JP2009139149A - 有害物質汚染監視モニタ装置および有害物質汚染監視モニタ方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】有害物質を取り扱う環境から回収された、有害物質が付着する被検査物にレーザ光を照射するレーザ光照射手段と、光スペクトルを生じさせる光スペクトル生成手段と、生じた光スペクトルの波長並びにこの波長の発光強度を検知する光スペクトル検知手段と、検知された光スペクトルの波長を記憶手段に格納した光スペクトルの特定波長と有害物質との関係に参照して特定の有害物質を同定する有害物質同定手段と、検知された光スペクトルの特定波長の発光強度を前記記憶手段に格納した特定波長の光スペクトルの発光強度と該当の有害物質の濃度レベルとの関係に参照して当該有害物質の定量分析を行う有害物質定量分析手段と、を有する。
【選択図】図1
Description
レーザ光照射手段によって、特定の有害物質を取り扱う環境から複種類回収された、有害物質が付着する被検査物にレーザ光を照射し、
光スペクトル生成手段によって、レーザ光が照射されることによって被検査物に付着した有害物質の中の元素を励起して光スペクトルを生じさせ、
光スペクトル検知手段によって、生じた光スペクトルの波長並びにこの波長の発光強度を検知し、
有害物質同定手段によって、検知された光スペクトルの波長を前記記憶手段に格納した光スペクトルの特定波長と有害物質との関係に参照して特定の有害物質を同定し、
有害物質定量分析手段によって、検知された光スペクトルの特定波長の発光強度を前記記憶手段に格納した特定波長の光スペクトルの発光強度と該当の有害物質の濃度レベルとの関係に参照して想定された当該有害物質の定量分析を行うこと
を特徴とする有害物質汚染監視モニタ方法を提供する。
レーザ光照射手段34によって、有害物質を取り扱う環境から回収された、有害物質が付着する被検査物にレーザ光を照射する。
光スペクトル検知手段36によって、生じた光スペクトルの波長あるいは/並びにこの波長の発光強度を検知する。
ベリリウム : 234.8, 313.0
カドミウム : 228.8, 326.1
クロム : 283.6, 425.4, 429.0
鉛 : 220.4, 405.8
水銀 : 253.6
ヒ素 : 228.8, 286.0
銅 : 324.7
これらの物質についての波長は、特定の光スペクトルパターンとして取得することが可能である。
図4は、アスベストあるいはセメントのスペクトルデータを示す図である。
図5および図6は図1に示すフィルタ24とは異なる他の被検査物を示す。
図5は、有害物質を取り扱う環境内に配設された設備、機器あるいは作業台等の内部同定施設50の表面に有害物質が付着する場合に、有害物質汚染監視モニタする場合を示す。この例の場合、図1に示したと同様にして、有害物質を取り扱う環境の空気がフィルタに通気されることによって、その空気に含まれる有害物質がフィルタ表面に捕捉される場合に、前記レーザ光照射手段は、前記被検査物である前記フィルタにレーザ光を照射するようにした有害物質汚染監視モニタ装置および有害物質汚染監視モニタ方法が構成される。
図8において、まず優先検出物質の指定、すなわち特定して分光演算部32の記憶手段43に登録する(S11)。これは特定の環境からは特定の被検査物が回収されることが予測されることに基づく。
Claims (6)
- 検知すべき有害物質が入力されれば、特定されていない段階での有害物質についての光スペクトルの特定波長と当該有害物質との関係並びに特定波長の光スペクトルの発光強度と該当の有害物質の濃度レベルとの関係を予め格納する記憶手段と、特定の有害物質を取り扱う環境から回収された、有害物質が付着する被検査物にレーザ光を照射するレーザ光照射手段と、レーザ光が照射されることによって被検査物に付着した有害物質の中の元素を励起して光スペクトルを生じさせる光スペクトル生成手段と、生じた光スペクトルの波長並びにこの波長の発光強度を検知する光スペクトル検知手段と、検知された光スペクトルの波長を前記記憶手段に格納した光スペクトルの特定波長と有害物質との関係に参照して特定の有害物質を同定する有害物質同定手段と、検知された光スペクトルの特定波長の発光強度を前記記憶手段に格納した特定波長の光スペクトルの発光強度と該当の有害物質の濃度レベルとの関係に参照して想定された当該有害物質の定量分析を行う有害物質定量分析手段と、を有することを特徴とする有害物質汚染監視モニタ装置。
- 請求項1において、有害物質を取り扱う環境の空気がフィルタに通気されることによって、その空気に含まれる有害物質がフィルタ表面に捕捉される場合に、前記レーザ光照射手段は、前記被検査物である前記フィルタにレーザ光を照射することを特徴とする有害物質汚染監視モニタ装置。
- 請求項1において、有害物質を取り扱う環境内に配設された設備、機器あるいは作業台等の内部同定施設の表面に有害物質が付着する場合に、前記レーザ光照射手段は、前記内部施設の表面にレーザ光を照射すること、または有害物質を取り扱う環境内で使用された手袋、靴あるいは着衣等の移動用具の表面に有害物質が付着する場合に、前記レーザ光照射手段は、前記移動用具の表面にレーザ光を照射することを特徴とする有害物質汚染監視モニタ装置。
- 請求項1から3のいずれかにおいて、同定され、定量分析された有害物質の内、予め優先画像表示が定められた有害物質についての同定および定量分析結果を優先画像表示する画像表示部を備えることを特徴とする有害物質汚染監視モニタ装置。
- 記憶手段に、検知すべき有害物質が入力されず、特定されていない状態での有害物質についての光スペクトルの特定波長と当該有害物質との関係並びに特定波長の光スペクトルの発光強度と該当の有害物質の濃度レベルとの関係を予め格納し、
レーザ光照射手段によって、特定の有害物質を取り扱う環境から1種あるいは複種類回収された、有害物質が付着する被検査物にレーザ光を照射し、
光スペクトル生成手段によって、レーザ光が照射されることによって被検査物に付着した有害物質の中の元素を励起して光スペクトルを生じさせ、
光スペクトル検知手段によって、生じた光スペクトルの波長並びにこの波長の発光強度を検知し、
有害物質同定手段によって、検知された光スペクトルの波長を前記記憶手段に格納した光スペクトルの特定波長と有害物質との関係に参照して特定の有害物質を同定し、
有害物質定量分析手段によって、検知された光スペクトルの特定波長の発光強度を前記記憶手段に格納した特定波長の光スペクトルの発光強度と該当の有害物質の濃度レベルとの関係に参照して想定された当該有害物質の定量分析を行うこと
を特徴とする有害物質汚染監視モニタ方法。 - 請求項5において、特定の有害物質の内、ベリリウムについて他の特定有害物質の同定および定量分析に優先して同定および定量分析した結果を画像表示部に表示することを特徴とする有害物質汚染監視モニタ方法。
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JP2020201148A (ja) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | 株式会社島津製作所 | 分析装置及びx線回折装置 |
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