JP2015509285A - マイクロリソグラフィ投影露光装置のための光学系及びマイクロリソグラフィ露光方法 - Google Patents

マイクロリソグラフィ投影露光装置のための光学系及びマイクロリソグラフィ露光方法 Download PDF

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Abstract

本発明は、マイクロリソグラフィ投影露光装置のための光学系及びマイクロリソグラフィ露光方法に関する。マイクロリソグラフィ投影露光装置のための光学系は、偏光影響光学配置(100,200,250)を含み、この偏光影響光学配置(100,200,250)は、第1の偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...)の少なくとも1つの第1のアレイ(110,210,260)と、第2の偏光影響要素(120a,120b,120c,...)の第2のアレイ(120,220,270)とを含み、第1及び第2のアレイは、光伝播方向に連続して配置され、第1及び第2の偏光影響要素は、各場合に電界の存在に依存する複屈折を有し、第1の偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...)及び第2の偏光影響要素(120a,120b,120c,...)は、横方向Pockelsセルである。【選択図】図1

Description

〔関連出願への相互参照〕
本出願は、共に2012年1月12日出願のドイツ特許出願DE 10 2012 200 371.1及びUS 61/585,666の優先権を主張するものである。これらの出願の内容は、これにより引用によって組み込まれる。
本発明は、マイクロリソグラフィ投影露光装置のための光学系及びマイクロリソグラフィ露光方法に関する。
マイクロリソグラフィ投影露光装置は、例えば、集積回路又はLCDのような微細構造化構成要素を生産するのに使用される。そのような投影露光装置は、照明デバイス及び投影レンズを含む。マイクロリソグラフィ処理では、マスク構造を基板の感光コーティングに転写するために、照明デバイスを用いて照明されたマスク(=レチクル)の像は、感光層(フォトレジスト)で被覆されて投影レンズの像平面に配置された基板(例えば、シリコンウェーハ)上に投影レンズを用いて投影される。
マイクロリソグラフィ投影露光装置の作動中には、定められた照明設定、すなわち、照明デバイスの瞳平面内の強度分布をターゲット方式で設定しなければならない。この目的で、回折光学要素(いわゆるDOE)の使用の他に、例えば、WO 2005/026843 A2からミラー配置の使用も公知である。
そのようなミラー配置は、互いに独立して設定することができる多数のマイクロミラーを含む。
更に、第1に、例えば、Pockelsセル又はKerrセルのような偏光状態を変更するためのデバイスと、第2に、互いに独立して設定することができるミラー要素を含んで照明デバイス内に置かれたミラー配置との間の時間相関によって偏光分布に関して異なる照明設定を設定すること、及びそのように異なって偏光された照明設定間の電子的切り換えを実現することの両方が、WO 2009/100862 A1から公知である。
WO 2005/026843 A2 WO 2009/100862 A1
本発明が対処する問題は、そのようなミラー配置を必要としなくても異なる偏光分布の柔軟な設定を可能にするマイクロリソグラフィ投影露光装置のための光学系及びマイクロリソグラフィ露光方法を提供する問題である。
この問題は、独立請求項の特徴に従って解決される。
マイクロリソグラフィ投影露光装置のための本発明による光学系は、偏光影響光学配置を含み、偏光影響光学配置は、第1の偏光影響要素の少なくとも1つの第1のアレイと、第2の偏光影響要素の第2のアレイとを含み、第1及び第2のアレイは、光伝播方向に連続して配置され、第1及び第2の偏光影響要素は、各場合に電界の存在に依存する複屈折を有し、第1の偏光影響要素及び第2の偏光影響要素は、横方向Pockelsセルである。
本発明による手法は、瞳平面内の任意の強度分布(「自由形状分布」)(適切な回折光学要素、略して「DOE」を用いて設定することができる)に加えて、偏光分布も自由に選択可能である限り、特に、互いに独立して設定することができるミラー要素を有するミラー配置(すなわち、いわゆるMMA)を含んでいないズームアキシコン系を含む照明デバイスにおいても異なる偏光状態の柔軟な設定を与えることを可能にし、すなわち、そのような照明デバイスにおいても、偏光を「切換可能」にすることを可能にする。強度分布及び/又は偏光分布に関して互いに異なる様々な偏光照明設定を設定するために、偏光状態の本発明による切り換えを特にDOE交換器と組み合わせることができる。
本発明は、特に、互いに独立して設定することができるミラー要素を有するミラー配置(=MMA)を用いずに実現することができるが、本発明は、これに限定されず、従って、原理的には、本出願は、そのようなミラー配置(MMA)を含む照明デバイスとの併用も包含する。
本出願の意味の範囲では、偏光影響要素の「アレイ」とは、少なくとも4つの偏光影響要素から構成され、この配置の平面内の2つの互いに垂直な空間方向の各々において各場合にこれらの偏光影響要素のうちの少なくとも2つが互いに隣接して配置された配置であると理解しなければならない。この場合に、「アレイ」は、周期的配置又は等距離配置であることに限定されず、すなわち、2つの空間方向(例えば、x方向及びy方向)の各々に互いに連続するマニピュレータ要素を偏光影響要素の最大広がりに関して原理的に任意に(すなわち、非周期的にも)構成することができる。更に、個々の偏光影響要素は、その光学的使用有効面に関して正方形、矩形、六角形、又はそれ以外の他の適切な幾何学形状を有することができる。それに反して、偏光影響要素は、その広がりに関して互いに垂直な空間方向のうちの少なくとも一方に(部分的又は全体的に)周期的に配置することができる。
アレイの各々は、少なくとも4つの偏光影響要素からなるが、各アレイ内の偏光影響要素の個数は、典型的に有意により多く、単なる例として100個(例えば、10*10格子配置において)又は更に数百個とすることができる。この場合に、各アレイ内の偏光影響要素の個数は、それぞれ、生成される照明設定に依存して選択することができる。
本発明の開示により、第1及び第2の偏光影響要素は、横方向Pockelsセルである。電界を発生させるために使用される電極を通る光のいかなる通過も不要であるように、横方向Pockelsセル内では、電界が直線偏光分布と垂直に印加される。横方向Pockelsセルの使用の更に別の利点は、この場合に、予め決定されたリターデーション(例えば、λ/2、λは作動波長を表す)を生成するのに必要とされる低い電圧である。従って、リン酸二水素カリウム(KDP、KH2PO4)からなる横方向Pockelsセルの場合に、λ/2のリターデーションを生成するのに必要とされる電圧は、約220Vであり、それに対して縦方向Pockelsセルの場合のこの電圧は、例えば、キロボルト(kV)範囲の値を有する可能性がある。
本発明の開示は、横方向Pockelsセルの使用に限定されず、従って、原理的には、縦方向Pockelsセルを使用することもできる。更に、Pockelsセルの代わりに、同じく外部から印加される電界の変化を用いて、通過する光の偏光の制御可能な変調を可能にするKerrセルを偏光影響要素として使用することができる(Kerrセルの場合には、誘導される複屈折は、Pockelsセルの場合のようには印加電界に直線的に比例せず、印加電界への2次関数的依存性を有する)。一般的に、本発明の開示はまた、マイクロリソグラフィ投影露光装置のための光学系に関し、光学系は、偏光影響光学配置を含み、偏光影響光学配置は、第1の偏光影響要素の少なくとも1つの第1のアレイと、第2の偏光影響要素の第2のアレイとを含み、第1及び第2のアレイは、光伝播方向に連続して配置され、第1及び第2の偏光影響要素は、各場合に、電界の存在に依存する複屈折を有する。
一実施形態により、偏光影響光学配置は、電界を発生させるための複数の電極を含み、電極は、各場合に、第1の偏光影響要素の及び第2の偏光影響要素の互いに反対の側面に配置される。
一実施形態により、第1のアレイ内の電極は、第2のアレイ内の電極に対して有限の角度の向きに配置される。
一実施形態により、偏光影響光学配置は、個々の偏光影響要素に対して、各場合にそれぞれの偏光影響要素の互いに反対の側面の異なる対に割り当てられた少なくとも2つの電極対を含む。
一実施形態により、電極対には、各場合に電圧を互いに独立して印加することができる。
一実施形態により、第1のアレイの第1の偏光影響要素内に誘導することができる複屈折速軸と、第2のアレイの第2の偏光影響要素内に誘導することができる複屈折速軸とは、それぞれ、互いに対して有限の角度、特に45°±5°の角度の向きに配置される。
この目的のために、第1のアレイ及び/又は第2のアレイは、第1に、それぞれの第1の偏光影響要素とそれぞれの第2の偏光影響要素とが互いに対して傾斜され、それによって第1のアレイ及び第2のアレイ内の偏光影響要素の互いに対応する側が互いに対して同じくある角度にあり、従って、電極配置に対する対応する位置も互いに対して同じくある角度にあるように構成することができる。
しかし、これに代えて、第1及び第2のアレイの向きが同一に与えられたとしても、第1の偏光影響要素内の速軸と第2の偏光影響要素内の速軸との間に望ましい角度をそのように実現するために、電極の位置決めに対して単に第1及び第2のアレイ内の偏光影響要素の対向する側の異なる対を選択することが可能である。最後に言及した構成は、第1に、光線遮蔽効果に起因する強度損失を最小にすることができ、第2に、第2のアレイ内のそれぞれ隣接する偏光影響要素内への光線転移という望ましくない効果、従って、ある一定の状況下では、それぞれ得られる偏光状態の影響における望ましくないずれを防止することができるという利点を有する。
一実施形態により、第1のアレイ及び/又は第2のアレイは、各場合に偏光影響要素の六角形配置を有する。そのような六角形配置は、第1に、利用可能区域をPockelsセルで特に密に充填することを可能にする。第2に、六角形配置では、個々のPockelsセルの側面が各場合に30°の角度で延びるので、そのような構成では、例えば、これらの電極が、個々のPockelsセルの側面に対して1次近似で平行になるように(すなわち、これらの側面と数度という小さい角度しか形成しない)、それぞれのPockelsセルに電界を発生させるために存在する電極の好ましい配置を提供することが可能になる。具体的に、それぞれのPockelsセルに電界を発生させるために存在する電極の1つの好ましい配置は、電極を2つのアレイ内に入射光の好ましい偏光方向に対して正確に±22.5°で(すなわち、互いに対して45°の角度で)配置することであり、これは、この場合に、以下により詳細に説明するように、異なる偏光状態を特に有利な態様(すなわち、「45°量子化」)で設定することができるからである。この場合に、Pockelsセルは、実質的にλ/2板として作動され、Pockelsセルの偏光影響効果は、複屈折速軸での好ましい偏光方向の鏡像に対応する。その結果、入射する光の好ましい偏光方向に対して正確に22.5°の向きの複屈折速軸(従って、それぞれのPockelsセルに電界を発生させるために存在するこの向きの電極)の場合には、好ましい偏光方向の45°の回転が得られる。
以下にも説明するように、上述の構成は、例えば(単に例示的な使用として)、一定直線入力偏光の疑似タンジェンシャル偏光分布又は疑似ラジアル偏光分布への変換を可能にする。更に、いかなる他の望ましい偏光分布も瞳平面に設定することができる。
一実施形態により、偏光影響光学配置は、光学系の瞳平面に配置される。本発明による配置を使用することにより、偏光は、瞳平面内の多数の異なる領域(アレイに存在するPockelsセルの個数に対応する)に対して別々に切り換えることができる。
一実施形態により、偏光影響光学配置は、配置を通過して延びる多数のチャネルの各々に対して、それぞれのチャネルの領域内に置かれた偏光影響要素に予め定められた電圧が存在するか否かに依存する態様で、通過する直線偏光光に対して異なる(特に4つの異なる)偏光回転角を生成することができる。これらの偏光回転角は、特に各場合に45°の整数倍とすることができる。
一実施形態により、偏光影響要素に対して予め定められた電圧を選択的に印加することにより、光学系を通過する光の一定直線偏光分布を疑似タンジェンシャル偏光分布又は疑似ラジアル偏光分布に変換することができる。この場合に、「タンジェンシャル偏光分布」は、一般的に、電界強度ベクトルの振動方向が、光学系軸に向く円の半径に対して垂直に延びる偏光分布であると理解しなければならない。それに応じて、上述の条件が、対応する平面(例えば、瞳平面)内で近似的に又は個々の領域において満たされる場合に、「疑似タンジェンシャル偏光分布」という表現を使用する。それに応じて、「ラジアル偏光分布」は、一般的に、電界強度ベクトルの振動方向が、光学系軸に向く円の半径に対して平行に延びる偏光分布であると理解しなければならない。それに応じて、上述の条件が、対応する平面内で近似的に又は個々の領域において満たされる場合に、「疑似ラジアル偏光分布」という表現を使用する。
一実施形態により、光学系は、回折光学要素を含む。
一実施形態により、偏光影響光学配置は、偏光影響要素の少なくとも3つのアレイを含む。
本発明は、更に、マイクロリソグラフィ投影露光装置及びマイクロリソグラフィ露光方法に関する。
本発明の更に別の構成は、本明細書及び従属請求項から集めることができる。以下において、本発明を添付図面に例示する例示的実施形態に基づいてより詳細に説明する。
本発明の実施形態の構成及び機能を解説するための概略図である。 本発明の実施形態の構成及び機能を解説するための概略図である。 本発明の実施形態の構成及び機能を解説するための概略図である。 本発明の実施形態の構成及び機能を解説するための概略図である。 本発明の実施形態の構成及び機能を解説するための概略図である。 本発明の実施形態の構成及び機能を解説するための概略図である。 本発明の実施形態の構成及び機能を解説するための概略図である。 マイクロリソグラフィ投影露光装置の構成の概略図である。
最初に、マイクロリソグラフィ投影露光装置の基本構成を簡単な概略図である図6を参照して以下に説明する。
マイクロリソグラフィ投影露光装置600は、光源ユニット601と、照明デバイス602と、構造担持マスク603と、投影レンズ604と、露光される基板605とを含む。光源ユニット601は、光源として、例えば、193nmの作動波長のためのArFレーザを含み、かつ平行光ビームを発生させる光線成形ユニットを含むこともできる。光源ユニット601によって放出された平行光ビームは、最初に回折光学要素(DOE)606上に入射する。DOE606は、それぞれの回折面構造によって定められる角度放出特性を用いて瞳平面PP内に望ましい強度分布、例えば、二重極分布又は四重極分布を生成する。
ビーム経路内でDOE606の下流に配置されたレンズ608は、可変直径を有する平行光ビームを発生させるズームレンズとして設計される。平行光ビームは、偏向ミラー609によってアキシコン611上に向けられる。ズームレンズ608を上流のDOE606及びアキシコン611と共に使用することにより、瞳平面PP内にズーム設定とアキシコン要素の位置とに依存して異なる照明構成が生成される。図6により、瞳平面PP内には偏光影響光学配置100が置かれ、この光学配置の構成は、図1及びそれ以降を参照して以下に説明する。
照明デバイス602は、瞳平面PPの領域内(図6ではその直ぐ下流)に配置されて、例えば、光混合を達成するのに適するマイクロ光学要素の配置を含むことができる光混合系612をアキシコン611の下流に更に含む。
光混合系612及び適切な場合には更に別の光学構成要素(個々のレンズ要素610だけしか示していない)には、レチクルマスキング系(REMA)613が続き、このレチクルマスキング系613は、REMAレンズ614によってレチクル603上に結像され、それによってレチクル603上の照明領域が区切られる。レチクル603は、投影レンズ604を用いて感光基板605上に結像される。図示の例では、投影レンズ604の最後の光学要素615と感光基板605の間に空気のものとは異なる屈折率を有する液浸液616が置かれる。
次に、図6に記載の瞳平面PPに置かれた偏光影響光学配置100の構成及び機能を図1及びそれ以降を参照して以下に説明する。
図1a−bによると、偏光影響光学配置100は、Pockelsセル110a、110b、110c、...、及び120a、120b、120c、...の形態の例示的実施形態では偏光影響要素の六角形配置を各々が含む第1のアレイ110と第2のアレイ120を含む。このPockelsセルは、作動波長(例えば、約193nm又は約157nm)で十分な透過率を有する適切な結晶材料から製造され、結晶材料に存在する複屈折の外部から印加される電界に対する直線的比例関係に起因して、偏光の操作を可能にする。例えば、リン酸二水素カリウム(KDP、KH2PO4)又はベータホウ酸バリウム(BBO)のような非線形光結晶が材料として適している。
図2aによると、この概略図は、本発明による偏光影響光学配置を瞳平面に疑似タンジェンシャル偏光分布を有する照明設定を生成するためにどのように使用することができるのかを示している。この場合に、第1及び第2のアレイ内で電圧がそれぞれ印加されるPockelsセルをハッチング形式で例示しており、それに対して例示的実施形態におけるPockelsセルの残りの部分には電圧は印加されない。
具体的な例示的実施形態において、電圧が印加される第1のアレイ110のPockelsセルは、y方向に対して又は偏光影響光学配置100上に入射する光の好ましい偏光方向(図1及びそれ以降に双方向矢印「P」に示す)に対して+22.5°の向きの複屈折速軸(「fa−1」で表す)を有し、第2のアレイ120のPockelsセルは、y方向に対して−22.5°の向きの複屈折速軸(「fa−2」で表す)を有する。
表1は、この例に対して、偏光影響光学配置100上に入射する直線偏光光に対してチャネル(互いに割り当てられた第1のアレイ110のPockelsセルと第2のアレイのPockelsセルとによって形成された)内で第1のアレイ110内のこれらのPockelsセル(左手の列)及び第2のアレイ120内のこれらのPockelsセル(右手の列)の電圧状態に応答してそれぞれ得られる偏光回転角を一番右の列に示している。この場合に、「オン状態」では関連のPockelsセルに電圧が存在し、それに対して「オフ状態」ではこのPockelsセルには電圧は存在しない。
Figure 2015509285
表1から分るように、第1のアレイ110と第2のアレイ120によって与えられるチャネルの各々における表1に示す切り換え候補に従う第1及び第2のアレイ110、120からの対応するPockelsセルの電圧状態の選択に基づいて、0°、±45°、及び90°の偏光回転角を正確に設定することができ、それによって更に同じく図2に示すように瞳平面PP内に疑似タンジェンシャル偏光分布を設定することができる。本発明の更に別の実施形態において、2つよりも多いアレイと上述の原理とを用いて、より小さい「偏光量子化」を設定することができる(45°よりも小さい角度の整数倍に対応する偏光回転角を実現するという意味で)。
図2aの配置の場合には、強度分布自体は、回折光学要素(DOE)(示していない左手領域内に置かれた)を用いて生成される。瞳平面の直近には、視野にわたって例えばマイクロ光学要素の配置の形態にあるいわゆる視野定義要素(=FDE)が置かれる。例えば、図6を参照して上述したズームアキシコン系の形態にある光学系を「205」を有する単純なレンズ要素として大幅に簡略化した形式で例示している。
図2bに記載の更に別の実施形態において、偏光影響光学配置250は、3つ(又はそれよりも多く)の偏光影響要素アレイ260、270、280を含むことができる。3つの偏光影響要素アレイ260、270、280を含む構成は、例えば、照明光の偏光方向が照明デバイスへの入射時に(例えば、図6のDOE606の依然として上流において)既に回転されている場合に有利とすることができる。
図3から分るように、1つの同じアレイ内の個々の偏光影響要素又はPockelsセル310a、310b、310c、...には、例えば、それぞれのアレイ内の電極315が交互に切り換えられるか、又は電圧を印加させることにより、すなわち、連続する電極315の電圧の極性を矢印方向に隣接するPockelsセル310b、310c、...に沿って変化させることにより、同一の向きの電界又はそれによって誘導される複屈折の速軸を与えることができる。
図3に同じく示すように、例示的実施形態で選択した六角形アレイ幾何学形状の場合には、電極315(入射光の好ましい偏光方向又はy方向に対して±22.5°の角度で配置された)は、個々のPockelsセル310a、310b、310c、...の側面に対して1次近似で平行に延び(すなわち、これらの側面と数度という小さい角度しか形成せず)、これは、図3の六角形配置では、y方向に対して傾斜した個々のPockelsセル310a、310b、310c、...の側面が、各場合にy方向に対して30°の角度で延びるからである。そのような向きの電極315を使用することにより、図2aを参照して上述したように、異なる偏光状態を特に有利な態様で(すなわち、生成される偏光回転角が各場合に45°の整数倍である「45°量子化」で)設定することができ、これらの偏光状態は、次に、一定直線入力偏光の疑似タンジェンシャル偏光分布又は疑似ラジアル偏光分布への変換を可能にする。
電圧は、好ましくは、それぞれのPockelsセル410a、410b、410c、...内の電界が電極415自体によって単独でもたらされるように、図4に略示すように、偏光影響光学配置自体内の電極に電気リード(図4で「417」で表す)の領域内での電界の遮蔽を伴って印加される。この目的のために、特に、例えば、隣接するPockelsセル410a、410b、410c、...の間に残る間隙空間に沿って案内することができる電気リード417を十分な遮蔽を得るための同軸ケーブルとして構成することができる。更に別の実施形態において、電気リード417はまた、各場合に遠距離電場が急激に低下し、従って、Pockelsセル410a、410b、410c、...に対する有意な外乱的影響を持たないように「対合」させることができる。
図5a〜図5dに示す更に別の実施形態により、個々のPockelsセル510a、...に対して、電極511〜516は、2つだけではなく、それよりも多い互いに反対の側面(図示の例では6つ全ての側面)に配置され、それによってこれらの電極511〜516への相応に変化する電圧印加を用いて、第1に(図5a及び図5bに示すように)、異なる向きの電界又は誘導複屈折速軸の間で切り換えを行うことができる。第2に、同一の大きさ又は異なる大きさを有する電圧をPockelsセル510aの互いに反対の側面の複数の対に印加することができ(図5c及び図5dに示すように)、それによってこの場合に図5にそれぞれ異なって向けられた速軸「fa−3」、「fa−4」、「fa−5」、及び「fa−6」を用いて示すように、それぞれのPockelsセル510aに存在するそれぞれの得られる電圧により、電界又は誘導複屈折速軸の向きを回転させることが少なくとも近似的に可能になる。
本発明を特定の実施形態に基づいて記載したが、例えば、個々の実施形態の特徴の組合せ及び/又は交換による多くの変形及び代替実施形態は当業者には明らかである。従って、そのような変形及び代替実施形態が、本発明によって関連的に包含され、本発明の範囲が、特許請求の範囲及びその均等物の意味の範囲内にのみ限定されることを当業者には説明するまでもない。
110 第1のアレイ
110a 第1の偏光影響要素
115、125 電極
120 第2のアレイ
fa−1 +22.5°の向きの複屈折速軸

Claims (18)

  1. マイクロリソグラフィ投影露光装置のための光学系であって、
    偏光影響光学配置(100,200,250)、
    を含み、
    前記偏光影響光学配置(100,200,250)は、第1の偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...)の少なくとも1つの第1のアレイ(110,210,260)及び第2の偏光影響要素(120a,120b,120c,...)の第2のアレイ(120,220,270)を含み、該第1及び第2のアレイは、光伝播方向に連続して配置され、
    前記第1及び第2の偏光影響要素は、各場合に電界の存在に依存する複屈折を有し、
    前記第1の偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...)及び前記第2の偏光影響要素(120a,120b,120c,...)は、横方向Pockelsセルである、
    ことを特徴とする光学系。
  2. 前記偏光影響光学配置(100,200,250)は、前記電界を発生させるための複数の電極(115,125,315,415,511〜516)を含み、
    前記電極は、各場合に前記第1の偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...)の及び前記第2の偏光影響要素(120a,120b,120c,...)の互いに反対の側面上に配置される、
    ことを特徴とする請求項1に記載の光学系。
  3. 前記第1のアレイ内の前記電極(115)は、前記第2のアレイ内の前記電極(125)に対して有限の角度の向きに配置されることを特徴とする請求項2に記載の光学系。
  4. 前記偏光影響光学配置は、個々の前記偏光影響要素に対して、各場合にそれぞれの該偏光影響要素(510a)の互いに反対の側面の異なる対に割り当てられた少なくとも2つの電極対(511,514;512,515;513,516)を含むことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の光学系。
  5. 電圧は、各場合に互いに独立して前記電極対(511,514;512,515;513,516)に印加することができることを特徴とする請求項4に記載の光学系。
  6. 前記第1の偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...)に誘導することができる前記複屈折の速軸及び前記第2の偏光影響要素(120a,120b,120c,...)に誘導することができる該複屈折の速軸が、互いに対して有限の角度の向きに配置されることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の光学系。
  7. 前記角度は、45°±5°であることを特徴とする請求項6に記載の光学系。
  8. 前記第1のアレイ(110,210)及び/又は前記第2のアレイ(120,220)は、六角形配置でそれぞれの前記偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...;120a,120b,120c,...)を含むことを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の光学系。
  9. 前記偏光影響光学配置(100)は、光学系の瞳平面(PP)に配置されることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の光学系。
  10. 前記偏光影響光学配置(100,200,250)は、該配置を通って延びる多数のチャネルの各々に対して、予め定められた電圧がそれぞれの該チャネルの領域に置かれた前記偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...;120a,120b,120c,...)に存在するか否かに依存する態様で、該それぞれのチャネルを通過する直線偏光光に対して異なる偏光回転角を生成することができることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の光学系。
  11. 前記偏光回転角は、各場合に45°の整数倍であることを特徴とする請求項10に記載の光学系。
  12. 定められた電圧を前記偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...;120a,120b,120c,...)に選択的に印加することにより、光学系を通過する光の一定直線偏光分布は、疑似タンジェンシャル又は疑似ラジアル偏光分布に変換することができることを特徴とする請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の光学系。
  13. 回折光学要素(606)を含むことを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の光学系。
  14. 前記偏光影響光学配置(250)は、偏光影響要素の少なくとも3つのアレイ(260,270,280)を含むことを特徴とする請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の光学系。
  15. マイクロリソグラフィ投影露光装置(600)の照明デバイス(602)であることを特徴とする請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の光学系。
  16. 請求項1から請求項15のいずれかの1項に従って具現化された照明デバイス(602)と、
    投影レンズ(604)と、
    を含むことを特徴とするマイクロリソグラフィ投影露光装置(600)。
  17. 光源を用いて発生させた光が、投影レンズ(604)の物体平面を照明するために投影露光装置(600)の照明デバイス(602)に給送され、かつ該物体平面が、該投影レンズ(604)を用いて該投影レンズの像平面内に結像されるマイクロリソグラフィ露光方法であって、
    前記照明デバイス(602)は、第1の偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...)の少なくとも1つの第1のアレイ(110,210)と第2の偏光影響要素(120a,120b,120c,...)の第2のアレイ(120,220)とを含む偏光影響光学配置(100,200,250)を含み、該第1及び第2のアレイは、前記光の伝播方向に連続して配置され、
    予め定められた電圧の前記偏光影響要素(110a,110b,110c,...;310a,310b,310c,...;410a,410b,410c,...;510a;...;120a,120b,120c,...)への異なる選択的印加により、異なる偏光分布が、前記照明デバイス(602)に設定される、
    ことを特徴とする方法。
  18. 微細構造化構成要素のマイクロリソグラフィ生産の方法であって、
    感光材料からなる層が少なくとも部分的に付加された基板(605)を与える段階と、
    結像される構造を含むマスク(603)を与える段階と、
    請求項16に記載のマイクロリソグラフィ投影露光装置を与える段階と、
    前記投影露光装置を用いて前記マスク(603)の少なくとも一部を前記層の領域上に投影する段階と、
    を含むことを特徴とする方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9588433B2 (en) 2012-04-17 2017-03-07 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical system, in particular of a microlithographic projection exposure apparatus

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015214477A1 (de) * 2015-07-30 2016-06-16 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie mikrolithographisches Belichtungsverfahren
US10401734B2 (en) * 2015-08-21 2019-09-03 Asml Netherlands B.V. Lithographic method and apparatus

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006060546A (ja) * 2004-08-20 2006-03-02 Konica Minolta Business Technologies Inc 画像処理装置
JP2007515768A (ja) * 2003-09-26 2007-06-14 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー マイクロリソグラフィ照明方法及びその方法を実行するための投影照明系
JP2007180088A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Nikon Corp 照明光学装置、照明光学装置の調整方法、露光装置、およびデバイスの製造方法
JP2009272624A (ja) * 2008-05-08 2009-11-19 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置及びリソグラフィ方法
WO2011154227A1 (en) * 2010-06-10 2011-12-15 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical system of a microlithographic projection exposure apparatus

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19535392A1 (de) 1995-09-23 1997-03-27 Zeiss Carl Fa Radial polarisationsdrehende optische Anordnung und Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage damit
EP1668421A2 (en) 2003-09-12 2006-06-14 Carl Zeiss SMT AG Illumination system for a microlithography projection exposure installation
US7408616B2 (en) * 2003-09-26 2008-08-05 Carl Zeiss Smt Ag Microlithographic exposure method as well as a projection exposure system for carrying out the method
US6894765B2 (en) * 2003-10-14 2005-05-17 Micron Technology, Inc. Methods and systems for controlling radiation beam characteristics for microlithographic processing
TWI385414B (zh) 2003-11-20 2013-02-11 尼康股份有限公司 光學照明裝置、照明方法、曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法
CN101726863B (zh) 2004-01-16 2012-08-29 卡尔蔡司Smt有限责任公司 偏振调制光学元件
DE102004011733A1 (de) 2004-03-04 2005-09-22 Carl Zeiss Smt Ag Transmissionsfiltervorrichtung
JP5308638B2 (ja) 2006-07-14 2013-10-09 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置用の照明光学系
DE102006032810A1 (de) 2006-07-14 2008-01-17 Carl Zeiss Smt Ag Beleuchtungsoptik für eine Mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage, Beleuchtungssystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik, mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen Beleuchtungssystem, mikrolithografisches Herstellungsverfahren für Bauelemente sowie mit diesem Verfahren hergestelltes Bauelement
DE102007007907A1 (de) 2007-02-14 2008-08-21 Carl Zeiss Smt Ag Verfahren zur Herstellung eines diffraktiven optischen Elements, nach einem derartigen Verfahren hergestelltes diffraktives optisches Element, Beleuchtungsoptik mit einem derartigen diffratkiven optischen Element, Mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen Beleuchtungsoptik, Verfahren zum Herstellen eines mikroelektronischen Bauelements unter Verwendung einer derartigen Projektionsbelichtungsanlage sowie mit einem solchen Verfahren hergestelltes Bauelement
DE102008009601A1 (de) 2008-02-15 2009-08-20 Carl Zeiss Smt Ag Optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie mikrolithographisches Belichtungsverfahren
DE102010029339A1 (de) 2010-05-27 2011-12-01 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie mikrolithographisches Belichtungsverfahren

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007515768A (ja) * 2003-09-26 2007-06-14 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー マイクロリソグラフィ照明方法及びその方法を実行するための投影照明系
JP2006060546A (ja) * 2004-08-20 2006-03-02 Konica Minolta Business Technologies Inc 画像処理装置
JP2007180088A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Nikon Corp 照明光学装置、照明光学装置の調整方法、露光装置、およびデバイスの製造方法
JP2009272624A (ja) * 2008-05-08 2009-11-19 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置及びリソグラフィ方法
WO2011154227A1 (en) * 2010-06-10 2011-12-15 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical system of a microlithographic projection exposure apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9588433B2 (en) 2012-04-17 2017-03-07 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical system, in particular of a microlithographic projection exposure apparatus

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