JP2016009864A - 回路基板および回路基板を用いた電子部品の配置状態の検査方法 - Google Patents
回路基板および回路基板を用いた電子部品の配置状態の検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016009864A JP2016009864A JP2015085697A JP2015085697A JP2016009864A JP 2016009864 A JP2016009864 A JP 2016009864A JP 2015085697 A JP2015085697 A JP 2015085697A JP 2015085697 A JP2015085697 A JP 2015085697A JP 2016009864 A JP2016009864 A JP 2016009864A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pad
- electronic component
- circuit board
- bonding
- arrangement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 24
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 17
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 27
- 208000032365 Electromagnetic interference Diseases 0.000 description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K1/111—Pads for surface mounting, e.g. lay-out
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
- H05K1/181—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/4007—Surface contacts, e.g. bumps
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09209—Shape and layout details of conductors
- H05K2201/09654—Shape and layout details of conductors covering at least two types of conductors provided for in H05K2201/09218 - H05K2201/095
- H05K2201/09663—Divided layout, i.e. conductors divided in two or more parts
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/16—Inspection; Monitoring; Aligning
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Operations Research (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Description
回路基板または回路基板に実装されるチップ(Chip)の安定した動作のためには電磁波を遮蔽できる機能が重要である。そのため、回路基板には、電磁波を遮蔽するためのEMI(Electro Magnetic Interference)製品が配置される。
接合パッドは、電子部品の角部に位置するように配置される。
第1パッドは長方形状であり、第2パッドは第1パッドの外側に位置し、第1パッドの角部と離隔するように形成されている。
電子部品の配置状態の検査を行う段階において、電気検査の結果、第1パッドと第2パッドが短絡(Short)状態の場合には、電子部品の配置が不良である。
電子部品の配置が不良の場合には、電子部品を接合パッドに再実装し、第1パッドと第2パッドとの間の電気検査を再度行う段階をさらに含む。
電子部品の配置状態の検査を行う段階において、電気検査の結果、第1パッドと第2パッドが開放(Open)状態の場合には、電子部品の配置が正常である。
図1は本発明の一実施例による回路基板を示す例示図である。
本発明の実施例によれば、回路基板100の最外層に第1接合パッド110〜第4接合パッド140(即ち、第1接合パッド110、第2接合パッド120、第3接合パッド130、及び、第4接合パッド140)が形成される。
本発明の実施例によれば、第1接合パッド110は、第1‐1パッド111と、第1‐2パッド112と、を含む。また、第2接合パッド120は、第2‐1パッド121と、第2‐2パッド122と、を含む。また、第3接合パッド130は、第3‐1パッド131と、第3‐2パッド132と、を含む。また、第4接合パッド140は、第4‐1パッド141と、第4‐2パッド142と、を含む。
本発明の実施例によれば、第1‐1パッド111〜第4‐1パッド141(即ち、第1‐1パッド111、第2‐1パッド121、第3‐1パッド131、及び、第4‐1パッド141)は正方形状に形成され、第1‐2パッド112〜第4‐2パッド142(即ち、第1‐2パッド112、第2‐2パッド122、第3‐2パッド132、及び、第4‐2パッド142)は長方形状に形成される。また、第1‐2パッド112〜第4‐2パッド142はそれぞれ第1‐1パッド111〜第4‐1パッド141の外側に位置する。尚、第1‐1パッド111〜第4‐1パッド141は長方形状に形成されても良い。
本発明の実施例において、理解の便宜上、第1‐2パッド112〜第4‐2パッド142の内側面は電子部品が設計上の配置位置で実装された場合に、電子部品に対向する方向を向いている側面とし、それ以外の側面は外側面とする。
本発明の実施例によれば、回路基板200の最外層に第1接合パッド210〜第4接合パッド240(即ち、第1接合パッド210、第2接合パッド220、第3接合パッド230、及び、第4接合パッド240)が形成される。
本発明の実施例によれば、第1接合パッド210は、第1‐1パッド211と、第1‐2パッド212と、を含む。また、第2接合パッド220は、第2‐1パッド221と、第2‐2パッド222と、を含む。また、第3接合パッド230は、第3‐1パッド231と、第3‐2パッド232と、を含む。また、第4接合パッド240は、第4‐1パッド241と、第4‐2パッド242と、を含む。
本発明の実施例によれば、第1‐1パッド211〜第4‐1パッド241は正方形状に形成される。また、第1‐2パッド212〜第4‐2パッド242はそれぞれ第1‐1パッド211〜第4‐1パッド241の外側面に沿って折り曲がった構造を有するように形成される。尚、第1‐1パッド211〜第4‐1パッド241は長方形状に形成されても良い。
第1接合パッド210を例に挙げて説明すると、第1周縁部213は、第1接合パッド210の第1‐1パッド211と連結され、第1‐2パッド212と離隔して第1‐2パッド212の外側に沿って形成される。本発明の実施例による第1周縁部213は、第1‐1パッド211と連結され、第1‐2パッド212とは接触しない。このように形成された第1周縁部213は、第1‐1パッド211と連結されていることで、以降、電子部品の不良配置を確認するための電気検査を行う際に、プローブが接触することができる面積を増加させる機能を果たすことができる。本発明の実施例による第2周縁部223、第3周縁部233および第4周縁部243はそれぞれ第2接合パッド220〜第4接合パッド240において第1周縁部213と同じ形態に形成される。
本発明の実施例によれば、第1‐1パッド211〜第4‐1パッド241は、電子部品の設計上で配置位置を含むように形成される。また、第1‐2パッド212〜第4‐2パッド242の内側面は、電子部品の不良配置の基準となる。このように電子部品の不良配置の基準となる第1‐2パッド212〜第4‐2パッド242の位置は、顧客の要求または不良判断の基準に応じて変更してもよい。
図3を参照すると、接合パッド250を含む回路基板200が提供される。
本発明の実施例では、図2の回路基板200を例に挙げて説明する。
図4を参照すると、回路基板200に電子製品(電子部品)300が実装される。
本発明の実施例によれば、電子製品300は、接合パッド250と直接接触するか電気的に連結されるように実装される。本発明の実施例による電子製品300は、伝導性の物質からなる。例えば、EMI(Electro Magnetic Interference)製品であって、テープ(Tape)タイプまたはフィルム(Film)タイプである。
図5を参照すると、電気検査が行われる。
本発明の実施例によれば、電気検査は、電子製品300の配置状態を検査するために行われる。
本発明の実施例によれば、第1パッド251、第2パッド252、周縁部253または電子製品300にそれぞれ電気検査のためのプローブ(Probe)400を接触させる。次に、接触したプローブ400を介して第1パッド251、第2パッド252、周縁部253または電子製品300に電気信号を印加する。例えば、電気信号は電流であってもよい。
例えば、第1パッド251、周縁部253または電子製品300を介して電気信号を印加した際に同じ接合パッド250の第2パッド252から電気信号が検出された場合には、第1パッド251と第2パッド252は電気的に短絡状態であることになる。なお、電子製品300に電気信号を印加した際に4個の第2パッド252から電気信号が検出されるか否かを同時に確認することができる。
本発明の実施例によれば、電気検査を行った際に4個の接合パッド250のいずれか一つでも短絡状態の場合には、電子製品300の配置が不良であることになる。すなわち、電子製品300の配置が不良で第2パッド252と接触する場合、電子製品300を介して第1パッド251と第2パッド252が電気的に連結された状態となる。したがって、電気検査を行うと、当該接合パッド250の第2パッド252から電気信号が検出され、第1パッド251と第2パッド252が短絡(Short)状態であることが確認される。ここで、第2パッド252は、電子製品300の不良配置の基準となる。
本発明の実施例によれば、第1パッド251と、第2パッド252と、を含む接合パッド250を用いて電気検査方法により電子製品300の配置状態を検査することができる。かかる電子製品300の配置状態の検査は、回路基板200に電子製品300を付着した後に行われる回路パターンと電子製品の不良有無を確認する電気検査と同時に行われる。したがって、工程、コストおよび時間を追加することなく電子製品300の配置状態の検査を進めることができる。
本発明の実施例によれば、電子製品300によって第3‐1パッド231と第3‐2パッド232が電気的に連結された状態となり、第4‐1パッド241と第4‐2パッド242が電気的に連結された状態となる。このような場合、電気検査を行うと、第3‐2パッド232と第4‐2パッド242から電気信号が検出される。このように電気信号を検出した場合には、第3接合パッド230と第4接合パッド240が短絡状態であり、電子製品300の配置が不良であることになる。
本発明の実施例によれば、電子製品300の配置が正常であることで、電子製品300が第1‐2パッド212〜第4‐2パッド242のいずれとも電気的に連結されない。このような場合、電気検査を行うと、第1‐2パッド212〜第4‐2パッド242の全てから電気信号が検出されない。このような場合、第1接合パッド210〜第4接合パッド240が全て開放状態であり、電子製品300が正常に配置されたことになる。
以上、本発明を具体的な実施例に基づいて詳細に説明したが、これは本発明を具体的に説明するためのものであり、本発明はこれに限定されず、該当分野における通常の知識を有する者であれば、本発明の技術的思想内にての変形や改良が可能であることは明白であろう。
本発明の単純な変形乃至変更はいずれも本発明の領域に属するものであり、本発明の具体的な保護範囲は添付の特許請求の範囲により明確になるであろう。
110、210 第1接合パッド
111、211 第1‐1パッド
112、212 第1‐2パッド
213 第1周縁部
120、220 第2接合パッド
121、221 第2‐1パッド
122、222 第2‐2パッド
223 第2周縁部
130、230 第3接合パッド
131、231 第3‐1パッド
132、232 第3‐2パッド
233 第3周縁部
140、240 第4接合パッド
141、241 第4‐1パッド
142、242 第4‐2パッド
243 第4周縁部
250 接合パッド
251 第1パッド
252 第2パッド
253 周縁部
300 電子製品(電子部品)
400 プローブ
Claims (19)
- 第1パッドと、前記第1パッドと離隔して形成されている第2パッドと、を備え、電子部品が実装される接合パッドを含む、回路基板。
- 前記接合パッドは多数個である、請求項1に記載の回路基板。
- 前記接合パッドは、前記電子部品の角部に位置するように配置される、請求項1に記載の回路基板。
- 前記第1パッドは長方形状であり、前記第2パッドは前記第1パッドの外側に位置し、前記第1パッドの少なくとも一面と平行な面を有する、請求項1に記載の回路基板。
- 前記第1パッドは長方形状であり、前記第2パッドは前記第1パッドの外側に位置し、前記第1パッドの角部と離隔するように形成されている、請求項1に記載の回路基板。
- 前記第2パッドは、前記第1パッドの二つの面と平行になるように形成されている、請求項5に記載の回路基板。
- 第2パッドの内側面の位置は、前記電子部品の不良配置の基準となる位置である、請求項1に記載の回路基板。
- 電子部品と、
前記電子部品の角部に位置するように配置され、第1パッドと、前記第1パッドの外側で離隔して形成されている第2パッドと、を備える接合パッドと、を含み、
前記第1パッドは長方形状であり、前記第2パッドは前記第1パッドの角部に位置し、前記第1パッドの二つの面と平行になるように形成されている、回路基板。 - 前記接合パッドは、前記電子部品の角部に位置するように配置される、請求項8に記載の回路基板。
- 前記接合パッドは多数個である、請求項8に記載の回路基板。
- 第2パッドの内側面の位置は、前記電子部品の不良配置の基準となる位置である、請求項8に記載の回路基板。
- 前記電子部品はEMI(Electro Magnetic Interference)製品である、請求項8に記載の回路基板。
- 第1パッドと、前記第1パッドと離隔して形成されている第2パッドと、を備え、電子部品が実装される接合パッドを含む回路基板が提供される段階と、
前記接合パッド上に電子部品を実装する段階と、
前記第1パッドと第2パッドとの間の電気検査を行って電子部品の配置状態の検査を行う段階と、を含む、電子部品の配置状態の検査方法。 - 前記回路基板が提供される段階において、
前記接合パッドは多数個である、請求項13に記載の電子部品の配置状態の検査方法。 - 前記回路基板が提供される段階において、
前記第2パッドの内側面の位置は、前記電子部品の不良配置の基準となる位置である、請求項13に記載の電子部品の配置状態の検査方法。 - 前記電子部品を実装する段階において、
前記電子部品はEMI(Electro Magnetic Interference)製品である、請求項13に記載の電子部品の配置状態の検査方法。 - 前記電子部品の配置状態の検査を行う段階において、
前記電気検査の結果、前記第1パッドと第2パッドが短絡(Short)状態の場合には、電子部品の配置が不良である、請求項13に記載の電子部品の配置状態の検査方法。 - 前記電子部品の配置が不良の場合には、前記電子部品を接合パッドに再実装し、前記第1パッドと第2パッドとの間の電気検査を再度行う段階をさらに含む、請求項17に記載の電子部品の配置状態の検査方法。
- 前記電子部品の配置状態の検査を行う段階において、
前記電気検査の結果、前記第1パッドと第2パッドが開放(Open)状態の場合には、電子部品の配置が正常である、請求項13に記載の電子部品の配置状態の検査方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2014-0076691 | 2014-06-23 | ||
KR1020140076691A KR102297284B1 (ko) | 2014-06-23 | 2014-06-23 | 회로 기판 및 회로 기판을 이용한 전자 부품의 배치 상태 검사 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016009864A true JP2016009864A (ja) | 2016-01-18 |
Family
ID=54956090
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015085697A Pending JP2016009864A (ja) | 2014-06-23 | 2015-04-20 | 回路基板および回路基板を用いた電子部品の配置状態の検査方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2016009864A (ja) |
KR (1) | KR102297284B1 (ja) |
CN (1) | CN105208764B (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000077459A (ja) * | 1998-08-31 | 2000-03-14 | Seiko Instruments Inc | 半導体装置及びその検査方法 |
JP2005277174A (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 混成集積回路装置 |
US20050265009A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-01 | Nokia Corporation | Detecting short circuits and detecting component misplacement |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05102648A (ja) * | 1991-10-04 | 1993-04-23 | Hitachi Ltd | プリント基板 |
US6229249B1 (en) * | 1998-08-31 | 2001-05-08 | Kyocera Corporation | Surface-mount type crystal oscillator |
GB0601543D0 (en) * | 2006-01-26 | 2006-03-08 | Pace Micro Tech Plc | Solder test apparatus and method of use thereof |
TWI372476B (en) * | 2008-11-20 | 2012-09-11 | Everlight Electronics Co Ltd | Circuit structure of package carrier and multi-chip package |
CN202425196U (zh) * | 2011-12-26 | 2012-09-05 | 福建联迪商用设备有限公司 | 电感焊盘及pcb板 |
KR101343217B1 (ko) | 2012-05-07 | 2013-12-18 | 삼성전기주식회사 | 리지드-플렉서블 기판 및 리지드-플렉서블 기판 제조 방법 |
TWI484197B (zh) * | 2013-02-20 | 2015-05-11 | Au Optronics Corp | 顯示裝置與其檢測方法 |
-
2014
- 2014-06-23 KR KR1020140076691A patent/KR102297284B1/ko active IP Right Grant
-
2015
- 2015-04-20 JP JP2015085697A patent/JP2016009864A/ja active Pending
- 2015-04-29 CN CN201510210455.0A patent/CN105208764B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000077459A (ja) * | 1998-08-31 | 2000-03-14 | Seiko Instruments Inc | 半導体装置及びその検査方法 |
JP2005277174A (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 混成集積回路装置 |
US20050265009A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-01 | Nokia Corporation | Detecting short circuits and detecting component misplacement |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105208764A (zh) | 2015-12-30 |
KR20150146293A (ko) | 2015-12-31 |
CN105208764B (zh) | 2018-10-30 |
KR102297284B1 (ko) | 2021-09-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5684349B1 (ja) | 半導体装置および半導体装置の検査方法 | |
US20160054385A1 (en) | Capacitive opens testing of low profile components | |
TWI620936B (zh) | 積體電路之測試探針卡 | |
TW201814316A (zh) | 測試治具 | |
JP2008166403A (ja) | プリント配線板、プリント回路板、およびプリント回路板の接合部検査方法 | |
KR20130086103A (ko) | 저항 측정 구조를 갖는 3차원 집적 회로 및 이의 이용 방법 | |
TW202206833A (zh) | 晶圓檢測系統及其晶圓檢測設備 | |
TW201825920A (zh) | 用於dc參數測試的垂直式超低漏電流探針卡 | |
KR101120405B1 (ko) | 프로브 블록 조립체 | |
KR101485994B1 (ko) | 수직형 프로브카드를 위한 효율적 공간변환기 | |
JP2013145210A (ja) | 基板積層式プローブカード | |
JP2016009864A (ja) | 回路基板および回路基板を用いた電子部品の配置状態の検査方法 | |
US8466704B1 (en) | Probe cards with minimized cross-talk | |
TWM553422U (zh) | 用於晶圓量測之垂直式探針卡與探針頭 | |
JP2013250145A (ja) | プローブカード | |
JP2006005163A (ja) | 半導体装置及びその実装検査方法 | |
US20120299615A1 (en) | Circuit board assembly and assistant test circuit board | |
KR102263049B1 (ko) | Pcb 검사장치 및 그 검사방법 | |
JP2020004858A (ja) | プリント配線基板、及び、プリント回路基板 | |
JP5933047B2 (ja) | 半導体装置の製造方法、半導体装置の検査方法、および半導体装置 | |
JP5505910B2 (ja) | 電気装置の特性の判断 | |
JP5164543B2 (ja) | プローブカードの製造方法 | |
US8203356B2 (en) | Device, system and method for testing and analyzing integrated circuits | |
KR20100027736A (ko) | 프로브 본딩 방법 | |
TWM517412U (zh) | 半導體探針裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180410 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20180713 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20180820 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20180820 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190325 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190423 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20191119 |