JP2015534086A - フレネル回折の境界プロファイルを評価する方法 - Google Patents
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Abstract
Description
少なくとも1つの干渉性光源からの光を物体に照射し、複数の回折境界が、物体によって生じる陰影の両方の幾何学的な境界に発生し、
少なくとも1つのシングルライン光センサまたはマルチライン光センサを使用して、少なくとも1つの回折境界の空間強度プロファイルを記録し、
少なくとも1つの記録された前記強度プロファイルを位置に応じて微分し、二乗の位置軸上にプロットし、
位置に応じて微分され二乗の位置軸上にプロットされた少なくとも1つの記録された前記強度プロファイルを、少なくとも1つの周期的な基準強度プロファイルと比較し、
終了した前記比較に基づいて物体の少なくとも1つの縁部の位置を測定する。
少なくとも1つの干渉性光源からの光を用いて物体を照射し、複数の回折境界線が、物体によって生じる陰影の両方の幾何学的な境界線に発生し、
少なくとも1つのシングルライン光センサまたはマルチライン光センサを使用し、少なくとも1つの回折境界線の空間強度プロファイルを記録し、
少なくとも1つの記録された前記強度プロファイルを位置に応じて微分し、
前記位置で微分された少なくとも1つの記録された強度プロファイルを、当該位置に対して実質的に逆線形依存度を備えた周期を有する場合、周期的な関数から生じる少なくとも1つの基準強度プロファイルと比較し、
終了した前記比較を基づいて物体の少なくとも1つの縁部の位置を測定する。
少なくとも1つの干渉性光源からの光を用いて物体を照射し、複数の回折境界線は、物体によって生じる陰影の両方の幾何学的境界線に発生し、
少なくとも1つのシングルライン光センサまたはマルチライン光センサを使用し、少なくとも1つの回折境界線の空間強度プロファイルを記録し、
少なくとも1つの記録された前記強度プロファイルを、当該位置に応じて実質的に逆線形依存度を備えた周期を有し、かつ周期的な関数を位置に応じて積分する場合、周期的な関数から生じる少なくとも1つの基準強度プロファイルと比較し、
終了した前記比較に基づいて物体の少なくとも1つの縁部の位置を測定する。
したがって正弦関数を使用する近似法によって、以下が縁部での導出された回折境界プロファイルに当てはまる:
T(Δx) = T0/(χ−χgeo)
但し、T0は定数であり、後述する。
I:光強度
A:振幅係数
χ:位置軸(位置)
χgeo:幾何学的陰影境界線
T0:正弦プロファイルの周期。
Claims (23)
- 物体(10)、特にストランド(10)の少なくとも1つの縁部の位置を測定する方法であって、以下のステップを含む、
少なくとも1つの干渉性光源(12,12b)からの光を用いて前記物体(10)を照射し、複数の回折境界線(22)が前記物体(10)によって生じる陰影の両方の幾何学的な境界線に発生し、
少なくとも1つのシングルライン光センサまたはマルチライン光センサ(16,16b)を使用し、少なくとも1つの回折境界線(22)の空間強度プロファイルを記録し、
少なくとも1つの記録された前記強度プロファイルを位置に応じて微分し、二乗の位置軸上にプロットし、
前記位置に応じて微分され二乗の位置軸上にプロットされた前記少なくとも1つの記録された強度プロファイルを、少なくとも1つの周期的な基準強度プロファイルと比較し、
前記終了した比較に基づいて前記物体(10)の少なくとも1つの縁部の位置を測定する前記方法。 - 物体(10)、特にストランド(10)の少なくとも1つの縁部の位置を測定する方法であって、以下のステップを含む、
少なくとも1つの干渉性光源(12,12b)からの光を用いて前記物体(10)を照射し、複数の回折境界線(22)が前記物体(10)によって生じる陰影の両方の幾何学的な境界線に発生し、
少なくとも1つのシングルライン光センサまたはマルチライン光センサ(16,16b)を使用し、少なくとも1つの回折境界線(22)の空間強度プロファイルを記録し、
少なくとも1つの記録された前記強度プロファイルを位置に応じて微分し、
前記位置で微分された少なくとも1つの記録された前記強度プロファイルを、当該位置に対して実質的に逆線形となる依存度を備えた周期を有する場合、周期的な関数から生じる少なくとも1つの基準強度プロファイルと比較し、
終了した前記比較に基づいて前記物体(10)の少なくとも1つの縁部の位置を測定する前記方法。 - 物体(10)、特にストランド(10)の少なくとも1つの縁部の位置を測定する方法であって、以下のステップを含む、
少なくとも1つの干渉性光源(12,12b)からの光を用いて前記物体(10)を照射し、複数の回折境界線(22)が前記物体(10)によって生じる陰影の両方の幾何学的な境界線に発生し、
少なくとも1つのシングルライン光センサまたはマルチライン光センサ(16,16b)を使用し、少なくとも1つの回折境界線(22)の空間強度プロファイルを記録し、
少なくとも1つの記録された前記強度プロファイルを、前記位置に応じて実質的に逆線形依存度を備えた周期を有し、かつ周期的な関数を当該位置に応じて積分する場合、当該周期的な関数から生じる少なくとも1つの基準強度プロファイルと比較し、
前記終了した比較を基づいて前記物体(10)の少なくとも1つの縁部の位置を測定する方法。 - 前記物体(10)が、その長手方向に沿って運搬可能であり、その間、前記物体(10)の位置が連続的に測定されることを特徴とする、請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの周期的な基準強度プロファイルが、正弦波の基準強度プロファイルであり、かつ/または、前記周期関数が正弦関数であることを特徴とする、請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの周期的な基準強度プロファイルが、周期性の矩形、三角形、または台形のプロファイルであり、かつ/または、前記周期的な関数が周期性の矩形、三角形、または台形の関数であることを特徴とする、請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記基準強度プロファイルと比較する前に、振幅制限を使用して、前記記録された強度プロファイルから2値信号を生成することを特徴とする、請求項1から6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記比較の過程において、前記物体(10)によって生じる前記陰影のそれぞれの幾何学的な境界線を特徴づける前記少なくとも1つの記録された強度プロファイルおよび/または前記少なくとも1つの基準強度プロファイルのパラメータが、前記強度プロファイルと比較されて互いに最適に一致するまで変化させることを特徴とする、請求項1から7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記物体(10)によって生じる前記陰影の幾何学的な境界線を特徴づける前記パラメータの変化が、直前の変化で前記基準強度プロファイルと最適に一致している値から開始することを特徴とする、請求項8に記載の方法。
- 前記比較の過程において、前記少なくとも1つの記録された強度プロファイルおよび/または前記少なくとも1つの基準強度プロファイルの位相調整が変化することを特徴とする、請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- 前記比較の過程において、前記少なくとも1つの記録された強度プロファイルおよび/または前記少なくとも1つの基準強度プロファイルの周波数が変化することを特徴とする、請求項1から10のいずれか一項に記載の方法。
- 前記物体(10)から生じる前記陰影の両方の幾何学的な陰影境界線が測定されることを特徴とする、請求項1から11のいずれか一項に記載の方法。
- 前記物体(10)の前記少なくとも1つの光センサ(16,16b)からの距離が測定されることを特徴とする、請求項1から12のいずれか一項に記載の方法。
- 前記物体(10)が少なくとも1つの第2の干渉性光源(12b)からの光で照射され、その主ビーム(36b)が前記第1の干渉性光源(12)の主ビーム(36)にほぼ垂直であることを特徴とし、回折境界線(22)が、前記物体(10)によって生じる前記陰影の両方の幾何学的な境界線上に前記第2の干渉性光源(12b)によって生成され、前記第2の干渉性光源によって生成される少なくとも1つの回折境界線(22)の前記空間強度プロファイルが、少なくとも1つの第2のシングルライン光センサまたはマルチライン光センサ(16b)によって記録されて、前記光センサ(16)からの前記物体(10)の距離が測定されることを特徴とする、請求項13に記載の方法。
- 位相同期回路(PLL)を使用して前記比較が行われることを特徴とする、請求項1から14のいずれか一項に記載の方法。
- フーリエ解析を使用して前記比較が行われることを特徴とする、請求項1から15のいずれか一項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの干渉性光源(12,12b)の前記主ビーム(36,36b)が、前記物体(10)の長手方向にほぼ垂直であることを特徴とする、請求項1から16のいずれか一項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの干渉性光源(12,12b)が実質的に点状であり、かつ/または、前記物体(10)が扇形の光線(14,14b)を用いて照明されることを特徴とする、請求項1から17のいずれか一項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの干渉性光源(12,12b)と前記物体(10)との間に、かつ/または、前記物体(10)と前記少なくとも1つの光センサ(16,16b)との間に、光放射線を変形または偏向させる光学素子が存在しないことを特徴とする、請求項18に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの光センサ(16,16b)が前記少なくとも1つの干渉性光源(12,12b)に対向して配置されていることを特徴とする、請求項1から19のいずれか一項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの光センサ(16,16b)の測定軸が、前記少なくとも1つの干渉性光源(12,12b)の前記主ビーム(36,36b)にほぼ垂直であることを特徴とする、請求項1から20のいずれか一項に記載の方法。
- 前記物体(10)が、少なくてもある程度は透明であることを特徴とする、請求項1から21のいずれか一項に記載の方法。
- 前記物体(10)の直径が、1mm未満であり、好ましくは0.5mm未満であることを特徴とする、請求項1から22のいずれか一項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102012021892.3 | 2012-11-08 | ||
DE102012021892.3A DE102012021892A1 (de) | 2012-11-08 | 2012-11-08 | Verfahren zur Auswertung Fresnelscher Beugungssaumverläufe |
PCT/EP2013/071016 WO2014072144A1 (de) | 2012-11-08 | 2013-10-09 | Verfahren zur bestimmung der lage mindestens einer kante eines gegenstandes mittels auswertung fresnelscher beugungssaumverläufe |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015534086A true JP2015534086A (ja) | 2015-11-26 |
JP6228222B2 JP6228222B2 (ja) | 2017-11-08 |
Family
ID=49322380
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015541061A Active JP6228222B2 (ja) | 2012-11-08 | 2013-10-09 | フレネル回折の境界プロファイルを評価する方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9797712B2 (ja) |
EP (1) | EP2917687B1 (ja) |
JP (1) | JP6228222B2 (ja) |
KR (1) | KR101833396B1 (ja) |
CN (1) | CN105026880B (ja) |
DE (1) | DE102012021892A1 (ja) |
RU (1) | RU2616070C2 (ja) |
WO (1) | WO2014072144A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017201750A1 (de) | 2017-02-03 | 2018-08-09 | Siemens Healthcare Gmbh | Positionsermittlung eines Untersuchungsobjekts bei Durchführung eines medizinischen Bildgebungsverfahrens |
EP3726241A1 (de) * | 2019-04-19 | 2020-10-21 | Siemens Mobility GmbH | Verfahren und system zur lokalisierung eines gegenstandes |
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-
2012
- 2012-11-08 DE DE102012021892.3A patent/DE102012021892A1/de not_active Withdrawn
-
2013
- 2013-10-09 CN CN201380069529.2A patent/CN105026880B/zh active Active
- 2013-10-09 WO PCT/EP2013/071016 patent/WO2014072144A1/de active Application Filing
- 2013-10-09 JP JP2015541061A patent/JP6228222B2/ja active Active
- 2013-10-09 KR KR1020157015226A patent/KR101833396B1/ko active IP Right Grant
- 2013-10-09 EP EP13774177.3A patent/EP2917687B1/de active Active
- 2013-10-09 RU RU2015117954A patent/RU2616070C2/ru active
- 2013-10-09 US US14/441,420 patent/US9797712B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20150082585A (ko) | 2015-07-15 |
CN105026880A (zh) | 2015-11-04 |
KR101833396B1 (ko) | 2018-02-28 |
WO2014072144A1 (de) | 2014-05-15 |
US9797712B2 (en) | 2017-10-24 |
US20150268034A1 (en) | 2015-09-24 |
RU2015117954A (ru) | 2016-12-27 |
CN105026880B (zh) | 2018-03-06 |
JP6228222B2 (ja) | 2017-11-08 |
DE102012021892A1 (de) | 2014-05-08 |
EP2917687B1 (de) | 2019-05-22 |
EP2917687A1 (de) | 2015-09-16 |
RU2616070C2 (ru) | 2017-04-12 |
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Date | Code | Title | Description |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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