JP2016148663A - 接続インタフェース、試験測定システム及び接続指示方法 - Google Patents

Abstract

【課題】試験測定装置とＤＵＴが離れていても、これらの間の接続を適切に行えるようにする。【解決手段】接続インタフェース１００には、試験測定装置に接続される装置コネクタ１３０と、ＤＵＴと接続されるＤＵＴコネクタ１４０とがあり、信号ルーティング回路１５０を介して、装置コネクタ１３０とＤＵＴコネクタ１４０との間に電気的パスが形成される。表示装置１１０の第１領域は、ＤＵＴコネクタ１４０と視覚的に関連づけされ、ＤＵＴ上の特定接続ポイントに関する情報を表示する。表示装置１１０の第２領域は、装置コネクタ１３０と視覚的に関連づけされ、ホスト試験測定装置に関する情報や、ＤＵＴに実施される測定の名前に関する情報を表示する。【選択図】図１

Description

本発明は、試験測定装置と被試験デバイスとの接続に利用する接続インタフェースと、これを用いた試験測定システムと、これを用いてユーザに適切な指示を行う方法に関する。

試験測定装置の典型的な動作環境では、試験測定装置は、ユーザの被試験デバイス（ＤＵＴ）の近くに配置される。例えば、ケースレーの２４５０型ＳＭＵ（Source Measure Unit）のような試験測定装置は、ユーザのＤＵＴと同じ試験ベントに配置され、比較的短いケーブルで物理的に接続されることが多い。

しかし、動作環境によっては、ユーザは、試験測定装置をＤＵＴから物理的に比較的遠い位置に配置する必要があることがある。物理的にＤＵＴの近くに配置するには、試験測定装置が巨大であったり、かさばったり、非常に重たいなどの理由で、ユーザは、試験測定装置とＤＵＴとの間にかなりの距離を設ける必要がある場合もある。また、こうした要件は、ＤＵＴの動作環境が原因で、試験測定装置の近くに配置が困難なために生じることがある。こうした状況とは、例えば、ＤＵＴが恒温室や湿度室、クリーン・ルーム、電磁干渉（ＥＭＩ）アイソレーション・ルーム内に配置される場合などである。こうした環境では、試験測定装置は、典型的には、比較的長いケーブルを介してＤＵＴに接続される。

試験測定装置とＤＵＴとの間で適切なケーブル接続を行えるようユーザを支援するため、試験測定装置には、典型的には、その装置のフロントパネルに、その入力端子に関する名前を記載した固定のラベルが設けられている。試験測定装置のラベルは、簡略化した回路図を表現したものを示すこともあり、これによって、ユーザが行おうと考えている測定を実施するために、試験測定装置とＤＵＴの間で、どのような接続を行う必要があるか、ユーザが理解できるようにしている。試験測定装置とＤＵＴが近接している環境に関しては、これら固定ラベルでも、ユーザがＤＵＴを適切に接続し、試験測定装置を適切に動作させるのに、多くの場合、充分である。

特開２００５−３３３６０４号公報

「SMU（ソース・メジャー・ユニット）」の製品紹介サイト、ケースレー、［online］、［２０１６年２月９日検索］、インターネット<http://www.keithley.jp/products/dcac/currentvoltage> 「テストリードとプローブ」の製品紹介サイト、ケースレー、［online］、［２０１６年２月９日検索］、インターネット<http://www.keithley.jp/products/accessories/testleadsprobes>

しかし、試験測定装置及びＤＵＴがかなりの距離で離れている環境では、ユーザは、試験測定装置さえ見ることができないことがある。従って、こうした状況では、適切なケーブル接続や、これら接続で問題が生じた場合の問題解決は、困難である。更に、複雑な測定を実行するためには、測定工程の途中で、ケーブル接続を変更する必要が生じることがあり、これは、試験測定装置に物理的にアクセスしない状況においては、困難で、時間がかかり、エラーが発生しがちである。

本発明は、従来技術の上述した課題等を解決しようとするものである。

本発明は、１つ以上の被試験デバイス（ＤＵＴ）を遠隔にある１つ以上の試験測定装置に接続する接続インタフェースであって、ＤＵＴを接続インタフェースに接続するための被試験デバイス・コネクタと、接続インタフェースをホスト試験測定装置に接続するためのホスト装置コネクタと、被試験デバイス・コネクタ及びホスト装置コネクタ間の電気的パスとを有している。この接続インタフェースには、表示装置もある。表示装置には、被試験デバイス・コネクタと視覚的に関連づけられた第１部分がある。いくつかの実施形態では、表示装置の第１部分は、物理的に近接していることによるか、又は、色によるか、若しくは、その両方によって、被試験デバイス・コネクタと視覚的に関連づけられている。表示装置の第１部分は、被試験デバイスの特定接続ポイントに関する識別子を表示するよう構成される。いくつかの実施形態では、表示装置の第１部分が、ＤＵＴ上の特定接続ポイントからの測定データを表示するよう構成される。

いくつかの実施形態では、表示装置には、ホスト試験測定装置、ホスト試験測定装置上の特定接続ポイント又はホスト試験測定装置の状態に関する情報に関する識別子のような、ホスト試験測定装置に関係する情報を表示する第２部分がある。別の実施形態では、表示装置には、被測定デバイスの特定の測定に関する名前を表示する第２部分がある。

いくつかの実施形態では、接続インタフェースには、操作装置及び制御回路もある。操作装置は、ユーザによって操作できるようになっている。制御回路は、操作装置を入力装置として利用し、ホスト試験測定装置と通信して、表示装置上に表示される情報を変更する。いくつかの実施形態では、制御回路は、ユーザが操作装置を操作するのに応答して、表示装置上に表示される情報を変更する。別の実施形態では、制御回路は、ホスト試験測定装置からの要求に応答して、表示装置上に表示される情報を変更する。

本発明による試験測定システムは、少なくとも１つの試験測定装置と、試験測定装置と少なくとも１つの被試験デバイスとの間の接続インタフェースとを有する。この接続インタフェースは、試験測定装置から独立したハウジング内に配置される。接続インタフェースには、それぞれ対応する複数のケーブルによって少なくとも１つの被試験デバイスに接続可能に構成された複数の被試験デバイス・コネクタに加えて、それぞれ対応する複数のケーブルによって試験測定装置上のそれぞれ対応する複数のコネクタに接続される複数の装置コネクタがある。この接続インタフェースには、複数の装置コネクタと複数の被試験デバイス・コネクタとの間の構成変更可能な複数の電気的パスのセットを提供する信号ルーティング回路もある。そして、接続インタフェースには、表示装置がある。表示装置には、複数の表示領域がある。表示装置の各表示領域は、複数の被試験デバイス・コネクタの１つと視覚的に関連づけられており、それぞれ対応する被試験デバイス・コネクタに関係する情報を表示するよう構成される。

本発明には、試験測定装置上の特定コネクタと、被試験デバイス上の特定ポイントとの間の接続を行うために、試験測定装置のユーザに指示する方法もあり、これは、表示装置の第１部分上に被試験デバイス上の特定ポイントに関する名前を表示する処理を含む。表示装置の第１部分は、試験測定装置と被試験デバイスとの間の接続インタフェース上の第１コネクタと視覚的に関連づけられている。この方法には、表示装置の第２部分上に、試験測定装置上の特定コネクタに関する名前を表示する処理もある。表示装置の第２部分は、試験測定装置と被試験デバイスとの間の接続インタフェース上の第２コネクタと視覚的に関連づけられている。

図１は、本発明の実施形態による接続インタフェースのブロック図である。 図２は、本発明の実施形態による接続インタフェースの上面図である。 図３は、本発明の実施形態による接続インタフェースのブロック図である。 図４は、本発明の実施形態による接続インタフェースの側面図である。

図１は、本発明の実施形態によるダイナミックに設定変更可能な遠隔装置の接続インタフェース１００のブロック図である。接続インタフェース１００は、少なくとも１つのホスト試験測定装置と少なくとも１つの被試験デバイス（ＤＵＴ）との間のインタフェースである。この接続インタフェース１００には、少なくとも１つのホスト装置コネクタ１３０がある。ホスト装置コネクタ１３０は、ホスト試験測定装置に接続するよう構成される。接続インタフェース１００には、少なくとも１つの被試験デバイス・コネクタ１４０もある。ＤＵＴコネクタ１４０は、ＤＵＴと接続するよう構成される。接続インタフェース１００には、ホスト装置コネクタ１３０と被試験デバイス・コネクタ１４０との間の電気的パスもある。図１では、電気的パスは、コネクタ１３０から信号ルーティング（経路選択）回路１５０へと、信号ルーティング回路１５０からコネクタ１４０への信号パスとして示されている。

コネクタ１３０及び１４０は、試験測定装置、接続インタフェース１００及びＤＵＴ間を通過する信号の形式に適した、例えば、バナナ・ジャック、同軸ＢＮＣ、３重同軸コネクタ、Ｎ型コネクタ又は他の形式のコネクタとしても良い。これら信号は、ＤＵＴからの測定される信号、ホスト試験測定装置からの刺激信号としても良いし、若しくは、制御又は通信信号としても良い。制御又は通信信号の場合、コネクタは、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）コネクタのようなシリアル・データ形式のコネクタ、又は、ＧＰＩＢ（General Purpose Interface Bus）コネクタのようなパラレル・データ形式のコネクタとしても良い。

コネクタ１３０及び１４０のそれぞれは、異なる形式のコネクタとしても良い。接続インタフェース１００及び試験測定装置間の接続と、接続インタフェース１００及びＤＵＴ間の接続は、概して、ユーザがケーブルを用いて行う。試験測定装置に接続するケーブルは、典型的には、ＤＵＴに接続するケーブルよりも、ずっと長い。例えば、接続インタフェース１００及びＤＵＴ間のケーブルは、長さが、典型的には、１メートル以下である一方、接続インタフェース１００及び試験測定装置間のケーブルは、長さが、典型的には、１メートルよりも大きい。

接続インタフェース１００には、表示装置１１０もある。表示装置１１０は、例えば、単純なモノクロの７セグメントの液晶表示装置（ＬＣＤ）としても良いし、又は、もっと複雑なカラー・グラフィック表示装置でも良い。表示装置１１０は、複数の表示デバイスを有していても良い。

表示装置１１０には、被試験デバイス・コネクタ１４０と視覚的に関連する第１領域がある。即ち、表示装置１１０の第１領域を見ることによって、ユーザは、表示装置１１０の第１領域に表示された情報が被試験デバイス・コネクタ１４０に関係することが直ちに認識できる。いくつかの実施形態では、表示装置１１０の第１領域が、物理的に近接していることによって、被試験デバイス・コネクタ１４０と視覚的に関連づけられる。即ち、表示装置１１０の第１領域が、ＤＵＴコネクタ１４０のかなり近くに位置するようにされるか、又は、ＤＵＴコネクタ１４０と視覚的にほぼ揃えるような方法で、表示装置１１０を接続インタフェース１００上に配置し、これによって、ユーザが、表示装置１１０のこの領域上に表示された情報が、それに揃っているＤＵＴコネクタ１４０に関連すると、視覚的に認識できるようにする。別の実施形態では、表示装置の第１領域は、色によって、被試験デバイス・コネクタ１４０と視覚的に関連づけられる。即ち、ＤＵＴコネクタ１４０に特定の色でラベルが付され、表示装置１１０の第１領域の、例えば、背景や境界線（Border）が、同じ特定色で表示され、これによって、ユーザは、表示装置１１０の第１領域がＤＵＴコネクタ１４０と関連していることを視覚的に認識できる。実施形態としては、表示装置１１０の第１領域及びＤＵＴコネクタ１４間の視覚的関連づけの形成に関して、その他にも多くの手法があり、それは、例えば、表示装置の第１領域上に表示されるのに加えて、コネクタ１４０上又は近くに示されるパターン又はシンボルをマッチングさせたり、アイコンをマッチングさせることによって行っても良い。実施形態は、視覚的な関連づけに関する複数の手法を利用できる。

表示装置１１０の第１領域は、ＤＵＴ上の特定接続ポイントに関する識別子を表示するよう構成される。本願で用いるように、「識別子」は、ユーザがＤＵＴ上の特定接続ポイントを特定するとして認識するであろう文字又は数字を用いる名前、シンボル、アイコン、マーク、図案（design）、又は他の仕掛け（device）を含む。具体的なＤＵＴによって、特定接続ポイントは、入力コネクタ、出力コネクタ、端子、コンタクト、試験ポイント、ビア（VIA）、ピン、他のあり得る接続ポイントとしても良い。多くの場合、特定接続ポイントは、ＤＵＴ上の出力コネクタであり、この場合、表示装置１１０の第１領域は、出力コネクタの名前、例えば「信号出力」を表示するよう構成される。表示装置１１０の第１領域上に特定ＤＵＴ接続ポイントに関する識別子を表示することは、表示装置１１０の第１領域と視覚的に関連づけられているＤＵＴコネクタ１４０と、特定ＤＵＴ接続ポイントとの間の接続をユーザが形成しようとしているということを、ユーザに示す。

いくつかの実施形態に従って、ユーザが接続インタフェース１００及びＤＵＴの間の接続を行うと、表示装置１１０の第１領域は、ＤＵＴ上の特定接続ポイントからの測定データを表示するようにも構成される。例えば、もし表示装置１１０の第１領域が「信号出力（SIG OUT）」を表示するよう構成されると、ユーザがＤＵＴの「信号出力」コネクタへの接続を行う場合に、表示装置１１０の第１領域が「信号出力」信号の測定値、例えば「信号出力」電圧レベルを表示する。表示装置１１０の第１領域に表示されたこの測定データは、リアルタイムか又は過去に記憶したデータとしても良く、そして、単純な数字形式かグラフ形式でも良い。測定データは、例えば、表示装置１１０の第１領域と視覚的に関連づけられたＤＵＴコネクタ１４０上で、ＤＵＴからの何らか信号がともかくも検出されたか否かを示すといった、概略的な状態情報に切り詰めることもできる。

いくつかの実施形態によれば、接続インタフェース１００の表示装置１１０には、ホスト試験測定装置に関係する情報を表示するよう構成される第２領域がある。

いくつかの実施形態では、表示装置１１０の第２領域は、ホスト試験測定装置に関する識別子を表示するよう構成される。例えば、表示装置１１０の第２領域は、ホスト試験測定装置としてオシロスコープを特定するように、ユーザが認識するであろう文字及び数字「オシロスコープ１」を示すように構成できる。これに代えて、ホスト試験測定装置を特定するように認識するであろう適切なシンボル又はアイコンをユーザに対して表示しても良い。

いくつかの実施形態では、表示装置１１０の第２領域は、入力コネクタ、出力コネクタ、シリアル・データ・コネクタ又はパラレル・データ・コネクタのような、ホスト試験測定装置上の特定接続ポイントに関する識別子を表示するよう構成される。例えば、表示装置の第２領域は、ホスト試験測定装置上の入力コネクタ、特定接続ポイントであるチャンネル（ＣＨ）１を示す「オシロスコープＣＨ１」を示すように構成できる。いくつかの実施形態では、表示装置１１０の第２領域は、表示装置１１０の第１領域がＤＵＴコネクタ１４０と視覚的に関連づけられるやり方と同様にして、ホスト装置コネクタ１３０と視覚的に関連づけられる。このようにして、表示装置１１０の第２領域と視覚的に関連づけられたホスト装置コネクタ１３０と、ホスト試験測定装置上の特定接続ポイントとの間の接続をユーザが行おうとしているということを、ユーザは認識するであろう。いくつかの実施形態では、表示装置１１０の第２領域は、ホスト試験測定装置に関する状態（ステータス）情報を表示するよう構成される。状態情報には、例えば、ホスト試験測定装置がトリガされたか否か、信号が取り込まれたか否か、エラー状態又はメモリの境界越え（out-of-bounds）状態に入ったか否か、などがある。

場合によっては、接続インタフェース１００は、ホスト試験測定装置が、被試験デバイスの連続する試験又は測定を行う環境で使用される。いくつかの実施形態によれば、接続インタフェース１００の表示装置１１０には、第２領域があって、これは、被試験デバイスの特定の測定に関する名前を表示するよう構成される。これら実施形態では、試験シーケンスにおいて、ホスト試験測定装置がどの程度進捗したかを判断するために、何の特定測定が行われているかを、表示装置１１０の第２領域上でユーザが見ることができる。

接続インタフェース１００のいくつかの実施形態には、操作装置及び制御回路１２０もある。操作装置は、ユーザによって操作されるように構成され、種々の形態で実現できる。例えば、スイッチ、ボタン、ノブ、スライダ、表示装置１１０の画面上に重ねたタッチスクリーン、又は、他の形式の操作装置である。制御回路１２０は、こうした操作装置を入力とし、ホスト試験測定装置と通信するように構成される。制御回路１２０は、ホスト試験測定装置の状態又は振る舞いを制御する機能もある。例えば、いくつかの実施形態では、ユーザが操作装置を操作するのに応答して、制御回路１２０が、ＤＵＴの特定の測定を開始する要求をホスト試験測定装置に伝える。例えば、複数の試験のシーケンス中において、ユーザが接続インタフェース１００及びＤＵＴ間のケーブル接続を変更する必要があるかもしれない。ユーザは、接続インタフェース１００上のボタンを押すことで、デバイス間の適切なケーブル接続の変更が完了したことを指示するようにしても良い。ボタンを押すと、制御回路１２０は、続いて、シーケンス中の次の試験に進むようにという要求をホスト試験測定装置に伝える。

制御回路１２０は、表示装置１１０上に表示された情報を変更するようにも構成されている。制御回路１２０は、ユーザによる操作装置の操作に応答して、又は、ホスト試験測定装置からの要求に応答して、表示装置１１０上に表示された情報を変更する。例えば、ユーザは、ボタンを押して、ＤＵＴコネクタ１４０からの連続する複数の測定データを繰り返し表示させても良い。

いくつかの実施形態によれば、接続インタフェース１００には、信号ルーティング（経路選択）回路１５０もある。信号ルーティング回路１５０は、単純に、単一のホスト装置コネクタ１３０から単一のＤＵＴコネクタ１４０へのパス・スルー（そのまま通過する）接続によって実現しても良い。これに代えて、信号ルーティング回路１５０が、複数のホスト装置コネクタ１３０を複数のＤＵＴコネクタ１４０へと接続しても良い。いくつかの実施形態では、信号ルーティング回路１５０には、複数のコネクタ１３０及び１４０間の電気的なパスの構成をダイナミックに変更するスイッチ回路がある。複数の電気的パスは、ホスト試験測定装置からの要求に応じて設定されるようにしても良い。また、信号ルーティング回路１５０には、増幅回路等の信号調整回路を設けても良い。

本発明の実施形態による試験測定システムには、試験測定装置及び接続インタフェース１００があり、その実施形態については上述した。接続インタフェースは、試験測定装置から独立したハウジング内に配置されるが、ホスト装置コネクタ１３０と試験測定装置上のコネクタとの間は、ケーブルによって接続される。上述のように、接続された試験測定装置は、接続インタフェース１００と通信して、接続インタフェース１００の表示装置１１０上に表示される情報を制御する。例えば、試験測定装置は、表示装置１１０の第１領域上に表示されるＤＵＴ上の特定接続ポイントに関する識別子を変更できる。いくつかの実施形態では、試験測定システムには、複数の試験測定装置と、接続インタフェース１００とがあって、この場合の接続インタフェース１００は、複数の装置コネクタ１３０及び複数のＤＵＴコネクタ１４０を有している。

接続インタフェース１００の表示装置１１０の１つの表示領域と、コネクタ１３０及び１４０の１つとの間の視覚的な関連性は、デバイス間の接続を適切に行う上では、ユーザにとって極めて有益である。従って、試験測定装置上の特定コネクタと被試験デバイス上の特定ポイント（特定接続ポイント）との間を接続するために試験測定装置のユーザに指示をする本発明の実施形態による方法は、ＤＵＴコネクタ１４０に視覚的に関連づけられた表示装置１１０の第１領域上に、被試験デバイス上の特定ポイントに関する識別子を表示する処理と、ホスト装置コネクタ１３０に視覚的に関連づけられた表示装置１１０の第２領域上に、ホスト試験測定装置上の特定コネクタに関する識別子を表示する処理とを含んでいる。

図２は、ダイナミックに構成変更可能な遠隔装置接続インタフェース２００の例の上面図を示す。接続インタフェース２００には、接続インタフェース２００を２つ別々の試験測定装置、この例では、２つのＳＭＵ（図示せず）に接続するための２つのホスト装置コネクタ２３２及び２３４がある。接続インタフェース２００には、接続インタフェース２００を単一のＤＵＴ（図示せず）に接続するための４つのＤＵＴコネクタ２４２、２４４、２４６及び２４８がある。この例では、接続インタフェース２００の側面上のＤＵＴコネクタ２４２、２４４、２４６及び２４８のある位置に近接にして「ＣＨ１」、「ＣＨ２」、「ＣＨ３」及び「ＣＨ４」のラベル（図示せず）がそれぞれ付されている。この例では、接続インタフェース２００が、被試験デバイスとしてトランジスタ（ここでは、ｎ型ＭＯＳＦＥＴ）に接続するように構成されたものを示している。また、図２では、各ＤＵＴコネクタを１つのコネクタとして１つのチャンネルとする示しているが、例えば、差動入力信号のような２つの信号で１対を構成する信号を受けられるように、それぞれが２つのコネクタを１対として、１つのチャンネルを構成するようにしても良い。

接続インタフェース２００には、表示装置２１０、この例では、カラーＬＣＤがある。表示装置２１０の領域２１１、２１４及び２１６は、接続インタフェース２００に行われる接続に関して、ユーザに有益な情報を表示する。領域２１４及び２１６を含む複数の表示領域は、それぞれコネクタ２４２、２４４、２４６及び２４８の１つと視覚的に関連づけられる。例えば、表示装置２１０の領域２１４は、「ＣＨ２」コネクタ２４４にかなり近く、そして、「ＣＨ２」コネクタ２４４と視覚的にほぼ揃っている（視覚的アライメント）。コネクタ２４４及び表示装置２１０の領域２１４間の視覚的なアライメントによって、領域２１４に表示される情報は、コネクタ２４４で行われる接続に関係していることがユーザに示されている。別の手法を、領域２１４をコネクタ２４４と視覚的に関連づけるのに利用しても良い。例えば、領域２１４の境界線を青色にし、コネクタ２４４も青色にすることで、領域２１４及びＤＵＴコネクタ２４４間の視覚的な関連性を、ユーザが一層効果的に認識可能にするようにしても良い。

領域２１４は、表示装置２１０の「ＣＨ２」ＤＵＴコネクタ２４４に近い側（図２では右側）の部分において、識別子「Gate」を表示している。これは、ユーザのＤＵＴ上の「ゲート」接続ポイント（即ち、ｎ型ＭＯＳＦＥＴのゲート端子）からの信号を、領域２１４と視覚的に関連づけられたＤＵＴコネクタ２４４に接続すべきことをユーザに伝えている。同様に、表示装置２１０の領域２１６は、「ＣＨ３」ＤＵＴコネクタ２４６と視覚的に関連づけられており、表示装置２１０の「ＣＨ３」ＤＵＴコネクタ２４６に近い側の部分において、識別子「Source」を表示している。これによって、ユーザのＤＵＴ上の「ソース」接続ポイント（即ち、ｎ型ＭＯＳＦＥＴのソース端子）からの信号を、領域２１６と視覚的に関連づけられたＤＵＴコネクタ２４６に接続すべきことをユーザに指示している。

表示領域２１４及び２１６は、表示装置２１０のホスト装置コネクタ２３２及び２３４に近い側（図２では左側）の部分にも識別子を表示している。領域２１４は、ラベル「ＳＭＵ２」及び「ＣＶ−ＨＩ」を表示し、関連するホスト装置コネクタ２３２を、接続されるＳＭＵの「ＣＶ−ＨＩ」端子に接続すべきことを示している。同様に、領域２１６は、ラベル「ＳＭＵ３」及び「ＣＶ−ＧＮＤ」を表示し、関連するホスト装置コネクタ２３４を、接続されるもう１つのＳＭＵの「ＣＶ−ＧＮＤ」端子に接続すべきことを伝えている。

ＤＵＴ上の特定接続ポイントと、ホスト試験測定装置と、ホスト試験測定装置上の特定コネクタとに関するダイナミックに設定可能な識別子を表示することに加えて、ユーザによるデバイス間の適切な接続を支援するために、表示装置２１０は、ユーザのためのその他の有益な情報を更に表示しても良い。例えば、接続インタフェース２００において、表示領域２１１は、ＤＵＴに対して行われる特定の測定又は試験の名前、この場合では、ｎ型ＭＯＳＦＥＴに関するＣＶ特性測定を意味する「ＣＶ ｎＭＯＳＦＥＴ」を表示する。こうした測定名によって、ユーザは、領域２１４及び２１６のような表示装置２１０の他の領域に表示された識別子に関する追加的な状況情報を得ることができる。測定名に加えて、表示装置２１０の複数の表示領域は、複数ステップの試験の中の現在のステップ、ユーザに対してＤＵＴの設定を変更する指示、接続された試験測定装置や接続されたＤＵＴに関する状態（ステータス）情報のような情報や、更には、リアルタイムの測定情報さえも表示するようにしても良い。

接続インタフェース２００には、ユーザが操作できる操作装置２２２及び２２４もある。制御回路（図示せず）は、操作装置２２２及び２２４からの入力を受けて、表示装置２１０上に表示された情報を変更するように構成される。この例の接続インタフェース２００では、操作装置２２２及び２２４は、別々の押しボタンとして実現されているが、こうした操作装置は、例えば、表示装置２１０の画面上に重ねられたタッチスクリーン・インタフェースのような任意の適切な形態で実現しても良い。操作装置２２２は、表示装置２１０のオンとオフを切り換える（トグルする）ように動作する。操作装置２２４は、表示装置２１０の表示内容を、図２における水平方向及び垂直方向へと表示方向を回転させる動作を行う。しかし、操作装置２２２及び２２４並びに制御回路は、接続された試験測定装置と通信して制御することを含めた更に複雑な機能を実行するように実現されても良い。例えば、操作装置２２２をユーザが操作することで、ユーザが複数ステップの試験の次のステップを実行する準備が完了していることを指示するために利用しても良く、これに続いて、接続された試験測定装置と通信して、試験の次のステップの準備のために、接続された試験測定装置の設定が変更されるようにしても良い。

図３は、本発明のいくつかの実施形態によるダイナミックに構成変更可能な遠隔装置接続インタフェース３００のブロック図を示す。接続インタフェース３００には、接続インタフェース３００を被試験デバイスに接続するための単一のＤＵＴコネクタ３４０がある。いくつかの実施形態では、コネクタ３４０は、単純に、電気コンタクト、例えば、プローブ・チップとしても良い。ＤＵＴコネクタ３４０が、２つのＤＵＴコネクタを１対として１チャンネルを構成する場合では、２つのＤＵＴコネクタの一方に、ＤＵＴ上の試験ポイントに電気的に接続したプローブ・チップからの信号を入力し、他方のＤＵＴコネクタにＤＵＴ上のグランド端子（これも試験ポイントである）からの信号を入力するようにしても良い。コネクタ３４０は、ＤＵＴからの測定された信号を、接続インタフェース３００中の電気的パス（図示せず）を通して、ホスト装置コネクタ３３０へと伝える。ホスト装置コネクタ３３０は、単一の試験測定装置に接続される。例えば、ホスト装置コネクタ３３０は、オシロスコープの１つのチャンネル、ＳＭＵのセンスとフォース（sense-force）の端子対、ＤＭＭ（デジタル・マルチメータ）のハイとロー（high-low）の端子対や、他のＤＣ／ＡＣ測定装置に接続されるようにしても良い。

接続インタフェース３００には、表示装置３１０、１つ以上の操作装置（図示せず）及び制御回路３２０もあり、これらは、上述の接続インタフェース１００の表示装置１１０、操作装置及び制御回路１２０のそれぞれと同様な機能を実行する。

図４は、図３に示した接続インタフェース３００の実施形態の例によるダイナミックに構成変更可能な遠隔装置接続インタフェース４００の側面図を示す。接続インタフェース４００には、接続インタフェース４００からＤＵＴ上の試験ポイントへの電気的な接続を行うためのＤＵＴコネクタ４３０がある。接続インタフェース４００では、ＤＵＴコネクタ４３０が、プローブ・チップ４３０ａとグラウンド・クリップ４３０ｂの対で構成されている。接続インタフェース４００には、ホスト装置コネクタ４４０もあり、これは、この例では、接続インタフェース４００と試験測定装置に接続される同軸ケーブル（図示せず）との間にあって、図４では、接続インタフェース４００と同軸ケーブルを接続した状態で示している。

接続インタフェース４００には、表示装置４１０があり、これは、ＤＵＴコネクタ４３０での接続に関連する情報が表示される。例えば、図４に示すように、表示装置４１０は、「＃２１：Ｕ１２３のプローブ・ピン４５、次にＯＫ押す」という指示をユーザに提供する。ここで、＃２１（番号２１）は、例えば、試験シーケンスを構成する複数ステップの第２１番ステップを意味し、Ｕ１２３は、ＤＵＴの型名を意味し、プローブ・ピン４５は、ＤＵＴ上のプローブ・チップを接続させるべきプローブ・ピンの名前を意味する。こうしたメッセージを読むことで、ユーザは、ＤＵＴ上のどの特定測定ノード（この例では、プローブ・ピン４５）をＤＵＴ４３０に接続すべきかがわかる。また、試験シーケンスを構成する複数ステップにおいて、どのステップ（この例では、第２１番ステップ）まで進んでいるかも確認できる。

ユーザとのインタラクティブなやり取りの更なる高度化のため、接続インタフェース４００には、操作装置４２０もある。図４に示すように、操作装置４２０には、「ＯＫ」ボタンと、２つの矢印ボタンがあり、これらは、表示装置４１０上に設けられたタッチスクリーンの反応領域として実現される。操作装置４２０は、物理的なボタンなど、他の適切な操作装置の形式で実現しても良い。ユーザは、これら操作装置を操作して、表示装置４１０上に表示される情報を操作すると共に、取り付けられた試験測定装置と通信する。例えば、ユーザは、表示装置４１０上に表示されたメッセージで指示されたように、ＤＵＴであるＵ１２３上の「プローブ・ピン４５」にプローブ・チップを当てるのを完了したことを、「ＯＫ」ボタン４２０にタッチすることによって指示しても良い。また、２つの矢印ボタンを押すことで、前の試験ステップに戻ったり、次の試験ステップに進んだりすることができる。この操作装置４２０の操作によって、接続インタフェース４００は、接続された試験測定装置に対して測定を行う（測定データを取り込む）命令を送信すると共に、ユーザが実施する試験の次のステップに関連する新しいメッセージ又は指示を表示装置４１０に表示させるようにしても良い。このように、接続インタフェース４００は、ＤＵＴに近い場所において、ユーザが指示を受け取り、試験測定装置に対する制御を実行することを可能にする。

説明の都合上、本発明の具体的な実施形態を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能である。本発明のいくつかの概念は、次のように表現できるが、本発明は、これらに限定されるものではない。

本発明の概念１は、ホスト試験測定装置及び被試験デバイス間の接続インタフェースであって、
上記被試験デバイスと接続するよう構成される被試験デバイス・コネクタと、
上記ホスト試験測定装置と接続するよう構成されるホスト装置コネクタと、
上記被試験デバイス・コネクタ及び上記ホスト装置コネクタ間の電気的パスと、
上記被試験デバイス・コネクタと視覚的に関連する第１領域を有する表示装置と
を具え、上記表示装置の上記第１領域が、上記被試験デバイス上の特定接続ポイント用の識別子を表示するよう構成されている。

本発明の概念２は、上記概念１の接続インタフェースであって、このとき、上記表示装置の上記第１領域は、物理的に近接していることによって、上記被試験デバイス・コネクタと視覚的に関連している。

本発明の概念３は、上記概念１の接続インタフェースであって、このとき、上記表示装置の上記第１領域は、色によって、上記被試験デバイス・コネクタと視覚的に関連している。

本発明の概念４は、上記概念１の接続インタフェースであって、このとき、上記被試験デバイス上の上記特定接続ポイントは、入力コネクタ、出力コネクタ、端子、コンタクト、試験ポイント、ビア及びピンから構成されるグループから選択される。

本発明の概念５は、上記概念１の接続インタフェースであって、このとき、上記表示装置の上記第１領域は、上記被試験デバイス上の上記特定接続ポイントからの測定データを表示するよう構成される。

本発明の概念６は、上記概念１の接続インタフェースであって、このとき、上記表示装置の第２領域が、上記ホスト試験測定装置に関係する情報を表示するよう構成される。

本発明の概念７は、上記概念６の接続インタフェースであって、このとき、上記表示装置の上記第２領域は、上記ホスト試験測定装置に関する識別子を表示するよう構成される。

本発明の概念８は、上記概念６の接続インタフェースであって、このとき、上記表示装置の上記第２領域は、上記ホスト試験測定装置上の特定接続ポイントに関する識別子を表示するよう構成され、上記ホスト試験測定装置上の上記特定接続ポイントは、入力コネクタ、出力コネクタ、シリアル・データ・コネクタ及びパラレル・データ・コネクタから構成されるグループから選択される。

本発明の概念９は、上記概念６の接続インタフェースであって、このとき、上記表示装置の上記第２領域は、上記ホスト試験測定装置の状態（ステータス）に関する情報を表示するよう構成される。

本発明の概念１０は、上記概念１の接続インタフェースであって、このとき、上記表示装置の上記第２領域は、上記被試験デバイスの特定測定に関する名前を表示するよう構成される。

本発明の概念１１は、上記概念１の接続インタフェースであって、
ユーザによって操作される操作装置と、
上記操作装置を入力として有し、上記ホスト試験測定装置と通信し、上記表示装置上に表示される情報を変更するよう構成される制御回路と
を更に具えている。

本発明の概念１２は、上記概念１１の接続インタフェースであって、このとき、上記操作装置は、スイッチ、ボタン、ノブ、スライダ及びタッチスクリーンから構成されるグループから選択される。

本発明の概念１３は、上記概念１１の接続インタフェースであって、このとき、上記ユーザによる上記操作装置の操作に応じて、上記制御回路は、上記被試験デバイスの特定の測定を開始する要求を上記ホスト試験測定装置に伝える。

本発明の概念１４は、上記概念１１の接続インタフェースであって、このとき、上記制御回路は、上記ユーザによる上記操作装置の操作に応じて、上記表示装置上に表示される情報を変更する。

本発明の概念１５は、上記概念１１の接続インタフェースであって、このとき、上記制御回路は、上記ホスト試験測定装置からの要求に応じて、上記表示装置上に表示される情報を変更する。

本発明の概念１６は、上記概念１の接続インタフェースであって、
それぞれが複数の被試験デバイスの１つに接続するよう構成される複数の被試験デバイス・コネクタと、
それぞれが複数の試験測定装置の１つに接続するよう構成される複数の装置コネクタと、
複数の上記被試験デバイス・コネクタと複数の上記装置コネクタとの間の構成変更可能な複数の電気的パスと
を更に具え、このとき、複数の上記電気的パスは、上記ホスト試験測定装置からの要求に応じて構成される。

本発明の概念１７は、試験測定システムであって、
試験測定装置と
上記試験測定装置と少なくとも１つの少なくとも１つの被試験デバイスとの間の接続インタフェースと
を具え、
上記試験測定装置から独立したハウジング内に配置される上記接続インタフェースが、
上記試験測定装置上のコネクタにケーブルで接続される装置コネクタと、
上記被試験デバイスに接続可能に構成される被試験デバイス・コネクタと、
上記装置コネクタ及び上記被試験デバイス・コネクタ間の電気的パスと、
上記被試験デバイス・コネクタと視覚的に関連し、上記被試験デバイス上の特定の接続ポイント用の識別子を表示するよう構成される第１領域を有する表示装置と
を有している。

本発明の概念１８は、上記概念１７のシステムであって、このとき、上記試験測定装置は、上記接続インタフェースと通信して、上記接続インタフェースの上記表示装置上に表示される情報を制御する。

本発明の概念１９は、上記概念１７のシステムであって、
複数の試験測定装置を更に具え、
上記接続インタフェースが、
それぞれ対応する複数のケーブルによって、複数の上記試験測定装置上の複数のコネクタのそれぞれに接続される複数の装置コネクタと、
少なくとも１つの上記被試験デバイス上の複数の特定接続ポイントのそれぞれに接続可能に構成される複数の被試験デバイス・コネクタと、
複数の上記装置コネクタと複数の上記被試験デバイス・コネクタとの間で構成変更可能な複数の電気パスのセットを提供する信号ルーティング（routing：経路選択）回路と、
それぞれが、複数の上記被試験デバイス・コネクタの１つと視覚的に関連し、少なくとも１つの上記被試験デバイス上のそれぞれ対応する特定接続ポイントに関する識別子を表示するように構成される上記表示装置の複数の領域と
を更に有している。

本発明の概念２０は、試験測定装置のユーザに、上記試験測定装置上の特定コネクタと被試験デバイス上の特定ポイントとの間を接続するよう指示する方法であって、
上記被試験デバイス上の特定ポイントに関する識別子を、上記試験測定装置及び上記被試験デバイス間の接続インタフェース上の第１コネクタと視覚的に関連する表示装置の第１領域上に表示する処理と、
上記試験測定装置上の特定ポイントに関する識別子を、上記試験測定装置及び上記被試験デバイス間の上記接続インタフェース上の第２コネクタと視覚的に関連する上記表示装置の第２領域上に表示する処理と
を具えている。

１００ 接続インタフェース
１１０ 表示装置
１２０ 制御回路
１３０ ホスト装置コネクタ
１４０ ＤＵＴコネクタ
１５０ 信号ルーティング回路
２００ 接続インタフェース
２１０ 表示装置
２１１ 表示領域
２１４ 表示領域
２１６ 表示領域
２２２ 操作装置
２２４ 操作装置
２３２ ホスト装置コネクタ
２３４ ホスト装置コネクタ
２４２ ＣＨ１ ＤＵＴコネクタ
２４４ ＣＨ２ ＤＵＴコネクタ
２４６ ＣＨ３ ＤＵＴコネクタ
２４８ ＣＨ４ ＤＵＴコネクタ
３００ 接続インタフェース
３１０ 表示装置
３２０ 制御回路
３３０ ホスト装置コネクタ
３４０ ＤＵＴコネクタ
４００ 接続インタフェース
４１０ 表示装置
４２０ 操作装置
４３０ ＤＵＴコネクタ
４４０ ホスト装置コネクタ

Claims (4)

1. ホスト試験測定装置及び被試験デバイス間の接続インタフェースであって、
   上記被試験デバイスと接続するよう構成される被試験デバイス・コネクタと、
   上記ホスト試験測定装置と接続するよう構成されるホスト装置コネクタと、
   上記被試験デバイス・コネクタ及び上記ホスト装置コネクタ間の電気的パスと、
   上記被試験デバイス・コネクタと視覚的に関連する第１領域を有する表示装置と
   を具え、上記表示装置の上記第１領域が、上記被試験デバイス上の特定接続ポイント用の識別子を表示するよう構成される接続インタフェース。
2. 試験測定装置と
   上記試験測定装置と少なくとも１つの少なくとも１つの被試験デバイスとの間の接続インタフェースと
   を具え、
   上記試験測定装置から独立したハウジング内に配置される上記接続インタフェースが、
   上記試験測定装置上のコネクタにケーブルで接続される装置コネクタと、
   上記被試験デバイスに接続可能に構成される被試験デバイス・コネクタと、
   上記装置コネクタ及び上記被試験デバイス・コネクタ間の電気的パスと、
   上記被試験デバイス・コネクタと視覚的に関連し、上記被試験デバイス上の特定の接続ポイント用の識別子を表示するよう構成される第１領域を有する表示装置と
   を有する試験測定システム。
3. 複数の試験測定装置を更に具え、
   上記接続インタフェースが、
   それぞれ対応する複数のケーブルによって、複数の上記試験測定装置上の複数のコネクタのそれぞれに接続される複数の装置コネクタと、
   少なくとも１つの上記被試験デバイス上の複数の特定接続ポイントのそれぞれに接続可能に構成される複数の被試験デバイス・コネクタと、
   複数の上記装置コネクタと複数の上記被試験デバイス・コネクタとの間で構成変更可能な複数の電気パスのセットを提供する信号ルーティング回路と、
   それぞれが、複数の上記被試験デバイス・コネクタの１つと視覚的に関連し、少なくとも１つの上記被試験デバイス上のそれぞれ対応する特定接続ポイントに関する識別子を表示するように構成される上記表示装置の複数の領域と
   を更に有する請求項２記載の試験測定システム。
4. 試験測定装置のユーザに、上記試験測定装置上の特定コネクタと被試験デバイス上の特定ポイントとの間を接続するよう指示する方法であって、
   上記被試験デバイス上の特定ポイントに関する識別子を、上記試験測定装置及び上記被試験デバイス間の接続インタフェース上の第１コネクタと視覚的に関連する表示装置の第１領域上に表示する処理と、
   上記試験測定装置上の特定ポイントに関する識別子を、上記試験測定装置及び上記被試験デバイス間の上記接続インタフェース上の第２コネクタと視覚的に関連する上記表示装置の第２領域上に表示する処理と
   を具える接続指示方法。

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