JP2016159316A - アーク溶接方法、アーク溶接装置およびアーク溶接用制御装置 - Google Patents
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Abstract
Description
また溶接終了工程では、短絡が生じる短絡期間後のアークが発生するアーク期間に更にパルス電流を印加してもよい。
さらに溶接終了工程では、アーク期間の溶接電流を定電流とすることができる。
またさらにパルス波形は、溶接電流が線形的に増加する第1の期間と、溶接電流が定電流となる第2の期間と、溶接電流が線形的に減少する第3の期間とで構成され、第1の期間は、0.5ms以上かつ2.0ms以下となる範囲から選択され、第2の期間は、1.0ms以上かつ5.0ms以下となる範囲から選択され、第3の期間は、0.5ms以上かつ2.0ms以下となる範囲から選択されるようにすることができる。
またさらに第2の期間の溶接電流は、250A以上かつ300A以下となる範囲から選択され、第1の期間前の溶接電流および第3の期間後の溶接電流は、0Aより大きく50A以下となる範囲から選択されるようにすることができる。
以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
図1は、本発明の実施の形態に係る溶接システム1の概略構成を示す図である。
この溶接システム1は、消耗電極式(溶極式)のガスシールドアーク溶接法のうち、炭酸ガス(CO2ガス)をシールドガスとして用いる炭酸ガスアーク溶接法によって、被溶接物200の溶接を行うものである。
ここで溶接トーチ10、ワイヤ送給装置30、シールドガス供給装置40は、溶接電流にてアークを発生させることにより溶接を行なう溶接手段と把握することができる。
作業者が溶接終了を指示すると、ワイヤ送給を停止する。ただし、慣性によりワイヤが即時停止することはないため、ワイヤが完全に停止するまでの間は、アーク期間中に図3に示すパルス電流波形を出力する。
そしてアークの発生が停止すると、溶接ワイヤ100の先端部に形成ないし残留している溶滴が冷却し、凝固する。この際に溶滴の表面に絶縁物であるスラグが凝固し、溶滴表面に絶縁膜を形成する。そしてこの絶縁膜は溶滴の先端部、つまり溶接ワイヤ100が被溶接物200と最接近する場所に生じやすい。アーク溶接を再開するべく、作業者が溶接開始(アークスタート)を指示した際に、この絶縁膜は溶接ワイヤ100と被溶接物200との間の導通を阻害する。その結果、溶接ワイヤ100と被溶接物200との間に短絡電流が流れるのが阻害される。そして溶接再開を行えない事態、あるいはアークが瞬間的に発生した後にチップとワイヤが溶着する事態が生じる。これらを「アークスタート不良」と呼ぶ。このアークスタート不良は、アーク溶接の品質の低下や生産性の低下を引き起こす。
また、図2(b)は、このときの溶接ワイヤ100の先端部の状態を示す図である。
そして短絡が生じると溶接電流を、時間t2にかけて低下させる。これにより短絡状態に移行する際のスパッタ発生を抑制する。
そして短絡が再び生じたのち、時間t1に戻り、同様の電流波形制御を繰り返す。
また図3(b)は、このときの溶接ワイヤ100の先端部の状態を示す図である。
ただしアーク期間では、時間t10〜時間t13において、アーク5期間を別途設けた点でまず異なっている。このアーク5期間では、溶接電流にパルス波形が入るように制御を行なう。
さらにアーク1期間からアーク4期間において、溶接電流を図2(a)に示した場合より低電流となるように制御する。アーク1期間からアーク4期間では、アークZは発生するものの、その強度は、図2(a)に示した場合より低いものとなる。またアーク1期間からアーク4期間でほぼ一定の電流値(定電流)となる。この場合電流値は、例えば、30Aである。
つまり本実施の形態では、短絡期間後のアーク期間をなくし、アーク期間分の時間が経過した後にパルス波形を加えることを特徴とする。
アーク5期間を設けた場合は、図4(a)に示すように溶接ワイヤ100の先端部に形成された溶滴Xは、持ち上がった状態で凝固し、ペンシル形状となる。そしてスラグSは、溶滴Xの側部に形成される。
一方、アーク5期間を設けなかった場合は、図4(b)に示すように溶接ワイヤ100の先端部に形成された溶滴Xは、持ち上がらず、ほぼ球状の形状で凝固する。この場合、そしてスラグSは、重力の作用により溶滴Xの下方に形成される。つまりスラグSは、溶接ワイヤ100と被溶接物200との間に形成される。
次に本実施の形態のアーク溶接方法について説明を行なう。
図5は、本実施の形態のアーク溶接方法について説明したフローチャートである。
アーク終了直前(玉どり制御期間中)では、溶滴のサイズをコントロールしている。図3(a)で示したようなアーク1期間からアーク4期間が最低値となるような溶接電流が設定されており、アーク5期間が設定された溶接電流が供給される(ステップ104)。
そして再度短絡状態とならなかった場合(ステップ105でNo)、アーク溶接を終了する。
以上のステップ103〜ステップ105は、被溶接物200の溶接を終了するときに、溶接電流の波形がパルス波形を印加する制御を行なう溶接終了工程と把握することができる。
上述した例では、図2(a)および図3(a)に示したように、定電圧下で溶接電流を増減させていたが、これに限られるものではない。
図6(a)は、アーク溶接を行なっている最中に、電源装置50より出力される溶接電流の波形の他の例を示した図である。
また図6(b)は、このときの溶接ワイヤ100の先端部の状態を示す図である。
そして時間t23〜時間t24において溶滴Xは溶接ワイヤ100から溶融池Yに移行する。
次に時間t24〜時間t25において第2パルスを印加することで、溶接ワイヤ100と溶融池Yとの間でより大きなアークZを発生させる。
さらに時間t25以降、ベース電流Ib2により再び溶滴Xを成長させる。
以後、再度t21に戻り、同様の動作を繰り返す。
また図7(b)は、このときの溶接ワイヤ100の先端部の状態を示す図である。
なおここでは第2パルスとパルス波形とは、ピーク電流やピーク期間を同じとしたが異なるようにしてもよい。
次にパルス波形についてさらに詳しく説明を行なう。ここでは図3(a)に示したパルス波形を例に採り説明を行なう。
ここで溶接電流の波形がパルス波形であるとは、溶接電流の波形が、図8で示したような矩形(台形形状)となる場合を言う。つまりまずアーク5期間開始時の時間t10から時間t11にかけ、溶接電流をベースの電流値Eからピークの電流値Bまで、時間Aの間(第1の期間:t11−t10)に線形的に増加する。そして時間t11から時間t12にかけピークの電流値Bを時間Cの間(第2の期間:t12−t11)、ほぼ定電流として維持する。さらに時間t12から時間t13にかけ、溶接電流をピークの電流値Bからベースの電流値Eまで、時間Dの間(第3の期間:t13−t12)に線形的に減少する。
図示するように、実施例1〜3として、B〜Eを固定し、時間Aを1.0ms、2.0ms、5.0msで変化させた。そしてアークスタート不良が生じるか否かを確認するとともに、凝固した溶滴XにおけるスラグSの形成位置を観察した。
図示するように、実施例4〜7として、A、C、D、Eを固定し、電流値Bを150A、200A、250A、300Aで変化させた。なお実施例1〜3の結果より、より好ましい範囲として、時間Aについては2.0msを設定した。そしてアークスタート不良が生じるか否かを確認するとともに、凝固した溶滴XにおけるスラグSの形成位置を顕微鏡により観察した。
実施例4〜5の場合、溶接ワイヤ100の先端部は、球状となって凝固し、スラグSはその底部に形成された。対して実施例6〜7の場合、溶接ワイヤ100の先端部は、上に持ち上がったペンシル形状となって凝固し、スラグSはその側部に形成された。即ちこれにより実施例5〜7の場合、実施例4〜5よりもアークスタート不良がより生じにくくなったものと考えられる。
図示するように、実施例8〜10として、A、B、D、Eを固定し、時間Cを0.1ms、1.0ms、3.0msで変化させた。なお実施例1〜7の結果より、より好ましい範囲として、時間Aについては2.0msを設定し、電流値Bについては300Aを設定した。そしてアークスタート不良が生じるか否かを確認するとともに、凝固した溶滴XにおけるスラグSの形成位置を観察した。
実施例8の場合、溶接ワイヤ100の先端部は、球状となって凝固し、スラグSはその底部に形成された。対して実施例9〜10の場合、溶接ワイヤ100の先端部は、上に持ち上がったペンシル形状となって凝固し、スラグSはその側部に形成された。即ちこれにより実施例9〜10の場合、実施例8よりもアークスタート不良がより生じにくくなったものと考えられる。
図示するように、実施例11〜18として、A、C、Eを固定し、電流値Bを300Aおよび120Aの2通りで変化させた。また時間Dを0.1ms、1.0ms、3.0ms、10.0msで変化させた。なお実施例1〜10の結果より、より好ましい範囲として、時間Aについては2.0msを設定し、電流値Bについては300Aを設定し、時間Cについては、3.0msを設定した。そしてアークスタート不良が生じるか否かを確認するとともに、凝固した溶滴XにおけるスラグSの形成位置を観察した。
図示するように、実施例19〜21として、A、B、C、Dを固定し、電流値Eを1.0A、20A、50Aで変化させた。なお実施例1〜18の結果より、より好ましい範囲として、時間Aについては2.0msを設定し、電流値Bについては300Aを設定し、時間Cについては、3.0msを設定し、時間Dについては、0.1msを設定した。そしてアークスタート不良が生じるか否かを確認するとともに、凝固した溶滴XにおけるスラグSの形成位置を観察した。
そして溶接ワイヤ100の先端部を上に持ち上がったペンシル形状となって凝固させた場合は、アークスタート不良の発生率はさらに減少する。そしてこのようにするためには、ピークの電流値Bを250A以上とし、かつピークの電流値Bを維持する時間C(第2の期間)を1.0ms以上とする必要がある。つまりこのパルス波形を印加することで溶接ワイヤ100の先端部に形成された溶滴Xが持ち上げる力が生じる。この力は、ピークの電流値Bとそれを維持する時間Cで定まるため、所定の電流値および時間以上である必要がある。そしてベースの電流値Eからピークの電流値Bまで電流値を増加させる立ち上がりの時間A(第1の期間)を設け、この力が急激に生じることにより溶滴Xが飛び散ることを抑制する。さらにピークの電流値Bからベースの電流値Eにする立ち下がりの時間D(第3の期間)を設け、この力が急激に消失しないようにして持ち上げた溶滴Xの状態を変化しにくくする。これにより、溶滴Xは上に持ち上がったまま凝固されやすくなり、よりスラグSが側面に形成されやすくなる。
Claims (9)
- シールドガスとしてCO2ガスを用い、溶接ワイヤを被溶接物に向けて送給しつつ当該溶接ワイヤと当該被溶接物との間に溶接電流を流し、当該溶接電流にてアークを発生させることにより溶接を行なうアーク溶接方法であって、
前記溶接電流を調整する制御を行ない、前記被溶接物の溶接を行なう溶接工程と、
前記被溶接物の溶接を終了するときに、前記溶接電流の波形が台形形状となるものを印加する制御を行なう溶接終了工程と、
を含むことを特徴とするアーク溶接方法。 - 前記溶接終了工程では、前記被溶接物の溶接を終了するときに、短絡が生じた場合に前記溶接電流の波形が台形形状となるものをさらに印加することを特徴とする請求項1に記載のアーク溶接方法。
- 前記溶接終了工程では、短絡が生じる短絡期間後のアークが発生するアーク期間に前記溶接電流の波形が台形形状となるものを印加することを特徴とする請求項1または2に記載のアーク溶接方法。
- 前記溶接終了工程では、前記アーク期間の前記溶接電流を定電流とすることを特徴とする請求項3に記載のアーク溶接方法。
- 前記台形形状の波形は、前記溶接電流が線形的に増加する第1の期間と、当該溶接電流が定電流となる第2の期間と、当該溶接電流が線形的に減少する第3の期間とで構成され、
前記第1の期間は、0.5ms以上かつ2.0ms以下となる範囲から選択され、
前記第2の期間は、1.0ms以上かつ5.0ms以下となる範囲から選択され、
前記第3の期間は、0.5ms以上かつ2.0ms以下となる範囲から選択されることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載のアーク溶接方法。 - 前記第2の期間の前記溶接電流は、250A以上かつ300A以下となる範囲から選択され、
前記第1の期間前の前記溶接電流および前記第3の期間後の前記溶接電流は、0Aより大きくかつ50A以下となる範囲から選択されることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載のアーク溶接方法。 - 前記溶接終了工程では、前記溶接電流の波形が、矩形形状と前記台形形状とにより構成されることを特徴とする請求項1に記載のアーク溶接方法。
- シールドガスとしてCO2ガスを用い、溶接ワイヤを被溶接物に向けて送給しつつ当該溶接ワイヤと当該被溶接物との間に溶接電流を流し、当該溶接電流にてアークを発生させることにより溶接を行なう溶接手段と、
前記溶接ワイヤを介して前記被溶接物に前記溶接電流を供給する電源部と、
前記被溶接物の溶接を行なうときは、前記溶接電流を調整する制御を行ない、当該被溶接物の溶接を終了するときに、前記溶接電流の波形が台形形状となるものを印加する制御を行なう電流制御部と、
を備えるアーク溶接装置。 - シールドガスとしてCO2ガスを用い、溶接ワイヤを被溶接物に向けて送給しつつ当該溶接ワイヤと当該被溶接物との間に溶接電流を流し、当該溶接電流にてアークを発生させることにより溶接を行なう溶接装置の当該溶接電流を制御するアーク溶接用制御装置であって、
前記溶接ワイヤを介して前記被溶接物に前記溶接電流を供給する電源部と
前記被溶接物の溶接を行なうときは、前記溶接電流を調整する制御を行ない、当該被溶接物の溶接を終了するときに、前記溶接電流の波形が台形形状となるものを印加する制御を行なう電流制御部と、
を備えるアーク溶接用制御装置。
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