JP2016506627A - 太陽電池の拡散領域を形成する方法 - Google Patents

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Abstract

第1の導電型のドーパントでドープされている被膜のブランケット層を使用して、太陽電池の拡散領域が形成される(231)。この被膜のブランケット層の選択領域内に、第2の導電型のドーパントを注入することにより、第2の導電型のドーパント源領域が形成される(232)。太陽電池の拡散領域は、この被膜のブランケット層から、下層のシリコン材料内に、第1の導電型のドーパント及び第2の導電型のドーパントを拡散させることによって形成される(233)。被膜のブランケット層は、ホウ素でドープされたP型ドーパント源層とすることができ、このP型ドーパント源層の選択領域内にリンが注入されることにより、P型ドーパント源層内にN型ドーパント源領域が形成される。

Description

本明細書で説明される主題の実施形態は、全般的には、太陽電池に関する。より詳細には、本主題の実施形態は、太陽電池の製造プロセス及び構造に関する。
太陽電池は、太陽放射を電気エネルギーに変換するための周知のデバイスである。太陽電池は、通常動作中は太陽に向けられて太陽放射を集光する前面と、その前面の反対側の裏面とを有する。太陽電池に衝突する太陽放射は、負荷回路などの外部電気回路に電力供給するために利用することが可能な、電荷を作り出す。
太陽電池の製造プロセスは、典型的には、マスキング、エッチング、堆積、拡散、及び他の工程を伴う、数多くの工程を含む。本発明の実施形態は、低減された製造コスト及びより高いスループットのための、低減された数の工程を伴う太陽電池プロセスを提供する。
一実施形態では、第1の導電型のドーパントでドープされている被膜のブランケット層を使用して、太陽電池の拡散領域が形成される。この被膜のブランケット層の選択領域内に、第2の導電型のドーパントを注入することにより、第2の導電型のドーパント源領域を形成する。太陽電池の拡散領域は、この被膜のブランケット層から、シリコンなどの下層の半導体材料内に、第1の導電型のドーパント及び第2の導電型のドーパントを拡散させることによって形成される。被膜のブランケット層は、ホウ素でドープされたP型ドーパント源層とすることができ、このP型ドーパント源層の選択領域内にリンが注入されることにより、P型ドーパント源層内にN型ドーパント源領域が形成される。シリコン材料は、例えば、多結晶シリコン又は単結晶シリコン基板を含み得る。
本発明のこれらの特徴及び他の特徴は、添付の図面及び特許請求の範囲を含む本開示の全体を読むことで、当業者には容易に明らかとなるであろう。
本主題のより完全な理解は、発明を実施するための形態、及び特許請求の範囲を、以下の図と併せて考察し、参照することによって導き出すことができ、これらの図の全体を通して、同様の参照番号は同様の要素を指す。図は、一定の縮尺で描かれてはいない。
本発明の実施形態による、太陽電池の製造を概略的に示す断面図である。 本発明の実施形態による、太陽電池の製造を概略的に示す断面図である。 本発明の実施形態による、太陽電池の製造を概略的に示す断面図である。 本発明の実施形態による、太陽電池の製造を概略的に示す断面図である。
本発明の別の実施形態による、太陽電池の製造を概略的に示す断面図である。 本発明の別の実施形態による、太陽電池の製造を概略的に示す断面図である。 本発明の別の実施形態による、太陽電池の製造を概略的に示す断面図である。 本発明の別の実施形態による、太陽電池の製造を概略的に示す断面図である。
本発明の実施形態による、多結晶シリコン及び単結晶シリコン基板の積層体の形成を概略的に示す断面図である。 本発明の実施形態による、多結晶シリコン及び単結晶シリコン基板の積層体の形成を概略的に示す断面図である。 本発明の実施形態による、多結晶シリコン及び単結晶シリコン基板の積層体の形成を概略的に示す断面図である。
本発明の実施形態による、太陽電池の拡散領域を形成する方法のフローチャートを示す。
本発明の実施形態による、多結晶シリコン及び単結晶シリコン基板の積層体を形成する方法のフローチャートを示す。
本開示では、本発明の実施形態を十分に理解するために、装置、構造、材料、及び方法の実施例などの、数多くの具体的な詳細が提供される。しかしながら、当業者であれば、本発明が、それらの具体的な詳細のうちの1又は複数を欠いても実践することができる点が理解されるであろう。他の場合には、本発明の態様を不明瞭にすることを避けるために、周知の詳細は図示又は説明されない。
全裏面電極型太陽電池では、P型拡散領域及びN型拡散領域、並びに全ての対応する金属コンタクトは、太陽電池の裏面上に存在する。それらの拡散領域は、ドーパント源からドーパントを拡散させることによって形成することができる。プロセス要件を満たすために、ドーパント源は、典型的には、互いから100μm未満の範囲内に配置する必要があり、また後続の処理工程の位置合わせを可能にするべく、ウェハの中心又は縁部に位置合わせする必要がある。これらのドーパント源の位置合わせの困難性は、トレンチによるP型拡散領域とN型拡散領域との分離などの、他の工程の位置精度要件によって混乱化される。
太陽電池の拡散領域を空間的に配置する1つの技術は、ドーパント源のブランケット層を堆積させる工程と、そのドーパント源の上面上にリソグラフィペーストを適用する工程と、エッチングプロセスを使用してペーストをパターニングする工程と、ドーパント源から下位層内にドーパントを打ち込んで拡散領域を形成する工程とを伴い得る。堆積、パターニング、及びエッチングを伴うこの技術は、多くの工程を必要とするばかりではなく、実施するためにはコストもかかる。
拡散領域を空間的に配置する別の技術は、リソグラフィペーストを、ドーパント含有インクで置き換えることを伴い得る。この技術は、ドーパント源を必要とする表面の上面上に、例えばスクリーンプリンタ又は代替的タイプのプリンタを使用して、所望のパターンでドーパントインクを適用する工程と、そのインクから、逆の型のドーパントのブランケット層内に、熱処理工程でドーパントを打ち込む工程とを含み得る。この技術の問題点は、ドーパントインクに対して、幾つかの困難な機能的要件が求められる点である。より詳細には、このインクは、印刷可能でなければならず、ドーパント源であることが可能でなければならず、ガス放出の結果として、インクによって覆われていない区域をドープしてはならない。それゆえ、インク自体にコストがかかることになり、インクが使用される方式に応じて、正味の製造コストの削減が生じない可能性がある。
図1〜図4は、本発明の実施形態による、太陽電池の製造を概略的に示す断面図である。製造されている太陽電池は、以下でより明らかとなるように、そのP型拡散領域及びN型拡散領域、並びに対応する金属コンタクトが、太陽電池の裏面上に存在するため、全裏面電極型太陽電池である。
図1では、二酸化シリコンの形態の薄い誘電体層102が、主基板の裏側表面上に形成され、この主基板は、図1の実施例では、N型単結晶シリコン基板101である。一実施形態では、二酸化シリコン102は、40オングストローム以下(例えば、5〜40オングストローム、好ましくは20オングストローム)の厚さまで、単結晶シリコン基板101の裏側表面上に直接熱成長される。二酸化シリコン102は、トンネル効果の機能を提供し、例えば、トンネル酸化物としての役割を果たし得る。
(「ポリシリコン」とも称される)多結晶シリコンの層103が、二酸化シリコン102上に形成される。その後、P型ドーパント源層104が、多結晶シリコン103上に形成される。その名称が示すように、P型ドーパント源層104は、P型ドーパントの供給源としての役割を果たす。一実施形態では、P型ドーパント源層104は、化学気相成長法又は気相エピタキシなどの堆積によって形成された、ホウケイ酸ガラス(BSG)のブランケット層を含む。より詳細には、ドーパント源層104は、堆積チャンバ内にP型ドーパントを導入しつつ、多結晶シリコン103上に成長させることができる。P型ドーパント源層104からのドーパント(この実施例では、ホウ素)が、その後、下層の多結晶シリコン103に拡散することにより、その中にP型拡散領域が形成される。一般に、P型ドーパント源層104(及び、以下で紹介される他のP型ドーパント源層)は、ホウ素ドープ酸化物を含み得る。
多結晶シリコンの層103及びP型ドーパント源層104は、別個の堆積工程によって形成することができる。後に説明する図9〜図11におけるような他の実施形態では、これらの層は、気相エピタキシによって、同じ工具内で相次いで、その場で(すなわち、真空破壊することなく)成長させることができる。
図2では、図1の太陽電池構造体が、「イオン注入装置」とも称される、イオン注入工具内に定置される。半導体産業は、長年にわたって、イオン注入を採用してきた。しかしながら、空間的配置を達成するためには、注入される区域を画定するハードマスク(例えば、フォトレジスト、酸化物、窒化物)を、典型的には、ウェハの表面上に形成する必要がある。太陽電池の製造における拡散配置に必要とされる空間的精度は、半導体デバイスの製造におけるものよりも、厳密性が数桁低く、例えば、半導体デバイスの製造に関しては10nm未満であるのに対して、太陽電池の製造に関しては200μm未満である。したがって、ウェハの表面上に形成されるマスクではなく、工具内に存在する取り外し可能かつ使い捨てのマスクを使用する、イオン注入工具を使用して、太陽電池内にドーパントを注入することができる。
依然として、イオン注入は、全裏面電極型太陽電池の製造の際に、固有の課題を提示するが、これは、P型拡散領域及びN型拡散領域を、互いに対して適切に、空間的に配置しなければならず、またウェハの中心又は縁部に、パターンを位置合わせしなければならないためである。この空間的配置を達成するために、イオン注入を使用する工程は、一方がP型ドーパントに関し、もう一方がN型ドーパントに関する、別個の注入工程が必要とされ、それぞれの工程が、その別個の注入マスクを使用する。高効率の太陽電池の製造の際には、このことは、拡散領域が互いに重なり合わず、空間電荷再結合の広い領域を作り出さないことを確実にするために、10μmよりも良好な精度のパターン配置を必要とし得るが、これは、高スループットの(例えば、1時間当たりの生産数(UPH)が2100を超える)注入工具に関しては、極めて困難である。
図2の実施例では、注入マスク112は、イオン注入工具の一部であり、太陽電池基板上には形成されない。例えば、注入マスク112は、太陽電池基板から独立した、注入工具内に挿入又は抜去することができる、取り外し可能なマスクとすることができる。パターン配置精度の懸念に対処するために、1つのみのドーパント導電型が、イオン注入で注入される。図2の実施例では、N型ドーパントのみが、イオン注入によって注入され、P型ドーパントは、P型ドーパント源層としての役割を果たす、被膜のブランケット層で形成される。一実施形態では、リンイオンが、注入マスク112を介して、P型ドーパント源層104の特定領域内に選択的に注入される。リンは、注入マスク112によって覆われた、P型ドーパント源層104の領域内には注入されず、これらの領域は、P型ドーパント源として残される。
マスク112によって露出される、P型ドーパント源層104の領域は、N型ドーパント源領域113となる。図2の実施例では、P型ドーパント源層104は、BSGを含み、リンが注入されるため、リンが注入された層104の領域113は、ホウリンケイ酸ガラス(BPSG)を含む。すなわち、このイオン注入工程は、P型ドーパント源層104内に、N型ドーパント源領域113を形成する。N型ドーパント源領域113が、そのように名付けられる理由は、それらの領域が、後にポリシリコンの層103内に拡散してN型拡散領域を形成する、N型ドーパント(この実施例では、リン)を提供するためである。
領域113のBPSGでは、リンが、下層のシリコン内に良好に拡散する。このことが生じる理由は、ホウ素酸化物被膜内のリンの拡散が促進されるためであり、また、そのリンが、シリコン境界面内へのホウ素の拡散を遅延させるためである。したがって、領域113内のリン濃度とホウ素濃度とが好適な比率を有する場合には、領域113は、実質的に殆どがリンの(ホウ素ではなく)拡散を、効果的に可能にし、領域113がN型ドーパント源としての役割を果たすことを可能にする。一実施形態では、リンは、注入のピークがシリコン表面付近で生じるように、BSG内に注入されることにより、リンがシリコン内に拡散する前に、そのシリコン内に拡散するホウ素の量は、最小限に抑えられる。注入のエネルギーは、BSG層の厚さに基づいて選択される。6000A(オングストローム)の厚さのBSG層は、比較的高いエネルギーである、200KeVの注入エネルギーを必要とし得る。より低いエネルギーの注入が好ましいため、約2000AのBSG厚さが好ましいが、最少1000Aまでである。リンの好ましい投与量は、リン投与量がBPSGの総重量の4%〜10%となるようなものであり、ホウ素の拡散を遅延させるために、十分なリンがシリコン表面に到達するようなものである。
P型ドーパント源層104内へのN型ドーパントの選択的注入は、P型ドーパント源層104内のN型ドーパント源領域113の形成をもたらすと同時に、P型ドーパント源層104の残部を、P型ドーパント源として保つ。理解され得るように、このことにより、更なる堆積工程、パターニング工程、及びエッチング工程の実行を必要とすることなく、2つの異なる極性のドーパント源を形成することが可能となり、太陽電池の製造工程の削減がもたらされる。注入マスクの配置精度の懸念は、この実施例ではN型ドーパントである、2つのドーパントの型のうちの一方のみを、拡散領域を形成するために注入することによって対処される。すなわち、得られるN型拡散領域が適切に配置されることを確実にするために、1つのみの重要な位置合わせ工程が必要とされる。他方のドーパントは、イオン注入によって導入される代わりに、この実施例ではP型ドーパント源層104である、ブランケット被膜層内に提供される。
図3では、拡散工程が実行され、P型ドーパント源層104から、多結晶シリコン103内にP型ドーパントを拡散させることにより、P型拡散領域114が形成される。P型拡散領域114を形成するように拡散したP型ドーパントは、N型ドーパントが注入されていない、P型ドーパント源層104の領域からのものである。この拡散工程はまた、N型ドーパント源領域113から、多結晶シリコン103内にN型ドーパントを拡散させることにより、N型拡散領域115も形成した。対応するP型拡散領域及びN型拡散領域を多結晶シリコン103内に形成するための、P型ドーパント及びN型ドーパントの拡散は、同じ熱処理工程で実施することができ、この工程は、イオン注入工程の直後に、又はイオン注入工程の後に続く任意の工程で実行することができる。
更なる工程を実行することにより、太陽電池の製造を完了することができる。図4では、これらの更なる工程には、太陽電池の裏面上に、電気絶縁、パッシベーション、及び/又は他の目的のための、誘電体層116並びに他の層を形成する工程が含まれる。次いで、金属コンタクト117及び金属コンタクト118が、それぞれ、対応するN型拡散領域115及びP型拡散領域114に電気的に結合するように、コンタクトホール内に形成される。金属コンタクト117及び金属コンタクト118は、互いに噛み合わせることができる。この太陽電池は、全裏面電極型太陽電池であり、金属コンタクト117、金属コンタクト118、P型拡散領域114、及びN型拡散領域115は全て、太陽電池の裏面(矢印120を参照)上に存在する。この太陽電池の前面(矢印121を参照)は、裏面の反対側にあり、通常動作中は太陽に向けられる。
図1〜図4の実施例では、P型拡散領域114及びN型拡散領域115は、単結晶シリコン基板101の外部に存在する、多結晶シリコンの層103内に形成される。他の実施形態では、P型拡散領域及びN型拡散領域は、外部の材料の層ではなく、単結晶シリコン基板内部に形成される。ここで図5〜図8を参照して、特定の実施例を説明する。
図5〜図8は、本発明の実施形態による、太陽電池の製造を概略的に示す断面図である。図5では、P型ドーパント源層202が、N型単結晶基板201の裏面上に形成される。一実施形態では、このP型ドーパント源層は、BSGのブランケット層を含む。前述のように、P型ドーパント源層202は、この実施例ではホウ素を含む、P型ドーパントの供給源としての役割を果たす。
図6では、図5の太陽電池構造体が、注入マスク112を有するイオン注入工具内に定置される。注入マスク112は、イオン注入工具の一部であり、太陽電池基板上には形成されない。一実施形態では、N型ドーパントのみが、イオン注入によって注入される。具体的には、一実施形態では、注入マスク112を使用して、P型ドーパント源層202の特定領域内に、リンイオンが選択的に注入される。リンは、注入マスク112によって覆われた、P型ドーパント源層202の領域内には注入されず、これらの領域は、P型ドーパント源として残される。
注入マスク112によって露出される、P型ドーパント源層202の領域は、この実施例ではBPSGを含む、N型ドーパント源領域203となる。N型ドーパント源領域203は、後に単結晶シリコン基板201内に拡散して、その中にN型拡散領域を形成する、N型ドーパントを提供する。
図7では、拡散工程が実行され、P型ドーパント源層202から、単結晶シリコン基板201内にP型ドーパントを拡散させることにより、単結晶シリコン基板201内に、P型拡散領域204が形成される。P型拡散領域204を形成するように拡散したP型ドーパントは、N型ドーパントが注入されていない、P型ドーパント源層202の領域からのものである。この拡散工程はまた、N型ドーパント源領域203から、単結晶シリコン基板201内にN型ドーパントを拡散させることにより、単結晶シリコン基板201内に、N型拡散領域205も形成した。対応するP型拡散領域及びN型拡散領域を単結晶シリコン基板201内に形成するための、P型ドーパント及びN型ドーパントの拡散は、同じ熱処理工程で実施することができ、この工程は、イオン注入工程の直後に、又はイオン注入工程の後に続く任意の工程で実行することができる。
更なる工程を実行することにより、太陽電池の製造を完了することができる。図8では、これらの更なる工程には、太陽電池の裏面上に、電気絶縁、パッシベーション、及び/又は他の目的のための、誘電体層208並びに他の層を形成する工程が含まれる。次いで、金属コンタクト210及び金属コンタクト211が、それぞれ、対応するN型拡散領域205及びP型拡散領域204に電気的に結合するように、コンタクトホール内に形成される。金属コンタクト210及び金属コンタクト211は、互いに噛み合わせることができる。この太陽電池は、全裏面電極型太陽電池であり、金属コンタクト210、金属コンタクト211、P型拡散領域204、及びN型拡散領域205は全て、太陽電池の裏面(矢印122を参照)上に存在する。この太陽電池の前面(矢印123を参照)は、裏面の反対側にあり、通常動作中は太陽に向けられる。
上述の太陽電池の製造工程は、ドープ単結晶シリコン基板及びP型ドーパント源層を備える、太陽電池構造体に対して実行される。拡散領域が単結晶シリコン基板の外部に存在する実施形態では、図1におけるように、P型ドーパント源層と単結晶シリコン基板との間に、多結晶シリコンの層を形成することができる。拡散領域が主シリコン基板内部に形成される実施形態では、図5におけるように、多結晶シリコンの層を省略することができる。
図9〜図11は、本発明の実施形態による、多結晶シリコン及び単結晶シリコン基板の積層体の形成を概略的に示す断面図である。図9〜図11の実施例では、これらの層は、この実施例ではエピタキシャル反応器を含む、同じ工具の同じチャンバ内で、真空破壊することなく、その場で相次いで成長される。
図9では、気相エピタキシによって、多孔質単結晶シリコンのキャリアウェハ220から、N型単結晶シリコン基板221の形態の主基板を成長させる。リンなどのN型ドーパントをチャンバ内に流し込み、基板221をN型としてドープする。その後、チャンバ内に酸素を流し込み、N型単結晶シリコン基板221の裏側表面上に、薄い酸化物層222を成長させる。次いで、酸化物層222の表面上に、多結晶シリコンの層223を成長させる。
図10では、ホウ素などのP型ドーパントをチャンバ内に流しつつ、多結晶シリコン223上に、多結晶シリコンの層を成長させる。得られる層は、多結晶シリコン223上に存在する、P型多結晶シリコン225である。
図11では、チャンバ内に酸素を流し込むことによって、P型多結晶シリコン225を酸化させることにより、P型ドーパント源層224として採用することが可能なホウ素ドープ酸化物(例えば、BSG)へと、P型多結晶シリコン225を変換する。得られた材料積層体を、前述のようなイオン注入によって処理することにより、P型ドーパント源層224内に、N型ドーパント源領域を形成することができる。
図12は、本発明の実施形態による、太陽電池の拡散領域を形成する方法のフローチャートを示す。図12の実施例では、第1の導電型のドーパントを含む被膜のブランケット層を、シリコン材料の上に形成する(工程231)。一実施形態では、この被膜のブランケット層は、シリコン材料の上に形成される、BSGなどのホウ素ドープ酸化物を含む、P型ドーパント源層である。シリコン材料は、太陽電池の拡散領域が、主太陽電池基板の外部に形成される実施形態では、多結晶シリコンとすることができる。シリコン材料は、太陽電池の拡散領域が、主太陽電池基板としての役割を果たすN型単結晶シリコン基板の内部に形成される実施形態では、N型単結晶シリコン基板とすることができる。
次いで、第1の導電型(この実施例では、P型)とは逆の第2の導電型(この実施例では、N型)のドーパントのイオンを、被膜のブランケット層内に注入する。図12の実施例では、ホウ素などのN型ドーパントが、イオン注入によって、P型ドーパント源層の選択領域内に注入されることにより、P型ドーパント源層内に、N型ドーパント源領域が形成される(232)。このイオン注入工程により、N型ドーパントが注入されていない領域内のP型ドーパント源領域と、N型ドーパントが注入されている領域内のN型ドーパント源領域とを有する、P型ドーパント源層がもたらされる。この注入工程は、P型ドーパント源層の、N型ドーパント源領域の区域を露出させ、かつP型ドーパント源領域の区域を覆う、注入マスクを使用して実行することができる。
拡散工程が実行され、P型ドーパント源層から、P型ドーパント及びN型ドーパントを拡散させることにより、シリコン材料内に、対応するP型拡散領域及びN型拡散領域が形成される(工程233)。このシリコン材料は、実施形態に応じて、多結晶シリコンの層、又は単結晶シリコン基板とすることができる。この拡散工程は、P型ドーパント源層のP型ドーパント源領域から、シリコン材料内に、P型ドーパントを拡散させることにより、シリコン材料内にP型拡散領域を形成する。この同じ拡散工程はまた、P型ドーパント源層のN型ドーパント源領域から、N型ドーパントを拡散させることにより、シリコン材料内にN型拡散領域も形成する。この実施形態では、製造されている太陽電池は、全裏面電極型太陽電池であり、P型拡散領域及びN型拡散領域は、太陽電池の裏面上に形成される。得られる太陽電池は、P型ドーパント源層のP型ドーパント源領域(例えば、BSG領域)の直下のP型拡散領域と、P型ドーパント源層のN型ドーパント源領域(例えば、BPSG領域)の直下のN型拡散領域とを有する。
図13は、本発明の実施形態による、多結晶シリコン及び単結晶シリコン基板の積層体を形成する方法のフローチャートを示す。図13の方法の工程は、一実施形態ではエピタキシャル反応器である、同じ工具の同じチャンバ内で、その場で実行することができる。
図13の実施例では、多孔質単結晶シリコンのキャリアウェハ上に、主N型単結晶シリコン基板を成長させる(工程241)。リンなどのN型ドーパントをチャンバ内に流し込み、この単結晶シリコン基板をN型としてドープする。その後、チャンバ内に酸素を流し込み、N型単結晶シリコン基板の裏側表面上に、薄い酸化物層を成長させる(工程242)。次いで、その酸化物層の表面上に、第1の多結晶シリコンの層を成長させる(工程243)。ホウ素などのP型ドーパントをチャンバ内に流しつつ、第1の多結晶シリコンの層上に、第2の多結晶シリコンの層を成長させる。得られる第2の多結晶シリコンの層は、第1の多結晶シリコンの層上に存在する、P型多結晶シリコンである(工程244)。その後、チャンバ内に酸素を流し込むことによって、P型多結晶シリコンを酸化させることにより、ホウ素ドープ酸化物へと、P型多結晶シリコンを変換する(工程245)。得られた材料積層体を、前述のようなイオン注入によって処理することにより、ホウ素ドープ酸化物内に、N型ドーパント源領域を形成することができる。
太陽電池の拡散領域及び関連する構造体を形成するための技術が開示されている。本発明の具体的な実施形態が提供されているが、これらの実施形態は、説明を目的とするものであり、限定するものではないことが理解されよう。多くの更なる実施形態が、本開示を読む当業者には明らかとなるであろう。
太陽電池の拡散領域及び関連する構造体を形成するための技術が開示されている。本発明の具体的な実施形態が提供されているが、これらの実施形態は、説明を目的とするものであり、限定するものではないことが理解されよう。多くの更なる実施形態が、本開示を読む当業者には明らかとなるであろう。本明細書に記載の発明は、以下の項目に記載の形態によっても実施され得る。
[項目1]
太陽電池の拡散領域を形成する方法であって、
P型ドーパントを含むP型ドーパント源層を、シリコン材料上に形成する工程と、
前記P型ドーパント源層の選択領域内にイオン注入によってN型ドーパントを注入して、前記P型ドーパント源層内に、N型ドーパント源領域を形成する工程と、
前記P型ドーパント源層の前記N型ドーパント源領域から、前記シリコン材料内にN型ドーパントを拡散させることによって、前記シリコン材料内に、前記太陽電池のN型拡散領域を形成する工程と、
N型ドーパントが注入されていない前記P型ドーパント源層の領域である、前記P型ドーパント源層の他の領域から、前記シリコン材料内にP型ドーパントを拡散させることによって、前記シリコン材料内に、前記太陽電池のP型拡散領域を形成する工程と、
を含む、方法。
[項目2]
前記P型ドーパント源層の前記他の領域はホウ素を含み、前記P型ドーパント源の前記N型ドーパント源領域はホウ素及びリンを含む、項目1に記載の方法。
[項目3]
前記P型ドーパント源層の前記選択領域内に注入される前記N型ドーパントは、リンを含む、項目1に記載の方法。
[項目4]
前記シリコン材料は、多結晶シリコンを含む、項目1に記載の方法。
[項目5]
前記シリコン材料は、N型単結晶シリコン基板を含む、項目1に記載の方法。
[項目6]
前記P型ドーパント源層の前記他の領域は、ホウケイ酸ガラス(BSG)を含む、項目1に記載の方法。
[項目7]
前記P型ドーパント源層の前記N型ドーパント源領域は、ホウリンケイ酸ガラス(BPSG)を含む、項目1に記載の方法。
[項目8]
前記シリコン材料は、多結晶シリコンを含み、前記方法は、
N型単結晶シリコン基板上に、薄い酸化物を形成する工程と、
前記薄い酸化物上に、前記多結晶シリコンを形成する工程と、
を更に含み、前記P型ドーパント源層は、前記多結晶シリコン上に形成される、項目1に記載の方法。
[項目9]
前記シリコン材料は、多結晶シリコンを含み、前記方法は、
単結晶シリコンのキャリアウェハ上に、N型単結晶シリコン基板を成長させる工程と、
前記N型単結晶シリコン基板上に、薄い酸化物を成長させる工程と、
前記薄い酸化物上に、前記多結晶シリコンを成長させる工程と、
前記多結晶シリコン上に、P型多結晶シリコンの層を成長させる工程と、
前記P型多結晶シリコンの層を酸化させることにより、前記P型多結晶シリコンをP型ドープ酸化物に変換する工程と、
を更に含む、項目1に記載の方法。
[項目10]
前記P型ドープ酸化物は、ホウ素ドープ酸化物を含む、項目9に記載の方法。
[項目11]
前記ホウ素ドープ酸化物は、ホウケイ酸ガラス(BSG)を含む、項目9に記載の方法。
[項目12]
項目1の前記方法を使用して製造される太陽電池。
[項目13]
太陽電池の拡散領域を形成する方法であって、
第1の導電型のドーパントを含む被膜のブランケット層を形成する工程と、
前記被膜のブランケット層の選択領域内に、前記第1の導電型とは逆の、第2の導電型のドーパントのイオンを注入することにより、前記被膜のブランケット層内に、前記第2の導電型のドーパントのドーパント源領域を形成する工程と、
前記被膜のブランケット層から下層のシリコン材料内に、前記第1の導電型のドーパントを拡散させることにより、前記シリコン材料内に、前記太陽電池の前記第1の導電型の拡散領域を形成する工程と、
前記被膜のブランケット層から前記シリコン材料内に、前記第2の導電型のドーパントを拡散させることにより、前記シリコン材料内に、前記太陽電池の前記第2の導電型の拡散領域を形成する工程と、
を含む、方法。
[項目14]
前記第1の導電型はP型を含み、前記第2の導電型はN型を含む、項目13に記載の方法。
[項目15]
前記被膜のブランケット層内の、前記第2の導電型のドーパントの前記ドーパント源領域は、ホウリンケイ酸ガラス(BPSG)を含む、項目14に記載の方法。
[項目16]
前記シリコン材料は、多結晶シリコンを含む、項目13に記載の方法。
[項目17]
前記シリコン材料は、単結晶シリコン基板を含む、項目13に記載の方法。
[項目18]
太陽電池であって、
P型ドーパントを含む第1の領域のセット、並びにN型ドーパント及びP型ドーパントを含む第2の領域のセットを含む、ブランケット被膜層と、
前記ブランケット被覆層の前記第1の領域のセットの直下の、複数のP型拡散領域と、
前記ブランケット被覆層の前記第2の領域のセットの直下の、複数のN型拡散領域と、
を備える、太陽電池。
[項目19]
前記第1の領域のセットは、ホウケイ酸ガラス(BSG)を含み、前記第2の領域のセットは、ホウリンケイ酸ガラス(BPSG)を含む、項目18に記載の太陽電池。
[項目20]
前記複数のP型拡散領域及び前記複数のN型拡散領域は、多結晶シリコンの層内に存在する、項目18に記載の太陽電池。

Claims (20)

  1. 太陽電池の拡散領域を形成する方法であって、
    P型ドーパントを含むP型ドーパント源層を、シリコン材料上に形成する工程と、
    前記P型ドーパント源層の選択領域内にイオン注入によってN型ドーパントを注入して、前記P型ドーパント源層内に、N型ドーパント源領域を形成する工程と、
    前記P型ドーパント源層の前記N型ドーパント源領域から、前記シリコン材料内にN型ドーパントを拡散させることによって、前記シリコン材料内に、前記太陽電池のN型拡散領域を形成する工程と、
    N型ドーパントが注入されていない前記P型ドーパント源層の領域である、前記P型ドーパント源層の他の領域から、前記シリコン材料内にP型ドーパントを拡散させることによって、前記シリコン材料内に、前記太陽電池のP型拡散領域を形成する工程と、
    を含む、方法。
  2. 前記P型ドーパント源層の前記他の領域はホウ素を含み、前記P型ドーパント源の前記N型ドーパント源領域はホウ素及びリンを含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記P型ドーパント源層の前記選択領域内に注入される前記N型ドーパントは、リンを含む、請求項1に記載の方法。
  4. 前記シリコン材料は、多結晶シリコンを含む、請求項1に記載の方法。
  5. 前記シリコン材料は、N型単結晶シリコン基板を含む、請求項1に記載の方法。
  6. 前記P型ドーパント源層の前記他の領域は、ホウケイ酸ガラス(BSG)を含む、請求項1に記載の方法。
  7. 前記P型ドーパント源層の前記N型ドーパント源領域は、ホウリンケイ酸ガラス(BPSG)を含む、請求項1に記載の方法。
  8. 前記シリコン材料は、多結晶シリコンを含み、前記方法は、
    N型単結晶シリコン基板上に、薄い酸化物を形成する工程と、
    前記薄い酸化物上に、前記多結晶シリコンを形成する工程と、
    を更に含み、前記P型ドーパント源層は、前記多結晶シリコン上に形成される、請求項1に記載の方法。
  9. 前記シリコン材料は、多結晶シリコンを含み、前記方法は、
    単結晶シリコンのキャリアウェハ上に、N型単結晶シリコン基板を成長させる工程と、
    前記N型単結晶シリコン基板上に、薄い酸化物を成長させる工程と、
    前記薄い酸化物上に、前記多結晶シリコンを成長させる工程と、
    前記多結晶シリコン上に、P型多結晶シリコンの層を成長させる工程と、
    前記P型多結晶シリコンの層を酸化させることにより、前記P型多結晶シリコンをP型ドープ酸化物に変換する工程と、
    を更に含む、請求項1に記載の方法。
  10. 前記P型ドープ酸化物は、ホウ素ドープ酸化物を含む、請求項9に記載の方法。
  11. 前記ホウ素ドープ酸化物は、ホウケイ酸ガラス(BSG)を含む、請求項9に記載の方法。
  12. 請求項1の前記方法を使用して製造される太陽電池。
  13. 太陽電池の拡散領域を形成する方法であって、
    第1の導電型のドーパントを含む被膜のブランケット層を形成する工程と、
    前記被膜のブランケット層の選択領域内に、前記第1の導電型とは逆の、第2の導電型のドーパントのイオンを注入することにより、前記被膜のブランケット層内に、前記第2の導電型のドーパントのドーパント源領域を形成する工程と、
    前記被膜のブランケット層から下層のシリコン材料内に、前記第1の導電型のドーパントを拡散させることにより、前記シリコン材料内に、前記太陽電池の前記第1の導電型の拡散領域を形成する工程と、
    前記被膜のブランケット層から前記シリコン材料内に、前記第2の導電型のドーパントを拡散させることにより、前記シリコン材料内に、前記太陽電池の前記第2の導電型の拡散領域を形成する工程と、
    を含む、方法。
  14. 前記第1の導電型はP型を含み、前記第2の導電型はN型を含む、請求項13に記載の方法。
  15. 前記被膜のブランケット層内の、前記第2の導電型のドーパントの前記ドーパント源領域は、ホウリンケイ酸ガラス(BPSG)を含む、請求項14に記載の方法。
  16. 前記シリコン材料は、多結晶シリコンを含む、請求項13に記載の方法。
  17. 前記シリコン材料は、単結晶シリコン基板を含む、請求項13に記載の方法。
  18. 太陽電池であって、
    P型ドーパントを含む第1の領域のセット、並びにN型ドーパント及びP型ドーパントを含む第2の領域のセットを含む、ブランケット被膜層と、
    前記ブランケット被覆層の前記第1の領域のセットの直下の、複数のP型拡散領域と、
    前記ブランケット被覆層の前記第2の領域のセットの直下の、複数のN型拡散領域と、
    を備える、太陽電池。
  19. 前記第1の領域のセットは、ホウケイ酸ガラス(BSG)を含み、前記第2の領域のセットは、ホウリンケイ酸ガラス(BPSG)を含む、請求項18に記載の太陽電池。
  20. 前記複数のP型拡散領域及び前記複数のN型拡散領域は、多結晶シリコンの層内に存在する、請求項18に記載の太陽電池。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020150110A (ja) * 2019-03-13 2020-09-17 東洋アルミニウム株式会社 バックコンタクト型太陽電池セルの製造方法
JP2020150111A (ja) * 2019-03-13 2020-09-17 東洋アルミニウム株式会社 バックコンタクト型太陽電池セルの製造方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101622089B1 (ko) * 2013-07-05 2016-05-18 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 이의 제조 방법
US20150349180A1 (en) * 2014-05-30 2015-12-03 David D. Smith Relative dopant concentration levels in solar cells
DE102014109179B4 (de) * 2014-07-01 2023-09-14 Universität Konstanz Verfahren zum Erzeugen von unterschiedlich dotierten Bereichen in einem Siliziumsubstrat, insbesondere für eine Solarzelle, und Solarzelle mit diesen unterschiedlich dotierten Bereichen
DE102014215893A1 (de) * 2014-08-11 2016-02-11 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zum Erzeugen von Dotierbereichen in einer Halbleiterschicht eines Halbleiterbauelementes
US9559236B2 (en) * 2014-09-24 2017-01-31 Sunpower Corporation Solar cell fabricated by simplified deposition process
NL2013608B1 (en) * 2014-10-10 2016-10-04 Univ Delft Tech Self aligned low temperature process for solar cells.
US20160284913A1 (en) * 2015-03-27 2016-09-29 Staffan WESTERBERG Solar cell emitter region fabrication using substrate-level ion implantation
CN106252458B (zh) 2015-06-10 2017-12-12 Lg电子株式会社 制造太阳能电池的方法
KR101751727B1 (ko) * 2015-06-10 2017-07-11 엘지전자 주식회사 태양 전지의 제조 방법
US10629758B2 (en) * 2016-09-30 2020-04-21 Sunpower Corporation Solar cells with differentiated P-type and N-type region architectures
CN112635592A (zh) * 2020-12-23 2021-04-09 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种太阳能电池及其制作方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012511258A (ja) * 2008-12-04 2012-05-17 サンパワー コーポレイション ドープされたポリシリコン領域が形成されている裏面コンタクト型太陽電池
WO2012174421A2 (en) * 2011-06-15 2012-12-20 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Patterned doping for polysilicon emitter solar cells

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5194397A (en) * 1991-06-05 1993-03-16 International Business Machines Corporation Method for controlling interfacial oxide at a polycrystalline/monocrystalline silicon interface
JP2006310368A (ja) 2005-04-26 2006-11-09 Shin Etsu Handotai Co Ltd 太陽電池の製造方法及び太陽電池
EP1964165B1 (en) * 2005-12-21 2018-03-14 Sunpower Corporation Fabrication processes of back side contact solar cells
JP5090716B2 (ja) * 2006-11-24 2012-12-05 信越化学工業株式会社 単結晶シリコン太陽電池の製造方法
US8222516B2 (en) * 2008-02-20 2012-07-17 Sunpower Corporation Front contact solar cell with formed emitter
US20090227095A1 (en) 2008-03-05 2009-09-10 Nicholas Bateman Counterdoping for solar cells
KR20110042051A (ko) * 2008-06-11 2011-04-22 솔라 임플란트 테크놀로지스 아이엔씨. 주입을 사용하여 솔라 셀의 제작
CN102396068A (zh) * 2009-03-20 2012-03-28 因特瓦克公司 高级高效晶体太阳能电池制备方法
JPWO2011074467A1 (ja) * 2009-12-18 2013-04-25 東レ株式会社 半導体デバイスの製造方法および裏面接合型太陽電池
US8735234B2 (en) * 2010-02-18 2014-05-27 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Self-aligned ion implantation for IBC solar cells
US8377738B2 (en) * 2010-07-01 2013-02-19 Sunpower Corporation Fabrication of solar cells with counter doping prevention
US8993373B2 (en) * 2012-05-04 2015-03-31 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Doping pattern for point contact solar cells

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012511258A (ja) * 2008-12-04 2012-05-17 サンパワー コーポレイション ドープされたポリシリコン領域が形成されている裏面コンタクト型太陽電池
WO2012174421A2 (en) * 2011-06-15 2012-12-20 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Patterned doping for polysilicon emitter solar cells

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020150110A (ja) * 2019-03-13 2020-09-17 東洋アルミニウム株式会社 バックコンタクト型太陽電池セルの製造方法
WO2020184705A1 (ja) * 2019-03-13 2020-09-17 東洋アルミニウム株式会社 バックコンタクト型太陽電池セルの製造方法
JP2020150111A (ja) * 2019-03-13 2020-09-17 東洋アルミニウム株式会社 バックコンタクト型太陽電池セルの製造方法
WO2020184706A1 (ja) * 2019-03-13 2020-09-17 東洋アルミニウム株式会社 バックコンタクト型太陽電池セルの製造方法
CN113785405A (zh) * 2019-03-13 2021-12-10 东洋铝株式会社 背接触型太阳能电池单元的制造方法
JP7264674B2 (ja) 2019-03-13 2023-04-25 東洋アルミニウム株式会社 バックコンタクト型太陽電池セルの製造方法
JP7264673B2 (ja) 2019-03-13 2023-04-25 東洋アルミニウム株式会社 バックコンタクト型太陽電池セルの製造方法

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