ES2628691T3 - Sistema y procedimiento para el análisis, por espectrometría de plasma inducido por láser, de la composición de una capa superficial y para la extracción de muestras con vistas a análisis complementarios - Google Patents

Sistema y procedimiento para el análisis, por espectrometría de plasma inducido por láser, de la composición de una capa superficial y para la extracción de muestras con vistas a análisis complementarios Download PDF

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Abstract

Sistema para el análisis de la composición de la capa superficial, concretamente radioactiva, de un material, por espectrometría de plasma inducido por láser, que comprende: - un único láser pulsado (6), para generar un haz láser pulsado, adecuado para interactuar con la capa superficial y producir un plasma en la superficie del material (4), - un dispositivo (10, 12) de focalización del haz láser pulsado sobre la superficie del material, - un dispositivo (18, 20) para recoger la luz emitida por el plasma, y - un dispositivo (22) para el análisis espectral de la luz recogida de este modo y la determinación de la composición elemental de la capa superficial a partir del análisis espectral; caracterizado porque comprende además un dispositivo (30, 32, 34; 42, 44, 46) para aspirar y recoger unas partículas representativas de esta capa superficial, extraídas de ella por el efecto del haz láser pulsado focalizado, con vistas a al menos un análisis complementario cualitativo o cuantitativo o a al menos un control, concretamente un control de contaminación radiológica, a partir de las partículas aspiradas y recogidas.

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