JP2015525347A - 長繊維の試験材の品質の比較 - Google Patents

Abstract

複数の長繊維の試験材の品質を比較するための方法において、第１試験材の少なくとも１つのパラメータの値が算出される。イベントフィールド（４）内の複数のイベントの密度が、この第１試験材のパラメータの値と当該値の長手方向の範囲とから算出される。前記第１試験材（９）で算出されたこれらのイベントの一定の密度から実質的に構成される第１密度線（５１，５１′）が、前記イベントフィールド（４）内に表示される。前記第１密度線（５１，５１′）のほかに、１つの基準密度線（５６，５６′）が、前記イベントフィールド（４）内に表示され、この基準密度線（５６，５６′）は、この第１密度線（５１，５１′）と同じイベント密度に相当するものの、その少なくとも一部が、前記第１試験材（９）と違う基準試験材に関するものである。したがって、第１密度線（５１，５１′）の曲線と基準密度線（５６，５６′）の曲線との比較が可能になる。第１試験材の品質と基準試験材の品質との比較が、これらの密度線（５１，５１′；５６，５６′）の比較から実施され得る。

Description

本発明は、繊維の品質管理の分野に属する。本発明は、独立請求項の上位概念に記載の長繊維の試験材の品質を比較するための方法及び装置に関する。

糸の検査及び試験のための多くの様々な装置が公知である。これらの装置は、それらの用途に応じて、２つのカテゴリーである実験による試験（オフライン）と製造工程中の試験（オンライン）とに分類される。例えば、アプリケーションハンドブックである「ＵＳＴＥＲ（登録商標）ＣＬＡＳＳＩＭＡＴ ＱＵＡＮＴＵＭ」Ｕｓｔｅｒ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ ＡＧ、２００５年５月に記載されているように、本出願人の設備であるＵＳＴＥＲ（登録商標）ＣＬＡＳＳＩＭＡＴ ＱＵＡＮＴＵＭが、太い場所及び細い場所並びに異物のような、糸欠陥を分類するために使用される。その機能によれば、当該設備は、実験装置である。何故なら、当該設備は、繊維実験室内でサンプルを詳しく試験するために使用されるからである。しかしながら、当該設備から構成される実験装置は、その大部分が製造に由来する。つまり、検査された糸が、手動式の巻き機の巻取ヘッド上で巻き戻され、ヤーンクリアラの測定ヘッドによって走査される。このヤーンクリアラの測定ヘッドによって測定された糸パラメータが、制御ユニット及び／又はワークステーションコンピュータ内で統計的に評価され、例えば、２次元分類図内で分類される。

イベントフィールドとも呼ばれ得る当該２次元分類図は、通常は横軸と縦軸とを有するデカルト座標系によって作成される。欠陥長さが、横軸に沿ってプロットされ、欠陥振幅（糸長当たりの質量、糸径、糸反射率等の、目標値からの偏差）が、縦軸に沿ってプロットされる。これらの座標軸の各々が、複数の区間に分割され得る。これにより、糸欠陥の長方形のクラスから成るシステムが生成される。当該システムであるＵＳＴＥＲ（登録商標）ＣＬＡＳＳＩＭＡＴ ＱＵＡＮＴＵＭでは、２３個又は２７個のクラスが存在する。糸の試験中に、確認された糸欠陥が、対応するクラスに分類される。当該確認された欠陥の数が、各クラスに対して別々に表示される。こうして完成した分類図は、一方では当該糸の品質の印象を与え、他方では当該糸に対するクリアリングリミットを設定するための定量的な根拠を提供する。当該分類図に対する例が、上記のアプリケーションハンドブックである「ＵＳＴＥＲ（登録商標）ＣＬＡＳＳＩＭＡＴ ＱＵＡＮＴＵＭ」と米国特許出願公開第５，５３７，８１１号明細書とに開示されている。米国特許第６，３７４，１５２号明細書は、散布図と糸欠陥に対するクリアリングリミットとがさらに描かれている分類図を示す。この散布図の点が、確認された糸欠陥を示す。米国特許第６，２４４，０３０号明細書は、糸の反射率が分類図の縦軸に沿ってプロットされている当該分類図に対する例を示す。

ヤーンクリアラは、糸の品質を保証するために紡糸機又は糸巻き機で使用される。ヤーンクリアリングの目的は、糸中の太い場所、細い場所又は異物のような欠陥を検出すること、所定の品質基準にしたがって評価すること、場合によっては除去することである。このため、ヤーンクリアラの測定ヘッドが、測定スリットを有する。糸が、その長手方向に沿ってこの測定スリットを通過する。測定スリットに沿って少なくとも１つのセンサが、当該移動する糸を走査するために配置されている。多くの場合、使用されるセンサ原理は、静電容量式のもの（例えば、欧州特許出願公開第０９２４５１３号明細書参照）又は光学式のもの（例えば、国際公開第９３／１３４０７号パンフレット参照）である。さらに、当該ヤーンクリアラの測定ヘッドは、センサ信号を評価し、当該センサ信号を所定の品質基準、例えば、クリアリングリミットと比較するために、電子回路を有する。欠陥が、クリアリングリミットより下に存在する場合、この欠陥は許容できる。つまり、欠陥が、クリアリングリミットより上に存在する場合、この欠陥は、許容できず、糸から除去されるか又は少なくとも記録される。

国際公開第２０１０／０７８６６５号パンフレットは、繊維の試験材の長手方向に沿って移動する当該試験材の特性を表示するための方法及び装置を記す。この場合、当該試験材の特性の測定値が、その長手方向に沿って把握される。試験材パラメータの値が、当該測定値から算出される。イベントフィールド内のイベント密度が、当該試験材パラメータの値と当該イベント密度の分布範囲の値とから算出される。１つの試験材本体が、領域としてこのイベントフィールド内に視覚的に表示される。この領域は、このイベントフィールド内の、一方では横軸によって、他方では縦軸によって、さらには一定のイベント密度に実質的に相当する線によって包囲される。当該試験材本体の表示は、当該試験材に固有の特性を迅速に把握すること、及びクリアリングリミットを合理的に事前設定することを、オペレータに可能とさせる。

米国特許第６，３４３，５０８号明細書に記載の課題は、１つの糸のパラメータの値を一見して把握できるようにすること、このときに当該パラメータの重要度に応じて重み付けをすることである。このため、複数の異なる糸パラメータが、１つのセグメント図に表示される。この場合、１つのセグメントが、各パラメータに割り当てられている。当該重み付けは、個々のセグメントの異なる開口角度によって実行される。それぞれの糸を評価するため、パラメータに対応する基準値が、このセグメント図内に描かれてもよい。当該基準値は、例えば、ＵＳＴＥＲ（登録商標）ＳＴＡＴＩＳＴＩＣＳから入手され得る。このＵＳＴＥＲ（登録商標）ＳＴＡＴＩＳＴＩＣＳは、本保護権の出願人によって発行された繊維の品質データの編集物である。当該品質データは、繊維の原材料、中間製品及び最終製品の世界規模の製造から取得されたものである（ＣＤ−ＲＯＭ「ＵＳＴＥＲ（登録商標）ＳＴＡＴＩＳＴＩＣＳ ２００７」、第４．０版、Ｕｓｔｅｒ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ ＡＧ、２０１１参照）。

米国特許出願公開第５，５３７，８１１号明細書 米国特許第６，３７４，１５２号明細書 米国特許第６，２４４，０３０号明細書 欧州特許出願公開第０９２４５１３号明細書 国際公開第９３／１３４０７号パンフレット 国際公開第２０１０／０７８６６５号パンフレット 米国特許第６，３４３，５０８号明細書 国際公開第２０１０／０７８６６５号明細書

「ＵＳＴＥＲ（登録商標）ＣＬＡＳＳＩＭＡＴ ＱＵＡＮＴＵＭ」Ｕｓｔｅｒ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ ＡＧ、２００５年５月 ＣＤ−ＲＯＭ「ＵＳＴＥＲ（登録商標）ＳＴＡＴＩＳＴＩＣＳ ２００７」、第４．０版、Ｕｓｔｅｒ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ ＡＧ、２０１１

本発明の課題は、複数の長繊維の試験材の品質の簡単な比較を可能にする方法及び装置を提供することにある。この場合、「品質」は、長手方向に沿った質量のバラツキ、長手方向に沿った直径のバラツキ、異物の含有量、毛羽節等のような特性を意味する。

この課題及びその他の課題は、独立請求項に記載されているような、本発明の方法及び本発明の装置によって解決される。好適な実施の形態は、従属請求項に記載されている。

長繊維の試験材の品質を比較するための本発明の方法では、第１試験材の少なくとも１つの特性の測定値が、この第１試験材の長手方向に沿って検出される。この第１試験材の少なくとも１つのパラメータの値が、当該測定値から算出される。１つのイベントフィールドが提供される。このイベントフィールドは、デカルト直交座標系の第１象限又は第１象限の一部から構成される。この座標系の横軸が、長手方向のパラメータ値の範囲を示し、この座標系の縦軸が、目標値からのパラメータ値の偏差を示す。その結果、当該算出されたパラメータ値とこれらのパラメータ値の長手方向の範囲とが、複数のイベントとしてこのイベントフィールド内に記入可能である。このイベントフィールド内のこれらのイベントの密度が算出される。この第１試験材で算出されたこれらのイベントの一定の密度から実質的に構成される１つの第１密度線が、このイベントフィールド内に表示される。この第１密度線のほかに、１つの基準密度線が、このイベントフィールド内に表示される。この基準密度線は、この第１密度線と同じイベント密度に相当するものの、その少なくとも一部が、この第１試験材とは違う基準試験材に関するものである。

当該試験材のパラメータは、例えば、当該試験材の、単位長さ当たりの質量、横断寸法又は異物の含有量でもよい。

当該基準試験材は、第１試験材とは違う実際の第２試験材でもよい。この場合には、基準密度線が、第１密度線と同じ方法で算出される。１つの実際の基準試験材が、その長手方向に沿って測定され、少なくとも１つのパラメータの値が、当該測定値から算出され、イベント密度が、当該パラメータ値から算出され、この基準密度線が、この基準試験材で算出された複数のイベントの一定の密度から実質的に構成される。

この代わりに、当該基準試験材は、基準密度線を決定するために形成される仮想の試験材でもよい。当該仮想の基準試験材は、少なくとも２つの実際の試験材の集合から形成されてもよい。当該集合は、少なくとも１つのその他の実際の試験材に加えて第１試験材を有してもよい。少なくとも２つの実際の試験材が測定され、当該基準密度線が、算出された全ての密度線又はその部分集合の平均値として規定される。当該平均値の生成の際、重み付けが、例えば、該当する試験材の検出されたそれぞれの長さに基づいて実行されてもよい。当該基準密度線は、第１密度線の測定の直前に算出されてある必要はない。当該基準密度線は、例えば、本保護権の出願人のＵＳＴＥＲ（登録商標）ＳＴＡＴＩＳＴＩＣＳのような、品質レファレンスドキュメントから取り出されてもよい。

好適な実施の形態では、第１密度線と基準密度線とによって少なくとも部分的に包囲された差領域が、イベントフィールド内で視覚的に強調される。当該差領域が、その周囲と視覚的に相違することによって、特に、当該差領域が、その周囲とは違う色、違う灰色の色合い及び／又は違う模様を有することによって、当該強調は実行され得る。

１つの基準試験材本体が、領域として当該イベントフィールド内に表示され得る。この領域は、一方では横軸又はこの横軸に対して平行に延在する直線によって、他方では縦軸又はこの縦軸に対して延在する直線によって、さらには基準密度線によって包囲される。特に、この基準試験材本体を表す領域が、その周囲とは違う色、違う灰色の色合い及び／又は違う模様を有することによって、当該領域は、その周囲と視覚的に相違してもよい。試験材本体自体は、国際公開第２０１０／０７８６６５号明細書から公知である。

１００ｋｍの試験材の長さ当たり、５００個〜２０００個の一定のイベント密度が存在することが好ましい、特に、１００ｋｍの試験材の長さ当たり約１０００個のイベント密度が存在することが好ましい。

当該イベントフィールドの少なくとも一部が、複数の水平クラス境界線と複数の垂直クラス境界線とによって複数のイベントに対する複数の長方形のクラスに分割され得る。

本発明は、基準試験材に関する基準密度線と第１試験材に関する第１密度線とのほかに、第２試験材に関する少なくとも１つの第２密度線を当該イベントフィールド内に表示することを可能にする。特に、第１密度線と、基準密度線と、必要ならば、さらに表示された少なくとも１つの第２密度線とが、異なる色、異なる灰色の色合い、異なる厚さ及び／又は異なる破線符号を有することによって、特に、これらの密度線が、視覚的に互いに相違する。

本発明の方法は、特にコンピュータによって実行される。

本発明は、コンピュータプログラム製品が、コンピュータ上で実行されるときに、本発明の方法を実行するために機械可読媒体上に記憶されたプログラムコードを有する当該コンピュータプログラム製品にも関する。

長繊維の試験材の特性を比較するための本発明の装置は、第１試験材の長手方向に沿ってこの第１試験材の少なくとも１つの特性の測定値を検出するための測定ユニットを有する。当該装置は、この測定ユニットに接続されている評価ユニットをさらに有する。この評価ユニットは、当該測定値から第１試験材の少なくとも１つのパラメータの値を算出し、イベントフィールドを提供するために構成されている。このイベントフィールドは、デカルト直交座標系の第１象限又は第１象限の一部から構成される。この座標系の横軸が、長手方向のパラメータ値の範囲を示し、この座標系の縦軸が、目標値からのパラメータ値の偏差を示す。その結果、当該算出されたパラメータ値とこれらのパラメータ値の長手方向の範囲とが、複数のイベントとしてこのイベントフィールド内に記入可能である。この評価ユニットは、このイベントフィールド内でこれらのイベントの密度を算出するために構成されている。さらに、当該装置は、このイベントフィールドとこのイベントフィールド内の第１密度線とを表示するためにこの評価ユニットに接続されている出力ユニットを有する。この第１密度線は、この第１試験材で算出されたこれらのイベントの一定の密度から実質的に構成される。この評価ユニットは、基準密度線を記憶するために構成されている。この基準密度線は、この第１密度線と同じイベント密度に相当するものの、その少なくとも一部が、この第１試験材とは違う基準試験材に関するものである。この評価ユニットは、この第１密度線とこの基準密度線とを同時に表示するために構成されている。この表示により、第１密度線の曲線とこの基準密度線の曲線とが比較され得る。

用語「評価ユニット」は、この明細書では１つの演算器を意味するが、１つの物理装置に限定されない。当該評価ユニットは、上記の評価機能を実行する１つ、２つ又は複数の物理デバイスから構成されてもよい。好適な実施の形態では、当該評価ユニットは、測定ユニット用の制御ユニットとこの制御ユニットに接続されているワークステーションコンピュータとから構成される。当該評価が、その少なくとも一部を測定ユニット内で先立って実行されてもよい。

上記出力ユニットは、例えば、スクリーン、タッチスクリーン又はプリンタである。

上記測定ユニットは、第１試験材の質量を検出するための静電容量式センサ及び／又は第１試験材の横断寸法及び／又は異物の含有量を検出するための光学式センサから構成されてもよい。本発明は、第１密度線の曲線と基準密度線の曲線との比較を可能にする。第１試験材の品質と基準試験材の品質との比較が、それらの密度線の曲線の比較から実行され得る。

本発明は、上記の本発明の方法で使用するために少なくとも１つの基準密度線を提供する方法も有する。この場合、世界規模の製造を代表する同じタイプの基準試験材の集合が収集される。各基準試験材の少なくとも１つの特性の測定値が、当該基準試験材の長手方向に沿って検出される。それぞれの基準試験材の少なくとも１つのパラメータの値が、当該測定値から算出される。１つのイベントフィールドが提供される。このイベントフィールドは、このイベントフィールドは、デカルト直交座標系の第１象限又は第１象限の一部から構成される。この座標系の横軸が、長手方向のパラメータ値の範囲を示し、この座標系の縦軸が、目標値からのパラメータ値の偏差を示す。その結果、当該算出されたパラメータ値とこれらのパラメータ値の長手方向の範囲とが、複数のイベントとしてこのイベントフィールド内に記入可能である。これらのイベントの密度が、このイベントフィールド内で算出される。このイベントフィールド内では、１つの密度線が、各基準試験材に対して算出される。この密度線は、同じタイプの各基準試験材に対してその基準試験材で算出された複数のイベントの一定の密度から実質的に構成される。少なくとも１つの百分位数密度線が、基準密度線としてこのイベントフィールド内に表示される。当該百分位数密度線は、当該算出された複数の密度線に関する百分位数である。

１００ｋｍの試験材の長さ当たり、５００個〜２０００個の一定のイベント密度が存在することが好ましい、特に、１００ｋｍの試験材の長さ当たり約１０００個のイベント密度が存在することが好ましい。

基準試験材のタイプに対しては、例えば、５パーセンタイル、２５パーセンタイル、５０パーセンタイル、７５パーセンタイル及び９５パーセンタイルに相当する５種類の百分位数密度線が、基準密度線として表示される。

さらに、本発明は、長軸繊維の試験材に関する品質データを有する品質レファレンスドキュメントを含む。当該品質レファレンスドキュメントは、上記の方法にしたがって提供された少なくとも１つの基準密度線を有する。この場合、本発明の方法では、当該品質レファレンスドキュメントから取り出された少なくとも１つの基準密度線が、同じタイプの試験材の世界規模の製造に関して検査された試験材の品質を分類するために使用される。

本発明の装置を概略的に示す。 ２つの密度線を有する本発明によるイベントフィールドを示す。 ３つの密度線を有し、１つの試験材本体をさらに有する本発明によるイベントフィールドを示す。 世界規模の糸製造に関する試験材を格付けするための百分位数を有するイベントフィールドを示す。

図１には、本発明の方法を実行するための本発明の装置１が示されている。この装置１は、長手方向ｘに沿って可動な第１の長繊維の試験材９、例えば糸の少なくとも１つの特性の測定値を検出するための測定ユニット２を有する。このような測定ユニット２は、公知であり、ここでは詳しく説明する必要はない。当該測定ユニット２は、例えば、ヤーンクリアラとして構成され得、静電容量式センサ、光学式センサ又はその他のセンサを含み得る。つまり、複数の、同一又は異なるセンサが、測定ユニット２内に配置されてもよい。静電容量式センサの場合には、それらの測定値は、例えば、当該センサ又は対応する測定回路の出力電圧及び／又は出力電流である。これらの定量値は、試験材の比誘電率に対する目安である。当該測定ユニット２は、測定データを予備評価するための評価手段を備え得る。当該測定装置２は、第１データ線２１上で、特に電気出力信号を出力する。この電気出力信号は、第１試験材９の質量、直径又はその他の特性に対する目安である。

第１データ線２１は、評価ユニット３に接続されている。この評価ユニット３は、測定ユニット２の出力信号を評価するために設けられている。このため、この評価ユニット３は、適切なアナログ式及び／又はデジタル式評価手段、例えば、マイクロプロセッサを有する。この評価ユニット３は、データを記憶するためのメモリ手段のようなその他の手段を有してもよい。この評価ユニット３は、特にコンピュータである。

さらに、装置１は、測定データ及び／又は評価結果を出力するための出力ユニット３３を有する。この出力ユニット３３は、第２データ線３１によって評価ユニット３に接続されている。この出力ユニット３３は、例えば、スクリーン及び／又はプリンタとして構成され得る。特に、当該装置１は、ユーザによってデータを入力するために入力ユニット３４も有する。この入力ユニット３４は、第３データ線３２によって評価ユニット３に接続されていて、例えば、キーボード又はコンピュータマウスでもよい。この出力ユニット３３及びこの入力ユニット３４は、タッチスクリーン内で統合されてもよい。

制御ユニットが、評価ユニット３と測定ユニット２との間に存在してもよい。しかしながら、簡略化の理由から、この制御ユニットは、図１に示されていない。このような制御ユニットは、測定ユニット２を調整して制御するために使用される。この制御ユニットは、測定ユニット２によって検出された測定値の評価の一部も請け負う。以下で説明する評価は、測定ユニット２、制御ユニット及び／又は評価ユニット３内で実行され得る。

第１試験材９の少なくとも１つのパラメータの値が、検出された測定値から算出される。当該パラメータは、例えば、第１試験材９の単位長さ当たりの質量でもよい。当該質量は、静電容量式センサの出力信号から得られる。所定の長さにおいて目標値とは違うパラメータ値が、第１試験材９中のイベント９１と呼ばれる。当該イベント９１に対する例は、単位長さ当たりの質量が単位長さ当たりの目標質量とは違う太い場所又は細い場所である。つまり、糸では、単位長さ当たりの目標質量が、実質的にデシテックスに相当する。

図２に示されたイベントフィールド４が提供される。このイベントフィールド４は、デカルト直交座標系の第１象限又は第１象限の一部から構成される。この座標系の横軸４１が、長手方向のパラメータ値の範囲、すなわち欠陥長さを示す。縦軸４２が、目標値からのパラメータの偏差、すなわち欠陥振幅を示す。この例では、当該パラメータは、第１試験材９の単位長さ当たりの質量である。このイベントフィールド４の少なくとも一部が、複数の水平クラス境界線４３と複数の垂直クラス境界線４４とによって複数のイベントに対する複数の長方形のクラスに分割されている。

第１試験材９の十分に長い区間が測定される。少なくとも約１ｋｍの測定長さが、「十分に」とみなされる。しかし、例えば、１０ｋｍ又は１００ｋｍの長さのより長い測定長さが好ましい。何故なら、当該より長い測定長さは、統計的により説得力のある結果を提供するからである。パラメータ値及び当該パラメータ値に含まれる欠陥長さが、測定ユニット２から評価ユニット３に転送される。すなわち、例えば、米国特許第６，３７４，１５６Ｂ１に記載されているように、この評価ユニット３内では、イベントフィールド４内の複数のイベントの密度が、当該パラメータ値及び当該パラメータ値に含まれる欠陥長さから算出される。こうして、１つのイベント密度が、このイベントフィールド４の各点に一義的に割り当てられ得る。こうして算出されたイベント密度関数の非常に急激な局所変化が、内挿法、外挿法、平滑化法及び／又はその他の数値処理法によって回避され得る。当該非常に急激な局所変化は、場合によっては測定誤差又はその他の人為要素に起因する。

例えば、１００ｋｍ当たり１０００個のイベント分の十分に多いイベント密度が、選択される。イベント密度が割り当てられているイベントフィールド４内の全ての点をつなげると、１つの第１密度線５１，５１′が描かれる。この第１密度線５１，５１′は、複数の一定のイベント密度から実質的に構成される。この第１密度線５１，５１′は、検査された第１試験材９に対して固有である。図２の上側の部分内の第１密度線５１は、正の欠陥振幅、すなわちネップ、短くて太い場所及び長くて太い場所に相当する一方で、図２の下側の部分内の密度線５１′は、負の欠陥振幅、すなわち細い場所に相当する。この代わりに、このイベントフィールドは、正の欠陥振幅だけか又は負の欠陥振幅だけから構成されてもよい。

本発明の方法によれば、１つの第１密度線５１，５１′のほかに、１つの基準密度線５６，５６′が、イベントフィールド４内に示される。この基準密度線５６，５６′は、第１密度線５１，５１′と同じイベント密度を示すものの、その少なくとも一部が、第１試験材９とは違う（図示されなかった）基準試験材から成る。この基準密度線５６，５６′及びこの密度線５１，５１′は、異なって描かれる、例えば、異なる破線符号又は異なる色で描かれる。

イベントフィールド４内での同時の表示の結果、この第１密度線５１，５１′の曲線とこの基準密度線５６，５６′の曲線とが比較され得る。この第１密度線５１，５１′の曲線とこの基準密度線５６，５６′の曲線との差が重要である。この第１密度線５１（又は５１′）とこの基準密度線５６（又は５６′）とによって少なくとも一部を包囲された差領域５３，５４（又は５５）が、イベントフィールド４内に視覚的に強調され、例えば、ハッチングされるか又は色付けされることによって、この差が明確にされ得る。第１試験材９の品質と基準試験材の品質との差が、この第１密度線５１，５１′の曲線とこの基準密度線５６，５６′の曲線との確認された当該差から推測される。図２の例では、第１密度線５１が、小さい欠陥、すなわちネップ及び短い欠陥長さの領域内で基準密度線５６より明らかに高い。これに対して、大きい欠陥長さの領域内では、当該第１密度線５１は、基準密度線５６より低い。図２の例において、密度線５１，５６が、糸に関する場合、第１糸９が、織物中に基準糸より不安定の雲むらを作り、それ故にストライプ模様を、より減少させることが、当該比較から推測され得る。図２の下側の部分内の細い場所（負の欠陥振幅）に関しては、当該第１糸９の品質は、当該基準糸より低い。

さらに、国際公開第２０１０／０７８６６５号パンフレットから公知であるように、図２のイベントフィールド４内には、基準試験材本体が描かれている。この基準試験材本体は、領域６によって示される。この領域６は、縦軸と基準密度線５６，５６′とによって包囲されている。当該基準試験材を示すこの領域６の形は、それぞれの基準試験材に対して固有である。当該基準試験材本体６内に存在するイベントは、その基準試験材に属し、その基準試験材から除去されてはならない。

図３は、図２に類似しているイベントフィールド４を示す。１つの基準密度線５６，５６′が、このイベントフィールド４内に示されている。この実施の形態では、基準試験材本体を示す領域６が、灰色の色合いによって強調されている。この代わりに、当該領域６は、その周囲とは違う色又は違う模様を有してもよい。第１密度線５１，５１′は、検査される第１試験材９に対して固有である。図３には、この第１密度線５１、５１′のほかに、第２密度線５２，５２′が描かれている。この第２密度線５２，５２′は、第１試験材９とは違う第２試験材に関するものである。より良好な区別及び識別のために、この第２密度線５２，５２′は、特に、第１密度線５１，５１′及び基準密度線５６，５６′と異なる破線符号又は異なる色を有する。この第２密度線５２，５２′とこの基準密度線５６，５６′との比較は、第２試験材の品質が、基準試験材の品質より低いことを示す。同様に、その他の試験材に関する、その他の（第３、第４等の）試験材曲線が、表示され、且つ基準密度線５６，５６′と比較され得る。

当該基準密度線５６，５６′は、様々な方式で算出され得る。以下に、３つの方式を例示する：
・基準密度線５６，５６′が、第１密度線５１，５１′と同様に算出され得る。１つの実際の基準試験材が、その長手方向に沿って測定され、少なくとも１つのパラメータの値が、当該測定値から算出され、複数のイベント密度が、当該パラメータ値から算出される結果、当該基準密度線５６，５６′が、その基準試験材で算出された複数のイベント密度の一定の密度から実質的に構成される。この場合、その基準試験材は、例えば、複数の試験材９のうちの１つの試験材９でもよい。算出された複数の密度線５１，５１′又は５２，５２′のうちのどの密度線が、基準密度線５６，′として使用されるべきかを、入力ユニット３４（図１）によってキー入力することが、オペレータにとって可能になる。
・図３の例のように、複数の試験材が測定されるときに、基準密度線５６，５６′が、算出された全ての密度線５１，５１′及び５２，′又はこれらの密度線の部分集合の平均値として決定され得る。当該平均値の生成の際、重みづけが、例えば、該当する試験材のその都度算出されたそれぞれの長さに基づいて実行されてもよい。したがって、この場合には、当該基準密度線５６，５６′は、少なくとも２つの実際の試験材の集合から形成される仮想の１つの試験材に関するものである。
・最後の方式では、基準密度線５６，５６′が、予め直接に算出されることなしに、当該基準密度線５６，５６′が、評価ユニット３内に入力され得る。当該基準密度線５６，５６′は、例えば、ＵＳＴＥＲ（登録商標）ＳＴＡＴＩＳＴＩＣＳのような、品質レファレンスドキュメントから取り出されてもよい。この代わりに、当該基準密度線５６，５６′が、自由に入力されてもよいし又は少なくとも変更されてもよい。この場合にも、当該基準密度線５６，５６′は、少なくとも２つの実際の試験材の集合から形成されるか又はそもそも実際の試験材に起因し得ない仮想の１つの試験材に関するものである。

当該基準密度線５６，５６′は、ＵＳＴＥＲ（登録商標）ＳＴＡＴＩＳＴＩＣＳのような、品質レファレンスドキュメントから取り出されてもよい。このため、最初に、世界規模の試験材製造に対して代表する同じタイプの試験材サンプルの集合が収集され、それらの密度線が計算される。同じタイプの複数の試験材では、これらの密度線が、それぞれの試験材の品質に応じて異なる高さで描かれるものの、決して互いに交差しない。すなわち、複数の百分位数密度線５７．１−５７．５，５７．１′−５７．５′が、図４に示されているように算出され得る。これらの百分位数密度線５７．１−５７．５，５７．１′−５７．５′は、５パーセンタイル、２５パーセンタイル、５０パーセンタイル、７５パーセンタイル又は９５パーセンタイルを示す。すなわち：該当するタイプの世界規模で製造された全ての試験材のうちの５パーセントが、５パーセンタイル５７．１の下側（又は細い場所に対しては上側）にあり、世界規模で製造された全ての試験材のうちの２５パーセントが、２５パーセンタイル５７．２の下側（又は細い場所に対しては上側）にある、等々。５０パーセンタイル５７．３，５７．３′は、世界規模の中央値を示す。

図４のイベントフィールド４のようなグラフは、同じタイプの試験材の世界規模の製造に関する試験材９の品質の分類を示す。このため、１つ又は複数の百分位数密度線５７．１−５７．５，５７．１′−５７．５′が、基準密度線５６，５６′（図２及び３）として本発明の方法で使用される。当該イベントフィールド４内では、実際に検査された試験材９に相当する第１密度線５１，５１′も示され得る。この第１密度線５１，５１′は、これらの百分位数密度線５７．１−５７．５，５７．１′−５７．５′と比較される。この場合、内挿法が、当該離散した百分位数密度線５７．１−５７．５，５７．１′−５７．５′間で実行され得る。図４の実施の形態では、当該比較は、例えば、以下のステートメントに対して実行される：
・ネップ（非常に短くて太い場所）の領域内では、第１密度線５１の位置が、６０パーセンタイルに相当する。
・短くて太い場所の領域内では、第１密度線５１の位置が、５０パーセンタイル、すなわち中央値に相当する。
・長くて太い場所の領域内では、第１密度線５１の長さが、４０パーセンタイルに相当する。
・当該イベントフィールドの下側の部分内の細い場所に対しては、第１密度線５１′が、５０パーセンタイルの近くに存在する。
・総括して言えば、平均的な品質の試験材９が、世界規模の製品と比較される。

換言すれば、図４のイベントフィールド４に起因する１つ又は複数の百分位数密度線５７．１−５７．５，５７．１′−５７．５′が、基準密度線５６，５６′として図２のイベントフィールド４内に表示され、第１密度線５１，５１′（及び、場合によってはその他の密度線５２，５２′）と比較される。

当然に、本発明は、上記の実施の形態に限定されない。本発明を認識する場合、当業者は、独立請求項に記載されているような、本発明の範囲に属するさらなる実施の形態も導き出せ得る。

１ 装置
２ 測定ユニット
２１ データ線
３ 評価ユニット
３１，３２ データ線
３３ 出力ユニット
３４ 入力ユニット
４ イベントフィールド
４１ 横軸
４２ 縦軸
４３ 水平クラス境界線
４４ 垂直クラス境界線
５１，５１′ 第１密度線
５２，５２′ 第２密度線
５３−５５ 差領域
５６，５６′ 基準密度線
５７．１−５７．５，５７．１′−５７．５′ 百分位数密度線
６ 試験材本体、領域
９ 試験材
９１ イベント
ｘ 長手方向及び試験材の移動方向

Claims (23)

1. 複数の長繊維の試験材の品質を比較するための方法であって、
   第１試験材（９）の少なくとも１つの特性の測定値が、この第１試験材（９）の長手方向（ｘ）に沿って検出され、
   この第１試験材（９）の少なくとも１つのパラメータの値が、当該測定値から算出され、
   １つのイベントフィールド（４）が提供され、このイベントフィールド（４）は、デカルト直交座標系の第１象限又は第１象限の一部から構成され、
   この座標系の横軸（４１）が、前記長手方向のパラメータ値の範囲を示し、この座標系の縦軸（４２）が、目標値からの前記パラメータ値の偏差を示す結果、当該算出されたパラメータ値とこれらのパラメータ値の前記長手方向（ｘ）の範囲とが、複数のイベントとして前記イベントフィールド（４）内に記入可能であり、
   このイベントフィールド（４）内のこれらのイベントの密度が算出され、
   前記第１試験材（９）で算出されたこれらのイベントの一定の密度から実質的に構成される１つの第１密度線（５１，５１′）が、前記イベントフィールド（４）内に表示される当該方法において、
   前記第１密度線（５１，５１′）のほかに、１つの基準密度線（５６，５６′）が、前記イベントフィールド（４）内に表示され、この基準密度線（５６，５６′）は、この第１密度線（５１，５１′）と同じイベント密度に相当するものの、その少なくとも一部が、前記第１試験材（９）とは違う基準試験材に関するものであることを特徴とする方法。
2. 前記基準試験材は、前記第１試験材（９）とは違う実際の第２試験材である請求項１に記載の方法。
3. 前記基準試験材は、前記基準密度線（５６，５６′）を決定するために形成される仮想の試験材である請求項１に記載の方法。
4. 前記仮想の基準試験材は、少なくとも２つの実際の試験材の集合から形成される請求項３に記載の方法。
5. 前記集合は、少なくとも１つのその他の実際の試験材に加えて前記第１試験材（９）を有する請求項４に記載の方法。
6. 前記基準密度線は、品質レファレンスドキュメントから取り出される請求項１〜４のいずれか１項に記載の方法。
7. 前記第１密度線（５１，５１′）と前記基準密度線（５６，５６′）とによって少なくとも部分的に包囲された差領域（５３〜５５）が、前記イベントフィールド（４）内で視覚的に強調される請求項１〜６のいずれか１項に記載の方法。
8. 特に、前記差領域（５３〜５５）が、その周囲と違う色、違う灰色の色合い及び／又は違う模様を有することによって、前記差領域（５３〜５５）は、その周囲と視覚的に相違する請求項７に記載の方法。
9. １つの基準試験材本体が、領域（６）として前記イベントフィールド（４）内に表示され、
   この領域（６）は、一方では前記横軸（４１）又はこの横軸（４１）に対して平行に延在する直線によって、他方では前記縦軸（４２）又はこの縦軸（４２）に対して平行に延在する直線によって、さらには前記基準密度線（５６，５６′）によって包囲される請求項１〜８のいずれか１項に記載の方法。
10. 前記基準試験材本体を表す前記領域（６）が、その周囲とは違う色、違う灰色の色合い及び／又は違う模様を有することによって、この領域（６）は、その周囲と視覚的に相違する請求項９に記載の方法。
11. １００ｋｍの試験材の長さ当たり、５００個〜２０００個の一定の前記イベント密度が存在する、特に、１００ｋｍの試験材の長さ当たり約１０００個のイベント密度が存在する請求項１〜１０のいずれか１項に記載の方法。
12. 前記イベントフィールド（５）の少なくとも一部が、複数の水平クラス境界線（４３）と複数の垂直クラス境界線（４４）とによって複数のイベントに対する複数の長方形のクラスに分割される請求項１〜１１のいずれか１項に記載の方法。
13. 前記基準試験材に関する前記基準密度線（５６，５６′）と前記第１試験材（９）に関する前記第１密度線（５１，５１′）とのほかに、第２試験材に関する少なくとも１つの第２密度線（５２，５２′）が、前記イベントフィールド（４）内に表示される請求項１〜１２のいずれか１項に記載の方法。
14. 特に、前記第１密度線（５１，５１′）と、前記基準密度線（５６，５６′）と、必要ならば、さらに表示された少なくとも１つの第２密度線（５２，５２′）とが、異なる色、異なる灰色の色合い、異なる厚さ及び／又は異なる破線符号を有することによって、これらの密度線が、視覚的に互いに相違する請求項１〜１３のいずれか１項に記載の方法。
15. 前記方法は、コンピュータ（３）によって実行される請求項１〜１４のいずれか１項に記載の方法。
16. コンピュータプログラム製品が、コンピュータ（３）上で実行されるときに、請求項１〜１４のいずれか１項に記載の方法を実行するために機械可読媒体上に記憶されたプログラムコードを有する当該コンピュータプログラム製品。
17. 複数の長繊維の試験材（９）の特性を比較するための装置（１）であって、
    当該装置（１）は、第１試験材（９）の長手方向（ｘ）に沿ってこの第１試験材（９）の少なくとも１つの特性の測定値を検出するための測定ユニット（２）と、この測定ユニット（２）に接続されている評価ユニット（３）とを有し、
    前記評価ユニット（３）は、当該測定値から前記第１試験材（９）の少なくとも１つのパラメータの値を算出するために構成されていて、
    前記評価ユニット（３）は、デカルト直交座標系の第１象限又は第１象限の一部から構成されるイベントフィールド（４）を提供するために構成されていて、この座標系の横軸（４１）が、前記長手方向（ｘ）のパラメータ値の範囲を示し、この座標系の縦軸（４２）が、目標値からの前記パラメータ値の偏差を示す結果、当該算出されたパラメータ値とこれらのパラメータ値の前記長手方向（ｘ）の範囲とが、複数のイベントとして前記イベントフィールド（４）内に記入可能であり、
    前記評価ユニット（３）は、前記イベントフィールド（４）内でこれらのイベントの密度を算出するために構成されていて、
    当該装置（１）は、前記イベントフィールド（４）とこのイベントフィールド（４）内の第１密度線（５１，５１′）とを表示するために前記評価ユニット（３）に接続されている出力ユニット（３３）を有し、この第１密度線（５１，５１′）は、前記第１試験材（９）で算出されたこれらのイベントの一定の密度から実質的に構成される当該装置（１）において、
    前記評価ユニット（３）は、基準密度線（５６，５６′）を記憶するために構成されていて、この基準密度線（５６，５６′）は、前記第１密度線（５１，５１′）と同じイベント密度に相当するものの、その少なくとも一部が、前記第１試験材（９）とは違う基準試験材に関するものであり、
    前記評価ユニット（３３）は、前記第１密度線（５１，５１′）と前記基準密度線（５６，５６′）とを同時に表示するために構成されていることを特徴とする装置（１）。
18. 前記出力ユニット（３３）は、スクリーン、タッチスクリーン又はプリンタである請求項１７に記載の装置（１）。
19. 前記測定ユニット（２）は、前記第１試験材（９）の質量を検出するための静電容量式センサ及び／又は前記第１試験材（９）の横断寸法及び／又は異物の含有量を検出するための光学式センサから構成される請求項１７又は１８に記載の装置（１）。
20. 請求項１〜１５のいずれか１項に記載の方法で使用するために少なくとも１つの基準密度線（５６，５６′）を提供する方法において、
    世界規模の製造を代表する同じタイプの基準試験材の集合が収集され、
    各基準試験材の少なくとも１つの特性の測定値が、前記基準試験材の前記長手方向に沿って検出され、
    それぞれの前記基準試験材の少なくとも１つのパラメータの値が、当該測定値から算出され、
    デカルト直交座標系の第１象限又は第１象限の一部から構成される１つのイベントフィールド（４）が提供され、
    この座標系の横軸（４１）が、前記長手方向のパラメータ値の範囲を示し、この座標系の縦軸（４２）が、目標値からの前記パラメータ値の偏差を示す結果、当該算出されたパラメータ値とこれらのパラメータ値の前記長手方向の範囲とが、複数のイベントとして前記イベントフィールド（４）内に記入可能であり、
    これらのイベントの密度が、このイベントフィールド（４）内で算出され、
    このイベントフィールド（４）内では、１つの密度線が、各基準試験材に対して算出され、この密度線は、同じタイプの各基準試験材に対してその基準試験材で算出された複数のイベントの一定の密度から実質的に構成され、
    当該算出された複数の密度線に関する百分位数である、少なくとも１つの百分位数密度線（５７．１〜５７．５，５７．１′〜５７．５′）が、基準密度線（５６，５６′）として前記イベントフィールド（４）内に表示される当該方法。
21. １００ｋｍの試験材の長さ当たり、５００個〜２０００個の一定の前記イベント密度が存在する、特に、１００ｋｍの試験材の長さ当たり約１０００個のイベント密度が存在する請求項２０に記載の方法。
22. 基準試験材のタイプに対しては、５パーセンタイル、２５パーセンタイル、５０パーセンタイル、７５パーセンタイル及び９５パーセンタイルに相当する５種類の百分位数密度線（５７．１〜５７．５，５７．１′〜５７．５′）が、基準密度線（５６，５６′）として表示される請求項２０又は２１に記載の方法。
23. 長軸繊維の試験材に関する品質データを有する品質レファレンスドキュメントにおいて、
    当該品質レファレンスドキュメントは、請求項２０〜２２のいずれか１項に記載の方法にしたがって提供された少なくとも１つの基準密度線（５６，５６′）を有することを特徴とする品質レファレンスドキュメント。

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