JP2016161552A - 帯状部材の幅方向端部位置検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ドラム上に積層された帯状部材のうち上層の帯状部材の幅方向端部が容易に検出される方法を提供する。【解決手段】下層の帯状部材２２がドラム上に貼り付けられた後、先の測定として、ドラム上に貼り付けられている帯状部材２０、２２の外部に露出している面から測定器までの距離が測定され、下層の帯状部材２２の上から上層の帯状部材２４が貼り付けられた後、後の測定として、ドラム上に積層されている帯状部材２０、２２、２４の外部に露出している面から測定器までの距離が測定され、先の測定結果と後の測定結果とに差が生じる領域のドラム幅方向端部位置が上層の帯状部材２４の幅方向端部位置として検出される。【選択図】図２

Description

本発明は、タイヤ構成部材である帯状部材の幅方向端部位置検出方法に関する。

タイヤの製造工程の一部として、成型ドラム上にベルトやエッジテープ等の帯状部材が積層される工程が存在する。その工程後に、積層された帯状部材のうち上層の帯状部材の幅方向端部の貼り付け状態を確認する検査が行われる。従来この検査は、特許文献１に記載されている方法で行われていた。すなわち、複数の帯状部材が積層された状態で、その断面の輪郭形状が測定され、該輪郭形状において大きな段差がある位置が帯状部材の幅方向端部の位置であると判断されていた。そして、この方法により帯状部材の幅方向端部の位置であると判断された位置の状態（例えば帯状部材の幅方向端部の理想的な位置からのずれの状態）に基づき、実際の帯状部材の幅方向端部の貼り付け状態に基準外となる異常が有るか否かが判断されていた。

特開２００９−２９４１８２号公報 特開２０１２−２５２２号公報

しかし、複数の帯状部材が積層された状態ではこれらの幅方向端部が近接して存在する。また帯状部材自体に凹凸が形成されている場合（例えば帯状部材が、より小さな部材が接合されて形成されており、接合部が盛り上がっている場合）もある。そのため前記輪郭形状には複数の段差が近接して現れる。そのため従来の方法では、これらの段差のうちいずれが検査対象の帯状部材の幅方向端部による段差であるのかが判断し難く、該端部を他のものと間違えることなく検出することが困難であった。

これに対し、輪郭形状の測定領域が、検査対象の帯状部材の端部が存在すると想定される極めて狭い領域のみに絞られれば、検査対象の帯状部材の端部のみが検出可能であるとも考えられる。しかし、検査対象の帯状部材が蛇行した場合等に、その端部が測定領域から外れ易い。

別の方法として、特許文献２に記載の方法も提案されていた。この方法では、１枚の帯状部材が貼り付けられる度に帯状部材の輪郭形状が測定されるが、実質的には特許文献１の方法と同じく、その輪郭形状において大きな段差がある位置が帯状部材の幅方向端部であると判断されていた。そのためこの方法でも、積層された帯状部材のうち上層の帯状部材の検査においては、輪郭形状に複数の段差が近接して現れるため、上記と同様の問題があった。

さらに別の問題として、下層の帯状部材のドラム上への貼り付け後、一部領域において下層の帯状部材がドラム面に密着せずに浮き上がっているおそれがある。この一部領域における浮き上がりは、上層の帯状部材が貼り付けられると、下層の帯状部材がドラム面に向かって押されることにより解消される。そのため、下層の帯状部材の表面のドラム面からの高さが、上層の帯状部材が貼り付けられることにより低くなる。このことは上層の帯状部材の幅方向端部の検出に影響する可能性もある。

そこで本発明は、ドラム上に積層された複数の帯状部材のうち上層の帯状部材の幅方向端部が確実に検出される方法であって、下層の帯状部材のドラム面からの浮き上がりが上層の帯状部材の貼り付けにより解消される場合でも上層の帯状部材の幅方向端部が正しく検出される方法を提供することを課題とする。

実施形態の帯状部材の幅方向端部位置検出方法は、タイヤを構成する帯状部材がドラム上に積層される場合の、上層の帯状部材の幅方向端部位置検出方法であって、１又は２以上の下層の帯状部材がドラム上に貼り付けられた後、先の測定として、ドラム上に貼り付けられている前記１又は２以上の下層の帯状部材の外部に露出している面上の各測定位置から測定器までの距離が測定される工程と、前記１又は２以上の下層の帯状部材の上から上層の帯状部材が貼り付けられた後、後の測定としてドラム上に積層されている複数の帯状部材の外部に露出している面上の各測定位置から測定器までの距離が測定される工程と、前記先の測定で得られた距離が補正される工程と、前記補正後の距離と前記後の測定で得られた距離とに差が生じる領域のドラム幅方向端部位置が前記上層の帯状部材の幅方向端部位置として検出される工程とを含み、前記先の測定で得られた距離が補正される工程は、前記先の測定及び前記後の測定の測定領域内であって、前記上層の帯状部材の貼り付け後も前記１又は２以上の下層の帯状部材が外部に露出している領域内に、ドラム周方向に複数の測定位置を有する小領域が設定され、複数の前記小領域が、ドラム周方向に隙間が生じないように一定距離ずつずれながらドラム１周に渡って並べられて設定される工程と、各小領域において、前記後の測定で得られた小領域内の各測定位置からの距離の平均値から、前記先の測定で得られた同じ小領域内の各測定位置からの距離の平均値が減算されることにより補正値が求められる工程と、各小領域の前記補正値が、その小領域及びそのドラム幅方向の領域の中にある測定位置のうち、ドラム周方向の前記ずれの範囲内にある測定位置から測定器までの前記先の測定における距離に加算される工程とを含むことを特徴とする。

本実施形態によればドラム上に積層された複数の帯状部材のうち上層の帯状部材の幅方向端部が確実に検出される。特に、上層の帯状部材の貼り付けにより下層の帯状部材のドラム面からの浮き上がりが解消される場合でも、上層の帯状部材の幅方向端部が正しく検出される。

実施形態の成型検査装置１の構成図。 （ａ）ドラム幅方向片側における、ドラム上に貼り付けられた１枚目のベルト２０のドラム幅方向の断面図。（ｂ）ドラム幅方向片側における、１枚目のベルト２０及びその上に貼り付けられたエッジテープ２２のドラム幅方向の断面図。（ｃ）ドラム幅方向片側における、１枚目のベルト２０、エッジテープ２２、及びその上に貼り付けられた２枚目のベルト２４のドラム幅方向の断面図。 （ａ）ドラム幅方向片側において先の測定で取得される、帯状部材の露出面のドラム幅方向の輪郭Ｏ１。（ｂ）ドラム幅方向片側において後の測定で取得される、帯状部材の露出面のドラム幅方向の輪郭Ｏ２。（ｃ）先の測定で取得された帯状部材の露出面のドラム幅方向の輪郭Ｏ１と、補正後のデータに基づき描かれる帯状部材の露出面のドラム幅方向の輪郭Ｏ３。（ｄ）後の測定データから補正後の先の測定データが減算されて描画される線Ｌ１。 ドラム面及びその上に貼り付けられた帯状部材をドラム径方向外側から見た図（実施形態１）。 図４のＡ−Ａ断面図。 図４の小領域２７の部分拡大図。 ドラム面及びその上に貼り付けられた帯状部材をドラム径方向外側から見た図（実施形態２）。 図７のＢ−Ｂ断面図。 図７の小領域１２７の部分拡大図。 変更例１のエッジテープ２２２上の小領域１２７ａ、１２７ｂの部分拡大図。

本実施形態につき図面に基づき説明する。

（１）実施形態１
（１−１）本実施形態の装置
本実施形態の検査装置１０は、空気入りタイヤの製造過程において、成型ドラムＤに貼り付けられたタイヤ構成部材としての帯状部材Ｂの幅方向端部位置を検出し、貼り付け状態の異常の有無を検査する装置である。検査装置１０は、図１に示されるように、回転可能な成型ドラムＤ（以下「ドラム」とだけ記載する場合がある）に対向する場所に設けられている。検査装置１０と成型ドラムＤとは成型検査装置１に含まれる。

成型ドラムＤは周知の構造のものであり、その表面は周方向に並んだ複数のセグメント３０により形成されている。各セグメント３０には１又は２以上のマグネットが埋め込まれており、帯状部材Ｂにスチールワイヤが埋め込まれている場合は、帯状部材Ｂは磁力により各セグメント３０の表面に貼り付くようになっている。

成型ドラムＤの表面の帯状部材成型ドラムＤが貼り付けられない部分には、凹部又は凸部３１が形成されていることが望ましい。この凹部又は凸部３１は、後で説明される先の測定及び後の測定の測定データの差が求められる際に、２回の測定データの位置合わせの目印として用いられる。そのため、凹部又は凸部３１の深さ又は高さは、測定器（本実施形態の場合は二次元レーザー変位計１１）により凹凸が測定可能な深さ又は高さである。

成型ドラムＤには、該成型ドラムＤをドラム軸方向に移動させる移動手段が設けられている。この移動手段は、ドラム軸方向に伸びる走行レール３２と、その一端に設けられたモータ３３とを備える。走行レール３２は、成型ドラムＤの下に設けられたレールであり、モータ３３の駆動により成型ドラムＤがドラム軸方向に走行するように案内する。

検査装置１０は、測定器としての２つの二次元レーザー変位計１１、１１と、コンピュータ５と、制御用コンピュータ７とを備え、詳細には以下の構成を有する。

二次元レーザー変位計１１は、レーザー光を対象物に照射しそこからの反射光を受けることにより、対象物までの距離を測定するものである。本実施形態の二次元レーザー変位計１１は、ドラム幅方向に伸びる一定の長さの線状の測定範囲を有するものであり、該測定範囲内の測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離を測定する。本実施形態では２つの二次元レーザー変位計１１、１１が存在し、これらが成型ドラムＤの幅方向両側の部分にそれぞれ対向するように間を空けて設けられている。２つの二次元レーザー変位計１１、１１は変位計ユニット１６の一部として設けられている。変位計ユニット１６にはサーボモータ１２が設けられており、サーボモータ１２の駆動により二次元レーザー変位計１１と成型ドラムＤとの距離が変化するようになっている。また変位計ユニット１６は、移動手段によりドラム軸に平行に移動可能となっている。この移動手段はドラム軸に平行に伸びる走行レール１３とその一端に設けられたモータ１４とを備える。走行レール１３は、変位計ユニット１６の下に設けられたレールであり、モータ１４の駆動により変位計ユニット１６がドラム軸に平行に走行するように案内する。さらに、変位計ユニット１６の２つの二次元レーザー変位計１１、１１の間の距離は、変位計ユニット１６に設けられているサーボモータ１５により変化するようになっている。そのため、成型ドラムＤに貼り付けられる帯状部材Ｂの幅が変更される場合は、その幅に合わせて２つの二次元レーザー変位計１１、１１の間の距離も変更可能である。

二次元レーザー変位計１１はコンピュータ５に接続されている。また、二次元レーザー変位計１１と成型ドラムＤとの距離を変えるサーボモータ１２、変位計ユニット１６をドラム軸に平行な方向に移動させるモータ１４、２つの二次元レーザー変位計１１、１１の間の距離を変えるサーボモータ１５は、それぞれ制御用コンピュータ７に接続されている。

また、成型ドラムＤをその軸方向に移動させるモータ３３も、制御用コンピュータ７に接続されている。

制御用コンピュータ７は、回転制御部７０と、移動制御部７１と、位置決め部７２とを備える。回転制御部７０は成型ドラムＤの回転を制御する。また移動制御部７１はモータ３３を制御して成型ドラムＤをドラム幅方向に移動させる。また位置決め部７２は成型ドラムＤと２つの二次元レーザー変位計１１との位置関係を調整する。具体的には、位置決め部７２は、モータ１４を制御して変位計ユニット１６を成型ドラムＤに対向する位置へ移動させ、またサーボモータ１５を制御して２つの二次元レーザー変位計１１、１１の間の距離を帯状部材Ｂの幅に略一致させ、さらにサーボモータ１２を制御して成型ドラムＤと二次元レーザー変位計１１との間の距離を調整する。この調整により２つの二次元レーザー変位計１１の位置が帯状部材Ｂの幅方向端部位置の測定に適した位置になる。

コンピュータ５は、演算処理部５０と、ハードディクス等の記憶部５１と、キーボード等の入力部５２と、モニター等の表示部５３とを備える。

演算処理部５０は、コンピュータ５の起動時に、記憶部５１から処理プログラムを読み込み、データ取得部５４、データ処理部５５、判定部５６として作用する。

データ取得部５４は二次元レーザー変位計１１により測定された距離データを取得する。

データ処理部５５は端部位置検出部及び算出部として作用する。端部位置検出部は、データ取得部５４により取得された距離データに基づいて、帯状部材Ｂの幅方向両端部の位置を検出する。その詳細な方法は後で説明される。また算出部は、端部位置検出部で検出された帯状部材Ｂの幅方向両端部の位置の情報に基づき、帯状部材Ｂの幅方向両端部の位置のばらつきや、帯状部材Ｂの幅方向両端部の実際の位置の理想的な位置からのずれ量等を算出する。

判定部５６は、予め入力部５２を通じて入力されている判定基準に基づき、帯状部材Ｂの幅方向端部位置の過大なばらつき、貼付位置の過大なずれ、端部のめくれ、その他様々な基準外となる異常の有無を判定する。判定結果は、表示部５３に表示されるとともに、記憶部５１に記憶される。

制御用コンピュータ７とコンピュータ５とは電気的に接続されており、互いに信号を送受信して連動できるようになっている。そのため、制御用コンピュータ７が成型ドラムＤと二次元レーザー変位計１１との位置関係を調整した後に、コンピュータ５の各部が作用を開始したり、制御用コンピュータ７が成型ドラムＤを回転させている間に、二次元レーザー変位計１１で測定されたデータをコンピュータ５が取得したりできる。

（１−２）帯状部材Ｂの幅方向端部位置検出方法
以下では、１枚目のベルト２０、エッジテープ２２、２枚目のベルト２４がこの順に貼り付けられる場合の、２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置の検出方法が例示される。

以下において、１又は２以上の帯状部材の表面のうち外部に（ドラム径方向外側に）露出している面のことを「露出面」と言う。またある帯状部材（ここでは例として１枚目のベルト２０とする）の表面と別の帯状部材（ここでは例としてエッジテープ２２とする）の表面とのうち外部に露出している面のことを、「１枚目のベルト２０とエッジテープ２２との露出面」又は単に「帯状部材の露出面」と言う。

初めにモータ３３が駆動し成型ドラムＤが帯状部材の貼り付け位置に移動する。またモータ１４、サーボモータ１５、サーボモータ１２が駆動して、２つの二次元レーザー変位計１１、１１がそれぞれ帯状部材の幅方向端部に対向する位置に移動する。

その状態で、まず図２（ａ）に示されるように、ドラム上に１枚目のベルト２０が貼り付けられる。通常、１枚目のベルト２０が供給装置から成型ドラムＤへ供給される間に成型ドラムＤが３６０度回転し、これにより１枚目のベルト２０がドラム１周に渡って貼り付けられる。この貼り付け後、図２（ａ）に示されるように、１枚目のベルト２０の幅方向端部２０ａ付近の部分がドラム面から浮き上がっている場合がある。通常この浮き上がりは、ドラム１周に渡っているのではなく、ドラム周方向の一部でのみ生じている。

次に図２（ｂ）に示されるように、１枚目のベルト２０の幅方向両側に、それぞれ下層の帯状部材としてのエッジテープ２２が貼り付けられる。エッジテープ２２はドラム１周に渡って貼り付けられる。通常、エッジテープ２２の貼り付け前に１枚目のベルト２０の幅方向端部２０ａ付近の部分の一部がドラム面から浮き上がっていた場合は、その部分はエッジテープ２２の貼り付け後もドラム面から浮き上がっている。

エッジテープ２２の貼り付け後、再び成型ドラムＤが回転し、その間動かずにいる二次元レーザー変位計１１により、先の測定が行われる。この測定では、ドラム上の帯状部材の露出面（１枚目のベルト２０の表面とエッジテープ２２の表面とのうち外部に（ドラム径方向外側に）露出している面。）上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離が測定される。

ここで二次元レーザー変位計１１による測定領域について説明する。二次元レーザー変位計１１はドラム幅方向両側に２つ設けられているので、二次元レーザー変位計１１による測定領域はドラム幅方向両側に存在する。１つの二次元レーザー変位計１１の測定領域は、ドラム幅方向両側のうちの一方側の領域である。二次元レーザー変位計１１による測定領域には、ドラム幅方向及びドラム周方向に並ぶ複数の測定位置が含まれている。

上記のように、二次元レーザー変位計１１は、ドラム幅方向に伸びる一定の長さの線状の測定範囲を有するものである。この線状の測定範囲にはドラム幅方向に並ぶ複数の測定位置が含まれている。複数の測定位置のドラム幅方向の列を測定ラインＭとする。測定ラインＭが伸びているドラム幅方向の範囲は、二次元レーザー変位計１１のドラム幅方向の範囲と一致する。

１つの二次元レーザー変位計１１の測定領域のドラム幅方向の範囲には、少なくとも、この後に貼り付けられる２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置が含まれる。また、１枚目のベルト２０の幅方向端部２０ａとエッジテープ２２のドラム幅方向外側の端部２２ａも前記範囲に含まれることが望ましい。さらに、ドラム面のベルト２０が貼り付けられていない部分も前記範囲に含まれ、ドラム面のベルト２０が貼り付けられていない部分から二次元レーザー変位計１１までの距離も測定されることが望ましい。また、ドラム面に前記の位置合わせの目印としての凹部又は凸部３１が形成されている場合は、これも前記範囲に含まれることが望ましい。

また上記のように、二次元レーザー変位計１１は、ドラム幅方向に伸びる線状の測定範囲を有するものであるため、ドラム周方向には１回の測定で１つの測定ラインＭの測定しか行わない。しかし成型ドラムＤが一定の速さで３６０度回転する間に、その間動かずにいる二次元レーザー変位計１１により短い間隔で断続的に測定されるため、最終的にドラム１周に渡る範囲の測定がなされる。測定は、成型ドラムＤが少なくとも０．５度回転するごとになされることが望ましい。つまり成型ドラムＤが３６０度回転する間に少なくとも７２０回測定されることが望ましい。

測定の結果、データとして、測定領域内の帯状部材の露出面上及びドラム面上の各測定位置の位置情報と、各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離が得られる。この測定データから、図３（ａ）に示される、ドラム面及びドラム上に貼り付けられた帯状部材の露出面（１枚目のベルト２０の表面とエッジテープ２２の表面とのうち外部に露出している面）のドラム幅方向の輪郭Ｏ１を描くことが可能である。この輪郭Ｏ１にはドラム面も現れているため、この輪郭Ｏ１に基づきドラム上に貼り付けられた帯状部材の外部に露出している面のドラム面からの高さを求めることもできる。

図４及び図５に示されているように、測定領域の一部に複数の小領域２７が設定されている。全ての小領域２７がドラム周方向に隙間無くつながっており、ドラム周方向（図４の矢印Ｃ方向）に１周する領域を形成している。つまり、測定領域の一部のドラム周方向に１周する領域が、複数の小領域２７に分割されている。この小領域２７は、１枚目のベルト２０又はエッジテープ２２（本実施形態ではエッジテープ２２）が外部に露出している領域であって、この後の２枚目のベルト２４の貼り付け後も、１枚目のベルト２０又はエッジテープ２２（本実施形態ではエッジテープ２２）が外部に露出したままとなる領域に設定されている。図６に示されているように、１つの小領域２７を複数の測定ラインＭが通っている。よって、１つの小領域２７内では、複数の測定位置がドラム周方向及びドラム幅方向に並んでいる。

そして、データ処理部５５により、先の測定のデータに基づき、各小領域２７内における帯状部材（本実施形態ではエッジテープ２２）の露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離の平均値が求められる。１つの小領域２７内のこの距離の平均値を小領域内平均値とする。１枚目のベルト２０のドラム面からの浮き上がりが生じていない場合は、全ての小領域内平均値は同じである。しかし１枚目のベルト２０のドラム面からの浮き上がりが生じている領域がある場合は、その領域の小領域内平均値は他の小領域内平均値よりも小さい。

小領域内平均値を含む先の測定で得られたデータはコンピュータ５のデータ取得部５４により取得され記憶部５１に記憶される。

次に、図２（ｃ）に実線で示されているように、エッジテープ２２の上から、上層の帯状部材としての２枚目のベルト２４が貼り付けられる。２枚目のベルト２４はドラム１周に渡って貼り付けられる。

ここで、１枚目のベルト２０がドラム面から浮き上がっていた場合であっても、２枚目のベルト２４が貼り付けられると、これに押さえられて１枚目のベルト２０がドラム面に密着し、１枚目のベルト２０の浮き上がりが無くなる。つまり、１枚目のベルト２０及びエッジテープ２２は、２枚目のベルト２４の貼り付け前は図２（ｃ）に二点鎖線で示されているようにドラム面からの高さが高い位置にあったとしても、２枚目のベルト２４の貼り付けにより、図２（ｃ）に実線で示されているように低い位置に移動する。そのため、１枚目のベルト２０とエッジテープ２２との露出面のドラム面からの高さは、２枚目のベルト２４の貼り付けにより低くなる。従って、２枚目のベルト２４の貼り付けにより、１枚目のベルト２０とエッジテープ２２との露出面から二次元レーザー変位計１１までの距離が遠くなる。

その後、後の測定として、先の測定と同様にして、１枚目のベルト２０とエッジテープ２２と２枚目のベルト２４との露出面上の各測定位置から、二次元レーザー変位計１１までの距離が測定される。また、ドラム面の帯状部材が貼り付けられていない部分の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離も測定されることが望ましい。また、ドラム面に凹部又は凸部３１が形成されている場合は、これも測定領域に含まれることが望ましい。測定領域は先の測定の測定領域と同じである。この領域に２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置が含まれる。

後の測定の結果、データとして、ドラム面上及び帯状部材の露出面上の各測定位置の位置情報と、各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離が得られる。この測定データから、図３（ｂ）に示される、ドラム面及びドラム上に貼り付けられた帯状部材の露出面（１枚目のベルト２０の表面とエッジテープ２２の表面と２枚目のベルト２４の表面のうち外部に露出している面）のドラム幅方向の輪郭Ｏ２を描くことが可能である。この輪郭Ｏ２にはドラム面も現れているため、この輪郭Ｏ２に基づきドラム上に貼り付けられた帯状部材の外部に露出している面のドラム面からの高さを求めることもできる。

そして、後の測定のデータに基づき、上記と同じ各小領域２７におけるドラム上の帯状部材（本実施形態ではエッジテープ２２）の露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離の平均値（小領域内平均値）が求められる。ここで、ある小領域２７において２枚目のベルト２４の貼り付け前に１枚目のベルト２０がドラム面から浮き上がっていた場合は、２枚目のベルト２４の貼り付けにより、エッジテープ２２の露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離が遠くなった。そのため、その小領域２７の後の測定のデータに基づく小領域内平均値は、先の測定のデータに基づく小領域内平均値よりも、大きい。

小領域内平均値を含む後の測定で得られたデータはコンピュータ５のデータ取得部５４により取得され記憶部５１に記憶される。

（１−２−１）１枚目のベルト２０のドラム面からの浮き上がりが生じていなかった場合
１枚目のベルト２０及びエッジテープ２２の貼り付け後に１枚目のベルト２０がドラム面から浮き上がっていなかったことが明らかな場合（例えば、製造条件や設備が改善されたため、１枚目のベルト２０の浮き上がりが生じない場合）は、次の方法で２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置が検出される。この方法では小領域内平均値は用いられない。

まず、上記の先の測定データにおける各測定位置と後の測定データにおける各測定位置との対応が取られる。そして各測定位置に関して、先の測定で得られた距離（１枚目のベルト２０とエッジテープ２２との露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離）と、後の測定で得られた距離（１枚目のベルト２０とエッジテープ２２と２枚目のベルト２４との露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離）との差が求められる。

なお、先の測定及び後の測定において凹部又は凸部３１が検出され、その位置情報が得られている場合は、凹部又は凸部３１は２回分の測定データの位置合わせの目印として用いられる。つまり、先の測定及び後の測定の測定データにおける凹部又は凸部３１が目印とされて、先の測定データにおける各測定位置と後の測定データにおける各測定位置との対応が取られる。その上で各測定位置における先の測定で得られた距離と後の測定で得られた距離との差が求められる。

１枚目のベルト２０とエッジテープ２２との露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離は、先の測定時と後の測定時とで変わらない。そのため、２枚目のベルト２４が存在しない領域内の各測定位置では、上記のように差が求められた結果が０になる。一方２枚目のベルト２４が存在する領域内の各測定位置では、上記のように差が求められた結果、２枚目のベルト２４の厚みに相当する値が差として求まる。よって、この差が生じる領域は、２枚目のベルト２４が存在する領域である。このことに基づき、上記減算の結果差が生じる領域のドラム幅方向端部位置が、２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置として検出される。

図３（ｄ）は上記のように差が求められた結果が描画されたものであり、横軸がドラム幅方向の位置、縦軸が各位置における先の測定データの距離と後の測定データの距離との差の絶対値を表している。この図は２枚目のベルト２４のみの輪郭が描かれたものとみなすことができる。図３（ｄ）で２枚目のベルト２４の形状が現れている領域（すなわち前記差が０でない領域）のドラム幅方向端部の位置が、２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置である。

以上にようにして２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置が検出されると、この端部の理想的な位置からのずれ量等が算出され、判定部５６により異常の有無が判定される。

（１−２−２）１枚目のベルト２０のドラム面からの浮き上がりが生じていた場合
１枚目のベルト２０及びエッジテープ２２の貼り付け後に生じていた１枚目のベルト２０のドラム面からの浮き上がりが、２枚目のベルト２４の貼り付けにより解消された場合は、１枚目のベルト２０とエッジテープ２２との露出面から二次元レーザー変位計１１までの距離は、先の測定時と後の測定時とで変化している。この場合、２枚目のベルト２４が存在しない領域においても、先の測定で得られた距離と後の測定で得られた距離とに差が生じる。そのため、上記の（１−２−１）の方法がそのまま行われた場合、実際には２枚目のベルト２４が存在しない領域に、２枚目のベルト２４が存在すると判断され、２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置が正しく検出されない。

そこで、２枚目のベルト２４の貼り付け前後で、１枚目のベルト２０とエッジテープ２２との露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離が、データ上で同じになるように、データ処理部５５により先の測定で得られたデータの補正が行われる。具体的には、１つの小領域２７に関して、先の測定における小領域内平均値と後の測定における小領域内平均値とが比較される。その結果先の測定における小領域内平均値の方が小さいということは、その小領域２７及びそのドラム幅方向両側の領域（これらをまとめて中領域２８とする。）では、先の測定時において、後の測定時よりも、１枚目のベルト２０とエッジテープ２２との露出面が二次元レーザー変位計１１に近かったことを示している。よってこのことは、中領域２８において、先の測定時に１枚目のベルト２０がドラム面から浮き上がっており、かつ２枚目のベルト２４の貼り付けによりその浮き上がりが解消されたことを示している。

なお、中領域２８のドラム周方向の範囲は小領域２７のドラム周方向の範囲と等しい。中領域２８のドラム幅方向の範囲は１つの二次元レーザー変位計１１の測定領域のドラム幅方向の範囲と等しい。また図４には１つの小領域２７に対応する１つの中領域２８のみが記載されているが、実際には全ての小領域２７について、これらに対応する中領域２８が存在する。

このような場合、後の測定における小領域内平均値から先の測定における小領域内平均値が減算される。そして減算結果の値（この値を補正値とする）が、その小領域２７を内包する中領域２８に関する先の測定の距離のデータ（先の測定で得られた、帯状部材の露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離のデータ）に加算される。すると、帯状部材の露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの先の測定で得られた距離に前記加算が行われた距離（これを「補正後の先の測定の距離」と言う。また、各測定位置の位置情報と、補正後の先の測定の距離とからなるデータを「補正後の先の測定データ」と言う。）が、前記露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの後の測定で得られた距離と、等しくなる。このことは、先の測定時にその中領域２８内において１枚目のベルト２０の浮き上がりが無かったものとみなすことができるように、先の測定データが補正されたことを意味する。つまり、前記加算前は図３（ｃ）の二点鎖線で表されていた前記露出面の輪郭Ｏ１が、前記加算により、１枚目のベルト２０のドラム面からの浮き上がりの高さ分だけドラム面に向かって低くなるように補正され、図３（ｃ）の実線で表される輪郭Ｏ３に補正されたことを意味する。

一方、先の測定における小領域内平均値と後の測定における小領域内平均値とに差が無いということは、先の測定時に１枚目のベルト２０がドラム面から浮き上がっていなかったために、２枚目のベルト２４の貼り付けによりその小領域２７のドラム面からの高さが変化しなかったということを示している。その場合、測定データは補正されない。

以上の補正がドラム周方向に並ぶ全ての中領域２８に関して行われる。つまり、ドラム周方向の全領域に関して、先の測定時に１枚目のベルト２０の浮き上がりが無かったものとみなすことができるように、先の測定データが補正される。そして、補正後の先の測定データが記憶部５１に記憶される。

次に、記憶部５１に記憶されているデータに基づき、データ処理部５５により、２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置が検出される。具体的には、まず、補正後の先の測定データにおける各測定位置と後の測定データにおける各測定位置との対応が取られる。そして各測定位置に関して、補正後の先の測定データの距離と、後の測定で得られた距離との差が求められる。つまり、後の測定で得られた距離から補正後の先の測定データの距離が減算される。

なお、先の測定及び後の測定において凹部又は凸部３１が検出され、その位置情報が得られている場合は、凹部又は凸部３１は２回分の測定データの位置合わせの目印として用いられる。つまり、先の測定及び後の測定の測定データにおける凹部又は凸部３１が目印とされて、先の測定データにおける各測定位置と後の測定データにおける各測定位置との対応が取られる。その上で各測定位置における補正後の先の測定の距離と後の測定で得られた距離との差が求められる。

上記のように先の測定データが補正されたため、２枚目のベルト２４の貼り付け後も１枚目のベルト２０の表面又はエッジテープ２２の表面が外部に露出している領域の各測定位置では、補正後の先の測定の距離と、後の測定で得られた距離とは一致している。そのため、２枚目のベルト２４の貼り付け後も１枚目のベルト２０の表面又はエッジテープ２２の表面が外部に露出している領域内の各測定位置では、補正後の先の測定の距離と、後の測定で得られた距離との差が０になる。一方、２枚目のベルト２４が外部に露出している領域内の各測定位置では、補正後の先の測定の距離と、後の測定で得られた距離との差の絶対値が、２枚目のベルト２４の厚みに相当する値となる。よって、補正後の先の測定の距離と、後の測定で得られた距離との差が求められた結果差が生じる領域は、２枚目のベルト２４が存在する領域である。このことに基づき、上記減算の結果差が生じる領域のドラム幅方向端部位置が、２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置として検出される。

図３（ｄ）の線Ｌ１は上記のように差が求められた結果が描画されたものであり、横軸がドラム幅方向の位置、縦軸が各位置における補正後の先の測定データの距離と後の測定で得られた距離との差の絶対値を表している。この線Ｌ１は２枚目のベルト２４のみの輪郭を描いているとみなすことができる。図３（ｄ）で２枚目のベルト２４の形状が現れている領域（すなわち前記差が０でない領域）のドラム幅方向端部の位置が、２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置である。

以上にようにして２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの位置が検出されると、この端部の理想的な位置からのずれ量等が算出され、判定部５６により異常の有無が判定される。

（１−３）効果
この方法によれば、積層された複数の帯状部材の輪郭形状における段差部が、上層の帯状部材である２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａであると判断されないため、輪郭形状の複数の段差のうちいずれが２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａであるか判断し難いという問題が生じない。そして、この方法では、２枚目のベルト２４の貼り付けの前後で帯状部材の露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離（あるいは帯状部材の露出面のドラム面からの高さ）が測定され、これらの測定で得られた距離（あるいは高さ）に差が生じている領域が２枚目のベルト２４が貼り付けられている領域と認定され、その領域のドラム幅方向端部が２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａと認定される。そのため本実施形態の方法は、複数の帯状部材の幅方向端部が近接している場合でも、そのことに影響されずに、２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａを確実に検出できる。

ここで、１枚目のベルト２０及びエッジテープ２２のドラム面への貼り付け後、一部領域において１枚目のベルト２０がドラム面に密着せずに浮き上がっている場合がある。そして、この一部領域における浮き上がりが、２枚目のベルト２４が貼り付けられることにより解消される場合がある。この現象が生じた場合、２枚目のベルト２４の貼り付け前に浮き上がりが生じていた領域では、２枚目のベルト２４の貼り付け後に、１枚目のベルト２０の露出面及びエッジテープ２２の露出面の二次元レーザー変位計１１からの距離が長くなる（ドラム面からの高さが低くなる）。すると、その領域の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離に、２枚目のベルト２４の貼り付けの前後で、差が生じる。そのため、実際には２枚目のベルト２４が存在しないにもかかわらず、その領域が２枚目のベルト２４が存在する領域と認定されるおそれがある。

しかし本実施形態の方法では、２枚目のベルト２４の貼り付け後もエッジテープ２２が外部に露出する領域に小領域２７が設定される。上記現象が生じた場合は、先の測定と後の測定とで、小領域２７内の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離の平均値（小領域内平均値）に、差が生じる。そのためその現象が生じたことが認識できる。そしてその場合、先の測定時に１枚目のベルト２０の浮き上がりが無かったものとみなすことができるように、先の測定で得られた距離が補正される。具体的には、後の測定で得られた小領域内平均値から先の測定で得られた小領域内平均値が減算され、その結果の値が、その小領域２７を内包する中領域２８内の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの先の測定で得られた距離に加算される。その結果、その中領域２８において実際には浮き上がりが生じていたとしても、その中領域２８内の１枚目のベルト２０及びエッジテープ２２の露出面上の各測定位置に関して、補正後の先の測定の距離と後の測定で得られた距離との差が無くなる。この補正後に、全ての測定領域における補正後の先の測定の距離と後の測定で得られた距離との差が求められると、２枚目のベルト２４が貼り付けられている領域のみで差が生じ、差が生じている領域が２枚目のベルト２４が貼り付けられている領域と認定され、その領域のドラム幅方向端部が２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａと認定される。そのため、上記の現象が生じた場合でも、２枚目のベルト２４が貼り付けられている領域が正しく認定され、２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａが正しく検出される。

（２）実施形態２
実施形態２は以下の点で実施形態１と異なる。実施形態２に用いられる装置は実施形態１に用いられる装置と同じである。

図７及び図８はドラム面及びその上に貼り付けられた帯状部材を表している。これらの図中の符号１２０は１枚目のベルト、符号１２０ａは１枚目のベルト１２０の幅方向端部、符号１２２はエッジテープ、符号１２２ａはエッジテープ１２２のドラム幅方向外側の端部、符号１２４は２枚目のベルト、符号１２４ａは２枚目のベルト１２４の幅方向端部をそれぞれ示している。図７及び図８に示されているように、測定領域の一部に複数の小領域１２７が設定されている。この小領域１２７は、２枚目のベルト１２４の貼り付け後も、１枚目のベルト１２０又はエッジテープ１２２（本実施形態ではエッジテープ１２２）が外部に露出している領域に設定されている。小領域１２７は、ドラム周方向（図７の矢印Ｃの方向）に隙間が生じないように一定距離ｐずつずれながらドラム１周に渡って並べられて設定されている。全ての小領域１２７がつながると、ドラム周方向に１周する領域となる。なお図７には見易くするために小領域１２７が２つしか記載されていないが、実際にはさらに多くの小領域１２７が図中に２点鎖線で示されている領域１２７Ａ内に並んでいる。

図９に示されているように、小領域１２７内を、ドラム周方向（図９の矢印Ｃの方向）に並ぶ複数（図９の場合は４本）の測定ラインＭが通過している。そのため、１つの小領域１２７では、複数の測定位置が、ドラム周方向及びドラム幅方向に並んでいることになる。本実施形態において、小領域１２７のずれの距離である前記一定距離ｐは、隣り合う測定ラインＭのドラム周方向の間隔ｑと同じ距離である。よって本実施形態においては、２つの小領域１２７のずれの範囲内（一定距離ｐ内）を、１本の測定ラインＭがドラム幅方向に通過している。なお図９において、２つの小領域１２７、１２７を区別するため、これらの小領域１２７、１２７の端部からやや内側にかけて、方向の異なる斜線が引いてある。

実施形態２の場合も、実施形態１の場合と同様に、先の測定のデータに基づいて各小領域１２７の小領域内平均値が求められ、また、後の測定のデータに基づいて各小領域１２７の小領域内平均値が求められる。

これらの小領域内平均値が求められた後、エッジテープ１２２の貼り付け後に生じていた１枚目のベルト１２０のドラム面からの浮き上がりが、２枚目のベルト１２４の貼り付けにより解消された場合のための補正が行われる。つまり、１枚目のベルト１２０とエッジテープ１２２との露出面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離が、２枚目のベルト１２４の貼り付け前後で、データ上で同じになるように、先の測定のデータの補正が行われる。

具体的には、後の測定における小領域内平均値から先の測定における小領域内平均値が減算されて求められた値が、その小領域１２７から求まる補正値とされる。先の測定における小領域内平均値が後の測定における小領域内平均値よりも小さい場合は、その小領域１２７から求まる補正値は正となる。先の測定における小領域内平均値と後の測定における小領域内平均値とが等しい場合は、その小領域１２７から求まる補正値は０となる。

そして、小領域１２７から求まる補正値が、その小領域１２７を通る特定の測定ラインＭの各測定位置から測定器までの先の測定で得られた距離に、加算される。特定の測定ラインＭとは、小領域１２７のドラム周方向の前記ずれの範囲内（小領域１２７のドラム周方向端部からずれの距離ｐだけ小領域１２７内側の位置までの間）を通る測定ラインＭのことである。このような測定ラインＭは小領域１２７内のドラム周方向両側に１本ずつ存在する（図９の測定ラインＭ１、Ｍ２）が、加算される対象となる測定ラインＭは、ドラム周方向のうち予め定められた一方向に存在する１本（測定ラインＭ１、Ｍ２のうちいずれか１本）のみである。このように加算されることは、先の測定時にその測定ラインＭ上の位置において１枚目のベルト１２０の浮き上がりが無かったものとみなすことができるように、先の測定データが補正されることを意味する。

この補正がドラム周方向に並ぶ全ての測定ラインＭに関して行われる。ここで、小領域１２７と、そこから求まる補正値による補正対象の測定ラインＭとの位置関係は、ドラム１周に渡って固定されている。例えば、小領域１２７から求まる補正値が、その小領域１２７の前記ずれの範囲内の２本の測定ラインＭのうちドラム回転方向側の測定ラインＭの補正に用いられる、と予め定められた場合、その位置関係は、全ての小領域１２７と測定ラインＭとの関係に適用される。そのため全ての小領域１２７と全ての測定ラインＭとがもれなく対になる。これにより、全ての測定ラインＭが、その測定ラインＭが属する１つの小領域１２７から求まる補正値により補正される。

その後、実施形態１の場合と同じ方法で、２枚目のベルト１２４の幅方向端部１２４ａの位置が検出される。

この方法によれば、エッジテープ１２２の貼り付け後に生じていた１枚目のベルト１２０のドラム面からの浮き上がりが、２枚目のベルト１２４の貼り付けにより解消された場合でも、２枚目のベルト１２４の幅方向端部１２４ａの位置が正しく検出される。

（３）変更例
（変更例１）
実施形態２では、複数の小領域１２７が、隣り合う測定ラインＭの間隔ｑと同じ距離ずつずれて設定され、１つの小領域１２７で求められた補正値が、その小領域１２７を通る１本の測定ラインＭについての先の測定結果の補正に用いられた。しかしこの実施形態に限定されず、複数の小領域がより長い距離ずつドラム周方向にずれて設定され、そのずれの範囲内に複数の測定ラインＭが存在するようになっていても良い。その場合は、１つの小領域で求められた補正値が、前記のずれの範囲内を通る複数の測定ラインＭについての先の測定結果の補正に用いられれば良い。

例えば図１０において、符号２２２はエッジテープ、符号２２７ａ及び２２７ｂは小領域、符号２２７Ａは複数の小領域が並んでいる領域を示す。２つの小領域２２７ａ、２２７ｂのずれの距離ｐは、隣り合う測定ラインＭの間隔ｑの２倍の長さである。そのため距離ｐの中に２本の測定ラインＭ、Ｍが存在する。この場合、小領域２２７ａで求められた補正値により、距離ｐのずれの範囲内にある２本の測定ラインＭ１、Ｍ２についての先の測定結果が補正される。ただし、測定ラインＭ１、Ｍ２が存在する範囲とは反対側のずれの範囲にある２本の測定ラインＭ３、Ｍ４についての先の測定結果が補正されても良い。なお図１０において、２つの小領域２２７ａと２２７ｂとを区別するため、これらの小領域２２７ａ、２２７ｂの端部からやや内側にかけて、方向の異なる斜線が引いてある。

なお実施形態１は、小領域のドラム周方向へのずれの距離が、該小領域のドラム周方向の長さと同じ距離である実施形態である。

（変更例２）
上記実施形態のように、上層の帯状部材（上記実施形態では２枚目のベルト１２４）の貼り付け前に行われる先の測定と、貼り付け後に行われる後の測定とにおいて、ドラム面上の各測定位置から測定器までの距離がそれぞれ測定されることが望ましい。そしてこれらの距離に差がある場合は、その差が解消されるように先の測定又は後の測定の距離のデータが補正され、その後、先の測定と後の測定の距離のデータ（いずれか一方のデータは補正されている）の差が求められることが望ましい。

例えば、先の測定におけるドラム面上の各測定位置から測定器までの距離（先の測定のドラム面距離）が、後の測定におけるドラム面上の各測定位置から測定器までの距離（後の測定のドラム面距離）よりも長い場合は、先の測定の距離のデータから後の測定の距離のデータが減算されると、ドラム面上を含む上層の帯状部材が貼り付けられていない領域においても減算結果が正となる。すると、実際には上層の帯状部材が貼り付けられていない領域にも上層の帯状部材が存在すると判断されてしまう。そこで対策として、先の測定のドラム面距離と後の測定のドラム面距離との差の絶対値が、先の測定の全データから引かれる。すると、上層の帯状部材が貼り付けられていない領域に関して、補正後の先の測定の距離のデータと、後の測定の距離のデータとが、等しくなる。その後、補正後の先の測定の距離のデータと、後の測定の距離のデータとの差が求められると、上層の帯状部材が貼り付けられていない領域においては差が０になり、上層の帯状部材が貼り付けられている領域においては差が生じる。そのため上層の帯状部材が存在する領域が正確に認識される。

この方法により、先の測定と後の測定の間でドラム面から測定器までの距離が変化した場合でも、上層の帯状部材が貼り付けられている領域が正確に認識され、上層の帯状部材の幅方向端部の位置が正確に検出される。特に、下層の帯状部材の貼り付けと上層の帯状部材の貼り付けとが異なる場所で行われる場合（例えば、下層の帯状部材の貼り付け後に成型ドラムＤが走行レール３２上を移動し、それに伴って変位計ユニット１６も走行レール１３上を移動する場合）は、ドラム面から測定器までの距離が変化することがある。しかしこの方法によれば、ドラム面から測定器までの距離が変化しても、上層の帯状部材の幅方向端部の位置が正確に検出される。

（変更例３）
帯状部材の面までの距離の測定を行う測定器は、二次元レーザー変位計に限定されない。測定器は、帯状部材の露出面上の各測定位置から該測定器までの距離が直接的又は間接的に求まるものであれば良く、従来から知られている様々な測定器が候補として挙げられる。二次元レーザー変位計は光学式の変位計の１つであるが、測定に適した他の光学式の変位計としては例えば一次元レーザー変位計が挙げられる。なお一次元レーザー変位計による測定の場合も、成型ドラムＤが少なくとも０．５度回転するごとに測定されることが望ましく、またドラム軸方向の測定間隔はドラム周方向の測定間隔と同じであることが望ましい。また、例えば、超音波を発信し反射してくる超音波を受信することにより反射面までの距離を測定する超音波式の変位計も、測定器の候補として挙げられる。

一次元レーザー変位計のように測定箇所が点である場合、測定領域内において測定箇所がドラム幅方向に並び、これにより測定ラインが形成される。

（変更例４）
上記の実施形態では帯状部材は３層に積層されたが、２層に積層される場合や、４層以上に積層される場合もある。何層に積層される場合であっても、検査対象となる帯状部材（上層の帯状部材）の１つ下の層の帯状部材（下層の帯状部材）までがドラム上に貼り付けられた状態で先の測定が行われ、下層の帯状部材の上に上層の帯状部材が貼り付けられた状態で後の測定が行われ、先の測定結果と後の測定結果との差から上層の帯状部材の端部位置が明らかにされる。

なお、ドラムに貼り付けられる帯状部材Ｂとしては、ベルトやエッジテープの他に、カーカスプライやトレッド等が例示される。これらはいずれもタイヤ構成部材であり、ゴム製のものである。ただしゴムの内部にスチール製や有機繊維製等のワイヤが埋め込まれているものもある。

また上記の実施形態ではエッジテープ２２のドラム幅方向外側の端部２２ａの検出が行われていないが、２枚目のベルト２４の幅方向端部２４ａの検出と同じ要領で、エッジテープ２２のドラム幅方向外側の端部２２ａの検出が行われても良い。

（変更例５）
上記実施形態では、１つの二次元レーザー変位計１１が帯状部材の幅方向の一方の端部の検出に用いられた。そして２つの二次元レーザー変位計１１で帯状部材の幅方向両端部の検出が行われた。しかし、二次元レーザー変位計１１等の測定器のドラム幅方向の測定範囲が広い場合は、１つの測定器で帯状部材の幅方向両端部の検出が行われても良い。なお、ドラム面上の凹部又は凸部３１を用いたデータの位置合わせや変更例２の方法が実施されない場合等は、ドラム面上の各測定位置から二次元レーザー変位計１１までの距離は測定されなくても良い。

Ｂ…帯状部材、Ｄ…成型ドラム、Ｏ１、Ｏ２、Ｏ３…輪郭、Ｌ１…線、Ｍ…測定ライン、１…成型検査装置、１０…検査装置、１１…二次元レーザー変位計、１２…サーボモータ、１３…走行レール、１４…モータ、１５…サーボモータ、１６…変位計ユニット、２０…１枚目のベルト、２０ａ…１枚目のベルト２０の幅方向端部、２２…エッジテープ、２２ａ…エッジテープ２２のドラム幅方向外側の端部、２４…２枚目のベルト、２４ａ…２枚目のベルト２４の幅方向端部、２７…小領域、２８…中領域、３０…セグメント、３１…凹部又は凸部、３２…走行レール、３３…モータ、５…コンピュータ、５０…演算処理部、５１…記憶部、５２…入力部、５３…表示部、５４…データ取得部、５５…データ処理部、５６…判定部、７…制御用コンピュータ、７０…回転制御部、７１…移動制御部、７２…位置決め部、１２０…１枚目のベルト、１２０ａ…１枚目のベルト１２０の幅方向端部、１２２…エッジテープ、１２２ａ…エッジテープ１２２のドラム幅方向外側の端部、１２４…２枚目のベルト、１２４ａ…２枚目のベルト１２４の幅方向端部、１２７…小領域、２２２…エッジテープ、２２７ａ、２２７ｂ…小領域

Claims (3)

1. タイヤを構成する帯状部材がドラム上に積層される場合の、上層の帯状部材の幅方向端部位置検出方法であって、
   １又は２以上の下層の帯状部材がドラム上に貼り付けられた後、先の測定として、ドラム上に貼り付けられている前記１又は２以上の下層の帯状部材の外部に露出している面上の各測定位置から測定器までの距離が測定される工程と、
   前記１又は２以上の下層の帯状部材の上から上層の帯状部材が貼り付けられた後、後の測定としてドラム上に積層されている複数の帯状部材の外部に露出している面上の各測定位置から測定器までの距離が測定される工程と、
   前記先の測定で得られた距離が補正される工程と、
   前記補正後の距離と前記後の測定で得られた距離とに差が生じる領域のドラム幅方向端部位置が前記上層の帯状部材の幅方向端部位置として検出される工程とを含み、
   前記先の測定で得られた距離が補正される工程は、
   前記先の測定及び前記後の測定の測定領域内であって、前記上層の帯状部材の貼り付け後も前記１又は２以上の下層の帯状部材が外部に露出している領域内に、ドラム周方向に複数の測定位置を有する小領域が設定され、複数の前記小領域が、ドラム周方向に隙間が生じないように一定距離ずつずれながらドラム１周に渡って並べられて設定される工程と、
   各小領域において、前記後の測定で得られた小領域内の各測定位置からの距離の平均値から、前記先の測定で得られた同じ小領域内の各測定位置からの距離の平均値が減算されることにより補正値が求められる工程と、
   各小領域の前記補正値が、その小領域及びそのドラム幅方向の領域の中にある測定位置のうち、ドラム周方向の前記ずれの範囲内にある測定位置から測定器までの前記先の測定における距離に加算される工程とを含む、
   帯状部材の幅方向端部位置検出方法。
2. 前記一定距離が前記小領域のドラム周方向の長さと同じ距離である、請求項１に記載の帯状部材の幅方向端部位置検出方法。
3. 前記一定距離が測定位置のドラム周方向の間隔と同じ距離である、請求項１に記載の帯状部材の幅方向端部位置検出方法。

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