JP2016086310A - アナログデジタル変換回路、撮像装置及び撮像システム - Google Patents

アナログデジタル変換回路、撮像装置及び撮像システム Download PDF

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Abstract

【課題】デジタル信号のビット間の遅延時間の差を低減することができることを課題とする。【解決手段】アナログデジタル変換回路は、アナログ信号と参照信号を比較する複数の比較器及びメモリと、グレイコードであって複数ビットのカウント信号を生成するカウンタと、各々がカウント信号の複数ビットをカウンタから複数のメモリに伝送する複数の第1の信号配線(183)を有し、各メモリは複数のビットメモリ(185)を有し、アナログデジタル変換回路は複数のメモリ同士でビットメモリ同士を各々が接続する複数の第2の信号配線(184)を有し、複数の第2の信号配線の各々は複数の第1の信号配線の各々に接続され、複数の第1の信号配線及び複数の第2の信号配線のいずれか又は両方において、カウント信号の最下位ビットの信号を伝送する信号配線が、各々がカウント信号の最下位ビットとは別のビットの信号を伝送する複数の信号配線の間に配置される。【選択図】図6

Description

本発明は、アナログデジタル変換回路、撮像装置及び撮像システムに関する。
複数の比較器と、複数の比較器の各々に、各々が対応して設けられた複数のメモリとを有するアナログデジタル変換回路が知られている(特許文献1参照)。複数の比較器の各々は、アナログ信号と、参照信号との信号レベルを比較した期間のカウント信号値を、比較器に対応して設けられたメモリに供給する。
特開2013−093837号公報
特許文献1では、メモリに入力されるカウント信号のビット間の遅延時間の差について検討されていなかった。
本発明の目的は、メモリに入力されるデジタル信号のビット間の遅延時間の差を低減することができるアナログデジタル変換回路、撮像装置及び撮像システムを提供することである。
本発明のアナログデジタル変換回路は、アナログ信号と、時間の経過にともなって信号レベルが変化する参照信号とを比較した結果を示す比較結果信号をそれぞれ出力する複数の比較器と、各々が前記複数の比較器の各々に対応して設けられた複数のメモリと、グレイコードであって、複数のビットを有するカウント信号を、クロック信号をカウントすることによって生成するカウンタと、各々が、前記カウント信号の複数のビットの各々を前記カウンタから前記複数のメモリに伝送する複数の第1の信号配線とを有し、前記複数のメモリの各々が、対応する前記複数の比較器の各々の前記比較結果信号の信号の変化に応じて前記カウント信号を保持することによって前記アナログ信号がデジタル信号に変換されるアナログデジタル変換回路であって、前記複数のメモリの各々は、前記複数のビットの各ビットの信号を各々が記憶する複数のビットメモリを有し、前記アナログデジタル変換回路は、前記複数のメモリ同士で、前記ビットメモリ同士を各々が接続する複数の第2の信号配線をさらに有し、前記複数の第2の信号配線の各々は前記複数の第1の信号配線の各々に接続され、前記複数の第1の信号配線及び前記複数の第2の信号配線のいずれかにおいて、又は両方において、前記カウント信号の最下位ビットの信号を伝送する信号配線が、各々が前記カウント信号の前記最下位ビットとは別のビットの信号を伝送する複数の信号配線の間に配置されることを特徴とする。
メモリに入力されるデジタル信号のビット間の遅延時間の差を低減し、アナログデジタル変換のリニアリティを改善し、また、アナログデジタル変換を高速化することができる。
撮像装置の構成の一例を示した図である。 アナログデジタル変換回路の動作タイミングを示した図である。 列メモリ群の構成の一例を示した図である。 列メモリ群を示した図である。 カウント信号のタイミングを示した図である。 撮像装置の構成例を示した図である。 撮像装置の構成例を示した図である。 撮像システムの構成例の示した図である。
(第1の実施形態)
図1は本発明の第1の実施形態による撮像装置100の構成例を示す図であり、図2は撮像装置100の駆動方法を示すタイミングチャートである。撮像装置100は、アナログデジタル変換回路300を有し、入射光を光電変換し、得られた電気信号をデジタル信号として外部に出力する。撮像装置100は、画素アレイ110、垂直走査回路120、水平走査回路130、比較器140、カウンタ160、ランプ信号生成回路170、列メモリ群181、タイミング制御部190及び信号処理部191を有する。また、撮像装置100は、行制御線112、垂直信号線113、カウント信号配線182、垂直カウント配線183及び水平カウント配線184を有する。列メモリ群181は、複数の列メモリ180を有する。複数の列メモリ108は、それぞれ、複数の比較器140に対応して設けられる。画素アレイ110は、光電変換素子を含む複数の画素111を有する。複数の画素111は、画素アレイ110内に2次元行列状に配置されている。図1では、2行分の画素111を示しているが、画素111の行数はこれに限るものではない。
垂直走査回路120は、複数の行制御線112を介して、行単位で、複数の画素111に電気的に接続されている。1つの行制御線112は、1行の画素111に対応して共通に設けられている。垂直走査回路120は、タイミング制御部190に電気的に接続されている。垂直走査回路120は、タイミング制御部190から供給される信号に基づいて、複数の行制御線112の各々に供給する信号レベルをハイレベルにする。画素111に電気的に接続された行制御線112の信号レベルがハイレベルになると、その行制御線112に対応する行の画素111は、各列の垂直信号線113に、入射光に基づく信号PIXSIGを出力する。複数の垂直信号線113は、それぞれ、各列の画素111に共通に接続される。
ランプ信号生成回路170は、ランプ信号RAMPを生成する。ランプ信号RAMPは、時間の経過にともなって信号レベルが変化(単調に増加又は単調に減少)する参照信号である。ランプ信号生成回路170は、ランプ信号RAMPを、ランプ信号線171を介して、複数の比較器140の各々に供給する。ランプ信号生成回路170は、タイミング制御部190に電気的に接続されている。ランプ信号生成回路170は、タイミング制御部190から供給される信号に基づいて、ランプ信号RAMPの時間の経過にともなう信号レベルの変化を開始する。
複数の比較器140の各々は、画素アレイ110の複数の垂直信号線113の各々に対応して設けられている。すなわち、1つの比較器140は、1列の画素111に対応して設けられている。複数の比較器140の各々は、ランプ信号生成回路170と、1つの垂直信号線113に電気的に接続されている。また、複数の比較器140の各々は、対応して設けられた複数の列メモリ180の各々に電気的に接続されている。複数の比較器140の各々は、複数の列メモリ180の各々に、信号LATCHを供給する。複数の比較器140の各々は、複数列の画素111からの複数のアナログ信号PIXSIGとランプ信号RAMPとを比較した結果を示す比較結果信号LATCHをそれぞれ出力する。比較器140は、信号PIXSIGの信号レベルよりもランプ信号RAMPの信号レベルが大きくなる時刻t21(図2)で、信号LATCHをローレベルからハイレベルにする。その所定期間後の時刻t22(図2)で、比較器140は、信号LATCHをハイレベルからローレベルにする。つまり、信号LATCHは、比較器140が行う比較の結果の変化によって、信号レベルが変化する信号である。
カウンタ160は、タイミング制御部190からカウンタ160に出力されるクロック信号CLKをカウントする。このカウント動作により、カウンタ160はカウント信号である信号COUNTを生成する。カウンタ160は、カウント信号配線182と、垂直カウント配線183と、水平カウント配線184とを介し、複数の列メモリ180の各々に、信号COUNTを供給する。カウンタ160は、タイミング制御部190からカウンタ160に供給される信号CLKをカウントし、そのカウント値を信号COUNTとして出力する。信号CLKは、クロック信号である。また、信号COUNTは、前後に隣接するカウント値間のハミング距離が1であるグレイコードである。
カウント信号配線182は、カウンタ160と垂直カウント配線183との間に電気的に接続されている。垂直カウント配線183は、カウント信号配線182と水平カウント配線184との間に電気的に接続されている。水平カウント配線184は、列メモリ群181内の列メモリ180と電気的に接続されている。列メモリ群181は、全列の列メモリ180をブロック分割数N(N≧1の整数)で、分割したものである。また、カウント信号配線182と、垂直カウント配線183と、水平カウント配線184とは、カウンタ160の分解能に応じた複数ビットのバス配線となっている。
アナログデジタル変換回路300は、複数の比較器140、ランプ信号生成回路150、カウンタ160及び複数の列メモリ群181を有し、信号PIXSIGをアナログからデジタルに変換する。複数の画素111は、光電変換に基づく複数のアナログ信号PIXSIGをアナログデジタル変換回路300に出力する。
次に、図2を参照しながら、図1の撮像装置100の動作を説明する。図2の各信号は、図1に示した各信号に対応している。図2は、撮像装置100が通常動作として、入射光に基づくデジタル信号を生成する場合のタイミングチャートである。なお、信号COUNTは、5ビットのデジタル信号である。「列メモリ」は、列メモリ180がホールドするデジタル信号を表している。説明を簡単にするために、信号COUNT、及び列メモリ180がホールドする信号のそれぞれを10進数で表している。10進数で表記したそれぞれの信号は、実際には、5ビットの2進数のグレイコードで表される信号である。
時刻t20では、ハイレベルの行信号線112に電気的に接続された画素111は、垂直信号線113に、入射光に基づく信号PIXSIGを出力する。時刻t20では、タイミング制御部190の制御によって、ランプ信号生成回路150は、ランプ信号RAMPに対して、時間にともなった信号レベルの変化を開始する。また、時刻t20では、カウンタ160は、タイミング制御部190から供給される信号CLKのパルスのカウントを開始する。
時刻t21では、比較器140は、画素111が垂直信号線113に出力している信号PIXSIGとランプ信号RAMPとの信号レベルの大小関係が逆転するので、信号LATCHの信号レベルをローレベルからハイレベルにする。時刻t21から所定時間経過後の時刻t22では、比較器140は、信号LATCHの信号レベルをハイレベルからローレベルにする。列メモリ180は、信号LATCHの信号レベルがハイレベルからローレベルになった時刻t22の信号COUNTをホールドする。複数の列メモリ180の各々は、信号PIXSIGのアナログ信号に基づくデジタル信号をホールドするメモリである。列メモリ180のホールド値は、参照信号であるランプ信号RAMPが信号レベルの変化を開始する時刻t20から、比較器140の比較結果信号LATCHの信号レベルがローレベルに変化する時刻t22までの期間に基づくカウント信号の値である。
複数の列メモリ180は、ランプ信号RAMPの信号レベルが変化を開始する時刻t20から複数の比較器140の比較結果信号LATCHの信号レベルが変化する時刻t21又はt22までの期間に基づくカウント信号COUNTをそれぞれ記憶する。
時刻t23では、ランプ信号生成回路170は、ランプ信号RAMPに対して、時間にともなった信号レベルの変化を終了する。その後、水平走査回路130は、複数の列メモリ180を順次走査し、複数の列メモリ180の各々がホールドした信号を、順次、信号処理部191に出力する。
図3(a)は、列メモリ群181の構成の一例を示した図である。カウント信号COUNT[4:0]は、5ビットのデジタル信号COUNT[0]〜COUNT[4]として説明するが、これに限るものではない。列メモリ群181は、例えば100列の列メモリ180を有する。また、複数の列メモリ180の各々は、メモリ群であり、信号COUNT[4:0]の5個のビット値COUNT[0]〜COUNT[4]をそれぞれ記憶する5個のビットメモリ185を有する。ビットメモリ185は、1ビットのメモリである。列メモリ180内の5個のビットメモリ185は、水平方向に配線された水平カウント配線184により、図面の上から順に各ビット信号に対応する5ビットの信号COUNT[0]〜COUNT[4]を信号LATCHによりそれぞれホールドするように接続される。複数の水平カウント配線184は、複数の第2の信号配線である。複数の水平カウント配線184は、複数の列メモリ180の複数のビットメモリ185のうちの信号COUNT[4:0]の複数のビット値COUNT[0]〜COUNT[4]のビット番号が同じビットメモリ185同士をそれぞれ接続する。すなわち、複数の水平カウント配線184は、各々が、複数の列メモリ180同士で、ビットメモリ185同士を接続する。複数の水平カウント配線184は、信号COUNT[4:0]の複数のビット値COUNT[0]〜COUNT[4]のビット番号が同じ複数の垂直カウント配線183にそれぞれ接続される。
信号COUNT[4:0]は、カウント信号リピートバッファ201、カウント信号配線182、カウント信号バッファ202、垂直カウント配線183及び水平カウント配線184を経て、各ビットメモリ185に供給される。カウント信号配線182は、第3の信号配線であり、信号COUNT[4:0]の複数のビット値(5ビット値)を複数の垂直カウント配線183に供給する。複数の垂直カウント配線183の各々は、複数の第1の信号配線の各々である。複数の垂直カウント配線183の各々は、信号COUNT[4:0]の複数のビット値COUNT[0]〜COUNT[4]の各々のビット値を伝送する。カウント信号リピートバッファ201は、第2のバッファであり、カウント信号配線182を複数に分割するように接続される。カウント信号バッファ202は、カウント信号配線182と、垂直方向に配線された垂直カウント配線183との間に接続される。水平方向に配線された水平カウント配線184は、垂直カウント配線183とビットメモリ185との間に接続される。カウント信号バッファ202は、複数の第1のバッファであり、複数の垂直カウント配線183にそれぞれ接続される。
信号COUNT[4:0]の最下位ビットである信号COUNT[0]が接続される垂直カウント配線183は、最下位ビットの信号COUNT[0]以外のビットの信号COUNT[1]〜[4]が接続される垂直カウント配線183に挟まれるように配置される。即ち、最下位ビットの信号COUNT[0]の垂直カウント配線183を中心にし、ビット番号の昇順に左右に(外側に)交互に、最下位ビット以外の複数のビットの信号COUNT[1]〜[4]の垂直カウント配線183を振り分けるように配置している。
最下位ビットの信号COUNT[0]の垂直カウント配線183は、中心に配置され、水平カウント配線184を介して、最上の行のビットメモリ185に接続される。下位から2ビット目の信号COUNT[1]の垂直カウント配線183は、信号COUNT[0]の垂直カウント配線183の左に配置され、水平カウント配線184を介して、上から2行目のビットメモリ185に接続される。下位から3ビット目の信号COUNT[2]の垂直カウント配線183は、信号COUNT[0]の垂直カウント配線183の右に配置され、水平カウント配線184を介して、上から3行目のビットメモリ185に接続される。下位から4ビット目の信号COUNT[3]の垂直カウント配線183は、信号COUNT[1]の垂直カウント配線183の左に配置され、水平カウント配線184を介して、上から4行目のビットメモリ185に接続される。下位から5ビット目の信号COUNT[4]の垂直カウント配線183は、信号COUNT[2]の垂直カウント配線183の右に配置され、水平カウント配線184を介して、上から5行目のビットメモリ185に接続される。
本実施形態において、カウント信号リピートバッファ201と、列メモリ入力バッファ202は、必須ではない。カウント信号配線182と、垂直カウント配線183の負荷が大きい場合において、カウント信号リピートバッファ201と、列メモリ入力バッファ202のいずれかを配置することで、信号COUNT[4:0]の伝送特性を向上させることができる。
ビットメモリ185に記載している数字は、各列間の水平カウント配線184の配線長に依存する相対的な遅延時間差を意味する。その遅延時間差の前提条件を説明する。本実施形態では、説明を簡略化するために、カウント信号配線182と垂直カウント配線183による信号の遅延時間は無視して考える。そして、水平カウント配線184に接続されたビットメモリ185間の配線長差が信号遅延を生じさせるとする。隣接するビットメモリ185間の遅延時間差を1とする。図3(a)では、垂直カウント配線183と水平カウント配線184が接続された近接のビットメモリ185を基準として、水平方向のビットメモリ185の数を遅延時間差として数字で表している。そうすると、列メモリ群181の左端と右端のビットメモリ185のカウント信号の遅延時間量が大きくなる。
図3(b)は、図3(a)の各列メモリ180内の各ビット信号の遅延時間差を、信号COUNT[0]を基準として、数字で表している。本実施形態では、各列内のビット信号の遅延時間差は±2内と小さいことが分かる。
図4(a)及び(b)は、比較例によるカウント信号とメモリの接続方法を示す図である。図4(a)及び(b)では、垂直カウント配線183と水平カウント配線184を、信号COUNT[0]から信号COUNT[4]まで順に配置し、接続している。この時の各ビットメモリ185までのカウント信号の遅延時間量を図3(a)及び(b)と同様に算出した。図4(a)は遅延時間量を示し、図4(b)は各列内のビット遅延時間差を示している。図4(b)では、各列ビット信号の遅延時間差は±4と大きい。
図3(b)の本実施形態の遅延時間差が小さいということは、デジタルデータの微分非直線性誤差(DNL)を低減できる、あるいはカウント信号の高速化に適していると言える。
図5は、図3(b)の列メモリ群181の一番右端の一点鎖線で囲んで示した列メモリ180のカウント信号COUNT[0]〜COUNT[4]のタイミンチャートである。信号COUNT[1]〜COUNT[4]は、理想的な遅延時間が無い場合を破線で示し、遅延時間差を反映した場合を実線で示し、それらに付された数字は図3(b)のビットメモリ185に記載した遅延時間差である。遅延時間差の正負符号の「−」は、理想的な遅延時間が無い場合に対して、カウント信号の位相が進んでいることを示している。信号COUNT[4]の理想タイミングは、時刻t41で変化すべきであるが、本実施形態では遅延時間差が−2であり、位相が進んで、時刻t40で変化している。
信号COUNT[1]〜COUNT[4]は、グレイコードであるため、カウント値は、信号COUNT[0]と、信号COUNT[1]〜COUNT[4]の各信号との位相差で決まる。よって、信号COUNT[0]と信号COUNT[4]の遅延時間差が1LSB以内であればカウント値に影響することがない。遅延時間差が小さければ、カウント値は変わらず、また、高速化に対応できることになる。したがって、本実施形態の接続方法を用いると、微分非直線性誤差(DNL)が改善され、高速化することが可能である。
本実施形態では、最下位ビットの信号COUNT[0]の垂直カウント配線183を中心にし、ビット番号の昇順に左右に交互に、その他のビットの信号COUNT[1]〜COUNT[4]の垂直カウント配線183を振り分けるように配置している。これは、ビット番号が小さいほど信号レベルの変化点が多く、リニアリティの悪化を低減する効果が大きいためである。最下位ビットに対し、少なくともその他の1つのビットで改善する接続とすればよい。
なお、本実施形態の撮像装置100は、垂直信号線113に出力された信号PIXSIGを増幅した信号を比較器140に出力する増幅部をさらに有していても良い。また、本実施形態では、ランプ信号RAMPが、時間の経過にともなってスロープ状に信号レベルが変化する信号である。ランプ信号RAMPは、時間の経過にともなって階段状に信号レベルが変化する信号であっても良い。このように階段状に信号レベルが変化するランプ信号RAMPも、時間の経過にともなって信号レベルが変化する参照信号である。
(第2の実施形態)
本発明の第2の実施形態による撮像装置100は、図3(a)及び(b)の列メモリ群181の代わりに、図6の列メモリ群500を設けたものである。すなわち、図1の撮像装置100において、列メモリ群181の代わりに、図6の列メモリ群500を設けたものである。本実施形態の撮像装置100は、列メモリ群500を有する。以下、本実施形態(図6)が第1の実施形態(図3(a)及び(b))と異なる点を説明する。
図6は、列メモリ群500の構成例を示す図である。列メモリ群500は、複数の列メモリ180及び水平カウント配線184を有する。列メモリ180は、カウント信号のビット数に応じた複数のビットメモリ185を有する。ビットメモリ185は、1ビットのメモリである。複数の水平カウント配線184の各々は、複数列のビットメモリ185の各ビットの各々と電気的に接続されている。
本実施形態が第1の実施形態と異なる点を説明する。本実施形態では、最下位ビットの信号COUNT[0]の水平カウント配線184を中心に、ビット番号の昇順に上下に(外側に)交互に、最下位ビット以外の複数のビットの信号COUNT[1]〜COUNT[4]の水平カウント配線184が配置されている。
最下位ビットの信号COUNT[0]の水平カウント配線184は、中心に配置され、上から3行目のビットメモリ185に接続される。下位から2ビット目の信号COUNT[1]の水平カウント配線184は、信号COUNT[0]の水平カウント配線184の上に配置され、上から2行目のビットメモリ185に接続される。下位から3ビット目の信号COUNT[2]の水平カウント配線184は、信号COUNT[0]の水平カウント配線184の下に配置され、上から4行目のビットメモリ185に接続される。下位から4ビット目の信号COUNT[3]の水平カウント配線184は、信号COUNT[1]の水平カウント配線184の左に配置され、上から1行目のビットメモリ185に接続される。下位から5ビット目の信号COUNT[4]の水平カウント配線184は、信号COUNT[2]の水平カウント配線184の下に配置され、上から5行目のビットメモリ185に接続される。
第1の実施形態では、説明簡略化のため、垂直カウント配線183による遅延時間差が無いとして説明した。しかし、本実施形態の接続を用いることで、垂直カウント配線183による遅延時間差を改善することが可能である。
本実施形態では、最下位ビットの信号COUNT[0]の水平カウント配線184を中心に、ビット番号の昇順に上下に交互に、その他のビットの信号COUNT[1]〜COUNT[4]の水平カウント配線184が配置される。これは、ビット番号が小さいほど信号レベルの変化点が多く、リニアリティを改善する効果が大きいためである。最下位ビットに対し、少なくともその他の1つのビットで改善する接続とすればよい。
以上のように、垂直カウント配線183及び水平カウント配線184のいずれか又は両方は、デジタル信号COUNT[4:0]の最下位ビットCOUNT[0]の信号配線が他の複数のビットCOUNT[1]〜COUNT[4]の信号配線の間に配置される。
(第3の実施形態)
本発明の第3の実施形態による撮像装置100は、図6の列メモリ群500の代わりに、図7の列Nメモリ群600及び列Sメモリ群610を設けたものである。すなわち、図1の撮像装置100において、列メモリ群181の代わりに、図7の列Nメモリ群600及び列Sメモリ群610を設けたものである。本実施形態の撮像装置100は、列Nメモリ群600及び列Sメモリ群610を有する。以下、本実施形態が第2の実施形態と異なる点を説明する。
撮像装置100は、画素111のリセット時の信号PIXSIGをアナログデジタル変換(N変換)し、カウント値を列Nメモリ群600にホールドする。その後、撮像装置100は、画素111の非リセット時の信号PIXSIGをアナログデジタル変換(S変換)し、カウント値を列Sメモリ群610にホールドする。そして、信号処理部191は、列Nメモリ群600のカウント値と列Sメモリ群610のカウント値の差を求めるデジタルCDS(Correlated Double Sampling)処理を行い、画素111の信号成分を抽出する。ここで述べた画素111のリセットについて説明する。画素111は入射光を光電変換することで電荷を生成する光電変換部と、光電変換部が生成した電荷を蓄積する電荷保持部と、前記電荷保持部の電位に基づく信号を信号PIXSIGとして出力する出力部とを有する。画素111のリセットとは、この電荷蓄積部(出力部)の電位をリセットする動作により、出力部がリセット信号を出力する。また、画素111の非リセット時の信号PIXSIGは、光電変換部が生成した電荷を蓄積した電荷蓄積部の電位に基づいて、出力部が出力する光電変換信号を指す。
図7は、列Nメモリ群600及び列Sメモリ群610の構成例を示す図である。本実施形態(図7)が第2の実施形態(図6)と異なる点は、列メモリ群500の代わりに、列Nメモリ群600及び列Sメモリ群610が配置されている点である。
列Nメモリ群600は、複数の列Nメモリ601及び水平カウント配線184を有する。列Nメモリ601は、N変換のビット数に応じた複数の第1のビットメモリ185を有し、画素111のリセット時のアナログ信号PIXSIGに対応するデジタル信号COUNT[4:0]を記憶する。
列Sメモリ群610は、複数の列Sメモリ611及び水平カウント配線184を有する。列Sメモリ611は、S変換のビット数に応じた複数の第2のビットメモリ185を有し、画素111の非リセット時のアナログ信号PIXSIGに対応するデジタル信号COUNT[4:0]を記憶する。列Nメモリ群600と列Sメモリ群610とにおいて、カウンタ160から、最下位ビットの信号COUNT[0]を保持するビットメモリ185までの垂直カウント配線183の配線長が等しい。本実施形態では、列Nメモリ601と列Sメモリ611のビット数を同じとしているが、これに限るものではない。
本実施形態では、各ビットの相対誤差だけでなく、列Nメモリ群600と列Sメモリ群610の相対誤差も考慮しなければならない。つまり、図7に示すように、列Nメモリ群600と列Sメモリ群610が上下に配置されている場合、列Nメモリ群600と列Sメモリ群610は、上下に線対称に配置されることが望ましい。列Nメモリ群600及び列Sメモリ群610は、それぞれ、図6の列メモリ群500と同様の構成を有する。
(第4の実施形態)
上記の第1〜第3の実施形態で述べた撮像装置100は、種々の撮像システムに適用可能である。撮像システムの一例としては、デジタルスチルカメラ、デジタルカムコーダー、監視カメラなどがあげられる。図8に、撮像システムの一例としてデジタルスチルカメラに、第1〜第3の実施形態のいずれかの撮像装置100を適用した撮像システムの図を示す。
図8に例示した撮像システムは、撮像装置154、レンズ152の保護のためのバリア151、被写体の光学像を撮像装置154に結像させるレンズ152、及びレンズ152を通過する光量を可変にするための絞り153を有する。レンズ152及び絞り153は撮像装置154に光を集光する光学系である。撮像装置154は、第1〜第3の実施形態のいずれかの撮像装置100である。また、図8に例示した撮像システムは、撮像装置154より出力される出力信号の処理を行う出力信号処理部155を有する。
出力信号処理部155は、撮像装置154が出力する信号に基づいて画像を生成する。具体的には、出力信号処理部155は、その他、必要に応じて、各種の補正及び圧縮を行って、画像データを出力する。図8に例示した撮像システムは、さらに、画像データを一時的に記憶するためのバッファメモリ部156、外部コンピュータ等と通信するための外部インターフェース部(外部I/F部)157を有する。さらに、撮像システムは、撮像データの記録又は読み出しを行うための半導体メモリ等の記録媒体159、記録媒体159に記録又は読み出しを行うための記録媒体制御インターフェース部(記録媒体制御I/F部)158を有する。なお、記録媒体159は、撮像システムに内蔵されていてもよく、着脱可能であってもよい。
さらに、撮像システムは、各種演算とデジタルスチルカメラ全体を制御する全体制御・演算部1510、撮像装置154と出力信号処理部155に各種タイミング信号を出力するタイミング発生部1511を有する。ここで、タイミング信号などは、外部から入力されてもよく、撮像システムは少なくとも撮像装置154と、撮像装置154から出力された出力信号を処理する出力信号処理部155とを有すればよい。以上のように、本実施形態の撮像システムは、撮像装置154を適用して撮像動作を行うことが可能である。
なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
100 撮像装置、140 比較器、160 カウンタ、170 ランプ信号生成回路、180 列メモリ、181 列メモリ群、182 カウント信号配線、183 垂直カウント配線、184 水平カウント配線

Claims (11)

  1. アナログ信号と、時間の経過にともなって信号レベルが変化する参照信号とを比較した結果を示す比較結果信号をそれぞれ出力する複数の比較器と、
    各々が前記複数の比較器の各々に対応して設けられた複数のメモリと、
    グレイコードであって、複数のビットを有するカウント信号を、クロック信号をカウントすることによって生成するカウンタと、
    各々が、前記カウント信号の複数のビットの各々を前記カウンタから前記複数のメモリに伝送する複数の第1の信号配線とを有し、
    前記複数のメモリの各々が、対応する前記複数の比較器の各々の前記比較結果信号の信号の変化に応じて前記カウント信号を保持することによって前記アナログ信号がデジタル信号に変換されるアナログデジタル変換回路であって、
    前記複数のメモリの各々は、前記複数のビットの各ビットの信号を各々が記憶する複数のビットメモリを有し、
    前記アナログデジタル変換回路は、前記複数のメモリ同士で、前記ビットメモリ同士を各々が接続する複数の第2の信号配線をさらに有し、
    前記複数の第2の信号配線の各々は前記複数の第1の信号配線の各々に接続され、
    前記複数の第1の信号配線及び前記複数の第2の信号配線のいずれかにおいて、又は両方において、前記カウント信号の最下位ビットの信号を伝送する信号配線が、各々が前記カウント信号の前記最下位ビットとは別のビットの信号を伝送する複数の信号配線の間に配置されることを特徴とするアナログデジタル変換回路。
  2. 前記最下位ビットの第1の信号配線を中心にし、ビット番号の昇順に外側に交互に、各々が前記カウント信号の前記最下位ビットとは別のビットの信号を伝送する複数の第1の信号配線が配置されることを特徴とする請求項1記載のアナログデジタル変換回路。
  3. 前記最下位ビットの第2の信号配線を中心にし、ビット番号の昇順に外側に交互に、各々が前記カウント信号の前記最下位ビットとは別のビットの信号を伝送する複数の第2の信号配線が配置されることを特徴とする請求項1又は2記載のアナログデジタル変換回路。
  4. さらに、前記複数の第1の信号配線にそれぞれ接続される複数の第1のバッファを有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のアナログデジタル変換回路。
  5. さらに、前記デジタル信号の複数のビット値を前記複数の第1の信号配線に供給する第3の信号配線と、
    前記第3の信号配線に接続される第2のバッファとを有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載のアナログデジタル変換回路。
  6. 請求項1〜5のいずれか1項に記載のアナログデジタル変換回路と、
    各々が光電変換に基づく前記アナログ信号を前記アナログデジタル変換回路に出力する複数の画素と
    を有することを特徴とする撮像装置。
  7. 前記複数の画素の各々は前記アナログ信号を出力する出力部を有し、
    前記複数の画素の各々の前記出力部は前記アナログ信号として、入射光に基づく光電変換信号と、前記出力部がリセットされたことによって出力するリセット信号とをそれぞれ出力し、
    前記複数のメモリの各々は、
    前記リセット信号を変換したデジタル信号を保持する第1のメモリと、
    前記光電変換信号を変換したデジタル信号を保持する第2のメモリとを有することを特徴とする請求項6記載の撮像装置。
  8. 前記第1のメモリと前記第2のメモリとのそれぞれにおいて、
    前記複数の第1の信号配線のうち、前記カウント信号の最下位ビットの信号を伝送する前記第1の信号配線が、各々が前記カウント信号の前記最下位ビットとは別のビットの信号を伝送する複数の第1の信号配線の間に配置されていることを特徴とする請求項7記載の撮像装置。
  9. 前記第1のメモリと前記第2のメモリとのそれぞれが前記複数のビットメモリを有し、
    前記第1のメモリと前記第2のメモリとのそれぞれにおいて、
    前記最下位ビットの第1の信号配線を中心にし、ビット番号の昇順に外側に交互に、各々が前記カウント信号の前記最下位ビットとは別のビットの信号を伝送する複数の第1の信号配線が配置されることを特徴とする請求項8記載の撮像装置。
  10. 前記第1のメモリと前記第2のメモリとにおいて、
    前記カウンタから、前記最下位ビットの信号を保持する前記ビットメモリまでの前記第1の信号配線の配線長が等しいことを特徴とする請求項9記載の撮像装置。
  11. 請求項6〜10のいずれか1項に記載の撮像装置と、
    前記撮像装置が出力する信号に基づいて画像を生成する出力信号処理部とを有することを特徴とする撮像システム。
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