CN105974160B - 可动态配置的远程仪器接口 - Google Patents
可动态配置的远程仪器接口 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105974160B CN105974160B CN201610249974.2A CN201610249974A CN105974160B CN 105974160 B CN105974160 B CN 105974160B CN 201610249974 A CN201610249974 A CN 201610249974A CN 105974160 B CN105974160 B CN 105974160B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- display
- instrument
- connector
- test
- connection interface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/025—General constructional details concerning dedicated user interfaces, e.g. GUI, or dedicated keyboards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06727—Cantilever beams
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06788—Hand-held or hand-manipulated probes, e.g. for oscilloscopes or for portable test instruments
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2896—Testing of IC packages; Test features related to IC packages
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31926—Routing signals to or from the device under test [DUT], e.g. switch matrix, pin multiplexing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0416—Connectors, terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2868—Complete testing stations; systems; procedures; software aspects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Abstract
本发明涉及可动态配置的远程仪器接口。一种用于将一个或多个在测试下的装置(DUT)连接到一个或多个远程测试和测量仪器的连接接口包括:用于将DUT连接到接口的在测试下的装置连接器、用于将接口连接到主测试和测量仪器的主仪器连接器、以及在测试下的装置连接器和主仪器连接器之间的电路径。连接接口还可以包括显示器,其具有第一部分,该第一部分可视地与在测试下的装置连接器相关联,并且被配置为显示用于DUT上的特定连接点的标识符。在一些实施例中,显示器的第一部分被配置为显示来自DUT上的特定连接点的测量数据。在一些实施例中,显示器具有第二部分,其被配置为显示与主测试和测量仪器相关的信息,或者显示DUT的特定测量的名称。
Description
相关申请的交叉引用
本申请要求来自2015年2月10日提交的美国临时专利申请No.62/114,485的优先权,其由此通过引用整体并入本文中。
技术领域
本公开涉及测试和测量仪器,以及更特别地涉及测试和测量仪器与在测试下的装置之间的连接接口。
背景技术
在测试和测量仪器的典型操作环境中,仪器相对接近于用户的在测试下的装置(DUT)设置。例如,仪器(诸如由Tektronix,Inc.制造和销售的Keithley Model 2450Source Measure Units(SMUs)中的一种)可以如用户的DUT放置在同一测试工作台上,并且通过相对短的电缆与DUT物理连接。
然而,在其他环境中,用户可能需要测试和测量仪器物理地相对远离DUT设置。由于仪器太大、太笨重、或者太重而难以物理地靠近DUT设置,因此用户可能需要仪器和DUT之间的显著距离。或者,该要求可能由于DUT操作环境妨碍在附近放置仪器而出现;例如,如果DUT设置在温度或湿度室中、在绝对无尘室中、或在电磁干扰(EMI)隔离室中。在这些环境中,仪器典型地通过相对长的电缆连接到DUT。
为了辅助用户在测试和测量仪器与DUT之间进行合适的电缆连接,仪器典型地包括通常位于仪器的前面板上、具有其输入连接的名称的静态标签。仪器的贴标签还可以示出简化电路图的表示,所以用户能够理解在仪器和DUT之间必须进行什么连接以便执行用户的期望的测量。对于其中仪器和DUT极接近设置的环境,这些静态标签通常对于用户适当地连接DUT并操作仪器是足够的。然而,对于其中仪器和DUT分离一显著距离的环境,用户可能甚至不能够看见仪器。因此,在这些情况下,进行合适的电缆连接,以及排解那些连接故障,是一种挑战。而且,为了执行一些复杂测量,在测量过程期间可能需要改变电缆连接,在其中用户并不具有对测试和测量仪器的物理访问的情况下,这是困难、耗时并且倾向于差错的。
本发明的实施例处理现有技术的这些和其它限制。
发明内容
一种用于将一个或多个在测试下的装置(DUT)连接到一个或多个远程测试和测量仪器的连接接口,包括:用于将DUT连接到接口的在测试下的装置连接器、用于将接口连接到主测试和测量仪器的主仪器连接器、以及在测试下的装置连接器和主仪器连接器之间的电路径。连接接口还包括显示器。显示器具有第一部分,该第一部分可视地与在测试下的装置连接器相关联。在一些实施例中,显示器的第一部分通过物理接近、或通过颜色、或二者皆有而可视地与在测试下的装置连接器相关联。显示器的第一部分被配置为显示用于在测试下的装置上特定连接点的标识符。在一些实施例中,显示器的第一部分被配置为显示来自DUT上特定连接点的测量数据。
在一些实施例中,显示器包括第二部分,该第二部分配置为显示与主仪器相关的信息,诸如用于主仪器的标识符、主仪器上的特定连接点、或者关于主仪器状态的信息。在其它实施例中,显示器包括第二部分,该第二部分配置为显示用于在测试下的装置的特定测量的名称。
在一些实施例中,连接接口还包括控件和控制电路。该控件能够由用户启动。控制电路将控件作为输入并且被构造为与主仪器通信且修改显示器上显示的信息。在一些实施例中,控制电路响应于用户启动控件而修改显示器上显示的信息。在其它实施例中,控制电路响应于来自主仪器的请求而修改显示器上显示的信息。
一种测试和测量系统包括:至少一个测试和测量仪器以及在测试和测量仪器与至少一个在测试下的装置之间的连接接口。连接接口设置在离开仪器的分离外壳中。连接接口包括多个仪器连接器和多个在测试下的装置连接器,所述多个仪器连接器通过各自多个电缆连接到仪器上的各自多个连接器,所述多个在测试下的装置连接器被构造为可通过各自多个电缆连接到至少一个在测试下的装置。连接接口还包括信号路由电路,其提供在多个仪器连接器和多个在测试下的装置连接器之间的一组可配置电路径。以及,连接接口包括显示器。显示器具有多个区域。显示器的每个区域可视地与多个在测试下的装置连接器中的一个相关联,并且被配置为显示与各自在测试下的装置相关的信息。
一种指导测试和测量仪器的用户在测试和测量仪器上的特定连接器与在测试下的装置上特定点之间进行连接的方法包括:在显示器的第一部分上显示在测试下的装置上特定点的名称。显示器的第一部分可视地与连接接口上的第一连接器相关联,所述连接接口在测试和测量仪器与在测试下的装置之间。该方法还包括在显示器的第二部分上显示测试和测量仪器上特定连接器的名称。显示器的第二部分可视地与连接接口上的第二连接器相关联,所述连接接口在测试和测量仪器与在测试下的装置之间。
附图说明
图1是根据本发明实施例的连接接口的框图。
图2是根据本发明实施例的连接接口的顶面视图。
图3是根据本发明实施例的连接接口的框图。
图4是根据本发明实施例的连接接口的侧视图。
具体实施方式
图1示出根据本发明实施例的动态可配置远程仪器连接接口100的框图。连接接口100是在至少一个主测试和测量仪器与至少一个在测试下的装置(DUT)之间的接口。连接接口100包括至少一个主仪器连接器130。主仪器连接器130被构造以连接到主测试和测量仪器。连接接口100还包括至少一个在测试下的装置连接器140。DUT连接器140被构造以连接到DUT。连接接口100还包括在主仪器连接器130和在测试下的装置连接器140之间的电路径。电路径在图1中示出为从连接器130到信号路由电路150、以及从信号路由电路150到连接器140的信号路径。
连接器130、140可以为,例如香蕉型插座、同轴BNC、三轴连接器、N型连接器、或适于测试和测量仪器、连接接口100、以及DUT之间各种信号路径的其它类型连接器。这些信号可以是从DUT测量的信号、来自主仪器的刺激信号、或者它们可以是控制或通信信号。在控制或通信信号的情况下,连接器可以是串行数据型连接器(诸如通用串行总线(USB)连接器)或并行数据型连接器(诸如通用接口总线(GPIB)连接器)。
每个连接器130、140可以为不同类型的连接器。用户将通常使用电缆来进行在连接接口100与测试和测量仪器之间,以及在连接接口100和DUT之间的连接。连接到测试和测量仪器的电缆通常比连接到DUT的电缆长得多。例如,连接接口100和DUT之间的电缆在长度方面通常为1米或更少,然而连接接口100与测试和测量仪器之间的电缆在长度方面可以是多于1米。
连接接口100还包括显示器110。显示器110可以是例如,简单的单色七段液晶显示器(LCD),或者可以是更为复杂的彩色图形显示器。显示器110还可以包括多个显示装置。
显示器110具有第一区域,其可视地与在测试下的装置连接器140相关联。即,通过查看显示器110的第一区域,用户能够容易辨别显示器的第一区域中所显示的信息与在测试下的装置连接器140相关。在一些实施例中,显示器110的第一区域通过物理接近而可视地与在测试下的装置连接器140相关联。即,显示器110以这样的方式设置在连接接口100上,使得显示器110的第一区域基本上靠近、或基本上可视地与DUT连接器140对齐设置,因此允许用户可视地辨别显示器110的该区域上所显示的信息与所对齐的DUT连接器140相关。在其它实施例中,显示器的第一区域通过颜色而可视地与DUT连接器140相关联。即,DUT连接器140可以用特定颜色来贴标签,以及显示器110的第一区域可以显示相同的特定颜色,例如,作为背景或边界,因此允许用户可视地辨别显示器110的第一区域与DUT连接器140相关联。实施例包括多种其它技术以用于创建显示器110的第一区域和DUT连接器140之间的可视关联,例如,匹配图案或符号、或者匹配连接器140上或靠近连接器140所示的图标以及正在显示器的第一区域上显示的图标。实施例可以使用多种技术以用于创建可视关联。
显示器110的第一区域被配置为显示用于DUT上特定连接点的标识符。如本公开中所使用的,“标识符”包括字母数字名称、符号、图标、或其它用户将认识到识别DUT上特定连接点的装置。根据特定DUT,特定连接点可以为输入连接器、输出连接器、端子、触点、测试点、通孔、管脚或其它可能连接点。通常,特定连接点是DUT上的输出连接器,在该情况下,显示器110的第一区域被配置为显示输出连接器的名称,例如“SIG OUT”。在显示器110的第一区域上显示特定DUT连接点的标识符向用户指示她意在进行在特定DUT连接点和显示器110第一区域可视地关联到的DUT连接器140之间的连接。
一旦用户进行在连接接口100和DUT之间的连接,根据一些实施例,显示器110的第一区域也被配置为显示来自DUT上特定连接点的测量数据。例如,如果显示器110的第一区域被配置为显示“SIG OUT”,则当用户进行到DUT的“SIG OUT”连接器的连接时,显示器110的第一区域被配置为显示“SIG OUT”信号的测量,例如“SIG OUT”电压电平的显示。显示器110的第一区域中所显示的测量数据可以是实时或者历史的,并且可以以简单数值格式、或图形格式显示。还可以减少测量数据以汇总状态信息,例如,来自DUT的任何信号是否在与显示器110的第一区域可视地相关联的DUT连接器140上完全被检测到的指示。
根据一些实施例,连接接口100的显示器110包括第二区域,其配置为显示与主测试和测量仪器相关的信息。
在一些实施例中,显示器110的第二区域被配置为显示主仪器的标识符。例如,显示器110的第二区域可以被配置为显示“SCOPE1”,这样用户将认识到识别示波器作为主仪器。可替换地,合适的符号或图标可以被显示,使得用户将认识到识别主仪器。
在一些实施例中,显示器110的第二区域被配置为显示主仪器上特定连接点(诸如输入连接器、输出连接器、串行数据连接器、或并行数据连接器)的标识符。例如,显示器的第二区域可以配置为示出“SCOPE CH1”来指示主仪器上的通道1输入连接器的特定连接点。在一些实施例中,显示器110的第二区域可视地与主仪器连接器130相关联,类似于显示器110的第一区域如何可视地与DUT连接器140相关联。以这种方式,用户将认识到她意在进行在主仪器上的特定连接点和可视地与显示器110的第二区域相关联的主仪器连接器130之间的连接。在一些实施例中,显示器110的第二区域被配置为显示主仪器的状态信息。状态信息可以包括,例如,是否触发主仪器、是否其正在获取信号、是否其已经遇到差错或超越限度条件等。
在一些情况中,在其中主仪器正在在测试下的装置上执行一系列测试或测量的环境中使用连接接口100。根据一些实施例,连接接口100的显示器110包括第二区域,其配置为显示在测试下的装置的特定测量的名称。在这些实施例中,用户可以在显示器110的第二区域上看见哪个特定测量正在执行以确定主仪器在该测试序列中已经进行了多久。
连接接口100的一些实施例还包括控件和控制电路120。控件被构造以由用户启动并且可以以各种形式来实现。例如,控件可以是开关、按钮、旋钮、滑条、覆盖到显示器110上的触摸屏、或其它类型的控件。控制电路120具有作为输入的控件且被构造以与主仪器通信。控制电路120还可以能够控制主仪器的状态或行为。例如,在一些实施例中,响应用户启动控件,控制电路120向主仪器传送请求以发起DUT的特定测量。例如,在测试序列期间,用户可能需要改变在连接接口100和DUT之间的电缆连接。用户可以按下连接接口100上的按钮以指示她已经进行了合适的装置间电缆连接的改变。按下按钮将然后使控制电路120传送请求给主仪器以继续进行到该序列中的下一测试。
控制电路120还被构造为修改显示器110上所显示的信息。控制电路120响应于用户启动控件,或者响应于来自主仪器的请求而修改显示器110上显示的信息。例如,用户可以按下按钮以从DUT连接器140循环通过一系列测量数据。或者,例如,主仪器可以发送请求给连接接口100以使控制电路120改变针对DUT上的特定连接点显示的标识符。
根据一些实施例,连接接口100还包括信号路由电路150。信号路由电路150可以简单实现为从单个主仪器连接器130到单个DUT连接器140的通过连接。可替换地,信号路由电路150可以将多个主仪器连接器130连接到多个DUT连接器140。在一些实施例中,信号路由电路150包括开关电路以动态地改变多个连接器130、140之间的电路径的配置。多个电路径可以响应于主仪器的请求而被配置。而且,信号路由电路150可以包括放大电路,或其它信号调节电路。
一种测试和测量系统,根据本发明实施例,包括测试和测量仪器,以及连接接口100(其实施例如上所述)。连接接口设置在离开仪器的分离外壳中,但通过电缆连接在主仪器连接器130和仪器上的接口之间。如上所解释的,所连接的测试和测量仪器与连接接口100通信,以控制连接接口100的显示器110上所显示的信息。例如,仪器可以改变显示器110的第一区域上所显示的用于DUT上特定连接点的标识符。在一些实施例中,测试和测量系统包括多个测试和测量仪器,以及连接接口100包括多个仪器连接器130和DUT连接器140。
在连接接口100的显示器110的区域和连接器130、140中的一个之间的视觉关联高度有益于辅助用户进行合适的装置间连接。因此,根据本发明实施例,一种指导测试和测量仪器的用户在测试和测量仪器上的特定连接器与在测试下的装置上的特定点之间进行连接的方法包括:在显示器110的第一区域上显示用于在测试下的装置上的特定点的标识符,所述显示器110的第一区域可视地与DUT连接器140相关联;以及在显示器110的第二区域上显示用于主仪器上的特定连接器的标识符,所述显示器110的第二区域可视地与主仪器连接器130相关联。
图2示出动态可配置远程仪器连接接口200的特定示例实施例的顶面视图。连接接口200具有两个主仪器连接器232、234,用于将连接接口200连接到两个分离的测试和测量仪器,在该示例中是2个SMU(未示出)。连接接口200具有4个DUT连接器242、244、246、248,用于将连接接口200连接到单个DUT(未示出)。在该示例中,连接器242、244、246、248在连接接口200的侧部贴标签(未示出),分别为“CH1”、“CH2”、“CH3”和“CH4”。在该示例中,连接接口200图示为被配置成连接到作为在测试下的装置的晶体管。
连接接口200包括显示器210,在该示例中,其为彩色LCD。显示器210的区域211、214、216向用户显示关于进行到连接接口200的连接的有用信息。区域214、216均可视地与连接器242、244、246、248中的一个相关联。例如,显示器210的区域214基本上靠近,并且基本上可视地与“CH2”连接器244对齐。连接器244和显示器210的区域214之间的该可视对齐向用户指示区域214中所显示的信息与进行到连接器244的连接相关。也可以使用其它技术将区域214与连接器244可视地关联。例如,区域214可以具有蓝色边界,并且连接器244也可以被涂成蓝色以加强在区域214和DUT连接器244之间的用户的可视关联。
区域214在最靠近“CH2”DUT连接器244的显示器210一侧上显示标识符“栅极”。这告知用户她应当将信号从她的DUT上“栅极”连接点——即晶体管的栅极端子——连接到可视地与区域214相关联的DUT连接器244。同样,显示器210的区域216可视地与“CH3”DUT连接器246相关联,并且在最靠近连接器246的显示器210一侧上显示标识符“源极”,因此指导用户将信号从她的DUT上“源极”连接点——即晶体管的源极端子——连接到可视地与区域216相关联的DUT连接器246。
显示区域214、216还在最接近于主仪器连接器232、234的显示器210部分上显示标识符。区域214示出标签“SMU 2”和“CV-HI”,向用户指示她将关联的主仪器连接器232连接到一连接的SMU仪器的“CV-HI”输入。同样,区域216示出标签“SMU3”和“CV-GND”,因此向用户输送她将关联的主仪器连接器234连接到第二连接的SMU仪器的“CV-GND”输入。
除了示出用于DUT上特定连接点和用于主仪器和主仪器上特定连接器的动态可配置标识符之外,为了辅助用户进行合适的装置间连接,显示器210还可以显示其它对于用户有用的信息。例如,在连接接口200中,显示区域211示出DUT上将要执行的特定测量或测试的名称,在该情况中为“CV nMOSFET”。这样的测量名称向用户提供附加上下文以用于显示器210的其它区域,诸如区域214、216中显示的标识符。除了测量名称外,显示器210的区域可以显示信息诸如多步骤测试中的当前步骤、给用户的修改DUT设置的指令、与所连接的测试和测量仪器或所连接的DUT相关的状态信息、或甚至实时测量信息。
连接接口200还包括可以由用户启动的控件222、224。控制电路(未示出)接受来自控件222、224的输入并构造为修改显示器210上所显示的信息。在示例连接接口200中,控件222、224被实现为分开的按下按钮,然而,这样的控件可以以任何合适形式来实现,包括,例如,作为覆盖在显示器210上的触摸屏界面。控件222操作以打开或关闭显示器210。控件224操作以在纵向取向和横向取向之间旋转显示器210的内容。然而,还可以实现控件222、224以及控制电路来执行多个复杂功能,包括与所连接的测试和测量仪器通信并控制所连接的测试和测量仪器。例如,控件222可以由用户激活以指示用户准备好执行多步骤测试中的下一步骤,以及可以与所连接的测试和测量仪器通信来改变所连接仪器的设置来为下一步骤作准备。
图3是根据本发明的一些实施例的动态可配置远程仪器连接接口300的框图。连接接口300包括单个DUT连接器340,用于将连接接口300连接到在测试下的装置。在一些实施例中,连接器340为简单的电触点,例如,探针尖端。连接器340通过电连接接口300中的电路径(未示出),将所测量的信号从DUT输送到主仪器连接器330。连接器330连接到单个测试和测量仪器。例如,连接器330可以连接到示波器的通道、用于SMU的传感-力对、或者用于DMM的高-低对或其它DC/AC测量装置。
连接接口300包括显示器310、一个或多个控件(未示出)、以及控制电路320,其分别执行与上面论述的连接接口100的显示器110、控件、和控制电路120类似的功能。
图4示出根据图3中描绘的设备300的示例性实施例的动态可配置远程仪器连接接口400的侧视图。连接接口400包括DUT连接器430用于进行从连接接口400到DUT上测试点的电连接。在连接接口400中,DUT连接器430包括探针尖端和接地线夹对。连接接口400还包括主仪器连接器440,其在该示例中,简单地包括在连接接口400与连接到测试和测量仪器的同轴电缆(未示出)之间的焊接连接。
连接接口400包括显示器410,其能够显示与DUT连接器430处进行的连接相关的信息。例如,如图4中描绘的,显示器410向用户呈现“探测U123的管脚45,随后按OK”。通过读取这样的消息,用户知道DUT上的什么特定测量节点应该连接到DUT连接器430。
为了附加级别的用户交互性,连接接口400还包括控件420。如图4中描绘的,控件420(其包括“OK”按钮和两个箭头按钮)被实现为覆盖在显示器410上的触摸屏的响应区。控件420还可以被实现为物理按钮、或其它合适控件类型。用户可以激活这些控件以操纵显示器410上显示的信息并与附着的测试和测量仪器通信。例如,用户可以触摸“OK”按钮420以确定她已经如由显示器410上显示的消息指导的探测“U123的管脚45”。控件420的该激活可能使接口400发送命令给所连接的测试和测量仪器以得到测量或获取数据并且还可以使显示器410显示与用户正在执行的测试的下一步骤相关的新消息或指令。因此,连接接口400允许用户接收指令并在接近于DUT的位置通过所连接的测试和测量仪器来执行某一控制。
虽然为了例证的目的已经对本发明的特定实施例进行了图示和描述,但是在不脱离本发明的精神和范围的情况下可以进行各种修改。因此,本发明除如由权利要求外不应当受限制。
Claims (19)
1.一种在主测试和测量仪器与在测试下的装置之间的连接接口,所述连接接口包括:
外壳;
构造为连接到在测试下的装置的在所述外壳上的在测试下的装置连接器;
构造为连接到主仪器的在所述外壳上的主仪器连接器;
在测试下的装置连接器和主仪器连接器之间的在所述外壳中的电路径;以及
布置在所述外壳的表面上的显示器,所述显示器具有第一区域,所述第一区域可视地与在测试下的装置连接器相关联,并且与所述在测试下的装置连接器物理接近地定位,其中显示器的第一区域显示用于在测试下的装置上的特定连接点的标识符。
2.如权利要求1所述的连接接口,其中显示器的第一区域通过颜色而可视地与在测试下的装置连接器相关联。
3.如权利要求1所述的连接接口,其中在测试下的装置上的特定连接点选自由如下构成的组:输入连接器、输出连接器、端子、触点、测试点、通孔和管脚。
4.如权利要求1所述的连接接口,其中显示器的第一区域被配置为显示来自在测试下的装置上的特定连接点的测量数据。
5.如权利要求1所述的连接接口,其中显示器的第二区域被配置为显示与主仪器相关的信息。
6.如权利要求5所述的连接接口,其中显示器的第二区域被配置为显示主仪器的标识符。
7.如权利要求5所述的连接接口,其中显示器的第二区域被配置为显示主仪器上的特定连接点的标识符,主仪器上的特定连接点选自由如下构成的组:输入连接器、输出连接器、串行数据连接器和并行数据连接器。
8.如权利要求5所述的连接接口,其中显示器的第二区域被配置为显示关于主仪器的状态的信息。
9.如权利要求1所述的连接接口,其中显示器的第二区域被配置为显示在测试下的装置的特定测量的名称。
10.如权利要求1所述的连接接口,还包括:
用于由用户进行启动的控件;以及
控制电路,所述控制电路具有作为输入的所述控件,所述控制电路构造为与主仪器通信并且修改显示器上显示的信息。
11.如权利要求10所述的连接接口,其中控件选自由如下构成的组:开关、按钮、旋钮、滑条和触摸屏。
12.如权利要求10所述的连接接口,其中响应于用户启动控件,控制电路向主仪器传送请求以发起在测试下的装置的特定测量。
13.如权利要求10所述的连接接口,其中控制电路响应于用户启动控件而修改显示器上显示的信息。
14.如权利要求10所述的连接接口,其中控制电路响应于来自主仪器的请求而修改显示器上显示的信息。
15.如权利要求1所述的连接接口,还包括:
在所述外壳上的多个在测试下的装置连接器,每个在测试下的装置连接器构造为连接到多个在测试下的装置中的一个;
在所述外壳上的多个仪器连接器,每个仪器连接器构造为连接到多个测试和测量仪器中的一个;以及
在多个在测试下的装置连接器和多个仪器连接器之间的在所述外壳中的多个可配置电路径,其中多个电路径响应于来自主仪器的请求而被配置。
16.一种测试和测量系统,包括:
测试和测量仪器;以及
在所述仪器与至少一个在测试下的装置之间的连接接口,所述连接接口设置在与仪器分离的外壳中,其中连接接口包括:
在所述外壳上的仪器连接器,通过电缆连接到仪器上的连接器;
在所述外壳上的在测试下的装置连接器,被构造为可连接到在测试下的装置;
在仪器连接器和在测试下的装置连接器之间的在所述外壳中的电路径;以及
布置在所述外壳的表面上的显示器,所述显示器具有第一区域,所述第一区域可视地与在测试下的装置连接器相关联,并且与所述在测试下的装置连接器物理接近地定位,且所述第一区域显示用于在测试下的装置上的特定连接点的标识符。
17.如权利要求16所述的系统,其中仪器与连接接口通信以控制在连接接口的显示器上所显示的信息。
18.如权利要求16所述的系统,还包括:
多个仪器和测量仪器;
其中连接接口还包括:
在所述外壳上的多个仪器连接器,通过各自多个电缆连接到多个仪器上的各自多个连接器;
在所述外壳上的多个在测试下的装置连接器,构造为可连接到至少一个在测试下的装置上的各自多个特定连接点;
在所述外壳中的信号路由电路,提供在多个仪器连接器和多个在测试下的装置连接器之间的一组可配置电路径;以及
显示器的多个区域,每个区域可视地与多个在测试下的装置连接器中的一个相关联,并且被配置为显示至少一个在测试下的装置上的各自特定连接点的标识符。
19.一种指导测试和测量仪器的用户在测试和测量仪器上的特定连接器与在测试下的装置上的特定点之间进行连接的方法,所述方法包括:
在显示器的第一部分上显示在测试下的装置上的特定点的标识符,显示器的第一部分与在测试和测量仪器与在测试下的装置之间的连接接口上的第一连接器物理接近地定位;以及
在显示器的第二部分上显示测试和测量仪器上特定连接器的标识符,第二部分与在测试和测量仪器与在测试下的装置之间的连接接口上的第二连接器物理接近地定位。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201562114485P | 2015-02-10 | 2015-02-10 | |
US62/114485 | 2015-02-10 | ||
US15/015,893 US10746761B2 (en) | 2015-02-10 | 2016-02-04 | Dynamically configurable remote instrument interface |
US15/015893 | 2016-02-04 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105974160A CN105974160A (zh) | 2016-09-28 |
CN105974160B true CN105974160B (zh) | 2021-01-26 |
Family
ID=55524070
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610249974.2A Active CN105974160B (zh) | 2015-02-10 | 2016-02-15 | 可动态配置的远程仪器接口 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10746761B2 (zh) |
EP (1) | EP3056915A1 (zh) |
JP (1) | JP2016148663A (zh) |
KR (1) | KR20160098094A (zh) |
CN (1) | CN105974160B (zh) |
TW (1) | TW201643454A (zh) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10303035B2 (en) | 2009-12-22 | 2019-05-28 | View, Inc. | Self-contained EC IGU |
US11054792B2 (en) | 2012-04-13 | 2021-07-06 | View, Inc. | Monitoring sites containing switchable optical devices and controllers |
US10989977B2 (en) | 2011-03-16 | 2021-04-27 | View, Inc. | Onboard controller for multistate windows |
EP3223532B1 (en) | 2012-04-13 | 2019-10-09 | View, Inc. | Applications for controlling optically switchable devices |
EP4145379A1 (en) | 2014-03-05 | 2023-03-08 | View, Inc. | Monitoring sites containing switchable optical devices and controllers |
US11868103B2 (en) | 2014-03-05 | 2024-01-09 | View, Inc. | Site monitoring system |
CN113267933A (zh) | 2014-06-30 | 2021-08-17 | 唯景公司 | 用于在功率可用性降低期间控制光学可切换窗户网络的方法和系统 |
US11740948B2 (en) | 2014-12-08 | 2023-08-29 | View, Inc. | Multiple interacting systems at a site |
JP7111295B2 (ja) | 2014-12-08 | 2022-08-02 | ビュー, インコーポレイテッド | 現場における複数の相互作用システム |
US11384596B2 (en) * | 2015-09-18 | 2022-07-12 | View, Inc. | Trunk line window controllers |
WO2017049138A1 (en) | 2015-09-18 | 2017-03-23 | View, Inc. | Power distribution networks for electrochromic devices |
US11320713B2 (en) | 2017-02-16 | 2022-05-03 | View, Inc. | Solar power dynamic glass for heating and cooling buildings |
US10782348B2 (en) * | 2017-03-10 | 2020-09-22 | Keithley Instruments, Llc | Automatic device detection and connection verification |
CA3062818A1 (en) | 2017-04-26 | 2018-11-01 | View, Inc. | Displays for tintable windows |
DE102017218220A1 (de) | 2017-10-12 | 2019-04-18 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Elektrische Mess- oder Prüfvorrichtung, Steckverbindung für eine Mess- oder Prüfvorrichtung und Verfahren zum Einstellen einer elektrischen Mess- oder Prüfvorrichtung |
EP3781971A4 (en) * | 2018-04-19 | 2022-01-12 | View, Inc. | TRUNK LINE WINDOW CONTROLLERS |
DE112019002946T5 (de) * | 2018-06-11 | 2021-03-04 | Tektronix, Inc. | Test- und messtaster mit einem berührungsbildschirm |
US11287445B2 (en) * | 2018-10-29 | 2022-03-29 | Keysight Technologies, Inc. | Oscilloscope probe identification |
US11536769B2 (en) * | 2019-03-29 | 2022-12-27 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Method for operating a test system and operation assistance apparatus |
TW202206925A (zh) | 2020-03-26 | 2022-02-16 | 美商視野公司 | 多用戶端網路中之存取及傳訊 |
US11631493B2 (en) | 2020-05-27 | 2023-04-18 | View Operating Corporation | Systems and methods for managing building wellness |
Family Cites Families (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08241185A (ja) | 1994-11-03 | 1996-09-17 | Motorola Inc | 統合型試験および測定手段ならびにグラフィカル・ユーザ・インタフェースを採用する方法 |
JPH11183523A (ja) * | 1997-12-25 | 1999-07-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 遠隔ディスプレイ付きオシロスコープ |
JPH11201991A (ja) | 1998-01-20 | 1999-07-30 | Yokogawa Electric Corp | 波形表示器付きプローブ装置 |
US7077328B2 (en) * | 1998-07-31 | 2006-07-18 | Abbott Laboratories | Analyte test instrument system including data management system |
US6437552B1 (en) | 2000-07-31 | 2002-08-20 | Lecroy Corporation | Automatic probe identification system |
US6611147B2 (en) * | 2001-05-22 | 2003-08-26 | Ideal Industries, Inc. | Apparatus with interchangeable modules for measuring characteristics of cables and networks |
US7062719B2 (en) * | 2001-08-15 | 2006-06-13 | National Instruments Corporation | Graphically defining a route through one or more switch devices |
US20030043757A1 (en) * | 2001-08-15 | 2003-03-06 | Jason White | Optimizing switch device route transitions |
US20030137310A1 (en) * | 2002-01-22 | 2003-07-24 | Thomas Holzel | Remote viewing screen for test instrument |
GB0210450D0 (en) | 2002-05-07 | 2002-06-12 | Bae Systems Plc | Test apparatus |
US7154257B2 (en) * | 2002-09-30 | 2006-12-26 | Intel Corporation | Universal automated circuit board tester |
US20040239309A1 (en) | 2003-05-27 | 2004-12-02 | Barr Andrew Harvey | Remotely controllable oscilloscope |
US20050088168A1 (en) * | 2003-10-28 | 2005-04-28 | Reasoner Kelly J. | Control module for use with a test probe |
US7340365B2 (en) * | 2004-04-23 | 2008-03-04 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for verifying the operation of a plurality of test system instruments |
US7120545B2 (en) * | 2004-05-25 | 2006-10-10 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for displaying a current configuration of test instruments to a user |
US20070217169A1 (en) * | 2006-03-15 | 2007-09-20 | Yeap Boon L | Clamshell housing for instrument modules |
US7925464B1 (en) | 2006-05-04 | 2011-04-12 | Mark Bazemore | Multifunctional distributed analysis tool and method for using same |
US8837294B2 (en) * | 2006-12-19 | 2014-09-16 | Tektronix, Inc. | Schematic display of protocol-specific information |
US7528623B2 (en) * | 2007-02-02 | 2009-05-05 | Teradyne, Inc. | Distributing data among test boards to determine test parameters |
GB2448879B (en) * | 2007-04-30 | 2012-07-11 | Global Design Solutions Ltd | Electrical test apparatus |
GB2457888C (en) * | 2008-02-26 | 2013-08-21 | Zetechtics Ltd | Subsea test apparatus, assembly and method |
DE102011080478A1 (de) * | 2011-08-05 | 2013-02-07 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Tastkopf, System und Verfahren zur Anzeige des Messzustands |
DE102011081713A1 (de) * | 2011-08-29 | 2013-02-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Verdrahtungsprüfeinrichtung |
US20130106401A1 (en) | 2011-10-31 | 2013-05-02 | Agilent Technologies, Inc. | Oscilloscope probe comprising status indicator |
US9291657B2 (en) * | 2012-08-21 | 2016-03-22 | Copper Mountain Technologies, Llc | Measurement module of virtual vector network analyzer |
CN103376380B (zh) * | 2013-07-04 | 2016-12-28 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 一种测试系统及方法 |
US9513327B2 (en) * | 2014-07-21 | 2016-12-06 | Acertara Acoustic Laboratories Llc | Testing of ultrasonic imaging systems |
US11428724B2 (en) * | 2014-09-24 | 2022-08-30 | Kinney Industries, Inc. | Testing systems and methods |
-
2016
- 2016-02-04 US US15/015,893 patent/US10746761B2/en active Active
- 2016-02-10 EP EP16155016.5A patent/EP3056915A1/en not_active Withdrawn
- 2016-02-10 JP JP2016023991A patent/JP2016148663A/ja active Pending
- 2016-02-11 KR KR1020160015783A patent/KR20160098094A/ko unknown
- 2016-02-15 TW TW105104310A patent/TW201643454A/zh unknown
- 2016-02-15 CN CN201610249974.2A patent/CN105974160B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3056915A1 (en) | 2016-08-17 |
US10746761B2 (en) | 2020-08-18 |
JP2016148663A (ja) | 2016-08-18 |
TW201643454A (zh) | 2016-12-16 |
US20160231354A1 (en) | 2016-08-11 |
CN105974160A (zh) | 2016-09-28 |
KR20160098094A (ko) | 2016-08-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105974160B (zh) | 可动态配置的远程仪器接口 | |
JP4970510B2 (ja) | 組合せ型スイッチングマトリクスの構築方法およびその半導体装置の試験システム | |
CN112534275A (zh) | 具有触摸屏的测试和测量探针 | |
US11567891B2 (en) | Rack controller with native support for intelligent patching equipment installed in multiple racks | |
CN108020748B (zh) | 一种线缆测试装置 | |
CN102788919B (zh) | 线材检测装置及线材检测方法 | |
US7272760B2 (en) | Curve tracing device and method | |
WO2017063395A1 (zh) | 用于印刷电路板的信号测试装置 | |
CN113009332A (zh) | 中间继电器校验仪 | |
US8547084B2 (en) | Voltage reference selector for use in conjunction with a multi-meter in taking electrical measurements from an electrical control panel | |
EP3978935B1 (en) | Dynamic connection indication | |
US9176189B2 (en) | Connection system and simulator using such a connection system | |
CN209395743U (zh) | 一种新型仪表防误上电装置 | |
KR100745081B1 (ko) | 버너제어시스템의 제어카드 시험장치 및 방법 | |
US9702936B2 (en) | Smart handler resource distribution system | |
TWI547700B (zh) | 晶片之輸入/輸出介面識別方法 | |
US20230375608A1 (en) | Electronic device for inspecting cable, and inspection method | |
CN218767165U (zh) | 一种批量电子器件的自动化测试装置 | |
US20180032417A1 (en) | Testing system using different operating systems to test electronic products | |
CN217639387U (zh) | 测试系统 | |
CN214703761U (zh) | 用于检测待检设备的剩余电压的电气装置 | |
US9804218B2 (en) | Systems and methods for testing point to point contact of customer specific cables | |
CN213750226U (zh) | 一种断路器特性仪试验装置 | |
CN115857477A (zh) | I/o模块的测试方法和系统 | |
KR100618147B1 (ko) | 인쇄회로기판 검사장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |