JP2016145770A5 - - Google Patents

Description

集束・非集束光学部材２は、光照射部１から受けた光のうち、測定光に反映された集束光以外の一部の光を非集束光として放出する。集束・非集束光学部材２から非集束光が放出される範囲内の任意の位置に第２光検出器５が配置されている。非集束光の一部はモニタ光として第２光検出器５に入射し、第２光検出器５は入射したモニタ光の光量に対応した検出信号を生成する。駆動電流制御部６は、モニタ光の入射光量に対応した検出信号と予め定められている光量設定値とを比較し、その差分がゼロになるように電流源７で生成される駆動電流を調整する。これにより、光照射部１のＬＥＤに供給される駆動電流が変化し、該ＬＥＤの発光光量が変化する。即ち、本実施例の吸光光度計では、集束・非集束光学部材２により集束されずに放出された光の光量に基づくフィードバック制御により、ＬＥＤの発光光量が略一定になるように制御される。

Claims (4)

1. 光源として半導体発光素子を用いた光照射部からの光を測定対象である試料に照射し、それに対して該試料から得られる光を光検出器に導入して該試料についての分析を行う光学分析装置において、
   a)前記光照射部から前記試料に至る光路上に配置され、受けた光を前記試料に集光しつつ、一部の光を集束させずに非集束光を作る光学部材と、
   b)前記光学部材による前記非集束光が到達する位置に配置された第２の光検出器と、
   c)前記第２の光検出器による強度信号に基づき、光量が一定になるように前記半導体発光素子に供給する駆動電流を制御する制御部と、
   を備えることを特徴とする光学分析装置。
2. 請求項１に記載の光学分析装置であって、
   前記光学部材は、複数のレンズを所定距離離して配置したものであることを特徴とする光学分析装置。
3. 請求項２に記載の光学分析装置であって、
   前記複数のレンズはそれぞれ球面レンズであることを特徴とする光学分析装置。
4. 請求項１〜３のいずれか１項に記載の光学分析装置であって、
   前記光学部材は、前記光照射部からの光の光軸上の１点から発せられた光を受けて該光軸上の１点に集光して前記試料に照射することを特徴とする光学分析装置。