JP2016508612A - レーザ誘起プラズマ分光法による表面層の組成の解析システムおよび方法、ならびに相補的分析を実施するためにサンプルを採取するシステムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
Description
特許文献1は、固体の表面汚染の検査に関する。特許文献2および3は、LIBS法による材料の分析に関する。特許文献4は、化学汚染物質によって汚染された被膜の汚染除去および汚染物質の分析に関し、そのためにLIBS法を使用するものである。特許文献5は、LIBS法を実施することが可能な携帯型装置に関する。
単一パルスレーザを使用した、材料の表面層の組成の分析およびこの表面層の代表粒子のサンプリングの両方を可能にするシステム、ならびにこのシステムを実行するサンプリング及び分析方法を提案する。
材料の表面に存在する元素の化学的性質および相対濃度の分析を可能にするLIBS法と、
採取されたサンプルの成分の精密な定量または追加の定性分析のために、LIBS法と同一のパルスレーザを使用したアブレーション粒子の吸引および収集を可能にするサンプリング法と、
の2つの技法を組み合わせる。
材料の表面層と相互作用し、かつ材料の表面上にプラズマを生成することが可能である、パルスレーザビームを生成する単一のパルスレーザと、
材料の表面上にパルスレーザビームを集束する装置と、
プラズマによって放射される光を収集する装置と、
こうして収集された光をスペクトル分析し、スペクトル分析から表面層の元素組成を決定する装置と、を備えた、レーザ誘起ブレイクダウン分光法によって、材料の表面層、特に放射性層の組成を分析するシステムであって、
吸引および収集された粒子を使用して、少なくとも1つの追加の定性または定量分析、または少なくとも1つの検査、特に放射能汚染検査を行うために、集束パルスレーザビームの影響下で表面層から抽出されたこの表面層の代表粒子を吸引および収集する装置をさらに備えることを特徴とするシステムである。
パルスレーザに接続された第1端と、第2端と、を有する光ファイバと、
光ファイバの第2端に配置された集束レンズと、を含む。
この表面層の代表粒子を含む空気を吸い込む吸引サイクロンと、
空気を吸い込むポンプと、
ポンプをサイクロンに接続するダクトと、を含む。
吸引空気に含まれた粒子が堆積するフィルタ、例えばペーパーフィルタと、
フィルタ上に堆積された粒子を使用して、追加の定性もしくは定量分析または検査を行うために、フィルタをそこに配置するためおよび前記フィルタをそこから取り外すためにダクト上に装着され、着脱可能である得るハウジングと、を含み得る。
材料の表面層から抽出された粒子を含む空気を吸い込む吸引ヘッドと、
空気を吸い込むポンプと、
ポンプを吸引ヘッドと接続するダクトと、
ダクト上に装着されるハウジングと、
格子の上に、この格子のそれぞれ両側に2つの開口部を有するハウジング内に配置された格子と、
格子の上部を移動することができ、ハウジングの両方の開口部を横切ることが可能であり、吸引空気に含まれる粒子がそこに堆積されるフィルタ、例えばペーパーフィルタと、
フィルタ上に堆積された粒子を使用した追加の定性もしくは定量分析または検査、特に放射能汚染検査を行う装置と、
格子の上で、および追加の定性もしくは定量分析または検査、特に放射能汚染検査を行う装置の位置で、フィルタを移動させる装置と、を含む。
表面汚染2との相互作用および材料4の表面でのプラズマ8の生成が可能な、パルスレーザビームを形成するための単一パルスレーザ6、例えばパルスYAGレーザと、
材料4の表面上にパルスレーザビームを集束する装置と、を含む。
ファイバ18の他端が取り付けられた分光計24と、
汚染物質の元素組成を決定するために、分光計24によって提供されるスペクトルを処理する装置26と、を含む。
表面汚染2の粒子を含む空気を吸い込む吸引サイクロン30と、
空気を吸い込むポンプ32と、
ポンプ32をサイクロン30に接続するダクト34と、を含む。
吸引空気中に含まれる粒子がそこに堆積するフィルタ36、例えばペーパーフィルタと、
フィルタ36上に堆積した粒子を使用して表面汚染2を検査するために、フィルタ36をそこに装着しかつ前記フィルタをそこから取り外すためにダクト34に装着されたハウジング38と、を含む。
汚染表面の粒子を含む空気を吸い込む吸引ヘッド42と、
空気を吸い込むポンプ44と、
吸引ヘッド42にポンプ44を接続するダクト46と、
ダクト46に装着されるハウジング48と、
格子50の上に、この格子のそれぞれ両側に2つの開口部52および54を有する、ハウジング48内に位置する格子50と、
格子50上を移動することができ、ハウジング48の両方の開口部52および54を横切ることが可能であり、吸引空気に含まれる粒子が堆積するフィルタ56、例えばペーパーフィルタと、
フィルタ56上に堆積した粒子を使用して汚染を検査する装置58と、
汚染を検査するために、格子50上でおよび装置58の位置でフィルタ56を移動させる装置60と、を含む。
<シーケンシャルモードで実施される方法の例>
‐汚染除去の最後での汚染検査:LIBS分析システムを走査モードで使用して可能な限り最も徹底的な方法で汚染除去された表面の特性を明らかにし、特有の化学元素、例えばウランが存在しないことを確実にする;有意な信号を検出した場合、サンプリングモードに切り替える;存在する汚染物質(ウランおよび適用可能であればその他の放射性元素)の精密な定量のためにこのサンプルを実験室に送る。
‐典型的なスペクトルの評価のためのサンプリング:分析システムのLIBS部分を走査モードで使用して、設備および建物の表面上で、特有の元素、例えばウランが無視できない量(数Bq.cm−2またはそれ以上)存在する領域を探す;LIBS装置が正確に較正されていれば、この領域に存在するウランの量を得ることができるが、この情報は放射線環境への介入を準備するには不十分であり、異なるウラン同位体にわたる分布を知ることが重要である;この場合、LIBS分析ステップにおいて対象領域が特定されるとすぐに、サンプリングシステムによってサンプルが採取され、こうして採取されたサンプルは、質量分析装置による分析のために実験室に送られる。事前に行われたLIBS分析により、採取されたサンプルがこの追加の分析を行うために十分な材料を含むことを明確にすることができる。
<パラレルモードで実施される方法の例>
‐系統的品質管理:部品の被膜の品質、または不純物を含まないことが必要とされ、系統的検査によって実証されなければならない部品をシステムの前に配置する;系統的方法でLIBS分析を実施し、同時にサンプルを採取する;LIBS分析の結果を使用して第1の即時分類を行い、可能であればサンプリングによってサンプル材料の追加の分析または検査を使用してLIBSによる分析を確認する。
6 パルスレーザ
10、18 光ファイバ
12、20 レンズ
22 スペクトル分析装置
30、44 吸引サイクロン
32 ポンプ
34、46 ダクト
36、56 フィルタ
38、48 ハウジング
42 吸引ヘッド
50 格子
Claims (11)
- 材料(4)の表面層と相互作用し、かつ材料の表面上にプラズマを生成することが可能である、パルスレーザビームを生成する単一のパルスレーザ(6)と、
前記材料の前記表面上に前記パルスレーザビームを集束する装置(10、12)と、
前記プラズマによって放射される光を収集する装置(18、20)と、
このやり方で収集された光をスペクトル分析し、前記スペクトル分析から前記表面層の元素組成を決定する装置(22)と、を備えた、レーザ誘起ブレイクダウン分光法によって、材料の表面層、特に放射性層の組成を分析するシステムであって、
吸引および収集された粒子を使用して、少なくとも1つの追加の定性もしくは定量分析、または少なくとも1つの検査、特に放射能汚染検査を行うために、集束パルスレーザビームの影響下で前記表面層から抽出されたこの表面層の代表粒子を吸引および収集する装置(30、32、34;42、44、46)をさらに備えることを特徴とするシステム。 - 前記パルスレーザ(6)および集束装置(10、12)が、前記材料(4)の表面で1GW/cm2から50GW/cm2の範囲内の電力密度を得るように選択される、請求項1に記載のシステム。
- 集束装置(10、12)が、前記材料(4)の表面で、寸法が1μmから10μmの範囲内の集束パルスレーザビームを得るように選択される、請求項1または2に記載のシステム。
- 粒子を吸引および収集する装置(30、32、34;42、44、46)が、20m/sから200m/sの範囲内の吸引速度を得るように選択される、請求項1から3のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記パルスレーザビームの集束装置が、
前記パルスレーザ(6)に接続された第1端と、第2端とを有する光ファイバ(10)と、
前記光ファイバ(10)の前記第2端に配置された集束レンズ(12)と、を含む、請求項1から4のいずれか一項に記載のシステム。 - 前記プラズマによって放射される光を収集する装置が、その一端が好ましくは光を収集するレンズ(20)に取り付けられている光ファイバ(18)を含む、請求項1から5のいずれか一項に記載のシステム。
- 携帯型であり、前記粒子を吸引および収集する装置が、
この表面層の代表粒子を含む空気を吸い込む吸引サイクロン(30)と、
空気を吸い込むポンプ(32)と、
前記ポンプを前記サイクロンに接続するダクト(34)と、
を含むことを特徴とする、請求項1から6のいずれか一項に記載のシステム。 - 前記粒子を吸引および収集する前記装置が、
吸引空気に含まれた粒子が堆積されるフィルタ(36)、例えばペーパーフィルタと、
前記フィルタ上に堆積された粒子を使用して、追加の定性もしくは定量分析または検査を行うために、前記フィルタをそこに配置するためおよび前記フィルタをそこから取り外すために前記ダクト(34)に装着され、着脱可能であり得る、ハウジング(38)と、
をさらに含む、請求項7に記載のシステム。 - 前記フィルタ上に堆積された粒子を使用して、追加の定性もしくは定量分析または検査、特に放射能汚染検査を行う装置をさらに含む、請求項8に記載のシステム。
- 前記粒子を吸引および収集する装置が、
前記材料の前記表面層から抽出された前記粒子を含む空気を吸い込む吸引ヘッド(42)と、
空気を吸い込むポンプ(44)と、
前記ポンプを前記吸引ヘッドに接続するダクト(46)と、
前記ダクト上に装着されるハウジング(48)と、
格子の上に、この格子のそれぞれ両側に2つの開口部(52、54)を有する前記ハウジング内に配置された格子(50)と、
前記格子の上部を移動することができ、前記ハウジングの両方の開口部を横切ることが可能であり、吸引された空気に含まれる粒子がそこに堆積されるフィルタ(56)、例えばペーパーフィルタと、
前記フィルタ上に堆積された粒子を使用した追加の定性もしくは定量分析または検査、特に放射能汚染検査を行う装置(58)と、
前記格子の上で、および追加の定性もしくは定量分析または検査、特に放射能汚染検査を行う装置(58)の位置で、前記フィルタを移動させる装置(60)と、
を含む、請求項1から6のいずれか一項に記載のシステム。 - 請求項1から10のいずれか一項に記載のシステムを実施する、材料の表面層の組成のレーザ誘起ブレイクダウン分光法による分析、および少なくとも1つの追加の定性もしくは定量分析、またはこの表面層の少なくとも1つの検査のためのサンプル採取のための方法であって、第1のレーザ誘起ブレイクダウン分光法による分析ステップと、第2のサンプリングステップと、第3の追加の定性もしくは定量分析または検査ステップと、を含み、第1のステップおよび第2のステップが同時にまたは経時的に実施されることを特徴とする、方法。
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