析することができるため、構造分析、欠陥検出、効果検証等の目的に達し、例えば生産ラインの製品に対する生産品質検査を行う。従来のX線源は只1つだけのターゲットポイントを有し、即ち、1つだけの位置からX線を生成させる。分散型X線源と呼ばれる新型X線源は、1つのX線源の異なる位置でX線を生成できる。
また、X線源は、既に工場ラインにおける例えば電子部品、回路基板、機械部品、金属缶、リチウムイオン電池、ガラス瓶及び金属欠陥等のような工業製品に対するオンライン検出に応用されている。
特許文献1等において、全て従来のシングルターゲットポイントX線源を用いるため、生産ラインの製品は普通一つの片方向の透視イメージングしか実現できない。特許文献2等において、補助装置により被検製品を360度回転させ、回転過程でX線は当該製品に対して連続的にイメージングさせて、「全方向」の検出を実現する。特許文献3等において、被検製品の輸送運動過程で、異なる位置の同じ製品に対して複数回の透視イメージングを行い、且つ「サブエリア平均化と全変動最小化に基づく水平移動型コーンビームCT逐次再構成アルゴリズム」により3次元画像を取得する。特許文献4において、複数のX線源を用いて異なる角度で被検製品に対して透視イメージングを行う。
CN103698346A CN103644935A CN102590248A CN202814895U
本願の一態様は、分散型X線源を用いて製品に対して複数の角度から迅速にイメージングし、被検製品の多視角の画像又は3次元立体画像を取得し、更にソフトウェアシステムにより自動的に製品に対する全方向の品質分析を行い、分析結果に基づいて選別する、X線製品品質自動検出装置を提供する。
本願の一態様で提供するX線製品品質自動検出装置は、
複数のターゲットポイントから被検製品を照射するX線を所定の順番で生成できる、複数のターゲットポイントを有する分散型X線源と、
前記分散型X線源によって生成されるX線を受信し、且つその受信されたX線の特徴を表す信号を出力することに用いられる検出器と、
前記被検製品を搬送してX線照射領域を通過させる輸送装置と、
X線製品品質自動検出装置に電力を供給してそれを制御し、前記検出器からの信号に基づいて前記被検製品の特徴情報を形成し、前記特徴情報に基づいて前記被検製品の検出分析結果を出力する、電源及び制御装置と、を備えることを特徴とする。
また、本願のX線製品品質自動検出装置は更に、前記被検製品の搬送方向において前記分散型X線源と前記検出器の下流に位置し、前記電源及び制御装置の制御で、前記検出器からの信号又は前記電源及び制御装置からの前記検出分析結果に基づいて、前記被検製品を選別する選別装置を備える。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記輸送装置は工場製品ラインの一部である。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記輸送装置は前記分散型X線源と前記検出器の間に位置し、且つ前記被検製品の生産ラインとマッチングする連続輸送構造なるように配置される。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記輸送装置は工場標準生産ラインの中間に取り付けられ、前記被検製品は上流標準生産ラインから前記輸送装置まで輸送され、前記輸送装置は前記被検製品を搬送してX線照射領域を通過させた後、前記被検製品を下流標準生産ラインに輸送する。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記電源及び制御装置は、前記検出器からの信号が予め設定された閾値範囲内であるか否かを判断し、前記閾値範囲内ではないと判断すれば、前記選別装置は前記被検製品を選別する。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記選別装置は、前記電源及び制御装置からの前記検出分析結果で、前記被検製品の特徴情報と標準情報が一致しない場合、前記被検製品を選別する。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記電源及び制御装置は更に、前記検出器からの信号を受信して、前記被検製品の前記特徴情報を表す多視角画像又は3次元立体画像を形成する画像構成サブシステムを備える。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記電源及び制御装置は更に、所定のルールに従って前記画像構成サブシステムにより取得される検出画像と標準製品画像を比較して分析する画像分析サブシステムを備え、前記画像分析サブシステムの比較及び分析結果に基づいて前記被検製品を選別する。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記電源及び制御装置は更に、前記X線製品品質自動検出装置の動作状態、前記被検製品の検出画像、前記検出分析結果の表示、及び制御命令の入力のうちの少なくとも1つに用いられる表示及び操作サブシステムを備える。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、更に、前記X線照射領域を囲んで、散乱されたX線をシールドするシールド装置を備える。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記分散型X線源の複数のターゲットポイントの配列方式は、直線配列、折れ線配列、円弧線配列又はそれらの組み合わせである。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記分散型X線源の複数のターゲットポイントの配列方向は、前記被検製品の搬送方向と直交し、又は前記分散型X線源の複数のターゲットポイントが前記被検製品の搬送方向に沿って円弧状又は螺旋状で配列される。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記検出器は、複数の検出ユニットを備えるフラットパネル検出器又は1次元の線形アレイ又は2次元のマトリックスアレイに配列される複数の検出ユニットを備える検出器であって、複数の位置でX線を同時に受信できる。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記分散型X線源から前記被検製品のいずれのポイントまでのX線の画角と前記ポイントから前記検出器までのX線の画角の和が180度より大きい。
また、本願のX線製品品質自動検出装置において、前記分散型X線源はデュアルエネルギーX線源であり、及び/又は前記検出器はデュアルエネルギー検出器である。
上記のように、本願の一態様で提供するX線製品品質自動検出装置は、分散型X線源、検出器、輸送装置、電源及び制御装置、及び選別装置等を含み、分散型X線源により異なる位置の複数のターゲットポイントからX線を生成でき、且つ検出器アレイとマッチングさせて、複数の視角から工場生産ラインの被検製品に対する透視イメージングを実現し、多視角画像又は3次元立体画像を取得でき、製品に対する全方向の検出及び分析を実現した。分散型X線源での複数のターゲットポイントは、動作状態でマイクロセカンドレベルの電気制御高速切り替えを実現でき、それによって検出速度が速く、効率が高い。また、電源及び制御装置には画像分析サブシステムが設計され、予め設定されたルールに従って検出される製品画像と予め記憶された標準製品画像とを比較して分析し、ライン製品の検出結果に対する自動分析を実現し、人力を節約し、動作効率が高い。また、電源及び制御装置は、自動分析結果に基づいて、選別装置を制御して応じる動作を行い、製品ラインで製品に対する自動選別を実現し、効率が高く、人力を節約できる。
本願のX線製品品質自動検出装置によれば、工場ライン製品に対する全方向の検出を実現でき、検出画像を自動的に分析でき、分析結果によってライン製品を自動的に選別できる。本願は、作業が柔軟であり、様々な製品に対する適応性が強く、検出が全面的で死角なく、自動化程度が高く、工業生産の効率を大幅に向上させ、生産コストを低減できる。
図1は、本願の実施形態に係るX線製品品質自動検出装置の構成を示す図である。 図2は、本願の実施形態に係るX線製品品質自動検出装置の線源と検出器の配置状況を示す断面図である。 図3は、本願の実施形態に係るX線源と検出器が被検製品を囲むように形成されることを示す配置図である。 図4は、本願の実施形態に係るX線源から被検製品のいずれのポイントまでのX線の画角及び当該ポイントから検出器までのX線の画角を示す図である。 図5は、本願の実施形態に係る電源及び制御装置の構成を示す図である。
本願の発明者は、特許文献1〜4に対する研究と分析により、特許文献1において、被検対象の平面画像しか取得できず、画像にはX線の照射方向の奥行情報が欠落しているため、非「全方向」の検出であって、検出効果が制限されている。特許文献2において、各製品に対して位置決め、回転、連続イメージングを行う必要があるため、検出速度が遅く、ラインの生産速度要求を満たし難い。特許文献3において、製品の運動過程でX線源と検出器で生成される有効視角範囲が限られているため、取得した画像品質は「3次元」の効果が悪く、同時に効率も比較的に低い。特許文献4において、「全方向」検出の効果を実現したが、X線源の数が比較的に少ないため、視角の数が少なく、画像の全方向効果が限られており、X線源の数を増加すると、画像品質を向上できるが、コストが倍増してしまうことが分かる。
これに対し、本願の一態様に係るX線製品品質自動検出装置は、多視角画像又は3次元立体画像を取得できる。また、本願の一態様に係るX線製品品質自動検出装置は更に、高品質の画像を取得できる。また、本願の一態様に係るX線製品品質自動検出装置は更に、高検出効率を有し、ラインの生産速度要求を満たすことができる。
以下、図面を参照して本願を詳しく説明する。
図1は本願の実施形態に係るX線製品品質自動検出装置の構成を示す図である。図1に示すように、本発明に係るX線製品品質自動検出装置は、X線源1、検出器2、輸送装置3、及び電源及び制御装置4を備える。X線源1は、複数のターゲットポイントを備える分散型X線源であって、複数の位置からX線を生成させる。検出器2は、X線源により生成されるX線を受信し、且つX線特徴を表す信号を出力することに用いられる。輸送装置3は、X線源1と検出器2の間に位置し、被検製品6を搬送してX線照射領域(即ち、X線源1からのX線に照射される領域)を通過するが、これに限られず、被検製品6がX線照射領域を通過すれば、他の形態であってもよい。電源及び制御装置4は、検出器2からの信号に基づいて被検製品6の特徴情報を形成でき、特徴情報のタイプとして、例えば画像、閾値範囲、気体又は液体等であっても良い。具体的に、電源及び制御装置4は、電源サブシステム41、制御サブシステム42及び画像構成サブシステム43を備えても良く、電源サブシステム41はX線製品品質自動検出装置のX線源1、検出器2等に電力を供給し、制御サブシステム42はX線製品品質自動検出装置の各部分を論理的に制御して、システムを正常に作動させ、画像構成サブシステム43は検出器2から出力される信号を受信し、且つ内部電子回路の処理、ソフトウェアアルゴリズム分析及び画像再構成等のプロセスにより、被検製品6の特徴を反映する画像(即ち、当該画像が被検製品6の特徴情報を表す)を形成する。また、電源及び制御装置4の構造は、これに限られず、上記の機能が実現できれば、他の構造であってもよい。本発明において、電源及び制御装置4は、取得される被検製品の特徴情報に基づいて被検製品の検出分析結果を出力することができる特徴分析モジュールを備えても良い。
また、X線源1は、複数のターゲットポイントを備える分散型X線源であって、複数の位置からX線を生成でき、各ターゲットポイントから生成されるX線の時間順番で柔軟に制御でき、X線源のターゲットポイントの配列は直線配列、折れ線配列、円弧線配列又はそれらの組み合わせ等であっても良く、X線源のターゲットポイントの配列は、被検製品を囲むように形成される(又は一定の角度範囲で囲む)方向に従って配置される。X線源の複数のターゲットポイントの配列方向は、被検製品の搬送方向に直交することができる。また、X線源の複数のターゲットポイントが前記被検製品6の搬送方向に沿って円弧状又は螺旋状で配列されても良い。本願において、X線源1の複数のターゲットポイントの配列方式は、特に限定されない。
また、検出器2は、複数の検出ユニットから構成される線形検出器アレイであって、1次元線形アレイと2次元マトリックスアレイとを含み、検出器アレイの配列がX線源のターゲットポイントの配列に対応して、被検製品6を囲むように形成される方式で配置され、ターゲットポイントごとに1回あたりX線を生成する時に検出器2により取得される情報に基づいて、被検製品6の1つの切断面又は2つ以上の切断面の透視画像を生成できる。また、検出器2は、複数の検出ユニットを備えるフラットパネル検出器であっても良く、ターゲットポイントごとに1回あたりX線を生成する時に検出器2により取得される情報に基づいて、被検製品6の2次元透視画像を生成できる。検出器2がフラットパネル検出器である場合、より高い画像解像度を備える。しかし、本発明はこれに限られるものではなく、分散型X線源からのX線を受信してそれを被検製品の画像を生成するための信号に変換できる検出器であれば、本発明に係るX線製品品質自動検出装置に応用できる。また、検出器2がアレイである場合、検出器アレイの配列方式は、X線源1に平行するだけではなく、垂直又はいずれの角度でX線源1に対応することができる。また、検出器アレイがX線源に垂直する場合、検出器アレイが、X線源のいずれのターゲットポイントを円心とする円弧状であることが好ましい。
また、図1に示すように、輸送装置3は、X線源1と検出器2の間に位置し、被検製品6を搬送してX線照射領域を通過させる。輸送装置3は、X線製品品質自動検出装置によって制御される1つの独立輸送分であり、且つ被検製品6の生産ラインとマッチングする連続輸送構造になるよう配置され、工場標準生産ラインの中間に挿入され、被検製品6が上流標準生産ラインから輸送装置3に輸送(ダウンロード)され、輸送装置3が被検製品6を搬送してX線照射領域を通過させ、その後、再び被検製品6を下流標準生産ラインに輸送(アップロード)する。また、輸送装置3は更に、その自体が工場標準生産ラインの一部であってよい。勿論、輸送装置3は、被検製品6がオフラインになる前に検出されるように、標準生産ラインの最後に位置しても良い。
また、画像構成サブシステム43は、検出器2から出力される信号を受信し、且つ内部電子回路の処理、ソフトウェアアルゴリズム分析及び画像再構成等のプロセスにより、被検製品6の特徴を反映する画像を形成する。X線源1の各ターゲットポイントから生成されるX線が被検製品6を透過して検出器2のアレイに受信され、画像構成サブシステム43が検出器2から出力される信号に応じて、被検製品6の一定の切断厚さの切断方向の透視画像を形成でき、切断厚さが検出器2のアレイ数に関連し、即ち、検出器2の列数が大きいほど、一回のイメージングで生成される切断の厚さが大きい。X線源1の複数の異なる位置のターゲットポイントは、順次で迅速(各ターゲットポイントがX線を放出する時間はマイクロセカンドレベルであり、例えば100μsである)にX線を生成した後、同じ切断面(全てのターゲットポイントが順次でX線を放出する周期はミリセカンドレベルであって、例えばターゲットポイントの数が10個である場合、合計で1msであり、被検製品6がこの周期内で移動する距離は小さく、同じ切断面としてみなすことができる)の複数の異なる方向の透視画像を取得でき、これらの透視画像は、画像再構成によって当該切断面に微細情報を含む2次元切断面画像に成り得る。被検製品6が輸送装置3の搬送で前方向へ絶えず運動することに伴い、被検製品6の一連の切断面画像を形成し、画像構成サブシステム43は、この一連の切断面画像を重ね合わせて被検製品6の完全な3次元立体画像を形成する。
上記の過程において、検出器アレイの各列は被検製品6の1つの横スライスに対応し、検出器アレイの列数が多いほど、X線源1のターゲットポイントが一回のX線を生成するため、取得されるスライスの数が多く、検出される厚さが大きく、輸送装置3の被検製品6を搬送する運動速度が速くなることができ、即ち、X線製品品質自動検出装置の検出速度が速くなる。検出器2がフラットパネル検出器(即ち、平面アレイ)である場合、比較的に大きい幅を有する。X線源1のターゲットポイントが1つの周期のX線を生成することだけで、被検製品6の完全な3次元立体画像を取得できる。
図2は、本発明の実施形態に係るX線製品品質自動検出装置の線源と検出器の配置状況を示す横断面図である。図2に示すように、X線源1の各ターゲットポイントは直線状に配列され、X線源1は輸送装置3(輸送装置3上の被検製品6を含む)の上方に配置され、複数のターゲットポイントの分布幅(図2での左右方向の寸法)が被検製品6の幅より大きい。検出器2は、線形アレイであって、輸送装置3の下方に配置され、検出器アレイの列の長さ(図2での左右方向の寸法)も被検製品6の幅より大きい。X線源1の各ターゲットポイントから生成されるX線は被検製品6を透過し、被検器アレイに受信されて、異なる視角の透視画像が取得され、且つ視角が比較的に大きい分布範囲を有し、最終的に取得される多視角画像がX線の深さ方向に良い多層情報を有する。また、上記の配置方式に限られず、構造の配置での変化は更に、X線源1が下方に位置し、検出器2が上方に位置すること、又は、X線源1が左に位置し、検出器2が右に位置すること、又は、X線源1が右に位置し、検出器2が左に位置すること等であってもよい。即ち、X線源1により生成されるX線が被検製品6を照射し且つ検出器2に受信できればよい。
また、図3は本発明の実施形態に係るX線源と検出器が被検製品を囲むように形成されることを示す配置図である。図3に示すように、X線源1は、2本の直線配列から構成される「L」形状(それに応じて、各ターゲットポイントも「L」形状に配列される)であり、また、検出器2も2本の直線配列から構成される「L」形状であり、両者が共同で輸送装置3と被検製品6に対して完全に囲むように構成される。被検製品6のいずれの位置点Pに対して、X線源1から当該点PまでのX線の画角Aと当該点Pから検出器2までのX線の画角Bの和は、180度より大きく、そのうち、「画角」とは、点Pを経過するX線の角度範囲を意味する。具体的に、X線源1から当該点PまでのX線の画角Aとは、図4に示すように、X線源1から放出されるX線において、当該点Pを経過し且つ検出器2に受信されることができる、点Pに達する前のX線の角度範囲を意味する。当該点Pから検出器2までのX線の画角Bとは、図4に示すように、当該点Pを通過した後に、検出器2で受信できるX線の角度範囲を意味する。当該点Pから検出器2までのX線の画角Bは、90度以上であってもよい。従って、図2の場合に比べると、図3と図4に示す場合で、より大きい視角範囲を有し、多くの視角画像を取得でき、再構成アルゴリズムにより、被検製品6の完全な3次元立体画像を形成でき、それによって被検製品6のいずれの位置点の構造と特徴情報を分析でき、本当の「全方向」の見落としのない検出及び分析である。また、X線源1と検出器2は、上記のL形状以外に、U形状であっても良い。更に、配置の構造上の変化に関して、他の角度の折れ線、より多くの配列の組み合わせ、又はX線源1の一部又は全部を円弧線に変換すること、又は検出器2の一部又は全部を円弧線に変換すること等であってもよい。
また、電源及び制御装置4は更に、記憶装置と画像分析ソフトウェアとを含み得る画像分析サブシステム44を備えても良い。記憶装置は、被検製品6の標準画像(又は標準特徴情報)を記憶することに用いられ、全ての検出される被検製品6の検出画像に対して自動的に実物に対応して番号を付けて文書として記憶できる。例えば、差分比較のように、画像分析ソフトウェアを使用して画像構成サブシステム43により生成される各被検製品6の画像と標準画像(又は標準特徴情報)とを比較して分析し、例えば、品質欠陥(例えば、亀裂、穴あき、砂孔、変形等)があるか否か、加工工芸(例えば、厚さ、粗さ、変形量、折り曲げ構造、プレス構造等)が合格であるか否か、加工過程(例えば、部品組立、溶接のスポット、巻き締め、継ぎ目等)が要件を満たすか否か等のように、設定されたルールに従って被検製品6が特定の要件を満たすか否かを判定する。更に、画像分析ソフトウェアを用いて一定の形態(例えば、警報信号又は制御命令等)で被検製品6の検出分析結果を出力する。画像分析サブシステム44は、記憶装置を含まなくても良く、被検製品6の標準画像は、画像分析サブシステム44の外部の記憶装置に記憶されても良い。
また、本発明のX線製品品質自動検出装置は更に、例えば輸送装置3に取り付けられることができ、且つ被検製品6の搬送方向でX線源1と検出器2の下流側に位置し、検出器2からの信号の大きさ又は電源及び制御装置4からの被検製品6に対する検出分析結果に基づいて、被検製品6を選別できる選別装置5を備えても良い。即ち、1つの閾値範囲を予め設定し、電源及び制御装置4が検出器2からの信号が当該閾値範囲に属しないと判定した場合(即ち、被検製品6が不合格である場合)、選別装置5は、当該不合格の製品を選別する。又は、選別装置5は、電源及び制御装置4からの被検製品6に対する検出分析結果として被検製品6の特徴情報と標準特徴情報とが一致しない場合、当該被検製品6を選別する。又は、選別装置5は、制御サブシステム42の制御を受け、画像分析サブシステム44により与えられる被検製品6の画像検出分析結果(即ち、画像分析サブシステム44によって形成される被検製品6の画像と標準画像との比較結果)に基づいて、被検製品6を選別する。また、選別装置5は複数種の実施形態を有し、例えば機械グリップのように、輸送装置3から不合格(又は他のある特徴)の被検製品6を取り出し、不合格製品容器(又は他の収集装置)に入れ、合格製品は製品ラインで作動し続ける。また、選別装置5は更に、輸送装置3の片側に取り付けられ、対向側に開口又は可動ゲートを有し、エア又は電動又は液圧等の方式で動作し、制御システムの命令により輸送装置3での不合格(又は他のある特徴)の被検製品6を輸送装置3から押し出し、合格製品は製品ラインで作動し続ける押出装置(例えば、薬箱中の薬品又は食品箱中の食品を検出する生産過程での送風装置)であっても良い。また、選別装置5は更に、経路選択装置であっても良く、輸送装置3は下流側に分岐を有する二つの経路を有し、分岐口には経路選択装置が設置され、経路選択装置は制御サブシステムの命令を受け入れ、合格の被検製品6が来る場合に、動作してそれを標準製品生産ラインに輸送して、作動し続け、不合格の被検製品6が来る場合に、動作してそれを不良品収集ラインに輸送する。前記選別手段又は他の同様機能を実現できる選別手段により、本発明の検出分析結果に基づいてライン製品を自動的に選別できる。
また、本発明のX線製品品質自動検出装置は更に、X線源1と検出器2の外側に取り付けられ、X線検出領域を囲み、X線源1により生成される非応用方向のX線及びX線が被検製品6等のオブジェクトに当たって生成される散乱X線をシールドし、X線製品品質自動検出装置の周囲が安全な照射レベルに達して、国家関連規定に合致するようにし、同時に製品ラインの他の位置の作業者が照射影響を受けないよう保証するシールド装置7を備えてもよい。シールド装置7は、普通、例えば、鉛、タングステン等のような重金属材料で製造され、偶には加工を容易にするために一定量の鋼を使用し、鉛を使用することが好ましい。また、シールド効果を増加するために、シールド装置7は、普通、輸送装置3と被検製品6を囲み、輸送装置3に沿って一定の距離まで延伸する。
また、電源及び制御装置4は更に、X線製品品質自動検出装置の動作状態を表示し、被検製品6の検出画像を表示し、検出分析結果を表示することに用いられ、また、命令の入力を制御し、ヒューマンマシンインターフェースを提供すること等に用いられる表示及び操作サブシステム45を備えても良い。
図5は電源及び制御装置4の構成図である。図5に示すように、電源及び制御装置4は、機能において電源サブシステム41、制御サブシステム42、画像構成サブシステム43、画像分析サブシステム44、及び表示及び操作システム45を含む。各サブシステムの機能と作用は、上記の通りであり、これらのサブシステムは、構造において図5に示すように結合され、それぞれ独立する部材であっても良く、本発明によって要求される機能と作用を実現すればよい。
なお、本発明におけるX線源1は、例えば、デュアルエネルギーのX線のように、複数種のエネルギーのX線源であっても良い。例えば、X線源1の異なるターゲットポイント位置に異なるターゲット材料を設置することで異なるエネルギーのX線を取得する。X線源のターゲット材料は、普通、タングステン、モリブデン、金、銅等を含み、異なる材料が異なる特徴スペクトルを有するため、異なるターゲット材料が同じ陽極電圧で生成されるX線は、異なる特徴ピークを有し、即ち異なるエネルギーのX線である。異なるX線生成周期(X線源が複数のターゲットポイントを有する場合、ターゲットポイントごとに1回X線を生成することを1つの周期として定義する)で陽極に異なる陽極高圧を印加して異なるエネルギーのX線を生成できる。例えば、物質材料識別等の機能の増加のように、マルチエネルギーのX線源を使用して、X線製品品質自動検出装置の画像品質を向上させる。
なお、本発明における検出器2は、デュアルエネルギー検出器群であっても良く、即ち、各位置点において、低エネルギーX線に敏感な低エネルギー検出器を含むだけでなく、高エネルギーX線に敏感な高エネルギー検出器も含む。X線源が1回X線を生成するたびに、検出器群は、同時に1つの高エネルギー画像と1つの低エネルギー画像とを取得でき、これにより多くの情報を取得でき、被検製品の最終検出画像品質を向上できる。
本願明細書の前記内容によれば、1つの具体的な実施例、即ち実施例1として、X線製品品質自動検出装置を提供でき、それは、複数のターゲットポイントから被検製品を照射するX線を所定の順番で生成できる、複数のターゲットポイントを有する分散型X線源と、前記分散型X線源により生成されるX線を受信することに用いられる検出器と、前記被検製品を搬送してX線照射領域を通過させる輸送装置と、前記X線製品品質自動検出装置に電力を供給して制御し、前記検出器からの信号に基づいて、前記被検製品の特徴情報を形成し、前記特徴情報に基づいて前記被検製品の検出分析結果を出力する電源及び制御装置と、を備える。
実施例1に係るX線製品品質自動検出装置によれば、生産現場で製品を柔軟に検出でき、例えば、検出現場を専門的に設定して本発明のX線製品品質自動検出装置を配置し、生産ラインからの製品を専門的な検出現場に搬送して検出し、作業者が製品の検出分析結果に基づいて現場で不合格製品を選別でき、それにより製品の後続処理を行い易い。また、X線製品品質自動検出装置は、ある生産ラインに固定接続されるのではないため、複数の生産ラインに共同で使用でき、それによって検出コストと検出場所を節約する。また、本発明のX線製品品質自動検出装置を同時に複数の生産ラインに接続でき、例えば、1つの集約装置で複数の生産ラインの端末を同時にX線製品品質自動検出装置に接続して、製品を検出現場に搬送する工程を省略できる。
また、本願に係るX線製品品質自動検出装置は更に、前記被検製品の搬送方向において前記分散型X線源と前記検出器の下流側に位置し、前記電源及び制御装置の制御で、前記検出器からの信号又は前記電源及び制御装置からの前記検出分析結果に基づいて前記被検製品を選別する選別装置を備えても良い。これにより、機械自動選別を実現し、人的選別の人件費を省略した。勿論、前記検出分析結果に対する人的判定と人的選別も本発明の保護範囲内に属する。
また、明細書の内容によれば、前記実施例1の構造に対して様々な組み合わせ又は変更を行うことができ、これらの変更後の技術的解決手段は、全て本発明の保護範囲内に属する。
上記のように、本発明の一つの実施形態を説明したが、これに限られず、本発明は更に、以下のような具体的な実施例、即ち実施例2であっても良い。
本実施例2は、X線による製品品質のオンライン検出装置であって、輸送装置3が実施例1の解決手段と異なる以外に、他の各部分の構造及び動作原理は実施例1と同じであり、即ち、当該実施例において、輸送装置3は分散型X線源1と検出器2の間に位置し、被検製品6を搬送してX線照射領域を通過させ、且つ被検製品6の生産ラインとマッチングする連続輸送構造として配置される。
本実施例2において、輸送装置3が被検製品6の生産ラインとマッチングする連続構造として配置されることとは以下のことを意味する:(A)輸送装置3の輸送能力が生産ラインの輸送能力とマッチングし、即ち、生産ラインに単位時間で生産される全ての被検製品6が単位時間で輸送装置3によって搬送されてX線製品品質オンライン検出装置を通過して検出が完了され、それによって特徴情報を取得し、製品が滞留されることがなく、(B)生産ラインから輸送装置3まで、輸送装置3から生産ラインまでの被検製品6の運動が連続するので、一時停止、待ち受け、途中搬送等のプロセスが必要ではない。具体的な実施形態は複数種であって、例えば、(1)輸送装置3自体が生産ラインの一部であり、(2)輸送装置3は生産ラインに挿入する一環であり、生産ラインと同じ幅及び運動速度を有し、(3)輸送装置3は生産ラインに挿入する一環であり、幅が生産ラインより大きく、速度が生産ラインより小さく、単位時間の製品輸送量が同じであり、(4)輸送装置3は生産ラインに挿入する一環であり、幅が生産ラインより小さく、速度が生産ラインより大きく、単位時間の製品輸送量が同じであり、(5)輸送装置3は生産ラインに挿入する一環であり、幅が生産ラインと同じであり、速度が生産ラインより大きく、製品の間隔が生産ラインにおける製品の間隔より大きく、単位時間の製品の輸送量が同じである。また、前記(1)〜(5)の実現形態以外に、他の形態も使用でき、生産ラインにおける製品の検出を完了すればよい。
作業者は、電源及び制御装置4により形成される被検製品6の特徴情報に基づいて、例えば製品が合格するか否か等のように、被検製品6を分析して判定する。また、電源及び制御装置4は更に、例えば信号の閾値比較、画像の差分比較等を行うことができ、例えば前記被検製品6の特徴情報に基づいて比較し分析して被検製品6の検出分析結果、例えば製品が合格するか否か等を自動的に与えることができる、特徴分析モジュールを含んでも良い。
作業者は、電源及び制御装置4により与えられる被検製品6の分析結果に基づいて、被検製品6を選別でき、例えば、不合格製品を選別すること等である。また、本実施例2のX線による製品品質のオンライン検出装置は更に、輸送装置3に取り付けられる又は実施例1と同じ形態で配置される選別装置5を備えても良く、選別装置5は電源及び制御装置4に制御され、電源及び制御装置4により与えられる被検製品6の分析結果に基づいて、例えば、ある特徴の製品の取り出し、押出し、分流のように、輸送装置3での被検製品6を自動的に選別する。ここで、選別装置5は、実施例1に記載の選別装置も使用できる。
また、本実施例2のX線製品品質オンライン検出装置は、実施例1と同じくシールド装置を備えても良く、且つ、分散型X線源、検出器等の構造配置等も実施例1と同じであっても良い。
本実施例2のX線製品品質オンライン検出装置によれば、製品に対するオンライン検出を実現でき、これにより、生産ラインから降りる時に選別を開始でき、又はオンライン検出を行った後に作業者が直接的に選別する。
また、明細書の内容によれば、前記実施例2の構造に対して様々な組み合わせ又は変更を行うことができ、これらの変更後の解決手段は、すべて本発明の保護範囲内に属する。
本願のX線製品品質検出装置によれば、工場ライン製品に対して全方向の検出を行うことができ、検出画像を自動的に分析でき、分析結果に基づいてライン製品を自動的に選別できる。本発明は、動作が柔軟であり、異なる製品に対する適応性が強く、検出が全面で死角なく、自動化程度が高く、工業生産の効率を大幅に向上させ、生産コストを低下できる。
また、本発明は、上記の説明に限られず、上記で説明されるX線製品品質検出装置に対して様々な組み合わせ及び変更を行うことができる。
上記のように、本発明を説明したが、これに限られず、本発明はその技術的思想範囲内で様々な変更を行うことができると理解すべきである。
1 X線源
2 検出器
3 輸送装置
4 電源及び制御装置
5 選別装置
6 被検製品
7 シールド装置
41 電源サブシステム
42 制御サブシステム
43 画像構成サブシステム
44 画像分析サブシステム
45 表示及び操作サブシステム

Claims (18)

  1. 複数のターゲットポイントから被検製品を照射するX線を所定の順番で生成できる、複数のターゲットポイントを有する分散型X線源と、
    前記分散型X線源によって生成されるX線を受信し、且つその受信されたX線の特徴を表す信号を出力するための検出器と、
    前記被検製品を搬送してX線照射領域を通過させる輸送装置と、
    X線製品品質自動検出装置に電力を供給してそれを制御し、前記検出器からの信号に基づいて前記被検製品の特徴情報を形成し、前記特徴情報に基づいて前記被検製品の検出分析結果を出力する、電源及び制御装置と、
    を備えることを特徴とする、X線製品品質自動検出装置。
  2. 更に、前記被検製品の搬送方向において前記分散型X線源と前記検出器の下流に位置し、前記電源及び制御装置の制御で、前記検出器からの信号に基づいて、前記被検製品を選別する選別装置を備えることを特徴とする請求項1に記載のX線製品品質自動検出装置。
  3. 更に、前記被検製品の搬送方向において前記分散型X線源と前記検出器の下流に位置し、前記電源及び制御装置の制御で、前記電源及び制御装置からの前記検出分析結果に基づいて、前記被検製品を選別する選別装置を備えることを特徴とする請求項1に記載のX線製品品質自動検出装置。
  4. 前記輸送装置は、工場製品ラインの一部であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のX線製品品質自動検出装置。
  5. 前記輸送装置は前記分散型X線源と前記検出器の間に位置し、且つ前記被検製品の生産ラインとマッチングする連続輸送構造になるように配置されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のX線製品品質自動検出装置。
  6. 前記輸送装置は工場標準生産ラインの中間に取り付けられ、前記被検製品は上流標準生産ラインから前記輸送装置まで輸送され、前記輸送装置は前記被検製品を搬送してX線照射領域を通過させた後、前記被検製品を下流標準生産ラインに輸送することを特徴とする請求項5に記載のX線製品品質自動検出装置。
  7. 前記電源及び制御装置は、前記検出器からの信号が予め設定された閾値範囲内であるか否かを判断し、前記閾値範囲内ではないと判断すれば、前記選別装置は前記被検製品を選別することを特徴とする請求項2に記載のX線製品品質自動検出装置。
  8. 前記選別装置は、前記電源及び制御装置からの前記検出分析結果で、前記被検製品の前記特徴情報と標準情報が一致しない場合、前記被検製品を選別することを特徴とする請求項3に記載のX線製品品質自動検出装置。
  9. 前記電源及び制御装置は更に、前記検出器からの信号を受信して、前記被検製品の前記特徴情報を表す多視角画像又は3次元立体画像を形成する画像構成サブシステムを備えることを特徴とする請求項1又は3に記載のX線製品品質自動検出装置。
  10. 前記電源及び制御装置は更に、
    所定のルールに従って前記画像構成サブシステムにより取得される検出画像と標準製品画像を比較して分析する画像分析サブシステムを備え、
    前記画像分析サブシステムの比較及び分析結果に基づいて前記被検製品を選別することを特徴とする請求項9に記載のX線製品品質自動検出装置。
  11. 前記電源及び制御装置は更に、前記X線製品品質自動検出装置の動作状態、前記被検製品の検出画像、前記検出分析結果の表示、及び制御命令の入力のうちの少なくとも1つに用いられる表示及び操作サブシステムを備えることを特徴とする請求項10に記載のX線製品品質自動検出装置。
  12. 更に、前記X線照射領域を囲んで、散乱されたX線をシールドするシールド装置を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のX線製品品質自動検出装置。
  13. 前記分散型X線源の前記複数のターゲットポイントの配列方式は、直線配列、折れ線配列、円弧線配列又はそれらの組み合わせであることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のX線製品品質自動検出装置。
  14. 前記分散型X線源の前記複数のターゲットポイントの配列方向は、前記被検製品の搬送方向と直交し、又は前記分散型X線源の前記複数のターゲットポイントが前記被検製品の搬送方向に沿って円弧状又は螺旋状で配列されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のX線製品品質自動検出装置。
  15. 前記検出器は、複数の検出ユニットを備えるフラットパネル検出器又は、1次元の線形アレイ又は2次元のマトリックスアレイに配列される複数の検出ユニットを備える検出器であって、複数の位置でX線を同時に受信できることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のX線製品品質自動検出装置。
  16. 前記分散型X線源から前記被検製品のいずれのポイントまでのX線の画角と前記ポイントから前記検出器までのX線の画角の和が180度より大きいことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のX線製品品質自動検出装置。
  17. 前記分散型X線源は、デュアルエネルギーX線源及び/又はデュアルエネルギー検出器であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のX線製品品質自動検出装置。
  18. 前記分散型X線源の複数の異なる位置の前記ターゲットポイントが順次でX線を放出する時間は、マイクロセカンドレベルであることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のX線製品品質自動検出装置。
JP2016546141A 2014-09-02 2015-08-27 X線製品品質自動検出装置 Expired - Fee Related JP6291068B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410442128.3A CN105372269B (zh) 2014-09-02 2014-09-02 X射线产品质量自动检测装置
CN201410442128.3 2014-09-02
PCT/CN2015/088258 WO2016034073A1 (zh) 2014-09-02 2015-08-27 X射线产品质量自动检测装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016536617A true JP2016536617A (ja) 2016-11-24
JP6291068B2 JP6291068B2 (ja) 2018-03-14

Family

ID=55374653

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016546141A Expired - Fee Related JP6291068B2 (ja) 2014-09-02 2015-08-27 X線製品品質自動検出装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10969346B2 (ja)
EP (1) EP3037809B1 (ja)
JP (1) JP6291068B2 (ja)
CN (1) CN105372269B (ja)
HK (1) HK1222451A1 (ja)
WO (1) WO2016034073A1 (ja)

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8908995B2 (en) 2009-01-12 2014-12-09 Intermec Ip Corp. Semi-automatic dimensioning with imager on a portable device
US9779546B2 (en) 2012-05-04 2017-10-03 Intermec Ip Corp. Volume dimensioning systems and methods
US10007858B2 (en) 2012-05-15 2018-06-26 Honeywell International Inc. Terminals and methods for dimensioning objects
US10321127B2 (en) 2012-08-20 2019-06-11 Intermec Ip Corp. Volume dimensioning system calibration systems and methods
US20140104413A1 (en) 2012-10-16 2014-04-17 Hand Held Products, Inc. Integrated dimensioning and weighing system
US10228452B2 (en) 2013-06-07 2019-03-12 Hand Held Products, Inc. Method of error correction for 3D imaging device
US9823059B2 (en) 2014-08-06 2017-11-21 Hand Held Products, Inc. Dimensioning system with guided alignment
US10775165B2 (en) 2014-10-10 2020-09-15 Hand Held Products, Inc. Methods for improving the accuracy of dimensioning-system measurements
US10810715B2 (en) 2014-10-10 2020-10-20 Hand Held Products, Inc System and method for picking validation
US9779276B2 (en) 2014-10-10 2017-10-03 Hand Held Products, Inc. Depth sensor based auto-focus system for an indicia scanner
US9897434B2 (en) 2014-10-21 2018-02-20 Hand Held Products, Inc. Handheld dimensioning system with measurement-conformance feedback
US9752864B2 (en) 2014-10-21 2017-09-05 Hand Held Products, Inc. Handheld dimensioning system with feedback
US10060729B2 (en) 2014-10-21 2018-08-28 Hand Held Products, Inc. Handheld dimensioner with data-quality indication
US9786101B2 (en) 2015-05-19 2017-10-10 Hand Held Products, Inc. Evaluating image values
US10066982B2 (en) 2015-06-16 2018-09-04 Hand Held Products, Inc. Calibrating a volume dimensioner
US20160377414A1 (en) 2015-06-23 2016-12-29 Hand Held Products, Inc. Optical pattern projector
US9835486B2 (en) 2015-07-07 2017-12-05 Hand Held Products, Inc. Mobile dimensioner apparatus for use in commerce
EP3396313B1 (en) 2015-07-15 2020-10-21 Hand Held Products, Inc. Mobile dimensioning method and device with dynamic accuracy compatible with nist standard
US10094650B2 (en) 2015-07-16 2018-10-09 Hand Held Products, Inc. Dimensioning and imaging items
US20170017301A1 (en) 2015-07-16 2017-01-19 Hand Held Products, Inc. Adjusting dimensioning results using augmented reality
US10249030B2 (en) 2015-10-30 2019-04-02 Hand Held Products, Inc. Image transformation for indicia reading
US10225544B2 (en) 2015-11-19 2019-03-05 Hand Held Products, Inc. High resolution dot pattern
US10025314B2 (en) 2016-01-27 2018-07-17 Hand Held Products, Inc. Vehicle positioning and object avoidance
US10339352B2 (en) 2016-06-03 2019-07-02 Hand Held Products, Inc. Wearable metrological apparatus
US9940721B2 (en) 2016-06-10 2018-04-10 Hand Held Products, Inc. Scene change detection in a dimensioner
US10163216B2 (en) 2016-06-15 2018-12-25 Hand Held Products, Inc. Automatic mode switching in a volume dimensioner
US10909708B2 (en) 2016-12-09 2021-02-02 Hand Held Products, Inc. Calibrating a dimensioner using ratios of measurable parameters of optic ally-perceptible geometric elements
CN106841245A (zh) * 2017-03-08 2017-06-13 肇庆市嘉仪仪器有限公司 全自动x光检测仪及其检测方法
CN106944359B (zh) * 2017-04-01 2022-10-21 温州大学 一种可自动定位分拣的x射线自动检测系统
US10733748B2 (en) 2017-07-24 2020-08-04 Hand Held Products, Inc. Dual-pattern optical 3D dimensioning
WO2019100119A1 (en) * 2017-11-23 2019-05-31 Mickelbobs BBC Patents Pty Ltd Helmet testing
CN107855284B (zh) * 2017-12-06 2024-06-18 北京极智嘉科技股份有限公司 带有安检功能的物品分拣系统及方法
CN108008016A (zh) * 2018-01-03 2018-05-08 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 基于x射线与超声联合检测的电力电缆及接头无损检测系统及方法
US10584962B2 (en) 2018-05-01 2020-03-10 Hand Held Products, Inc System and method for validating physical-item security
CN108709896A (zh) * 2018-08-10 2018-10-26 孔玉 一种用于检测玻璃面板内部缺陷的检测设备
US11639846B2 (en) 2019-09-27 2023-05-02 Honeywell International Inc. Dual-pattern optical 3D dimensioning
CN110987984A (zh) * 2019-12-26 2020-04-10 广东正业科技股份有限公司 一种检测系统及其检测方法
CN111346839A (zh) * 2020-03-12 2020-06-30 江苏警官学院 一种危险物品的x射线检测装置
CN114923935A (zh) * 2022-04-02 2022-08-19 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 在线3d扫描系统及在线3d扫描方法
CN116297569B (zh) * 2023-04-28 2023-09-05 杭州睿影科技有限公司 一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000241368A (ja) * 1999-02-23 2000-09-08 Stabic:Kk X線検査装置
JP2003107015A (ja) * 2001-09-28 2003-04-09 Anritsu Corp X線異物検出装置
JP2010181424A (ja) * 2006-08-11 2010-08-19 American Science & Engineering Inc 同時かつ近位の透過イメージングおよび後方散乱イメージングによるx線検査
JP2011017694A (ja) * 2009-06-08 2011-01-27 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2011196837A (ja) * 2010-03-19 2011-10-06 Yokogawa Electric Corp X線測定装置
US20140185754A1 (en) * 2012-12-31 2014-07-03 Tsinghua University Goods inspection apparatus using distributed x-ray source
JP2014521964A (ja) * 2011-08-01 2014-08-28 クロメック リミテッド 物質の検出および/または分類

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3958078A (en) * 1974-08-30 1976-05-18 Ithaco, Inc. X-ray inspection method and apparatus
US6449334B1 (en) * 2000-09-29 2002-09-10 Lunar Corporation Industrial inspection method and apparatus using dual energy x-ray attenuation
US6735271B1 (en) * 2000-11-28 2004-05-11 Ge Medical Systems Global Technology Company Llc Electron beam computed tomographic scanner system with helical or tilted target, collimator, and detector components to eliminate cone beam error and to scan continuously moving objects
US8223919B2 (en) * 2003-04-25 2012-07-17 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items
US7142629B2 (en) * 2004-03-31 2006-11-28 General Electric Company Stationary computed tomography system and method
US8688267B2 (en) * 2004-12-30 2014-04-01 John Bean Technologies Corporation Classifying workpieces to be portioned into various end products to optimally meet overall production goals
CN101951837B (zh) 2008-02-22 2013-02-13 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于采用分布式源进行x射线成像的高分辨率准静态设置
WO2009115982A1 (en) 2008-03-21 2009-09-24 Koninklijke Philips Electronics N.V. Computed tomography scanner apparatus and method for ct-based image acquisition based on spatially distributed x-ray microsources of the cone-beam type
US7742563B2 (en) * 2008-09-10 2010-06-22 Morpho Detection, Inc. X-ray source and detector configuration for a non-translational x-ray diffraction system
EP2278305B1 (de) * 2009-07-24 2018-06-27 GE Sensing & Inspection Technologies GmbH Vorrichtung zur automatisierten Prüfung und/oder Vermessung einer Vielzahl im Wesentlichen identischer Bauteile mittels Röntgenstrahlung
EP2526410B1 (en) * 2010-01-19 2021-10-20 Rapiscan Systems, Inc. Multi-view cargo scanner
US8447013B2 (en) * 2010-03-22 2013-05-21 Xinray Systems Inc Multibeam x-ray source with intelligent electronic control systems and related methods
US9452735B2 (en) * 2011-02-10 2016-09-27 Ford Global Technologies, Llc System and method for controlling a restricted mode in a vehicle
US10068740B2 (en) * 2012-05-14 2018-09-04 The General Hospital Corporation Distributed, field emission-based X-ray source for phase contrast imaging
CN104768467A (zh) * 2012-08-17 2015-07-08 北卡罗来纳大学教堂山分校 具有分布式x射线源阵列的固定台架计算机断层扫描系统和方法
CN103760180B (zh) * 2014-01-27 2016-09-07 东南大学 基于x射线源阵列的实时在线工业ct检测系统
CN204359712U (zh) * 2014-09-02 2015-05-27 同方威视技术股份有限公司 X射线产品质量自动检测装置
CN204359711U (zh) * 2014-09-02 2015-05-27 同方威视技术股份有限公司 X射线产品质量在线检测装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000241368A (ja) * 1999-02-23 2000-09-08 Stabic:Kk X線検査装置
JP2003107015A (ja) * 2001-09-28 2003-04-09 Anritsu Corp X線異物検出装置
JP2010181424A (ja) * 2006-08-11 2010-08-19 American Science & Engineering Inc 同時かつ近位の透過イメージングおよび後方散乱イメージングによるx線検査
JP2011017694A (ja) * 2009-06-08 2011-01-27 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2011196837A (ja) * 2010-03-19 2011-10-06 Yokogawa Electric Corp X線測定装置
JP2014521964A (ja) * 2011-08-01 2014-08-28 クロメック リミテッド 物質の検出および/または分類
US20140185754A1 (en) * 2012-12-31 2014-07-03 Tsinghua University Goods inspection apparatus using distributed x-ray source

Also Published As

Publication number Publication date
US20160223474A1 (en) 2016-08-04
EP3037809A4 (en) 2017-03-15
CN105372269A (zh) 2016-03-02
EP3037809A1 (en) 2016-06-29
WO2016034073A1 (zh) 2016-03-10
JP6291068B2 (ja) 2018-03-14
CN105372269B (zh) 2019-01-15
US10969346B2 (en) 2021-04-06
EP3037809B1 (en) 2022-03-23
HK1222451A1 (zh) 2017-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6291068B2 (ja) X線製品品質自動検出装置
JP6291586B2 (ja) X線製品品質オンライン検出装置
CN204359711U (zh) X射线产品质量在线检测装置
GB2453642A (en) Security inspection of liquid articles with dual energy CT imaging
KR20110047142A (ko) 전자선 살균 장치
CN204359712U (zh) X射线产品质量自动检测装置
KR102014050B1 (ko) 2차 전지 검사 장치 및 검사 방법
JP3715524B2 (ja) X線異物検出装置
EP2989451B1 (de) Ct-röntgenprüfanlage, insbesondere zur inspektion von objekten
US11358179B2 (en) Apparatus and method for sorting
WO2011080295A1 (en) Detection of an anomaly in a biological material
JP2016114417A (ja) X線検査装置
JP6708857B2 (ja) X線検査装置
JP2002243665A (ja) X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法
JP2019132599A (ja) 搬送物の応力測定装置
JP7140656B2 (ja) X線・中性子ハイブリッド撮像装置
JP6457854B2 (ja) X線検査装置
JP2009080030A (ja) X線検査装置
Connolly X‐ray systems for security and industrial inspection
KR20180065928A (ko) 엑스선 검사 장치
JP5917977B2 (ja) X線検査装置
JP2020020593A (ja) 放射線検査装置及び放射線検査方法
JP6431873B2 (ja) X線検査装置
KR102668991B1 (ko) 개선된 방식의 3d 영상 획득장치
Kayralapov et al. Betatron radiography and tomography of steel castings with large thickness

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161101

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170117

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170613

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180130

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180208

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6291068

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees