JP2016024045A - 画像測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ステージ13上に載置した測定対象物(ワーク12)をカメラ20で撮影した画像を表示した撮影画像表示画面34Aを用いて測定した結果に基づく判定結果を、測定対象物(12)の撮影画像(34A)とは別にリスト34Bで一覧表示するようにした画像測定装置(1)において、前記リスト34B上の判定結果を含む測定結果を指定する手段(3、32、33)と、指定された測定結果に対応する撮影画像表示画面34A上の測定位置を強調表示する手段(31)とを備える。
【選択図】図5
Description
2…コンピュータシステム
3…指令入力部
12…ワーク(測定対象物)
13…ステージ
20…カメラ
31…コンピュータ本体
32…キーボード
33…マウス
34…ディスプレイ
34A…撮影画像(表示画面)
34B…リスト
Claims (5)
- ステージ上に載置した測定対象物をカメラで撮影した画像を表示した撮影画像表示画面を用いて測定した結果に基づく判定結果を、測定対象物の撮影画像とは別にリストで一覧表示するようにした画像測定装置において、
前記リスト上の判定結果を含む測定結果を指定する手段と、
指定された測定結果に対応する撮影画像表示画面上の測定位置を強調表示する手段と、
を備えたことを特徴とする画像測定装置。 - 前記強調表示された測定位置に、測定結果の詳細を表示するようにしたことを特徴とする請求項1に記載の画像測定装置。
- 前記測定結果の詳細が表示されている間は、再測定を実施可能としたことを特徴とする請求項2に記載の画像測定装置。
- 前記指定された測定結果に対応する測定位置が表示中の撮影画像表示画面内に存在しない時は、該測定位置を撮影画像表示画面内に表示させるためのナビゲート情報を表示することを特徴とする請求項1に記載の画像測定装置。
- 前記指定された測定結果に対応する測定位置が表示中の撮影画像表示画面内に存在しない時は、該測定位置が撮影画像表示画面内に表示されるよう、ステージとカメラを相対移動させることを特徴とする請求項1に記載の画像測定装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018072270A (ja) * | 2016-11-02 | 2018-05-10 | 株式会社キーエンス | 画像測定装置 |
JPWO2021149745A1 (ja) * | 2020-01-23 | 2021-07-29 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017116297A (ja) | 2015-12-21 | 2017-06-29 | 株式会社ミツトヨ | 画像測定方法及び画像測定機 |
CN114485572A (zh) * | 2022-02-25 | 2022-05-13 | 黎仁梯 | 一种降误差的无人机测绘系统 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000161932A (ja) * | 1998-11-30 | 2000-06-16 | Hitachi Ltd | 回路パターンの検査方法及び検査装置 |
JP2001319219A (ja) * | 2000-05-10 | 2001-11-16 | Mitsutoyo Corp | 画像測定装置用パートプログラム生成装置及び方法、並びに画像測定装置及びその測定結果表示方法 |
US20020113234A1 (en) * | 2001-02-21 | 2002-08-22 | Hirohito Okuda | Method and system for inspecting electronic circuit pattern |
JP2002350123A (ja) * | 2001-05-24 | 2002-12-04 | Olympus Optical Co Ltd | 測定支援方法、測定システム、及び測定支援プログラム |
JP2005030780A (ja) * | 2003-07-07 | 2005-02-03 | Hitachi Sci Syst Ltd | 半導体検査装置 |
JP2006098153A (ja) * | 2004-09-29 | 2006-04-13 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥自動分類方法及び装置 |
JP2013117953A (ja) * | 2011-11-15 | 2013-06-13 | Mitsutoyo Corp | 同期されたユーザインタフェース機能を含むマシンビジョンシステムプログラム編集環境 |
US20150213156A1 (en) * | 2014-01-24 | 2015-07-30 | Dassault Systemes Solidworks Corporation | Creating A Broken Representation Of A Computer-Aided Design Model |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0357403A (ja) | 1989-07-14 | 1991-03-12 | Iin Hoi Mui Paul | 照明を施した傘 |
US6256595B1 (en) * | 1998-03-04 | 2001-07-03 | Amada Company, Limited | Apparatus and method for manually selecting, displaying, and repositioning dimensions of a part model |
JP3593302B2 (ja) | 1999-06-15 | 2004-11-24 | 株式会社ミツトヨ | 画像測定装置及び方法 |
JP3853638B2 (ja) | 2001-11-06 | 2006-12-06 | 株式会社ミツトヨ | 画像測定装置、画像測定方法及び画像測定用プログラム |
JP4024117B2 (ja) * | 2002-09-17 | 2007-12-19 | 株式会社ミツトヨ | 測定支援装置 |
JP5069814B2 (ja) * | 2004-11-19 | 2012-11-07 | 株式会社ホロン | 測定値の判定方法 |
DE102007007574B3 (de) * | 2007-02-15 | 2008-04-03 | Kuka Roboter Gmbh | Verfahren zum Ermitteln von Messstellen |
DE102010008478A1 (de) * | 2010-02-18 | 2010-11-11 | Harald Weisz | EDV-System zum automatischen oder halbautomatischen Konstruieren und Konstruktionsverfahren |
US8902219B1 (en) * | 2010-09-22 | 2014-12-02 | Trimble Navigation Limited | Maintaining connection to embedded content using graphical elements |
US8315674B2 (en) * | 2010-10-08 | 2012-11-20 | Research In Motion Limited | System and method for displaying object location in augmented reality |
US8635021B2 (en) * | 2012-05-04 | 2014-01-21 | Google Inc. | Indicators for off-screen content |
-
2014
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000161932A (ja) * | 1998-11-30 | 2000-06-16 | Hitachi Ltd | 回路パターンの検査方法及び検査装置 |
JP2001319219A (ja) * | 2000-05-10 | 2001-11-16 | Mitsutoyo Corp | 画像測定装置用パートプログラム生成装置及び方法、並びに画像測定装置及びその測定結果表示方法 |
US20020113234A1 (en) * | 2001-02-21 | 2002-08-22 | Hirohito Okuda | Method and system for inspecting electronic circuit pattern |
JP2002350123A (ja) * | 2001-05-24 | 2002-12-04 | Olympus Optical Co Ltd | 測定支援方法、測定システム、及び測定支援プログラム |
JP2005030780A (ja) * | 2003-07-07 | 2005-02-03 | Hitachi Sci Syst Ltd | 半導体検査装置 |
JP2006098153A (ja) * | 2004-09-29 | 2006-04-13 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥自動分類方法及び装置 |
JP2013117953A (ja) * | 2011-11-15 | 2013-06-13 | Mitsutoyo Corp | 同期されたユーザインタフェース機能を含むマシンビジョンシステムプログラム編集環境 |
US20150213156A1 (en) * | 2014-01-24 | 2015-07-30 | Dassault Systemes Solidworks Corporation | Creating A Broken Representation Of A Computer-Aided Design Model |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018072270A (ja) * | 2016-11-02 | 2018-05-10 | 株式会社キーエンス | 画像測定装置 |
JPWO2021149745A1 (ja) * | 2020-01-23 | 2021-07-29 | ||
WO2021149745A1 (ja) * | 2020-01-23 | 2021-07-29 | 株式会社バルカー | フランジ間測定方法、システム、プログラム、記録媒体および測定サーバー |
JP7315722B2 (ja) | 2020-01-23 | 2023-07-26 | 株式会社バルカー | フランジ間測定方法、システム、プログラム、記録媒体および測定サーバー |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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CN105277122A (zh) | 2016-01-27 |
US20160019687A1 (en) | 2016-01-21 |
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