JP2016200602A

JP2016200602A - 光学式穀粒評価装置

Info

Publication number: JP2016200602A
Application number: JP2016139154A
Authority: JP
Inventors: 森本　進; Susumu Morimoto; 進森本; 正夫添; Masao Soe
Original assignee: Kubota Corp
Current assignee: Kubota Corp
Priority date: 2016-07-14
Filing date: 2016-07-14
Publication date: 2016-12-01
Anticipated expiration: 2034-10-15
Also published as: JP6452652B2

Abstract

【課題】光源からの光を貯留状態の穀粒に照射する投光部から、穀粒を透過した光が入射する受光部に対して直接に入射してしまう不都合が低減され、投光部及び受光部の製造コストが抑制される光学式穀粒評価装置を提供する。
【解決手段】光源からの光を測定対象である穀粒に照射する投光部５８と、穀粒を透過した光が入射する受光部５９と、受光した光の情報に基づいて穀粒を評価する穀粒評価部６０と、光源５０と投光部５９との間の領域と、受光部５９と穀粒評価部６０との間の領域とを隔離し、投光部５８から直接に受光部５９に光が入射するのを阻止する遮蔽部ＳＨとを備えている。
【選択図】図１８

Description

本発明は、米や麦などの穀粒に含まれている成分を光学測定を通じて評価する光学式穀粒評価装置に関する。

近赤外線光の散乱反射率特性を利用して、流れ状態の穀粒に含まれる水分やタンパク質を測定する装置が特許文献１から知られている。この装置では、収穫機等の農機の排出ダクトに沿って配置されて排出ダクト内を流れている穀物の流れに照射する光源と、穀物から散乱して反射されてくる光を検出する検出器とは同じハウジング内に配置され、光源と検出器とが並ぶ箇所は遮蔽体で仕切られている。この装置では、光源から穀粒に照射されて戻ってきた光を検出器で受光するが、その構造的な特徴から穀粒測定時に光源からの光が直接検出器に入り込んでしまう可能性がある。

又、脱穀処理され一時的に貯留された穀粒の内部品質を評価する光学式の内部品質計測手段が、特許文献２から知られている。この内部品質計測手段は、コンバインの穀粒タンクに設けられており、近赤外光を穀粒に当てて、その透過光の分光分析に基づいて吸収スペクトルを解析して、その解析結果により、穀粒に含まれる水分、タンパク質、アミロース等の成分量を判別する。内部品質計測手段は、光源部と、光源部からの測定用光線及び穀粒からの拡散反射光を導く計測用プローブと、計測用プローブにて導かれた測定用光線を穀粒に照射するとともに、穀粒からの拡散反射光を受光して計測用プローブへ導く投受光アダプタと、計測用プローブにて導かれた拡散反射光の分光スペクトルを計測する分光計測部と、分光計測部で得られた分光スペクトルに基づいて穀粒に含まれる成分に基づく成分の演算処理を行う演算部とを備えている。投受光アダプタと計測用プローブとはカバー体に収納され、光源部と分光計測部と演算部とはカバー体とは別体の装置内に収納されている。計測用プローブは、照射用光ファイバと受光用光ファイバとからなる。照射用光ファイバと受光用光ファイバとは、照射用光ファイバにおける測定用光線の入射端部側及び受光用光ファイバにおける拡散反射光の出射端部側を除いた部分を、環状の照射用光ファイバの内部に受光用光ファイバが位置する同軸状に形成している。投受光アダプタは、計測用プローブの先端に取り付けられ、外筒体、その外筒体の内部にその外筒体と間隔を隔てて同軸状に位置する内筒体、外筒体と内筒体とを連結する連結部材とからなる。

この内部品質計測手段では、光源からの光を照射用光ファイバを用いて投受光アダプタに導くようになっており、穀粒からの光を投受光アダプタから受光用光ファイバを用いて分光計測部に導くようになっている。又、投受光アダプタは、外筒体と、それに間隔を隔てて同軸状に位置する内筒体とを備える構成であり、その製作コストが高価となる不都合がある。

米国特許出願公開第２００５／００８５２８３号公報特開２０１３−１１８８５７号公報

上記実情からみて、光源からの光を貯留状態の穀粒に照射する投光部から、穀粒を透過した光が入射する受光部に対して直接に入射してしまう不都合が低減され、投光部及び受光部の製造コストが抑制される光学式穀粒評価装置が要望されている。

本発明に係る光学式穀粒評価装置の特徴構成は、
光源と、
光源からの光を貯留状態の穀粒に照射する投光部と、
前記投光部から前記穀粒に照射され前記穀粒を透過した光が入射するとともに、前記投光部と間隔をあけて並置される受光部と、
前記受光部にて受光した光の情報に基づいて穀粒を評価する穀粒評価部と、
前記光源と前記投光部との間の領域と、前記受光部と前記穀粒評価部との間の領域とを隔離し、前記投光部から直接に前記受光部に光が入射するのを阻止する遮蔽部とを備え、
前記光源と前記投光部との間の領域、並びに、前記受光部と前記穀粒評価部との間の領域は、全領域にわたり、光が空気中を伝播する空気伝播領域に構成されている点にある。

本発明によれば、投光部から貯留状態の穀粒に光源からの光が照射され、穀粒を透過した光が受光部から入射し、受光した光の情報に基づいて穀粒評価部が穀粒を評価することができる。そして、遮蔽部を備えることによって、光源と投光部との間の領域と、受光部と穀粒評価部との間の領域とが隔離されるとともに、投光部から直接に受光部に光が入射するのが阻止される。

又、光源と投光部との間の領域、並びに、受光部と穀粒評価部との間の領域は、全領域にわたり、光が空気中を伝播する空気伝播領域に構成されているから、高価な光ファイバーや構造の複雑な計測用プローブ等が不要であり、構成が簡素なものになり、低コスト化を図ることができる。

従って、光源からの光を貯留状態の穀粒に照射する投光部から、穀粒を透過した光が入射する受光部に対して直接に入射してしまう不都合が低減され、投光部及び受光部の製造コストが抑制される光学式穀粒評価装置を提供できるに至った。

本発明においては、前記光源と前記投光部とが直線状に配置されていると好適である。

本構成によれば、光源と投光部とが直線状に配置されており、それらの間に、反射鏡や屈曲した光路を形成する部材等が存在しないものとなる。その結果、より一層、構成が簡素なものとなる。

本発明においては、前記光源からの光の前記投光部の通過を許容する開状態と通過を阻止する閉状態とに切り換え自在なシャッターと、前記シャッターが前記閉状態にあるときに前記光源からの光を取り込んで穀粒の評価結果を補正するための補正用光情報を得る補正機構とが、一体的に備えられていると好適である。

本構成によれば、非計測状態ではシャッターを閉状態に切り換えておけば、穀粒に対して無用に強い光が照射されて穀粒の品質が劣化することを回避でき、シャッターが閉状態にあるときに補正機構を作用させて補正用光情報を得ることができ、シャッターが開状態になると、補正機構が作用しない状態になるので、計測処理と補正処理とを良好に行うことができる。

本発明においては、前記補正機構は、前記光源からの光を通過させて前記穀粒評価部に入射する補正用の光学フィルターを備えていると好適である。

本構成によれば、補正用の光学フィルターによって、光源からの光の光量の変化や波長のズレ等の変化を計測して、適正な補正処理を行うことによって、穀粒を適正に評価することができる。

本発明においては、前記シャッターが閉状態にあるときに前記光源からの光を反射して前記補正機構に導く光反射体を備えていると好適である。

本構成によれば、シャッターを閉状態に切り換えておいて、光反射体によって光源からの光を補正機構に導くことができるので、簡素な構成により、光源の光を有効に利用して補正機構のための光として利用することができる。

本発明においては、前記シャッターが前記光反射体を兼用するものであると好適である。

本構成によれば、シャッターが光反射体を兼用するので、より一層構成の簡素化を図ることができる。

本発明においては、前記シャッターと前記補正機構とは、同一平面状に並ぶ状態で、且つ、前記シャッターが作用する状態と前記補正機構が作用する状態とに切り換わるように一体的に移動自在に備えられていると好適である。

本構成によれば、シャッターと補正機構とは同一平面状に並ぶので、その平面に沿って移動させるだけの簡単な操作で、シャッターが作用する状態と補正機構が作用する状態とを切り換えることができる。

本発明においては、前記シャッターと前記補正機構とが、前記投光部と前記受光部とが取り付けられる取り付け面と直交する軸芯周りで回転する回転体に一体的に備えられ、
前記回転体を回転することで、前記シャッターが開状態になる計測状態と前記補正機構が作用する補正状態とに切り換わるように構成されていると好適である。

本構成によれば、回転体を回転させることにより、シャッターが開状態になって穀粒に光を照射して穀粒からの光を受光部にて受光する計測処理を行う計測状態と、補正機構が作用する状態となって補正機構を作用させて補正用光情報を得る補正状態とに切り換わる。例えば、直線状にスライド操作させる等の構成に比べて、回転体を回転させるという簡単で且つ円滑な動作で動作状態を切り換えることができる。

本発明においては、前記光源を冷却する冷却風を生起する冷却ファンと、
前記光源及び前記冷却ファンが内装されるとともに、内部を冷却風が通風する通風ケーシングとが備えられ、
前記通風ケーシングは、前記冷却風を給気する給気口と、前記冷却風を外部に排気する排気口とが、同一平面上に位置する状態で形成されていると好適である。

本構成によれば、通風ケーシングは給気口と排気口とが同一平面上に位置するので、直線状の１つの平面に沿わせて給気口と排気口とを位置させることができ、箱状のケース等に設置し易い利点がある。

コンバインの全体側面図である。コンバインの全体平面図である。光学式穀粒評価装置の設置状態を示す穀粒タンクの縦断側面図である。サンプリング部と光学式穀粒評価装置の縦断側面図である。サンプリング部の縦断側面図である。（ａ）は、開閉板を下降開位置に操作した状態の開閉操作機構を示す正面図、（ｂ）は、開閉板を上昇閉位置に操作した状態の開閉操作機構を示す正面図である。光学式穀粒評価装置の蓋体を外した状態の正面図である。光学式穀粒評価装置の背面図である。光学式穀粒評価装置の斜視図である。光学式穀粒評価装置の分解斜視図である。ランプユニットの斜視図である。ランプユニットの分解斜視図である。分光測定ユニットの分光部カバーを外した状態の斜視図である。分光測定ユニットの分解斜視図である。（ａ）は、分光測定ユニットの斜視図、（ｂ）は、測定ヘッドを分解した状態の分光測定ユニットの斜視図である。計測処理状態の分光測定ユニットの要部の斜視図である。計測処理状態の分光測定ユニットの要部の分解斜視図である。計測処理状態の分光測定ユニットの要部の横断平面図である。光量補正処理状態の分光測定ユニットの要部の斜視図である。光量補正処理状態の分光測定ユニットの要部の分解斜視図である。光量補正処理状態の分光測定ユニットの要部の横断平面図である。換気ユニットの断面図である。別実施形態の光学式穀粒評価装置の設置状態を示す穀粒タンクの縦断側面図である。別実施形態のサンプリング部と光学式穀粒評価装置の縦断側面図である。

以下、本発明に係る光学式穀粒評価装置の実施形態をコンバインにて収穫した穀粒を測定対象とする場合について図面に基づいて説明する。すなわち、この実施形態では、光学式穀粒評価装置は穀物を収穫するコンバインに搭載されている。

図１は、光学式穀粒評価装置が搭載された自脱型のコンバインの全体を示す側面図であり、図２は平面図である。このコンバインは、左右一対のクローラ走行装置１によって機体が自走するように構成され、機体フレーム２の前部に刈取部３が支持され、機体フレーム２の後部に脱穀装置４と穀粒タンク５とが支持されている。又、走行機体の前部の横一端側に、運転座席６を有する運転部７が備えられ、運転座席６の下方にエンジン８が備えられている。伝動系について詳述はしないが、エンジン８の動力が各部に伝達されて機体走行しながら刈取作動を行うように構成されている。

脱穀装置４は、左横側に設けられたフィードチェーン（図示せず）によって刈取部３から搬送された刈取穀稈の株元側を挟持して機体後方側に搬送しながら、穂先側は脱穀部の扱室(図示せず)に供給され、回転駆動される扱胴（図示せず）によって脱穀される。脱穀装置４は、扱室の下部に設けた選別部における揺動選別及び風選別によって、脱穀処理物が、穀粒とワラ屑等の塵埃とに選別され、単粒化した穀粒は脱穀機体内の底部に落下する。塵埃は脱穀機体の後外側に排出される。

図２に示すように、脱穀装置４の内部の底部には１番スクリューコンベヤ９が設けられている。単粒化した穀粒は、１番スクリューコンベヤ９によって脱穀機体の横方向に沿って穀粒タンク５側に横送り搬送され、揚穀装置１０にて搬送されて穀粒タンク５内に貯留される。

穀粒タンク５について説明する。
穀粒タンク５は、機体フレーム２のうちの脱穀装置４に対して走行機体右横側、かつエンジン８の後方の部分に配置されている。穀粒タンク５の左横側部に揚穀装置１０が配置されている。揚穀装置１０の搬送終端部は、穀粒タンク５の横側部５ａに接続されている。図３に示すように、揚穀装置１０は回転駆動される揚送スクリュー１１を備え、穀粒は揚送スクリュー１１よって揚穀装置１０の吐出口１２に揚送される。揚送スクリュー１１の吐出口１２に対向する位置に回転羽根１３が一体回転自在に設けられている。揚送スクリュー１１からの穀粒が回転駆動される回転羽根１３による跳ね飛ばしにより、吐出口１２から穀粒タンク５の穀粒貯留空間５ｂに吐出される。従って、脱穀装置４からの穀粒は、穀粒タンク５の穀粒貯留空間５ｂに順次貯留される。

図１，３に示すように、穀粒タンク５の底部に走行機体前後向きの底スクリュー１４が設けられている。穀粒タンク５の後外側に走行機体上下向きの縦スクリューコンベヤ１５が設けられ、縦スクリューコンベヤ１５の上端部から横スクリューコンベヤ１６が延出されている。穀粒タンク５に貯留された穀粒が、底スクリュー１４、縦スクリューコンベヤ１５及び横スクリューコンベヤ１６によって搬送され、吐出筒１７から吐出される。

図３に示すように、穀粒タンク５の下部に機体フレーム２によって支持されたロードセル１８が配置されている。このロードセル１８により、穀粒タンク５に貯留された穀粒の重量が計測される。さらに、穀粒タンク５の前部に光学式穀粒評価装置１９が配置されている。光学式穀粒評価装置１９により、脱穀装置４から搬出されて穀粒タンク５に投入される穀粒の内部品質が評価される。ロードセル１８及び光学式穀粒評価装置１９による計測結果は、運転部７に設けた表示装置２０に表示される。

光学式穀粒評価装置１９は、詳細については後述するが、上下方向に幅広で且つ左右方向に幅狭の前後方向視矩形状であって、且つ、前後幅は左右方向の幅よりも小さい全体として前後方向に薄い箱形状に形成されている。そして、この光学式穀粒評価装置１９は、穀粒タンク５における前側壁５Ｆの運転部７側に備えられる。

すなわち、図７〜１０に示すように、光学式穀粒評価装置１９は、上下両側に連結フランジ部２４を備えており、この連結フランジ部２４を用いて穀粒タンク５における前側壁５Ｆにボルトによって連結する。前側壁５Ｆには、計測用の光が通過する箇所に後述する測定ヘッド３１が挿通する箇所にだけ開口が形成されており、光学式穀粒評価装置１９は、穀粒タンク５の穀粒貯留空間５ｂと仕切られた状態で前側壁５Ｆの運転部７側に位置する状態で、穀粒タンク５の外方側に備えられる。

穀粒タンク５の穀粒貯留空間５ｂにおける光学式穀粒評価装置１９の後部側箇所に、穀粒評価を行うために穀粒を一時的に貯留するサンプリング部２５が形成されている。サンプリング部２５は、穀粒タンク５に投入された穀粒の一部を、光学式穀粒評価装置１９の計測対象として一時的に貯留し、光学式穀粒評価装置１９による計測が終了すると、貯留されていた穀粒は穀粒タンク５の穀粒貯留空間５ｂに排出される。

〔サンプリング部〕
次にサンプリング部２５について説明する。
図４に示すように、サンプリング部２５は、穀粒タンク５上下向きの筒状の保持部形成体２６の内部に穀粒を一時的に保持する受け止め保持部２７が形成されている。そして、受け止め保持部２７の上部に配備した満杯センサ２８と、受け止め保持部２７の下部側を開閉する開閉板２９と、開閉板２９を操作する開閉操作機構３０とを備える。

図４に示すように、受け止め保持部２７の上方箇所のうち、受け止め保持部２７に対して光学式穀粒評価装置１９の測定ヘッド３１が位置する側とは反対側に位置する箇所に、受け止め保持部２７の一方の壁面を形成する壁板３２の上部に一体形成する状態で傾斜案内面３３が備えられている。サンプリング部２５の上方に来た穀粒を傾斜案内面３３によって受け止め保持部２７に向けて流下案内する。

開閉操作機構３０は、図４，５に示すように、保持部形成体２６の内部のうちの受け止め保持部２７の下方に位置する部位に配備した電動モータ３４及び電動モータ３４にて回転操作される回転カム３５を備えている。電動モータ３４は、保持部形成体２６と、保持部形成体２６の内部に固定した壁部材３７とによって形成されたモータ室３６に収容されている。回転カム３５は、電動モータ３４によって駆動されて開閉板２９を開閉操作する。開閉板２９は、支持軸２９ａの軸芯Ｘまわりで揺動自在に保持部形成体２６に支持されている。

図４は、開閉板２９を閉じた状態のサンプリング部２５を示す側面図である。図６（ｂ）は、開閉板２９を上昇閉位置に操作した状態の開閉操作機構３０を示す正面図である。図４と図６（ｂ）とに示すように、回転カム３５は、回転軸芯Ｙ１まわりに閉操作側に回転駆動され、大径部３５ａが回転軸芯Ｙ１よりも上方に位置すると、閉じ状態になる。回転カム３５は、閉じ状態になると、大径部３５ａが開閉板２９の裏面側のうちの開閉軸芯Ｘ寄りの部位に当接して押し上げ作用することにより、開閉板２９を上昇閉位置となる。

図５は、開閉板２９を開いた状態のサンプリング部２５を示す側面図である。図６（ａ）は、開閉板２９を下降開位置に操作した状態の開閉操作機構３０を示す正面図である。図５と図６（ａ）とに示すように、回転カム３５は、回転軸芯Ｙまわりに開操作側に回転駆動され、大径部３５ａが回転軸芯Ｙ１よりも下方に位置すると、開放状態になる。回転カム３５が、開放状態になると、開閉板２９に対する大径部３５ａの押し上げ作用が解除され、開閉板２９は重量によって下降開位置となる。

回転カム３５は、開閉板２９の下降開位置において、開閉板２９の裏側において屈曲部２９ｂによって形成される凹入部２９ｃに入り込む。これにより、下降開位置になった開閉板２９は、電動モータ３４寄りの箇所に位置して落下通路３８を広くする。

電動モータ３４の横側に回転ポテンショメータ３９が備えられている。図４，５，６に示すように、回転ポテンショメータ３９の回転操作軸３９ａから検出アーム４０が一体回転自在に延出されている。検出アーム４０は、回転カム３５の周面に接触作用する検出部４１を備えている。回転ポテンショメータ３９は、開閉板２９の上昇閉位置及び開閉板２９の下降開位置を検出する。

満杯センサ２８は、静電容量型の近接センサによって構成されている。満杯センサ２８は、保持部形成体２６において、平面視で、測定ヘッド３１の光投射方向（図４の左右方向）に対して交差する向きに配置されている。

満杯センサ２８は、受け止め保持部２７の上下方向に対して傾斜した状態で保持部形成体２６のうちの受け止め保持部２７に向かう表面に取付けてある。つまり、満杯センサ２８が保持部形成体２６の表面から突出する部位に穀粒が乗ることがあっても、穀粒が満杯センサ２８の傾斜によって自ずと落下する。

満杯センサ２８が受け止め保持部２７における穀粒の満杯状態を検出すると、貯留された穀粒の光学式穀粒評価装置１９による計測が行われ、光学式穀粒評価装置１９による計測が終わると、開閉板２９が開位置に制御される。これにより、一時的に貯留されていた穀粒は、落下通路３８を通って穀粒タンク５の穀粒貯留空間５ｂに落下する。

開閉板２９の開放時から、計測済みの穀粒を排出するのに必要な排出時間として設定した設定排出時間が経過し、かつ、満杯センサ２８が満杯状態を検出していないことを条件として、開閉操作機構３０の開閉板２９が閉位置に切り替えられる。これにより、入り込む穀粒が再び計測対象として貯留される。

〔光学式穀粒評価装置〕
光学式穀粒評価装置１９について説明する。
この実施形態における光学式穀粒評価装置１９は、近赤外光の分光スペクトルデータを利用した分光分析による成分分析方法を用いて内部品質を計測するものであり、近赤外光を穀粒に投射して、透過光の分光分析に基づいて吸収スペクトルを計測する。その計測結果を評価することで、穀粒に含まれる水分、タンパク質、アミロース等の成分量を算定する。更に、光学式穀粒評価装置１９は、水分、タンパク質、アミロース等の成分量の算定結果を基に、穀粒の食味を判別することも可能である。

以下、具体構成について説明する。
図７に示すように、光学式穀粒評価装置１９は、受け止め保持部２７内に計測用の光を照射する光源としてのリフレクター（集光反射板）付きのハロゲンランプ５０を備えたランプユニット５１と、電源コード５２を介して供給される電力を調整してハロゲンランプ５０に供給する電源ユニット５３と、穀粒に照射された光のうち穀粒を透過した光を受光して、その受光した光の分光分析を行う分光測定ユニット５４と、分光測定ユニット５４における電気的な制御を行うとともに、検出情報に基づいて穀粒の内部品質を評価するための種々の演算処理を行う制御ユニット５５と、測定対象（穀粒）に対向する測定ヘッド３１と、それらの各装置を収納する箱形状の収納ケース５７とを備えている。

測定ヘッド３１は、ハロゲンランプ５０からの光を貯留状態の穀粒に照射する投光部５８及び穀粒を透過した光が入射するとともに投光部５８と間隔をあけて並置される受光部５９を備えている。この測定ヘッド３１は、穀粒タンク５における前側壁５Ｆに形成された開口を通してサンプリング部２５の受け止め保持部２７に向けて露出しており、貯留される穀粒に対向する状態で備えられる。
そして、分光測定ユニット５４と制御ユニット５５とにより、受光部５９にて受光した光の情報に基づいて穀粒を評価する穀粒評価部６０が構成される。

図９，１０に示すように、収納ケース５７は、受け止め保持部２７の壁体に隣接配置される長方形状のベース壁６１を底壁（底面）として備え、収納空間を作り出す角筒状の周壁６２がベース壁６１の周縁部から立設されている。そして、図９に示すように、収納空間を覆うために周壁６２により形成された開口を覆う蓋体６３がボルトで固定される状態で備えられている。収納ケース５７は、コンパクトに各装置を収納する状態となっている。

図１０に示すように、ベース壁６１には、受け止め保持部２７に貯留されている穀粒に臨むように測定ヘッド３１を固定するための貫通孔としてのヘッド装着孔６４が形成され、このヘッド装着孔６４に測定ヘッド３１が挿入される。つまり、ベース壁６１は、貯留された穀粒に向き合う測定壁として機能する。さらに、ランプユニット５１、電源ユニット５３、分光測定ユニット５４、及び、制御ユニット５５もベース壁６１に位置決めされた状態で固定されている。

〔ランプユニット〕
ランプユニット５１について説明する。
図１１，１２に示すように、ランプユニット５１は、略箱形状に形成されたランプハウジング７０内に、光源としてのリフレクター付きのハロゲンランプ５０が収納されている。このハロゲンランプ５０は、受け台７１に載置され、且つ、押え板７２により押えて保持する状態で備えられている。受け台７１は、ハロゲンランプ５０の光が通過する光通過用開口７３が形成され、その光通過用開口７３の周囲に載置保持部７４を備え、この載置保持部７４にてハロゲンランプ５０のリフレクター５０ａが接当する状態で載置支持されている。そして、押え板７２は、ハロゲンランプ５０を押えた状態で左右両側端部の折れ曲がり部７２ａが受け台７１に形成された係止部７１ａに係止され、浮き上がりが阻止されている。受け台７１は、載置保持部７４の横側に取付部７１ｂが形成され、その取付部７１ｂがランプハウジング７０に固定されている。

受け台７１よりもハロゲンランプ５０の光投射方向下手側の箇所には、ハロゲンランプ５０から投光される光のうち赤外線を遮断して穀粒に熱が伝わり難くする熱線カットフィルター７５と、ハロゲンランプ５０から投光される光の強さが均等になるように光を拡散させる拡散フィルター７６と、耐熱性のシール部材７７とが、フィルター保持具７８により保持される状態で備えられている。

ランプハウジング７０は、後述するように分光測定ユニット５４を支持する矩形状の支持台７９に固定されている。支持台７９には、測定ヘッド３１が備えられており、ハロゲンランプ５０から投光した光が測定ヘッド３１の投光部５８に照射されるようになっている（図１５参照）。

又、ハロゲンランプ５０から投光された光の一部を評価結果の補正情報として利用するようになっている。すなわち、図１１，２１に示すように、フィルター保持具７８よりも光投射方向下手側の箇所に、ハロゲンランプ５０から投光された光の一部を光投射方向と略直交する方向、すなわち、分光測定ユニット５４側に向けて反射する反射板８０が備えられている。そして、ランプハウジング７０の分光測定ユニット５４側の側面にスリット８１（幅狭の開口）が形成され、反射板８０にて反射した光をこのスリット８１を通して分光測定ユニット５４に向けて導くことができるようになっている。

図１１に示すように、反射板８０は、ランプハウジング７０の光投射方向下手側における横一側端部に位置する状態で備えられている。又、反射板８０にて反射され、スリット８１を通して照射される補正用の光の光量を変更調整可能な光量調整部材８２が備えられている。図１１に示すように、光量調整部材８２は、一端部にＬ字形に折り曲げられた折り曲げ部８２ａを有する帯板状の部材にて構成されている。ランプハウジング７０の分光測定ユニット５４側の側面における内面側に、上下２箇所に夫々左右一対の支持具８３が備えられ、これらの支持具８３により、光量調整部材８２がスライド移動自在に支持されている。

光量調整部材８２はスライド移動することで、スリット８１が開放される面積、すなわち、開口の大きさを変更調整できるように構成されている。図１２に示すように、ランプハウジング７０に備えられた固定部８４に相対回動自在で且つ光量調整部材８２の折り曲げ部８２ａに螺合する調節ネジ８５が備えられている。この調節ネジ８５を回動させて光量調整部材８２のスライド方向の位置を調整することにより、スリット８１における開口の大きさを変更調整できるように構成されている。
このようなスリット８１の開度調整作動は、収穫作動を開始する前に、予め手動操作にて行う必要がある。

図１８に示すように、ランプハウジング７０の光投射方向下手側の側面には、その中央位置よりも分光測定ユニット５４側に偏倚した箇所にハロゲンランプ５０からの光が通過する投光用開口８６が形成されている。ハロゲンランプ５０は、リフレクター５０ａにて集光した光をこの投光用開口８６に向けて投射するようにランプハウジング７０の筒長手方向に対して少し傾斜する姿勢で支持されている。

ランプユニット５１には、高温になるハロゲンランプ５０が収納されるランプハウジング７０内の温度上昇を抑制するために、低温の外気を取り入れて高温の空気を外部に排出するための冷却ファン８７が備えられている。すなわち、図１１，１２に示すように、ランプハウジング７０の分光測定ユニット５４側の側面に隣り合う側面に通気用開口８８が形成され、その側面の外方側にランプハウジング７０内の空気を外部に排出する排気ダクト８９が備えられている。その排気ダクト８９の内部に冷却ファン８７が備えられている。

ランプハウジング７０の分光測定ユニット５４側の側面と対向する側面に、外気取り入れ用の開口９０が形成されており、この外気取り入れ用の開口９０の外方側には除塵フィルター９１が備えられている。排気ダクト８９の出口８９ａ付近にも除塵フィルター９１が備えられている。

図７に示すように、ランプユニット５１は、収納ケース５７の内部に収納されている。つまり、収納ケース５７の周壁６２のうちの長手方向に沿う一方の側壁６２ａの内側に沿うようにランプユニット５１が配備されている。そして、図１０に示すように、収納ケース５７の長手方向に沿う一方の側壁６２ａには、外気取り入れ用の開口９０に対応する箇所に吸気口９２が形成され、排気ダクト８９の出口８９ａに対応する箇所に排気口９３が形成されている。

図１２に示すように、外気取り入れ用の開口９０と排気ダクト８９の出口８９ａとが同一平面上に位置する状態で形成されている。ランプユニット５１を収納ケース５７の側壁６２ａの内側に沿わせて配備することで、外気取り入れ用の開口９０と収納ケース５７の吸気口９２とが連通接続されるとともに、排気ダクト８９の出口８９ａと収納ケース５７の排気口９３とが連通接続される。
そして、冷却ファン８７が通風作用することにより、収納ケース５７の吸気口９２から外気が吸気されるとともに、ランプハウジング７０の内部の空気が排気ダクト８９を通り排気口９３から外部に排出される。

従って、ランプハウジング７０及び排気ダクト８９により、内部を低温の外気（冷却風）が通風する通風ケーシング９４が構成されている。又、ランプハウジング７０に形成された外気取り入れ用の開口９０が冷却風を給気する給気口に対応し、排気ダクト８９の出口８９ａが冷却風を外部に排気する排気口に対応している。

図８，１０に示すように、収納ケース５７の外方側には、収穫作業に伴って発生する塵埃が多く含まれる外気を吸気するときに、早期に目詰りしないように大型の除塵フィルター９５を内装するとともに、排気口９６から塵埃が侵入しないように外方を覆う状態で排気路９７を形成する換気ユニット９８が備えられている。

図２２に示すように、換気ユニット９８は、長尺状の除塵フィルター９５と、その除塵フィルター９５を収納するとともに屈曲状の排気路９７が形成された通気路形成部材９９とを備えている。この通気路形成部材９９は、図１０に示すように、一側面が開放された断面矩形状の略箱状体で形成されている。収納ケース５７の長手方向に沿う一方の側壁６２ａに沿って直線状に延びる部分には、除塵フィルター９５を収納するフィルター収納部１００が形成されている。収納ケース５７の長手方向に沿う一方の側壁６２ａからそれに連なる上部壁６２ｂに向けて略Ｌ字形に延びる状態で屈曲状の排気路９７が形成されている。フィルター収納部１００と排気路９７とは遮断壁１０１により区画されている。

通気路形成部材９９は、排気路９７の端部箇所に形成された係止部１０２が収納ケース５７に備えられた係止具１０３に係止した状態で、下端部に固定のブラケット１０４を収納ケース５７に備えられたブラケット１０５に１本のボルト１０６で固定することにより、収納ケース５７に固定状態で装着される。尚、収納ケース５７との接当箇所には、全周にわたりシール材１０７が設けられている。このように構成することで、通気の漏れが無いようにしながら、１本のボルト１０６を外すと、容易に通気路形成部材９９を取外すことができ、除塵フィルター９５の交換や清掃等のメンテナンス作業を容易に行えるようにしている。

通気路形成部材９９を装着すると、フィルター収納部１００の上方側箇所が収納ケース５７の吸気口９２に連通接続される。図２２に示すように、フィルター収納部１００の下方側の角部に吸気口１０８が形成されている。フィルター収納部１００の内部には、後部側に通気用の空間を備えており、長尺状の除塵フィルター９５の一部が目詰りすると、長手方向に異なる位置を通風させて目詰りしていない箇所を通風させることができ、短期間で除塵フィルター９５が詰まりを起すことを回避できるようにしている。

〔分光測定ユニット〕
分光測定ユニット５４について説明する。
図１３，１４，１５に示すように、分光測定ユニット５４は、ユニット全体を支持するとともに、収納ケース５７に複数箇所をボルト連結して固定された矩形状の支持台７９、穀粒からの光を受光してその光を分光して各波長毎の光の強度を計測して特定波長における光の減衰率を計測する分光分析部１２０、穀粒に光を投射して穀粒からの光により計測処理を行う状態、補正情報により補正を行う状態、計測等を行わない待機状態等に切り換える切換機構１２１等を備えている。

支持台７９の底面部には、測定ヘッド３１が備えられている。すなわち、図１５に示すように、支持台７９の底面部に、外方側に向けて円柱状に突出する円形突出部７９ａが一体的に形成されている。円形突出部７９ａには、ハロゲンランプ５０から投射される光を穀粒に向けて通過させる投光用開口１２２と、穀粒からの光を分光分析部１２０に向けて通過させる受光用開口１２３とが挿通する状態で形成されている。この円形突出部７９ａの外方への突出箇所に、円柱状の外周部に円形の凹部を備えたカバー部材１２４が外嵌装着され、外方側から円板状の押え板１２５によって押し付けられた状態でボルト止め固定されている。

図１４に示すように、カバー部材１２４と円形突出部７９ａとの間には、円形状の投光側ガラスプレート１２６と円形状の受光側ガラスプレート１２７とが、Ｏリング１２８を介して挟み込まれている。尚、図１５では、投光側ガラスプレート１２６と受光側ガラスプレート１２７は、カバー部材１２４に装着された状態となっている。カバー部材１２４及び円形突出部７９ａの夫々には、互いに対抗する面に、投光側ガラスプレート１２６と円形状の受光側ガラスプレート１２７とが入り込むための円形状の凹入部が形成され、位置ずれのない状態で挟み込むことができるようになっている。投光側ガラスプレート１２６及び受光側ガラスプレート１２７は、貯留状態の穀粒に密接するように配置されるので、保護膜として機能するように硬質ガラスで作られている。

図１８に示すように、支持台７９における円形突出部７９ａの近傍に備えられた取付部１２９に、ランプハウジング７０が固定されている。ランプハウジング７０は、光投射方向下手側の側面に形成された投光用開口８６が円形突出部７９ａに対応する位置となるように装着される。

従って、ハロゲンランプ５０から投光される光が投光用開口１２２及び投光側ガラスプレート１２６を通して、受け止め保持部２７内に貯留されている穀粒に投射される。このように穀粒に光を照射する箇所が投光部５８を構成する。又、投光部５８から穀粒に照射されて穀粒内部を透過した光が、受光側ガラスプレート１２７及び受光用開口１２３を通して分光分析部１２０に入射する。このように光を受光する箇所が受光部５９を構成する。そして、円形突出部７９ａ、カバー部材１２４、投光側ガラスプレート１２６、受光側ガラスプレート１２７、Ｏリング１２８、押え板１２５等により、測定ヘッド３１が構成される。

投光部５８と受光部５９とは、投光部５８から穀粒に照射され穀粒内部を透過した光の一部が受光部５９に入射しやすいように所定の間隔をあけて並置されている。これは、光学式穀粒評価装置１９の測定原理が、投光部５８から出た照射光が穀粒内を通過することによって吸収される割合（吸光度）が、穀粒の品質（水分含有量など）によって異なることを利用しているからである。照射されて穀粒内を透過して出てきた透過光が受光部５９に入射されなければならないが、その際、投光部５８から出た照射光が直接受光部５９に入ることは避けなければならない。投光部５８から出た照射光はできるだけ穀粒に入射し、穀粒を透過した光はできるだけ受光部５９に入射することが好ましい。このため、投光部５８と受光部５９とは、測定時に貯留状態の穀粒に密接するように、外部に露出している。さらに、投光部５８から受光部５９に光が直接入射しないように投光部５８と受光部５９との間で外方向に（穀粒側に）突出する突条部１３０が設けられている。さらに、周囲からの光の入射を避けるためには、投光部５８と受光部５９とを外囲する遮蔽周壁１３１が設けられる。

すなわち、カバー部材１２４には、投光側ガラスプレート１２６と受光側ガラスプレート１２７とが露出するように第１孔１２４ａと第２孔１２４ｂが設けられている。この第１孔１２４ａと第２孔１２４ｂの周縁部は、突条部１３０を作り出すべくメガネ縁状に盛り上げられている。同様に、カバー部材１２４の周領域もリング状に盛り上げられており、このリング状の盛り上げ部が、遮蔽周壁１３１として機能する。

支持台７９の底面部における円形突出部７９ａの内面側には、ハロゲンランプ５０からの光の投光部５８の通過を許容する開状態と通過を阻止する閉状態とに切り換え自在なシャッター１３２が備えられている。このシャッター１３２は、円板状の回転体としての円板体１３３にて構成される。図１４、１６〜１８に示すように、支持台７９の底面部（投光部５８と受光部５９とが取り付けられる取り付け面に対応）に対して略直交する方向に沿う軸芯Ｙ２周りで回転自在な円板体１３３が備えられ、円板体１３３の外周縁部における周方向の一部を切欠いて切欠凹部１３４が形成されている。この円板体１３３は、駆動モータ１３５により回転駆動され、切欠凹部１３４が投光用開口１２２に重なる計測用回動位置に位置すると、ハロゲンランプ５０からの光の投光部５８の通過を許容する。すなわち、シャッター１３２が開状態となる。一方、切欠凹部１３４が投光用開口１２２から外れると、投光用開口１２２が遮断され、ハロゲンランプ５０からの光の投光部５８の通過が阻止される。すなわち、シャッター１３２が閉状態となる。駆動モータ１３５は、ステッピングモータにて構成され、円板体１３３を任意の回動位相に回転させることができるように構成されている。

円板体１３３は、外周側部分と内周側部分とが軸芯方向に位置をずらせるように、それらの中間部に傾斜状態の段部１３３Ａが形成されている。この円板体１３３は、金属材にて構成されるとともに、光を反射し易いように表面処理が施されている。

円板体１３３における支持台７９とは反対側箇所に、円板体１３３と一体的に回動する円形状の保持部材１３６が備えられている。保持部材１３６は、円形状の上面部１３６Ａとその上面部１３６Ａの外周部から軸芯方向一方側に延びる円筒状の周面部１３６Ｂとを一体的に備える。この保持部材１３６は円板体１３３の内周側部分を覆うように設けられている。又、円板体１３３と保持部材１３６とは、接当箇所に隙間が生じないように周方向に離間した４箇所においてボルト連結され、一体的に回動自在に設けられている。

円板体１３３における切欠凹部１３４に対応する位置であって径方向内方側に寄った位置に、受光部５９にて受光した穀粒からの光が通過する計測用通過孔１３７が形成されている。保持部材１３６の上面部１３６Ａには、円板体１３３が計測用の回動位置にあるときに、円板体１３３における計測用通過孔１３７に対応する位置に、穀粒からの光を透過させる挿通孔１３８が形成されている。穀粒からの光は、支持台７９の受光用開口１２３、円板体１３３の計測用通過孔１３７、及び、保持部材１３６の挿通孔１３８を通過して、分光分析部１２０の入光部１３９に入射するように構成されている。

又、保持部材１３６には、ハロゲンランプ５０からの光を通過させて分光分析部１２０に入射する補正用の光学フィルターが備えられる。この光学フィルターは、ハロゲンランプ５０からの光を取り込んで穀粒の評価結果を補正するための補正用光情報を得る補正機構２００として機能するものである。

図１７に示すように、保持部材１３６に、回転中心からの径方向の距離が同じであって且つ周方向に位置が異なる箇所に、補正用の光学フィルターとして、リファレンスフィルター１４０と波長校正用フィルター１４１とを備えている。これらは、円板体１３３の段部１３３Ａに対応する箇所に設けられる。又、保持部材１３６の周部のうちのリファレンスフィルター１４０と波長校正用フィルター１４１の装着箇所の径方向外方側箇所に、径方向に挿通する切欠１４２，１４３が形成されている。

保持部材１３６の周面部１３６Ｂに形成された切欠１４２，１４３がランプハウジング７０に形成されたスリット８１に対応する位置になるように円板体１３３が回動すると、スリット８１から外方に投射される光が切欠１４２，１４３を通して円板体１３３の段部１３３Ａに照射することができるように、ランプハウジング７０と保持部材１３６とが配置されている。

すなわち、図１９〜２１に示すように、円板体１３３が、計測用回動位置から外れてリファレンス用回動位置に位置すると、リファレンスフィルター１４０に対応する切欠１４２が、ランプハウジング７０に形成されたスリット８１に対応する状態で位置する。切欠１４２を通して照射された光は円板体１３３の段部１３３Ａの傾斜面にて反射して、リファレンスフィルター１４０を通過して分光分析部１２０の入光部１３９に入射するように構成されている。

又、図示はしていないが、円板体１３３が、計測用回動位置から外れて波長校正用回動位置に位置すると、波長校正用フィルター１４１に対応する切欠１４３が、ランプハウジング７０に形成されたスリット８１に対応する状態で位置する。切欠１４３を通して照射された光は円板体１３３の段部１３３Ａの傾斜面にて反射して、波長校正用フィルター１４１を通過して分光分析部１２０の入光部１３９に入射するように構成されている。

従って、円板体１３３は、シャッター１３２が閉状態にあるときにハロゲンランプ５０からの光を反射して、リファレンスフィルター１４０や波長校正用フィルター１４１に導く光反射体を兼用する構成となっている。

図示はしないが、円板体１３３における計測用通過孔１３７、リファレンスフィルター１４０及び波長校正用フィルター１４１のいずれも、入光部１３９に対応していない位置に、待機位置が設定されている。そして、円板体１３３がこの待機位置に位置すると、分光分析部１２０の入光部１３９に対応する箇所には、円板体１３３の遮蔽部分が位置して、ハロゲンランプ５０からの光の投光部５８の通過が阻止されるとともに、リファレンスフィルター１４０及び波長校正用フィルター１４１のいずれにも光が供給されない状態となる。

円板体１３３は、駆動モータ１３５の作動により、待機位置、計測用回動位置、波長校正用回動位置、リファレンス用回動位置、の夫々に操作自在に構成されている。駆動モータ１３５は保持部材１３６を介して円板体１３３に連結されている。駆動モータ１３５の駆動軸１３５ａは、ギアを介することなく、保持部材１３６に直結状態で連結してあり、バックラッシュによる位相誤差が生じないようにしている。

従って、円板体１３３、保持部材１３６、駆動モータ１３５等により、切換機構１２１が構成されている。又、シャッター１３２と補正機構２００（リファレンスフィルター１４０及び波長校正用フィルター１４１）とは、同一平面状に並ぶ状態で、且つ、シャッター１３２が作用する状態と補正機構２００（リファレンスフィルター１４０及び波長校正用フィルター１４１）が作用する状態とに切り換わるように一体的に移動自在に備えられる。尚、シャッター１３２とリファレンスフィルター１４０及び波長校正用フィルター１４１とは軸芯方向に少し位置がずれているが、ここで言う同一平面とは、このような少しの位置ずれ状態を含むものである。

分光分析の手法は周知の技術であるから、詳細については説明しないが、分光分析部１２０の構成について簡単に説明する。
図１３，１４に示すように、分光分析部１２０は、ベース部材１５０と、上述したような計測用光等が入射される入光部１３９と、入光部１３９から入射された光を入射方向と略直交する方向に反射する反射鏡１５１と、反射鏡１５１にて反射された光を異なる波長毎の光に分光する凹面型の回折格子１５２と、分光された光を受光する１２８チャンネルのＮＭＯＳ型の受光センサ１５３及びその検出情報をデジタル信号に変換する電気回路部１５４とを一体的に備えたセンサユニット１５５と、円板体１３３を回転駆動する駆動モータ１３５と、ベース部材１５０を底板として分光分析部全体を覆う分光部カバー１５６等を備えている。

入光部１３９はベース部材１５０に形成された凹部１５０ａに入り込む状態で装着されている。反射鏡１５１は、ベース部材１５０に固定された支持ブラケット１５１ａにより支持されている。回折格子１５２はベース部材１５０に固定された支持ブラケット１５７にて支持されている。又、駆動モータ１３５はベース部材１５０に固定されたモータ支持ブラケット１５８により支持されている。このように各部材がベース部材１５０に固定され、ベース部材１５０は複数箇所が支持台７９にボルト連結されて固定されており、機体振動等により各部材の位置がずれることがないようにしている。

入光部１３９には、フィルター保持具１５９に、特定波長よりも長波長の光だけを透過するシャープカットフィルター１６０、投光用のスリット１６１が形成されたスリット形成体１６２等を挟み込む状態で備えられている。

駆動モータ１３５を支持するモータ支持ブラケット１５８の下方側箇所に、ベース部材１５０に固定される状態で、円板体１３３が待機位置に至ったことを検出する光学式の位置センサ１６４が備えられている。この位置センサ１６４は、切欠凹部１３４の端縁を検知するように構成されている。つまり、円板体１３３は駆動モータ１３５によって所定方向に回転駆動されるが、待機位置にまで回転して位置センサ１６４が切欠凹部１３４の所定の端縁を検知すると、その位置で停止する。従って、円板体１３３は常に同一回転方向に駆動される。

分光部カバー１５６は、ベース部材１５０の外周縁に沿うように周壁が形成され、上方側の前面を上壁にて覆う形状となっており、外部からの光が内部に侵入しないように遮蔽する構成となっている。そして、この分光分析部１２０は、入光部１３９から入射されて回折格子１５２にて分光された光が受光センサ１５３にて異なる波長毎の光量が各チャンネル毎に検出される。そして、電気回路部１５４は、１チャンネルあたりの受光信号を１６ビットのデジタル信号に変換した出力信号を制御ユニット５５に送出する。

上記構成では、ハロゲンランプ５０と投光部５８との間の領域と、受光部５９と分光測定ユニット５４の入光部１３９との間の領域とを隔離し、投光部５８から直接に受光部５９に光が入射するのを阻止する遮蔽部ＳＨが備えられており、しかも、ハロゲンランプ５０と投光部５８との間の領域、並びに、受光部５９と分光測定ユニット５４の入光部１３９との間の領域は、全領域にわたり、光透過用の部材が存在せず、光が空気中を伝播する空気伝播領域にて構成される。

説明を加えると、図１８に示すように、ハロゲンランプ５０の周囲はランプハウジング７０にて覆われており、このランプハウジング７０によってハロゲンランプ５０からの光が分光測定ユニット５４側に照射されるのを阻止している。又、円板体１３３における切欠凹部１３４と計測用通過孔１３７との間が保持部材１３６によって仕切られる構成となっている。その結果、円板体１３３が、計測用回動位置に位置しているときにも、切欠凹部１３４を通過するハロゲンランプ５０からの光が計測用通過孔１３７から分光測定ユニット５４の入光部１３９に供給されることが阻止される。

保持部材１３６には、リファレンス用の光と、波長校正用光が挿通する２個の切欠１４２、１４３が形成されているが、ハロゲンランプ５０からの光がこれらの切欠１４２，１４３を通して分光測定ユニット５４の入光部１３９に供給されることは阻止されている。すなわち、図１３に示すように、ベース部材１５０の入光部１３９が備えられる箇所に、保持部材１３６が組み付けられた状態で、保持部材１３６のランプハウジング７０に臨む一部の箇所を開放するとともに、それ以外の箇所を覆う覆い部１６５が形成されており、ハロゲンランプ５０からの光が切欠１４２，１４３を通して分光測定ユニット５４の入光部１３９に供給されることが阻止されるのである。

このようにして、ハロゲンランプ５０と投光部５８との間の領域と、受光部５９と分光測定ユニット５４の入光部１３９との間の領域とを隔離している。

又、上記したように、投光部５８から受光部５９に光が直接入射しないように投光部５８と受光部５９との間に外方向に（穀粒側に）突出する突条部１３０が設けられ、周囲からの光の入射を避けるためには、投光部５８と受光部５９とを外囲する遮蔽周壁１３１が設けられる。このようにして、投光部５８から直接に受光部５９に光が入射するのを阻止している。

従って、ランプハウジング７０、保持部材１３６、ベース部材１５０の覆い部１６５、突条部１３０、遮蔽周壁１３１等により、遮蔽部ＳＨが構成されている。

図１８に示すように、円板体１３３が計測用回動位置にあるときは、ハロゲンランプ５０と投光部５８との間、及び、受光部５９と分光測定ユニット５４の入光部１３９との間には、光透過用の部材が存在せず、光が空気中を伝播する空気伝播領域にて構成されることになる。又、図から明らかなように、ハロゲンランプ５０から発する光が直接に投光部５８に導かれる構成であり、ハロゲンランプ５０と投光部５８とが直線状に配置されている。すなわち、ハロゲンランプ５０と投光部５８との間には、光反射体や光ファイバー等の光を屈曲させる部材を介在することなく、ハロゲンランプ５０から投射される光が直線状に投光部５８に導かれる構成となっている。

〔制御ユニットの動作〕
制御ユニット５５による制御動作について説明する。
計測処理を実行するときは、制御ユニット５５は次のように運転を制御する。
設定時間が経過する毎に、駆動モータ１３５及び分光分析部１２０の作動を制御して、波長校正処理と光量補正処理とを実行する。
波長校正処理においては、円板体１３３を待機位置から計測用回動位置を通過して波長校正用回動位置に位置させて、そのときの受光センサ１５３の計測結果に基づいて、予め計測されている基準データと比較して、１２８チャンネルの受光素子が計測する波長にずれがあるか否かをチェックする。波長がずれていれば、適正状態で波長校正処理を実行する。

その後、円板体１３３をリファレンス用回動位置に位置させて光量補正処理を実行する。すなわち、そのときの受光センサ１５３の計測結果に基づいて、予め計測されている初期データと比較して、ハロゲンランプ５０の劣化状態を判断して、計測データに対する補正計数を求める。この補正計数により、受光センサ１５３の計測結果を補正する。

光量補正処理を実行した後、待機位置に戻り、設定時間経過するまで待機する。そして、このような波長校正処理とリファレンス処理を設定時間経過する毎に繰り返し実行する。又、収穫作業に伴って、サンプリング部２５にて穀粒が貯留されて、満杯センサ２８が穀粒の満杯状態を検出すると、割り込み処理によって、貯留された穀粒の計測を実行する。すなわち、円板体１３３を計測用回動位置に回動させて、ハロゲンランプ５０からの光を投光部５８からサンプリング部２５に貯留されている穀粒に照射する。受光部５９にて受光される穀粒からの光が、分光分析部１２０に入射されて、受光センサ１５３にて異なる波長毎の光の強さを示す分光スペクトルデータを測定し、その測定結果に基づいて周知の分光分析手法に用いて、穀粒の水分、タンパク質等の成分量を演算にて求める。その求めた結果は、運転部７の表示装置２０に表示する。

〔別実施形態〕
（１）上記実施形態においては、シャッター１３２と補正機構２００（リファレンスフィルター及び波長校正用フィルター）とが、同一平面上に位置して、投光部５８と受光部５９とが取り付けられる取り付け面と直交する軸芯周りで回転する回転体としての円板体１３３に一体的に備えられ、円板体１３３を回転することで、シャッター１３２が開状態になる計測状態と補正機構２００が作用する補正状態とに切り換わるように構成されるものを示したが、このような構成に代えて、次の（１−１）〜（１−３）のように構成してもよい。

（１−１）シャッター１３２と補正機構２００とが回転軸芯方向に大きく位置を異ならせて配置される構成。
（１−２）シャッター１３２と補正機構２００とが直線状にスライド移動する移動体に備えられる構成。
（１−３）シャッター１３２と補正機構２００とが互いに別体の移動操作体に各別に取り付けられる構成。

（２）上記実施形態においては、シャッター１３２が光反射体を兼用する構成としたが、シャッター１３２と光反射体とを別体で各別に備える構成としてもよい。

（３）上記実施形態においては、光源（ハロゲンランプ５０）と投光部５８とが直線状に配置される構成を示したが、光源と投光部５８との間に反射鏡を備えるものであってもよい。

（４）上記実施形態においては、ランプハウジング７０と別体の排気ダクトとにより通風ケーシングが構成されるものを示したが、内部に光源とファンとを内装して一体形成された１つのケースによって、通風ケーシングが構成されるものでもよい。

（５）上記実施形態では、光学式穀粒評価装置１９が、穀粒タンク５における前側壁５Ｆの運転部７側に位置する状態で、穀粒タンク５の外方側に備えられる構成としたが、このような構成に代えて、光学式穀粒評価装置１９が、穀粒タンク５の前側壁５Ｆから内部に入り込む状態で形成された空間に備えられる構成としてもよい。

すなわち、図２３，２４に示すように、前側壁５Ｆに形成された取付け用開口に嵌まり込み装着した計測室形成体２２によって穀粒タンク５の内部に入り込む状態で空間が形成され、この計測室形成体２２によって形成された空間に光学式穀粒評価装置１９を備える構成である。

計測室形成体２２は、穀粒タンク５の前側壁５Ｆより穀粒タンク５内方側に位置する後壁２２Ｒと、後壁２２Ｒの全周囲に亘る部位から穀粒タンク５の前側に向かって延出して前側壁５Ｆに至る周壁２２Ｓとを備えており、全体として、箱形状である。

計測室形成体２２は、走行機体前方側から装着され、周壁２２Ｓの全周に亘って設けた連結フランジ２２Ｆを、前側壁５Ｆの表面側に連結ボルトによって締め付け連結することにより、穀粒タンク５に固定される。計測室形成体２２の連結フランジ２２Ｆと、穀粒タンク５の前側壁５Ｆとの間に、光学式穀粒評価装置１９に対する振動伝達を抑制する防振ゴム２３（図２４参照）を介装してある。防振ゴム２３は全周に亘って設けられている。防振ゴム２３は、計測室形成体２２と前側壁５Ｆとの間をシールするシール機能を有する。

光学式穀粒評価装置１９の上下両側に連結フランジ部２４を用いて計測室形成体２２の後壁２２Ｒにボルトによって連結する。従って、光学式穀粒評価装置１９は、穀粒タンク５の穀粒貯留空間５ｂと仕切られた状態の空間に収容された状態で、穀粒タンク５の前側壁５Ｆよりも穀粒タンク５の内側に入り込んでいる。この構成では、光学式穀粒評価装置１９の外面に塵埃が付着し難くなっている。

（６）上記実施形態においては、光学式穀粒評価装置が自脱型のコンバインに搭載される構成を示したが、これに代えて、光学式穀粒評価装置を、刈取り穀稈の株元から穂先まで全稈を扱室に投入するよう構成した普通型のコンバインに搭載してもよい。又、光学式穀粒評価装置は、コンバインに限らず、例えば、収穫された穀粒の乾燥処理を行う穀粒乾燥機に備える構成、あるいは、穀粒を長期間貯蔵するための貯蔵設備に備える構成等に備えるようにしてもよい。

光学式穀粒評価装置を、穀粒乾燥機に備える場合には、穀粒が流下案内される傾斜状の案内面に装着する場合がある。そして、この構成では、穀粒の流動の妨げにならないように、測定ヘッドとしては、穀粒存在領域に対して突出しない平坦な形状にするとよい。つまり、上記実施形態における突出するカバー部材１２４の代わりに、投光側ガラスプレート１２６と受光側ガラスプレート１２７が穀粒存在領域に対して平坦な状態で対向する状態で備えられる構成である。

本発明は、米や麦などの穀粒に含まれている成分を光学測定を通じて評価する光学式穀粒評価装置に適用できる。

５０光源
５８投光部
５９受光部
６０穀粒評価部
８７冷却ファン
８９ａ排気口
９０給気口
９４通風ケーシング
１３２シャッター
１３３回転体
２００補正機構
ＳＨ遮蔽部

Claims

光源と、
前記光源からの光を測定対象である穀粒に照射する投光部と、
前記投光部から前記穀粒に照射され前記穀粒を透過した光が入射するとともに、前記投光部と間隔をあけて並置される受光部と、
前記受光部にて受光した光の情報に基づいて前記穀粒を評価する穀粒評価部と、
前記光源と前記投光部との間の領域と、前記受光部と前記穀粒評価部との間の領域とを隔離し、前記投光部から直接に前記受光部に光が入射するのを阻止する遮蔽部とを備えた光学式穀粒評価装置。