JP5502244B2 - 入力装置及びこの装置の接触位置検出方法 - Google Patents

Description

本発明は、入力装置に関し、特に、タッチパネルを備えた入力装置及びこの装置の接触位置検出方法に関する。

パソコン、携帯用伝送装置、その他の情報処理装置などは、入力装置を用いて多様な機能を実行する。最近、このような入力装置としてタッチパネルを備えた入力装置が多く用いられている。

一般的にタッチパネルとして、ＣＲＴ、ＬＣＤ、ＰＤＰ、ＥＬ（ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）などのようなディスプレイ装置の表面に設けられ、ＩＴＯ（インジウム−錫の複合酸化物）フィルムを用いて製造される。

使用者がタッチパネル上の特定位置に接触物体（例えば、指やスタイラスペンなど）を接触すると、前記タッチパネルを備えた入力装置は接触された位置に従い多様な情報を前記ディスプレイ装置で示すことができ、前記タッチパネルを備えた機器が接触された位置によって特定機能を実行するように動作することができる。

本発明の目的は、接触位置をより正確に検出することができる入力装置を提供することである。

本発明の他の目的は、上記目的を達成するための入力装置の接触位置検出方法を提供することである。

上記目的を達成するための本発明の入力装置は、接触物体の接触位置によって測定値を出力するタッチパネル部と、前記測定値に基づいてローフレームを生成し、前記ローフレームから最大値を有するセルに基づいて少なくとも１つのクラスタを生成し、複数個のクラスタに同時に含まれる重複セルがあると、前記重複セルの値を前記重複セルに隣接したセルの値によって前記複数個のクラスタのそれぞれに分割して前記少なくとも１つのクラスタを生成するクラスタリング動作を実行し、前記少なくとも１つのクラスタのそれぞれに対して前記接触位置の座標を計算する接触位置検出部と、を備えることを特徴とする。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部は、前記重複セルを有し、前記重複セルが第１クラスタと第２クラスタに同時に含まれる場合、前記重複セルに隣接したセルのうちの前記第１クラスタに含まれるセルの合計と前記重複セルに隣接したセルのうちの前記第２クラスタに含まれるセルの合計との比率によって前記重複セルを前記第１クラスタと前記第２クラスタとに分割することができ、前記重複セルの上下左右に隣接したセルのうちの前記第１クラスタに含まれるセルの合計と前記重複セルの上下左右に隣接したセルのうちの前記第２クラスタに含まれるセルの合計との比率によって前記重複セルを前記第１クラスタと前記第２クラスタとに分割することができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部は、前記少なくとも１つのクラスタのそれぞれの加重幾何中心を計算することで前記接触位置の座標を計算することができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部の一形態は、前記ローフレームの前記最大値を有するセルの周辺のセルのそれぞれに対して前記最大値を有するセルに基づいて増減を検出し、前記周辺のセルのうちの前記最大値を有するセルに基づいて減少するセルが前記最大値を有するセルと同一のクラスタを構成するように前記クラスタリング動作を行うことができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部の一形態は、前記ローフレームから前記クラスタを差し引いてリンクフレームを計算し、前記リンクフレームから最大値を有するセルを検出し、前記リンクフレームから最大値を有するセルに対応する前記ローフレームのセルの周辺セルのそれぞれに対して前記対応するローフレームのセルに基づいて増減を検出して前記クラスタリング動作を行うことができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部の第２形態は、前記最大値を有するセルを中心に、所定領域内のセルが１つのクラスタを構成するようにクラスタリング動作を行うことができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部の第２形態は、前記ローフレームから前記クラスタを差し引いてリンクフレームを計算し、前記リンクフレームから最大値を有するセルを検出し、前記リンクフレームから最大値を有するセルに対応する前記ローフレームのセルを中心に前記ローフレームの所定領域内のセルが１つのクラスタを構成するか、または前記リンクフレームから最大値を有するセルを中心に前記リンクフレームの所定領域内のセルが１つのクラスタを構成するように前記クラスタリング動作を行うことができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部は、前記リンクフレームのすべてのセルが閾値以下になるまで前記クラスタリング動作を行うことができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部は、間の距離が基準距離以下であるクラスタを併合して１つのクラスタに構成することができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部は、前記クラスタの大きさが基準大きさ以上であると、ラージタッチであることを表示することができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記タッチパネル部は、１つのレイヤに配置され、それぞれに対応するチャネルと接続された複数個のタッチパッドを備えるタッチパッド部と、前記チャネルを介して前記複数個のタッチパッドのキャパシタンスを測定して前記測定値を出力する遅延時間測定部と、を備えることができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記タッチパネル部の前記タッチパッド部の前記複数個のタッチパッドのそれぞれは、前記１つのレイヤにマトリックス状に互いに離隔されて配置されることができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記タッチパネル部の前記遅延時間測定部は、パルス信号を発生するパルス発生部と、前記チャネルのそれぞれと接続され、前記チャネルと接続された前記タッチパッドのキャパシタンスによって前記パルス信号を遅延させて複数個の感知信号を出力する複数個の感知信号発生部と、前記パルス信号に応答して基準信号を出力する基準信号発生部と、前記複数個の感知信号のそれぞれと前記基準信号との遅延時間差を計算し、前記遅延時間差を前記測定値に出力する遅延時間計算部と、を備えることができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記タッチパネル部の前記タッチパッド部の前記タッチパッドは、前記タッチパッド部上の位置によって互いに異なる大きさを有し、前記複数個のタッチパッドのそれぞれと前記対応するチャネルを接続する接続線は前記タッチパッドの前記タッチパッド部上の位置によって互いに異なる長さを有することができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置は、前記測定値を入力してノイズを除去し、前記タッチパッドのそれぞれの大きさの差及び前記接続線の長さの差を補償するプリプロセッシング部をさらに備えることができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置は、前記接触位置の座標を入力してノイズを除去し、整列して出力するポストプロセッシング部をさらに備えることができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部は、前記測定値に基づいて前記ローフレームを生成し、前記測定値の最大値を検出し、前記ローフレームで前記最大値を有するセルに基づいて前記少なくとも１つのクラスタを生成するクラスタリング動作を行うクラスタリング部と、前記クラスタのそれぞれに対して加重値平均を用いて前記クラスタのそれぞれの中心点座標を計算し、前記中心点座標を前記接触位置の座標に出力する中心点計算部と、を備えることができる。

上記目的を達成するための本発明の入力装置の前記接触位置検出部の前記中心点計算部は、前記クラスタのそれぞれを構成するセルからオフセット値を差し引いた後に前記中心点座標を計算することができる。

上記他の目的を達成するための本発明の入力装置の接触位置検出方法は、接触物体の接触位置によって測定値を出力するタッチパネル部を出力する入力装置の接触位置検出方法において、前記測定値に基づいてローフレームを生成する段階と、前記ローフレームから最大値を有するセルに基づいてクラスタを生成し、複数個のクラスタに同時に含まれる重複セルがある場合、前記重複セルの値を前記重複セルに隣接したセルの値によって前記複数個のクラスタのそれぞれに分割して前記少なくとも１つのクラスタを生成する段階と、前記クラスタに対して前記接触位置の座標を計算する段階と、を備えることを特徴とする。

上記他の目的を達成するための本発明の接触位置検出方法の前記クラスタを生成する段階は、前記重複セルを有し、前記重複セルが第１クラスタと第２クラスタに同時に含まれる場合、前記重複セルに隣接したセルのうちの前記第１クラスタに含まれるセルの合計と前記重複セルに隣接したセルのうちの前記第２クラスタに含まれるセルの合計との比率によって前記重複セルを前記第１クラスタと前記第２クラスタとに分割することができ、前記重複セルの上下左右に隣接したセルのうちの前記第１クラスタに含まれるセルの合計と前記重複セルの上下左右に隣接したセルのうちの前記第２クラスタに含まれるセルの合計との比率によって前記重複セルを前記第１クラスタと前記第２クラスタとに分割することができる。

上記他の目的を達成するための本発明の接触位置検出方法の前記接触位置の座標を計算する段階は、前記少なくとも１つのクラスタのそれぞれの加重幾何中心を計算することで前記接触位置の座標を計算することができる。

上記他の目的を達成するための本発明の接触位置検出方法の前記クラスタを生成する段階の第一形態は、前記ローフレームの前記最大値を有するセルの周辺のセルのそれぞれに対して前記最大値を有するセルに基づいて増減を検出する段階と、前記周辺セルのうちの前記最大値を有するセルに基づいて減少するセルが前記最大値を有するセルと同一のクラスタを構成するようにクラスタリングする段階と、を備えることができる。

この場合に、本発明の接触位置検出方法は、前記ローフレームから前記クラスタを差し引いてリンクフレームを計算する段階と、前記リンクフレームから最大値を有するセルを検出する段階と、前記リンクフレームから最大値を有するセルに対応する前記ローフレームのセルの周辺セルのそれぞれに対して、前記ローフレームで前記対応するローフレームのセルに基づいて増減を検出してクラスタリングする段階と、をさらに備えることができる。

上記他の目的を達成するための本発明の接触位置検出方法の前記クラスタを生成する段階の第２形態は、前記最大値を有するセルを中心に所定領域内のセルを１つのクラスタに構成することができる。

この場合に、本発明の接触位置検出方法は、前記ローフレームから前記クラスタを差し引いてリンクフレームを計算する段階と、前記リンクフレームから最大値を有するセルを検出する段階と、前記リンクフレームから最大値を有するセルに対応する前記ローフレームのセルを中心に前記ローフレームの所定領域内のセルが１つのクラスタを構成するようにクラスタリングするか、または前記リンクフレームから最大値を有するセルを中心に前記リンクフレームの所定領域内のセルが１つのクラスタを構成するようにクラスタリングする段階と、をさらに備えることができる。

上記他の目的を達成するための本発明の接触位置検出方法は、間の距離が基準距離以下であるクラスタを１つのクラスタに併合する段階と、をさらに備えることができる。

上記他の目的を達成するための本発明の接触位置検出方法は前記クラスタの大きさで基準大きさ以上であるとラージタッチであることを表示する段階をさらに備えることができる。

上記他の目的を達成するための本発明の接触位置検出方法の前記座標を計算する段階は、前記クラスタに対して加重値平均を用いて前記クラスタの中心点座標を計算し、前記中心点座標を前記接触位置の座標に出力することができる。この場合に、前記座標を計算する段階は、前記クラスタを構成するそれぞれのセルに対してオフセット値を減算した後に前記中心点座標を計算することができる。

上記他の目的を達成するための本発明の接触位置検出方法の前記タッチパネル部は、１つのレイヤに互いに離隔されて配置され、それぞれ対応するチャネルと接続された複数個のタッチパッドを備えることができる。この場合に、前記複数個のタッチパッドのそれぞれは前記タッチパッド部上の位置によって互いに異なる大きさを有し、前記複数個のタッチパッドのそれぞれと前記対応するチャネルを接続する接続線は前記タッチパッドの前記タッチパッド部上の位置によって互いに異なる長さを有することができる。

この場合に、上記他の目的を達成するための本発明の接触位置検出方法は、前記測定値を入力してノイズを除去し、前記タッチパッドのそれぞれの大きさの差及び前記タッチパッドのそれぞれと前記対応するチャネルを接続する接続線の長さの差を補償する段階をさらに備えることができる。

上記他の目的を達成するための本発明の接触位置検出方法は、前記接触位置の座標からノイズを除去し、前記接触位置の座標を整列して出力する段階をさらに備えることができる。

よって、本発明の入力装置及びこの装置の接触位置検出方法は、より正確に接触位置を感知することができる。

本発明の入力装置の実施例の構成を示す図である。 図１に示す本発明の入力装置のタッチパネル部の実施例の構成を示す図である。 図２に示す本発明の入力装置のタッチパネル部のタッチパネル部の実施例の構成を示す図である。 図２に示す本発明の入力装置のタッチパネル部の遅延時間測定部の実施例の構成を示す図である。 本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法を説明するための動作フローチャートである。 本発明の入力装置の接触位置検出方法の座標決定方法を説明するための動作フローチャートである。 本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第１実施例を説明するための図である。 本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第１実施例において、対角線方向のセルに対するクラスタリング方法を説明するための図である。 本発明の入力装置の接触位置検出方法において、重複セルを分割する方法を説明するための図である。 図７に示す本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第１実施例によって検出されたクラスタで重複セル分割動作が行われたクラスタを示す図である。 本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第２実施例を説明するための図である。 図１１に示す本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第２実施例によって検出されたクラスタで重複セル分割動作が行われたクラスタを示す図である。 本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第３実施例を説明するための図である。

以下、添付された図面を参照しながら本発明の入力装置及びこの装置の接触位置検出方法を説明する。

図１は、本発明の入力装置１００の実施例の構成を示すものであって、本発明の入力装置１００は、タッチパネル部１０、プリプロセッシング部２０、接触位置計算部３０、及びポストプロセッシング部４０を備えることができる。接触位置計算部３０はクラスタリング部３２及び中心点計算部３４を備えることができる。

次に、図１に示すブロックのそれぞれの機能を説明する。

タッチパネル部１００は、複数個のタッチパッドを備えることができ、接触物体の接触位置によって測定値Ｐ＿Ｖを出力する。複数個のタッチパッドのそれぞれは接触可否及び接触物体との接触面積によって可変されるキャパシタンス値を有することができる。この場合、測定値Ｐ＿Ｖは前記複数個のタッチパッドのキャパシタンス値に対応する値とすることができる。前記キャパシタンス値はパルス信号の遅延時間を測定することで測定することができる。

プリプロセッシング部２０は前記測定値Ｐ＿Ｖを先処理して対象測定値ｐＰ＿Ｖを出力する。プリプロセッシング部２０は前記測定値Ｐ＿Ｖをフィルタリングするか、または前記測定値から閾値を差し引くことでノイズを除去することができる。また、プリプロセッシング部２０は、前記タッチパッドの幾何学的不一致または前記タッチパッドのそれぞれと接続される接続線の長さの差などによる誤差を相殺するための校正動作を行うこともできる。また、プリプロセッシング部２０は工程上の変化または環境変化による影響を相殺するための校正動作を行うこともできる。

接触位置計算部３０は、前記対象測定値ｐＰ＿Ｖを入力し、前記対象測定値ｐＰ＿Ｖのうち最大値を有するセルに基づいて前記対象測定値ｐＰ＿Ｖをクラスタリングし、クラスタのそれぞれに対する座標値Ｔ＿Ｃを計算して出力する。

クラスタリング部３２は、前記対象測定値ｐＰ＿Ｖのうち最大値を有するセルを検出し、前記最大値を有するセルに基づいて前記対象測定値ｐＰ＿Ｖを少なくとも１つのクラスタに分割してクラスタリングされた測定値ｐＰ＿ＶＣを出力する。クラスタリング部３２は、前記最大値を有するセル周辺のセルのそれぞれに対して大きさ変化を検出することで、クラスタリング動作を行うことができ、前記最大値を有するセルに基づいて所定領域のセルが１つのクラスタを形成するようにクラスタリング動作を行うこともできる。クラスタリング動作に関する具体的な内容は後述する。

中心点計算部３４は、前記クラスタリングされた測定値ｐＰ＿ＶＣを入力し、クラスタのそれぞれに対して接触座標Ｔ＿Ｃを計算して出力する。中心点計算部３４は、クラスタのそれぞれに対して前記クラスタリングされた測定値ｐＰ＿ＶＣの加重平均（ｗｅｉｇｈｔｅｄ ａｖｅｒａｇｅ）を計算して前記クラスタのそれぞれの幾何中心（ｇｅｏｍｅｔｒｉｃ ｃｅｎｔｅｒ）を前記接触座標Ｔ＿Ｃに出力することができる。

ポストプロセッシング部４０は、前記接触座標Ｔ＿Ｃを入力し、整列（ｓｏｒｔｉｎｇ）するか、またはフィルタリング（ｆｉｌｔｅｒｉｎｇ）して最終接触座標ｐＴ＿Ｃを出力する。

図２は、図１に示す本発明の入力装置１００のタッチパネル部１０の実施例の構成を示す図であって、タッチパッド部１１及び遅延時間測定部１２を備えることができる。

次に、図２に示すブロックのそれぞれの機能を説明する。

タッチパッド部１１は、複数個のチャネルｃｈ１〜ｃｈｎとそれぞれ接続された複数個のタッチパッドを備えることができる。前記複数個のタッチパッドのそれぞれは接触物体との接触可否及び／または接触物体との接触程度（例えば、接触物体との接触面積）によって可変されるキャパシタンス値を有することができる。

遅延時間測定部１２は、前記複数個のチャネルｃｈ１〜ｃｈｎを介して前記タッチパッドのそれぞれのキャパシタンス値を示す測定値Ｐ＿Ｖを出力する。遅延時間測定部１２は、パルス信号が前記タッチパッドのそれぞれのキャパシタンスによって遅延される時間を測定して前記遅延時間を前記測定値Ｐ＿Ｖに出力することができる。

図３は、図２に示す本発明の入力装置１００のタッチパネル部１０のタッチパッド部１１の実施例の構成を示す図である。図３に示すように、タッチパッド部１１は左右対称形態に形成することができる。

図３に示すように、本発明の入力装置１００のタッチパネル部１０のタッチパッド部１１は１つのレイヤ（ｌａｙｅｒ）に形成することができる。タッチパッド部１１のタッチパッドＰＡ１１〜ＰＡ４４、ＰＢ１１〜ＰＢ４４は１つのレイヤにマトリックス状に配置することができる。また、タッチパッドＰＡ１１〜ＰＡ４４、ＰＢ１１〜ＰＢ４４のそれぞれは複数個のチャネルｃｈ１〜ｃｈ３２のうち対応するチャネルと１：１に接続することができる。また、タッチパッドＰＡ１１〜ＰＡ４４、ＰＢ１１〜ＰＢ４４のそれぞれの面積はタッチパッド部１１上のタッチパッドの位置によって決定することができる。また、タッチパッドＰＡ１１〜ＰＡ４４、ＰＢ１１〜ＰＢ４４のそれぞれにと対応するチャネルｃｈ１〜ｃｈ２を接続する接続線の長さもタッチパッド部１１上のタッチパッドの位置によって決定することができる。また、タッチパッドＰＡ１１〜ＰＡ４４、ＰＢ１１〜ＰＢ４４のそれぞれは接触物体との接触可否及び／または接触物体との接触程度（例えば、接触物体との接触面積）によって可変するキャパシタンスを有する。

図４は、図２に示す本発明の入力装置１００のタッチパネル部１０の遅延時間測定部１２の実施例の構成を示す図であって、遅延時間測定部１２は、パルス発生部１３、複数個の感知信号発生部１４−１、１４−２、・・・、基準信号発生部１５、及び遅延時間計算部１６を備えることができる。複数個の感知信号発生部１４−１、１４−２、・・・のそれぞれは対応するチャネルと接続されることができる。

次に、図４に示すブロックのそれぞれの機能を説明する。

パルス発生部１３はパルス信号ｐｌを出力する。

感知信号発生部１４−１、１４−２、・・・のそれぞれは、接続されたチャネルｃｈ１、ｃｈ２、・・・と接続されたタッチパッドのキャパシタンスによって前記パルス信号ｐｌを遅延させて感知信号ｓ＿ｐｌ１、ｓ＿ｐｌ２、・・・を出力する。

基準信号発生部１５は、前記パルス信号ｐｌに応答して基準信号ｒ＿ｐｌを出力する。基準信号発生部１５は、前記パルス信号ｐｌを所定時間遅延させて前記基準信号ｒ＿ｐｌを出力することができる。

遅延時間計算部１６は、前記基準信号ｒ＿ｐｌと前記感知信号ｓ＿ｐｌ１、ｓ＿ｐｌ２・・・、のそれぞれとの遅延時間差を計算し、計算した遅延時間差を測定値Ｐ＿Ｖに出力することができる。

図４では、感知信号発生部が複数個であって、それぞれが対応するチャネルと接続される場合を例示したが、感知信号発生部の数はチャネルの数よりも少なくすることができ、この場合、スイッチを備えて複数個のチャネルが順に感知信号発生部と接続されるように構成することができる。

図５は、本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法を説明するための動作フローチャートである。

次に、図５を参考しながら本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法を説明する。

まず、測定値Ｐ＿Ｖのうち閾値より大きい値があるか否かを判断する（Ｓ１００段階）。

Ｓ１００段階の判断結果、閾値より大きい測定値がなければクラスタリング動作は行わない。

Ｓ１００段階の判断結果、閾値より大きい測定値があればローフレームから最大値を検出する（Ｓ１１０段階）。ローフレームは、タッチパネル部１０から出力される測定値で構成されたフレームを意味する。例えば、タッチパネル部１０が図３に示すようにタッチパッド部１１を備える場合、前記ローフレームはタッチパッドＰＡ１１〜ＰＡ４４、ＰＢ１１〜ＰＢ４４のそれぞれに対応する測定値をタッチパッドＰＡ１１〜ＰＡ４４、ＰＢ１１〜ＰＢ４４のそれぞれの位置に対応する位置に配置するように行列状に並べたデータとすることができる。よって、ローフレームから最大値を検出することは測定値のうち最大値を検出することと同一意味である。

前記ローフレームは、前記測定値Ｐ＿Ｖを先処理した対象測定値ｐＰ＿Ｖを用いて構成することもできる。

次に、ローフレームまたはリンクフレームから最大値を有するセルに基づいてクラスタリング動作を行う（Ｓ１２０段階）。クラスタリング動作は、前記最大値を有するセルに基づいて増減することによって行うこともでき、前記最大値を有するセルに基づいて所定領域を設定する方法に行うこともできる。詳細なクラスタリング動作については後述する。

次に、リンクフレームを計算する（Ｓ１３０段階）。リンクフレームは、ローフレームまたは直前に計算したリンクフレームから直前に計算したクラスタを差し引いて計算される。

次に、直前に計算したリンクフレームに閾値より大きい測定値があるか否かを判断する（Ｓ１４０段階）。

Ｓ１４０段階の判断結果、直前に計算されたリンクフレームに閾値より大きい測定値があれば、直前に計算したリンクフレームから最大値を検出する（Ｓ１５０段階）。

次に、Ｓ１２０段階ないしＳ１４０段階を繰り返す。

Ｓ１４０段階の判断結果、直前に計算されたリンクフレームに閾値より大きい測定値がなければ、クラスタリング動作を終了し、クラスタリングされた測定値ｐＰ＿ＶＣを出力する。クラスタリングされた測定値ｐＰ＿ＶＣは少なくとも１つ以上のクラスタで構成される。

図６は、本発明の入力装置の接触位置検出方法の座標決定方法を説明するための動作フローチャートである。

次に、図６を参考しながら本発明の入力装置の接触位置検出方法の座標決定方法を説明する。

まずは、クラスタリングされた測定値ｐＰ＿ＶＣを解釈してクラスタが存在するか否かを判断する（Ｓ２００段階）。

Ｓ２００段階の判断結果、クラスタがなければ終了する。

Ｓ２００段階の判断結果、クラスタがあれば、クラスタの数が複数個であるか否かを判断する（Ｓ２１０段階）。

Ｓ２１０段階の判断結果、クラスタの数が１つであると該当クラスタの中心点座標を計算する（Ｓ２４０段階）。中心点座標は加重値平均を用いて計算することができる。すなわち、中心点座標はクラスタの加重幾何中心の座標とすることができる。

Ｓ２１０段階の判断結果、クラスタの数が複数個であると、先に複数個のクラスタに含まれる重複セルがあるか否かを検出し、重複セルがある場合はこれを分割する（Ｓ２２０段階）。すなわち、重複セルの測定値を重複セル周辺のセルの測定値によって分割して各クラスタに含ませることができる。

次に、クラスタ間の距離が所定基準距離以下の場合、基準距離以下であるクラスタを１つのクラスタに併合する（Ｓ２３０段階）。

次に、クラスタのそれぞれに対して中心点座標を計算する（Ｓ２４０段階）。

次に、クラスタの大きさが基準大きさより大きいか否かを判断する（Ｓ２５０段階）。

Ｓ２５０段階の判断結果、基準大きさより大きいクラスタが存在すると、大きい接触（ｌａｒｇｅ ｔｏｕｃｈ）であることを表示する（Ｓ２６０段階）。

次に、計算された中心点座標を出力する（Ｓ２７０段階）。

本発明の入力装置の接触位置検出方法は、図５及び図６の一部段階を省略して実施することもできる。例えば、重複セルを分割しなくてもよく、クラスタを併合しなくてもよい。

また、各段階の順序も変えることができる。例えば、中心点座標を先に計算した後にクラスタを併合することもでき、クラスタを併合した後に重複セルを分割することもできる。また、重複セル分割段階（Ｓ２２０）はクラスタリング段階にクラスタリング動作（Ｓ１２０段階）中に行うこともできる。

図７は、本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第１実施例を説明するための図である。図７において、Ｔ１１０はローフレームを、Ｔ１２０及びＴ１４０はクラスタを、Ｔ１３０及びＴ１５０はリンクフレームをそれぞれ示す。

次に、図７を参考しながら本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第１実施例を説明する。

まずは、ローフレームＴ１１０から最大値を検索する。最大値は３行２列の３４８である。

次に、ローフレームＴ１１０において、最大値を有するセル（ロー（raw）フレームＴ１１０の３行２列）を基準にして垂直、水平方向のセルの増減を検出し、減少するセルを、前記最大値を有するセルと同一クラスタに含ませる。垂直方向の場合、１行２列まで継続減少し、４行２列まで減少する（セルの値が０であること、または、セルの値が閾値より小さいものは無視することができる。）。よって、ローフレームＴ１１０の１行２列、２行２列、４行２列のセルは最大値を有するセル（３行２列）と同一クラスタを構成する。水平方向の場合、３行１列まで減少し、３行４列まで減少する。よって、３行１列、３行３列、３行４列のセルは最大値を有するセル３行２列と同一クラスタを構成する。

次に、対角線方向のセルの増減を検出し、減少するセルを、前記最大値を有するセルと同一クラスタに含ませる。図８を参考すると、Ｐｈ＞０、Ｐｖ＞０、Ｐｄ＜Ｐｈ＋Ｐｖ、Ｐｄ＜Ｐｃのである条件をすべて満足すると、対角線方向のセルは減少するものとして判断することができる。図８において、Ｐｃは基準セルを、Ｐｖ及びＰｈは前記基準セルＰｃと同一クラスタに含まれて前記基準セルＰｃの垂直及び水平方向に隣接したセルを、Ｐｄは前記基準セルＰｃの対角線方向に隣接したセルで、前記Ｐｖ及びＰｈの交点に位置するセルであり、最大値を有するセルと同一クラスタに含まれるか否かを判断する対象セルとしてそれぞれ示す。前記基準セルＰｃは対角線方向のセルに対するクラスタリング動作が最初に行われる場合には前記最大値を有するセルとなり、その後に、前記最大値を有するセルと同一クラスタに含まれるセルのうち対象セルＰｄによって決定される。

ローフレームにおいて、最大値を有するセル（３行２列）を基準として上述の条件を満足するセルは１行３列、２行３列、４行３列、及び２行４列のセルとなる。よって、最大値を有するセル（３行２列）が含まれるクラスタは図７のＴ１２０のように与えられる。Ｔ１２０において、点にハッチングされた領域が最大値を有するセル（３行２列）が含まれたクラスタである。

次に、ローフレームＴ１１０から１番目のクラスタＴ１２０を差し引いてリンクフレームＴ１３０を計算する。

次に、リンクフレームＴ１３０から最大値を検出する。リンクフレームで最大値を有するセルは３行５列である。

次に、クラスタＴ１２０を求める方法と同一方法で、ローフレームＴ１１０で最大値を有するセル（３行５列）に基づいてクラスタリング動作を行うと、２番目のクラスタＴ１４０を求めることができる。Ｔ１４０において点にハッチングされた領域が最大値を有するセル（３行５列）が含まれるクラスタである。

次に、リンクフレームＴ１３０から前記２番目のクラスタＴ１４０を差し引いて２番目のリンクフレームＴ１５０を計算する。２番目のリンクフレームＴ１５０では閾値（ここで、閾値は０と仮定する）を超過するセルがないので、クラスタリング動作を中断する。

図９は、本発明の入力装置の接触位置検出方法において、重複セルを分割する方法を説明するための図である。図９において、Ｐｏｌは重複セルを、ＰＡｃ、ＰＡｒ、ＰＡｂ、ＰＢｕ、ＰＢｌ、及びＰＢｃなどは重複セルＰｏｌに隣接したセルをそれぞれ示す。また、隣接したセルＰＡｃ、ＰＡｒ、及びＰＡｂと隣接したセルＰＢｕ、ＰＢｌ、及びＰＢｃとはそれぞれ異なるクラスタに含まれるセルである。

Ｘａが重複セルＰｏｌ成分のうちの隣接したセルＰＡｃ、ＰＡｒ、及びＰＡｂが含まれたクラスタで分割される値であって、Ｘｂが重複セルＰｏｌ成分のうちの隣接したセルＰＢｕ、ＰＢｌ、及びＰＢｃが含まれたクラスタで分割される値であるとした場合、Ｘａ及びＸｂは次のような数式１によって決定されることができる。

または、Ｘａ及びＸｂは、簡略に次のような数式２によって決定することもできる。

上述したように、重複セル分割動作はクラスタリング動作中に行うこともでき、クラスタのそれぞれに対する接触位置の座標を決定する動作中に行うこともできる。

図１０は、図７に示す本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第１実施例によって検出されたクラスタＴ１２０、Ｔ１４０において重複セル分割動作を行った後のクラスタＴ１２１、Ｔ１４１を示したもので、前記数式１によって重複セル（２行４列及び３行４列）を分割したクラスタＴ１２１、Ｔ１４１を示したものである。

まず、３行４列のセルに対して数式１を適用する。

前記数式３において、Ｘａは３行４列のセル値のうちクラスタＴ１２１の成分であり、Ｘｂは３行４列のセル値のうちクラスタＴ１４１の成分である。

同様に、２行４列のセルに対して数式１を適用すると、クラスタＴ１２１の成分は約４となって、クラスタＴ１４１の成分は約８となる。

次に、本発明の入力装置の接触位置検出方法の座標決定方法を説明する。上述したように、クラスタのそれぞれに対する接触物体の接触位置の座標（すなわち、中心点座標）は加重値平均を用いて計算することができる。すなわち、中心点座標はクラスタの加重幾何中心の座標とすることができる。

クラスタのｉ行ｊ列の値をＶｉｊとし、接触物体の接触位置のｘ軸座標値をＴ＿Ｃｘ、接触物体の接触位置のｙ軸座標値をＴ＿Ｃｙとすると、ｘ軸座標値Ｔ＿Ｃｘ及びｙ軸座標値Ｔ＿Ｃｙはそれぞれ次のような数式４によって決定されることができる。数式４において、ｎはクラスタの行の数を、ｍはクラスタの列の数をそれぞれ示す。

前記数式４において、Ｖｉｊは測定値Ｐ＿Ｖまたは対象測定値ｐＰ＿Ｖとすることができ、測定値Ｐ＿Ｖまたは対象測定値ｐＰ＿Ｖからオフセット値を差し引いた値とすることができる。前記オフセット値は、タッチパッドＰＡ１１〜ＰＡ４４、ＰＢ１１〜ＰＢ４４のそれぞれの模様や面積の差など、タッチパッドのそれぞれの差に起因する影響を相殺するための値とすることができ、タッチパッドＰＡ１１〜ＰＡ４４、ＰＢ１１〜ＰＢ４４のそれぞれとチャネルｃｈ１〜ｃｈｎとの間の距離差など、タッチパッド部１１の形態に起因する影響を相殺するための値とすることができ、その他の周辺環境などの影響を相殺するための値とすることができる。このようなオフセット値は製作者または使用者により設定することができる。

次に、図１０に示すクラスタＴ１２１、Ｔ１４１に対して、前記数式４を適用してクラスタのそれぞれの接触位置の座標（すなわち、中心点座標）を求める。

クラスタＴ１２１の中心点座標のｘ軸座標値は、

であり、

クラスタＴ１２１の中心点座標のｙ軸座標値は、

となる。

同一方法で計算すると、クラスタＴ１４１の中心点座標は（４．７０、３．６４）となる。

図１１は、本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第２実施例を説明するための図である。

まずは、ローフレームＴ２００で最大値を検出する。最大値を有するセルは４行５列となる。

次に、最大値を有するセル（４行５列）を基準にして所定領域のセルが同一クラスタＴ２１０を構成するようにクラスタリング動作を行う。図１１に示す実施例では、最大値を有するセル（４行５列）を中心に隣接した８つのセルが１つのクラスタＴ２１０を構成する（Ｔ２１０の点にハッチングされた部分を参照）。

次に、ローフレームＴ２００から１番目のクラスタＴ２１０を差し引いて１番目のリンクフレームＴ２２０を計算する。

次に、１番目のリンクフレームＴ２２０で最大値を検出する。最大値を有するセルは２行２列となる。

次に、ローフレームＴ２００で最大値を有するセル２行２列を基準にして所定領域のセルが前記最大値を有するセル（２行２列）と同一クラスタＴ２３０を構成するようにクラスタリング動作を行う。

次に、１番目のリンクフレームＴ２２０から２番目のクラスタＴ２３０を差し引いて２番目のリンクフレームＴ２４０を計算する。

次に、２番目のリンクフレームＴ２４０で最大値を検出する。最大値を有するセルは２行７列となる。

次に、ローフレームＴ２００で最大値を有するセル２行７列を基準にして所定領域のセルが前記最大値を有するセル（２行７列）と同一クラスタＴ２５０を構成するようにクラスタリング動作を行う。

次に、２番目のリンクフレームＴ２４０から３番目のクラスタＴ２５０を差し引いて３番目のリンクフレームＴ２６０を計算する。

３番目のリンクフレームＴ２６０では、閾値（ここで、閾値は８０と仮定する。閾値は生産者または使用者により設定することができる。）以上を有するセルがないので、クラスタリング動作は終了する。

図１２は、図１１に示す本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第２実施例によって検出されたクラスタで重複セル分割動作を行った場合のクラスタを示す図である。

図９及び数式１によって１番目のクラスタＴ２１０と３番目のクラスタＴ２５０との重複セル（３行６列）を分割すると、図１２のクラスタＴ２１１、Ｔ２５１となる。

次に、クラスタのそれぞれに対する接触物体の接触位置の座標（すなわち、中心点座標）を計算すると、クラスタＴ２１１、クラスタＴ２３１、及びクラスタＴ２５１の中心点座標は、それぞれ（４．９９、３．９６）、（２．１５、１．８６）、及び（６．７４、２．３６）となる。

図１３は、本発明の入力装置の接触位置検出方法のクラスタリング方法の第３実施例を説明するための図である。

まずは、ローフレームＴ３００から最大値を検出する。最大値を有するセルは４行５列となる。

次に、ローフレームＴ３００で前記最大値を有するセル４行５列を基準にして所定領域内のセルが前記最大値を有するセル（４行５列）と同一クラスタを構成するようにクラスタリング動作を行う。このとき、周辺のセルの値を参照して重複セル（３行６列）を検出し、数式１を用いて前記重複セル（３行６列）の成分のうち最大値を有するセル（４行５列）が含まれるクラスタの成分を計算する。よって、１番目のクラスタＴ３１０で重複セル３行６列の値は４７となる。

次に、ローフレームＴ３００から１番目のクラスタＴ３１０を差し引いて１番目のリンクフレームＴ３２０を計算する。

次に、１番目のリンクフレームＴ３２０から最大値を検出する。１番目のリンクフレームＴ３２０で最大値を有するセルは２行２列となる。

次に、１番目のリンクフレームＴ３２０で、最大値を有するセル（２行２列）を基準にして所定領域内のセルが前記最大値を有するセル（２行２列）と同一クラスタＴ３３０を構成するようにクラスタリング動作を行う。このとき、１番目のリンクフレームＴ３２０から２番目のクラスタＴ３３０周辺のセルの値を参照すると、重複セルのないことが分かるので、重複セルの分割動作は実行されない。

次に、１番目のリンクフレームＴ３２０から２番目のクラスタＴ３３０を差し引いて２番目のリンクフレームＴ３４０を計算する。

次に、２番目のリンクフレームＴ３４０から最大値を検出する。２番目のリンクフレームＴ３４０で最大値を有するセルは２行７列である。

次に、２番目のリンクフレームＴ３４０で、最大値を有するセル（２行７列）を基準にして所定領域内のセルが同一クラスタＴ３５０を構成するようにクラスタリング動作を行う。２番目のリンクフレームＴ３４０から３番目のクラスタＴ３５０周辺のセルの値を参照すると、重複セルのないことが分かるので、重複セルの分割動作は実行されない。

次に、２番目のリンクフレームＴ３４０から３番目のクラスタＴ３５０を差し引いて３番目のリンクフレームＴ３６０を計算する。

３番目のリンクフレームＴ３６０に閾値より大きい値を有するセルがないことが検出されると、クラスタリング動作は終了する。

図１３のクラスタＴ３１０、Ｔ３３０、Ｔ３５０は、図１２のクラスタＴ２１１、Ｔ２３１、Ｔ２５１と同一であることがわかる。よって、図１３のクラスタＴ３１０、Ｔ３３０、Ｔ３５０のそれぞれの中心点座標は、図１２で説明したものと同一値を有することになる。

上述では、本発明の好ましい実施形態を参照して説明したが、当該技術分野の熟練した当業者は、添付の特許請求範囲に記載された本発明の思想及び領域から逸脱しない範囲で、本発明を多様に修正及び変更させることができる。

本発明は、タッチパネルを備える入力装置に関連する産業に適用可能である。

１００ 入力装置
１０ タッチパネル部
１１ タッチパッド部
１２ 遅延時間測定部
２０ プリプロセッシング部
３０ 接触位置計算部
３２ クラスタリング部
３４ 中心点計算部
４０ ポストプロセッシング部

Claims (38)

1. 接触物体の接触位置によって測定値を出力するタッチパネル部と、
   前記測定値に基づいてローフレームを生成し、前記ローフレームから最大値を有するセルに基づいて少なくとも１つのクラスタを生成し、複数個のクラスタに同時に含まれる重複セルがある場合、前記重複セルの値を前記重複セルに隣接したセルの値によって前記複数個のクラスタのそれぞれに分割して前記少なくとも１つのクラスタを生成するクラスタリング動作を行い、前記少なくとも１つのクラスタのそれぞれに対して前記接触位置の座標を計算する接触位置検出部と、を備えることを特徴とする入力装置。
2. 前記接触位置検出部は、
   前記重複セルを有し、前記重複セルが第１クラスタと第２クラスタに同時に含まれる場合、前記重複セルに隣接したセルのうちの前記第１クラスタに含まれるセルの合計と前記重複セルに隣接したセルのうちの前記第２クラスタに含まれるセルの合計との比率によって前記重複セルを前記第１クラスタと前記第２クラスタとに分割することを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
3. 前記接触位置検出部は、
   前記重複セルを有し、前記重複セルが第１クラスタと第２クラスタに同時に含まれる場合、前記重複セルの上下左右に隣接したセルのうちの前記第１クラスタに含まれるセルの合計と前記重複セルの上下左右に隣接したセルのうちの前記第２クラスタに含まれるセルの合計との比率によって前記重複セルを前記第１クラスタと前記第２クラスタとに分割することを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
4. 前記接触位置検出部は、
   前記少なくとも１つのクラスタのそれぞれの加重幾何中心を計算することで、前記接触位置の座標を計算することを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
5. 前記接触位置検出部は、
   前記ローフレームの前記最大値を有するセルの周辺セルのそれぞれに対して前記最大値を有するセルに基づいて増減を検出し、前記周辺セルのうちの前記最大値を有するセルに基づいて減少するセルが前記最大値を有するセルと同一のクラスタを構成するように前記クラスタリング動作を行うことを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
6. 前記接触位置検出部は、
   前記ローフレームから前記クラスタを差し引いてリンクフレームを計算し、前記リンクフレームから最大値を有するセルを検出し、前記リンクフレームから最大値を有するセルに対応する前記ローフレームのセルの周辺セルのそれぞれに対して前記対応するローフレームのセルに基づいて増減を検出して前記クラスタリング動作を行うことを特徴とする請求項５に記載の入力装置。
7. 前記接触位置検出部は、
   前記リンクフレームのすべてのセルが閾値以下になるまで前記クラスタリング動作を行うことを特徴とする請求項６に記載の入力装置。
8. 前記接触位置検出部は、
   前記最大値を有するセルを中心に、所定領域内のセルが１つのクラスタを構成するようにクラスタリング動作を行うことを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
9. 前記接触位置検出部は、
   前記ローフレームから前記クラスタを差し引いてリンクフレームを計算し、前記リンクフレームから最大値を有するセルを検出し、前記リンクフレームから最大値を有するセルに対応する前記ローフレームのセルを中心に、前記ローフレームの所定領域内のセルが１つのクラスタを構成するように前記クラスタリング動作を行うことを特徴とする請求項８に記載の入力装置。
10. 前記接触位置検出部は、
    前記リンクフレームのすべてのセルが閾値以下になるまで前記クラスタリング動作を行うことを特徴とする請求項９に記載の入力装置。
11. 前記接触位置検出部は、
    前記ローフレームから前記クラスタを差し引いてリンクフレームを計算し、前記リンクフレームから最大値を有するセルを検出し、前記リンクフレームから最大値を有するセルを中心に、前記リンクフレームの所定領域内のセルが１つのクラスタを構成するように前記クラスタリング動作を行うことを特徴とする請求項８に記載の入力装置。
12. 前記接触位置検出部は、
    前記リンクフレームのすべてのセルが閾値以下になるまで前記クラスタリング動作を行うことを特徴とする請求項１１に記載の入力装置。
13. 前記接触位置検出部は、
    間の距離が基準距離以下であるクラスタを併合して１つのクラスタに構成することを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
14. 前記接触位置検出部は、
    前記クラスタの大きさが基準大きさ以上であるとラージタッチであることを表示することを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
15. 前記タッチパネル部は、
    １つのレイヤに配置され、それぞれ対応するチャネルと接続される複数個のタッチパッドを備えるタッチパッド部と、
    前記チャネルを介して前記複数個のタッチパッドのキャパシタンスを測定して前記測定値を出力する遅延時間測定部と、を備えることを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
16. 前記複数個のタッチパッドのそれぞれは、
    前記１つのレイヤにマトリックス状に互いに離隔されて配置されることを特徴とする請求項１５に記載の入力装置。
17. 前記遅延時間測定部は、
    パルス信号を発生するパルス発生部と、
    前記チャネルのそれぞれと接続され、前記チャネルと接続された前記タッチパッドのキャパシタンスによって前記パルス信号を遅延させて複数個の感知信号を出力する複数個の感知信号発生部と、
    前記パルス信号に応答して基準信号を出力する基準信号発生部と、
    前記複数個の感知信号のそれぞれと前記基準信号との遅延時間差を計算し、前記遅延時間差を前記測定値に出力する遅延時間計算部と、を備えることを特徴とする請求項１５に記載の入力装置。
18. 前記複数個のタッチパッドは、前記タッチパッド部上の位置によって互いに異なる大きさを有し、前記複数個のタッチパッドのそれぞれと前記対応するチャネルを接続する接続線は前記タッチパッドの前記タッチパッド部上の位置によって互いに異なる長さを有することを特徴とする請求項１５に記載の入力装置。
19. 前記入力装置は、
    前記測定値を入力してノイズを除去し、前記タッチパッドのそれぞれの大きさの差及び前記接続線の長さの差を補償するプリプロセッシング部をさらに備えることを特徴とする請求項１８に記載の入力装置。
20. 前記入力装置は、
    前記接触位置の座標を入力してノイズを除去し、整列して出力するポストプロセッシング部をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
21. 前記接触位置検出部は、
    前記測定値に基づいて前記ローフレームを生成し、前記測定値の最大値を検出し、前記ローフレームから前記最大値を有するセルに基づいて前記少なくとも１つのクラスタを生成するクラスタリング動作を行うクラスタリング部と、
    前記クラスタのそれぞれに対して加重値平均を用いて前記クラスタのそれぞれの中心点座標を計算し、前記中心点座標を前記接触位置の座標に出力する中心点計算部と、を備えることを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
22. 前記中心点計算部は、
    前記クラスタのそれぞれを構成するセルからオフセット値を差し引いた後に前記中心点座標を計算することを特徴とする請求項２１に記載の入力装置。
23. 接触物体の接触位置によって測定値を出力するタッチパネル部を出力する入力装置の接触位置検出方法において、
    前記測定値に基づいてローフレームを生成する段階と、
    前記ローフレームから最大値を有するセルに基づいてクラスタを生成し、複数個のクラスタに同時に含まれる重複セルがある場合、前記重複セルの値を前記重複セルに隣接したセルの値により前記複数個のクラスタのそれぞれに分割して前記少なくとも１つのクラスタを生成する段階と、
    前記クラスタに対して前記接触位置の座標を計算する段階と、を備えることを特徴とする接触位置検出方法。
24. 前記クラスタを生成する段階は、
    前記重複セルを有し、前記重複セルが第１クラスタと第２クラスタに同時に含まれる場合、前記重複セルに隣接したセルのうちの前記第１クラスタに含まれるセルの合計と前記重複セルに隣接したセルのうちの前記第２クラスタに含まれるセルの合計との比率によって前記重複セルを前記第１クラスタと前記第２クラスタとに分割することを特徴とする請求項２３に記載の接触位置検出方法。
25. 前記クラスタを生成する段階は、
    前記重複セルを有し、前記重複セルが第１クラスタと第２クラスタに同時に含まれる場合、前記重複セルの上下左右に隣接したセルのうちの前記第１クラスタに含まれるセルの合計と前記重複セルの上下左右に隣接したセルのうちの前記第２クラスタに含まれるセルの合計との比率によって前記重複セルを前記第１クラスタと前記第２クラスタとに分割することを特徴とする請求項２３に記載の接触位置検出方法。
26. 前記接触位置の座標を計算する段階は、
    前記少なくとも１つのクラスタのそれぞれの加重幾何中心を計算することで、前記接触位置の座標を計算することを特徴とする請求項２３に記載の接触位置検出方法。
27. 前記クラスタを生成する段階は、
    前記ローフレームの前記最大値を有するセルの周辺のセルのそれぞれに対して前記最大値を有するセルに基づいて増減を検出する段階と、
    前記周辺セルのうちの前記最大値を有するセルに基づいて減少するセルが前記最大値を有するセルと同一のクラスタを構成するようにクラスタリングする段階と、を備えることを特徴とする請求項２３に記載の接触位置検出方法。
28. 前記接触位置検出方法は、
    前記ローフレームから前記クラスタを差し引いてリンクフレームを計算する段階と、
    前記リンクフレームから最大値を有するセルを検出する段階と、
    前記リンクフレームから最大値を有するセルに対応する前記ローフレームのセルの周辺セルのそれぞれに対して、前記ローフレームから前記対応するローフレームのセルに基づいて増減を検出してクラスタリングする段階と、をさらに備えることを特徴とする請求項２７に記載の接触位置検出方法。
29. 前記クラスタを生成する段階は、
    前記最大値を有するセルを中心に、所定領域内のセルを１つのクラスタに構成することを特徴とする請求項２３に記載の接触位置検出方法。
30. 前記接触位置検出方法は、
    前記ローフレームから前記クラスタを差し引いてリンクフレームを計算する段階と、
    前記リンクフレームから最大値を有するセルを検出する段階と、
    前記リンクフレームから最大値を有するセルに対応する前記ローフレームのセルを中心に、前記ローフレームの所定領域内のセルが１つのクラスタを構成するようにクラスタリングする段階と、をさらに備えることを特徴とする請求項２９に記載の接触位置検出方法。
31. 前記接触位置検出方法は、
    前記ローフレームから前記クラスタを差し引いてリンクフレームを計算する段階と、
    前記リンクフレームから最大値を有するセルを検出する段階と、
    前記リンクフレームから最大値を有するセルを中心に、前記リンクフレームの所定領域内のセルが１つのクラスタを構成するようにクラスタリングする段階と、をさらに備えることを特徴とする請求項２９に記載の接触位置検出方法。
32. 前記接触位置検出方法は、
    間の距離が基準距離以下であるクラスタを１つのクラスタに併合する段階をさらに備えることを特徴とする請求項２３に記載の接触位置検出方法。
33. 前記接触位置検出方法は、
    前記クラスタの大きさが基準大きさ以上であると、ラージタッチであることを表示する段階をさらに備えることを特徴とする請求項２３に記載の接触位置検出方法。
34. 前記座標を計算する段階は、
    前記クラスタに対して加重値平均を用いて前記クラスタの中心点座標を計算し、前記中心点座標を前記接触位置の座標に出力することを特徴とする請求項２３に記載の接触位置検出方法。
35. 前記座標を計算する段階は、
    前記クラスタを構成するそれぞれのセルに対してオフセット値を減算した後、前記中心点座標を計算することを特徴とする請求項３４に記載の接触位置検出方法。
36. 前記タッチパネル部は、
    １つのレイヤに互いに離隔されて配置され、それぞれ対応するチャネルと接続された複数個のタッチパッドを備え、
    前記複数個のタッチパッドのそれぞれは前記タッチパッド部上の位置によって互いに異なる大きさを有し、前記複数個のタッチパッドのそれぞれと前記対応するチャネルを接続する接続線は前記タッチパッドの前記タッチパッド部上の位置によって互いに異なる長さを有することを特徴とする請求項２３に記載の接触位置検出方法。
37. 前記接触位置検出方法は、
    前記測定値を入力してノイズを除去し、前記タッチパッドのそれぞれの大きさの差及び前記タッチパッドのそれぞれと前記対応するチャネルを接続する接続線の長さの差を補償する段階をさらに備えることを特徴とする請求項３６に記載の接触位置検出方法。
38. 前記接触位置検出方法は、
    前記接触位置の座標からノイズを除去し、前記接触位置の座標を整列して出力する段階をさらに備えることを特徴とする請求項２３に記載の接触位置検出方法。