JP2016050796A - 自動分析装置用反応セル、その反応セルを搭載した自動分析装置、及びその自動分析装置を用いた分析方法 - Google Patents

自動分析装置用反応セル、その反応セルを搭載した自動分析装置、及びその自動分析装置を用いた分析方法 Download PDF

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Abstract

【課題】反応セルの気泡付着を抑制し、かつ特定の分析項目でのみコート剤による反応セルの防汚を可能とすること。
【解決手段】自動分析装置を、サンプルディスク機構と、反応セルを収納する反応ディスクと、試薬ディスク機構と、サンプルを反応セルに供給するサンプル供給用分注機構と、試薬を反応セルに所定量供給する試薬供給用分注機構と、サンプルと試薬との混合液が形成された反応セルに光を照射して反応セルを透過した光を検出して混合液の光学特性を検出する検出部と、反応セルに防汚液を供給して反応セルの内壁面に防汚膜を形成する防汚膜形成機構と、剥離液を反応セルに供給して防汚膜を反応セルの内壁面から剥離させる防汚膜剥離機構とを備えて構成した。
【選択図】図６Ａ

Description

本発明は、自動分析装置用反応セル、その反応セルを搭載した自動分析装置、及びその自動分析装置を用いた分析方法に関する。
医療診断用の臨床検査においては、血液や尿などの生体サンプル中の蛋白質、糖、脂質、酵素、ホルモン、無機イオン、疾患マーカー等の生化学分析や免疫学的分析を行う。臨床検査では、複数の分析項目を信頼度高くかつ高速に処理する必要があるため、その大部分を自動分析装置で実行している。従来、自動分析装置としては、例えば、血清等のサンプルに所望の試薬を混合して反応させた反応液を分析対象とし、その吸光度を測定することで生化学分析を行う生化学分析装置が知られている。
自動分析装置の構成は、たとえば特許４５８４８７８号公報（特許文献１）で述べられている。この公報では、「生化学分析装置は、サンプル及び試薬を収納する容器、サンプル及び試薬を注入する反応セルを備え、サンプル及び試薬を反応セルに自動注入する機構と、反応セル内のサンプル及び試薬を混合する自動攪拌機構、反応中または反応が終了したサンプルの分光スペクトルを計測する機構、分光スペクトル計測を終了後の反応溶液を吸引・排出し反応セルを洗浄する自動洗浄機構等を備えて構成されている。」とある。反応セルに用いられる材質としては、特開２００５−３０７６３号公報（特許文献２）に記載されているように、ガラスまたは合成樹脂が一般的である。
ところで、反応セルを繰り返し長期間使用したときの課題として、特開２０１１−２１９５３号公報（特許文献３）には、「反応容器（反応セルと同義）を長期間に亘って使用していると、被検試料に含まれる蛋白質、脂質等や、試薬に含まれるラテックス等の残留物が蓄積して反応容器内が汚染され、その汚染された部分へ気泡が付着しやすくなる。」とある。
合成樹脂表面に蛋白質をはじめとする生体関連物質が吸着する事象は、一般に知られており、たとえば特開２００３−２２６８９３号公報(特許文献４)では、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル、ポリカーボネートなどの疎水性の合成樹脂の表面に蛋白質が疎水性相互作用により吸着することが述べられている。
特開２００９−２１６５７２号公報（特許文献５）には、合成樹脂表面への生体関連物質の汚染（非特異吸着）を防止する方法が開示されている。この公報には、「本実施形態に係る生体関連物質の非特異吸着防止コート剤においては、繰り返し単位（Ｂ）の疎水性結合によって、容器・器具などの壁面に水溶性共重合体（Ｐ）が吸着し、繰り返し単位（Ａ）（水溶性共重合体（Ｐ）が繰り返し単位（Ｃ）を含む場合、さらに繰り返し単位（Ｃ））によって壁面を親水性することにより、タンパク質などの非特異吸着を防止することができる。」と述べられている。すなわち、汚染を防止したい基材（容器・器具）に、非特異吸着防止コート剤を疎水性結合で吸着させている。
また、反応セルに疎水性の合成樹脂を用いたときの課題として、前記特許文献１には、「反応セル容量の微量化を進める実験の中で、気泡の影響が顕在化してくることが分かってきた。この問題の原因は、反応セルの素材に用いている透明樹脂の疎水性である。」と述べられている。この課題に対して、特許文献１には、「反応セルの内壁表面を親水化してみたところ気泡付着が起こらなくなることを確認した。」とある。
特許４５８４８７８号公報 特開２００５−３０７６３号公報 特開２０１１−２１９５３号公報 特開２００３−２２６８９３号公報 特開２００９−２１６５７２号公報
自動分析装置は、試薬、サンプルの微量化がより一層求められており、反応セルの汚染低減と気泡付着抑制がますます重要となっている。また、より多様な分析項目を分析したいというユーザニーズのもと、多様な試薬が用いられてきている。これに伴い、反応セルを汚染する可能性のある物質も多様になってきている。
反応セル材料にガラス（親水性）や、親水性の合成樹脂を用いた場合、気泡付着の抑制に対して有効であるが、検査液が毛管現象で反応セルの縁まで登り、隣接する反応セルの試薬と混ざり合う相互汚染が起こり易くなる問題がある。
疎水性樹脂を基材とした容器においては、特許文献５で、生体関連物質による汚染を防止する技術として、疎水性樹脂表面に疎水結合を介して吸着する非特異吸着防止コート剤について記載されている。しかしながら、一旦基材の表面に吸着したこの非特異吸着防止コート剤を、剥離する方法については開示がない。
ところで、自動分析装置では、サンプルに所望の試薬を混合して反応させるが、コート剤が反応セル内に存在した場合、分析項目（試薬の種類）によっては、反応セル内のコート剤がサンプルと試薬の反応に作用し、分析信頼性が低下する可能性がある。この対策として、問題となる分析項目を分析する事前に、コート層を反応セル表面から剥離して、反応セル内から排出することが考えられる。このとき、反応セル表面に吸着したコート層は、自動分析装置で使用可能な水系洗浄剤などで容易に剥離できること必要である。
以上を鑑みて本発明が解決しようとする課題は、以下となる。すなわち、反応セルの気泡付着を抑制し、かつ特定の分析項目でのみコート剤による反応セルの防汚を可能とすることである。
上記課題を解決するために、本発明では、自動分析装置を、検査対象であるサンプルを収容するサンプルセルを複数収納するサンプルディスク機構と、複数の反応セルを収納する反応ディスクと、試薬を収容する試薬容器を収納する試薬ディスク機構と、サンプルディスク機構のサンプルセルに収容されたサンプルを吸引して反応ディスクの反応セルに所定量供給するサンプルノズルを備えたサンプル供給用分注機構と、試薬ディスク機構の試薬容器に収容された試薬を吸引して反応ディスクの反応セルに所定量供給する試薬用分注ノズルを備えた試薬供給用分注機構と、サンプル供給用分注機構により供給されたサンプルと試薬供給用分注機構により供給された試薬との混合液が形成された反応セルに光を照射して反応セルを透過した光を検出して混合液の光学特性を検出する検出部と、反応ディスク上で、サンプルと試薬とが供給された反応セルの内壁面がサンプルまたは試薬又はサンプルと試薬との混合液により汚染されるのを防止するための防汚液を反応セルに供給し、反応セルの内壁面に防汚膜を形成後に防汚液を反応セルから排出する防汚膜形成機構と、反応ディスク上で、防汚膜が形成された反応セルに防汚膜を反応セルの内壁面から剥離させるための剥離液を反応セルに供給し、防汚膜を反応セルの内壁面から剥離させた剥離液を反応セルから排出する防汚膜剥離機構と、全体を制御するコンピュータと、このコンピュータに分析に関する情報を入力する操作パネルとを備えて構成した。
また、上記課題を解決するために、本発明では、サンプルディスク機構に収納されたサンプルセルに収容されたサンプルをサンプル供給用分注機構のサンプルノズルで吸引し、このサンプルノズルで吸引したサンプルを反応ディスクに収納された反応セルに供給し、試薬ディスク機構の試薬容器に収容された試薬を試薬供給用分注機構の試薬用分注ノズルで吸引し、この試薬用分注ノズルで吸引した試薬を反応ディスクの反応セルに供給し、供給されたサンプルと試薬との混合液が形成された反応セルに光を照射して反応セルを透過した光を検出して得た信号に基づいてサンプルを分析する自動分析装置を用いた分析方法において、サンプルノズルで吸引したサンプルを反応ディスクに収納された反応セルに供給する前に反応セルに防汚液を供給して反応セルの内壁面に防汚膜を形成し、サンプルを分析したのちに反応セルから混合液を排出し、この混合液を排出した反応セルに剥離液を供給して反応セルの内壁面に形成した防汚膜を剥離するようにした。
更に、上記課題を解決するために、本発明では、自動分析装置用のサンプルと試薬とを注入して混合液を作る反応セルを、側壁面として光を透過する対向する１対の壁面を有し、この１対の光透過壁の内側表面のうちの少なくとも混合液と接する領域は親水性の表面で形成されるようにした。
本発明によれば、反応セルの気泡付着を抑制し、かつ特定の分析項目でのみコート剤による反応セルの防汚が可能になった。これにより、反応セルの定期的な洗浄など、使用者が実施するメンテナンスの負担が軽減できる。また、汚染による分析信頼性の低下も回避できる。また、特定の分析項目でのみ防汚を行うことで、それ以外の項目で、コート剤の副作用により分析信頼性が低下することを防止できる。また、試薬の微量化にも寄与し、自動分析装置のランニングコスト低減にも貢献できる。
上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
従来の反応セルの構成を示す反応セルの断面の斜視図である。 従来の反応セルの構成を示す反応セルの断面の斜視図である。 本発明にかかる反応セルの構成を示す反応セルの断面の斜視図である。 本発明にかかる反応セルの部分断面図である。 本発明にかかる防汚効果を表面プラズモン共鳴測定装置で評価するセンサチップの断面図である。 本発明の実施例１にかかる自動分析装置の概略の構成を示す斜視図である。 本発明の実施例１にかかる自動分析装置の防汚膜形成機構のコート剤注入ノズルの概略の構成を示す正面図である。 本発明の実施例１にかかる自動分析装置の動作フローを示すフロー図である。 本発明の実施例１にかかる自動分析装置の反応セル内の溶液の光学特性を検出する検出部の概略の構成を示すブロック図である。 本発明の実施例１にかかる自動分析装置でセルスキップを行う場合の動作フローを示すフロー図である。 本発明の実施例２にかかる自動分析装置の概略の構成を示す斜視図である。
以下、本発明を詳細に説明する。なお、本発明は下記に説明する例に限定されるものではない。本発明による自動分析装置の実施例を説明する前に、本発明に用いる反応セルについて以下に説明する。
＜反応セルの構成＞
自動分析装置では、前記特許文献１で述べられているように、複数の反応セルを有するセルブロックを用いるなどして、多数の反応セルを自動分析装置に配置する。以下では、分かりやすく説明するために一個の反応セルについて説明する。
従来の反応セル４０の斜視外観図の一例を図１に示す。従来の反応セル４０は、非測光面外壁部４１１、非測光面内壁部４１２、測光面外壁部４１３、測光面内壁部４１４、底面４１５からなる。また、図２に示すように、反応セル４０は、厚さ４５０の壁面で周囲が囲まれ、下端に閉口部４３０、上端に開口部４４０を有する。
本発明による自動分析装置にかかる反応セル４の材料は、公知の合成樹脂を用いることができる。具体的には、ポリシクロオレフィン、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、ポリスチレン樹脂から選択される１種であればかまわない。低吸水率、低透湿度、高い全光線透過率、低屈折率、低成型収縮率の観点からポリシクロオレフィンを選択することが望ましい。
本発明による自動分析装置にかかる反応セル４の斜視外観図を図３に示す。反応セルは、測光面内壁部１１４のうち底面１１５から境界線１１９までの部分１２０に局所的に親水化処理が施されている。局所的な親水化処理方法には公知の方法が適用でき、たとえば前記特許文献１で開示されているコロナ放電処理による親水化方法がある。境界線１１９より開口部１４０側の領域を疎水性とすることにより、試薬やサンプルの濡れ上がりを防止することができる。その結果、自動分析装置に反応セル４を隣接させて多数装着したときに、反応セル４間の試料の相互汚染を防止して、データの信頼性を向上させることができる。
親水化領域１２０にはさらに、防汚膜がコーティングされており、反応セル４の内壁面１１４及び１１２の表面の汚染を防止することができる。防汚膜としては、公知の水溶性樹脂を用いることができる。たとえば、ポリエチレングリコール、ポリビニルピロリドンなどが挙げられる。また、また、血清などに含まれる蛋白質による汚染を防止する目的に、公知のブロッキング剤を使用してもよい。たとえば、ウシ血清アルブミンなどが可能である。
防汚膜を形成した親水化領域１２０の断面図を図４に示す。反応セル４の基材１５０は、ポリシクロオレフィン１５１と、親水化層１５２からなる。防汚膜１６０は、親水性部１６１を持つ。防汚膜１６０は、親水化層１５２の表面に、水素結合を介して吸着する。水素結合はイオンやアルカリにより弱められるため、吸着した防汚膜１６０は、アルカリ洗浄剤をはじめとする水系洗浄剤で洗うことにより、親水化層１５２から容易に剥離させることが可能である。
＜水溶性樹脂による防汚膜のコーティング処理−１＞
コーティング処理をする反応セルの基材として、ポリシクロオレフィンを用いた。なお、本実施例ではセルの壁面を模擬した厚さ１ｍｍの平板状の材料を用いたが、前記したセル形状においても、実施可能である。以下に（１）親水化処理、（２）防汚膜形成、（３）剥離方法について述べる。
（１）親水化処理
表面が疎水性のポリシクロオレフィン平板に対して、エキシマ光（波長１７２ｎｍ）を照射し、表面を親水化した。この親水化により、ポリシクロオレフィン平板表面の水の接触角は、９５度から７５度に低下した（詳細後述）。この例では、平板状の材料を処理するために、エキシマ光を用いたが、実際のセル形状では、部分的に親水化処理できる公知の方法を実施することができる。たとえば前記特許文献１で開示されているコロナ放電処理による親水化方法がある。エキシマ光照射、コロナ放電処理いずれの処理においても疎水性の合成樹脂表面に親水性の官能基が導入される。
（２）防汚膜形成
ポリシクロオレフィン平板を、アルカリ洗浄剤に１分間浸漬した後、水でリンスした。以上によりポリシクロオレフィン平板を清浄化した。コート剤として、平均分子量５，０００のアミノ末端基を有するポリエチレングリコール（以下、ＰＥＧ）を用いた。ポリシクロオレフィン平板を濃度１ｗｔ％のＰＥＧ水溶液に１０秒間浸漬した後、水でリンスした。
（３）防汚膜剥離
防汚膜を形成後の平板を剥離液に浸漬し、防汚膜の剥離性を評価した。剥離法としてイオン、またはアルカリによる以下２通りの方法で評価した。
（３−１）生理食塩水処理（イオン）
生理食塩水（濃度０．９ｗ／ｖ％の塩化ナトリウム水溶液）に１０分間浸漬した後、水でリンスした。
（３−２）アルカリ洗浄剤処理（アルカリ）
アルカリ洗浄剤に１分間浸漬した後、水でリンスした。
（４）接触角測定
上記親水化処理、防汚膜形成、防汚膜剥離による表面の濡れ性変化を水の接触角で分析した。表面に純水を０．５μｌ滴下し、θ／２法で面内３点の接触角平均値を得た。測定は同一平板を用いて、上記親水化処理、防汚膜形成、防汚膜剥離の各処理それぞれが終了した後の表面に対して行った。
表１に水の接触角測定結果を示す。未処理のポリシクロオレフィンに対して親水化処理をすると、接触角が９５度から７５度に低下し、表面が親水化したとことを確認した。さらに、清浄化処理すると、接触角が７５度から５５度に低下した。
この表面にコーティング処理をすると、接触角が５５度から６９度に上昇した。これは、親水化したポリシクロオレフィン表面にＰＥＧがコーティングされたことによる。
上記のようにして防汚膜を形成した後、生理食塩水処理した場合、接触角変化はみられなかった。これは、生理食塩水に対して、防汚膜が剥離しなかったことを意味する。
ところで、自動分析装置のサンプルとなる血清、尿には当然イオンが含まれるため、上記生理食塩水処理による接触角の測定結果は、防汚膜形成後にサンプルを反応セル内に注入しても防汚膜は剥離しないことが期待される。
上記アルカリ洗浄剤処理をすると接触角が６９度から５５度に低下し、コーティング処理前（清浄化処理前）の接触角とほぼ同等の値となった。これは、親水化したポリシクロオレフィン表面にコーティングしたＰＥＧがアルカリ洗浄剤処理により剥離したためと考えられる。
Figure 2016050796
以上の結果から、親水化処理したポリシクロオレフィン平板に防汚膜を形成し、剥離液を用いて防汚膜を剥離可能なことを実証した。上記では、平板のポリオレフィンに防汚膜を形成、剥離する方法について述べたが、この方法は、反応セル形状のポリシクロオレフィンにも適用できる。反応セル形状の親水化処理には、たとえば前記特許文献１で開示されているコロナ放電処理が適用できる。親水化処理した反応セルに、上記で説明した防汚膜形成、防汚膜剥離方法を適用すれば、反応セル形状のポリオレフィンに対して防汚膜の形成、剥離が可能となる。
なお、上記に説明した例では、疎水性材料であるポリシクロオレフィンに防汚膜をコーティングする方法を示したが、表面が親水性であるガラスにコーティング処理を施してもよい。このとき上記の（１）親水化処理は省略してもよい。
＜水溶性樹脂による防汚膜のコーティング処理−２＞
上記に説明した例の（２）においてコート剤を平均分子量６３０、０００のポリビニルピロリドン（以下ＰＶＰ）とした以外は、上記に説明した例における（１）乃至（３）と同様の操作を行った。表２に水の接触角測定結果を示す。ＰＶＰにおいても、ＰＥＧと同様に、親水化したポリシクロオレフィンに防汚膜形成が可能であること（コーティング処理により接触角が低下）、生理食塩水処理で防汚膜が剥離しないこと（生理食塩水処理では接触角不変）、アルカリ洗浄剤処理で防汚膜が剥離可能なこと（アルカリ洗浄剤処理で接触角がコーティング処理前に戻ること）を確認した。
Figure 2016050796
防汚膜形成、剥離後の表面の状態を詳しく調べるため、エックス線光電子分光（以下ＸＰＳ）装置を用いて、表面分析を行った。ＰＶＰは分子構造に窒素をもつため、各処理を行ったあとの表面の窒素の存在比率を比較した。なお、ここでは１枚のポリシクロオレフィン平板を用いて追跡試験を行った。
ＸＰＳ分析の結果を表３に示す。まず、清浄化処理した表面では、窒素は未検出であった。ＰＶＰコーティング処理した表面では、窒素が２．３％検出され、ＰＶＰが明らかに親水化処理したポリシクロオレフィン平板に吸着していることが分かった。また、生理食塩水処理した表面では、窒素の存在比率がＰＶＰコーティング処理した表面のときと同等で、生理食塩水処理によってＰＶＰが剥離しないことを確認した。また、アルカリ洗浄剤処理した表面では、窒素は未検出であり、ＰＶＰが剥離されたことを確認した。
Figure 2016050796
＜ＰＥＧによる防汚効果の評価＞
表面に防汚処理を施した試料(センサチップ)の防汚効果の評価に表面プラズモン共鳴（ＳＰＲ）測定装置を用いた。ＳＰＲ測定装置は、センサチップ表面近傍の屈折率変化を液中で光学的に測定する装置である。センサチップ表面に蛋白質などの有機物が吸着した場合、吸着した物質の質量に応じて表面近傍の屈折率が変化する。屈折率変化と質量変化の相関は既知であり、屈折率変化量から吸着物の質量を知ることができる。
以下に示した手順で防汚効果を評価した。
（２１）センサチップ表面への合成樹脂の成膜
最表面が金のセンサチップ表面を、前記エキシマ光を１分間照射して清浄化した。清浄化したセンサチップ表面に、有機溶剤に溶解したポリシクロオレフィン溶液をスピンコートで塗布した。以上により最表面にポリシクロオレフィン層３０３が形成されたセンサチップ３０４を得た。
以上述べた手順で得られたセンサチップ３０４の断面の模式図を図５に示す。センサチップ３０４は、ガラス基板３０１、金膜３０２、ポリシクロオレフィン層３０３で構成される。
ＳＰＲ測定では、センサチップ３０４の裏面側であるガラス基板３０１の面３１１の側から光を照射し、面３１１の側からみて反対側の金膜３０２表面に染み出すエバネッセント波を利用して屈折率変化を測定する。エバネッセント波の染み出し範囲は、金膜３０２表面から数１００ｎｍであり、ポリシクロオレフィン層３０３の膜厚は染み出し範囲より薄くする必要がある。上記で説明した方法で得られたポリシクロオレフィン層３０３の膜厚は、段差計による測定からおよそ３０ｎｍであった。
（２２）親水化処理
ポリシクロオレフィン層３０３が成膜されたセンサチップ３０４に対して、エキシマ光（波長１７２ｎｍ）を照射して、ポリシクロオレフィン表面を親水化した。
（２３）防汚膜形成１＜清浄化処理＞
上記で得られたセンサチップ３０４をＳＰＲ測定装置に搭載した。なお、ＳＰＲ装置のセンサチップ３０４への送液流速は常に２０μｌ毎分とした。まず、ＳＰＲ測定装置の検出信号(以下、ＳＰＲシグナルと記す)が安定化するまでセンサチップ３０４の表面に水を送液した。ＳＰＲシグナルが安定化した後、アルカリ洗浄剤を５分間、計１００μｌ送液してセンサチップ３０４のポリシクロオレフィン層３０３の表面を清浄化した後、その後再度水を送液した。
（２４）防汚膜形成２＜コーティング処理＞
ポリシクロオレフィン層３０３の表面の清浄化処理が終了し、ＳＰＲシグナルが安定化した後、コート剤として濃度１ｗｔ％のＰＥＧを５分間、計１００μｌセンサチップ３０４のポリシクロオレフィン層３０３の表面に送液し、その後、再度水を送液した。
（２５）モデル汚染の吸着量測定
防汚膜形成後、リン酸緩衝液（ＰＢＳ）を送液した。ＳＰＲシグナルが安定化した後、モデル汚染（詳細後述）を５分間、計１００μｌ送液した。モデル汚染を送液した後、再度リン酸緩衝液を送液した。その後、アルカリ洗浄剤を５分間、計１００μｌ送液した後、再度リン酸緩衝液を送液した。リン酸緩衝液の送液開始５分後のＳＰＲシグナルと、モデル汚染送液直前のＳＰＲシグナルの差により、センサチップ表面の汚染吸着量を求めた。
（２６）モデル汚染
モデル汚染として、蛋白質汚染を模擬したウシ血清アルブミン（以下、ＢＳＡ）を濃度４０ｍｇ／ｍｌ溶解したリン酸緩衝液を用いた。また、ラテックス試薬汚染を模擬するため、表面をアミノ基で修飾した粒径０．１μｍのポリスチレンラテックの２．５ｗ／ｖ％懸濁液（以下アミノラテックス）を用いた。評価に用いるセンサチップはコート剤、モデル汚染の種類を変えるごとに交換した。
＜ＰＶＰによる防汚効果の評価＞
上記に説明したＰＥＧによる防汚効果の評価における（２４）の防汚膜形成２でコート剤をＰＶＰとした以外は、ＰＥＧによる防汚効果の評価における（２１）乃至（２６）と同様の操作を行って、センサチップ表面の汚染吸着量を求めた。
［比較例１］
ＰＥＧによる防汚とＰＶＰによる防汚との効果を評価するために、比較例として、センサチップ３０４を用いて、上記した（２３）の防汚膜形成２＜コーティング処理＞を実施しないこと以外は、ＰＥＧによる防汚効果の評価における（２１）乃至（２６）と同様の操作を行った。
ＰＥＧによる防汚効果とＰＶＰによる防汚効果と比較例１の防汚効果の評価結果を表４に示す。
ＢＳＡをモデル汚染とした場合、ＰＥＧによる防汚とＰＶＰによる防汚の効果は、いずれも吸着量が０．０１ｎｇ／ｍｍ２未満（ＳＰＲ測定装置の検出下限以下）であった。一方比較例１では、吸着量が０．１３ｎｇ／ｍｍ２であった。
また、アミノラテックスをモデル汚染とした場合、ＰＥＧによる防汚の効果は、吸着量が０．０１ｎｇ／ｍｍ２未満であった。一方、ＰＶＰによる防汚、比較例１では、吸着量がそれぞれ０．５３ｎｇ／ｍｍ２、０．４８ｎｇ／ｍｍ２であった。
以上の結果から、ＰＥＧによる防汚では、ＢＳＡ、アミノラテックス試薬に対して防汚効果があることを確認した。また、ＰＶＰによる防汚では、ＢＳＡに対して防汚効果があることを確認した。
Figure 2016050796
なお、上記に説明した評価の例では、ポリシクロオレフィンを例に説明したが、前述したように、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル、ポリカーボネートなどの合成樹脂にたいしても本発明による防汚は適用できる。
上記に説明したように、反応セルの測光面の内壁表面は、自動分析装置の光源からの光が照射される領域が親水性の表面であるとともに、この親水性の表面に水溶性樹脂をコーティングされたことを特徴とする。水溶性樹脂は、水素結合を介して前記親水性の表面に吸着するため、アルカリ洗浄剤をはじめとする水系洗浄剤で容易に剥離可能となる。
以上に説明した防汚の対策を施した反応セルを装着した自動分析装置の実施例を以下に示す。
実施例１にかかる自動分析装置１００の構成例を図６Ａに示す。
図６Ａに示した自動分析装置１００は、概略、サンプルディスク機構１、サンプルノズル２７を備えたサンプル供給用分注機構２、反応ディスク３、試薬ディスク機構５、試薬用ノズル２８を備えた試薬ピペッティング機構７、及びインターフェース２３を介して全体を制御するコンピュータ１９を備えて構成されている。
サンプルディスク機構１には多数のサンプルセル２５が配置されている。ここでは、ディスク状の機構部に搭載されたサンプル収納部機構であるサンプルディスク機構の例で説明するが、サンプル収納部機構の他の形態としては分析装置で一般的に用いられているサンプルラック又はサンプルホルダー状の形態であってもよい。また、ここで言うサンプルとは、反応ディスク３内の反応セル４で反応させるために使用する被検査液体のことを指し、血清や尿といった採集検体原液でもよく、またそれを希釈や前処理等の加工処理をした溶液であってもよい。
サンプルセル２５内に収容されたサンプルは、サンプル供給用分注機構２のサンプルノズル２７によって抽出され、反応ディスク３内の所定の反応セル４に注入される。
試薬ディスク機構５は、多数の試薬容器６を備えている。また、試薬ディスク機構５には、試薬供給用分注機構７が配置されており、試薬は、この試薬供給用分注機構７の試薬ノズル２８によって、吸引され反応ディスク３内の所定の反応セル４に注入される。
図６に示した自動分析装置１００では、試薬ディスク機構５及びそれに付随する機構を２式備えている。
自動分析装置１００には、分光光度計１０と光源２６が装備されており、分光光度計１０と光源２６の間に、測定対象を収容する反応ディスク３が配置される。この反応ディスク３の外周上には、例えば、内壁が親水化された１２０個の反応セル４が設置されている。また、反応ディスク３の全体は、恒温槽９によって、所定の温度に保持されている。反応セル４に供給された検体と試薬は、撹拌機構8により撹拌される。
また、自動分析装置１００には、防汚膜形成機構３０と防汚膜剥離機構３４とが装備されている。防汚膜形成機構３０は、コート剤注入用ノズル３１とコート剤吸引用ノズル３２とを備え、防汚膜剥離機構３４は、剥離液注入用ノズル３５と剥離液吸引用ノズル３６を備えている。
１１は反応セル洗浄機構であり、洗浄剤供給部１３から供給された洗浄剤を、反応ディスク３の外周上に配置された反応セル４に供給して反応セル４の内部を洗浄する。洗浄後の反応セル４内の洗浄剤は、吸引ノズル１２で吸引されて反応セル４から排出される。
インターフェース２３には、コンピュータ１９、Ｌｏｇ変換器及びＡ／Ｄ変換器１８、試薬用ピペッタ１７、洗浄水ポンプ１６、サンプルピペッタ１５、プリンタ２０、ＣＲＴ２１、記憶装置２２としてのフロッピー（登録商標）ディスクやハードディスク、操作パネル２４、コンピュータ１９が接続されている。分析装置１００の各部は、インターフェース２３を介してコンピュータ１９により制御される。
上述の構成において、操作者は、操作パネル２４を用いて分析依頼情報の入力を行う。操作者が入力した分析依頼情報は、コンピュータ１９内に記憶される。マイクロコンピュータ３８のメモリには、コーティングの対象となる分析項目が記憶されており、記憶された内容と操作パネル２４から入力された分析依頼情報に基づき、マイクロコンピュータ３８は、防汚膜形成機構３０と防汚膜剥離機構３４に処理をさせる。これにより、特定の分析項目でのみ特定の分析項目でのみコート剤による反応セルの防汚が可能となる。
防汚膜形成機構３０のコート剤注入用ノズル３１の構成を図６Ｂに示す。コート剤注入用ノズル３１は、ノズル部３１１、ノズル上下駆動部３１２、ノズル支持アーム３１３、コート剤供給管３１４を備えて構成される。
コンピュータ１９は防汚膜形成機構３０を制御して、所定の反応セル４がコート剤注入用ノズル３１の位置に到達したときに、ノズル支持アーム３１３に支持されたノズル部３１１をノズル上下駆動部３１２で下降させる。この状態で、コート剤供給管３１４を介してコート剤供給・回収部３３から供給されたコート剤をノズル部３１１から反応セル４内に注入する。なお、コート剤供給・回収部３３の内部には、複数種類のコート剤を貯蔵し、分析項目に応じて反応セル４に供給するコート剤の種類をかえてもよい。
反応セル内にコート剤を所定の量供給した後、コート剤供給・回収部３３からのコート剤の供給を停止し、ノズル上下駆動部３１２で駆動してノズル部３１１を上昇させる。所定の時間が経過して反応セル４の内部に防汚膜を形成後、反応セル４内のコート剤をコート剤吸引用ノズル３２により吸引する。なお、ノズル部３１１の上下動作は、反応容器洗浄機構１１などの他の機構と同期させてもよく、その場合、上下駆動部は複数の機構で共通化できる。
更に、コンピュータ１９は防汚膜剥離機構３４を制御して、剥離液供給・回収部３７から供給された剥離液を剥離液注入用ノズル３５で反応セル４内に注入し、防汚膜剥離後の反応セル４内の剥離液を剥離液吸引用ノズル３６により吸引する。なお、剥離液供給・回収部３７は、複数種類の剥離液を貯蔵し、反応セル４の内部に形成された防汚膜の種類に応じて、反応セル４に供給する剥離液の種類をかえてもよい。コート剤吸引用ノズル３２、剥離液注入用ノズル３５、剥離液吸引用ノズル３６の構成は、図６Ｂに示したコート剤注入用ノズル３１の構成と基本的に同じであるので、詳細な構成の図誌を省略する。
上記した構成において、サンプルセル２５に入れられ、検体収納部機構１の所定の位置にセットされた測定対象検体は、コンピュータ１９に記憶された分析依頼情報に従って、サンプルピペッタ１５及び検体供給用分注機構２のサンプルノズル２７によって、反応セル４に所定量分注される。サンプルを反応セル４に所定量分注したサンプルノズル２７は洗浄され、次のサンプルの分注に使用される。
上述の構成において、操作者は、操作パネル２４を用いて分析依頼情報の入力を行う。操作者が入力した分析依頼情報は、上述の通り、コンピュータ１９内のメモリと物理洗浄を行うサンプルの検体番号を記憶する記憶部３８に記憶される。
上記の構成の自動分析装置１００の動作フローを図７に示す。
操作パネル２４は操作者からの分析依頼情報の入力を受け、コンピュータ１９内のメモリに分析依頼情報が記憶されて自動分析装置１００の動作が開始する。
ステップＳ７０１で、反応セル洗浄機構１１が、洗浄剤供給部１３、洗浄水ポンプ１６から洗浄剤、水の供給を受け、反応セル４内を洗浄する。反応セル４内の洗浄剤、水は吸引ノズル１２により吸引される。
ステップＳ７０２で、反応セル４内に、図示していないブランク水注入機構によりブランク水が注入される。反応ディスク３が回転する過程で、反応セル４が分光光度計１０と光源２６の間を通過するたびに、分光光度計１０によって測光される。このとき測定される吸光度は、ブランク値として用いられる。
ステップＳ７０３で、反応セル４内に注入されたブランク水は図示していないブランク水吸引ノズルで吸引される。
ステップＳ７０４で、記憶部３８内のメモリの情報と分析依頼情報に基づき、コンピュータ１９が反応セル４を防汚膜形成機構３０に処理をさせる防汚膜コーティングの対象であるか否か決定する。
防汚膜コーティングの対象である分析項目の場合(ステップＳ７０４でＹｅｓの場合)、ステップＳ７０５で、防汚膜形成機構３０を制御して、コート剤供給・回収部３３に貯蔵されているコート剤を、コート剤注入用ノズル３１のノズル部３１１から反応セル４内に供給する。供給されたコート剤３３により反応セル４内に防汚膜が形成されたのち、ステップＳ７０６で、反応セル４内に供給されたコート剤は、コート剤吸引用ノズル３２により吸引される。コーティングの対象でない分析項目の場合(ステップＳ７０４でＮｏの場合)、ステップＳ７０５、ステップＳ７０６はスキップされ、ステップＳ７０７の動作が行われる。
ステップＳ７０７で、サンプルディスク機構１の所定の位置にセットされたサンプルセル２５に収納された測定対象のサンプルはコンピュータ１９のメモリに記憶された分析依頼情報に従って、サンプルピペッタ１５及びサンプル供給用分注機構２のサンプルノズル２７によって、反応ディスク３にセットされた反応セル４に所定量分注される。
ステップＳ７０８では、サンプルが分注された反応セル４に試薬ピペッティング機構７の試薬ノズル２８によって、試薬ディスク機構５に収納された試薬容器６のうち所定の試薬容器６から取り出した所定量の試薬が分注される。ステップＳ７０９で、反応セル４に供給されたサンプルと試薬の混合液６１０は、撹拌機構８の攪拌棒２９や図示していない超音波素子によって撹拌される。
ステップＳ７１０で、図示しない反応液吸引ノズルで、反応セル４内のサンプルと試薬の混合液（反応液）６１０が吸引される。ステップＳ７０９で、反応セル４に供給されたサンプルと試薬の混合液６１０が撹拌された後、ステップＳ７１０で反応液６１０の吸引が開始されるまで、反応ディスク３は所定のタクトタイムで所定の角度でインデックス回転を続ける。
この間、図８に示すように、反応ディスク３上の反応セル４が分光光度計１０と光源２６の間を通過するたびに、分光光度計１０によって測光される。これにより、一定間隔で吸光度を測定し、サンプルが試薬と反応する場合には、以下に示すような反応過程における吸光度変化の情報がえられる。
すなわち、測定開始（Ｓ７０１）からサンプルを反応セル４に分注する（Ｓ７０７）までは吸光度に変化がなく一定である。その後、試薬を反応セルに分注すると（Ｓ７０８）サンプルと試薬の混合液６１０ができて吸光度が変化し、更に混合液６１０を撹拌を開始すると（Ｓ７０９）吸光度がさらに大きくなり、その後ある値で一定になり、測定を終了して反応セル内の混合液６１０である反応液を吸引して(Ｓ７１０)測定を終了する。
なお、防汚膜の形成（Ｓ７０５、Ｓ７０６）による吸光度の変化は、サンプルと試薬の混合液６１０による吸光度の変化と比較し、十分に小さい。一方、サンプルと試薬との組み合わせによっては、吸光度が初期の状態から変化しないか、または、変化しても大きな変化が見られない。この場合、サンプルが試薬と反応せず、サンプルには試薬で検出されるべき物質を含んでいないと判定される。
ステップＳ７１１で、記憶部３８内のメモリの情報と分析依頼情報に基づき、コンピュータ１９が反応セル４の内壁面にコーティングした防汚膜を剥離させるために防汚膜剥離機構３０に処理をさせるか否か決定する。
反応セル４の内壁面に防汚膜がコーティングされていて剥離の対象である分析項目の場合(ステップＳ７１１でＹｅｓの場合)、ステップＳ７１２で、防汚膜剥離機構３４を制御して、剥離液供給・回収部３７から供給された剥離液を剥離液注入用ノズル３５から反応セル４内に注入する。ステップＳ７１３で、反応セル４内の剥離液は剥離液吸引用ノズル３６により吸引される。コーティングの対象でない分析項目の場合(ステップＳ７１１でＮｏの場合)、ステップＳ７１２、ステップＳ７１３はスキップされ、ステップＳ７１４の動作が行われる。
上記では、分析の直前に防汚膜を形成する例について説明したが、防汚膜の形成は、必ずしも分析の直前に実施しなくてもよく、たとえば装置の使用を一定期間終了させる際に、装置が使用状態から停止状態に遷移する間に防汚膜を形成してもよい。これにより、装置の使用再開時に防汚膜を形成する時間を省略することができる。防汚膜の剥離についても、必ずしも分析の直後に実施しなくてもよく、たとえば反応セル４に防汚膜を形成したまま、当該反応セル４を複数回分析に使用した後に防汚膜を剥離してもよい。
ステップＳ７１４で、ステップＳ７０１の場合と同様に、反応セル洗浄機構１１が、洗浄剤供給部１３、洗浄水ポンプ１６から洗浄剤、水の供給を受け、反応セル４内を洗浄する。洗浄が終了後、反応セル４内の洗浄剤、水は吸引ノズル１２により吸引される。ステップＳ７１４が終了した反応セル４は、次の分析に順次使用される。
分光光度計１０で測定された反応セル４内の混合液６１０の吸光度の信号は、Ｌｏｇ変換器及びＡ／Ｄ変換器１８、インターフェース２３を介してコンピュータ１９に取り込まれる。取り込まれた吸光度に関するデータは濃度値に換算され、濃度値は記憶装置２２のフロッピーディスクやハードディスクに保存されるか、プリンタ２０に出力される。また、ＣＲＴ２１に検査データを表示させることもできる。
本実施例では、ステップＳ７０５でコート剤を反応セル４の内部に注入した後、ステップＳ７０６でコート剤を吸引する例を示したが、ステップＳ７０５とステップＳ７０６との間に、多少の時間をおくようにしてもよい。すなわち、ステップＳ７０５でコート剤を反応セル４の内部に注入後、すぐにＳ７０６を実行してコート剤を吸引するのではなく、当該反応セル４の使用をスキップ(セルスキップ)してＳ７０６を開始するまでの時間をおいて、反応セルの内壁面にコート剤が吸着する時間を確保するようにしてもよい。この場合、ステップＳ７０５とステップＳ７０６との間は、反応ディスク３はインデックス回転していてもよく、これにより、当該反応セル４のみ使用をスキップして、それ以外の反応セル４は分析に使用できる。
セルスキップを使用した場合の自動分析装置１００の動作フローを図９に示す。図９において、図７で説明したものと同じ内容を実行するステップについては、図７と同じステップ番号を付してある。この動作では、ステップＳ７０５とステップＳ７０６の間にステップＳ９０１のセルスキップＳ９０１があり、ステップＳ９０１では、コート剤が注入された反応セル４はセルスキップされ、任意の時間反応セル４の内部にコート剤が保持される。これにより、反応セル４の内壁面１１２，１１４，１１５にコート剤が吸着する時間を確保することができ、反応セル４に防汚膜を確実に形成することができる。
またセルスキップは、ステップＳ７１２とステップＳ７１３の間に実施してもよい。この場合、任意の時間反応セル４内に剥離液が保持され、防汚膜を剥離する時間を確保することができ、防汚膜を確実に剥離することができる。
さらに、セルスキップを、ステップＳ９０１及びステップＳ７１２とステップＳ７１３の間の２回実施してもよい。この場合、反応セル４の内壁面１１２，１１４，１１５にコート剤が吸着して防汚膜が形成される時間、及び、反応セル４の防汚膜を剥離する時間を何れも確保することができる。その結果、反応セル４への防汚膜の形成と、この形成した防汚膜を反応セル４から確実に剥離することができる。
本実施例では、前記実施例１の変形例を示す。実施例２では、防汚膜形成機構と防汚膜剥離機構は独立した機構として自動分析装置２００を構成する例を示す。本実施例では、他の機構に防汚膜形勢機構あるいは防汚膜剥離機構の機能を兼ねさせることができる。これにより、自動分析装置２００の省スペース化が可能となる。
本実施例にかかる自動分析装置２００の構成を図１０に示す。図１０に示した構成において、実施例１において図６で説明したものと共通しているものには同じ番号を付してあり、それらの説明は省略する。
本実施例においては、実施例１におけるコート剤供給・回収部３３に変えて、コート剤を試薬ディスク機構５の試薬容器６のうちの一部の試薬容器３３１に入れて供給する構成とした。試薬容器３３１に入れたコート剤は、試薬供給用分注機構７により反応セル４内に供給させることができる。この場合、コート剤は、あらかじめ特定の分析項目の試薬に混合させておき、コート剤は、特定の分析項目の試薬とともに反応セル４内に分注できる。
また、本実施例においては、実施例１における剥離液供給・回収部３７に替えて剥離液供給・回収部３７１を反応容器洗浄機構１１に接続した構成とした。このような構成とすることにより、剥離液は反応容器洗浄機構１１により反応セル４内に注入することができる。この場合、剥離液をあらかじめ洗浄剤と混合させておき、洗浄剤とともに剥離液を反応セル４内に供給してもよい。もしくは洗浄剤を剥離液として用いて、洗浄剤供給部１３で洗浄剤を剥離液として反応セル４内に供給してもよい
本実施例では、試薬容器３３１に入れたコート剤を試薬供給用分注機構７により反応セル４内に供給する例を示したが、他の機構を用いて供給させてもよい。たとえば、反応容器洗浄機構１１から供給させてもよい。このとき、コート剤を反応容器洗浄機構１１から反応セル４に単独に供給させてもよいし、洗浄剤にあらかじめコート剤を含有(混合)させたものを反応セル４に供給するようにしてもよい。また、ブランク水にあらかじめコート剤を含有させておき、図示しないブランク水供給用ノズルから反応セル４に供給させてもよい。
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
また、上記の各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ（Solid State Drive）等の記録装置、または、ＩＣカード、ＳＤカード、ＤＶＤ等の記録媒体に置くことができる。
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
１・・・サンプルディスク機構 ２・・・サンプル供給用分注機構 ３・・・反応ディスク ４・・・反応セル ５・・・試薬ディスク機構 ６・・・試薬容器 ７・・・試薬供給用分注機構 ８・・・撹拌機構 ９・・・恒温槽 １０・・・分光光度計 １１・・・反応容器洗浄機構(ノズルアーム) １２・・・吸引ノズル １３・・・洗浄剤 １４・・・洗剤注入ノズル １５・・・サンプルピペッタ １６・・・洗浄水ポンプ １７・・・試薬用ピペッタ １８・・・Ｌｏｇ変換器及びＡ／Ｄ変換器 １９・・・コンピュータ ２５・・・サンプルセル ２６・・・光源 ２７・・・サンプルプローブ ２８・・・試薬プローブ ２９・・・撹拌棒 ３０・・・防汚膜形成機構 ３１・・・コート剤供給用ノズル ３２・・・コート剤吸引用ノズル ３３・・・コート剤 ３４・・・防汚膜剥離機構 ３５・・・剥離液供給用ノズル ３６・・・剥離液吸引用ノズル ３７・・・剥離液 ３８・・・記憶部 １１１・・・非測光面外壁部 １１２・・・非測光面内壁部 １１３・・・測光面外壁部 １１４・・・測光面内壁部 １１５・・・底面 １２０・・・親水化領域 １３０・・・閉口部 １４０・・・開口部 １５０・・・セル基材 １５１・・・ポリシクロオレフィン １５２・・・親水化層 １６０・・・防汚膜 １６１・・・親水性部 ３０１・・・ガラス基板 ３０２・・・金膜 ３０３・・・ポリシクロオレフィン。

Claims (14)

  1. 複数の反応セルを収納する反応ディスクと、
    試薬を収容する試薬容器を収納する試薬ディスク機構と、
    検査対象であるサンプルを収容するサンプルセルに収容されたサンプルを吸引して前記反応ディスクの反応セルに所定量供給するサンプルノズルを備えたサンプル供給用分注機構と、
    前記試薬ディスク機構の試薬容器に収容された試薬を吸引して前記反応ディスクの反応セルに所定量供給する試薬用分注ノズルを備えた試薬供給用分注機構と、
    前記サンプル供給用分注機構により供給されたサンプルと前記試薬供給用分注機構により供給された試薬との混合液が形成された前記反応セルに光を照射して前記反応セルを透過した光を検出して前記混合液の光学特性を検出する検出部と、
    前記反応ディスク上で、前記サンプルと前記試薬とが供給された前記反応セルの内壁面が前記サンプルまたは前記試薬又は前記サンプルと前記試薬との混合液により汚染されるのを防止するための防汚液を前記反応セルに供給し、前記反応セルの内壁面に防汚膜を形成後に前記防汚液を前記反応セルから排出する防汚膜形成機構と、
    前記反応ディスク上で、前記防汚膜が形成された前記反応セルに前記防汚膜を前記反応セルの内壁面から剥離させるための剥離液を前記反応セルに供給し、前記防汚膜を前記反応セルの内壁面から剥離させた剥離液を前記反応セルから排出する防汚膜剥離機構と、
    全体を制御するコンピュータと、
    該コンピュータに分析に関する情報を入力する操作パネルと、
    を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  2. 請求項１記載の自動分析装置であって、前記コンピュータは、前記サンプル供給用分注機構により反応セルに供給するサンプル及び前記試薬供給用分注機構により反応セルに供給する試薬の種類に応じて前記防汚膜形成機構を制御して、前記反応ディスクに収納された複数の反応セルのうちから選択した反応セルに前記防汚液を供給して前記反応セルの内壁面に防汚膜を形成することを特徴とする自動分析装置。
  3. 請求項２記載の自動分析装置であって、前記コンピュータは、前記操作パネルから入力された情報に基づいて前記防汚膜形成機構を制御して、前記反応ディスクに収納された複数の反応セルのうちから選択した反応セルに前記防汚液を供給して前記反応セルの内壁面に防汚膜を形成することを特徴とする自動分析装置。
  4. 請求項１記載の自動分析装置であって、前記コンピュータは、前記試薬供給用分注機構により反応セルに供給するサンプル及び前記試薬供給用分注機構により反応セルに供給する試薬の種類に応じて前記防汚膜剥離機構を制御して、前記反応ディスクに収納された複数の反応セルのうちから選択した反応セルに前記剥離液を供給して前記反応セルの内壁面に形成された防汚膜を剥離することを特徴とする自動分析装置。
  5. 請求項４記載の自動分析装置であって、前記コンピュータは、前記操作パネルから入力された情報に基づいて前記防汚膜剥離機構を制御して、前記反応ディスクに収納された複数の反応セルのうちから選択した反応セルに前記剥離液を供給して前記反応セルの内壁面に形成された防汚膜を剥離することを特徴とする自動分析装置。
  6. 請求項１記載の自動分析装置であって、前記防汚膜形成機構は、防汚液として水溶性樹脂であるポリエチレングリコール（ＰＥＧ）の水溶液又はポリビニルピロリドン（ＰＶＰ）の水溶液を前記反応セルに供給することを特徴とする自動分析装置。
  7. 請求項１記載の自動分析装置であって、前記防汚膜剥離機構は、剥離液として水系洗浄剤を前記反応セルに供給することを特徴とする自動分析装置。
  8. サンプルセルに収容されたサンプルをサンプル供給用分注機構のサンプルノズルで吸引し、
    該サンプルノズルで吸引したサンプルを反応ディスクに収納された反応セルに供給し、
    試薬ディスク機構の試薬容器に収容された試薬を試薬供給用分注機構の試薬用分注ノズルで吸引し、
    該試薬用分注ノズルで吸引した試薬を前記反応ディスクの反応セルに供給し、
    前記供給された前記サンプルと前記試薬との混合液が形成された前記反応セルに光を照射して前記反応セルを透過した光を検出して得た信号に基づいて前記サンプルを分析する
    自動分析装置を用いた分析方法であって、
    前記サンプルノズルで吸引したサンプルを反応ディスクに収納された反応セルに供給する前に前記反応セルに防汚液を供給して前記反応セルの内壁面に防汚膜を形成し、
    前記サンプルを分析したのちに前記反応セルから前記混合液を排出し、
    該混合液を排出した反応セルに剥離液を供給して前記反応セルの内壁面に形成した防汚膜を剥離する
    ことを特徴とする自動分析装置を用いた分析方法。
  9. 請求項８記載の自動分析装置を用いた分析方法であって、前記サンプルノズルで吸引したサンプルを反応ディスクに収納された反応セルに供給する前に前記反応セルに防汚液を供給して前記反応セルの内壁面に防汚膜を形成することを、前記サンプル供給用分注機構により反応セルに供給するサンプル及び前記試薬供給用分注機構により反応セルに供給する試薬の種類に応じて前記反応ディスクに収納された複数の反応セルのうちから選択した反応セルに前記防汚液を供給して前記反応セルの内壁面に防汚膜を形成することを特徴とする自動分析装置を用いた分析方法。
  10. 請求項８記載の自動分析装置を用いた分析方法であって、前記反応ディスクに収納された複数の反応セルのうちから選択した反応セルに前記剥離液を供給して前記反応セルの内壁面に形成された防汚膜を剥離することを、前記サンプル供給用分注機構により反応セルに供給するサンプル及び前記試薬供給用分注機構により反応セルに供給する試薬の種類に応じて前記反応ディスクに収納された複数の反応セルのうちから選択した反応セルに前記剥離液を供給して前記反応セルの内壁面に形成された防汚膜を剥離することを特徴とする自動分析装置を用いた分析方法。
  11. 請求項８記載の自動分析装置を用いた分析方法であって、前記防汚液として水溶性樹脂であるポリエチレングリコール（ＰＥＧ）の水溶液又はポリビニルピロリドン（ＰＶＰ）の水溶液を前記反応セルに供給することを特徴とする自動分析装置を用いた分析方法。
  12. 請求項８記載の自動分析装置を用いた分析方法であって、前記剥離液として水系洗浄剤を前記反応セルに供給することを特徴とする自動分析装置を用いた分析方法。
  13. 自動分析装置用のサンプルと試薬とを注入して混合液を作る反応セルであって、該反応セルは側壁面として光を透過する対向する１対の壁面を有し、該１対の光透過壁の内側表面のうちの少なくとも前記混合液と接する領域は親水性の表面で形成されていることを特徴とする自動分析装置用反応セル。
  14. 請求項１３記載の自動分析装置用反応セルであって、前記親水性の表面には水溶性樹脂がコーティングされ、該水溶性樹脂は水素結合を介して前記親水性の表面に吸着していることを特徴とする自動分析装置用反応セル。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020203755A1 (ja) 2019-03-29 2020-10-08 積水メディカル株式会社 免疫測定試薬及び免疫測定方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114975128A (zh) 2021-02-25 2022-08-30 珠海零边界集成电路有限公司 一种智能功率模块及其制备方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62177452A (ja) * 1986-01-31 1987-08-04 Jeol Ltd 自動化学分析装置における反応管の洗浄方法
JP2004184407A (ja) * 2002-11-14 2004-07-02 Ortho Clinical Diagnostics Inc 分析試料中の不要成分を取り除くための洗浄方法
JP2007248195A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Seiko Epson Corp 眼鏡レンズの濡れ性評価方法
JP2009216572A (ja) * 2008-03-11 2009-09-24 Jsr Corp 生体関連物質の非特異吸着防止コート剤
JP2011021953A (ja) * 2009-07-14 2011-02-03 Toshiba Corp 自動分析装置及びその洗浄方法
US20130214332A1 (en) * 2011-08-26 2013-08-22 Diagtronix, Inc. Nanogrid channel fin-fet transistor and biosensor

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DK147254B (da) * 1981-11-13 1984-05-28 Nunc As Manuelt betjeneligt skylleapparat til skylning af broende i en mikrotestplade
DE4023909A1 (de) * 1990-07-27 1992-01-30 Wild Rudolf Gmbh & Co Wiederverwendbarer behaelter aus kunststoff sowie seine herstellung und verwendung
EP1514595A3 (en) * 2003-08-27 2005-09-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Microchip, process of manufacturing the same, and analytical method using the same
JP4584878B2 (ja) * 2005-12-06 2010-11-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置用反応セル、その反応セルを搭載した自動分析装置、及び分析方法
JP2007216572A (ja) * 2006-02-17 2007-08-30 Fuji Xerox Co Ltd ステープル処理装置
JP2008286539A (ja) * 2007-05-15 2008-11-27 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置の反応セル、および自動分析装置用反応セルの表面仕上法
JP5620634B2 (ja) * 2008-06-05 2014-11-05 株式会社日立ハイテクノロジーズ 分光測光用樹脂製セルおよびその製造方法
JP2010230586A (ja) * 2009-03-27 2010-10-14 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置用分注ノズルとその製造方法及びそれを搭載した自動分析装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62177452A (ja) * 1986-01-31 1987-08-04 Jeol Ltd 自動化学分析装置における反応管の洗浄方法
JP2004184407A (ja) * 2002-11-14 2004-07-02 Ortho Clinical Diagnostics Inc 分析試料中の不要成分を取り除くための洗浄方法
JP2007248195A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Seiko Epson Corp 眼鏡レンズの濡れ性評価方法
JP2009216572A (ja) * 2008-03-11 2009-09-24 Jsr Corp 生体関連物質の非特異吸着防止コート剤
JP2011021953A (ja) * 2009-07-14 2011-02-03 Toshiba Corp 自動分析装置及びその洗浄方法
US20130214332A1 (en) * 2011-08-26 2013-08-22 Diagtronix, Inc. Nanogrid channel fin-fet transistor and biosensor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020203755A1 (ja) 2019-03-29 2020-10-08 積水メディカル株式会社 免疫測定試薬及び免疫測定方法
KR20210146915A (ko) 2019-03-29 2021-12-06 세키스이 메디칼 가부시키가이샤 면역 측정 시약 및 면역 측정 방법

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