TWI459267B - 觸摸屏觸摸點之感測方法 - Google Patents

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TWI459267B
TWI459267B TW100114538A TW100114538A TWI459267B TW I459267 B TWI459267 B TW I459267B TW 100114538 A TW100114538 A TW 100114538A TW 100114538 A TW100114538 A TW 100114538A TW I459267 B TWI459267 B TW I459267B
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Description

觸摸屏觸摸點之感測方法
本發明涉及一種觸摸屏觸摸點之感測方法，尤其涉及一種電容式觸摸屏觸摸點之感測方法。
近年來，伴隨著移動電話與觸摸導航系統等各種電子設備之高性能化和多樣化之發展，在液晶等顯示設備之前面安裝透光性之觸摸屏之電子設備逐步增加。這樣的電子設備之使用者通過觸摸屏，一邊對位於觸摸屏背面之顯示設備之顯示內容進行視覺確認，一邊利用手指或筆等方式按壓觸摸屏來進行操作。由此，可以操作電子設備之各種功能。
按照觸摸屏之工作原理和傳輸介質之不同，先前之觸摸屏包括四種類型，分別為電阻式、電容式、紅外線式以及表面聲波式。其中電容式觸摸屏因準確度較高、抗幹擾能力強應用較為廣泛。
先前技術中，電容式觸摸屏之觸摸感測方法通常為：檢測各個電極所檢測到之訊號(如電壓)變化以檢測觸摸點之具體位置。然而，通常觸摸屏中之透明導電層之電阻分佈不均勻，故所述各個電極所感測到之訊號變化量不僅僅受觸摸點位置之影響而且還會受透明導電層之電阻分佈不均勻影響，直接通過各個電極所檢測到之訊號變化量來判斷觸摸點位置而不考慮觸摸屏中透明導電層之電阻分佈不均勻之影響，容易造成觸摸點錯誤檢測或檢測精度 降低。
有鑒於此，提供一種能提高觸摸位置檢測精度之觸摸屏觸摸點之感測方法實為必要。
一種觸摸屏觸摸點之感測方法，該觸摸屏包括：一導電膜，該導電膜具有阻抗異向性以定義出相互垂直之一低阻抗方向(Y方向)和一高阻抗方向(X方向)，該導電膜低阻抗方向之相對兩側分別為第一側邊和第二側邊；及沿該第一側邊設置之複數相互間隔之第一電極，和沿該第二側邊設置之複數第二電極，該複數第一電極和複數第二電極分別與該導電膜電連接；該檢測方法包括以下步驟：對觸摸點進行感測，取得該複數第一電極和複數第二電極所檢測到之實際感測訊號值，判斷與觸摸點相鄰之兩個第一電極和兩個第二電極，定義該兩個第一電極和兩個第二電極之間之導電膜為校正區域；設定該校正區域之一理想電阻值(Rideal)；定義該兩個第一電極和兩個第二電極中之任意一電極為i，根據該理想電阻值及該校正區域無觸摸時之實際電阻值間之比例，校正該電極i之實際感測訊號值Si。
一種觸摸屏觸摸點之檢測方法，該觸摸屏包括：一阻抗異向性導電膜；以及複數相互間隔之第一電極和複數相互間隔之第二電極分別設置於所述導電膜相對的兩側邊，該導電膜的低阻抗方向為從設置第一電極的側邊延伸至設置第二電極的側邊方向；該檢測方法包括以下步驟：對觸摸點進行感測，取得該複數第一電極和複數第二電極所檢測到之實際感測訊號值；設定一理想電阻值(Rideal)；定義該複數第一電極和複數第二電極之任意一電極為i ，根據該理想電阻值及無觸摸時之實際電阻值間之比例，校正該電極i之實際感測訊號值Si。
相較於先前技術，本發明在計算觸摸點之座標之前，首先根據一理想電阻值及無觸摸時之導電膜實際電阻值間之比例，對第一電極和第二電極所檢測到之感測訊號進行較正，從而使得計算得到之觸摸點座標更接近於實際觸摸點座標。
10‧‧‧觸摸屏
102‧‧‧導電膜
111‧‧‧第一側邊
112‧‧‧第二側邊
104，104a，104b‧‧‧第一電極
106，106a，106b‧‧‧第二電極
108‧‧‧導線
110‧‧‧驅動感測電路
圖1為本發明實施例提供之觸摸屏結構示意圖。
圖2為本發明實施例提供之觸摸屏觸摸點之感測方法流程圖。
圖3為本發明實施例在檢測觸摸屏上之觸摸點I時，所模擬出之曲線示意圖。
圖4為本發明實施例檢測出之觸摸屏之觸摸點I時，校正區域之導電膜電阻分佈示意圖。
圖5和圖6為本發明實施例提供之無觸摸時沿低阻抗方向之相對兩電極之間之實際電阻值檢測示意圖。
圖7和圖8為本發明實施例提供之無觸摸時沿高阻抗方向的相鄰兩電極之間之實際電阻值檢測示意圖。
圖9為本發明實施例提供之與觸摸點相鄰的兩第一電極和兩第二電極之間之導電膜區塊之實際電阻值檢測示意圖。
以下將結合附圖詳細說明本發明實施例觸摸屏觸摸點之感測方法。
本發明所述觸摸點之感測方法適用於電容式觸摸屏，下面首先對本發明適用之一種電容式觸摸屏之結構進行介紹：請參閱圖1，該觸摸屏10包括一導電膜102，該導電膜102具有阻抗異向性以定義出相互垂直之一低阻抗方向(即Y方向)和一高阻抗方向(即X方向)，該導電膜102沿低阻抗方向Y相對之兩側邊分別為第一側邊111和第二側邊112；及沿該第一側邊111設置之複數相互間隔之第一電極104，沿該第二側邊112設置之複數相互間隔之第二電極106，該複數第一電極104和複數第二電極106分別與該導電膜102電連接，所述每個第一電極104和每個第二電極106均分別通過導線108與一個或複數驅動感測電路110電連接。該驅動感測電路110可設置在一集成電路板上，用於向所述複數第一電極104和複數第二電極106依次或同時輸入一驅動訊號，並讀取所述複數第一電極104和複數第二電極106所檢測到之感測訊號，從而通過該感測訊號以判斷所述觸摸屏是否被觸摸以及具體之觸摸位置。
所述導電膜102沿所述低阻抗方向之電導率遠大於其他方向之電導率，在高阻抗方向之電導率遠小於其他方向之電導率，該低阻抗方向與高阻抗方向垂直。本實施例中，所述導電膜102由至少一層奈米碳管膜組成。該奈米碳管膜中之大部分奈米碳管首尾相連地沿同一個方向擇優取向延伸，且為一自支撐結構。由於奈米碳管沿其軸向具有好的導電性，且上述奈米碳管膜中之大部分奈米碳管沿同一方向擇優取向延伸，故，該奈米碳管膜整體具有阻抗異向性，即沿奈米碳管延伸之方向為低阻抗方向，而垂直於該奈米碳管延伸之方向為高阻抗方向。此外，所述奈米碳管膜中基 本朝同一方向延伸之大多數奈米碳管中每一奈米碳管與在延伸方向上相鄰之奈米碳管通過凡得瓦力首尾相連，且所述奈米碳管膜中也存在少數隨機排列之奈米碳管，這些隨機排列之奈米碳管會與相鄰之其他奈米碳管相互接觸，從而使得該奈米碳管膜在高阻抗方向仍具有導電性，只是相較於其他方向該奈米碳管膜在該高阻抗方向之電阻較大，電導率較低。此外，該導電膜102不限於該奈米碳管膜，也可為其他具有阻抗異向性之材料。
該複數第一電極104與該複數第二電極106可以一一相對設置，即每個第一電極104與其中之一個第二電極106之連線與所述導電膜102之低阻抗方向平行。該複數第一電極104與該複數第二電極106也可以相互交錯設置，即每個第一電極104與其中之任意第二電極106之連線均與所述導電膜102之低阻抗方向相交而不平行。
下面對本發明觸摸屏觸摸點之感測方法進行介紹。
請參閱圖2，本發明實施例提供一種觸摸屏觸摸點之感測方法，該方法包括如下步驟：步驟一，對觸摸點進行感測，讀取該複數第一電極104和複數第二電極106所檢測到之實際感測訊號值，判斷與觸摸點最相鄰之兩個第一電極104和兩個第二電極106，定義該兩個第一電極104和兩個第二電極106之間之導電膜為校正區域；步驟二，設定校正區域之理想電阻值；步驟三，定義該兩個第一電極和兩個第二電極中之任意一電極為i，根據該理想電阻值及該校正區域無觸摸時之實際電阻值間之比例，校正該電極i之實際感測訊號值Si。
在步驟一中，當所述觸摸屏10被觸摸時，所述驅動感測電路110可依次或同時向所述複數第一電極104和複數第二電極106輸入相同之驅動訊號(如電壓)，並依次或同時讀取所述複數第一電極104和複數第二電極106所感測到之實際感測訊號值，該實際感測訊號值可為電壓值、電流值或電容值等，本實施例中，該實際感測訊號值為電壓值。由於所述導電膜102具有阻抗異向性，經過所述導電膜102之電流方向主要為沿低阻抗方向，從而使得所述複數第一電極104和複數第二電極106中距離該觸摸點之位置越近之電極所檢測到之實際感測訊號值越強，故，根據各個電極所檢測到之實際感測訊號值強弱可初步判斷出與所述觸摸點最相鄰之兩個第一電極104和兩個第二電極106。
在上述步驟二中，所述理想電阻值之設定的具體方法為：取複數與該導電膜102具有相同參數之參考導電膜，所述相同參數係指所述複數參考導電膜與該導電膜102至少具有基本相同之材料組成、厚度及面積；以及分別測試所述複數參考導電膜在所述校正區域中沿低阻抗方向之電阻值，並取該測試獲得之複數電阻值之平均值作為理想電阻值。
另外，也可分別測試該複數參考導電膜在所述校正區域中沿低阻抗方向之電阻平均值及高阻抗方向之電阻平均值，並將該兩個電阻平均值再取平均，作為理想電阻值。
另外，可根據上述方法預先將導電膜102之各個區域之理想電阻值設定好並存儲至集成電路板中，之後根據步驟一中確定之校正 區域從該集成電路板中獲得對應於該校正區域之理想電阻值。
在步驟三中，由於在步驟一中已初步判斷出與所述觸摸點相鄰之兩個第一電極104和兩個第二電極106，故，至少可以根據該兩個第一電極104和兩個第二電極106所檢測到之感測訊號值之強度來計算出觸摸點所在之具體座標。然而，由於導電膜102具有阻抗異向性，使得該兩個第一電極104和兩個第二電極106所檢測到之感測訊號強度不僅與觸摸點之位置有關，而且還與觸摸點所在之導電膜區域電阻分佈有關。該兩個第一電極104和兩個第二電極106中之任意一個電極所檢測到之感測訊號強度受其周圍導電膜102之電阻影響。如果周圍導電膜102之電阻不均勻，使有些區域之電阻遠大於該導電膜102之理想電阻值，將會導致該電極實際所檢測到之感測訊號強度遠低於其本應該有之感測訊號強度，故，如果直接採用該實際感測訊號強度計算觸摸點之座標，則會導致計算出之觸摸點之座標偏離於實際觸摸點之座標。為降低計算出之觸摸點之座標與實際觸摸點之座標之間之偏離值，可在計算所述觸摸點座標之前，校正該兩個第一電極104和兩個第二電極106所檢測到之感測訊號值。
在上述與觸摸點相鄰之兩個第一電極104和兩個第二電極106中，將與電極i在X方向相鄰之電極定義為iX，將與電極i在Y方向相鄰之電極定義為iY，將另外一與電極iX和電極iY相鄰之電極定義為iXY。所述校正區域無觸摸時之實際電阻值包括該電極i與電極iY之間之沿Y方向之導電膜之實際電阻值、該電極i與電極iX之間之沿X方向之導電膜之實際電阻值、該電極iX與電極iXY之間沿Y方向之導電膜之實際電阻值、該電極iY與電極iXY之間沿X方向之導 電膜之實際電阻值、及該四個電極i、iX、iY、iXY之間之校正區域導電膜之實際電阻值。
所述校正區域無觸摸時之實際電阻值可通過在兩個電極之間輸入一預定電壓V，並檢測在該兩個電極之間流經導電膜之電流值，從而換算出該校正區域無觸摸時之實際電阻值。
此外，將該電極i所實際檢測到之感測訊號值定義為Si，可對該感測訊號Si通過公式進行X方向校正，該公式中，RX為無觸摸時該電極i與電極iX之間之導電膜之實際電阻值，Six'代表為該電極i在X方向校正後之感測訊號值，Rideal代表理想電阻值，該校正後之感測訊號值Six'用於計算觸摸點Y軸座標；另外，可對該感測訊號Si通過公式進行Y方向校正，公式中RY為無觸摸時該電極i與電極iY之間之導電膜之實際電阻值，SiY'為該電極i在Y方向校正後之感測訊號值，該校正後之感測訊號值SiY'用於計算觸摸點X軸座標。
另外，如果在計算觸摸點之X軸座標和Y軸座標時需計算該兩個第一電極104和兩個第二電極106所檢測到之感測訊號值之和，該兩個第一電極104和兩個第二電極106所檢測到之感測訊號值之和既可以通過上述公式分別計算各電極校正後之感測訊號再求和，也 直接進行校正，該公式中，Rm為四個電極i、iX、iY、iXY之間之導電膜區塊之實際電阻值，Sm為該四個電極i、iX、iY、iXY所檢測到之實際感測訊號之和。此外，計算觸摸點座標之方法不限，可採用與觸摸點相鄰的兩兩相對的三對、四對或所有電極所檢測到之感測訊號值計算所述觸摸點之座標，此時，可依據上述方法對所述的三對、四對或所有電極所檢測到之之感測訊號值一一進行校正。
本發明進一步採用上述校正後之感測訊號計算觸摸點座標。
觸摸點Y軸座標可根據公式(1)計算：
公式(1)中PY為觸摸屏在Y方向之解析度，可根據驅動感測電路之晶片性能進行設定，如480至1024中之任意值，A為該兩個第一電極104在X方向校正後之感測訊號之和，B為該兩個第二電極106在X方向校正後之感測訊號之和。
觸摸點之X軸座標可根據公式(2)計算：
公式(2)中PX為觸摸屏在X方向之解析度，可根據驅動感測電路之晶片性能進行設定，如480至1024中之任意值，n為觸摸屏第一電 極104(或第二電極106)之數量，N為與觸摸點最近之兩個第一電極104(或兩個第二電極106)中在X方向離0點最近之電極序號。C為一對相對之第一電極104與第二電極106在Y方向校正後之感測訊號之和，D為另一對相對之第一電極104與第二電極106在Y方向校正後之感測訊號之和。
具體實施例
請參閱圖3，本實施例觸摸點為I，根據所述複數第一電極104和第二電極106所檢測到之感測訊號值可模擬出兩曲線圖，從該曲線圖可以看出，與該觸摸點I相鄰之兩個第一電極104所檢測出之實際感測訊號相等且大於其他第一電極104a,104b所檢出之感測訊號值，與該觸摸點I相鄰之兩個第二電極106c,106d所檢測出之實際感測訊號相等且大於其他第二電極106所檢出之感測訊號值。故，可以判斷該觸摸點I位於該兩個第一電極104a,104b及兩個第二電極106c,106d圍成之區域。
請參閱圖4，觸摸點I相鄰之四個電極104a,104b,106c,106d中，將該第一電極104a與第一電極104b之間之沿X方向之導電膜102之實際電阻值定義為R1，將該第一電極104a與第二電極106c之間之沿Y方向之導電膜102之實際電阻值定義為R3、將第一電極104b與第二電極106d之間之沿Y方向之導電膜102之實際電阻值定義為R4、將第二電極106c與第二電極106d之間之沿X方向之之導電膜102之實際電阻值定義為R2、將該四個電極104a,104b,106c,106d之間之導電膜102之實際電阻值定義為R5。
請參閱圖5，通過所述相對之第一電極104a與第二電極106c向所述導電膜102輸入一預定電壓V，從而在所述導電膜102中產生一 沿低阻抗方向之從第一電極104a流向第二電極106c之電流，之後通過所述驅動感測電路110檢測此時流經所述導電膜102之電流值，從而計算出R3之大小；請參閱圖6，通過所述第一電極104b和第二電極106d向所述導電膜102輸入一預定電壓V，從而在所述導電膜102中產生一沿低阻抗方向之從第一電極104b流經第二電極106d之電流，之後通過所述驅動感測電路110檢測此時流經所述導電膜102之電流值，從而計算出R4之大小；請參閱圖7，通過第一電極104a和第一電極104b向所述導電膜102輸入一預定電壓V，之後通過所述驅動感測電路110檢測此時流經所述導電膜102之電流值，從而計算出R1之大小；請參閱圖8，通過所述第二電極106c和第二電極106d向所述導電膜102輸入一預定電壓V，之後通過所述驅動感測電路110檢測此時流經所述導電膜102之電流值，從而計算出R2之大小；請參閱圖9，通過所述第一電極104a和第二電極106c向所述導電膜102輸入一預定電壓V，並同時通過第一電極104b和第二電極106d施加同樣之預定電壓V，從而產生一電流方向為第一電極104a至第二電極106c之電流和一電流方向為第一電極104b至第二電極106d之電流流經所述導電膜102，通過所述驅動感測電路110檢測出此時電流方向為第一電極104a至第二電極106c之電流大小I1和電流方向為第一電極104b至第二電極106d之電流大小I2，由於此時可近似視為沿低電阻方向之從第一電極104a至第二電極106c之間之導電膜102之電阻和沿低電阻方向之從第一電極104b至第二電極106d之間之導電膜102之電阻並聯，從而可根據公式R5=V/(I1+I2)計算出R5。R5可以近似之視作與觸摸點I相鄰之四個電極之間之導電膜區塊之實際電阻值。
在計算該觸摸點I之座標之前，首先，對與該觸摸點I相鄰之四個電極104a,104b,106c,106d所檢測到之感測訊號值進行校正，以校正第一電極104a所檢測到之感測訊號Sa為例：當該校正後之感測訊號值用於計算X軸座標時，該校正後之感測訊號值可通過公式，若該校正後之感測訊號值用於計算Y軸座標時，該感測訊號值Sa可通過公式校正；同理，一一校正其他三個電極104b,106c,106d所檢測到之感測訊號值Sb，Sc，Sd。
進一步地，若在計算觸摸點I之X軸座標和Y軸座標時用到該四個電極104a,104b,106c,106d所檢測到之感測訊號值之和，除可採用上述方法分別對該四個電極104a,104b,106c,106d所檢測到之感測訊號進行校正之外，也可以採用上述公式對該四個電極104a,104b,106c,106d所檢測到之感測訊號值之和Sm進行校正，具體為，用公式
本實施例中，計算觸摸點I之Y軸座標可根據公式計算 ，本實施例中，PY為1023，該公式中，SbX'為第一電極104b在X方向校正後之感測訊號，ScX'為第二電極106c在X方向校正後之感測訊號，SdX'為第二電極106d在X方向校正後之感測訊號。計算觸摸點I之X軸座標可根據公式 ，式中ScY'為第二電極106c在Y方向校正後之感測訊號，SbY'為第一電極104b在Y方向校正後之感測訊號，式中SdY'為第二電極106d在Y方向校正後之感測訊號。可見，計算觸摸點I之X軸座標和Y軸座標之公式中所引入之各個電極所感測到之感測訊號值均採用經過校正後之感測訊號值，使得計算出之觸摸點I座標更準確。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

Claims (11)

  1. 一種觸摸屏觸摸點之檢測方法，該觸摸屏包括：一導電膜，該導電膜具有阻抗異向性以定義出相互垂直之一低阻抗方向(Y方向)和一高阻抗方向(X方向)，該導電膜低阻抗方向之相對兩側分別為第一側邊和第二側邊；及沿該第一側邊設置之複數相互間隔之第一電極，和沿該第二側邊設置之複數相互間隔之第二電極，該複數第一電極和複數第二電極分別與該導電膜電連接：該檢測方法包括以下步驟：對觸摸點進行感測，取得該複數第一電極和複數第二電極所檢測到之實際感測訊號值，判斷與觸摸點相鄰之兩個第一電極和兩個第二電極，定義該兩個第一電極和兩個第二電極之間之導電膜為校正區域；設定該校正區域之一理想電阻值(Rideal)，其中，所述理想電阻值(Rideal)設定過程為：取複數與所述導電膜具有相同參數之參考導電膜，分別測試所述複數參考導電膜在所述校正區域中沿低阻抗方向之電阻值，並取該測試獲得之複數電阻值之平均值作為所述理想電阻值(Rideal)，或分別測試該複數參考導電膜在所述校正區域中沿低阻抗方向之電阻平均值及高阻抗方向之電阻平均值，並將該兩個電阻平均值再取平均，作為所述理想電阻值(Rideal)，所述相同參數係指所述複數參考導電膜與該導電膜102至少具有基本相同之材料組成、厚度及面積；定義該兩個第一電極和兩個第二電極中之任意一電極為i，根據該理想電阻值及該校正區域無觸摸時之實際電阻值間之比例，校正該電極i之實際感測訊號值Si。
  2. 如請求項1所述之觸摸屏觸摸點之檢測方法，其中，定義該兩個第一電極和兩個第二電極中與該電極i在X方向相鄰之電極為iX，所述校正該電極i之實際感測訊號值Si為對該電極i之感測訊號進行X方向校正，校正方法滿足以下公式：，其中RX為無觸摸時該電極i與電極iX之間之導電膜之實際電阻值，SiX'為該電極i在X方向校正後之感測訊號值。
  3. 如請求項2所述之觸摸屏觸摸點之檢測方法，其中，該校正後之感測訊號值Six'用於計算觸摸點Y方向座標。
  4. 如請求項3所述之觸摸屏觸摸點之檢測方法，其中，該觸摸點在Y方向座標根據公式計算，該公式中A為該兩個第一電極在X方向校正後之感測訊號之和，B為該兩個第二電極在X方向校正後之感測訊號之和，PY為觸摸屏在Y方向之解析度。
  5. 如請求項1所述之觸摸屏觸摸點之檢測方法，其中，定義該兩個第一電極和兩個第二電極中與該電極i在Y方向相鄰之電極為iY，所述校正該電極i之實際感測訊號值Si為對該電極i之感測訊號進行Y方向校正，校正方法滿足以下公式：，其中RY為無觸摸時該電極i與電極iY之間之導電膜之實際電阻值，SiY'為該電極i在Y方向校正後之感測訊號值。
  6. 如請求項5所述之觸摸屏觸摸點之檢測方法，其中，該校正後之感測訊號 值SiY’用於計算觸摸點X方向座標。
  7. 如請求項6所述之觸模屏觸摸點之檢測方法，其中，該觸摸點在X方向座標根據公式 計算，該公式中C為相對之第一電極與第二電極在Y方向校正後之感測訊號之和，D為另一對相對之第一電極與第二電極在Y方向校正後之感測訊號之和，PX為觸摸屏在X方向之解析度，n為觸摸屏第一電極或第二電極之數量，N為與觸摸點最近之兩個第一電極或兩個第二電極中在X方向離0點最近之電極序號。
  8. 如請求項1所述之觸摸屏觸摸點之檢測方法，其中，進一步對該兩個第一電極和兩個第二電極所檢測到之實際感測訊號值之和通過公式進行校正，該公式中，Rm為該兩個第一電極和兩個第二電極之間之校正區域之導電膜實際電阻值，Sm為該兩個第一電極和兩個第二電極所檢測到之實際感測訊號之和，Sm'為校正後之該兩個第一電極和兩個第二電極所檢測到之實際感測訊號之和。
  9. 如請求項8所述之觸摸屏觸摸點之檢測方法，其中，該校正後之感測訊號值Sm'用於計算觸摸點之X軸座標和Y軸座標。
  10. 如請求項1所述之觸摸屏觸摸點之檢測方法，其中，所述實際感測訊號值為電壓值，在該複數第一電極和複數第二電極中，感測到之實際感測訊號值最大之兩個第一電極和兩個第二電極與所述觸摸點相鄰。
  11. 一種觸摸屏觸摸點之檢測方法，該觸摸屏包括： 一阻抗異向性導電膜；以及複數相互間隔之第一電極和複數相互間隔之第二電極分別設置於所述導電膜相對的兩側邊，該導電膜的低阻抗方向為從設置第一電極的側邊延伸至設置第二電極的側邊方向；該檢測方法包括以下步驟：對觸摸點進行感測，取得該複數第一電極和複數第二電極所檢測到之實際感測訊號值Si；設定一理想電阻值(Rideal)，其中，所述理想電阻值(Rideal)設定過程為：取複數與所述導電膜具有相同參數之參考導電膜，分別測試所述複數參考導電膜在所述校正區域中沿低阻抗方向之電阻值，並取該測試獲得之複數電阻值之平均值作為所述理想電阻值(Rideal)，或分別測試該複數參考導電膜在所述校正區域中沿低阻抗方向之電阻平均值及高阻抗方向之電阻平均值，並將該兩個電阻平均值再取平均，作為所述理想電阻值(Rideal)，所述相同參數係指所述複數參考導電膜與該導電膜102至少具有基本相同之材料組成、厚度及面積；定義該複數第一電極和複數第二電極之任意一電極為i，根據該理想電阻值及無觸摸時之實際電阻值間之比例，校正該電極i之實際感測訊號值Si。
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