JP2016527714A - 発光デバイス及びその製造方法 - Google Patents

発光デバイス及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2016527714A
JP2016527714A JP2016522179A JP2016522179A JP2016527714A JP 2016527714 A JP2016527714 A JP 2016527714A JP 2016522179 A JP2016522179 A JP 2016522179A JP 2016522179 A JP2016522179 A JP 2016522179A JP 2016527714 A JP2016527714 A JP 2016527714A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor
substrate
manufacturing
emitting device
block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016522179A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6131388B2 (ja
Inventor
建富 黄
建富 黄
耀▲寧▼ ▲ちゃん▼
耀▲寧▼ ▲ちゃん▼
子杰 徐
子杰 徐
怡名 ▲陳▼
怡名 ▲陳▼
新智 邱
新智 邱
志▲強▼ 呂
志▲強▼ 呂
嘉良 ▲許▼
嘉良 ▲許▼
峻▲賢▼ ▲張▼
峻▲賢▼ ▲張▼
Original Assignee
晶元光▲電▼股▲ふん▼有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 晶元光▲電▼股▲ふん▼有限公司 filed Critical 晶元光▲電▼股▲ふん▼有限公司
Publication of JP2016527714A publication Critical patent/JP2016527714A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6131388B2 publication Critical patent/JP6131388B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0095Post-treatment of devices, e.g. annealing, recrystallisation or short-circuit elimination
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0093Wafer bonding; Removal of the growth substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12041LED
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0016Processes relating to electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/0066Processes relating to semiconductor body packages relating to arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/385Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending at least partially onto a side surface of the semiconductor body

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

発光デバイスの製造方法は、第一基板(201)及び第一基板(201)の上の複数の半導体積層ブロック(202、231−235)を提供するステップであって、複数の半導体積層ブロック(202、231−235)はそれぞれ第一極性半導体層(202a)、第一極性半導体層(202a)の上に位置する発光層(202b)、発光層(202b)の上に位置する第二極性半導体層(202c)を含み、第一基板(201)の上にさらに隣接する2つの半導体積層ブロック(202、231−235)を仕切る仕切りチャンネルがあり、かつ仕切りチャンネルの幅が10μm未満であるステップと、複数の半導体積層ブロック(202、231−235)の中の第一半導体積層ブロック(232、234)と第一基板(201)とを分離させ、かつ第二半導体積層ブロック(231、233)を第一基板(201)に残す第一分離ステップとを含む。

Description

本発明は発光デバイス及びその製造方法に関する。特に、半導体積層の利用を拡大する発光デバイス及びその製造方法に関する。
発光ダイオード(Light−Emitting Diode:LED)は、エネルギー消費が低く、操作寿命が長く、防震、体積が小さく、反応速度が速く、及び出力する光波長が安定的であるなどの特性を有するため、各種の照明用途に適用されている。図1が示すように、従来の発光ダイオードチップ製作方法は、基板101の上に発光積層(図示せず)を形成した後、切断チャンネル103v、103hを形成して複数の発光ダイオードチップ102に切断する。しかし、従来の複数の発光ダイオードチップ102の分割にレーザ光切断を用いることが多く、レーザ光のビームサイズ(beam size)に制限され、かつ切断時に副産物(byproduct)が生成し易く、漏電を引き起こすことがあるため、設計上の切断チャンネル103v、103hの幅Dを少なくとも20μm以上にする必要がある。もしこの切断チャンネル103v、103hの面積を省くことができれば、発光積層の面積を約25%増加させることができる。
以上の問題に鑑み、本発明は半導体積層の利用を拡大する発光デバイス及びその製造方法を提供する。
本発明が開示する発光デバイスの製造方法は、第一基板及び前記第一基板の上の複数の半導体積層ブロックを提供するステップであって、前記複数の半導体積層ブロックはそれぞれ第一極性半導体層、前記第一極性半導体層の上に位置する発光層、前記発光層の上に位置する第二極性半導体層を含み、前記第一基板の上にさらに、隣接する2つの半導体積層ブロックを仕切る仕切りチャンネルがあり、かつ前記仕切りチャンネルの幅が10μm未満であるステップと、前記複数の半導体積層ブロックの中の第一半導体積層ブロックと前記第一基板とを分離させ、かつ第二半導体積層ブロックを前記第一基板に残す第一分離ステップとを含む。
従来の製作方法による発光ダイオードチップの基板を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法に用いる分離方法の実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法に用いる分離方法の実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法に用いる分離方法の実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法に用いる分離方法の実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法に用いる分離方法の実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第一実施例の中間ステップを示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第一実施例を示す図である(並列の場合)。 本発明の発光デバイスの製造方法の第一実施例を示す図である(並列の場合)。 本発明の発光デバイスの製造方法の第一実施例を示す図である(直列の場合)。 本発明の発光デバイスの製造方法の第二実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第二実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第三実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第三実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第四実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第四実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第四実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第四実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第四実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第四実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第四実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第五実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第五実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第五実施例を示す図である。 本発明の発光デバイスの製造方法の第五実施例を示す図である。
101 基板
102 発光ダイオードチップ
103v、103h 切断チャンネル
D 切断チャンネルの幅
201 第一基板
202 半導体積層
202a 第一極性半導体層
202b 発光層
202c 第二極性半導体層
211 第一犠牲層
212 仕切りチャンネル
221 第二基板
231、232、233、234及び235 半導体積層ブロック
d 仕切りチャンネルの幅
231e1 第一電極
231e2 第二電極
240 誘電層
241 レーザ光
301 第一基板
302 半導体積層
331、333 半導体積層ブロック
331e1、333e1及び335e1 第一電極
331e2、333e2及び335e2 第二電極
340 誘電層
361 デバイス基板
361TE1、361TE2 穿孔電極
361E1、361E2 パターン化金属層
361S1、361S2、361S3及び361S4 パターン化金属層
602 半導体積層
602a 第一極性半導体層
602b 発光層
602c 第二極性半導体層
611 第一犠牲層
621、621’ 第二基板
621T1、621T1’ 第一穿孔
621T2、621T2’ 第二穿孔
622TE1、622TE1’ 第一穿孔電極
622TE2、622TE2’ 第二穿孔電極
631E1、631E1’ 第一導電接続線
631E2、631E2’ 第二導電接続線
632 半導体積層ブロック
640 絶縁層
641、641’ 透明パッケージ材料
701 第一基板
702 半導体積層
702a 第一極性半導体層
702b 発光層
702c 第二極性半導体層
711 第一犠牲層
721 第二基板
721T 穿孔
721TE 第一穿孔電極
722EE及び722E 電極
731、732、733及び734 半導体積層ブロック
791、792 導電酸化層
793 反射金属層
794 オーム接触金属層
795 絶縁層
図2Aないし2Eは本発明の発光デバイスの製造方法に用いる分離方法の実施例を示す図である。図3ないし図5は本発明の発光デバイスの製造方法の第一実施例を示す図であり、そのうち図3Aないし3F及び図4は複数の半導体積層ブロックが並列に形成された発光デバイスを示し、図5は複数の半導体積層ブロックが直列に形成された発光デバイスを示している。
図2Aにおいて、第一基板201の上に半導体積層202が形成され、この半導体積層202は第一極性半導体層202a、第一極性半導体層202aの上に位置する発光層202b、及び発光層202bの上に位置する第二極性半導体層202cを含む。第一極性半導体層202aと第二極性半導体層202cとは極性が異なり、例えば、第一極性半導体層202aはn型半導体層であり、第二極性半導体層202cはp型半導体層である。第一極性半導体層202a、発光層202b及び第二極性半導体層202cは第III−V族の材料によって形成され、例えば、アルミニウムガリウムインジウムリン(AlGaInP)系の材料又は窒化アルミニウムガリウムインジウム(AlGaInN)系の材料である。図2Bにおいてパターン化ステップが実施され、幅dの仕切りチャンネル212を形成して、半導体積層202を複数の半導体積層ブロック231、232、233、234及び235にパターン化する。即ち、隣接する二つの半導体積層ブロックは仕切りチャンネル212によって仕切られている。なお、半導体積層202の利用面積を増やすために、仕切りチャンネルの幅dをなるべく縮小させ、例えば、20μm未満であることが好ましく、10μm未満であることがより好ましい。一実施例において、仕切りチャンネルの幅dが5μm未満である。前記パターン化とは、一般的にフォトレジストの被覆及び露光現像の後にエッチングを行う工程を意味する。しかし、パターン化方法はこれらに限らず、その他の方法、例えばレーザ光を用いて半導体積層202を直接に切断する実施例も含まれる。さらに、前記複数の半導体積層ブロックは、パターン化された後それぞれ上面形状を有し、かつこお上面形状は菱形、正方形、長方形、三角形又は円形であってもよい。注意すべきなのは、前記半導体積層202が第一基板201上に成長し、即ち、第一基板201が半導体積層の成長基板であってもよい。また、半導体積層202を別の成長基板に形成した後、移転技術により半導体積層を第一基板201上に移転させてもよい。この場合、半導体積層202と第一基板201との間に接着層(図示せず)を含んでもよい。移転技術は当業者に周知されているため、ここで省略する。また、別の実施例において、半導体積層202を別の成長基板に形成し、かつパターン化により前記複数の半導体積層ブロック231、232、233、234及び235にした後、移転技術によりこれら半導体積層ブロック231、232、233、234及び235を第一基板201上に移転させて、図2Bの形にしてもよい。この場合も同じく、半導体積層ブロック231、232、233、234及び235と第一基板201との間に接着層(図示せず)を含んでもよい。次に、分離ステップを実行し易くするために、移動させようとする半導体積層ブロックの上に第一犠牲層211を形成する。本実施例において、移動させようとする半導体積層ブロックは半導体積層ブロック232及び234である。この第一犠牲層211を形成する時、まず、第一基板201の上に全体にわたって第一犠牲層211の材料を形成し、その後、黄色光及びエッチング工程を用いて、移動させようとする半導体積層ブロック232及び234の上の該第一犠牲層211を選択的に残してもよい。なお、当業者であれば、製造工程の順番として、先に移動させようとする半導体積層ブロック232及び234の位置の上に該第一犠牲層211を形成し、その後に黄色光及びエッチング工程により前記の半導体積層202を複数の半導体積層ブロック231、232、233、234及び235をパターン化するステップを完成させてもよいことを理解すべきである。第一犠牲層211の材料に導電材料又は非導電材料を用いることができる。導電材料は、例えば金属酸化物、金属又は合金である。なお、金属酸化物として例えば酸化インジウムスズ(ITO)、酸化インジウム(InO)、酸化スズ(SnO)、カドミウムスズ酸化物(CTO)、アンチモンスズ酸化物(ATO)、酸化亜鉛(ZnO)があり、金属として例えばアルミニウム、金、プラチナ、亜鉛、銀、ニッケル、ゲルマニウム、インジウム、スズ、チタン、鉛、銅、パラジウムがあり、合金として例えば前記金属の合金がある。非導電材料は、例えば高分子材料、酸化物又は窒化物(SiNx)である。なお、高分子材料として例えばBCB、Epoxyなどの高分子材料があり、酸化物として例えば酸化ケイ素(SiO)及び酸化アルミニウム(Al)があり、窒化物として例えば窒化ケイ素(SiNx)がある。前記第一犠牲層211の材料の選択は、当業者が次の工程及び製品に導電が必要か否か及び光透過が必要か否かに基づいて選択することができる。図2Cにおいて分離ステップを実行し、該分離ステップは第二基板221を提供し、かつ第二基板221と第一犠牲層211を接合させることを含む。第二基板221は透明基板又は不透明基板であってもよい。透明基板として例えばガラス、サファイア(Al)、CVDダイヤモンドがあり、不透明基板としえ例えばケイ素(Si)基板、窒化アルミニウム(AlN)、セラミックス基板がある。前記第二基板221の材料の選択は、当業者が次の工程及び製品に光透過が必要か否か、及び導電が必要か否かに基づいて選択することができる。そして、図2Dが示すように、半導体積層ブロック232及び234を第一基板201から分離させる。前記ステップを実行する時、半導体積層ブロック232及び234を第一基板201から分離し易くするため、移動させようとする半導体積層ブロック232及び234と第一基板201と界面にレーザ光241を照射してもよい。また、前記のように、半導体積層202を別の成長基板に形成した後、移転技術によって第一基板201上に移転させてもよい。この場合、半導体積層202を第一基板201に移転させる時、移動させようとする半導体積層ブロック232及び234の位置の上に、先に第一基板201との間の犠牲層(図示せず)を選択的に形成してもよい。この犠牲層として比較的に弱い材料、又は第一基板201との接合力が弱い材料を選択することにより、移動させようとする半導体積層ブロック232及び234を第一基板201から分離させる時に、移動させようとする半導体積層ブロック232及び234を第一基板201から分離し易くすることができる。
図2Eは、分離ステップを実施した後、半導体積層ブロック232及び234が第一基板201から分離され、第一基板201に半導体積層ブロック231、233及び235が保留されている場合を示している。注意すべきなのは、第二基板221及びその上の半導体積層ブロック232及び234、又は第一基板201及びその上の半導体積層ブロック231、233及び235は、両者のいずれも以下に述べる本発明の発光デバイスの製造方法の実施例に用いることができる。
図2Fを参照しながら、前記図2Aないし2Eが示す分離方法の続きとして、第一基板201及びその上の半導体積層ブロック231、233及び235を例に、本発明の発光デバイスの製造方法の第一実施例を説明する。その製造方法においてさらに、半導体積層ブロック231及び233の上に、半導体積層ブロック231及び233の第一極性半導体層202aに対応して電気的に接続される第一電極231e1をそれぞれ形成し、かつ、半導体積層ブロック231及び233の上に、半導体積層ブロック231及び233の第二極性半導体層202cに対応して電気的に接続される第一電極231e2をそれぞれ形成する。その形成方法として、まず、半導体積層ブロック231及び233などに対しエッチン処理を行って、各半導体積層ブロックの一部をその第一極性半導体層202aまで露出させてもよい。その後、第一基板201の上に誘電層240を形成し、パターン化によって第一電極231e1及び第二電極231e2の位置を誘電層240において定義し、最後に前記複数の第一電極231e1及び複数の第二電極231e2を形成する。その形成方法として、例えば、金属蒸着また電気メッキにより、金属材料を誘電層240における第一電極231e1及び第二電極231e2の位置に充填させた後、化学研磨(CMP)により、誘電層240上の余分な金属材料を除去する。
図3Aないし3Cのデバイスは、構造及び材料などが図2Fのものと同一又は類似するため、これら同一又は類似するデバイスの最初の番号を「2」から「3」に変えたのみである。図3Aが示すように、上に半導体積層302を有する第一基板301を提供する。図3Bが示すように、半導体積層302が前記分離方法を経て、第一基板301の上に半導体積層ブロック331、333及び335などの半導体積層ブロックが残される。ここでも注意すべきなのは、説明の便宜上、以下は半導体積層ブロック331及び333のみを中心に説明を行う。図3Cは前記図2Fと同じような結果を示しており、誘電層340及び複数の第一電極331e1及び複数の第二電極331e2が形成されている。
図3Dないし3Fは、本実施例のデバイス基板の製造方法を示している。該デバイス基板は前記図3Cの第一基板301と接合され、本実施例の最終結果である発光デバイスを形成する。図3Dが示すように、デバイス基板361を提供し、続いて図3Eが示すように、デバイス基板361において二つの穿孔電極361TE1及び361TE2を形成し、それぞれの穿孔電極が穿孔及びその中に充填された導電物質から構成される。この二つの穿孔電極361TE1及び361TE2は、外部電源の入力を本発明が開示した発光デバイスに提供する。図3Fが示すように、デバイス基板361の上にパターン化金属層361E1及び361E2を形成し、パターン化金属層361E1及び361E2は二つの穿孔電極361TE1及び361TE2にそれぞれ電気的に接続され、本実施例の複数の半導体積層ブロックの並列接続を構成する。別の実施例において、パターン化金属層361E1及び361E2と二つの穿孔電極361TE1及び361TE2は同じ導電物質によって構成され、即ち、パターン化金属層361E1及び361E2を形成する導電物質は、当時に二つの穿孔電極361TE1及び361TE2の穿孔に充填される。
図4は本実施例の複数の半導体積層ブロックが並列された発光デバイスの製造方法を示しており、図3C及び図3Fに続くものである。図4において、(a)は前記図3Cの第一基板301を示し、(b)はそれを180度回転させた場合を示しており、(c)は前記図3Fのデバイス基板361を示し、(d)は(b)の第一基板301と(c)のデバイス基板361とを位置わせて接合させ、本実施例の最終結果である発光デバイスを形成した場合を示している。図4の(d)の上の部分にはその一部を拡大した図が示されている。拡大部分が示すように、前記の位置合わせ接合により、パターン化金属層361E1と半導体積層ブロック331及び333の第一電極331e1とが接合され、かつ金属層361E2と半導体積層ブロック331及び333の第二電極331e2とが接合されるため、半導体積層ブロック331及び半導体積層ブロック333などの複数の半導体積層ブロックが並列接続を構成する。
図5は本実施例の複数の半導体積層ブロックが直列された発光デバイスの製造方法を示しており、同じく図3C及び図3Fに基づくものである。図5において、(a)は前記図3Cの第一基板301を示し、(b)はそれを180度回転させた場合を示しており、(c)はデバイス基板361を示し、その上にパターン化金属層361S1、361S2、361S3及び361S4があり、二つの穿孔電極361TE1及び361TE2はデバイス基板361の中に設けられ、かつそれぞれパターン化金属層361S1及び361S2の下方に位置し、外部電源の入力を本発明が開示した発光デバイスに提供する。最後に、図4の(d)が示すように、(b)の第一基板301と(c)のデバイス基板361とを位置合わせて接合させ、本実施例の発光デバイスを形成する。(d)の下方にはその一部を拡大した図が示されており、拡大部分が示すように、前記位置合わせ接合により、パターン化金属層361S1、361S2、361S3及び361S4と半導体積層ブロック331及び333などの複数の半導体積層ブロックの第一電極331e1及び第二電極331e2とが接合されるため、半導体積層ブロック331及び半導体積層ブロック333などの複数の半導体積層ブロックが直列接続を構成する。
前記第一実施例の説明は図2Fに基づき、図2Eの第一基板201とその上の半導体積層ブロック231及び233を例示したが、図2Eの記載で言及したように、第二基板221とその上の半導体積層ブロック232及び234を本発明の発光デバイスの製造方法の実施例に用いることもできる。従って、当業者は以上の説明に基づき、第二基板221とその上の半導体積層ブロック232及び234を用いて、前記第一実施例と同一又は類似する発光デバイスの製造を実施可能であり、その詳細を省略する。
図6Aないし図6Dは本発明の発光デバイスの製造方法の第二及び第三実施例を示すものである。ここで、図6A及び6Bの第二実施例は、図2Eの第二基板221を本実施例の発光デバイスのデバイス基板として用いた場合の製造方法を示しており、図6C及び図6Dの第三実施例は、発光デバイスのデバイス基板としてその他の基板を用いた時の製造方法を示している。
図6Aに図2Eの第二基板221及びその上の半導体積層ブロック232を例示されているが、注意すべきなのは、図6Aにおける図2Eと同一のデバイスについて、その最初の番号を「2」から「6」に変えたのみであり、デバイスの構造及び材料などは図2Eが示すものと同一また類似する。しかし、図2Eと異なるのは、本実施例が開示する第二基板621は第一穿孔電極622TE1及び第二穿孔電極622TE2をさらに含み、かつ、第一穿孔電極622TE1は第二基板621が有する第一穿孔621T1及びその中に充填された第一導電物質によって構成され、第二穿孔電極622TE2は第二基板621が有する第二穿孔621T2及びその中に充填された第二導電物質によって構成されている。一実施例において、第一導電物質と第二導電物質は同一材料である。続いて、位置合わせ接続工程を行い、図6Aの半導体積層ブロック632と第二基板621とを接合させ、半導体積層ブロック632を第二基板621の第一穿孔電極622TE1及び第二穿孔電極622TE2との間に位置させる。そして、半導体積層ブロック632に対しエッチング工程を実施し、半導体積層ブロック632の一部をその第二極性半導体層602cまで露出させる。続いて、図6Bが示すように、半導体積層ブロック632の側壁に絶縁層640を形成し、後に形成される第一導電接続線631E1と半導体積層ブロック632との間を電気的に絶縁させる。そして、第一導電接続線631E1及び第二導電接続線631E2を形成し、第一導電接続線631E1は半導体積層ブロック632中の第一極性半導体層602a及び第一穿孔電極622TE1を電気的に接続させ、第二導電接続線631E2は半導体積層ブロック632中の第二極性半導体層602c及び第二穿孔電極622TE2を電気的に接続させる。最後に、第二基板621の上に、半導体積層ブロック632、第一導電接続線631E1及び第二導電接続線631E2を被覆するように透明パッケージ材料641を形成する。このように、本発明の第二実施例の発光デバイスを完成し、第一穿孔電極622TE1及び第二穿孔電極622TE2は、外部電源の入力を本発明が開示した発光デバイスに提供する。
図6C及び図6Dは、発光デバイスのデバイス基板としてその他の基板を用いた時の製造方法を示している。図6Cは、第二基板221とその上の半導体積層ブロック232及び半導体積層ブロック234を例示している。本実施例では同時に複数の半導体積層ブロック、例えば半導体積層ブロック232及び半導体積層ブロック234を用いて複数の発光デバイスを形成する実施方法を例示しているため、図の中に二つの半導体積層ブロック232及び234が示されているが、実施時に単一の半導体積層ブロック232(又は半導体積層ブロック234)のみに対し実施してもよい。第二基板221の上に、前記分離ステップを経て第一基板201から分離された半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)が接合されている。本実施例において、発光デバイスのデバイス基板としてその他の基板を用いた場合の製造方法を例示しているため、第二基板221は機能的には仮の基板であり、実施方法はデバイス基板621’を提供することを含み、該デバイス基板621’は第一穿孔電極622TE1’及び第二穿孔電極622TE2’を有する(注意すべきなのは、本実施例には、同時に複数の半導体積層ブロック、例えば半導体積層ブロック232及び半導体積層ブロック234を用いて複数の発光デバイスを形成する実施方法も含まれるため、図に中に二組の第一穿孔電極622TE1’及び第二穿孔電極622TE2’が示されており、それぞれ半導体積層ブロック232及び半導体積層ブロック234に使用される)。ここで、第一穿孔電極622TE1’はデバイス基板621’が有する第一穿孔621T1’及びその中に充填された第一導電物質によって構成され、第二穿孔電極622TE2’はデバイス基板621’が有する第二穿孔621T2’及びその中に充填された第二導電物質によって構成されている。一実施例において、第一導電物質と第二導電物質が同一材料である。続いて、位置合わせ接合を実施し、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)とデバイス基板621’を接合させ、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)をデバイス基板621’の第一穿孔電極622TE1’及び第二穿孔電極622TE2’の間に位置させる。そして、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)を第二基板221から分離させる。前記と同じく、このステップを実施する時に、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)と第一犠牲層211が分離を助けるために、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)と第一犠牲層211との界面にレーザ光を照射してもよい(図示せず)。
続いて、図6Dが示すように、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)に対しエッチング工程を実施し、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)の一部分をその第一極性半導体層202aまで露出させる。そして、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)の側壁に絶縁層640を形成し、次に形成される第二導電接続線631E2’と半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)との間を電気的に絶縁させる。そして、第一導電接続線631E1’及び第二導電接続線631E2’を形成し、第一導電接続線631E1’は半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)中の第一極性半導体層202a及び第一穿孔電極622TE1’を電気的に接続させ、第二導電接続線631E2’は半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)中の第二極性半導体層202c及び第二穿孔電極622TE2’を電気的に接続させる。最後に、デバイス基板621’の上に、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)、第一導電接続線631E1’及び第二導電接続線631E2’を被覆するように透明パッケージ材料641’を形成する。このように、本発明の第三実施例の発光デバイスを完成させ、第一穿孔電極622TE1’及び第二穿孔電極622TE2’は外部電源の入力を本発明が開示した発光デバイスに提供する。実施方法が半導体積層ブロック232及び半導体積層ブロック234に対し同時に実施される場合、さらに、図面に示されたLL’線にそって切断し、複数の発光デバイスを得る。
前記第二及び第三実施例の説明において、図2E中の第二基板221とその上の半導体積層ブロック232及び/又は半導体積層ブロック234を例示したが、図2Eで述べたように、第一基板201とその上の半導体積層ブロック231及び233を本発明の発光デバイスの製造方法の実施例に用いることもできる。従って、当業者であれば、前記説明に基づき、第一基板201とその上の半導体積層ブロック231及び233を用いて、前記第一実施例と同一又は類似する発光デバイスの製造を実施できる。その詳細を省略する。
図7Aないし図7Gは本発明の発光デバイスの製造方法の第四実施例を示すものである。前記図2Aないし2Eが示す分離方法に続き、本第四実施例において、図2E中の第二基板221とその上の半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)、第一基板201とその上の半導体積層ブロック231(及び/又は半導体積層ブロック233)を例示している。
なお、図7Aにおける図2Eと同一のデバイスについて、その最初の番号を「2」から「7」に変えたのみであり、デバイスの構造及び材料などはすべて図2Eが示すものと同一又は類似する。図7Aの第二基板721は第一穿孔電極721TEをさらに含んでおり、この第一穿孔電極721TEは第二基板721が有する第一穿孔721T及びその中に充填された第一導電物質によって構成されている。また、第二基板721と第一犠牲層711との接合は位置合わせ接合工程であり、半導体積層ブロック732(及び/又は半導体積層ブロック734)と第一穿孔電極721TEを位置合わせて接続させ、かつ電気的に接続させている。
従って、図7Aが示すように、第二基板721上に、分離ステップを経て第一基板701から分離された半導体積層ブロック732(及び/又は半導体積層ブロック734)が接合されている。第一基板701上に、分離ステップを経て半導体積層ブロック731(及び/又は半導体積層ブロック733)が保留されている。続いて、図7Bが示すように、第二接合ステップを実施し、半導体積層ブロック732(及び/又は半導体積層ブロック734)を半導体積層ブロック731(及び/又は半導体積層ブロック733)の上に位置合わせて接合させる。注意すべきなのは、本実施例には同時に複数の発光デバイスを形成する実施方法も含まれるため、図の中に二組の半導体積層ブロックの接合、即ち半導体積層ブロック732と半導体積層ブロック731を一組として接合させ、半導体積層ブロック734と半導体積層ブロック733を一組として接合させている。しかし、前記組み合わせの中の任意の単一組のみに対し実施、又は同時に二組に対し実施してもようい(その後は切断により複数の発光デバイスを形成するが、ここで省略する)。
続いて、図7Cが示すように、半導体積層ブロック731(及び/又は半導体積層ブロック733)と第一基板701とを分離させる。図7Dは図7Cを180度回転させた場合を示す。なお、説明の便宜上、図7Dには図7Cの一組の半導体積層ブロック接合のみを示している。また、図7Eが示すように、前記第二接合ステップを実施する前に、半導体積層ブロック731(及び/又は半導体積層ブロック733)の上に導電酸化層791、半導体積層ブロック732(及び/又は半導体積層ブロック734)の上に導電酸化層792をそれぞれ選択的に形成してもよい。導電酸化層791又は導電酸化層792は、半導体積層ブロックとのオーム接触の提供及び/又は接合層として用いられ、導電酸化層は例えば酸化インジウム(InO)、酸化スズ(SnO)、カドミウムスズ酸化物(CTO)、アンチモンスズ酸化物(ATO)、酸化亜鉛(ZnO)である。本実施例において、導電酸化層791及び導電酸化層792はいずれも接合層の機能を有し、導電酸化層791はさらに半導体積層ブロック731(及び/又は半導体積層ブロック733)とのオーム接触を提供する。また、半導体積層ブロック731(及び/又は半導体積層ブロック733)と半導体積層ブロック732(及び/又は半導体積層ブロック734)の少なくとも一つの上に選択的に金属層を形成し、この金属層が半導体積層ブロックとのオーム接触の提供及び/又は反射機能を提供することができる。図7Eが示すように、本実施例において、半導体積層ブロック732(及び/又は半導体積層ブロック734)の上に前記導電酸化層792を形成する前に、まず半導体積層ブロック732(及び/又は半導体積層ブロック734)の上にオーム接触金属層794及び反射金属層793を形成し、オーム接触金属層794は半導体積層ブロック732(及び/又は半導体積層ブロック734)とのオーム接触を提供し、例えばゲルマニウム金(GeAu)であり、反射金属層793は反射ミラーの機能を提供し、例えば銀(Ag)である。また、オーム接触金属層794及び反射金属層793は金属又は合金であり、金属として例えばアルミニウム、金、ゲルマニウム、プラチナ、亜鉛、銀、ニッケル、ゲルマニウム、インジウム、スズ、チタン、鉛、銅、パラジウムを用いて、合金として例えば前記金属の合金を用いてもよい。図7Fは、前記導電酸化層791及び導電酸化層792を介して半導体積層ブロック731(及び/又は半導体積層ブロック733)と半導体積層ブロック732(及び/又は半導体積層ブロック734)を接合させ、かつ第一基板701を分離させた後180度回転させた場合を示している。同じく、説明の便宜上、図7Fにも図7Eの一組の半導体積層ブロック接合のみが示されている。
次に、本実施例について、図7Fに続く説明を行う(なお、その他の実施例においても図7Dに続き以下の工程を行ってよい)。図7Gが示すように、半導体積層ブロック731及び半導体積層ブロック732の側壁に絶縁層795を形成する。そして、第二基板721の上に電極722EE及び722Eを形成し、かつ半導体積層ブロック731の第一極性半導体層702aと電気的に接続させる。前記絶縁層795は、電極722EE及び722Eと半導体積層ブロック731及び半導体積層ブロック732との間を電気絶縁させる。このように、本発明の第四実施例の発光デバイスを完成させ、該発光デバイスは半導体積層ブロック731及び半導体積層ブロック732を含むため、双接合面の発光デバイスであり、かつ電極722EE及び722E及び第一穿孔電極721TEを用いて外部電源の入力を本発明が開示した発光デバイスに提供する。
図7Hないし図7Kは本発明の発光デバイスの製造方法の第五実施例を例示しており、該第五実施例は前記第四実施例の変化形である。本実施例において、前記図2Aないし2Eが示した分離方法に続き、まず第二接合ステップを実施し、即ち、図7Hが示すように、まず図2E中の第二基板221上の半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)と第一基板201上の半導体積層ブロック231(及び/又は半導体積層ブロック233)とを位置合わせて接合させる。次に、図7Iが示すように、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)と第二基板221とを分離させる。そして、デバイス基板を半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)に接合させて、発光デバイスのデバイス基板とする。別の実施例において、第一基板201を取り除くことで、半導体積層ブロック231(及び/又は半導体積層ブロック233)と第一基板201を分離させ、かつデバイス基板を半導体積層ブロック231(及び/又は半導体積層ブロック233)に接合させてもよい。そして、以上のように、図7Jにおいて、発光デバイスのデバイス基板として第二基板721を提供し、この第二基板721は第一穿孔電極721TEを有し、第一穿孔電極721TEは第二基板721が有する第一穿孔721T及びその中に充填される第一導電物質によって構成される。続いて、第三接合ステップを実施し、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)を該第二基板721に位置合わせて接合させる。図7Jが示すように、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)と第二基板721の第一穿孔電極721TEとを位置合わせて接続させ、かつ電気的に接続させる。最後に、半導体積層ブロック231(及び/又は半導体積層ブロック233)と第一基板201を分離させて、かつ、図7Gで説明したように絶縁層795及び電極722EE及び722Eを形成し、図7Kが示すような発光デバイスを得る。注意すべきなのは、図7Hにおいて第二接合ステップの位置合わせ接合を行う前に、即ち、半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)と半導体積層ブロック231(及び/又は半導体積層ブロック233)の位置合わせ接合を行う前に、図7Eで説明したように、半導体積層ブロック231(及び/又は半導体積層ブロック233)と半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)の上にそれぞれ導電酸化層を選択的に形成し、かつ半導体積層ブロック231(及び/又は半導体積層ブロック233)と半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)の少なくとも一つの上に金属層を選択的に形成してもよい。これについて既に詳しく説明したため、ここで省略する。また、図7Iの説明で言及したように、別の実施例において、半導体積層ブロック231(及び/又は半導体積層ブロック233)と第一基板201を分離させ、第一基板201を取り除いた後、図7Jで実施した第三接合ステップに続き、半導体積層ブロック231(及び/又は半導体積層ブロック233)を第二基板721に位置合わせて接合させ、かつ半導体積層ブロック232(及び/又は半導体積層ブロック234)と第二基板221を分離させてもよい。
以上の異なる各実施例において、同一機能を有するデバイスは各実施例にそれぞれ異なる符号で示されているが、個別な実施例において特に説明がない限り、その物理的、化学的又は電気的特性が同一又は類似する関連特性であると見なすべきであり、各実施例での説明を省略する。
前記実施例は本発明の原理及び効果を説明するための例であり、本発明を限定するものではない。当業者であれば、本発明の技術原理及び精神に基づき、前記実施例に対し修正及び変更を施すことは可能である。従って、本発明の権利保護範囲は下記請求項の範囲の通りである。

Claims (33)

  1. 発光デバイスの製造方法であって、
    第一基板及び前記第一基板の上の複数の半導体積層ブロックを提供するステップであって、前記複数の半導体積層ブロックはそれぞれ第一極性半導体層、前記第一極性半導体層の上に位置する発光層、及び前記発光層の上に位置する第二極性半導体層を含み、前記第一基板の上にさらに、隣接する2つの半導体積層ブロックを仕切る仕切りチャンネルがあり、かつ前記仕切りチャンネルの幅が10μm未満である、ステップと、
    前記複数の半導体積層ブロックの中の第一半導体積層ブロックと前記第一基板とを分離させ、かつ第二半導体積層ブロックを前記第一基板に残す第一分離ステップとを含む、発光デバイスの製造方法。
  2. 前記第一分離ステップは、さらに
    第二基板を提供し、
    前記第一半導体積層ブロックと前記第二基板とを接合させる第一接合ステップを実行し、及び
    前記第一半導体積層ブロックと前記第一基板とを分離させることを含む、請求項1に記載の発光デバイスの製造方法。
  3. 前記第一半導体積層ブロックと前記第一基板との界面にレーザ光を照射して、前記第一半導体積層ブロックと前記第一基板とを分離させる、請求項2に記載の発光デバイスの製造方法。
  4. 前記第二基板は第一穿孔電極をさらに含み、該第一穿孔電極は第一穿孔及びその中に充填された第一導電物質を有する、請求項2に記載の発光デバイスの製造方法。
  5. 前記第二基板はさらに第二穿孔電極を含み、
    該第二穿孔電極は第二穿孔及びその中に充填された第二導電物質を有する、請求項4に記載の発光デバイスの製造方法。
  6. 前記第一導電物質と前記第二導電物質とが同一材料である、請求項5に記載の発光デバイスの製造方法。
  7. 前記第一接合ステップは、前記第一半導体積層ブロックを前記第一穿孔電極と前記第二穿孔電極の間に位置させるように、前記第一半導体積層ブロックと前記第二基板とを位置合わせて接合させることを含む、請求項5に記載の発光デバイスの製造方法。
  8. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    第一導電接続線と第二導電接続線を形成するステップであって、前記第一導電接続線は前記第一半導体積層ブロックの中の前記第一極性半導体層及び前記第一穿孔電極を電気的に接続させ、前記第二導電接続線は前記第一半導体積層ブロックの中の前記第二極性半導体層及び前記第二穿孔電極を電気的に接続させる、ステップと、
    前記第二基板の上に、前記第一半導体積層ブロック、前記第一導電接続線及び前記第二導電接続線を被覆するように透明パッケージ材料を形成するステップとを含む、請求項7に記載の発光デバイスの製造方法。
  9. 前記第一接合ステップは、前記第一半導体積層ブロックと前記第一穿孔電極とを位置合わせて接続させ、かつ電気的に接続させるように、前記第一半導体積層ブロックと前記第二基板とを位置合わせて接合させることを含む、請求項4に記載の発光デバイスの製造方法。
  10. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第一半導体積層ブロックを前記第二半導体積層ブロックの上に位置合わせて接合させる第二接合ステップを含む、請求項9に記載の発光デバイスの製造方法。
  11. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第二接合ステップの前に、前記第一半導体積層ブロックと前記第二半導体積層ブロックの上にそれぞれ導電酸化層を形成することを含む、請求項10に記載の発光デバイスの製造方法。
  12. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第二基板の上、前記第二半導体積層ブロックの前記第一極性半導体層に電気的に接続される電極を形成することを含む、請求項10に記載の発光デバイスの製造方法。
  13. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第二接合ステップの前に、前記第一半導体積層ブロックと前記第二半導体積層ブロックの少なくとも一つの上に金属層を形成することを含む、請求項10に記載の発光デバイスの製造方法。
  14. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    第三基板を提供するステップを含み、
    前記第三基板はさらに第一穿孔電極を含み、該第一穿孔電極は第一穿孔及びその中に充填された第一導電物質を有する、請求項2に記載の発光デバイスの製造方法。
  15. 前記第三基板はさらに第二穿孔電極を含み、該第二穿孔電極は第二穿孔及びその中に充填された第二導電物質を有する、請求項14に記載の発光デバイスの製造方法。
  16. 前記第一導電物質と前記第二導電物質とが同一材料である、請求項15に記載の発光デバイスの製造方法。
  17. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第二基板又は第一基板と前記第三基板とを位置合わせて接合させ、かつ、前記第一穿孔電極と前記第二穿孔電極との間に位置するように前記第一半導体積層ブロック又は第二半導体積層ブロックを前記第三基板に接合させる第二接合ステップと、
    前記第一半導体積層ブロック又は第二半導体積層ブロックと前記第二基板又は前記第一基板とを分離させるステップとを含む、請求項15に記載の発光デバイスの製造方法。
  18. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    第一導電接続線と第二導電接続線を形成するステップであって、前記第一導電接続線は前記第一半導体積層ブロック又は第二半導体積層ブロックの中の前記第一極性半導体層及び前記第一穿孔電極を電気的に接続させ、前記第二導電接続線は前記第一半導体積層ブロック又は第二半導体積層ブロックの中の前記第二極性半導体層及び前記第二穿孔電極を電気的に接続させる、ステップと、
    前記第二基板又は前記第一基板の上に、前記第一半導体積層ブロック又は第二半導体積層ブロック、前記第一導電接続線及び前記第二導電接続線を被覆するように透明パッケージ材料を形成するステップとを含む、請求項17に記載の発光デバイスの製造方法。
  19. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第一半導体積層ブロックと前記第二半導体積層ブロックとを位置合わせて接合させる第二接合ステップを含む、請求項14に記載の発光デバイスの製造方法。
  20. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第二接合ステップの後、前記第一半導体積層ブロックと前記第二基板とを分離させるステップを含む、請求項19に記載の発光デバイスの製造方法。
  21. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第一半導体積層ブロックと前記第一穿孔電極とを位置合わせて接続させ、かつ電気的に接続させるように、前記第一半導体積層ブロックを前記第三基板に位置合わせて接合させる第三接合ステップと、
    前記第二半導体積層ブロックと前記第一基板とを分離させるステップとを含む、請求項20に記載の発光デバイスの製造方法。
  22. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第二接合ステップの前に、前記第一半導体積層ブロックと前記第二半導体積層ブロックの上にそれぞれ導電酸化層を形成するステップを含む、請求項21に記載の発光デバイスの製造方法。
  23. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第三基板の上、前記第二半導体積層ブロックの前記第一極性半導体層に電気的に接続される電極を形成するステップを含む、請求項21に記載の発光デバイスの製造方法。
  24. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第二接合ステップの後、前記第二半導体積層ブロックと前記第一基板とを分離させるステップを含む、請求項19に記載の発光デバイスの製造方法。
  25. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第二半導体積層ブロックと前記第一穿孔電極とを位置合わせて接続させ、かつ電気的に接続させるように、前記第二半導体積層ブロックを前記第三基板に位置合わせて接合させる第三接合ステップと、
    前記第一半導体積層ブロックと前記第二基板とを分離させるステップとを含む、請求項24に記載の発光デバイスの製造方法。
  26. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第二接合ステップの前に、前記第一半導体積層ブロックと前記第二半導体積層ブロックの上に導電酸化層を形成するステップを含む、請求項25に記載の発光デバイスの製造方法。
  27. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第三基板の上、前記第一半導体積層ブロックの前記第二極性半導体層に電気的に接続される電極を形成するステップを含む、請求項25に記載の発光デバイスの製造方法。
  28. 前記第一基板はさらに第三半導体積層ブロック及び第四半導体積層ブロックを含み、
    前記第一接合ステップはさらに前記第三半導体積層ブロックと前記第二基板とを接合させることを含み、
    前記第一分離ステップはさらに前記第三半導体積層ブロックを分離させ、かつ前記第四半導体積層ブロックを前記第一基板の上に残すことを含む、請求項2に記載の発光デバイスの製造方法。
  29. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第二半導体積層ブロック及び前記第四半導体積層ブロックの前記第一極性半導体層及び前記第二極性半導体層を対応させて電気的に接続させるように、前記第二半導体積層ブロック及び前記第四半導体積層ブロックの上にそれぞれ第一電極及び第二電極を形成するステップを含む、請求項28に記載の発光デバイスの製造方法。
  30. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    パターン化金属層を含む第四基板を提供するステップと、
    前記第二半導体積層ブロック及び前記第四半導体積層ブロックが直列又は並列接続を構成するように、前記第四基板の前記パターン化金属層と前記第二半導体積層ブロック及び前記第四半導体積層ブロックの前記第一電極及び前記第二電極とを位置合わせて接合させる第二接合ステップとを含む、請求項29に記載の発光デバイスの製造方法。
  31. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    前記第一半導体積層ブロック及び前記第三半導体積層ブロックの前記第一極性半導体層及び前記第二極性半導体層を対応させて電気的に接続するように、前記第一半導体積層ブロック及び前記第三半導体積層ブロックの上にそれぞれ第一電極及び第二電極を形成するステップを含む、請求項28に記載の発光デバイスの製造方法。
  32. 前記発光デバイスの製造方法は、さらに
    パターン化金属層を含む第四基板を提供するステップと、
    前記第一半導体積層ブロック及び前記第三半導体積層ブロックが直列又は並列接続を構成するように、前記第四基板の前記パターン化金属層と前記第一半導体積層ブロック及び前記第三半導体積層ブロックの前記第一電極及び前記第二電極とを位置合わせて接合させる第二接合ステップとを含む、請求項31に記載の発光デバイスの製造方法。
  33. 前記複数の半導体積層ブロックはそれぞれ上面形状を有し、かつ該上面形状が菱形、正方形、長方形、三角形又は円形を含む、請求項1に記載の発光デバイスの製造方法。
JP2016522179A 2013-07-05 2013-07-05 発光デバイス及びその製造方法 Active JP6131388B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/CN2013/078923 WO2015000182A1 (zh) 2013-07-05 2013-07-05 发光元件及其制造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016527714A true JP2016527714A (ja) 2016-09-08
JP6131388B2 JP6131388B2 (ja) 2017-05-17

Family

ID=52143048

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016522179A Active JP6131388B2 (ja) 2013-07-05 2013-07-05 発光デバイス及びその製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (3) US9614127B2 (ja)
JP (1) JP6131388B2 (ja)
KR (2) KR101802837B1 (ja)
CN (2) CN109802014B (ja)
DE (1) DE112013007218T5 (ja)
WO (1) WO2015000182A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109300919A (zh) * 2018-10-15 2019-02-01 上海天马微电子有限公司 Micro LED显示基板及其制作方法、显示装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016120400A1 (en) 2015-01-30 2016-08-04 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing a semiconductor component and semiconductor component
DE102017117414A1 (de) 2017-08-01 2019-02-07 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements und optoelektronisches Bauelement
DE102019211468A1 (de) 2019-07-31 2021-02-04 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vertikale verbindungshalbleiter-struktur und verfahren zum herstellen derselbigen
US11670666B2 (en) 2019-10-08 2023-06-06 Luminus, Inc. Light-emitting systems with close-packed LEDs and/or electrically isolated substrates and methods of making and/or operating the same
US11789341B2 (en) 2021-11-08 2023-10-17 Lumileds Llc Dual junction LED with non-overlapping segmentation
KR20240007822A (ko) * 2022-07-07 2024-01-17 삼성디스플레이 주식회사 발광 소자, 이를 포함하는 화소, 및 발광 소자의 제조 방법

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002198569A (ja) * 2000-12-26 2002-07-12 Sony Corp 素子の転写方法、半導体装置、及び画像表示装置
JP2011071273A (ja) * 2009-09-25 2011-04-07 Toshiba Corp 半導体発光装置の製造方法及び半導体発光装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19952712A1 (de) 1999-11-02 2001-05-10 Osram Opto Semiconductors Gmbh Laserdiodenvorrichtung
CN100585883C (zh) * 2004-07-29 2010-01-27 晶元光电股份有限公司 高光摘出效率发光元件
JP2010114106A (ja) * 2008-11-04 2010-05-20 Canon Inc 機能性領域の移設方法、ledアレイ、ledプリンタヘッド、及びledプリンタ
JP5390832B2 (ja) 2008-11-04 2014-01-15 キヤノン株式会社 機能性領域の移設方法、ledアレイ、ledプリンタヘッド、及びledプリンタ
JP5444798B2 (ja) * 2009-04-10 2014-03-19 ソニー株式会社 素子の移載方法
JP2010251360A (ja) * 2009-04-10 2010-11-04 Sony Corp 表示装置の製造方法および表示装置
US8865489B2 (en) 2009-05-12 2014-10-21 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Printed assemblies of ultrathin, microscale inorganic light emitting diodes for deformable and semitransparent displays
TW201042720A (en) * 2009-05-20 2010-12-01 Chia-Fu Chang A wafer-level CSP processing method and thereof a thin-chip SMT-type light emitting diode
TWI557934B (zh) * 2010-09-06 2016-11-11 晶元光電股份有限公司 半導體光電元件
US9455242B2 (en) * 2010-09-06 2016-09-27 Epistar Corporation Semiconductor optoelectronic device
CN102412345A (zh) * 2010-09-23 2012-04-11 展晶科技(深圳)有限公司 发光二极管封装结构及其制造方法
JP5693940B2 (ja) * 2010-12-13 2015-04-01 株式会社トクヤマ セラミックスビア基板、メタライズドセラミックスビア基板、これらの製造方法
CN102130238B (zh) * 2010-12-29 2014-02-19 映瑞光电科技(上海)有限公司 蓝宝石衬底led芯片的切割方法
US9765934B2 (en) 2011-05-16 2017-09-19 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Thermally managed LED arrays assembled by printing
TWI512807B (zh) * 2011-06-09 2015-12-11 Epistar Corp 半導體元件結構與其分離方法
US8573469B2 (en) * 2011-11-18 2013-11-05 LuxVue Technology Corporation Method of forming a micro LED structure and array of micro LED structures with an electrically insulating layer

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002198569A (ja) * 2000-12-26 2002-07-12 Sony Corp 素子の転写方法、半導体装置、及び画像表示装置
JP2011071273A (ja) * 2009-09-25 2011-04-07 Toshiba Corp 半導体発光装置の製造方法及び半導体発光装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109300919A (zh) * 2018-10-15 2019-02-01 上海天马微电子有限公司 Micro LED显示基板及其制作方法、显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
US9614127B2 (en) 2017-04-04
CN105324857B (zh) 2019-01-11
DE112013007218T5 (de) 2016-04-28
KR101802837B1 (ko) 2017-11-29
US10038128B2 (en) 2018-07-31
KR20170089966A (ko) 2017-08-04
WO2015000182A1 (zh) 2015-01-08
US20180006206A1 (en) 2018-01-04
CN109802014B (zh) 2022-05-31
JP6131388B2 (ja) 2017-05-17
US9793458B2 (en) 2017-10-17
US20170170375A1 (en) 2017-06-15
US20160218247A1 (en) 2016-07-28
CN109802014A (zh) 2019-05-24
KR20160017027A (ko) 2016-02-15
KR101763675B1 (ko) 2017-08-14
CN105324857A (zh) 2016-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6131388B2 (ja) 発光デバイス及びその製造方法
JP7384848B2 (ja) 半導体発光素子の製造方法
JP6038436B2 (ja) 発光装置及びその製造方法
TW201521245A (zh) 半導體發光元件
CN102263120A (zh) 半导体发光元件、发光装置、照明装置、显示装置、信号灯器和道路信息装置
TWI631596B (zh) 半導體發光元件及其製作方法
JP2013172147A (ja) 発光ダイオード素子
TW201203611A (en) Light emitting device and its manufacturing method
TWI566427B (zh) 發光元件及其製造方法
TWI672837B (zh) 半導體發光元件
TWI520372B (zh) 發光元件及其製造方法
CN107425099B (zh) 发光元件
TWI611600B (zh) 發光元件
TWI574436B (zh) 發光元件
TWI662719B (zh) 發光元件
CN113451116A (zh) 薄型半导体装置的制备方法和薄型半导体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161108

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170207

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170321

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170417

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6131388

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250