JP2016220787A - X線タルボ撮影装置 - Google Patents
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Abstract
Description
スリットが形成された複数の格子と、
複数の前記格子を透過するように放射線を照射する放射線源と、
モアレ画像を撮影する放射線検出器と、
前記格子を保持するホルダーと、
を備え、
前記ホルダーは、カーブが付けられた受け面を有する受け部と、カーブが付けられた押さえ面を有する押さえ部とを有し、
前記格子は、前記ホルダーの前記受け部の受け面と前記押さえ部の押さえ面との間で挟持されることにより、前記放射線源の一点を中心とする円弧状に湾曲されており、
前記格子の一方側の面と前記押さえ部の押さえ面との間、または、前記格子の前記一方側の面とは反対側の面と前記受け部の受け面との間に、弾性部材が配置されており、
前記ホルダーの前記受け部および前記押さえ部と前記弾性部材には、前記格子に照射される放射線を遮らないようにするための開口部がそれぞれ設けられていることを特徴とする。
次に、本実施形態に係るX線タルボ撮影装置1における各格子(線源格子20や第1格子21、第2格子22)を湾曲させるための構成等について詳しく説明する。なお、図2や図4では、第1格子21等が平面状であるように記載されているが、本実施形態では、実際には、各格子20、21、22の放射線入射面Rのどの部分においても放射線入射面Rの法線方向に入射するようにするために、各格子20、21、22が、放射線源2の一点(すなわち放射線源2の図示しない焦点或いは放射線源2の図示しない出射口の位置等)を中心とする円弧状に湾曲されている。なお、以下では、第1格子21の場合を例示して説明するが、線源格子20や第2格子22を湾曲させる場合にも同様に構成される。
次に、本実施形態に係るX線タルボ撮影装置1、特に線源格子20、第1格子21、第2格子22の各格子部分の作用について説明する。
以上のように、本実施形態に係るX線タルボ撮影装置1によれば、第1格子21等(すなわち線源格子20や第1格子21、第2格子22)をホルダー30で保持する際に、第1格子21等の放射線入射面Rと押さえ部32の押さえ面32Bとの間、或いは第1格子等の放射線出射面rと受け部31の受け面31Bとの間に、弾性部材33を配置するように構成した。
本実施形態に係るX線タルボ撮影装置1の上記の有益な効果をより的確に発揮させるために、以下のように構成することが好ましい。
本実施形態では、上記のように、弾性部材33が、ホルダー30の押さえ部32の押圧力(図8(A)、(B)の場合)や受け部31の押圧力(図9(A)、(B)の場合)で適宜に潰れて、第1格子21を、受け部31の受け面31B(図8(A)、(B)の場合)や押さえ部32の押さえ面32B(図9(A)、(B)の場合)に全面的に押し付ける、すなわち面当たりさせる状態になる。
例えば、図10(A)に示すように、弾性部材33を、第1格子21等とホルダー30の押さえ部32との間に配置する場合に、弾性部材33の端部が、第1格子21等が当接している(すなわち弾性部材33を介さずに接している)受け部31の受け面31Bの端部αより外側にはみ出していると、押さえ部32で弾性部材33を押圧した際に、受け部31の受け面31Bの端部αの部分で応力集中が生じ、第1格子21等がその部分で割れる等の損傷が生じる場合がある。
一方、上記のように、例えば、ホルダー30の受け部31や押さえ部32がアルミニウムや鉄等で形成されており、第1格子21等がシリコンウェハー等で形成されていると、アルミニウムや鉄等とシリコンウェハーでは熱膨張係数が異なるため、温度が上昇した場合等に、受け部31や押さえ部32の変形の大きさと、第1格子21等の格子の変形の大きさが異なる大きさになる。
アルミニウムの熱膨張係数が約23×10−6/Kであり、鉄の熱膨張係数が約12×10−6/Kであるのに対し、シリコンウェハーの熱膨張係数は約3.3×10−6/Kであるため、シリコンウェハーの熱膨張係数に対するアルミニウムや鉄の熱膨張係数の比は、約7倍(Al)や約3.6倍(Fe)になっている。そして、この熱膨張係数の違いが、上記のように温度が上昇した場合等に、ホルダー30内で第1格子21等が位置ズレを起こす原因の1つとなっていると考えられる。
上記のように、第1格子21等と当接するホルダー30の受け部31の受け面31B(図8(A)、(B)参照)や押さえ部32の押さえ面32B(図9(A)、(B)参照)の表面を、例えばアルマイト処理したりフッ素コーティング等で表面加工する等して、表面を滑り易くするための表面加工を施すことが効果的である。
また、上記の構成1では、弾性部材33が、ホルダー30の押さえ部32の押圧力(図8(A)、(B)の場合)や受け部31の押圧力(図9(A)、(B)の場合)で適宜に潰れて、第1格子21を、受け部31の受け面31B(図8(A)、(B)の場合)や押さえ部32の押さえ面32B(図9(A)、(B)の場合)に適切に面当たりさせる状態になるための弾性部材33の好適な硬度(或いは柔軟性)について説明した。
なお、上記のように、ホルダー30内で第1格子21等が位置ズレを起こさないようにするためには、弾性部材33が柔軟に変形することが好ましいが、弾性部材33に変形を生じさせ易くするために、例えば、弾性部材33の、ホルダー30の押さえ部32(或いは図9(A)、(B)のように構成した場合には受け部31)に当接する面に、図12(A)に示すように溝状の、或いは図12(B)に示すように円形状等の所定の形状の凹部33dを形成するように構成することが可能である。
ところで、例えば図13(A)に示す状態から、温度が上昇してホルダー30の受け部31や押さえ部32が伸びると、図13(B)に示すように、受け部31や押さえ部32に挟持された第1格子21等が、図13(A)に示した元の状態から曲率が小さくなる(すなわち曲率半径が大きくなる)ように変化する場合がある。
2 放射線源
20 線源格子(格子、複数の格子)
21 第1格子(格子、複数の格子)
22 第2格子(格子、複数の格子)
23 放射線検出器
30 ホルダー
31 受け部
31A 開口部
31B 受け面
32 押さえ部
32A 開口部
32B 押さえ面
33 弾性部材
33A 開口部
33d 凹部
33h 穴
34 ネジ
Mo モアレ画像
R 放射線入射面(格子の一方側の面)
r 放射線出射面(反対側の面)
S スリット
α、β 端部
Claims (10)
- スリットが形成された複数の格子と、
複数の前記格子を透過するように放射線を照射する放射線源と、
モアレ画像を撮影する放射線検出器と、
前記格子を保持するホルダーと、
を備え、
前記ホルダーは、カーブが付けられた受け面を有する受け部と、カーブが付けられた押さえ面を有する押さえ部とを有し、
前記格子は、前記ホルダーの前記受け部の受け面と前記押さえ部の押さえ面との間で挟持されることにより、前記放射線源の一点を中心とする円弧状に湾曲されており、
前記格子の一方側の面と前記押さえ部の押さえ面との間、または、前記格子の前記一方側の面とは反対側の面と前記受け部の受け面との間に、弾性部材が配置されており、
前記ホルダーの前記受け部および前記押さえ部と前記弾性部材には、前記格子に照射される放射線を遮らないようにするための開口部がそれぞれ設けられていることを特徴とするX線タルボ撮影装置。 - 前記ホルダーの受け部の受け面と押さえ部の押さえ面とは、前記放射線源の一点を中心とする円弧状に湾曲されていることを特徴とする請求項1に記載のX線タルボ撮影装置。
- 前記ホルダーの受け部の受け面または押さえ部の押さえ面の少なくとも一方が前記放射線源の一点を中心とする円弧状に湾曲されており、
前記格子は、前記弾性部材により、前記円弧状に湾曲されている前記受け面または前記押さえ面に全面的に押し付けられていることを特徴とする請求項1に記載のX線タルボ撮影装置。 - 前記弾性部材は、その端部が、前記格子と当接している前記ホルダーの前記受け部の前記受け面の端部または前記ホルダーの前記押さえ部の前記押さえ面の端部の外側にははみ出さないように構成されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のX線タルボ撮影装置。
- 前記格子および前記弾性部材を挟持した状態の前記ホルダーの前記受け部と前記押さえ部が、その周縁部を全周にわたってネジで締結されていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のX線タルボ撮影装置。
- 前記格子と当接する前記ホルダーの前記受け部の前記受け面または前記押さえ部の前記押さえ面が、滑り易くするために表面加工されていることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか一項に記載のX線タルボ撮影装置。
- 前記格子の熱膨張係数に対する前記ホルダーの前記受け部および前記押さえ部の熱膨張係数の差の絶対値が4×10−6以下であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載のX線タルボ撮影装置。
- 前記弾性部材は、硬度がデュロメータ硬さでA15以下であることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか一項に記載のX線タルボ撮影装置。
- 前記弾性部材は、前記ホルダーの前記受け部または前記押さえ部に当接する面に凹部または穴が形成されていることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか一項に記載のX線タルボ撮影装置。
- 前記ホルダーの前記受け部は、前記押さえ部の熱膨張係数より大きい熱膨張係数を有する材料で形成されていることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか一項に記載のX線タルボ撮影装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019005048A (ja) * | 2017-06-22 | 2019-01-17 | 株式会社島津製作所 | X線位相差イメージング装置 |
EP3434749A1 (en) | 2017-07-24 | 2019-01-30 | Konica Minolta, Inc. | Scintillator |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6753342B2 (ja) * | 2017-03-15 | 2020-09-09 | 株式会社島津製作所 | 放射線格子検出器およびx線検査装置 |
JP7020169B2 (ja) * | 2018-02-23 | 2022-02-16 | コニカミノルタ株式会社 | X線撮影システム |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57501599A (ja) * | 1980-09-10 | 1982-09-02 | ||
JP2007206075A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点−検出器装置 |
JP2012013530A (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Fujifilm Corp | 回折格子及びその製造方法、並びに放射線撮影装置 |
CN104062735A (zh) * | 2014-06-05 | 2014-09-24 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 大口径衍射光栅的夹持装置及夹持方法 |
WO2015008524A1 (ja) * | 2013-07-16 | 2015-01-22 | コニカミノルタ株式会社 | X線撮影装置及びx線撮影方法 |
JP2015037532A (ja) * | 2013-07-16 | 2015-02-26 | キヤノン株式会社 | 線源格子、干渉計及び被検体情報取得システム |
-
2015
- 2015-05-28 JP JP2015108208A patent/JP6515682B2/ja active Active
-
2016
- 2016-05-18 US US15/157,714 patent/US10078058B2/en active Active
- 2016-05-18 EP EP16170043.0A patent/EP3101661B1/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57501599A (ja) * | 1980-09-10 | 1982-09-02 | ||
JP2007206075A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点−検出器装置 |
JP2012013530A (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Fujifilm Corp | 回折格子及びその製造方法、並びに放射線撮影装置 |
WO2015008524A1 (ja) * | 2013-07-16 | 2015-01-22 | コニカミノルタ株式会社 | X線撮影装置及びx線撮影方法 |
JP2015037532A (ja) * | 2013-07-16 | 2015-02-26 | キヤノン株式会社 | 線源格子、干渉計及び被検体情報取得システム |
CN104062735A (zh) * | 2014-06-05 | 2014-09-24 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 大口径衍射光栅的夹持装置及夹持方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019005048A (ja) * | 2017-06-22 | 2019-01-17 | 株式会社島津製作所 | X線位相差イメージング装置 |
EP3434749A1 (en) | 2017-07-24 | 2019-01-30 | Konica Minolta, Inc. | Scintillator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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