JP2015037532A - 線源格子、干渉計及び被検体情報取得システム - Google Patents
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Abstract
Description
本実施形態では、2次元のX線トールボット・ラウ干渉法を行う干渉計を備える被検体情報取得システムについて説明をする。但し、本明細書においてX線とはエネルギーが2keV以上100keV以下の電磁波を指す。
P0=Ps×L/z 式(1)
但し、P0は線源格子のピッチ、Psは自己像のピッチ、Lは線源格子と回折格子の距離、zは回折格子と自己像の距離である。尚、線源格子のピッチとは、線源格子の透過部のピッチ(回折格子のパターンの配列方向におけるピッチ)のことを指す。また、回折格子と自己像の距離は、遮蔽格子を用いる場合は回折格子と遮蔽格子の距離であり、遮蔽格子を用いずに自己像を直接検出する場合は回折格子と検出器の距離である。自己像のピッチとは、遮蔽格子を用いる場合は遮蔽格子上における自己像の明部のピッチであり、遮蔽格子を用いずに自己像を直接検出する場合は検出器の検出面上における自己像の明部のピッチである。
P0a=P0b×(L+z)/(L+d+z) 式(2)
P0a=Psa×L/z 式(1−a)
P0b=Psb×(L+d)/z 式(1−b)
P1a=A×Psa×L/(L+Z) 式(3)
P1b=A×Psb×(L+d)/(L+d+z) 式(4)
P1=A×Ps×L/(L+Z) 式(5)
本実施形態では、実施形態1と異なるX線干渉計ついて説明をする。本実施形態のX線干渉計は、第1の部分線源格子のピッチと第2の部分線源格子のピッチが等しく、回折格子が有する変調パターンの、第3の方向におけるピッチと第4の方向におけるピッチとが異なる点が実施形態1と異なる。その他の構成は実施形態1と同様であるため省略する。
P1a=P1b×(L+d+z)/(L+z) 式(6)
(L+d+z)/(L+z)は1より大きいため、P1a>P1bである。本実施形態の回折格子が有する変調パターンの一例を図9に示す。
本実施形態では、実施形態1、2と異なるX線干渉計ついて説明をする。本実施形態のX線干渉計は、第1の部分線源格子のピッチが第2の部分線源格子のピッチよりも小さく、且つ、回折格子が有する変調パターンの、第3の方向におけるピッチと第4の方向における回折格子ピッチとが異なる点が実施形態1、2と異なる。その他の構成は実施形態1、2と同様であるため省略する。
P1a=P1b×L(L+d+z)/(L+z)(L+d) 式(7)
尚、式(7)は、式(3)、(4)Psa=Psbを代入して導出した。
P0a=P0b×L/(L+d) 式(8)
式(1)から、
P0a=Psa×L/z 式(1−a)
P0b=Psb×(L+d)/z 式(1−b)
である。よって、第3の方向における自己像のピッチPsaと第4の方向における自己像のピッチPsbが等しい場合、式(8)が導かれる。そして、式(7)と式(8)が成立するときに、第1の部分線源格子と第2の部分線源格子の両方をラウ条件を満たす位置に配置することができる。尚、式(7)が成立しない場合は、式(1−a)と式(1−b)とを用いれば理想的な(ラウ条件が成立する)P0aとP0bを算出することができる。
本実施形態では、実施形態1〜3と異なるX線干渉計ついて説明をする。本実施形態のX線干渉計は、第1の部分回折格子81と第2の部分回折格子82とを有する回折格子を備える点が実施形態1〜3と異なる。
P0a=Psa×L/z 式(1−a)
P0b=Psb×(L+d)/z 式(1−b)
但し、Psaは第3の方向における自己像のピッチ、Psbは第4の方向における自己像のピッチである。
2 X線源
4 線源格子
104 第1の部分線源格子
114 遮蔽部
124 透過部
204 第2の部分線源格子
214 遮蔽部
224 透過部
Claims (20)
- X線を透過する透過部と、X線を遮蔽する遮蔽部と、が第1の方向に交互に配列した第1の部分線源格子と、
X線を透過する透過部と、X線を遮蔽する遮蔽部と、が前記第1の方向と交差する第2の方向に交互に配列した第2の部分線源格子とを備え、
前記第1の部分線源格子は前記第1の方向に湾曲した形状を有し、
前記第2の部分線源格子は前記第2の方向に湾曲した形状を有することを特徴とする線源格子。 - 前記第1の部分線源格子における前記透過部のピッチが、
前記第2の部分線源格子における前記透過部のピッチよりも小さいことを特徴とする請求項1に記載の線源格子。 - 前記第2の部分線源格子の曲率半径は第1の部分線源格子の曲率半径よりも小さいことを特徴とする請求項1又は2に記載の線源格子。
- 第1の部分線源格子の曲率半径をr1、第2の部分線源格子の曲率半径をr2、第1の部分線源格子と第2の部分線源格子の距離をdとするとき、
r1=r2+dであり、dは4mmよりも大きいことを特徴とする請求項3に記載の線源格子。 - X線源からの発散X線を空間的に分割する線源格子と、
前記線源格子からのX線を回折して干渉パターンを形成する回折格子と、
前記回折格子からのX線の強度を検出し、強度分布の情報を取得する検出器とを備え、前記線源格子が、請求項1乃至4のいずれか1項に記載の線源格子であり、
前記回折格子が、第3の方向と、前記第3の方向と交差する第4の方向とに変調パターンを有することを特徴とする干渉計。 - 前記第3の方向における前記第1の部分線源格子のピッチをP0a、
前記第4の方向における前記第2の部分線源格子のピッチをP0bとすると、
下記式が成り立つことを特徴とする請求項5に記載の干渉計。
P0a=P0b×(L+z)/(L+d+z)
但し、Lは前記第1の部分線源格子と前記回折格子との距離、zは前記回折格子と前記干渉パターンとの距離、dは前記第1の部分線源格子と前記第2の部分線源格子との距離とする。 - 前記回折格子は、
前記第3の方向における前記変調パターンのピッチと、前記第4の方向における前記変調パターンのピッチとが異なることを特徴とする請求項5に記載の干渉計。 - 前記回折格子の前記第3の方向における変調パターンのピッチをP1a、
前記回折格子の前記第4の方向における変調パターンのピッチをP1b、とすると、
下記式が成り立つことを特徴とする請求項7に記載の干渉計。
P1a=P1b×(L+d+z)/(L+z)
但し、Lは前記第1の部分線源格子と前記回折格子との距離、zは前記回折格子と前記干渉パターンとの距離、dは前記第1の部分線源格子と前記第2の部分線源格子との距離とする。 - 前記回折格子は第1の部分回折格子と第2の部分回折格子を有し、
前記第2の部分回折格子は、前記第1の部分回折格子と前記第1の部分線源格子との間に配置され、
前記第1の部分回折格子は、前記第2の部分回折格子と前記検出器との間に配置され、前記第1の部分線源格子と前記第2の部分線源格子との距離と、
前記第1の部分回折格子と前記第2の部分回折格子との距離との差が4mm以下であることを特徴とする請求項5に記載の干渉計。 - 前記干渉パターンの一部を遮蔽する遮蔽格子を備え、
前記検出器は、前記遮蔽格子からのX線を検出し、
前記遮蔽格子は第1の部分遮蔽格子と第2の部分遮蔽格子とを有し、
前記第1の部分遮蔽格子は、前記第2の部分遮蔽格子と前記検出器との間に配置され、前記第1の部分遮蔽格子と前記第2の部分遮蔽格子との距離が、
前記第1の部分線源格子と前記第2の部分線源格子との距離の1.05倍以下0.95倍以上であることを特徴とする請求項9に記載の干渉計。 - 前記第4の方向における前記干渉パターンのピッチが、前記第3の方向における前記干渉パターンのピッチとの1.05倍以下0.95倍以上であることを特徴とする請求項5、7、9、10のうちいずれか1項に記載の干渉計。
- 前記第3の方向における前記第1の部分線源格子のピッチをP0a、
前記第4の方向における前記第2の部分線源格子のピッチをP0b、
前記第3の方向における前記変調パターンのピッチをP1a、
前記第4の方向における前記変調パターンのピッチをP1b、とすると、
下記式が成り立つことを特徴とする請求項5、7、11のうちいずれか1項に記載の干渉計。
P0a=P0b×L/(L+d)
P1a=P1b×L(L+d+z)/(L+z)(L+d)
但し、Lは前記第1の部分線源格子と前記回折格子との距離、zは前記回折格子と前記干渉パターンとの距離、dは前記第1の部分線源格子と前記第2の部分線源格子との距離とする。 - 前記干渉パターンの一部を遮蔽する遮蔽格子を備え、
前記遮蔽格子は、第5の方向と前記第5の方向と異なる第6の方向とにおいてX線を透過する透過部とX線を遮蔽する遮蔽部とが配列しており、
前記検出器は、前記遮蔽格子からのX線を検出することを特徴とする請求項5乃至8、11、12のいずれか1項に記載の干渉計。 - 前記第4の方向における、前記遮蔽格子のピッチと前記干渉パターンのピッチとの差が、
前記第3の方向における、前記遮蔽格子のピッチと前記干渉パターンのピッチとの差の、1.05倍以下0.95倍以上であることを特徴とする請求項13に記載の干渉計。 - 請求項5乃至14のいずれか1項に記載の干渉計と、
前記検出器による検出結果の情報を用いて、前記線源格子と前記回折格子の間又は前記回折と前記検出器の間に配置された被検体の情報を取得する演算装置を備えることを特徴とする被検体情報取得システム。 - 請求項5乃至15のいずれか1項に記載の干渉計と、
前記検出器による検出結果の情報をフーリエ変換することにより、前記線源格子と前記回折格子の間又は前記回折格子と前記検出器の間に配置された被検体の情報を取得する演算装置を備えることを特徴とする被検体情報取得システム。 - 請求項11、12又は14のいずれか1項に記載の干渉計と、
前記検出器による検出結果の情報を用いて、前記線源格子と前記回折格子の間又は前記回折格子と前記検出器の間に配置された被検体の情報を取得する演算装置を備え、
前記干渉計は、前記第3の方向における前記干渉パターンと前記遮蔽格子との相対位置と、前記第4の方向における前記干渉パターンと前記遮蔽格子との相対位置と、を変化させて縞走査法による検出を行い、
前記演算装置は、前記縞走査法による検出により得られた複数の検出結果を用いて被検体の情報を取得することを特徴とする被検体情報取得システム。 - 前記線源格子にX線を照射するX線源を備えることを特徴とする請求項15乃至17のいずれか1項に記載の被検体情報取得システム。
- X線源からの発散X線を空間的に分割する線源格子と、
前記線源格子からのX線を回折して干渉パターンを形成する回折格子と、
前記回折格子からのX線の強度を検出し、強度分布の情報を取得する検出器とを備える干渉計に用いられることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の線源格子。 - 発散X線を射出するX線源と、前記X線源からのX線を分割する線源格子とを備え、
前記線源格子は、
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の線源格子であることを特徴とするX線照射手段。
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