JP2016118884A - コモン信号の故障箇所を検出するマトリクス回路 - Google Patents

コモン信号の故障箇所を検出するマトリクス回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2016118884A
JP2016118884A JP2014257498A JP2014257498A JP2016118884A JP 2016118884 A JP2016118884 A JP 2016118884A JP 2014257498 A JP2014257498 A JP 2014257498A JP 2014257498 A JP2014257498 A JP 2014257498A JP 2016118884 A JP2016118884 A JP 2016118884A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal line
common signal
input
monitoring
common
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014257498A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6162679B2 (ja
Inventor
洋志 沖田
Hiroshi Okita
洋志 沖田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fanuc Corp
Original Assignee
Fanuc Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fanuc Corp filed Critical Fanuc Corp
Priority to JP2014257498A priority Critical patent/JP6162679B2/ja
Priority to DE102015121575.6A priority patent/DE102015121575B4/de
Priority to US14/974,465 priority patent/US10002060B2/en
Priority to CN201510962079.0A priority patent/CN105717408B/zh
Publication of JP2016118884A publication Critical patent/JP2016118884A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6162679B2 publication Critical patent/JP6162679B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • G01R31/081Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors
    • G01R31/086Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors in power transmission or distribution networks, i.e. with interconnected conductors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Input From Keyboards Or The Like (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

【課題】コモン信号線で発生した故障原因と故障箇所を特定することが可能なマトリクス回路を提供すること。【解決手段】本発明のマトリクス回路は、マトリクス状に配線されたm本のコモン信号線とn本のデータ信号線と、互いに交差するコモン信号線とデータ信号線との間に接続されるm×n個のスイッチを有し、コモン信号を1本ずつドライブしながらデータ信号線の状態を読み取り、キーの状態をスキャンするマトリクス回路において、コモン信号線の状態を監視するためのp本の監視用信号線を設け、コモン信号が1スキャンする間の監視用信号線の入力を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された監視用信号線の入力に基づいて前記コモン信号線の地絡、短絡、断線の故障の発生の検出、および故障が発生したコモン信号線を特定する検出手段とを備える。【選択図】図1

Description

本発明は、マトリクス回路に関し、特にコモン信号の故障個所を検出するマトリクス回路に関する。
従来技術として、マトリクス回路を使用した入力装置が開示されている(例えば、特許文献1)。従来技術における一般的なシンク型マトリクス回路を使用したキーボードの回路を図17に示す。
一般的なシンク型マトリクス回路では、コモン信号線(XCOM)と、データ信号線(XKEYD)が格子状に配置され、そこにキースイッチを配置する。図17は、コモン信号線が7本、データ信号線が8本のシンクタイプマトリクス回路の例である。マトリクス回路は、コモン信号線の本数×データ信号線の本数の入力を検出できるので、この回路では、56点のキーの情報を検出することができる。図中のダイオードは複数点のキーが押された際の信号の回りこみを防止するために接続されている。
キー情報のスキャンはASICなどを使用して行われ、コモン信号線を順番にドライブし、データ信号線のデータを読み込む。キーが押された場合、そのキーが接続されたコモン信号線がドライブされると、そのキーが接続されたデータ信号線のビットが有効になり、キーが押されたことを認識する。例えば、図17において、丸で囲まれたキースイッチが押された場合、このキースイッチが接続されたコモン信号線XCOM2がドライブされた際に、データ信号線XKEYD4が有効となり、これを検出することで該当する位置のキースイッチが押されたことを認識する。
図17の回路はシンク型の回路であり、コモン信号線のスキャンはローにドライブすることによって行われ、その際、データ信号がローになっていれば、該当するキースイッチが押されたと判断する。マトリクス回路にはソース型もあり、ソース型の場合、コモン信号線をハイにドライブすることにより、スキャンを行い、データ信号線のハイ入力でキーが押されたことを認識する。
特開昭61−058025号公報
マトリクス回路では、より少ない信号の本数で、多くの入力情報を得ることができるが、コモン信号線、データ信号線に地絡、短絡、断線が発生すると、誤った入力が検出され、誤動作の原因となるため、地絡、短絡、断線の発生の確認と、発生箇所の特定が必要とされる。
データ信号線で故障が発生した場合、当該故障により発生する現象とデータ線の故障以外で発生する条件は以下の通りである。
<データ信号線の地絡>
●現象:キーを押して無くても、地絡が発生したデータ線につながったキーが全て入力される。
●データ信号線の故障箇所:入力されたキーがつながるデータ信号線
●上記現象が発生するコモン信号線の故障原因:なし
<データ信号線の短絡>
●現象:1つのキーを押すと、短絡した別のキーも入力される。
●データ信号線の故障箇所:入力された2つのキーがつながるデータ信号線
●上記現象が発生するコモン信号線の故障原因:コモン信号線の短絡
<データ信号線の断線>
●現象:キーを押しても入力が無い。
●データ信号線の故障箇所:入力されないキーがつながるデータ信号線
●上記現象が発生するコモン信号線の故障原因:コモン信号線の断線
このように、データ信号線で故障が発生した場合、故障の原因がコモン信号線でないことが分かれば、データ信号線の故障箇所は比較的容易に検出することができるが、一方で、コモン信号線で故障が発生した場合には、故障内容次第では簡単に故障箇所を検出することができないという問題があった。
そこで本発明の目的は、コモン信号線で発生した故障原因と故障箇所を特定することが可能なマトリクス回路を提供することである。
本願の請求項1に係る発明は、マトリクス状に配線されたm(mは自然数)本のコモン信号線とn(nは自然数)本のデータ信号線と、互いに交差する前記コモン信号線と前記データ信号線との間に接続されるm×n個のスイッチを有し、前記コモン信号線を1本ずつローレベルにドライブしながら前記データ信号線の状態を読み取り、キーの状態をスキャンするシンク型のマトリクス回路において、前記コモン信号線の状態を監視するためのp(pは自然数)本の監視用信号線を設け、前記コモン信号線が1スキャンする間の前記監視用信号線の入力を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力に基づいて前記コモン信号線の地絡、短絡、断線の故障の発生の検出、および、故障が発生した前記コモン信号線を特定する検出手段と、を有することを特徴とするマトリクス回路である。
本願の請求項2に係る発明は、マトリクス状に配線されたm(は自然数)本のコモン信号線とn(nは自然数)本のデータ信号線と、互いに交差する前記コモン信号線と前記データ信号線との間に接続されるm×n個のスイッチを有し、前記コモン信号線を1本ずつローレベルにドライブしながら前記データ信号線の状態を読み取り、キーの状態をスキャンするシンク型のマトリクス回路において、前記コモン信号線の状態を監視するためのp(pは自然数)本の監視用信号線を設け、前記コモン信号線の地絡の検出、および、地絡が発生した前記コモン信号線を特定する検出手段、を有することを特徴とするマトリクス回路である。
本願の請求項3に係る発明は、マトリクス状に配線されたm(mは自然数)本のコモン信号線とn(nは自然数)本のデータ信号線と、互いに交差する前記コモン信号線と前記データ信号線との間に接続されるm×n個のスイッチを有し、前記コモン信号線を1本ずつハイレベルにドライブしながら前記データ信号線の状態を読み取り、キーの状態をスキャンするソース型のマトリクス回路において、前記コモン信号線の状態を監視するためのp(pは自然数)本の監視用信号線を設け、前記コモン信号線が1スキャンする間の前記監視用信号線の入力を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力に基づいて前記コモン信号線の地絡、短絡、断線の故障の発生の検出、および、故障が発生した前記コモン信号線を特定する検出手段と、を有することを特徴とするマトリクス回路である。
本願の請求項4に係る発明は、前記検出手段は、前記コモン信号線に地絡が発生した場合、全てのコモン信号線をドライブしていない非スキャン時に前記監視用信号線の入力が、全て0(ハイレベル)でない場合に、前記コモン信号線の地絡の発生と判断し、かつ、前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の地絡箇所を特定する、ことを特徴とする請求項1記載のマトリクス回路である。
本願の請求項5に係る発明は、前記検出手段は、前記コモン信号線に地絡が発生した場合、スキャン時の前記監視用信号線の入力が正常時と異なる場合に前記コモン信号線の故障の発生を検出するとともに、前記記憶手段に1スキャン分の前記監視用信号線の入力を記憶し、記憶された前記監視用信号線の入力が、常に1(ローレベル)の場合に、前記コモン信号線の故障が地絡であることを判断し、かつ、前記記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の地絡箇所を特定する、ことを特徴とする請求項1記載のマトリクス回路である。
本願の請求項6に係る発明は、前記検出手段は、前記コモン信号線に短絡が発生した場合、スキャン時の前記監視用信号線の入力が正常時と異なる場合に前記コモン信号線の故障の発生を検出するとともに、前記記憶手段に1スキャン分の前記監視用信号線の入力を記憶し、記憶された前記監視用信号線の入力が異なる前記コモン信号線のスキャン時に同じであった場合、前記コモン信号線の故障が短絡であることを判断し、かつ、前記記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の短絡箇所を特定する、ことを特徴とする請求項1または3記載のマトリクス回路である。
本願の請求項7に係る発明は、前記検出手段は、前記コモン信号線に断線が発生した場合、スキャン時の前記監視用信号線の入力が正常時と異なる場合に前記コモン信号線の故障の発生を検出するとともに、前記記憶手段に1スキャン分の前記監視用信号線の入力を記憶し、記憶された前記監視用信号線の入力が全て0(ハイレベル)の状態があった場合、前記コモン信号線の故障が断線であることを判断し、かつ、前記記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の断線箇所を特定する、ことを特徴とする請求項1記載のマトリクス回路である。
本願の請求項8に係る発明は、故障発生時に非スキャン時とスキャン時の前記監視用信号線の入力を表示手段へ出力する、ことを特徴とする請求項1または3記載のマトリクス回路である。
本願の請求項9に係る発明は、前記検出手段は、前記コモン信号線に地絡が発生した場合、全てのコモン信号線をドライブしていない非スキャン時に前記監視用信号線の入力が、全て0(ハイレベル)でない場合に、前記コモン信号線の地絡の発生を判断し、かつ、前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の地絡箇所を特定する、ことを特徴とする請求項2記載のマトリクス回路である。
本願の請求項10に係る発明は、故障発生時に非スキャン時の前記監視用信号線の入力を表示手段へ出力する、ことを特徴とする請求項2記載のマトリクス回路である。
本願の請求項11に係る発明は、前記検出手段は、前記コモン信号線に地絡、または断線が発生した場合、スキャン時の前記監視用信号線の入力が正常時と異なる場合に前記コモン信号線の故障の発生を検出するとともに、前記記憶手段に1スキャン分の前記監視用信号線の入力を記憶し、記憶された前記監視用信号線の入力が、全て0(ハイレベル)の状態があった場合、前記コモン信号線の故障が地絡、または断線であることを判断し、かつ、前記記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の地絡、または断線箇所を特定する、ことを特徴とする請求項3記載のマトリクス回路である。
本発明により、マトリクス回路のコモン信号線にp(pは自然数)本の監視用信号線(XCOMD0〜XCOMDp−1)を追加し、コモン信号のスキャンが一巡する際の監視用信号線の入力を記憶して解析することで、従来技術では行うことができなかったコモン信号線上での地絡、短絡、断線の故障の発生の検出と、発生したコモン信号線の特定を可能となる。
本発明の第1の実施形態におけるマトリクス回路の構成図である。 本発明の第1の実施形態におけるマトリクス回路の正常時の監視用信号線の入力を示す表である。 本発明の第1の実施形態におけるマトリクス回路の地絡が発生した際の非スキャン時の監視用信号線の入力を示す表である。 本発明の第1の実施形態におけるマトリクス回路の地絡が発生した際のスキャン時の監視用信号線の入力を示す表である。 本発明の第1の実施形態におけるマトリクス回路の短絡が発生した際のスキャン時の監視用信号線の入力を示す表である。 本発明の第1の実施形態におけるマトリクス回路の断線が発生した際のスキャン時の監視用信号線の入力を示す表である。 本発明の第1の実施形態における診断画面の表示例である。 本発明の第1の実施形態におけるマトリクス回路の故障診断処理のフローチャートである。 本発明の第2の実施形態におけるマトリクス回路の構成図である。 本発明の第2の実施形態におけるマトリクス回路の地絡が発生した際の非スキャン時の監視用信号線の入力を示す表である。 本発明の第3の実施形態におけるマトリクス回路の構成図である。 本発明の第3の実施形態におけるマトリクス回路の正常時の監視用信号線の入力を示す表である。 本発明の第3の実施形態におけるマトリクス回路の地絡、断線が発生した際のスキャン時の監視用信号線の入力を示す表である。 本発明の第3の実施形態におけるマトリクス回路の短絡が発生した際のスキャン時の監視用信号線の入力を示す表である。 本発明の第3の実施形態における診断画面の表示例である。 本発明の第3の実施形態におけるマトリクス回路の故障診断処理のフローチャートである。 従来技術におけるマトリクス回路の構成図である。
以下、本発明の実施の形態を図面と共に説明する。
<1.第1の実施形態>
図1は、本発明の第1の実施形態におけるマトリクス回路を示す図である。本実施形態は、コモン信号線(XCOM)が7本(XCOM1〜XCOM7)、データ信号線(XKEYD)が8本(XKEYD0〜XKEYD7)のシンクタイプマトリクス回路の例で説明する。本実施形態のマトリクス回路では、図1に示すように、一般的なシンクタイプマトリクス回路に対して監視用信号線(XCOMD)が追加されている。
本実施形態では、監視用信号線をコモン信号線のデータをバイナリコードに変換するように接続することで、7本のコモン信号線をXCOMD2、XCOMD1、XCOMD0の3本の監視信号線で監視することができるようにしている。ダイオードは信号の回り込みを防ぐために組み込まれている。スキャンの処理では、コモン信号線をドライブして、キーの情報をデータ信号線から読み込むが、その際、監視用信号線の入力を読み込み、コモン信号線の状態を監視する。
図2の表は、監視用信号線の正常時の入力であり、表中の2進数3ケタの数値はXCOMD2、XCOMD1、XCOMD0の値を裏論理(ロー入力が1、ハイ入力が0)で表現し、順に並べたものである。全てのコモン信号線をドライブしない非スキャン時、監視用信号線には「000」が入力され、コモン信号線を順にドライブするスキャン時は、ドライブしているコモン信号線の番号をバイナリ化した信号が監視用信号線から入力される。
図1のように構成したマトリクス回路において、コモン信号線に地絡、短絡、断線の故障が発生した場合、図2の表に示した正常時とは異なる入力が検出される。正常時の入力と異なる入力が検出された場合、1スキャン分の入力をASIC1内に設けられたメモリ2に記憶し、故障箇所の特定に使用する。以下に故障箇所の検出方法を故障原因毎にまとめる。
<1.1 コモン信号線の地絡箇所検出方法>
図3の表は、非スキャン(全てのコモン信号線をドライブしない状態)時における監視用信号線の入力値を示したものである。図3の表に示すように、コモン信号線が正常な状態であれば、非スキャン時に関し信号線からは「000」の値が入力されるが、いずれかのコモン信号線に地絡が発生した場合、全てのコモン信号線をドライブしていない非スキャン時に監視用信号線の入力の一部に、1(ローレベル)が検出される。図3の表のように、監視用信号線の入力は地絡が発生しているコモン信号線の番号を示す。
コモン信号線の地絡が発生した場合の別の検出方法を示す。図4の表は、スキャン時における、コモン信号線の地絡発生時の監視用信号線の入力値を示したものである。コモン信号線の地絡が発生した場合、スキャン時に監視用信号線の入力に常に1固定の信号が見られる。この場合、1スキャン分の監視用信号線のデータをANDすることにより、地絡箇所を特定することができる。例えば、コモン信号線XCOM3が地絡した場合、1スキャンのデータは「011」、「011」、「011」、「111」、「111」、「111」、「111」となる。これを全てANDすると、「011」となり、コモン信号線XCOM3が地絡していることを判別することができる。
<1.2 コモン信号線の短絡断箇所検出方法>
図5の表は、スキャン時における、コモン信号線の短絡発生時の監視用信号線の入力値を示したものである。コモン信号線に短絡が発生した場合、監視用信号線に同じ入力が2箇所あるいは3箇所で検出される。
2箇所で検出された場合は、同じ入力が検出された際に、ドライブしていたコモン信号線で短絡が発生している。例えば、コモン信号線XCOM2とコモン信号線XCOM3が短絡した場合、「011」の入力が2箇所で検出される。その2箇所の同じ入力が検出された際にドライブしていたコモン信号線XCOM2とXCOM3とが短絡箇所となる。
また、3箇所で同じ入力が検出された場合は、その入力が示すコモン信号線(正常時において、ドライブ時に当該入力が監視用信号線から検出されるコモン信号線)以外の2箇所で短絡が発生している。例えば、XCOM3とXCOM4が短絡した場合、「111」の入力が3箇所で検出される。この場合、「111」が示すXCOM7以外のXCOM3とXCOM4が短絡箇所となる。
なお、図5の表では、隣り合った信号の短絡のみをまとめているが、その他の組み合わせで短絡の可能性がある場合は、当該組み合わせを図5の表に加えて短絡の検出に用いればよい。
<1.3 コモン信号線の断線箇所検出方法>
図6の表は、スキャン時における、コモン信号線の断線発生時の監視用信号線の入力値を示したものである。コモン信号線に断線が発生した場合には、断線が発生しているコモン信号線をドライブした際の監視用信号線の入力が「000」となる。監視用信号線の入力に「000」が検出されたときにドライブしていたコモン信号線が断線箇所とし検出できる。
<1.4 監視用信号線の画面表示>
メモリ2に保存した監視用信号線の状態は、正常時に監視用信号線から検出される期待値と合わせて診断画面として表示可能とする。図7は、診断画面の表示例である。図に示すように、ドライブするコモン信号線と、正常時に監視用信号線から検出される期待値、監視用信号線から検出された実測値とを並べて表示することで、オペレータはコモン信号線に発生している障害を把握することができる。
<1.5 監視用信号線による故障診断処理のフローチャート>
図8は、監視用信号線を用いた故障診断処理のフローチャートである。
●[ステップSA01]コモン信号線の非スキャン時における監視用信号線の入力が「000」であるか否かを判定する。「000」でない場合にはステップSA02へ進み、「000」である場合にはステップSA05へ進む。
●[ステップSA02]非スキャン時の監視用信号線の入力が図3の表に該当するパターンがあるか否かを判定する。図3の表に該当するパターンがある場合にはステップSA03へ進み、無い場合にはステップSA04へ進む。
●[ステップSA03]図3の表の該当するコモン信号線で地絡が発生していると判定する。
●[ステップSA04]地絡、短絡、断線以外の故障が発生していると判定する。
●[ステップSA05]コモン信号線のスキャン時における監視信号線の入力が正常値と同じか否かを判定する。スキャン時における監視信号線の入力が正常値と同じ場合にはステップSA01へ戻り、異なる場合にはステップSA06へ進む。
●[ステップSA06]コモン信号線1スキャン分の監視用信号線の入力をメモリに記憶する。
●[ステップSA07]ステップSA06で記憶した1スキャン分の監視信号線の入力の中に「000」の値があるか否かを判定する。「000」の値がある場合にはステップSA08へ進み、無い場合にはステップSA11へ進む。
●[ステップSA08]ステップSA06で記憶した1スキャン分の監視信号線の入力が図6の表のいずれかのパターンに該当するか否かを判定する。図6の表に該当するパターンがある場合にはステップSA09へ進み、無い場合にはステップSA10へ進む。
●[ステップSA09]図6の表の該当するコモン信号線で断線が発生していると判定する。
●[ステップSA10]地絡、短絡、断線以外の故障が発生していると判定する。
●[ステップSA11]ステップSA06で記憶した1スキャン分の監視信号線の入力に同じ入力の箇所があるか否かを判定する。同じ入力の箇所がある場合にはステップSA12へ進み、無い場合にはステップSA15へ進む。
●[ステップSA12]ステップSA06で記憶した1スキャン分の監視信号線の入力が図5の表のいずれかのパターンに該当するか否かを判定する。図5の表に該当するパターンがある場合にはステップSA13へ進み、無い場合にはステップSA14へ進む。
●[ステップSA13]図5の表の該当するコモン信号線で短絡が発生していると判定する。
●[ステップSA14]地絡、短絡、断線以外の故障が発生していると判定する。
●[ステップSA15]地絡、短絡、断線以外の故障が発生していると判定する。
<2.第2の実施形態>
図9は、本発明の第2の実施形態におけるマトリクス回路を示す図である。本実施形態は、コモン信号線(XCOM)が7本(XCOM1〜XCOM7)、データ信号線(XKEYD)が8本(XKEYD0〜XKEYD7)のシンクタイプマトリクス回路の例で説明する。本実施形態のマトリクス回路は、第1の実施形態と比較して、故障箇所検出対象を地絡のみに限定し、監視用信号線(XCOMD)から入力される信号のみを用いることで地絡の検出を実現する。なお、ダイオードは信号の回り込みを防ぐために組み込まれている。
全てのコモン信号線をドライブしない非スキャンにおいて、正常時には監視用信号の入力は「000」が検出されるが、地絡が発生した場合、図10の表に示すように、監視用信号の入力が「000」以外の入力値となるため、監視用信号線を監視することでコモン信号線に地絡が発生していることを検出することができる。
<3.第3の実施形態>
図11は、本発明の第3の実施形態におけるマトリクス回路を示す図である。本実施形態は、コモン信号線(COM)が7本(COM1〜COM7)、データ信号線(KEYD)が8本(KEYD0〜KEYD7)のソースタイプマトリクス回路の例で説明する。本実施形態のマトリクス回路では、図11に示すように、一般的なシンクタイプマトリクス回路に対して監視用信号線(COMD)が追加されている。
本実施形態では、監視用信号線をコモン信号線のデータをバイナリコードに変換するように接続することで、7本のコモン信号線をCOMD2、COMD1、COMD0の3本の監視信号線で監視することができるようにしている。ダイオードは信号の回り込みを防ぐために組み込まれている。スキャンの処理では、コモン信号線をドライブして、キーの情報をデータ信号線から読み込むが、その際、監視用信号線の入力を読み込み、コモン信号線の状態を監視する。
図12の表は監視用信号線の正常時の入力であり、表中の2進数3ケタの数値はCOMD2、COMD1、COMD0の値を正論理(ロー入力が0、ハイ入力が1)で表現し、順に並べたものである。全てのコモン信号線をドライブしない非スキャン時、監視用信号線には「000」が入力され、コモン信号線を順にドライブするスキャン時は、ドライブしているコモン信号線の番号をバイナリ化した信号が監視用信号線から入力される。
図11のように構成したマトリクス回路において、コモン信号線に地絡、短絡、断線の故障が発生した場合、図12の表に示した正常時とは異なる入力が検出される。正常時の入力と異なる入力が検出された場合、1スキャン分の入力をASIC1内に設けられたメモリ2に記憶し、故障箇所の特定に使用する。以下に故障箇所の検出方法を故障原因毎にまとめる。
<3.1 コモン信号線の地絡、断線箇所検出方法>
図13の表は、スキャン時におけるコモン信号線に地絡、あるいは断線が発生した場合の監視用信号線の入力値を示したものである。コモン信号線に地絡、あるいは断線が発生すると、故障が発生しているコモン信号線をドライブした際に監視用信号線の入力が「000」となる。したがって、監視用信号線の入力に「000」が検出されたときにドライブしていたコモン信号線が地絡、あるいは断線が発生している箇所となる。
<3.2 コモン信号線の短絡断箇所検出方法>
図14の表は、スキャン時における、コモン信号線の短絡発生時の監視信号線の入力値を示したものである。コモン信号線に短絡が発生した場合、監視用信号線に同じ入力が2箇所あるいは3箇所で検出される。
2箇所で検出された場合は、同じ入力が読めた際に、ドライブしていたコモン信号線で短絡が発生している。例えば、コモン信号線COM2とコモン信号線COM3が短絡した場合、「011」の入力が2箇所で検出される。その2箇所の同じ入力が検出された際にドライブしていたコモン信号線COM2とCOM3とが短絡箇所となる。
また、3箇所で同じ入力が検出された場合は、その入力が示すコモン信号線(正常時において、ドライブ時に当該入力が監視用信号線から検出されるコモン信号線)以外の2か所で短絡が発生している。例えば、COM3とCOPM4が短絡した場合、「111」の入力が3箇所で検出される。この場合、「111」が示すCOM7以外のCOM3とCOM4が短絡箇所となる。
なお、図14の表では、隣り合った信号の短絡のみをまとめているが、その他の組み合わせで短絡の可能性がある場合は、当該組み合わせを図14の表に加えて短絡の検出に用いればよい。
<3.3 監視用信号線の画面表示>
メモリ2に保存した監視用信号線の状態は、正常時に監視用信号線から検出される期待値と合わせて診断画面として表示可能とする。図15は、診断画面の表示例である。図に示すように、ドライブするコモン信号線と、正常時に監視用信号線から検出される期待値、監視用信号線から検出された実測値とを並べて表示することで、オペレータはコモン信号線に発生している障害を把握することができる。
<3.4 監視用信号線による故障診断処理のフローチャート>
図16は、監視用信号線を用いた故障診断処理のフローチャートである。
●[ステップSB01]コモン信号線のスキャン時における監視信号線の入力が正常値と同じか否かを判定する。スキャン時における監視信号線の入力が正常値と同じ場合にはステップSB01へ戻り、異なる場合にはステップSB02へ進む。
●[ステップSB02]コモン信号線1スキャン分の監視用信号線の入力をメモリに記憶する。
●[ステップSB03]ステップSB02で記憶した1スキャン分の監視信号線の入力の中に「000」の値があるか否かを判定する。「000」の値がある場合にはステップSB04へ進み、無い場合にはステップSB07へ進む。
●[ステップSB04]ステップSB02で記憶した1スキャン分の監視信号線の入力が図13の表のいずれかのパターンに該当するか否かを判定する。図13の表に該当するパターンがある場合にはステップSB05へ進み、無い場合にはステップSB06へ進む。
●[ステップSB05]図13の表の該当するコモン信号線で断線、或いは地絡が発生していると判定する。
●[ステップSB06]地絡、短絡、断線以外の故障が発生していると判定する。
●[ステップSB07]ステップSB02で記憶した1スキャン分の監視信号線の入力に同じ入力の箇所があるか否かを判定する。同じ入力の箇所がある場合にはステップSB08へ進み、無い場合にはステップSB11へ進む。
●[ステップSB08]ステップSB02で記憶した1スキャン分の監視信号線の入力が図14の表のいずれかのパターンに該当するか否かを判定する。図14の表に該当するパターンがある場合にはステップSB09へ進み、無い場合にはステップSB10へ進む。
●[ステップSB09]図14の表の該当するコモン信号線で短絡が発生していると判定する。
●[ステップSB10]地絡、短絡、断線以外の故障が発生していると判定する。
●[ステップSB11]地絡、短絡、断線以外の故障が発生していると判定する。
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明は上述した実施の形態の例に限定されることなく、適宜の変更を加えることにより、その他の態様で実施することができる。
1 ASIC
2 メモリ

Claims (11)

  1. マトリクス状に配線されたm(mは自然数)本のコモン信号線とn(nは自然数)本のデータ信号線と、互いに交差する前記コモン信号線と前記データ信号線との間に接続されるm×n個のスイッチを有し、前記コモン信号線を1本ずつローレベルにドライブしながら前記データ信号線の状態を読み取り、キーの状態をスキャンするシンク型のマトリクス回路において、
    前記コモン信号線の状態を監視するためのp(pは自然数)本の監視用信号線を設け、前記コモン信号線が1スキャンする間の前記監視用信号線の入力を記憶する記憶手段と、
    該記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力に基づいて前記コモン信号線の地絡、短絡、断線の故障の発生の検出、および、故障が発生した前記コモン信号線を特定する検出手段と、
    を有することを特徴とするマトリクス回路。
  2. マトリクス状に配線されたm(は自然数)本のコモン信号線とn(nは自然数)本のデータ信号線と、互いに交差する前記コモン信号線と前記データ信号線との間に接続されるm×n個のスイッチを有し、前記コモン信号線を1本ずつローレベルにドライブしながら前記データ信号線の状態を読み取り、キーの状態をスキャンするシンク型のマトリクス回路において、
    前記コモン信号線の状態を監視するためのp(pは自然数)本の監視用信号線を設け、前記コモン信号線の地絡の検出、および、地絡が発生した前記コモン信号線を特定する検出手段、
    を有することを特徴とするマトリクス回路。
  3. マトリクス状に配線されたm(mは自然数)本のコモン信号線とn(nは自然数)本のデータ信号線と、互いに交差する前記コモン信号線と前記データ信号線との間に接続されるm×n個のスイッチを有し、前記コモン信号線を1本ずつハイレベルにドライブしながら前記データ信号線の状態を読み取り、キーの状態をスキャンするソース型のマトリクス回路において、
    前記コモン信号線の状態を監視するためのp(pは自然数)本の監視用信号線を設け、前記コモン信号線が1スキャンする間の前記監視用信号線の入力を記憶する記憶手段と、
    該記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力に基づいて前記コモン信号線の地絡、短絡、断線の故障の発生の検出、および、故障が発生した前記コモン信号線を特定する検出手段と、
    を有することを特徴とするマトリクス回路。
  4. 前記検出手段は、前記コモン信号線に地絡が発生した場合、全てのコモン信号線をドライブしていない非スキャン時に前記監視用信号線の入力が、全て0(ハイレベル)でない場合に、前記コモン信号線の地絡の発生と判断し、かつ、前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の地絡箇所を特定する、
    ことを特徴とする請求項1記載のマトリクス回路。
  5. 前記検出手段は、前記コモン信号線に地絡が発生した場合、スキャン時の前記監視用信号線の入力が正常時と異なる場合に前記コモン信号線の故障の発生を検出するとともに、前記記憶手段に1スキャン分の前記監視用信号線の入力を記憶し、記憶された前記監視用信号線の入力が、常に1(ローレベル)の場合に、前記コモン信号線の故障が地絡であることを判断し、かつ、前記記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の地絡箇所を特定する、
    ことを特徴とする請求項1記載のマトリクス回路。
  6. 前記検出手段は、前記コモン信号線に短絡が発生した場合、スキャン時の前記監視用信号線の入力が正常時と異なる場合に前記コモン信号線の故障の発生を検出するとともに、前記記憶手段に1スキャン分の前記監視用信号線の入力を記憶し、記憶された前記監視用信号線の入力が異なる前記コモン信号線のスキャン時に同じであった場合、前記コモン信号線の故障が短絡であることを判断し、かつ、前記記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の短絡箇所を特定する、
    ことを特徴とする請求項1または3記載のマトリクス回路。
  7. 前記検出手段は、前記コモン信号線に断線が発生した場合、スキャン時の前記監視用信号線の入力が正常時と異なる場合に前記コモン信号線の故障の発生を検出するとともに、前記記憶手段に1スキャン分の前記監視用信号線の入力を記憶し、記憶された前記監視用信号線の入力が全て0(ハイレベル)の状態があった場合、前記コモン信号線の故障が断線であることを判断し、かつ、前記記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の断線箇所を特定する、
    ことを特徴とする請求項1記載のマトリクス回路。
  8. 故障発生時に非スキャン時とスキャン時の前記監視用信号線の入力を表示手段へ出力する、
    ことを特徴とする請求項1または3記載のマトリクス回路。
  9. 前記検出手段は、前記コモン信号線に地絡が発生した場合、全てのコモン信号線をドライブしていない非スキャン時に前記監視用信号線の入力が、全て0(ハイレベル)でない場合に、前記コモン信号線の地絡の発生を判断し、かつ、前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の地絡箇所を特定する、
    ことを特徴とする請求項2記載のマトリクス回路。
  10. 故障発生時に非スキャン時の前記監視用信号線の入力を表示手段へ出力する、
    ことを特徴とする請求項2記載のマトリクス回路。
  11. 前記検出手段は、前記コモン信号線に地絡、または断線が発生した場合、スキャン時の前記監視用信号線の入力が正常時と異なる場合に前記コモン信号線の故障の発生を検出するとともに、前記記憶手段に1スキャン分の前記監視用信号線の入力を記憶し、記憶された前記監視用信号線の入力が、全て0(ハイレベル)の状態があった場合、前記コモン信号線の故障が地絡、または断線であることを判断し、かつ、前記記憶手段に記憶された前記監視用信号線の入力データに基づいて、前記コモン信号線の地絡、または断線箇所を特定する、
    ことを特徴とする請求項3記載のマトリクス回路。
JP2014257498A 2014-12-19 2014-12-19 コモン信号の故障箇所を検出するマトリクス回路 Active JP6162679B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014257498A JP6162679B2 (ja) 2014-12-19 2014-12-19 コモン信号の故障箇所を検出するマトリクス回路
DE102015121575.6A DE102015121575B4 (de) 2014-12-19 2015-12-11 Matrixschaltung, die eine fehlerlage in einem gemeinsamen signal erfasst
US14/974,465 US10002060B2 (en) 2014-12-19 2015-12-18 Matrix circuit detecting failure location in common signal
CN201510962079.0A CN105717408B (zh) 2014-12-19 2015-12-21 检测公共信号的故障位置的矩阵电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014257498A JP6162679B2 (ja) 2014-12-19 2014-12-19 コモン信号の故障箇所を検出するマトリクス回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016118884A true JP2016118884A (ja) 2016-06-30
JP6162679B2 JP6162679B2 (ja) 2017-07-12

Family

ID=56099740

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014257498A Active JP6162679B2 (ja) 2014-12-19 2014-12-19 コモン信号の故障箇所を検出するマトリクス回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10002060B2 (ja)
JP (1) JP6162679B2 (ja)
CN (1) CN105717408B (ja)
DE (1) DE102015121575B4 (ja)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7977962B2 (en) * 2008-07-15 2011-07-12 Micron Technology, Inc. Apparatus and methods for through substrate via test
JP5884764B2 (ja) * 2013-03-29 2016-03-15 ブラザー工業株式会社 通信装置、およびプログラム
JP6583265B2 (ja) * 2014-03-31 2019-10-02 日本電気株式会社 監視装置、監視システム、監視方法及びプログラム
US9395407B2 (en) * 2014-04-03 2016-07-19 X-Com Systems, Llc Enhanced dynamic range RF pulse measurement system
EP3282230B1 (de) * 2014-12-04 2020-02-05 Hexagon Technology Center GmbH Absoluter kapazitiver winkelencoder
CN105742199B (zh) * 2014-12-30 2018-09-21 震扬集成科技股份有限公司 导线架单元的电性测试方法
GB2553452B (en) * 2015-03-11 2021-04-28 Synaptive Medical Inc Operation of the magnet of a magnetic resonance imaging (MRI) system
GB2540599B (en) * 2015-07-22 2021-04-14 Cmr Surgical Ltd Rotary encoder.
US10641087B2 (en) * 2015-10-28 2020-05-05 Halliburton Energy Services, Inc. Inductive cavity sensors for resistivity tools
US10037722B2 (en) 2015-11-03 2018-07-31 Medtronic Minimed, Inc. Detecting breakage in a display element
KR102482023B1 (ko) * 2016-01-28 2022-12-28 삼성전자주식회사 적층 메모리 칩 전기적 단락 검출 장치 및 방법
DE102016102828B4 (de) * 2016-02-18 2023-04-27 Infineon Technologies Ag Magnetische Winkelsensorvorrichtung und Verfahren
US10509063B2 (en) * 2017-11-28 2019-12-17 Fluke Corporation Electrical signal measurement device using reference signal
CN109901544A (zh) * 2017-12-07 2019-06-18 开利公司 制冷系统、用于其的故障诊断系统、故障诊断方法及控制器与存储介质
JP7000847B2 (ja) 2017-12-25 2022-01-19 トヨタ自動車株式会社 蓄電デバイスの検査方法および製造方法
US10915639B2 (en) * 2018-04-05 2021-02-09 Oracle International Corporation Staged dynamic taint flow inference
JP7056449B2 (ja) * 2018-08-01 2022-04-19 トヨタ自動車株式会社 蓄電デバイスの検査装置
US10761134B2 (en) * 2018-10-25 2020-09-01 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method and measurement system for identifying the noise figure of a device under test
JP2020140017A (ja) * 2019-02-27 2020-09-03 三菱電機株式会社 駆動回路、液晶駆動コントローラ、及び、液晶表示装置
CN110517615B (zh) * 2019-08-30 2023-01-10 上海中航光电子有限公司 显示面板的检测方法及其检测装置、显示面板和显示设备
CN112124287B (zh) * 2020-09-25 2022-02-22 上海拿森汽车电子有限公司 一种epb按键的故障识别方法、装置、设备和介质

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6158025A (ja) * 1984-08-29 1986-03-25 Canon Inc 入力制御装置
JPS6249752A (ja) * 1985-08-29 1987-03-04 Fujitsu Ltd 障害切離方式
JPS63261414A (ja) * 1987-04-17 1988-10-28 Brother Ind Ltd 導電パタ−ン自己診断回路
JPH03149610A (ja) * 1989-11-07 1991-06-26 Toshiba Heating Appliances Co キー入力装置
JPH03198121A (ja) * 1989-12-27 1991-08-29 Nec Corp キーボード制御回路
JP2005345546A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Sony Corp 表示装置及び検査方法
US20060181195A1 (en) * 2005-02-14 2006-08-17 Tohoku Pioneer Corporation Light emitting display panel and method for inspecting the light emitting display panel
WO2011080861A1 (ja) * 2009-12-28 2011-07-07 シャープ株式会社 表示装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3964018A (en) * 1974-10-29 1976-06-15 Kysor Industrial Corporation Vehicle monitoring system with fault override
US6104320A (en) * 1998-01-23 2000-08-15 Holtek Semiconductor Inc. Input detection circuit for a matrix keyboard
US6115305A (en) * 1999-06-15 2000-09-05 Atmel Corporation Method and apparatus for testing a video display chip
TW463122B (en) * 1999-06-15 2001-11-11 Inventec Corp Method for rapidly detecting the occurrence of short-circuit in keyboard array
TW582011B (en) * 2000-01-06 2004-04-01 Toshiba Corp Array substrate and method of inspecting the same
US7164273B2 (en) * 2003-11-14 2007-01-16 David Bailey Power source monitor
JP4746510B2 (ja) * 2006-02-21 2011-08-10 愛三工業株式会社 負荷駆動系の異常診断システムおよび燃料ポンプ制御システム
CN101661200B (zh) * 2008-08-29 2011-12-28 北京京东方光电科技有限公司 液晶显示器阵列基板及其断线检测方法
TWI444852B (zh) * 2011-01-21 2014-07-11 Primax Electronics Ltd 測試鍵盤模組之方法以及鍵盤模組之測試系統
JP5642030B2 (ja) * 2011-08-01 2014-12-17 Jx日鉱日石エネルギー株式会社 地絡検出装置、地絡検出方法、太陽光発電システム、及び地絡検出プログラム
JP5802076B2 (ja) * 2011-08-01 2015-10-28 Jx日鉱日石エネルギー株式会社 地絡検出装置、地絡検出方法、太陽光発電システム、及び地絡検出プログラム
JP5642031B2 (ja) * 2011-08-01 2014-12-17 Jx日鉱日石エネルギー株式会社 地絡検出装置、地絡検出方法、太陽光発電システム、及び地絡検出プログラム
CN103827681B (zh) * 2011-12-26 2016-05-04 东芝三菱电机产业系统株式会社 故障检测装置及其检测方法
GB201303207D0 (en) * 2013-02-22 2013-04-10 Control Tech Ltd GFDI using standard industrial modules
TWM463122U (zh) * 2013-05-29 2013-10-11 Univ Chia Nan Pharm & Sciency 附自動提示裝置之安全保健衛生藥盒
US9476931B2 (en) * 2014-02-07 2016-10-25 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Method for fault location analysis of ungrounded distribution systems
JP6140094B2 (ja) * 2014-03-24 2017-05-31 ファナック株式会社 マトリクス形キー入力インタフェース

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6158025A (ja) * 1984-08-29 1986-03-25 Canon Inc 入力制御装置
JPS6249752A (ja) * 1985-08-29 1987-03-04 Fujitsu Ltd 障害切離方式
JPS63261414A (ja) * 1987-04-17 1988-10-28 Brother Ind Ltd 導電パタ−ン自己診断回路
JPH03149610A (ja) * 1989-11-07 1991-06-26 Toshiba Heating Appliances Co キー入力装置
JPH03198121A (ja) * 1989-12-27 1991-08-29 Nec Corp キーボード制御回路
JP2005345546A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Sony Corp 表示装置及び検査方法
US20060181195A1 (en) * 2005-02-14 2006-08-17 Tohoku Pioneer Corporation Light emitting display panel and method for inspecting the light emitting display panel
WO2011080861A1 (ja) * 2009-12-28 2011-07-07 シャープ株式会社 表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN105717408A (zh) 2016-06-29
US10002060B2 (en) 2018-06-19
US20160178689A1 (en) 2016-06-23
DE102015121575A1 (de) 2016-06-23
JP6162679B2 (ja) 2017-07-12
CN105717408B (zh) 2019-02-05
DE102015121575B4 (de) 2020-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6162679B2 (ja) コモン信号の故障箇所を検出するマトリクス回路
CN100463174C (zh) 半导体集成电路装置
US20210154790A1 (en) Anomaly detection device, method of detecting anomaly, and program
JP5511639B2 (ja) 部分放電分析装置
US9696862B2 (en) Capacitance type touch panel
CN107871481A (zh) 接口电路
EP3190485A1 (en) Capacitive touch panel
CN111179791A (zh) 一种显示面板、检测方法及显示装置
US9513325B2 (en) Matrix key input interface
JP2009229259A (ja) 半導体素子の検査装置およびその検査方法
JP2007060863A (ja) 発電機の並列運転監視方法および装置
DE102016113716A1 (de) Steuerung eines Drehschalters
EP3492940B1 (en) Display device capable of performing self-diagnosis in relation to partial discharge
JP4810058B2 (ja) 多極端子のショート検出方法及びショート検出システム
JP5268861B2 (ja) 画像処理装置
JP6312575B2 (ja) カウント装置
JP2005189582A (ja) 情報表示装置および情報表示方法
KR20060053978A (ko) 반도체 집적회로
KR20020047777A (ko) 싸이크로 콘버터 고장 검출장치
JP2005165948A (ja) バーコード読み取り方法及びバーコード読み取り装置
JP4455119B2 (ja) 半導体装置
JP2014016171A (ja) 検査システム及び信号生成装置
JP2006105719A (ja) 表示装置ならびにその検査装置および検査方法
JPH0244183B2 (ja)
JPH0561676B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160517

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170307

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170322

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170523

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170615

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6162679

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150