JP2015187306A - Plating apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plating apparatus and a plating processing method capable of converting a posture of a substrate holder into a vertical state from a horizontal state, or into a horizontal state from a vertical state, without using a large scale rotation mechanism, and a posture conversion method for substrate holder for plating apparatus.SOLUTION: The plating apparatus comprises: a table 120 for horizontally mounting a substrate holder holding a substrate detachably, thereon; a plating processing part 130; and a substrate holder transport part 140 having a holding part for holding the substrate holder and transporting the substrate holder between the table 120 and plating processing part 130. The table 120 has a horizontal movement mechanism which supports one end part of the substrate holder and can move in the horizontal direction. The substrate holder transport part 140 comprises a lift mechanism for lifting up and down the holding part in a state that the other end of the substrate holder is supported by the horizontal movement mechanism, for converting a state of the substrate holder into a horizontal state from a vertical state, or into a vertical state from a horizontal state, followed by horizontal movement of the horizontal movement mechanism.

Description

本発明は、半導体ウェハ等の被めっき体(基板)の表面にめっきを行うめっき装置及びめっき方法に関し、特にウェハの表面に設けられた微細な配線用溝やホール、レジスト開口部にめっき膜を形成したり、半導体ウェハの表面にパッケージの電極等と電気的に接続するバンプ(突起状電極)を形成したりするのに好適なめっき装置及びめっき方法に関する。半導体チップ等のいわゆる3次元実装を行うためには、半導体ウェハやインターポーザまたはスペーサといった基板に対して、内部を貫通する多数のビアプラグを形成する必要があるが、本発明のめっき装置及びめっき方法はそのような貫通ビアプラグを形成するためのビアホールの埋め込みにも使用される。より詳細には、基板をホルダに設置し、そのホルダをめっき槽に浸漬させてめっきする(ディップ式の)めっき装置及びめっき方法に関する。 The present invention relates to a plating apparatus and a plating method for plating on the surface of an object to be plated (substrate) such as a semiconductor wafer, and in particular, a plating film is formed in fine wiring grooves and holes and resist openings provided on the surface of the wafer. The present invention relates to a plating apparatus and a plating method suitable for forming or forming bumps (protruding electrodes) that are electrically connected to package electrodes or the like on the surface of a semiconductor wafer. In order to perform so-called three-dimensional mounting of a semiconductor chip or the like, it is necessary to form a large number of via plugs penetrating the inside of a substrate such as a semiconductor wafer, an interposer, or a spacer. It is also used to fill a via hole for forming such a through via plug. More specifically, the present invention relates to a (dip-type) plating apparatus and a plating method in which a substrate is installed in a holder and the holder is immersed in a plating tank for plating.

基板へのめっきの方式は、フェースダウン式と、ディップ式とに大別することができる。 The method of plating on the substrate can be roughly divided into a face-down type and a dip type.

フェースダウン式のめっきにおいては、基板、特にウェハは水平状態で、被処理面を下向きにヘッドにより保持され、めっきが行われる。しかし、基板はFOUP(Front Opening Unified Pod)等の搬送容器に、ウェハを水平状態で被処理面を上にして収容されていることが通常である。従って、基板にめっきを行う前に装置内で基板を上下反転する必要がある。一方、ディップ式のめっき装置はめっき槽のめっき液に基板ホルダで保持された基板を垂直に差し入れてめっきを行う。従って、基板を基板ホルダにセットするときは基板ホルダを水平にし、めっき槽に基板を浸漬するときは基板ホルダを垂直にする必要がある。この姿勢の変換のため、めっき装置は基板ホルダを垂直状態から水平状態、水平状態から垂直状態へと回転させる機構を持っている。例えば、図9にあるように、基板ホルダをクランプしたアームを回転させたり、図10にあるように、基板ホルダを置いたテーブルを回転させたりしている。 In face-down type plating, the substrate, particularly the wafer, is held in a horizontal state, and the surface to be processed is held downward by the head to perform plating. However, the substrate is usually accommodated in a transfer container such as FOUP (Front Opening Unified Pod) with the processing surface facing up in a horizontal state. Therefore, it is necessary to turn the substrate upside down in the apparatus before plating the substrate. On the other hand, a dip type plating apparatus performs plating by vertically inserting a substrate held by a substrate holder into a plating solution in a plating tank. Accordingly, the substrate holder needs to be horizontal when the substrate is set on the substrate holder, and the substrate holder needs to be vertical when the substrate is immersed in the plating tank. In order to change the posture, the plating apparatus has a mechanism for rotating the substrate holder from the vertical state to the horizontal state and from the horizontal state to the vertical state. For example, as shown in FIG. 9, the arm that clamps the substrate holder is rotated, and as shown in FIG. 10, the table on which the substrate holder is placed is rotated.

ところが、近年、基板の大型化が進み、それに伴い、アームやテーブルの回転機構が大がかりになり、基板ホルダを水平状態から垂直状態、または垂直状態から水平状態に姿勢を変換する時間も長くなる傾向にある。回転機構が大がかりになると、それだけめっき装置内で回転に必要なスペースが占める割合が大きくなり、装置全体も大きくなり、また、装置の製作費も大型化に伴い高額になる、という問題があった。 However, in recent years, the size of the substrate has increased, and accordingly, the rotation mechanism of the arm and table has become large, and the time for changing the posture of the substrate holder from the horizontal state to the vertical state or from the vertical state to the horizontal state tends to be long. It is in. When the rotation mechanism becomes large, the proportion of the space required for rotation in the plating equipment increases, the overall equipment becomes large, and the production cost of the equipment increases as the size increases. .

また、従来のめっき装置においては、基板ホルダへと基板をセットする際に用いる基板ホルダ開閉機構(フィキシングロボット)についても、以下のような問題があった。すなわち、特許文献2に示すように、基板ホルダによって基板を垂直に保持してめっき液中に浸漬するタイプのめっき装置においては、固定保持部材と可動保持部材との間に基板を挟持するようにして基板を保持する基板ホルダが用いられている。固定保持部材と可動保持部材は、ヒンジによって開閉可能となっている。可動保持部材側には、脱着不可かつ回転可能な押え部材を有し、押え部材を回転させて、押え部材の外周の一部を固定保持部材側に設けられたクランパの内部に滑り込ませる。これにより、可動保持部材側に設けられたシールが、基板外周および固定保持部材の所定箇所をシールし、かつ基板外周への給電接点の接触を可能としている。 Further, in the conventional plating apparatus, the substrate holder opening / closing mechanism (fixing robot) used when setting the substrate on the substrate holder also has the following problems. That is, as shown in Patent Document 2, in a plating apparatus in which a substrate is held vertically by a substrate holder and immersed in a plating solution, the substrate is sandwiched between a fixed holding member and a movable holding member. A substrate holder that holds the substrate is used. The fixed holding member and the movable holding member can be opened and closed by a hinge. On the movable holding member side, there is a pressing member that cannot be detached and rotated, and the pressing member is rotated so that a part of the outer periphery of the pressing member is slid into the clamper provided on the fixed holding member side. Thus, the seal provided on the movable holding member side seals the outer periphery of the substrate and a predetermined portion of the fixed holding member, and enables the contact of the power supply contact to the outer periphery of the substrate.

このような機構においては、押え部材の回転による磨耗の発生や、押え部材の回転に伴い可動保持部材が回転してしまい、基板の位置ズレが生じたり、シール性が悪化したりする問題が生じていた。そのため特許文献2(特に、文献中の図8参照)においては、押圧ロッドで可動保持部材を押し付け、押え部材の回転摩擦を低減させた状態で押え部材を回転させることが提案されていた。そして、押さえ部材の回転摩擦を低減させた状態で押え部材を回転させるためには、特許文献3(特に、文献中の図14A参照)に示すような、上下(垂直方向)の軸方向に上下動の往復が可能でかつ回転可能であるような複雑な機構を有する装置が必要であり、複雑な機構のため、大がかりな機構となっていた。基板ホルダ開閉機構が大がかりになると、それだけめっき装置内でホルダ開閉機構が占めるスペースが大きくなり、装置全体も大きくなり、また、装置の製作費も大型化に伴い高額になる、という問題があった。 In such a mechanism, there is a problem that wear due to rotation of the presser member or that the movable holding member rotates with the rotation of the presser member, causing displacement of the substrate or deterioration of sealing performance. It was. For this reason, in Patent Document 2 (particularly, refer to FIG. 8 in the document), it has been proposed to press the movable holding member with a pressing rod and rotate the pressing member in a state where rotational friction of the pressing member is reduced. In order to rotate the presser member in a state in which the rotational friction of the presser member is reduced, as shown in Patent Document 3 (particularly, refer to FIG. 14A in the document), the vertical direction is the vertical direction. A device having a complicated mechanism capable of reciprocating and rotating is necessary, and the complicated mechanism has led to a large-scale mechanism. When the substrate holder opening / closing mechanism becomes large, the space occupied by the holder opening / closing mechanism in the plating apparatus increases accordingly, the entire apparatus increases, and the manufacturing cost of the apparatus increases as the size of the apparatus increases. .

また、従来の基板ホルダ開閉機構において、基板ホルダの厚さにバラツキがあった場合には、基板ホルダへの押圧ロッドによるシール押し付け量が変化する問題があった。すなわち、基板ホルダが薄い場合はシールが十分に圧縮されないので押え部材の回転摩擦が大きくなったり、基板ホルダが厚い場合はシールを過剰に圧縮してシールを傷めるという問題があり、シール性の悪化の原因となる可能性もあった。 Further, in the conventional substrate holder opening / closing mechanism, when the thickness of the substrate holder varies, there is a problem that the amount of seal pressing by the pressing rod to the substrate holder changes. That is, when the substrate holder is thin, the seal is not compressed sufficiently, so that the rotational friction of the holding member becomes large, and when the substrate holder is thick, there is a problem that the seal is excessively compressed and the seal is damaged. There was also a possibility of causing.

さらに、従来の基板ホルダ開閉機構においては、基板の基板ホルダへの脱着に伴って基板の位置がずれたことを検出する位置ずれ検出方法として、固定保持部材の基板外周位置に基板ガイドを設置し、フォトセンサないしレーザセンサにより光を基板の上の空間において水平方向(横方向)から照射してその光量を計測し、基板が基板ガイドに乗りあげて基板が傾いた場合には基板が光を遮るので、正常に基板がセットされた場合と比べて光量が減少することから、光量の増減により位置ずれを検出していた。ここで基板ガイドは、基板が位置ずれしたまま水平にならないように、基板が位置ずれした場合には基板ガイドに乗り上げて基板を斜めの状態に保つものである。しかし、この水平方向センサによる光量検出では、基板表面の水滴、基板自体の反り、基板ホルダ自体の反り、基板ホルダを設置するテーブルの反り、基板ホルダを設置するテーブルに付着したゴミ等による基板ホルダに発生する傾き等により、センサが位置ずれを誤って検出するという問題があった。また、基板ガイドの高さには基板ホルダの大きさから制限があり、またセンサは使用によりセンサの表面が汚れにより曇るなどで経時的に光量を減少するため、検出の精度にも問題があった。 Furthermore, in the conventional substrate holder opening / closing mechanism, a substrate guide is installed at the substrate outer peripheral position of the fixed holding member as a displacement detection method for detecting the displacement of the substrate as the substrate is attached to or detached from the substrate holder. Irradiate light from the horizontal direction (lateral direction) in the space above the substrate with a photo sensor or laser sensor and measure the amount of light. When the substrate climbs onto the substrate guide and the substrate tilts, the substrate emits light. Since the light amount is reduced, the amount of light is reduced as compared with the case where the substrate is normally set. Therefore, the positional deviation is detected by increasing or decreasing the amount of light. Here, the substrate guide is placed on the substrate guide to keep the substrate in an oblique state when the substrate is displaced so that the substrate does not become horizontal while being displaced. However, in the light amount detection by this horizontal sensor, the substrate holder is caused by water droplets on the substrate surface, warpage of the substrate itself, warpage of the substrate holder itself, warpage of the table on which the substrate holder is installed, dust attached to the table on which the substrate holder is installed, etc. There is a problem that the sensor erroneously detects misalignment due to a tilt or the like generated in the sensor. In addition, the height of the substrate guide is limited by the size of the substrate holder, and the use of the sensor reduces the amount of light over time due to the surface of the sensor becoming cloudy due to dirt. It was.

特許第3979847号公報Japanese Patent No. 3997847 特許第3778282号公報Japanese Patent No. 3778282 特許第3940265号公報Japanese Patent No. 3940265 特許第4162440号公報Japanese Patent No. 4162440

そこで、本発明は、基板を着脱可能に保持するための基板ホルダを、大掛かりな回転機構を用いることなく、水平状態から垂直状態、または垂直状態から水平状態に姿勢を変換することができるめっき装置、めっき処理方法及びめっき装置用基板ホルダの姿勢変換方法を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention provides a plating apparatus capable of changing the posture of a substrate holder for holding a substrate in a removable manner from a horizontal state to a vertical state or from a vertical state to a horizontal state without using a large rotation mechanism. An object of the present invention is to provide a plating method and a method for changing the attitude of a substrate holder for a plating apparatus.

また、本発明は、基板を基板ホルダに設置するための基板ホルダ開閉機構において、大掛かりで複雑な機構を用いることなく、基板を基板ホルダに設置でき、かつ、基板ホルダの厚さのばらつきを許容し、基板の基板ホルダへの脱着に伴う基板の位置ずれを検出することができるめっき装置、めっき処理方法及びめっき装置用基板ホルダへの基板設置方法を提供することを目的とする。 Further, according to the present invention, the substrate holder opening / closing mechanism for installing the substrate on the substrate holder can install the substrate on the substrate holder without using a large and complicated mechanism, and allows variation in the thickness of the substrate holder. Then, it aims at providing the plating apparatus which can detect the position shift of the board | substrate accompanying the removal | desorption to the board | substrate holder of a board | substrate, the plating processing method, and the board | substrate installation method to the board | substrate holder for plating apparatuses.

本発明の一実施形態に係るめっき装置は、基板を着脱可能に保持する基板ホルダを水平に載置するためのテーブルと、めっき液を保持し、前記基板ホルダに着脱可能に保持された基板を垂直に浸漬させ、めっき処理を行うためのめっき処理部と、前記基板ホルダを保持する保持部を有し、前記テーブルと前記めっき処理部との間で前記基板ホルダを搬送するための基板ホルダ搬送部と、を備え、前記テーブルは、前記基板ホルダの一端部を支持し、かつ水平方向に移動可能な水平移動機構を有し、前記基板ホルダ搬送部は、前記基板ホルダの他端部が前記水平移動機構に支持された状態で、前記保持部を昇降させることにより、前記水平移動機構の水平方向の移動をともなって、当該基板ホルダを垂直状態から水平状態または水平状態から垂直状態に変換させる昇降機構を有することを特徴とする。 A plating apparatus according to an embodiment of the present invention includes a table for horizontally mounting a substrate holder that detachably holds a substrate, a substrate that holds a plating solution, and is detachably held by the substrate holder. Substrate holder transport for transporting the substrate holder between the table and the plating processing unit, having a plating processing unit for vertically immersing and performing a plating process and a holding unit for holding the substrate holder The table includes a horizontal movement mechanism that supports one end of the substrate holder and is movable in a horizontal direction, and the other end of the substrate holder is connected to the other end of the substrate holder. The substrate holder is suspended from the vertical state or the horizontal state from the vertical state with the horizontal movement of the horizontal movement mechanism by raising and lowering the holding unit while being supported by the horizontal movement mechanism. And having a lifting mechanism for converting the state.

前記めっき装置は、前記基板ホルダの前記基板ホルダ搬送部による保持の有無、及び又は前記基板ホルダと前記昇降機構との間の距離を検出する基板ホルダ検出部を有してもよい。 The plating apparatus may include a substrate holder detection unit that detects whether the substrate holder is held by the substrate holder transport unit and / or a distance between the substrate holder and the lifting mechanism.

前記めっき装置は、前記保持部が前記基板ホルダを保持していないか、または前記基板ホルダと前記昇降機構との間の距離が基準値を外れたことを前記基板ホルダ検出部が検出した場合に、前記昇降機構の動作を停止する昇降機構制御部を有してもよい。 In the plating apparatus, when the substrate holder detection unit detects that the holding unit does not hold the substrate holder or that the distance between the substrate holder and the lifting mechanism deviates from a reference value. A lifting mechanism control unit that stops the operation of the lifting mechanism may be provided.

前記基板ホルダは丸棒形状のハンドルバーを有し、前記保持部は前記ハンドルバーを保持してもよい。 The substrate holder may have a round bar-shaped handle bar, and the holding unit may hold the handle bar.

前記保持部は、前記ハンドルバーを回転自在に支持する形状であってもよい。 The holding portion may have a shape that rotatably supports the handle bar.

前記基板ホルダの他端部は、前記水平移動機構と接する部分の形状が半円形状であってもよい。 The other end of the substrate holder may have a semicircular shape at a portion in contact with the horizontal movement mechanism.

前記水平移動機構は、前記水平移動機構より吊り下げられた錘により、前記保持部の下降位置方向へと付勢されてもよい。 The horizontal movement mechanism may be urged toward the lowered position of the holding portion by a weight suspended from the horizontal movement mechanism.

前記基板ホルダ搬送部は、前記基板ホルダの搬送中に前記基板ホルダの振れを止めるクランパを有してもよい。 The substrate holder transport unit may include a clamper that stops the swing of the substrate holder during transport of the substrate holder.

また、本発明の一実施形態に係るめっき装置用基板ホルダの姿勢変換方法は、基板を着脱可能に保持する基板ホルダの姿勢を変換する方法は、前記基板ホルダの一端部を基板ホルダ搬送部の保持部により保持し、前記基板ホルダ搬送部が前記基板ホルダをテーブル上に移動し、前記保持部が下降し前記基板ホルダの他端部が前記テーブルが有する水平移動機構と接し、前記保持部がさらに下降して前記水平移動機構が水平方向へと移動し、前記基板ホルダが垂直状態から水平状態へと移行することを特徴とする。 In addition, the method for changing the orientation of the substrate holder for a plating apparatus according to an embodiment of the present invention includes a method for changing the orientation of the substrate holder that detachably holds the substrate. Held by a holding unit, the substrate holder transport unit moves the substrate holder onto the table, the holding unit descends, the other end of the substrate holder comes into contact with a horizontal movement mechanism of the table, and the holding unit is Further down, the horizontal movement mechanism moves in the horizontal direction, and the substrate holder shifts from the vertical state to the horizontal state.

前記めっき装置用基板ホルダの姿勢変換方法は、前記基板ホルダの前記基板ホルダ搬送部による保持の有無、及び又は前記基板ホルダと前記昇降機構との間の距離を検出し、前記基板ホルダ検出部が前記基板ホルダを前記保持部が保持していないか、または前記基板ホルダと前記昇降機構との間の距離が基準値を外れたことを検出した場合に、前記昇降機構の動作を停止すること、をさらに含んでもよい。 The plating apparatus substrate holder posture changing method detects whether the substrate holder is held by the substrate holder transport unit and / or a distance between the substrate holder and the lifting mechanism, and the substrate holder detection unit Stopping the operation of the elevating mechanism when the holding unit is not held by the holding unit or when it is detected that the distance between the substrate holder and the elevating mechanism deviates from a reference value; May further be included.

前記基板ホルダ搬送部は、前記基板ホルダの他端部が前記水平移動機構と接した後、前記基板ホルダを所定角度傾けるために水平方向への移動を行ってもよい。 The substrate holder transport unit may move in the horizontal direction in order to tilt the substrate holder by a predetermined angle after the other end of the substrate holder comes into contact with the horizontal movement mechanism.

また、本発明の一実施形態に係るめっき処理方法は、基板ホルダを保持する基板ホルダ搬
送部により前記基板ホルダをテーブルに載置し、前記テーブルに載置された前記基板ホルダに基板を装着して保持し、前記基板ホルダ搬送部の保持部により前記基板ホルダの一端部を保持し、前記基板ホルダ搬送部を上昇させるとともに前記テーブル上の水平移動機構を水平方向へと移動させて前記基板ホルダの姿勢を水平状態から垂直状態へと変換し、前記基板ホルダ搬送部により前記基板ホルダをめっき液を保持するめっき処理部の上方へと移動し、前記基板ホルダ搬送部により前記基板ホルダを下降させてめっき液へと浸漬させることを特徴とする。
The plating method according to an embodiment of the present invention includes mounting the substrate holder on a table by a substrate holder transport unit that holds the substrate holder, and mounting the substrate on the substrate holder mounted on the table. And holding the one end portion of the substrate holder by the holding portion of the substrate holder transfer portion, raising the substrate holder transfer portion, and moving the horizontal movement mechanism on the table in the horizontal direction. From the horizontal state to the vertical state, the substrate holder transport unit moves the substrate holder to above the plating processing unit holding the plating solution, and the substrate holder transport unit lowers the substrate holder. And soaked in a plating solution.

また、本発明の他の実施形態に係るめっき装置は、基板を着脱可能に保持する基板ホルダを水平に載置するためのテーブルと、めっき液を保持し、前記基板ホルダに着脱可能に保持された基板を垂直に浸漬させ、めっき処理を行うためのめっき処理部と、前記基板ホルダを保持する保持部を有し、前記テーブルと前記めっき処理部との間で前記基板ホルダを搬送するための基板ホルダ搬送部と、前記テーブルに載置された前記基板ホルダの基板ホルダ開閉機構とを備え、前記基板ホルダは、回転可能な押え部材を有する可動保持部材と、前記可動保持部材とともに前記基板ホルダを挟持する前記可動保持部材が固定される固定保持部材とを有し、前記基板ホルダ開閉機構は、前記可動保持部材を押圧し、少なくとも一部が回転して前記可動保持部材を前記固定保持部材へと固定及び前記固定保持部材から固定解除するとともに前記可動保持部材を保持可能なヘッド部と、前記ヘッド部を上下動させる第1のアクチュエータと、前記ヘッド部の少なくとも一部を回転させる第2のアクチュエータとを有することを特徴とする。 In addition, a plating apparatus according to another embodiment of the present invention includes a table for horizontally mounting a substrate holder that detachably holds a substrate, a plating solution, and is detachably held by the substrate holder. A plating processing unit for vertically immersing the substrate and performing a plating process, and a holding unit for holding the substrate holder, and for transporting the substrate holder between the table and the plating processing unit A substrate holder conveying unit; and a substrate holder opening / closing mechanism of the substrate holder placed on the table, wherein the substrate holder includes a movable holding member having a rotatable pressing member, and the substrate holder together with the movable holding member. The substrate holder opening / closing mechanism presses the movable holding member and at least partly rotates to rotate the movable holding member. At least one of the head part, a head part capable of fixing the member to the fixed holding member and releasing the fixation from the fixed holding member and holding the movable holding member, a first actuator for moving the head part up and down, and And a second actuator for rotating the part.

前記ヘッド部は、回転可能な回転板と、前記可動保持部材を保持可能な引き上げフックを備えて前記可動保持部材を押圧する押圧円板とを有し、前記押え部材は耳部を有し、前記固定保持部材はクランパを有し、前記回転板はシャフトと接続され、前記シャフトを前記第2のアクチュエータが押し動かすことにより回転し、前記回転板の回転により前記押え部材を回転させ、前記耳部は、前記押え部材の回転に応じて、前記クランパと嵌合されて前記可動保持部材は前記固定保持部材へと固定され、または前記引き上げフックの引き上げ位置に移動してもよい。 The head portion includes a rotatable rotating plate, and a pressing disk that includes a pulling hook that can hold the movable holding member and presses the movable holding member, and the pressing member has an ear portion, The fixed holding member has a clamper, the rotating plate is connected to a shaft, the shaft is rotated by the second actuator being pushed and moved, the pressing member is rotated by the rotation of the rotating plate, and the ear The portion may be fitted with the clamper and the movable holding member may be fixed to the fixed holding member or may be moved to the lifting position of the lifting hook according to the rotation of the pressing member.

前記ヘッド部は、前記基板の前記基板ホルダ上における位置を確認する基板位置検知手段を有してもよい。 The head unit may include substrate position detection means for confirming a position of the substrate on the substrate holder.

前記押圧円板は前記可動保持部材を押圧する押し付けブロックを有し、前記押し付けブロックはあらかじめ圧縮されたスプリングを内部に備えてもよい。 The pressing disk may include a pressing block that presses the movable holding member, and the pressing block may include a pre-compressed spring inside.

本発明によれば、大掛かりな回転機構を用いることなく、基板ホルダを安定して回転させることができ、装置の省スペース化と製造コストの低減を実現できる。特に、基板ホルダをめっき処理部に搬送する搬送機を利用することにより、基板ホルダの回転のために別の動力機構を必要とせず、製造コストの著しい低減を実現することができる。 According to the present invention, it is possible to stably rotate the substrate holder without using a large-scale rotation mechanism, and it is possible to realize space saving of the apparatus and reduction of manufacturing cost. In particular, by using a transporter that transports the substrate holder to the plating processing unit, a separate power mechanism is not required for the rotation of the substrate holder, and the manufacturing cost can be significantly reduced.

また、本発明によれば、基板ホルダの開閉に用いる機構を簡略化して装置のサイズを小さく保ち、コストを抑えることができる。また、本発明によれば、基板や基板ホルダの反りなどの変形、水滴の付着の有無にかかわらず、基板を基板ホルダに脱着する際の基板の位置ずれを正確に検知することができる。さらに、本発明によれば、基板ホルダの開閉に伴う部材間の摩擦抵抗を小さくし、なおかつ基板ホルダの厚さにばらつきがあっても安定したシール性を実現することができる。 Further, according to the present invention, the mechanism used for opening and closing the substrate holder can be simplified, the size of the apparatus can be kept small, and the cost can be reduced. Further, according to the present invention, it is possible to accurately detect the displacement of the substrate when the substrate is attached to or detached from the substrate holder, regardless of deformation such as warpage of the substrate or the substrate holder or the presence or absence of adhesion of water droplets. Furthermore, according to the present invention, it is possible to reduce the frictional resistance between the members accompanying opening and closing of the substrate holder, and to realize a stable sealing performance even if the thickness of the substrate holder varies.

本発明の一実施形態に係るめっき装置の概要を示す側面図である。It is a side view which shows the outline | summary of the plating apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 図1のめっき装置の平面図である。It is a top view of the plating apparatus of FIG. 本発明の一実施形態に係る基板ホルダの構成を示す概要図である。It is a schematic diagram showing the composition of the substrate holder concerning one embodiment of the present invention. (a)は本発明の一実施形態に係る基板ホルダ搬送部の構成を示す概要図であり、(b)は(a)の基板ホルダ搬送部が基板ホルダを保持した状態の一例を示す図であり、(c)はそのY−Y’線から見た断面図である。(A) is a schematic diagram which shows the structure of the substrate holder conveyance part which concerns on one Embodiment of this invention, (b) is a figure which shows an example in the state where the substrate holder conveyance part of (a) hold | maintained the substrate holder. (C) is a cross-sectional view taken along line YY ′. 本発明の一実施形態に係る基板ホルダ搬送部の昇降機構とテーブルの水平移動機構との、テーブルに基板ホルダを水平に載置する際の動作を示す概要図である。It is a schematic diagram which shows the operation | movement at the time of mounting a substrate holder horizontally on a table of the raising / lowering mechanism of a substrate holder conveyance part which concerns on one Embodiment of this invention, and the horizontal movement mechanism of a table. 図5の動作時の基板ホルダと水平移動機構との詳細図である。FIG. 6 is a detailed view of the substrate holder and the horizontal movement mechanism during the operation of FIG. 5. 基板ホルダ搬送部が基板ホルダを水平移動機構へと設置する動作を示す図である。It is a figure which shows the operation | movement which a board | substrate holder conveyance part installs a board | substrate holder in a horizontal movement mechanism. 基板ホルダ搬送部の昇降機構とテーブルの水平移動機構との、テーブルに基板ホルダを水平に載置する際の、他の動作形態を示す概要図である。It is a schematic diagram which shows the other operation | movement form at the time of mounting the substrate holder horizontally on a table of the raising / lowering mechanism of a substrate holder conveyance part, and the horizontal movement mechanism of a table. 従来の基板ホルダをクランプしたアームを回転させる基板ホルダの回転機構を示す図である。It is a figure which shows the rotation mechanism of the substrate holder which rotates the arm which clamped the conventional substrate holder. 従来の基板ホルダを置いたテーブルを回転させる基板ホルダの回転機構を示す図である。It is a figure which shows the rotation mechanism of the substrate holder which rotates the table which set | placed the conventional substrate holder. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置で用いる基板ホルダの構成を示す概要図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the substrate holder used with the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置で用いる基板ホルダの構成を示す概要図であって、(a)が固定保持部材、(b)が可動保持部材の構成を示す。It is a schematic diagram which shows the structure of the board | substrate holder used with the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention, Comprising: (a) shows a fixed holding member and (b) shows the structure of a movable holding member. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置で用いる基板ホルダの可動保持部材および固定保持部材の一部の構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of a part of movable holding member and fixed holding member of a substrate holder used with the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置における基板ホルダ開閉機構の構成を示す概要図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the substrate holder opening / closing mechanism in the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention. 図14の基板ホルダ開閉機構のヘッド部の構成を示す概要図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the head part of the substrate holder opening / closing mechanism of FIG. 図15のヘッド部において用いられる押し付けブロックの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the pressing block used in the head part of FIG. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置における、センサによる基板の位置ずれ検知の方法を示す図である。It is a figure which shows the method of the position shift detection of the board | substrate by the sensor in the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置の基板ホルダの基板載置箇所に切り欠き部を設けた例を示す上面図である。It is a top view which shows the example which provided the notch part in the board | substrate mounting location of the board | substrate holder of the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置における、センサによる基板の位置ずれ検知の方法を示す図である。It is a figure which shows the method of the position shift detection of the board | substrate by the sensor in the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置における基板ホルダ開閉機構の動作を説明するための斜視図である。It is a perspective view for demonstrating operation | movement of the board | substrate holder opening / closing mechanism in the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置における基板ホルダ開閉機構の動作を説明するための斜視図である。It is a perspective view for demonstrating operation | movement of the board | substrate holder opening / closing mechanism in the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置における基板ホルダ開閉機構の動作を説明するための斜視図である。It is a perspective view for demonstrating operation | movement of the board | substrate holder opening / closing mechanism in the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るめっき装置における基板ホルダ開閉機構の動作を説明するための斜視図である。It is a perspective view for demonstrating operation | movement of the board | substrate holder opening / closing mechanism in the plating apparatus which concerns on other embodiment of this invention.

図1及び図2を参照して、本発明の一実施形態に係るめっき装置全体について説明する。 With reference to FIG.1 and FIG.2, the whole plating apparatus which concerns on one Embodiment of this invention is demonstrated.

図1は、本発明の一実施形態に係るめっき装置の概要を示す側面図であり、図2は図1のめっき装置の平面図である。 FIG. 1 is a side view showing an outline of a plating apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view of the plating apparatus of FIG.

本発明の一実施形態に係るめっき装置は、めっき装置フレーム100に、基板ホルダ110(図3参照)と、基板500を収納したFOUP等の搬送容器を置くことができるロードポート170と、基板搬送ロボット180と、スピン・リンス・ドライヤ(SRD)190と、テーブル120と、めっき処理部130と、基板ホルダ搬送部140と、ストッカ150と、アライナ160とを備える。 A plating apparatus according to an embodiment of the present invention includes a substrate holder 110 (see FIG. 3), a load port 170 in which a transport container such as a FOUP containing the substrate 500 can be placed on the plating apparatus frame 100, and substrate transport. A robot 180, a spin rinse dryer (SRD) 190, a table 120, a plating processing unit 130, a substrate holder transport unit 140, a stocker 150, and an aligner 160 are provided.

基板搬送ロボット180は、搬送容器(図示せず)から基板500を取り出し、テーブル120へ搬送することができる。基板搬送ロボット180は、テーブル120から基板500を搬送し搬送容器に収納することもできる。基板搬送ロボット180は、好ましくは回転方向に動くことができ、ロードポート170とテーブル120とスピン・リンス・ドライヤ190とアライナ160との間で基板500を搬送することができる。スピン・リンス・ドライヤ190は、めっき処理された基板500をリンスしながら回転させ、最後に高速回転させて乾燥することができる。 The substrate transfer robot 180 can take out the substrate 500 from a transfer container (not shown) and transfer it to the table 120. The substrate transfer robot 180 can transfer the substrate 500 from the table 120 and store it in the transfer container. The substrate transfer robot 180 can preferably move in the rotation direction, and can transfer the substrate 500 between the load port 170, the table 120, the spin rinse dryer 190, and the aligner 160. The spin-rinse dryer 190 can be rotated by rotating the plated substrate 500 while rinsing, and finally rotating at a high speed for drying.

アライナ160は、基板500の円周方向の位置合わせを行う。すなわち、アライナ160は、基板500に設けられたノッチ(切り欠き)位置を検出し、指定された角度にノッチ位置を向けることにより、基板500を指定の位置に回転させる。また、アライナ160は基板500を回転させながら、基板500の中心の位置合わせを行う。 The aligner 160 aligns the substrate 500 in the circumferential direction. That is, the aligner 160 detects the position of the notch (notch) provided on the substrate 500, and rotates the substrate 500 to a specified position by directing the notch position to a specified angle. The aligner 160 aligns the center of the substrate 500 while rotating the substrate 500.

なお、図1及び図2において、101は基板ホルダ搬送部を搬送するための走行軸であり、102は基板ホルダ開閉機構、103は制御部(基板ホルダ搬送部制御部を含む)である。 In FIGS. 1 and 2, reference numeral 101 denotes a travel shaft for transporting the substrate holder transport unit, 102 denotes a substrate holder opening / closing mechanism, and 103 denotes a control unit (including a substrate holder transport unit control unit).

基板ホルダ110は、基板500のめっき処理の際に、基板500の端部及び裏面をめっき液からシールし被めっき面を露出させて保持する。また、基板ホルダ110は、基板の被めっき面の周縁部と接触し、外部電源から給電を与えるための接点を備えても良い。基板ホルダ110は、めっき処理前にストッカ150に収納され、めっき処理時には基板ホルダ搬送部140によりテーブル120、めっき処理部130の間を移動し、めっき処理後にストッカ150へと再び収納される。 The substrate holder 110 seals the end and back surface of the substrate 500 from the plating solution and exposes the surface to be plated when the substrate 500 is plated. Moreover, the substrate holder 110 may be provided with a contact for contacting the peripheral portion of the surface to be plated of the substrate and supplying power from an external power source. The substrate holder 110 is stored in the stocker 150 before the plating process, and is moved between the table 120 and the plating processing unit 130 by the substrate holder transport unit 140 during the plating process, and is stored again in the stocker 150 after the plating process.

テーブル120には、基板ホルダ110を水平に載置することができる。テーブル120において、基板搬送ロボット180は、水平に載置された基板ホルダ110に対して、基板500の着脱を行う。 The substrate holder 110 can be placed horizontally on the table 120. In the table 120, the substrate transport robot 180 attaches / detaches the substrate 500 to / from the substrate holder 110 placed horizontally.

図1及び図2に係るめっき装置においては、基板ホルダ110に保持された基板500をめっき槽のめっき液に垂直に浸漬し、めっき液をめっき槽の下から注入しオーバーフローさせつつめっきが行われる。基板ホルダ110に保持された基板500は、めっき処理部130の各処理槽内の処理液または気体で処理が行われる。めっき処理部130の各処理槽の配置は、例えば、図1に示すめっき液を2液使用するタイプのめっき装置とする場合には、工程順に、前水洗槽、前処理槽、リンス槽、第1めっき槽、リンス槽、第2めっき槽、リンス槽、ブロー槽、といった配置となる。各処理槽の配置は工程順(X→X’方向)に配置することが、余分な搬送経路をなくす上で好ましい。めっき装置内部の、槽の種類、槽の数、槽の配置は、基板の処理目的により自由に選択可能である。 In the plating apparatus according to FIGS. 1 and 2, the substrate 500 held by the substrate holder 110 is vertically immersed in the plating solution in the plating tank, and plating is performed while pouring the plating solution from the bottom of the plating tank and causing overflow. . The substrate 500 held by the substrate holder 110 is processed with a processing solution or gas in each processing tank of the plating processing unit 130. For example, in the case of using a plating apparatus of a type that uses two plating solutions shown in FIG. 1, the arrangement of each treatment tank of the plating processing unit 130 is, in order of process, a pre-washing tank, a pre-treatment tank, a rinse tank, It becomes arrangement | positioning, such as 1 plating tank, a rinse tank, a 2nd plating tank, a rinse tank, and a blow tank. It is preferable to dispose each processing tank in the order of steps (X → X ′ direction) in order to eliminate an extra conveyance path. The kind of tank, the number of tanks, and the arrangement of the tanks in the plating apparatus can be freely selected according to the purpose of processing the substrate.

基板ホルダ搬送部140は、走行軸101に沿って、テーブル120、めっき処理部130、ストッカ150の間をリニアモーターなどの搬送機構(図示せず)により移動可能である。基板ホルダ搬送部140は、基板ホルダを垂直姿勢で保持して搬送する。 The substrate holder transport unit 140 is movable along the travel axis 101 between the table 120, the plating processing unit 130, and the stocker 150 by a transport mechanism (not shown) such as a linear motor. The substrate holder transport unit 140 transports the substrate holder while holding it in a vertical posture.

ストッカ150は、基板ホルダ110を垂直状態で複数枚収納することができる。図1において、ストッカ150は、装置背面に隣接して設置されるが、設置場所はこれに限らず、例えばテーブル120とめっき処理部130との間に配置してもよい。 The stocker 150 can store a plurality of substrate holders 110 in a vertical state. In FIG. 1, the stocker 150 is installed adjacent to the rear surface of the apparatus, but the installation location is not limited to this, and may be disposed between the table 120 and the plating processing unit 130, for example.

以下において、本発明の一実施形態に係るめっき装置の動作の一例を説明する。 Below, an example of operation | movement of the plating apparatus which concerns on one Embodiment of this invention is demonstrated.

(a)まず、基板ホルダ搬送部140が、ストッカ150上へと移動し、ストッカ150に収納された基板ホルダ110を取り出して保持する。 (A) First, the substrate holder transport unit 140 moves onto the stocker 150 to take out and hold the substrate holder 110 accommodated in the stocker 150.

(b)次に、基板ホルダ搬送部140は、基板ホルダ110を保持したままテーブル120まで移動し、基板ホルダ110がテーブル120の上に水平に設置される。 (B) Next, the substrate holder transport unit 140 moves to the table 120 while holding the substrate holder 110, and the substrate holder 110 is installed horizontally on the table 120.

(c)基板ホルダ110に、基板500をセットする。 (C) The substrate 500 is set on the substrate holder 110.

(d)基板ホルダ搬送部140が、基板ホルダ110を垂直に保持してめっき処理部130の前水洗槽へと移動する。基板ホルダ110に保持された基板500に対して、めっき処理部130の各処理槽において、めっきの各工程を行う。めっき処理はXからX’方向へと順次行われる。 (D) The substrate holder transport unit 140 moves the substrate holder 110 to the pre-rinsing tank of the plating unit 130 while holding the substrate holder 110 vertically. Each step of plating is performed on the substrate 500 held by the substrate holder 110 in each processing tank of the plating processing unit 130. The plating process is sequentially performed from X to X ′.

(e)基板ホルダ搬送部140は、めっき処理部における各工程完了後、基板ホルダ110を垂直に保持したままテーブル120まで移動し、基板ホルダ110がテーブル120の上に水平に設置される。 (E) The substrate holder transport unit 140 moves to the table 120 while holding the substrate holder 110 vertically after the completion of each step in the plating processing unit, and the substrate holder 110 is placed horizontally on the table 120.

(f)基板ホルダ110から、基板500が取り外される。 (F) The substrate 500 is removed from the substrate holder 110.

(g)連続処理を行う場合には、次の未処理の基板をセットし、(d)から工程を繰り返す。 (G) When performing continuous processing, the next unprocessed substrate is set, and the process is repeated from (d).

(h)処理が完了した後、基板ホルダ搬送部140は、基板500が取り外された基板ホルダ110を垂直に保持してストッカ150へと移動し、ストッカ150へと基板ホルダ110を垂直に収納する。 (H) After the processing is completed, the substrate holder transport unit 140 vertically holds the substrate holder 110 from which the substrate 500 has been removed, moves to the stocker 150, and stores the substrate holder 110 vertically in the stocker 150. .

次に、本発明の一実施形態に係る基板ホルダ110の構成を説明する。 Next, the configuration of the substrate holder 110 according to an embodiment of the present invention will be described.

図3は、本発明の一実施形態に係る基板ホルダ110の構成を示す概要図である。 FIG. 3 is a schematic view showing the configuration of the substrate holder 110 according to one embodiment of the present invention.

基板ホルダ110は、その一端にハンドルバー111を備える。ハンドルバー111は、基板ホルダ搬送部140により保持される。ハンドルバー111は、基板ホルダ110が垂直状態から水平状態または水平状態から垂直状態へ姿勢を変換する際に回転自在となるよう丸棒形状である。 The substrate holder 110 includes a handle bar 111 at one end thereof. The handle bar 111 is held by the substrate holder transport unit 140. The handle bar 111 has a round bar shape so that the substrate holder 110 can rotate when the posture is changed from the vertical state to the horizontal state or from the horizontal state to the vertical state.

ハンドルバー111は、めっき液が付着する事態に備え腐食に強いステンレス製であることがのぞましい。また、ステンレスでもめっき液による腐食に耐えられない場合にはステンレスの表面にクロムめっきやTiC等のコーティングをして腐食耐性を高めることが推奨される。なお、ハンドルバー111には、腐食耐性の高いチタンを用いることもできるが、一般に表面の摩擦抵抗が大きく、後述する基板ホルダ搬送部140のリフター142との回転摺動に適した仕上げが必要である。 The handle bar 111 is preferably made of stainless steel that is resistant to corrosion in preparation for a situation where the plating solution adheres. If stainless steel cannot withstand the corrosion caused by the plating solution, it is recommended to increase the corrosion resistance by coating the surface of stainless steel with chromium plating or TiC. The handlebar 111 may be made of titanium having high corrosion resistance, but generally has a high surface frictional resistance and requires a finish suitable for rotational sliding with the lifter 142 of the substrate holder transport unit 140 described later. is there.

また、基板ホルダ110の上部両端に、直方体形状または立方体形状のハンガー部112が設けられる。ハンガー部112は、基板ホルダ110を各処理槽内に配置する際に、ハンガー受け部材(図示せず)の上に配置することにより、基板ホルダ110を懸架するための支持部として機能する。なお、めっき槽が電解めっき槽である場合は、ハンガー部に設けられた給電接点114と、ハンガー受け部材の電気接点が互いに接触することにより、外部電源から基板500の被めっき面に電流が供給される。給電接点114は、ハンガー受け部材に基板ホルダ110が懸架された際に、めっき槽のめっき液に接触しない箇所に設けられる。 In addition, hangers 112 having a rectangular parallelepiped shape or a cubic shape are provided at both upper ends of the substrate holder 110. The hanger part 112 functions as a support part for suspending the substrate holder 110 by arranging it on a hanger receiving member (not shown) when the substrate holder 110 is arranged in each processing tank. When the plating tank is an electrolytic plating tank, a current is supplied from the external power source to the surface to be plated of the substrate 500 when the power supply contact 114 provided on the hanger portion and the electrical contact of the hanger receiving member come into contact with each other. Is done. The power supply contact 114 is provided at a location that does not contact the plating solution in the plating tank when the substrate holder 110 is suspended on the hanger receiving member.

ハンガー部112は直方体形状または立方体形状として、図3に示す矢印Aの方向から基板ホルダ搬送部140により力が加えられることにより、基板ホルダ110の移動時の振れが防止されるよう設計されてもよい。基板ホルダ110が垂直状態(図3に示す「下」方向に基板ホルダ110の下端部113が向く状態)のときに、ハンガー部112の上面は水平となる。 Even if the hanger part 112 has a rectangular parallelepiped shape or a cubic shape, a force is applied from the direction of the arrow A shown in FIG. Good. When the substrate holder 110 is in a vertical state (a state in which the lower end portion 113 of the substrate holder 110 faces in the “down” direction shown in FIG. 3), the upper surface of the hanger portion 112 is horizontal.

基板ホルダ110の下端部113は、後述するテーブル120の水平移動機構121との回転摺動をスムーズに行うために、側面から見た形状が半円形状(図6参照)に形成されてもよい。 The lower end 113 of the substrate holder 110 may be formed in a semicircular shape (see FIG. 6) as viewed from the side in order to smoothly rotate and slide with a horizontal movement mechanism 121 of the table 120 described later. .

図4(a)は本発明の一実施形態に係る基板ホルダ搬送部140の構成を示す概要図であり、(b)は(a)の基板ホルダ搬送部140が基板ホルダ110を保持した状態の一例を示す図であり、(c)はそのY−Y’線から見た断面図である。 FIG. 4A is a schematic diagram showing the configuration of the substrate holder transport unit 140 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4B shows the state in which the substrate holder transport unit 140 of FIG. It is a figure which shows an example, (c) is sectional drawing seen from the YY 'line | wire.

基板ホルダ搬送部140は、垂直方向に動作することで基板ホルダ110を昇降させるための昇降機構(図示せず)を支柱部145の内部に有する。昇降機構は、基板ホルダ110を懸架するためのアーム141を備える。アーム141は、ハンドルバー111を下からサポートして基板ホルダ110を吊り上げるリフター142を備える。ハンドルバー111を下から支持するため、リフター142は、半円形状の爪(図示せず)を有しており、爪の内側の径はハンドルバー111の外径よりも若干大きい。2つの爪の間に空間を設け、その空間においてハンドルバー111の有無及びハンドルバー111までの距離を検出するセンサ144を備えてもよい。センサ144が、ハンドルバー111すなわち基板ホルダ110が無いこと、またハンドルバー111までの距離が基準値を外れている、すなわち基板ホルダ110がアーム141に対してずれた位置にあるといった異常を検知した場合には、センサ144は異常を昇降機構制御部(図示せず)へと伝え、昇降機構制御部は、アーム141の昇降動作を停止する。また、センサ144を備えることにより、リフター142の爪がハンドルバー111をすくい上げるように支持した際に基板ホルダ110が位置ずれを起こして、リフター142の爪がハンドルバー111を正しく支持できていない、といった異常も検知することができる。 The substrate holder transport unit 140 has an elevating mechanism (not shown) for elevating the substrate holder 110 by operating in the vertical direction inside the support column 145. The lifting mechanism includes an arm 141 for suspending the substrate holder 110. The arm 141 includes a lifter 142 that supports the handle bar 111 from below and lifts the substrate holder 110. In order to support the handle bar 111 from below, the lifter 142 has a semicircular claw (not shown), and the inner diameter of the claw is slightly larger than the outer diameter of the handle bar 111. A space may be provided between the two claws, and a sensor 144 that detects the presence / absence of the handlebar 111 and the distance to the handlebar 111 in the space may be provided. The sensor 144 detects an abnormality such as the absence of the handle bar 111, that is, the substrate holder 110, and the distance to the handle bar 111 deviating from the reference value, that is, the substrate holder 110 is displaced from the arm 141. In this case, the sensor 144 transmits an abnormality to the lifting mechanism control unit (not shown), and the lifting mechanism control unit stops the lifting operation of the arm 141. Further, by providing the sensor 144, the substrate holder 110 is displaced when the claw of the lifter 142 is supported so as to scoop up the handle bar 111, and the claw of the lifter 142 cannot correctly support the handle bar 111. Such an abnormality can be detected.

リフター142のハンドルバー111と接触する箇所は、ハンドルバー111を回転摺動させるため、PTFE等の樹脂が組み込まれるか、アルミ材にタフラム処理やPEEKコーティングを施したものを用いて摩擦係数を小さくすると動きがスムーズになり好ましい。 The portion of the lifter 142 that contacts the handlebar 111 is made of a resin such as PTFE incorporated into the handlebar 111 so as to rotate and slide, or the friction coefficient is reduced by using an aluminum material that has been subjected to a turfrum treatment or PEEK coating. Then, a movement becomes smooth and it is preferable.

基板ホルダ搬送部140は、基板ホルダ110の振れ止めのためのクランパ143を備える。クランパ143は、基板ホルダ110のハンガー部112の上面に対して下方向への力を加えて、基板ホルダ搬送部140の水平移動時に、移動方向へ振れることを防止する。基板ホルダ110の振れ止め防止のために、ハンガー部112を、クランパ143と嵌合する形状に設計してもよい。 The substrate holder transport unit 140 includes a clamper 143 for preventing the substrate holder 110 from swinging. The clamper 143 applies a downward force to the upper surface of the hanger part 112 of the substrate holder 110 to prevent the substrate holder transport unit 140 from swinging in the moving direction during horizontal movement. In order to prevent the substrate holder 110 from swinging, the hanger portion 112 may be designed to fit with the clamper 143.

本発明の一実施形態によれば、クランパ143は基板ホルダ110のハンガー部112の上面に対して下方向への力を加え、かつその両側の垂直面をも支えて振れ止めするように下向きコの字状の形状である。水平面を垂直に押し付ける力が基板ホルダ110の振れ力よりも大きく設定できる場合は垂直面を支える必要はないが、一般には基板ホルダ110のハンガー部112の上面の面積を大きく取れないため、垂直面も支えるのが好ましい。 According to the embodiment of the present invention, the clamper 143 applies a downward force to the upper surface of the hanger portion 112 of the substrate holder 110 and supports the vertical surfaces on both sides to support the swinging. The shape of the letter. When the force that presses the horizontal plane vertically can be set larger than the deflection force of the substrate holder 110, it is not necessary to support the vertical surface, but in general, the area of the upper surface of the hanger portion 112 of the substrate holder 110 cannot be increased. It is also preferable to support.

基板ホルダ110が垂直状態から水平状態へと移行する際にはクランパ143は上方に移動し、振れ止めは解除される。クランパ143の上下動作はエアシリンダや電動アクチュエータ等のアクチュエータ146で行われてもよい。基板ホルダ110の両端のハンガー部112を支える場合、アクチュエータ146は2個としてもよいが、同時動作や簡素化のために1個のアクチュエータ146を基板ホルダ110の中心位置に設置し、アクチュエータ146の可動部に取り付け部材(図示せず)を設けて、この取り付け部材に2個のクランパ143を取り付けて動作させてもよい。 When the substrate holder 110 shifts from the vertical state to the horizontal state, the clamper 143 moves upward and the steadying is released. The vertical movement of the clamper 143 may be performed by an actuator 146 such as an air cylinder or an electric actuator. When supporting the hanger portions 112 at both ends of the substrate holder 110, the number of the actuators 146 may be two, but for simultaneous operation and simplification, one actuator 146 is installed at the center position of the substrate holder 110, and the actuator 146 An attachment member (not shown) may be provided on the movable portion, and the two clampers 143 may be attached to the attachment member for operation.

基板ホルダ110を垂直状態から水平状態に移行し、載置するためにテーブル120が用いられる。テーブル120は、基板ホルダ110の下端部113を支え、かつ、例えばLMガイドのような直線運動をさせるためのガイド(図示せず)に沿って基板ホルダ搬送部140の走行軸方向に自在にスライドする水平移動機構121(図5参照)を備える。 A table 120 is used to shift and place the substrate holder 110 from the vertical state to the horizontal state. The table 120 supports the lower end 113 of the substrate holder 110 and freely slides in the traveling axis direction of the substrate holder transport unit 140 along a guide (not shown) such as an LM guide for linear movement. The horizontal movement mechanism 121 (refer FIG. 5) is provided.

水平移動機構121には、常に初期位置、すなわち基板ホルダ搬送部140がテーブル120に向かって下降した際に基板ホルダ110の下端部113が接触する位置に戻るように錘(図5参照)やコイルばねなどによる外力が付与されてもよい。なお、水平移動機構121は基板ホルダ110の下端部113との摺動に適した形状と材質であることが望ましい。 The horizontal movement mechanism 121 always has a weight (see FIG. 5) or a coil so that it returns to the initial position, that is, the position where the lower end 113 of the substrate holder 110 contacts when the substrate holder transport unit 140 is lowered toward the table 120. An external force such as a spring may be applied. The horizontal movement mechanism 121 is preferably of a shape and material suitable for sliding with the lower end portion 113 of the substrate holder 110.

以下、垂直状態の基板ホルダ110をテーブル120上に水平に載置する手順について図5、図6及び図7を参照しながら説明する。 Hereinafter, a procedure for horizontally placing the substrate holder 110 in the vertical state on the table 120 will be described with reference to FIGS. 5, 6, and 7.

図5(A)〜(F)は、本発明の一実施形態に係る基板ホルダ搬送部の昇降機構とテーブルの水平移動機構との、テーブルに基板ホルダを水平に載置する際の動作を示す概要図であり、図6(A)〜(F)は、図5の動作時の基板ホルダと水平移動機構との詳細図であり、図7(A)〜(D)は、基板ホルダ搬送部が基板ホルダを水平移動機構へと設置する動作を示す図である。 5 (A) to 5 (F) show operations when the substrate holder is horizontally placed on the table by the lifting mechanism of the substrate holder transport unit and the horizontal movement mechanism of the table according to one embodiment of the present invention. FIGS. 6A to 6F are detailed views of the substrate holder and the horizontal movement mechanism during the operation of FIG. 5, and FIGS. 7A to 7D are substrate holder transfer units. FIG. 8 is a diagram illustrating an operation of installing the substrate holder on the horizontal movement mechanism.

まず、基板ホルダ搬送部140は、アーム141により基板ホルダ110をリフター142により吊り上げ保持し、クランパ143で基板ホルダ110を振れ止めした状態で、テーブル120上方まで移動する。この際の基板ホルダ110と水平移動機構121との位置関係は図7(A)から図7(B)に示すとおりである。テーブル120には、基板ホルダ110の下端部113を支持しながら水平方向に移動可能な水平移動機構121が設けられている。基板ホルダ搬送部140がテーブル120上方まで移動すると、アーム141は、基板ホルダ110を垂直に保持した状態で、下降動作を開始する。図5(A)は、基板ホルダ110の下端部113が水平移動機構121のわずかに高い位置まで下降した状態を示す。この際の基板ホルダ110と水平移動機構121との位置関係は、図6(A)及び図7(B)に示すとおりである。 First, the substrate holder transport unit 140 moves up to the upper side of the table 120 in a state where the substrate holder 110 is lifted and held by the lifter 142 by the arm 141 and the substrate holder 110 is prevented from being shaken by the clamper 143. The positional relationship between the substrate holder 110 and the horizontal movement mechanism 121 at this time is as shown in FIGS. 7A to 7B. The table 120 is provided with a horizontal movement mechanism 121 that can move in the horizontal direction while supporting the lower end portion 113 of the substrate holder 110. When the substrate holder transport unit 140 moves to above the table 120, the arm 141 starts the lowering operation while holding the substrate holder 110 vertically. FIG. 5A shows a state where the lower end portion 113 of the substrate holder 110 is lowered to a slightly higher position of the horizontal movement mechanism 121. The positional relationship between the substrate holder 110 and the horizontal movement mechanism 121 at this time is as shown in FIGS. 6 (A) and 7 (B).

図7(C)において、クランパ143が解除される。そして、図5(B)、図6(B)及び図7(D)に示すとおり、アーム141は、基板ホルダ110の下端部が水平移動機構121に接するまで下降する。 In FIG. 7C, the clamper 143 is released. Then, as shown in FIGS. 5B, 6 </ b> B, and 7 </ b> D, the arm 141 is lowered until the lower end portion of the substrate holder 110 contacts the horizontal movement mechanism 121.

なお、図5(A)から図5(B)において、基板ホルダ110の下降動作の途中、基板ホルダ110の下端部113が水平移動機構121よりもわずかに高い位置まで接近するまでは、クランパ143で基板ホルダ110を振れ止めした状態で速い速度で下降することが好ましい。それからクランパ143が外され、アーム141が低速度で下降し、基板ホルダ110の下端部が水平移動機構121に到達することが好ましい。これにより、基板ホルダ110の下降に要する時間を短くしつつ、安定した下降動作が行われる。 5A to 5B, the clamper 143 is not moved until the lower end 113 of the substrate holder 110 approaches a position slightly higher than the horizontal movement mechanism 121 during the lowering operation of the substrate holder 110. Thus, it is preferable that the substrate holder 110 is lowered at a high speed with the steady state. Then, it is preferable that the clamper 143 is removed, the arm 141 is lowered at a low speed, and the lower end portion of the substrate holder 110 reaches the horizontal movement mechanism 121. Thereby, the stable descent | fall operation | movement is performed, shortening the time which the descent | fall of the board | substrate holder 110 requires.

基板ホルダ110の下端部113が水平移動機構121に接触しただけでは、回転の下死点となるため、基板ホルダ110をスムーズに回転させることができない。そこで、基板ホルダ110の下端部113が水平移動機構121に接触した後、図5(C)のように、アーム141をめっき処理部130側へとわずかに横移動させる(わずかな下降がともなう)。これにより図6(C)に示すように、基板ホルダ110を傾かせて、スムーズに基板ホルダ110の回転動作を開始することができる。 If the lower end portion 113 of the substrate holder 110 is only in contact with the horizontal movement mechanism 121, it becomes the bottom dead center of rotation, so that the substrate holder 110 cannot be rotated smoothly. Therefore, after the lower end portion 113 of the substrate holder 110 comes into contact with the horizontal movement mechanism 121, the arm 141 is slightly moved laterally toward the plating processing unit 130 as shown in FIG. 5C (with slight lowering). . As a result, as shown in FIG. 6C, the substrate holder 110 can be tilted and the rotation operation of the substrate holder 110 can be started smoothly.

基板ホルダ110が所定の角度(好ましくは15°程度)傾いた後は、基板ホルダ搬送部140のアーム141を下降させることで、基板ホルダ110の自重により図6(D)に示すように基板ホルダ110の下端部113が水平移動機構121を押し出す。基板ホルダ搬送部140のアーム141を下降させる際には、基板搬送ロボット180側へのわずかな移動がともなう場合がある。図5(D)〜(E)に示すように、水平移動機構121に下端部113を支持された基板ホルダ110は回転して垂直状態から水平状態へと傾いてゆく。すなわち、図6(E)に示すように図6(D)の状態からさらにアーム141を下降させると基板ホルダ110は支点Aを支えとして水平状態へと傾いてゆく。 After the substrate holder 110 is tilted by a predetermined angle (preferably about 15 °), the arm 141 of the substrate holder transport unit 140 is lowered, so that the substrate holder 110 has its own weight, as shown in FIG. The lower end 113 of 110 pushes out the horizontal movement mechanism 121. When the arm 141 of the substrate holder transport unit 140 is lowered, there may be a slight movement toward the substrate transport robot 180 side. As shown in FIGS. 5D to 5E, the substrate holder 110 having the lower end 113 supported by the horizontal movement mechanism 121 rotates and tilts from the vertical state to the horizontal state. That is, as shown in FIG. 6E, when the arm 141 is further lowered from the state of FIG. 6D, the substrate holder 110 is inclined to the horizontal state with the fulcrum A as a support.

さらにアーム141を下降させると、図5(F)、図6(F)に示すように基板ホルダ110は水平状態となり、基板ホルダ搬送部140の下降動作と水平移動機構121の水平移動は完了する。水平状態となった基板ホルダ110の荷重は、テーブル120全体で受けることとなる。アーム141はさらに下降し、めっき処理部130側に退避したあと、上昇する。 When the arm 141 is further lowered, the substrate holder 110 is in a horizontal state as shown in FIGS. 5F and 6F, and the lowering operation of the substrate holder transport unit 140 and the horizontal movement of the horizontal moving mechanism 121 are completed. . The load on the substrate holder 110 in the horizontal state is received by the entire table 120. The arm 141 further moves down, moves up after being retracted to the plating processing unit 130 side.

以上により、基板ホルダ110を回転させるための強力なトルクを有する大掛かりな回転機構を用いることなく、基板ホルダ110を垂直姿勢から水平姿勢に移行できる。本発明の場合、最初に基板ホルダ110を傾けるための基板ホルダ搬送部140の移動距離、アーム141の下降速度、水平移動機構121を初期位置に戻すために付加する力、ハンドルバー111とリフター142の爪の摺動抵抗、及び基板ホルダ110の下端部と水平移動機構121の形状と摺動抵抗を最適に設計することが重要である。 As described above, the substrate holder 110 can be shifted from the vertical posture to the horizontal posture without using a large rotation mechanism having a strong torque for rotating the substrate holder 110. In the case of the present invention, the movement distance of the substrate holder transport unit 140 for tilting the substrate holder 110 first, the lowering speed of the arm 141, the force applied to return the horizontal movement mechanism 121 to the initial position, the handle bar 111 and the lifter 142 It is important to optimally design the sliding resistance of the claw and the shape and sliding resistance of the lower end portion of the substrate holder 110 and the horizontal movement mechanism 121.

なお、本発明においては、水平移動機構121の水平方向の移動を伴って基板ホルダの姿勢を変換する。しかし、図8(A)から図8(C)に示すとおり、図8(A)中におけるテーブルの左端に基板ホルダ110の下端部113を接地させ、アーム141が弧を描くように運動して基板ホルダ110を水平にすることも考えられる。しかし、テーブル120の上方には、図1に示すように、基板搬送ロボット180が基板500を基板ホルダ110に受け渡し、あるいは基板ホルダ110から受け取る際に基板ホルダ110の基板の保持を解除するための基板ホルダ開閉機構103があるため、基板ホルダ搬送部140と基板ホルダ開閉機構103が干渉してしまう。また、図8(D)から図8(F)に示すとおり、図8(D)中におけるテーブル120の右端に基板ホルダ110の下端部113を接触させ、同様にアーム141が基板ホルダ110をめっき処理部側に傾けて水平にして、最後に基板ホルダ110をテーブル120上に載置するためにアーム141が基板ホルダ110を移動させることも考えられる。しかし、図8(E)に示すように、基板ホルダ搬送部140が、テーブル120よりもめっき処理部130側に大きく張り出すことになり、めっき処理部130での処理と干渉するおそれがある。これらの基板ホルダ110の姿勢を変換する方法と異なり、本発明における基板ホルダ110の姿勢を変換する方法によれば、基板ホルダ搬送部140が基板ホルダ110の姿勢を変換する際に、基板ホルダ搬送部140が基板ホルダ開閉機構103やめっき処理部130での処理が干渉することがないため、基板ホルダ搬送部140と基板ホルダ開閉機構やめっき処理部130との距離を考慮する必要がなく、装置の省スペース化に大きく貢献する。 In the present invention, the posture of the substrate holder is changed with the horizontal movement of the horizontal movement mechanism 121. However, as shown in FIGS. 8A to 8C, the lower end 113 of the substrate holder 110 is grounded to the left end of the table in FIG. 8A, and the arm 141 moves so as to draw an arc. It is also conceivable to make the substrate holder 110 horizontal. However, above the table 120, as shown in FIG. 1, when the substrate transfer robot 180 delivers the substrate 500 to the substrate holder 110 or receives it from the substrate holder 110, it is used for releasing the holding of the substrate of the substrate holder 110. Since there is the substrate holder opening / closing mechanism 103, the substrate holder transport unit 140 and the substrate holder opening / closing mechanism 103 interfere with each other. Further, as shown in FIGS. 8D to 8F, the lower end 113 of the substrate holder 110 is brought into contact with the right end of the table 120 in FIG. 8D, and the arm 141 similarly plating the substrate holder 110. It is also conceivable that the arm 141 moves the substrate holder 110 in order to place the substrate holder 110 on the table 120 by tilting it toward the processing unit and horizontally. However, as shown in FIG. 8 (E), the substrate holder transport unit 140 protrudes farther toward the plating processing unit 130 than the table 120, and may interfere with the processing in the plating processing unit 130. Unlike the method of changing the posture of the substrate holder 110, according to the method of changing the posture of the substrate holder 110 according to the present invention, the substrate holder transfer unit 140 transfers the substrate holder when the substrate holder transfer unit 140 changes the posture of the substrate holder 110. Since the part 140 does not interfere with the processing in the substrate holder opening / closing mechanism 103 and the plating processing unit 130, there is no need to consider the distance between the substrate holder transport unit 140 and the substrate holder opening / closing mechanism or the plating processing unit 130. Greatly contributes to space saving.

なお、水平移動機構121は、基板ホルダ110の自重によらずに、自ら水平方向へ移動するための機構を備えても良いが、そのための動力源が必要となり、また基板ホルダ110の姿勢を変換させるためにアーム141との動作を連携して行う必要があるため、制御も複雑になる。そのため、上述したように、水平移動機構121はスライド可能で、水平移動機構121を初期位置に戻すための錘やコイルばねなどによる外力が付与された機構を制御し水平移動させることが望ましい。 The horizontal movement mechanism 121 may include a mechanism for moving in the horizontal direction by itself, regardless of the weight of the substrate holder 110, but a power source for that purpose is required, and the posture of the substrate holder 110 is changed. Therefore, the operation with the arm 141 needs to be performed in cooperation with each other, so that the control becomes complicated. Therefore, as described above, the horizontal movement mechanism 121 is slidable, and it is desirable to control and horizontally move the mechanism to which an external force such as a weight or a coil spring for returning the horizontal movement mechanism 121 to the initial position is controlled.

なお、基板ホルダ110の垂直状態から水平状態への移行に伴い、ハンドルバー111とリフター142の爪、基板ホルダ110の下端部と水平移動機構121の表面は、互いに摺動する形態を示したが、摺動させることが望ましくない場合には、ハンドルバー111は両端を軸受け支持し、基板ホルダ110の下端部には回転ローラをつけても良い。しかし基板ホルダ110はめっき液中に浸漬されるため、軸受けやローラがめっき液中あるいはめっき液面近くに配置されるため、めっき液付着の影響から軸受けやローラを設けるのは望ましくない場合がある。従って、摺動を避ける場合には、リフター142の爪あるいは水平移動機構121の表面に回転ローラを設けてハンドルバー111あるいは下端部113が転がり自在にしても良い。 In addition, as the substrate holder 110 is shifted from the vertical state to the horizontal state, the handle bar 111 and the claw of the lifter 142, the lower end portion of the substrate holder 110, and the surface of the horizontal movement mechanism 121 are shown to slide with each other. If it is not desirable to slide the handle bar 111, both ends of the handle bar 111 may be supported by bearings, and a rotating roller may be attached to the lower end of the substrate holder 110. However, since the substrate holder 110 is immersed in the plating solution, the bearings and rollers are disposed in the plating solution or near the plating solution surface, so it may not be desirable to provide the bearings or rollers due to the influence of the plating solution adhesion. . Therefore, when sliding is avoided, a rotation roller may be provided on the surface of the claw of the lifter 142 or the horizontal movement mechanism 121 so that the handle bar 111 or the lower end 113 can roll freely.

テーブル120上で、処理が終わった基板500を基板ホルダ110から取り出す作業を終了した後、あるいは次に処理すべき基板500を保持した後の基板ホルダ110は、水平状態から垂直状態に姿勢が変換される。その際には、リフター142の爪がハンドルバー111の下側に入り込んでハンドルバー111を引っ掛け、アーム141の上昇に伴いリフター142は基板ホルダ110を吊り上げる。水平移動機構121は基板ホルダ110の下端部から外れることなく、初期位置に戻って、基板ホルダ110は垂直姿勢となる。そしてアーム141はさらに上昇する。上昇の途中で、クランパ143が上述したように動作して基板ホルダ110の振れを留める。 On the table 120, after completing the operation of taking out the processed substrate 500 from the substrate holder 110 or holding the substrate 500 to be processed next, the posture of the substrate holder 110 is changed from a horizontal state to a vertical state. Is done. At that time, the claw of the lifter 142 enters the lower side of the handle bar 111 and hooks the handle bar 111, and the lifter 142 lifts the substrate holder 110 as the arm 141 moves up. The horizontal movement mechanism 121 returns to the initial position without detaching from the lower end of the substrate holder 110, and the substrate holder 110 assumes a vertical posture. And the arm 141 further moves up. In the middle of ascending, the clamper 143 operates as described above to stop the swing of the substrate holder 110.

上述した実施形態により、動力が必要なものとしては基板ホルダ搬送部140の水平移動とアーム141の上昇下降だけで基板ホルダ110の垂直姿勢と水平姿勢の変換を実現している。これらの基板ホルダ搬送部140が備える水平、垂直方向運動のための機構は、基板ホルダ110を各処理槽へ移動、及び各処理槽の処理液に基板500を浸漬させるために必要なものであり、基板ホルダ110の姿勢転換のために何ら専用の動力を必要としていない。 According to the above-described embodiment, the vertical posture and the horizontal posture of the substrate holder 110 are converted only by the horizontal movement of the substrate holder transport unit 140 and the raising and lowering of the arm 141 as those requiring power. The mechanisms for horizontal and vertical movements provided in the substrate holder transport unit 140 are necessary for moving the substrate holder 110 to each processing tank and immersing the substrate 500 in the processing liquid of each processing tank. No special power is required to change the posture of the substrate holder 110.

本発明は、基板ホルダで基板を保持して、基板ホルダを搬送し、基板にめっきをする装置に広く適用できる。本実施形態では、めっき装置を例示したが、例えばエッチング装置、無電解めっき装置などにも適用できる。また、基板ホルダを処理槽に完全に浸漬させるタイプだけでなく、例えば処理槽の垂直な側面に開口部があり、基板ホルダで保持された基板が開口部を横から塞ぐように設置されるタイプの処理装置にも適用できる。さらに、本実施形態では、装置内に基板ホルダ搬送部は1つのみであり、姿勢転換のために用いた基板ホルダ搬送部と、めっき槽を始めとする各処理槽内に基板ホルダを搬送する基板ホルダ搬送部は共通である。しかし、基板ホルダ搬送部が複数あり、姿勢転換のための基板ホルダ搬送部と、例えばめっき処理部130に搬送するための基板ホルダ搬送部が別であっても良い。 The present invention can be widely applied to apparatuses that hold a substrate with a substrate holder, convey the substrate holder, and plate the substrate. In the present embodiment, the plating apparatus is exemplified, but the present invention can also be applied to, for example, an etching apparatus and an electroless plating apparatus. In addition to the type in which the substrate holder is completely immersed in the processing tank, for example, there is an opening on the vertical side surface of the processing tank, and a type in which the substrate held by the substrate holder is installed so as to block the opening from the side. The present invention can also be applied to other processing apparatuses. Furthermore, in this embodiment, there is only one substrate holder transfer unit in the apparatus, and the substrate holder is transferred into the substrate holder transfer unit used for posture change and each processing tank including the plating tank. The substrate holder transport unit is common. However, there are a plurality of substrate holder transfer units, and the substrate holder transfer unit for changing the posture and the substrate holder transfer unit for transferring to the plating processing unit 130, for example, may be different.

以上に示したように、本発明によれば、大掛かりな回転機構を用いることなく、基板ホルダを安定して回転させることができるので、装置の省スペース化と製造コストの低減を実現できる。特に、基板ホルダをめっき槽に搬送する搬送機を利用することにより、基板ホルダの回転のために別の動力機構を必要とせず、製造コストの著しい低減を実現することができる。 As described above, according to the present invention, the substrate holder can be stably rotated without using a large rotation mechanism, so that space saving of the apparatus and reduction in manufacturing cost can be realized. In particular, by using a transporter that transports the substrate holder to the plating tank, a separate power mechanism is not required for the rotation of the substrate holder, and the manufacturing cost can be significantly reduced.

次に、本発明の他の実施形態に係るめっき装置における基板ホルダ開閉機構102の動作について説明を行う。 Next, the operation of the substrate holder opening / closing mechanism 102 in the plating apparatus according to another embodiment of the present invention will be described.

基板ホルダ開閉機構102において、テーブル120に置かれた基板ホルダへの基板の着脱を行うために、基板ホルダの蓋部分、すなわち後述する可動保持部材11の着脱を行う。 In the substrate holder opening / closing mechanism 102, in order to attach / detach the substrate to / from the substrate holder placed on the table 120, the lid portion of the substrate holder, that is, the movable holding member 11 described later is attached / detached.

基板ホルダ開閉機構102の構成及び動作について、以下で詳細な説明を行うが、まず、本発明の他の実施形態に係るめっき装置で用いる基板ホルダ110の構成を説明する。 The configuration and operation of the substrate holder opening / closing mechanism 102 will be described in detail below. First, the configuration of the substrate holder 110 used in the plating apparatus according to another embodiment of the present invention will be described.

図11〜図13は、本発明の他の実施形態に係るめっき装置で用いる基板ホルダ110の構成を示す概要図であり、図11は可動保持部材11が固定保持部材15へと取り付けられ、耳部13とクランパ16とが嵌合された状態を示す上面図であり、図12は可動保持部材11と固定保持部材15とを別個に示した上面図であり、(a)は固定保持部材15、(b)は可動保持部材11を示す。図13は、可動保持部材11および固定保持部材15の一部の断面図である。 11 to 13 are schematic views showing the configuration of the substrate holder 110 used in the plating apparatus according to another embodiment of the present invention. FIG. 11 shows the movable holding member 11 attached to the fixed holding member 15 and the ear. FIG. 12 is a top view showing a state in which the portion 13 and the clamper 16 are fitted, FIG. 12 is a top view showing the movable holding member 11 and the fixed holding member 15 separately, and FIG. (B) shows the movable holding member 11. FIG. 13 is a partial cross-sectional view of the movable holding member 11 and the fixed holding member 15.

図11〜図13を参照すると、基板ホルダ110は、蓋部である可動保持部材11と、テーブル120に載置される固定保持部材15とを有し、可動保持部材11と固定保持部材15とにより基板500を挟持する。可動保持部材11は略円形のリング状であり、押え部材12と、押え部材12と一体で外周に突出した耳部13とを有する。可動保持部材11は固定保持部材15へと固定可能であり、また固定保持部材15から取り外し可能である。図11においては、可動保持部材11は固定保持部材15の上面へと固定される。固定保持部材15は、耳部13に対応した箇所にクランパ16を有する。クランパ16は、L字を逆さにした形状で、先端が内方に屈曲しており、先端の屈曲部の内側に耳部13が入り込む(嵌合)ことによって可動保持部材11を固定保持部材15に対して固定することができる(図20以降を参照)。なお、耳部13とクランパ16は、スムーズに嵌合するためのテーパ部を有することが望ましい。 Referring to FIGS. 11 to 13, the substrate holder 110 includes a movable holding member 11 that is a lid portion and a fixed holding member 15 that is placed on the table 120, and the movable holding member 11, the fixed holding member 15, and the like. Thus, the substrate 500 is sandwiched. The movable holding member 11 has a substantially circular ring shape, and includes a pressing member 12 and an ear portion 13 that is integral with the pressing member 12 and protrudes to the outer periphery. The movable holding member 11 can be fixed to the fixed holding member 15 and can be detached from the fixed holding member 15. In FIG. 11, the movable holding member 11 is fixed to the upper surface of the fixed holding member 15. The fixed holding member 15 has a clamper 16 at a location corresponding to the ear portion 13. The clamper 16 has an L-shaped inverted shape, the tip is bent inward, and the ear 13 is inserted (fitted) inside the bent portion of the tip, thereby fixing the movable holding member 11 to the fixed holding member 15. (See FIG. 20 and subsequent figures). In addition, as for the ear | edge part 13 and the clamper 16, it is desirable to have a taper part for fitting smoothly.

押え部材12は可動保持部材11に対して回転可能、かつ離脱しないように保持され、耳部13とともに可動保持部材11の中心Rを回転中心として、略水平面を回転面として回転する。押え部材12は例えば略円形のリング状である。押え部材12は、押え部材12の周上に、後述する基板ホルダ開閉機構が有するヘッド部1100の方向に突出した突出部12aを有する。押え部材12は、押え部材脱離防止部材12bにより、可動保持部材11からの脱離が防止される。 The presser member 12 is rotatably held with respect to the movable holding member 11 and is held so as not to be detached. The presser member 12 rotates together with the ear portion 13 with the center R of the movable holding member 11 as a rotation center and a substantially horizontal plane as a rotation surface. The pressing member 12 has, for example, a substantially circular ring shape. The pressing member 12 has a protruding portion 12 a that protrudes in the direction of the head portion 1100 of a substrate holder opening / closing mechanism described later on the periphery of the pressing member 12. The presser member 12 is prevented from being detached from the movable holding member 11 by the presser member detachment preventing member 12b.

可動保持部材11と固定保持部材15とは、基板500を挟持し、押え部材12を回転させて耳部13をクランパ16へと嵌合して固定する。また、基板500の取り付け及び取り外しを行う場合には、押え部材12を回転させて耳部13とクランパ16との嵌合を解除する。 The movable holding member 11 and the fixed holding member 15 sandwich the substrate 500 and rotate the pressing member 12 to fit the ear portion 13 to the clamper 16 and fix it. Further, when attaching and detaching the substrate 500, the pressing member 12 is rotated to release the fitting between the ear portion 13 and the clamper 16.

基板500は、固定保持部材15の基板載置箇所14に載置される。 The substrate 500 is placed on the substrate placement location 14 of the fixed holding member 15.

可動保持部材は、基板の端部や裏面といっためっきする必要のない部分をめっき液からシールするための第1のシールリング18aと第2のシールリング18bを有する。第1のシールリング18aは、基板の外周端部に接触し、第2のシールリング18bは固定保持部材15の表面に接触する。さらに、電解めっき装置のための基板ホルダであれば、第1のシールリング18aでシールされた基板の端部領域に接触して基板に通電する電気接点20を有する。電気接点20は、可動保持部材11と固定保持部材15が基板を挟持した状態で外部電源と電気的につながる。第1のシールリング18aと第2のシールリング18bは、シールリングホルダ19により保持される。なお、以降の記述において、説明を簡便にするため、第1のシールリング18aと第2のシールリング18bを合わせてシールリング18と称する場合がある。 The movable holding member includes a first seal ring 18a and a second seal ring 18b for sealing a portion that does not need to be plated, such as an end portion and a back surface of the substrate, from the plating solution. The first seal ring 18 a contacts the outer peripheral end of the substrate, and the second seal ring 18 b contacts the surface of the fixed holding member 15. Furthermore, in the case of a substrate holder for an electroplating apparatus, it has an electrical contact 20 that contacts the end region of the substrate sealed by the first seal ring 18a and energizes the substrate. The electrical contact 20 is electrically connected to an external power source with the movable holding member 11 and the fixed holding member 15 sandwiching the substrate. The first seal ring 18 a and the second seal ring 18 b are held by a seal ring holder 19. In the following description, the first seal ring 18a and the second seal ring 18b may be collectively referred to as a seal ring 18 for ease of explanation.

基板500を基板ホルダ110から取り出す場合には、可動保持部材11は固定保持部材15から離れる方向に移動されるが、この時に第1のシールリング18aと基板500が固着して基板が可動保持部材側にくっついて持ち上がってしまうという問題が生じることがある。これを防止するため、基板と第1のシールリング18aが離れる際に基板を固定保持部材側に付勢しておき基板を第1のシールリング18aから剥離する剥離スプリングを可動保持部材に備えることが望ましい。この剥離スプリングについては、特許公報第4162440号に記載されている。 When the substrate 500 is taken out from the substrate holder 110, the movable holding member 11 is moved away from the fixed holding member 15. At this time, the first seal ring 18a and the substrate 500 are fixed and the substrate is moved to the movable holding member. There may be a problem of sticking to the side and lifting up. In order to prevent this, the movable holding member is provided with a peeling spring that urges the substrate toward the fixed holding member when the substrate and the first seal ring 18a are separated, and peels the substrate from the first seal ring 18a. Is desirable. This peeling spring is described in Japanese Patent No. 4162440.

ところが、可動保持部材11がスプリング部材を有していても、基板500に塗布されたレジストの材料や厚さといった性質、性状によっては、可動保持部材11の取り外し時に第1のシールリング18aと基板500の固着によって基板500が基板載置箇所14から位置ずれを起こしてしまう場合がある。特に、基板500の端部の一部が第1のシールリング18aと固着して基板が斜めに持ち上がったり、持ち上がった後に落下して固定保持部材15上で位置ずれを生じることがある。 However, even if the movable holding member 11 has a spring member, the first seal ring 18a and the substrate may be removed when the movable holding member 11 is removed depending on the properties and properties of the resist applied to the substrate 500 and the thickness. In some cases, the substrate 500 may be displaced from the substrate placement location 14 due to the fixation of the substrate 500. In particular, a part of the end portion of the substrate 500 may be fixed to the first seal ring 18a, and the substrate may be lifted obliquely, or may fall after being lifted, resulting in misalignment on the fixed holding member 15.

この問題に対しては、後述するように、本発明の他の実施形態に係るめっき装置においては、基板ホルダ開閉機構102に設けられたセンサ1140により位置ずれを検出することにより位置ずれを起こしたままめっき装置が動作を続けることを防止している。 As described later, with respect to this problem, in the plating apparatus according to another embodiment of the present invention, the position shift is caused by detecting the position shift by the sensor 1140 provided in the substrate holder opening / closing mechanism 102. This prevents the plating apparatus from continuing to operate.

図14は、本発明の一実施形態に係るめっき装置の基板ホルダ開閉機構102の構成を示す概要図である。図14を参照すると、基板ホルダ開閉機構102は、ヘッド部1100と、第1のアクチュエータ1200と、第2のアクチュエータ1300とを有する。 FIG. 14 is a schematic diagram showing the configuration of the substrate holder opening / closing mechanism 102 of the plating apparatus according to one embodiment of the present invention. Referring to FIG. 14, the substrate holder opening / closing mechanism 102 includes a head unit 1100, a first actuator 1200, and a second actuator 1300.

ヘッド部1100は、テーブル120の上方に位置し、テーブル120に載置された基板ホルダ110の可動保持部材11を保持することができる。また、ヘッド部1100は基板ホルダ110の可動保持部材11の押え部材12を回転させ、耳部13を回転させて、可動保持部材11を固定保持部材15へと固定及び固定解除したり、可動保持部材11を保持可能としたりすることができる。 The head unit 1100 is positioned above the table 120 and can hold the movable holding member 11 of the substrate holder 110 placed on the table 120. Further, the head unit 1100 rotates the holding member 12 of the movable holding member 11 of the substrate holder 110 and rotates the ear portion 13 to fix and release the movable holding member 11 to and from the fixed holding member 15, and to move and hold the movable holding member 11. The member 11 can be held.

第1のアクチュエータ1200は、ヘッド部1100の接続ボス1170によりヘッド部1100に接続され、ヘッド部1100を上下動させる。第1のアクチュエータ1200は、例えばアクチュエータ本体1210と、シャフト1220とを有し、シャフト1220の端部においてヘッド部1100と接続され、シャフト1220の伸縮に伴い、ヘッド部1100を上下動させる。 The first actuator 1200 is connected to the head unit 1100 by a connection boss 1170 of the head unit 1100 and moves the head unit 1100 up and down. The first actuator 1200 includes, for example, an actuator body 1210 and a shaft 1220, and is connected to the head portion 1100 at the end of the shaft 1220, and moves the head portion 1100 up and down as the shaft 1220 expands and contracts.

第2のアクチュエータ1300は、1軸移動するアクチュエータ1310とこのアクチュエータ1310の移動プレート1320に固定されたシャフトフック1330とで構成される。シャフトフック1330にはシャフト1130を押すときの摺動性確保のために回転ローラ1340が左右に2個とりつけられている。回転ローラ1340は回転ローラ軸1350によって回転支持されている。シャフトフック1330は第2のアクチュエータ1300の駆動によって水平方向へと往復移動し、、ヘッド部1100から延伸したシャフト1130を押し動かしてヘッド部1100の回転板1150を回転させる。例えば、第2のアクチュエータの駆動方式はボールねじである。 The second actuator 1300 includes an actuator 1310 that moves uniaxially and a shaft hook 1330 that is fixed to a moving plate 1320 of the actuator 1310. Two rotating rollers 1340 are attached to the shaft hook 1330 on the left and right sides to ensure slidability when the shaft 1130 is pushed. The rotating roller 1340 is rotatably supported by a rotating roller shaft 1350. The shaft hook 1330 reciprocates in the horizontal direction by driving the second actuator 1300, and pushes and moves the shaft 1130 extended from the head portion 1100 to rotate the rotating plate 1150 of the head portion 1100. For example, the driving method of the second actuator is a ball screw.

図15を参照して、ヘッド部1100のより詳細な構成を説明する。図15を参照すると、ヘッド部1100は、押圧円板1110と、押圧円板上に回転板1150とを有する。 A more detailed configuration of the head unit 1100 will be described with reference to FIG. Referring to FIG. 15, the head unit 1100 includes a pressing disk 1110 and a rotating plate 1150 on the pressing disk.

押圧円板1110は、吊り上げフック1111と、回転板ガイド1112と、ガイドローラ1113と、押し付けブロック1114とを有する。また、押圧円板1110の外周に沿って固定支持されたセンサ1140を有してもよい。 The pressing disk 1110 includes a lifting hook 1111, a rotating plate guide 1112, a guide roller 1113, and a pressing block 1114. Moreover, you may have the sensor 1140 fixedly supported along the outer periphery of the press disc 1110. FIG.

回転板1150は、締め付けフック1151を備え、シャフト1130と接続される。回転板1150は略円形のリング状であり、押圧円板1110上の回転板ガイド1112により挟持される。回転板1150はその円の中心を回転中心として、略水平面を回転面として回転可能である。回転板1150は、ガイドローラ1113と褶動して回転する。 The rotating plate 1150 includes a fastening hook 1151 and is connected to the shaft 1130. The rotating plate 1150 has a substantially circular ring shape and is sandwiched between rotating plate guides 1112 on the pressing disk 1110. The rotating plate 1150 can rotate with the center of the circle as the center of rotation and the substantially horizontal plane as the surface of rotation. The rotating plate 1150 rotates by rotating with the guide roller 1113.

シャフト1130は例えば棒状であり、第2のアクチュエータ1300の水平方向の動作により、シャフトの端部が押され、回転板が回転する。すなわち、第2のアクチュエータ1300の動作を制御することにより回転板1150の回転動作を制御可能である。シャフト1130の位置を検出するため、センサ1131を押圧円板1110上に備えてもよい。 The shaft 1130 has, for example, a rod shape, and the end of the shaft is pushed by the horizontal operation of the second actuator 1300, and the rotating plate rotates. That is, the rotation operation of the rotating plate 1150 can be controlled by controlling the operation of the second actuator 1300. In order to detect the position of the shaft 1130, a sensor 1131 may be provided on the pressing disk 1110.

回転板1150は、その回転に伴って押え部材12及び耳部13を回転させる。例えば、回転板1150の周上2箇所に、下方に向かって延出した締付けフック1151を設ける。回転板1150が第2のアクチュエータ1300によって回転されると、締付けフック1151が可動保持部材11の押え部材12の突出部12aを押し、押え部材12を回転させる。 The rotating plate 1150 rotates the pressing member 12 and the ear portion 13 with the rotation. For example, tightening hooks 1151 extending downward are provided at two positions on the circumference of the rotating plate 1150. When the rotating plate 1150 is rotated by the second actuator 1300, the fastening hook 1151 presses the protruding portion 12 a of the pressing member 12 of the movable holding member 11 to rotate the pressing member 12.

押圧円板1110は、底面に押し付けブロック1114を有する。第1のアクチュエータ1120がヘッド部1100を下降させると、押し付けブロック1114が可動保持部材11の押え部材12以外の本体部、例えば図13におけるPと接触し、さらに可動保持部材11を下方に押し付ける。可動保持部材11の押さえ部材12以外の部分が下方に押し付けられると、その押付量の分だけシールリング18が変形する。可動保持部材11が下方に沈み込むため、押え部材12の耳部13がクランパ16と嵌合するための隙間が生まれる。そのため、押え部材12を回転させるための力、すなわち第2のアクチュエータ1300の駆動力は比較的小さな力で済み、クランパ16や耳部13の磨耗を抑えることができる。   The pressing disk 1110 has a pressing block 1114 on the bottom surface. When the first actuator 1120 lowers the head portion 1100, the pressing block 1114 comes into contact with the main body portion other than the pressing member 12 of the movable holding member 11, for example, P in FIG. 13, and further presses the movable holding member 11 downward. When a portion other than the pressing member 12 of the movable holding member 11 is pressed downward, the seal ring 18 is deformed by the pressing amount. Since the movable holding member 11 sinks downward, a gap for fitting the ear portion 13 of the pressing member 12 with the clamper 16 is created. Therefore, the force for rotating the pressing member 12, that is, the driving force of the second actuator 1300 suffices, and wear of the clamper 16 and the ear portion 13 can be suppressed.

押し付けブロック1114が可動保持部材11を下方に押し付ける押し付け量は、ヘッド部1100の下降位置で決まるが、それぞれの基板ホルダ110の厚さに個体差があると、シールリング18の変形量(圧縮量)が異なるという問題が生じる。すなわち、基板ホルダが薄い場合はシールが十分に圧縮されないので押え部材の回転摩擦が大きくなったり、基板ホルダが厚い場合はシールを過剰に圧縮してシールを傷めるという問題があり、シール性にも影響が生じる可能性がある。このような問題に対し、押し付けブロック1114を、図16に示すように、内部にスプリング等の弾性体30を備えるプランジャとすることで対処することができる。弾性力を有するスプリング等の弾性体30をあらかじめ所定量圧縮しておき、弾性体30が基板ホルダと接触するピン31を常に押している状態にすることにより、基板ホルダ110の個体差によって生じるシールリング18の圧縮量の差を緩和することができる。これにより、基板ホルダの厚さのばらつきを許容して基板ホルダの開閉に伴う部材間の摩擦抵抗を安定して小さくし、ひいては安定したシール性を実現することができる。 The pressing amount by which the pressing block 1114 presses the movable holding member 11 downward is determined by the lowered position of the head unit 1100. However, if there is an individual difference in the thickness of each substrate holder 110, the deformation amount (compression amount) of the seal ring 18 ) Are different. That is, when the substrate holder is thin, the seal is not compressed sufficiently, so that the rotational friction of the holding member increases, and when the substrate holder is thick, there is a problem that the seal is excessively compressed and the seal is damaged. Impact may occur. Such a problem can be dealt with by making the pressing block 1114 a plunger having an elastic body 30 such as a spring inside as shown in FIG. An elastic body 30 such as a spring having an elastic force is compressed in advance by a predetermined amount, and the elastic body 30 always presses the pin 31 in contact with the substrate holder. The difference of the compression amount of 18 can be relieved. Thereby, the variation in the thickness of the substrate holder is allowed, the frictional resistance between the members accompanying the opening and closing of the substrate holder can be stably reduced, and as a result, a stable sealing property can be realized.

押圧円板1110は、複数の吊り上げフック1111をその外縁に有する。可動保持部材11の耳部13が回転移動して吊り上げフック1111の吊り上げ部の直上に移動した状態で、ヘッド部1100が上昇すると、可動保持部材11の耳部13が吊り上げフック1111に吊り上げられることにより可動保持部材11がヘッド部1100とともに上昇する。これにより、可動保持部材11と固定保持部材15との間に隙間が開くため、その隙間より固定保持部材への基板500の載置や取り出しを行うことができる。 The pressing disk 1110 has a plurality of lifting hooks 1111 on its outer edge. When the head portion 1100 is lifted in a state where the ear portion 13 of the movable holding member 11 is rotated and moved right above the lifting portion of the lifting hook 1111, the ear portion 13 of the movable holding member 11 is lifted by the lifting hook 1111. As a result, the movable holding member 11 rises together with the head portion 1100. Accordingly, a gap is opened between the movable holding member 11 and the fixed holding member 15, and the substrate 500 can be placed on and taken out from the fixed holding member through the gap.

以上に示すように、可動保持部材11の押え部材12の回転動作による可動保持部材11の固定保持部材15への固定と、可動保持部材11の上昇動作及び下降動作とをヘッド部1100を介してそれぞれ単純な動作のみを行う別々のアクチュエータにより動作させて行うことにより、従来の装置におけるような、往復可能かつ回転可能な複雑な装置を必要とせず、装置を単純化することができ、装置を小型化・単純化し、コストを抑えることができる。従来の装置では、可動保持部材11と固定保持部材15がヒンジでつながっており、可動保持部材11を持ち上げるための機構をテーブル下部に備える必要があったが、本発明の機構を採用することにより、基板ホルダ110の開閉専用のアクチュエータは必要なくなっている。 As described above, the fixing of the movable holding member 11 to the fixed holding member 15 by the rotating operation of the pressing member 12 of the movable holding member 11 and the raising and lowering operations of the movable holding member 11 are performed via the head portion 1100. By operating by separate actuators that perform only simple operations, it is possible to simplify the device without requiring a complicated device that can be reciprocated and rotated as in the conventional device. Miniaturization, simplification, and cost reduction. In the conventional apparatus, the movable holding member 11 and the fixed holding member 15 are connected by a hinge, and it is necessary to provide a mechanism for lifting the movable holding member 11 at the lower part of the table, but by adopting the mechanism of the present invention. The actuator dedicated for opening and closing the substrate holder 110 is no longer necessary.

押圧円板1110は、その外周に、テーブル120に載置された基板ホルダ110上の基板500の位置検知手段としてセンサ1140を有してもよい。センサ1140による位置検知の方法について、図17を参照して説明する。 The pressing disk 1110 may have a sensor 1140 on its outer periphery as a means for detecting the position of the substrate 500 on the substrate holder 110 placed on the table 120. A method of position detection by the sensor 1140 will be described with reference to FIG.

図17を参照すると、センサ1140が、基板ホルダ開閉機構102に備えられ、基板ホルダ110の上方に位置する。センサ1140は、例えばレーザセンサであるが、これに限らない。基板ホルダ開閉機構102は、センサ1140を複数有してもよく、これにより、基板の位置ずれをより正確に検知することができる。基板ホルダ110の固定保持部材15には、レーザセンサのレーザ照射位置に対応して切り欠き部17を設ける。例えば、基板ホルダ開閉機構102がセンサ1140を3つ備える場合の切り欠き部17を上方からみると、図18に示すように固定保持部材15の基板載置箇所14に3つの切り欠き部17が設けられる。好ましくは、切り欠き部17には傾斜が設けられ、レーザセンサの光軸に略直角に対向し、かつめっき液が切り欠き部17に滞留しないようにすることにより、検出距離を一定に保つことができる。 Referring to FIG. 17, the sensor 1140 is provided in the substrate holder opening / closing mechanism 102 and is located above the substrate holder 110. The sensor 1140 is, for example, a laser sensor, but is not limited thereto. The substrate holder opening / closing mechanism 102 may include a plurality of sensors 1140, and thereby can detect the displacement of the substrate more accurately. A cutout portion 17 is provided in the fixed holding member 15 of the substrate holder 110 corresponding to the laser irradiation position of the laser sensor. For example, when the substrate holder opening / closing mechanism 102 includes three sensors 1140, when the cutout portion 17 is viewed from above, the three cutout portions 17 are formed at the substrate placement location 14 of the fixed holding member 15 as shown in FIG. Provided. Preferably, the notch 17 is provided with an inclination so as to face the optical axis of the laser sensor substantially at right angles, and to prevent the plating solution from staying in the notch 17 so as to keep the detection distance constant. Can do.

センサ1140で物体までの距離を計測し、計測した距離が、所定範囲内であるかを判定する。例えば、図17(a)に示すように、センサ1140が所定の高さに位置する場合の切り欠き部17との距離がAである場合に、センサ1140により計測した物体までの距離がAであれば、センサ1140は切り欠き部17までの正しい距離を計測したものとして、基板500までの距離を計測したものではないから、基板500がセンサ1140と切り欠き部17との間に位置しないことがわかる。 The sensor 1140 measures the distance to the object, and determines whether the measured distance is within a predetermined range. For example, as shown in FIG. 17A, when the distance from the notch 17 is A when the sensor 1140 is positioned at a predetermined height, the distance to the object measured by the sensor 1140 is A. If there is, the sensor 1140 measures the correct distance to the notch 17 and does not measure the distance to the substrate 500, so that the substrate 500 is not positioned between the sensor 1140 and the notch 17. I understand.

一方、図17(b)に示すように、センサ1140により計測した物体までの距離がAと異なり、Aより短いW1である場合には、センサ1140は基板500までの距離を計測したものとして、基板500に位置ずれが発生していることがわかる。 On the other hand, as shown in FIG. 17B, when the distance to the object measured by the sensor 1140 is different from A and is W1 shorter than A, the sensor 1140 is assumed to measure the distance to the substrate 500. It can be seen that the substrate 500 is displaced.

複数のセンサ1140により複数の切り欠き部17までの正しい距離が計測されれば、基板500がいずれの切り欠き部の方向へも位置ずれを起こしていないことがわかり、より正確に位置ずれを検知できる。 If the correct distances to the plurality of notches 17 are measured by the plurality of sensors 1140, it can be seen that the substrate 500 is not displaced in the direction of any notch, and the displacement is detected more accurately. it can.

距離Aと、センサ1140の垂直方向からの傾きRを調整することにより、基板の位置ずれのしきい値Dを適宜設定可能である。このしきい値は好ましくは0.5mm〜1.5mmに設定されることが好ましい。 By adjusting the distance A and the inclination R of the sensor 1140 from the vertical direction, the threshold value D for the positional deviation of the substrate can be appropriately set. This threshold is preferably set to 0.5 mm to 1.5 mm.

もっとも、基板500がセンサ1140と切り欠き部17との間に位置しない場合として、基板500が固定保持部材15上に存在しない場合が考えられる。例えば、基板500が可動保持部材11に付着して可動保持部材11とともに上昇移動したような場合である。こうした場合を想定し、図19に示すように、本発明の他の実施形態に係るめっき装置のセンサ1140は、ヘッド部1100の上昇に伴い上昇移動し、切り欠き部までの距離を計測した所定高さよりも高い位置より、再度距離を計測してもよい。すなわち、図19(a)に示すように、センサ1140により切り欠き部までの距離を計測した高さよりHだけセンサ1140が上昇移動した箇所において、センサ1140から基板500までの距離がW2である場合に、センサ1140により計測した物体までの距離がW2であれば、センサ1140は基板500までの正しい距離を計測したものとして、基板500が固定保持部材15上に位置することがわかる。 However, as a case where the substrate 500 is not positioned between the sensor 1140 and the notch portion 17, a case where the substrate 500 does not exist on the fixed holding member 15 can be considered. For example, this is a case where the substrate 500 adheres to the movable holding member 11 and moves upward together with the movable holding member 11. Assuming such a case, as shown in FIG. 19, the sensor 1140 of the plating apparatus according to another embodiment of the present invention moves upward as the head portion 1100 rises, and measures the distance to the notch portion. The distance may be measured again from a position higher than the height. That is, as shown in FIG. 19A, when the distance from the sensor 1140 to the substrate 500 is W2 at the position where the sensor 1140 has moved up by H from the height measured by the sensor 1140. In addition, if the distance to the object measured by the sensor 1140 is W2, it can be seen that the sensor 1140 measures the correct distance to the substrate 500 and the substrate 500 is positioned on the fixed holding member 15.

一方、図19(b)に示すように、センサ1140により計測した物体までの距離がW2と異なり、W2より長いBである場合には、センサ1140は固定保持部材15までの距離を計測したものとして、基板500が固定保持部材15上に存在しないことがわかる。 On the other hand, as shown in FIG. 19B, when the distance to the object measured by the sensor 1140 is different from W2 and B is longer than W2, the sensor 1140 measures the distance to the fixed holding member 15. As can be seen, the substrate 500 does not exist on the fixed holding member 15.

次に、図20から図23を参照して本発明の他の実施形態に係るめっき装置の基板ホルダ開閉機構102が基板ホルダ110へ基板500を載置及び取り外しする際の動作について説明する。 Next, the operation when the substrate holder opening / closing mechanism 102 of the plating apparatus according to another embodiment of the present invention places and removes the substrate 500 on the substrate holder 110 will be described with reference to FIGS.

図20は、基板ホルダ110がテーブル120へと基板ホルダ搬送機構140により載置された状態を示す斜視図である。この状態においては、接続ボス1117を介して第1のアクチュエータ1200と接続されたヘッド部1100は、基板ホルダ110の上方へと離れた状態において位置する。シャフト1130はヘッド部1100から第2のアクチュエータ1300の上方へと延伸されている。基板ホルダ110は、基板500を保持しておらず、可動保持部材11が固定保持部材15へと仮止めされている。ここで、仮止めとは、耳部13がクランパ16にわずかに食い込んだ状態を指している。 FIG. 20 is a perspective view showing a state in which the substrate holder 110 is placed on the table 120 by the substrate holder transport mechanism 140. In this state, the head portion 1100 connected to the first actuator 1200 via the connection boss 1117 is positioned in a state of being separated upward from the substrate holder 110. The shaft 1130 extends from the head portion 1100 to above the second actuator 1300. The substrate holder 110 does not hold the substrate 500, and the movable holding member 11 is temporarily fixed to the fixed holding member 15. Here, the temporary fixing refers to a state in which the ear portion 13 slightly bites into the clamper 16.

この状態から、ヘッド部1100を第1のアクチュエータ1200により下降させる。シャフト1130は、第2のアクチュエータ1300の2つの回転ローラ1340の間に位置することになる。 From this state, the head unit 1100 is lowered by the first actuator 1200. The shaft 1130 is positioned between the two rotating rollers 1340 of the second actuator 1300.

さらに、第2のアクチュエータ1300を、可動保持部材11と固定保持部材15の仮止めを解除する方向、すなわち耳部13とクランパ16の嵌合を解除する方向に動かすと、図21に示す状態となる。図21においてシャフトフック1330は、第2のアクチュエータによってX’側に移動し、回転板1150は反時計回りに回転している。これにより、上述したように回転板1150の締め付けフック1151が押え部材12の突出部12aを押して押え部材12を回し、耳部13が吊り上げフック1111の位置まで移動する。 Further, when the second actuator 1300 is moved in a direction to release the temporary holding of the movable holding member 11 and the fixed holding member 15, that is, in a direction to release the fitting of the ear portion 13 and the clamper 16, the state shown in FIG. Become. In FIG. 21, the shaft hook 1330 is moved to the X ′ side by the second actuator, and the rotating plate 1150 is rotated counterclockwise. Accordingly, as described above, the fastening hook 1151 of the rotating plate 1150 presses the protruding portion 12a of the pressing member 12 to rotate the pressing member 12, and the ear portion 13 moves to the position of the lifting hook 1111.

図21の状態から、まずシャフトフック1330が第2のアクチュエータ1300が原点に戻る動作によりX−X’の中間位置に戻り、次に第1のアクチュエータ1200がヘッド部1100を上昇させ、可動保持部材11が持ち上げる。さらに基板搬送ロボット180が基板500を固定保持部材15の基板載置箇所14に置くと、図22の状態となる。 From the state of FIG. 21, first, the shaft hook 1330 returns to the intermediate position of XX ′ by the operation in which the second actuator 1300 returns to the origin, and then the first actuator 1200 raises the head portion 1100 to move the movable holding member. 11 lifts. Further, when the substrate transfer robot 180 places the substrate 500 on the substrate placement location 14 of the fixed holding member 15, the state shown in FIG.

図22の状態から、再び第1のアクチュエータ1200がヘッド部1100を下降させる。この時、上述したように押圧円板1110の底面に位置する押し付けブロック1114が可動保持部材11を押圧する際、押し付けブロック1114が内部に弾性体30を備えることにより、基板ホルダの厚さばらつきによるシールリング18の押付量の変動を緩和することができる。 From the state of FIG. 22, the first actuator 1200 lowers the head unit 1100 again. At this time, when the pressing block 1114 located on the bottom surface of the pressing disk 1110 presses the movable holding member 11 as described above, the pressing block 1114 includes the elastic body 30 inside, thereby causing variation in the thickness of the substrate holder. Variation in the pressing amount of the seal ring 18 can be reduced.

図22の状態から、再び第1のアクチュエータ1200がヘッド部1100を下降させ、さらに第2のアクチュエータ1300がシャフトフック1330をX側に移動させると、シャフトフック1330はシャフト1130をX側に押すため、回転板1150は時計回りに回転する。この状態を図23に示す。回転板1150は時計回りに回転すると、締め付けフック1151が押え部材12の突出部12aを押し、押え部材12も時計方向に回転する。耳部13はクランパ16に嵌合するので、可動保持部材11は固定保持部材15に対して固定され、基板を挟持することができる。 When the first actuator 1200 lowers the head portion 1100 again from the state of FIG. 22 and the second actuator 1300 further moves the shaft hook 1330 to the X side, the shaft hook 1330 pushes the shaft 1130 to the X side. The rotating plate 1150 rotates clockwise. This state is shown in FIG. When the rotating plate 1150 rotates clockwise, the fastening hook 1151 pushes the protruding portion 12a of the pressing member 12, and the pressing member 12 also rotates clockwise. Since the ear portion 13 is fitted to the clamper 16, the movable holding member 11 is fixed to the fixed holding member 15 and can hold the substrate.

なお、図23は、可動保持部材11と固定保持部材15の間に基板500を挟んだ状態で耳部13とクランパ16が互いに嵌合した状況を示したが、基板500を間に挟まず、可動保持部材11と固定保持部材15を仮止めする場合には、シャフトフック1330のX方向への移動を図23よりもわずかに手前で止めることにより、達成できる。 FIG. 23 shows a state in which the ear portion 13 and the clamper 16 are fitted to each other in a state where the substrate 500 is sandwiched between the movable holding member 11 and the fixed holding member 15, but the substrate 500 is not sandwiched between them. When the movable holding member 11 and the fixed holding member 15 are temporarily fixed, it can be achieved by stopping the movement of the shaft hook 1330 in the X direction slightly in front of FIG.

図23において、耳部13とクランパ16が互いに嵌合した後は、まずシャフトフック1330が第2のアクチュエータ1300が原点に戻る動作によりX−X’の中間位置に戻る。基板500を保持した基板ホルダ110は、基板ホルダ搬送部140によってめっき処理部130へと搬送され、基板500に対して所定の処理が行われる。 In FIG. 23, after the ear portion 13 and the clamper 16 are fitted to each other, the shaft hook 1330 first returns to the intermediate position of X-X ′ by the operation in which the second actuator 1300 returns to the origin. The substrate holder 110 holding the substrate 500 is transported to the plating processing unit 130 by the substrate holder transporting unit 140, and a predetermined process is performed on the substrate 500.

めっき処理部130で所定の処理が終わった後、処理後の基板500を保持した基板ホルダ110はテーブル120上に載置され、基板500は基板ホルダ開閉機構102と基板搬送ロボット180によって基板ホルダ110から取り出される。基板500を基板ホルダ110から取り出すために可動保持部材11を固定保持部材15から分離する作業は、詳述しないが、上で述べた第1のアクチュエータ1200と第2のアクチュエータ1300の動作により達成されることは、理解されるであろう。なお、図22は、基板500を保持した状態の基板ホルダ110をテーブル120上に載置した後、可動保持部材11をヘッド部1100によって持ち上げた状態も表している。ここで、基板500が第1のシールリング18aと固着することによって持ち上げられ、その後固定保持部材15上に落下して位置ずれを起こしたり、可動保持部材11側に貼り付いたままになるというトラブルが生じうるが、前述のようにヘッド部1100に取り付けられたセンサ1140によって、固定保持部材11や基板500との距離を測定することによって、このようなトラブルが生じたことを検知することができる。 After predetermined processing is finished in the plating processing unit 130, the substrate holder 110 holding the processed substrate 500 is placed on the table 120, and the substrate holder 110 is opened by the substrate holder opening / closing mechanism 102 and the substrate transport robot 180. Taken from. Although the operation of separating the movable holding member 11 from the fixed holding member 15 in order to take out the substrate 500 from the substrate holder 110 is not described in detail, it is achieved by the operations of the first actuator 1200 and the second actuator 1300 described above. It will be understood. FIG. 22 also shows a state in which the movable holding member 11 is lifted by the head portion 1100 after the substrate holder 110 holding the substrate 500 is placed on the table 120. Here, the substrate 500 is lifted by adhering to the first seal ring 18a, and then dropped onto the fixed holding member 15 to cause a positional shift or remain stuck on the movable holding member 11 side. However, such a trouble can be detected by measuring the distance from the fixed holding member 11 and the substrate 500 by the sensor 1140 attached to the head unit 1100 as described above. .

以上に示すように、本発明の他の実施形態に係るめっき装置の基板ホルダ開閉機構102は、単純な機構の組合せにより、装置のサイズを小さく保ち、コストを抑えることができる。また、本発明の他の実施形態に係るめっき装置の基板ホルダ開閉機構102は、上下動するヘッド部1100に基板の位置ずれを検知するセンサ1140を設けることにより、基板500や基板ホルダ110の変形や、基板500への水滴の付着の有無にかかわらず、基板の位置ずれを従来の方法よりも精度良く検知することができる。さらに、本発明の他の実施形態に係るめっき装置の基板ホルダ開閉機構102は、基板ホルダ110を押圧する押し付けブロック1114の内部に弾性体30を設けることにより、基板ホルダ110の厚さの個体差により生じるシールリング18の圧縮量の変化を緩和し、基板500に対するシール性を安定化することができる。 As described above, the substrate holder opening / closing mechanism 102 of the plating apparatus according to another embodiment of the present invention can keep the size of the apparatus small and reduce the cost by a combination of simple mechanisms. In addition, the substrate holder opening / closing mechanism 102 of the plating apparatus according to another embodiment of the present invention is provided with a sensor 1140 that detects the displacement of the substrate in the head unit 1100 that moves up and down, thereby deforming the substrate 500 and the substrate holder 110. In addition, regardless of whether or not water droplets adhere to the substrate 500, the positional deviation of the substrate can be detected with higher accuracy than the conventional method. Furthermore, the substrate holder opening / closing mechanism 102 of the plating apparatus according to another embodiment of the present invention is provided with the elastic body 30 inside the pressing block 1114 that presses the substrate holder 110, thereby allowing individual differences in the thickness of the substrate holder 110. The change in the compression amount of the seal ring 18 caused by the above can be alleviated, and the sealing performance with respect to the substrate 500 can be stabilized.

これまで本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されず、その技術思想の範囲内において種々の異なる形態で実施されてよいことは勿論である。例えば、上述の実施形態においては、第2のアクチュエータ1300をテーブル120の側方に配置したが、第2のアクチュエータは回転板1150を押圧円板1110に対して回転させるものであるので、押圧円板1110の上に第2のアクチュエータを設けて回転板1150を回転させても良い。また、上述の実施形態においては、内部に弾性体を有する押し付けブロック1114を用いることで基板ホルダの厚さばらつきによるシールリングの圧縮量への影響を緩和しているが、ヘッド部1100を下降させる第1のアクチュエータにサーボモータを使ってトルクを監視し、シールリングの圧縮力が一定になるようにヘッド部1100の下降動作をコントロールしてもよい。これによって基板ホルダの厚さにばらつきがあってもシールリングの圧縮量を一定にすることができる。 Although the embodiment of the present invention has been described so far, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and it is needless to say that the present invention may be implemented in various different forms within the scope of the technical idea. For example, in the above-described embodiment, the second actuator 1300 is disposed on the side of the table 120. However, the second actuator rotates the rotating plate 1150 with respect to the pressing disc 1110. A rotary actuator 1150 may be rotated by providing a second actuator on the plate 1110. In the above-described embodiment, the influence of the thickness variation of the substrate holder on the compression amount of the seal ring is mitigated by using the pressing block 1114 having an elastic body inside, but the head portion 1100 is lowered. A torque may be monitored using a servomotor for the first actuator, and the descending operation of the head unit 1100 may be controlled so that the compression force of the seal ring becomes constant. Thereby, even if the thickness of the substrate holder varies, the compression amount of the seal ring can be made constant.

100 めっき装置フレーム
102 基板ホルダ開閉機構
110 基板ホルダ
111 ハンドルバー
112 ハンガー部
113 基板ホルダの下端部
114 給電接点
120 テーブル
121 水平移動機構
130 めっき処理部
140 基板ホルダ搬送部
141 アーム
142 リフター
143 クランパ
144 センサ
145 支柱部
146 アクチュエータ
500 基板
1100 ヘッド部
1200 第1のアクチュエータ
1300 第2のアクチュエータ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Plating apparatus frame 102 Substrate holder opening / closing mechanism 110 Substrate holder 111 Handle bar 112 Hanger part 113 Lower end part 114 of substrate holder Feeding contact 120 Table 121 Horizontal moving mechanism 130 Plating part 140 Substrate holder conveyance part 141 Arm 142 Lifter 143 Clamper 144 Sensor 145 Post unit 146 Actuator 500 Substrate 1100 Head unit 1200 First actuator 1300 Second actuator

Claims (4)

基板を着脱可能に保持する基板ホルダを水平に載置するためのテーブルと、
めっき液を保持し、前記基板ホルダに着脱可能に保持された基板を垂直に浸漬させ、めっき処理を行うためのめっき処理部と、
前記基板ホルダを保持する保持部を有し、前記テーブルと前記めっき処理部との間で前記基板ホルダを搬送するための基板ホルダ搬送部と、
前記テーブルに載置された前記基板ホルダの基板ホルダ開閉機構とを備え、
前記基板ホルダは、回転可能な押え部材を有する可動保持部材と、前記可動保持部材とともに前記基板ホルダを挟持する前記可動保持部材が固定される固定保持部材とを有し、
前記基板ホルダ開閉機構は、
前記可動保持部材を押圧し、少なくとも一部が回転して前記可動保持部材を前記固定保持部材へと固定及び前記固定保持部材から固定解除するとともに前記可動保持部材を保持可能なヘッド部と、
前記ヘッド部を上下動させる第1のアクチュエータと、
前記ヘッド部の少なくとも一部を回転させる第2のアクチュエータと、
を有することを特徴とするめっき装置。
A table for horizontally mounting a substrate holder for detachably holding the substrate;
A plating treatment unit for holding the plating solution, vertically immersing the substrate detachably held in the substrate holder, and performing a plating treatment;
A holding unit for holding the substrate holder, and a substrate holder transfer unit for transferring the substrate holder between the table and the plating unit;
A substrate holder opening and closing mechanism of the substrate holder placed on the table,
The substrate holder includes a movable holding member having a rotatable pressing member, and a fixed holding member to which the movable holding member that holds the substrate holder together with the movable holding member is fixed.
The substrate holder opening / closing mechanism is
A head portion that presses the movable holding member, and at least a part of the movable holding member rotates to fix the movable holding member to and release from the fixed holding member, and to hold the movable holding member;
A first actuator for moving the head portion up and down;
A second actuator for rotating at least a part of the head portion;
A plating apparatus comprising:
前記ヘッド部は、
回転可能な回転板と、
前記可動保持部材を保持可能な引き上げフックを備えて前記可動保持部材を押圧する押圧円板とを有し、
前記押え部材は耳部を有し、
前記固定保持部材はクランパを有し、
前記回転板はシャフトと接続され、前記シャフトを前記第2のアクチュエータが押し動かすことにより回転し、前記回転板の回転により前記押え部材を回転させ、
前記耳部は、前記押え部材の回転に応じて、
前記クランパと嵌合されて前記可動保持部材は前記固定保持部材へと固定され、または
前記引き上げフックの引き上げ位置に移動する
ことを特徴とする請求項1に記載のめっき装置。
The head portion is
A rotatable rotating plate,
A pressing disk that includes a lifting hook capable of holding the movable holding member and presses the movable holding member;
The pressing member has an ear part,
The fixed holding member has a clamper,
The rotating plate is connected to a shaft, the shaft is rotated by pushing the second actuator, and the pressing member is rotated by rotating the rotating plate,
In response to the rotation of the presser member, the ear part
The plating apparatus according to claim 1, wherein the plating apparatus is fitted to the clamper and the movable holding member is fixed to the fixed holding member, or moves to a lifting position of the lifting hook.
前記ヘッド部は、前記基板の前記基板ホルダ上における位置を確認する基板位置検知手段を有することを特徴とする請求項2に記載のめっき装置。   The plating apparatus according to claim 2, wherein the head unit includes substrate position detecting means for confirming a position of the substrate on the substrate holder. 前記押圧円板は前記可動保持部材を押圧する押し付けブロックを有し、前記押し付けブロックはあらかじめ圧縮されたスプリングを内部に備えることを特徴とする請求項2または3に記載のめっき装置。

The plating apparatus according to claim 2 or 3, wherein the pressing disk includes a pressing block that presses the movable holding member, and the pressing block includes a spring that is compressed in advance.

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