JP2015153278A - タッチパネルのタッチ位置検出方法、タッチパネル検査方法、及びタッチパネル検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】タッチパネル100の各検知領域101で検出された静電容量値を取得する検出処理工程と、各検知領域101の静電容量値に対して各検知領域101に隣接する他の検知領域101の静電容量値が与える影響を数値化した相関値テーブル6に基づいて各静電容量値を補正することにより各相関補正値を算出する補正工程と、各相関補正値のうちの最大値を探索する最大値探索工程と、最大値に対応する検知領域を最大領域とし、当該最大領域と、当該最大領域に隣接する他の検知領域とを含む領域について相関補正値に基づく重心位置を算出し、当該算出された重心位置を、タッチ位置として取得するタッチ位置取得工程とを含むタッチパネルのタッチ位置検出方法。
【選択図】図3
Description
2 疑似指駆動機構
3 静電容量測定回路
4 表示部
6 相関値テーブル
10 制御部
11 タッチ処理部
12 検出処理部
13 補正部
14 最大値探索部
15 タッチ位置取得部
16 準備部
17 次タッチ位置取得部
18 判定部
21a,21b,21c 疑似指
31 Xライン接続回路
32 Yライン接続回路
51 基台
52 ワークホルダ
53 XY移動機構
54 Z移動機構
55 疑似指機構
60 注目領域相関値
61 第1相関値
62 第2相関値
100 タッチパネル
101 検知領域
104 処理対象領域
106 抽出領域
D1,D2 ずれ量
MAX 最大値
P(i),P(1),P(2) タッチ位置
Ref 基準量
TP1 検査座標
TP2 検査座標
Claims (9)
- 二次元座標が設定されたタッチ面に格子状に複数の検知領域が配置されたタッチパネルのタッチ位置検出方法であって、
前記各検知領域で検出された検出値を取得する検出処理工程と、
前記各検知領域の検出値に対して前記各検知領域に隣接する他の検知領域の検出値が与える影響を数値化した相関値に基づいて前記各検出値を補正することにより前記各検知領域に対応する相関補正値を算出する補正工程と、
前記各相関補正値のうちの最大値を探索する最大値探索工程と、
前記最大値に対応する検知領域を最大領域とし、当該最大領域と、当該最大領域に隣接する他の検知領域とを含む領域について前記相関補正値に基づく重心位置を算出し、当該算出された重心位置を、タッチ位置として取得するタッチ位置取得工程とを含むタッチパネルのタッチ位置検出方法。 - 前記タッチ位置取得工程により前記タッチ位置が取得された後、前記最大領域の前記相関補正値を減少させる準備工程と、
前記準備工程の実行後に再び前記最大値探索工程と前記タッチ位置取得工程とを繰り返すことにより、新たなタッチ位置を取得する次タッチ位置取得工程とをさらに含む請求項1記載のタッチパネルのタッチ位置検出方法。 - 前記準備工程において、さらに、前記最大領域を囲んで隣接する他の検知領域の前記相関補正値を、当該他の検知領域による囲みの外側で当該他の検知領域に隣接する外側検知領域の前記相関補正値に基づいて補正する請求項2記載のタッチパネルのタッチ位置検出方法。
- 前記次タッチ位置取得工程において、前記繰り返された前記最大値探索工程で探索された最大値の、最初に前記最大値探索工程において探索された最大値に対する比率が予め設定された基準比率に満たないとき、新たなタッチ位置を取得しない請求項2又は3に記載のタッチパネルのタッチ位置検出方法。
- 前記相関値は、処理対象の検知領域である注目領域に対応して定められた注目領域相関値と、前記注目領域に対して行方向又は列方向に隣接する各第1検知領域に対応して定められた第1相関値と、前記注目領域に対して斜め方向に隣接する各第2検知領域に対応して定められた第2相関値とを含み、
前記第1相関値は、前記注目領域相関値よりも小さく、
前記第2相関値は、前記第1相関値よりも小さく、
前記補正工程は、前記各検知領域を順次前記注目領域に割り当てつつ、前記注目領域の検出値と前記注目領域相関値との乗算値と、前記各第1検知領域の検出値と前記第1相関値との各乗算値と、前記各第2検知領域の検出値と前記第2相関値との各乗算値とを加算することにより、前記注目領域の相関補正値を算出する工程である請求項1〜4のいずれか1項に記載のタッチパネルのタッチ位置検出方法。 - 前記補正工程において、前記複数の検知領域のうち前記タッチ面の端縁に位置する検知領域の前記相関補正値を、これら端縁に位置する検知領域の内側に隣接する検知領域の前記相関補正値と等しくする請求項1〜5のいずれか1項に記載のタッチパネルのタッチ位置検出方法。
- 二次元座標が設定されたタッチ面に格子状に複数の検知領域が配置されたタッチパネルの前記タッチ面に、1又は複数の疑似指を接触させるタッチ処理工程と、
前記タッチパネルに対して、請求項1〜6のいずれか1項に記載のタッチパネルのタッチ位置検出方法を実行するタッチ位置検出工程と、
前記タッチ位置検出工程により検出された1又は複数のタッチ位置と、前記タッチ処理工程において前記1又は複数の疑似指が前記タッチ面に接触された1又は複数の接触位置との各ずれ量のうち少なくとも一つが、予め設定された基準量を超えるか否かを判定する判定工程とを含むタッチパネル検査方法。 - 二次元座標が設定されたタッチ面に格子状に複数の検知領域が配置されたタッチパネルの前記タッチ面に、1又は複数の疑似指を接触させるタッチ機構と、
前記タッチパネルに対して、請求項1〜6のいずれか1項に記載のタッチパネルのタッチ位置検出方法を実行するタッチ位置検出部と、
前記タッチ位置検出部により検出された1又は複数のタッチ位置と、前記タッチ機構によって前記1又は複数の疑似指が前記タッチ面に接触された1又は複数の接触位置との各ずれ量のうち少なくとも一つが、予め設定された基準量を超えるか否かを判定する判定部とを備えたタッチパネル検査装置。 - 二次元座標が設定されたタッチ面に格子状に複数の検知領域が配置されたタッチパネルの前記タッチ面に、1又は複数の疑似指を接触させるタッチ機構と、
前記各検知領域で検出された検出値を取得する検出処理部と、
前記各検知領域の検出値に対して前記各検知領域に隣接する他の検知領域の検出値が与える影響を数値化した相関値に基づいて前記各検出値を補正することにより前記各検知領域に対応する相関補正値を算出する補正部と、
前記各相関補正値のうちの最大値を探索する最大値探索部と、
前記最大値に対応する検知領域を最大領域とし、当該最大領域と、当該最大領域に隣接する他の検知領域とを含む領域について前記相関補正値に基づく重心位置を算出し、当該算出された重心位置を、タッチ位置として取得するタッチ位置取得部と、
前記タッチ位置取得部により検出された1又は複数のタッチ位置と、前記タッチ機構によって前記1又は複数の疑似指が前記タッチ面に接触された1又は複数の接触位置との各ずれ量のうち少なくとも一つが、予め設定された基準量を超えるか否かを判定する判定部とを備えたタッチパネル検査装置。
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