KR101201979B1 - 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법 - Google Patents

입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101201979B1
KR101201979B1 KR1020100103008A KR20100103008A KR101201979B1 KR 101201979 B1 KR101201979 B1 KR 101201979B1 KR 1020100103008 A KR1020100103008 A KR 1020100103008A KR 20100103008 A KR20100103008 A KR 20100103008A KR 101201979 B1 KR101201979 B1 KR 101201979B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cluster
cell
cells
contact position
maximum value
Prior art date
Application number
KR1020100103008A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20120041516A (ko
Inventor
장세은
샤오링 우
정철용
신영호
Original Assignee
주식회사 애트랩
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 애트랩 filed Critical 주식회사 애트랩
Priority to KR1020100103008A priority Critical patent/KR101201979B1/ko
Priority to CN2011800505458A priority patent/CN103180804A/zh
Priority to JP2013533779A priority patent/JP5502244B2/ja
Priority to US13/824,611 priority patent/US20130207934A1/en
Priority to PCT/KR2011/007727 priority patent/WO2012053792A2/ko
Priority to TW100138065A priority patent/TW201220158A/zh
Publication of KR20120041516A publication Critical patent/KR20120041516A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101201979B1 publication Critical patent/KR101201979B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G06F3/0443—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a single layer of sensing electrodes
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/04164—Connections between sensors and controllers, e.g. routing lines between electrodes and connection pads
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/04166—Details of scanning methods, e.g. sampling time, grouping of sub areas or time sharing with display driving
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
    • G06F3/04186—Touch location disambiguation
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04104—Multi-touch detection in digitiser, i.e. details about the simultaneous detection of a plurality of touching locations, e.g. multiple fingers or pen and finger

Abstract

본 발명은 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법을 공개한다. 이 장치는 접촉 물체의 접촉 위치에 따라 측정값을 출력하는 터치 패널부, 상기 측정값을 기초로 로우 프레임을 생성하고, 상기 로우 프레임에서 최대값을 가지는 셀을 기준으로 적어도 하나의 클러스터를 생성하되, 복수개의 클러스터에 동시에 포함되는 중복셀이 있으면, 상기 중복셀의 값을 상기 중복셀과 인접한 셀들의 값에 따라 상기 복수개의 클러스터 각각으로 분할하여 상기 적어도 하나의 클러스터를 생성하는 클러스터링 동작을 수행하며, 상기 적어도 하나의 클러스터들 각각에 대하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 접촉 위치 검출부를 구비하는 것을 특징으로 한다.

Description

입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법{Input device and touch position detecting method thereof}
본 발명은 입력 장치에 관한 것으로, 특히 터치 패널을 구비하는 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법에 관한 것이다.
개인용 컴퓨터, 휴대용 전송 장치, 그 밖의 정보 처리 장치 등은 입력 장치를 이용하여 다양한 기능을 수행한다. 최근, 이러한 입력 장치로서 터치 패널을 구비하는 입력 장치가 많이 사용되고 있다.
일반적으로 터치 패널은 CRT, LCD, PDP, EL(electroluminescence) 등과 같은 디스플레이 장치의 표면에 설치되며, ITO(인듐-주석의 복합 산화물) 필름을 이용하여 만들어질 수 있다.
사용자가 터치 패널 상의 특정 위치에 접촉 물체(예를 들면, 손가락이나 스타일러스 펜 등)를 접촉하면, 상기 터치 패널을 구비하는 입력 장치는 접촉된 위치에 따라 다양한 정보를 상기 디스플레이 장치를 통해 나타낼 수도 있으며, 상기 터치 패널을 구비하는 기기가 접촉된 위치에 따라 특정 기능을 수행하도록 동작할 수도 있다.
본 발명의 목적은 접촉 위치를 보다 정확하게 검출할 수 있는 입력 장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 상기 목적을 달성하기 위한 입력 장치의 접촉 위치 검출 방법을 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치는 접촉 물체의 접촉 위치에 따라 측정값을 출력하는 터치 패널부, 상기 측정값을 기초로 로우 프레임을 생성하고, 상기 로우 프레임에서 최대값을 가지는 셀을 기준으로 적어도 하나의 클러스터를 생성하되, 복수개의 클러스터에 동시에 포함되는 중복셀이 있으면, 상기 중복셀의 값을 상기 중복셀과 인접한 셀들의 값에 따라 상기 복수개의 클러스터 각각으로 분할하여 상기 적어도 하나의 클러스터를 생성하는 클러스터링 동작을 수행하며, 상기 적어도 하나의 클러스터들 각각에 대하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 접촉 위치 검출부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부는 상기 중복셀이 있고, 상기 중복셀이 제1 클러스터와 제2 클러스터에 동시에 포함되는 경우, 상기 중복셀과 인접한 셀들 중 상기 제1 클러스터에 포함되는 셀들의 합과 상기 중복셀과 인접한 셀들 중 상기 제2 클러스터에 포함되는 셀들의 합의 비율에 따라 상기 중복셀을 상기 제1 클러스터와 상기 제2 클러스터로 분할할 수도 있고, 상기 중복셀의 상하좌우로 인접한 셀들 중 상기 제1 클러스터에 포함되는 셀들의 합과 상기 중복셀의 상하좌우로 인접한 셀들 중 상기 제2 클러스터에 포함되는 셀들의 합의 비율에 따라 상기 중복셀을 상기 제1 클러스터와 상기 제2 클러스터로 분할할 수도 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부는 상기 적어도 하나의 클러스터들 각각의 가중 기하 중심을 계산함으로써 상기 접촉 위치의 좌표를 계산할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부의 1형태는 상기 로우 프레임의 상기 최대값을 가지는 셀의 주변의 셀들 각각에 대하여 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 증감을 검출하여, 상기 주변의 셀들 중 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 감소하는 셀들이 상기 최대값을 가지는 셀과 동일한 클러스터를 구성하도록 상기 클러스터링 동작을 수행할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부의 1형태는 상기 로우 프레임에서 상기 클러스터를 차감하여 링크 프레임을 계산하고, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 검출하고, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀에 대응하는 상기 로우 프레임의 셀의 주변의 셀들 각각에 대하여 상기 대응하는 로우 프레임의 셀을 기준으로 증감을 검출하여 상기 클러스터링 동작을 수행할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부의 제2 형태는 상기 최대값을 가지는 셀을 중심으로 일정 영역 내의 셀들이 하나의 클러스터를 구성하도록 클러스터링 동작을 수행할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부의 제2 형태는 상기 로우 프레임에서 상기 클러스터를 차감하여 링크 프레임을 계산하고, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 검출하고, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀에 대응하는 상기 로우 프레임의 셀을 중심으로 상기 로우 프레임의 일정 영역 내의 셀들이 하나의 클러스터를 구성하거나, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 중심으로 상기 링크 프레임의 일정 영역 내의 셀들이 하나의 클러스터를 구성하도록 상기 클러스터링 동작을 수행할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부는 상기 링크 프레임의 모든 셀이 문턱값 이하가 될 때까지 상기 클러스터링 동작을 수행할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부는 사이의 거리가 기준 거리 이하인 클러스터들을 병합하여 하나의 클러스터로 구성할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부는 상기 클러스터의 크기가 기준 크기 이상이면 라지 터치임을 표시할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 터치 패널부는 하나의 레이어에 배치되고, 각각 대응하는 채널과 연결된 복수개의 터치 패드들을 구비하는 터치 패드부, 상기 채널을 통하여 상기 복수개의 터치 패드의 커패시턴스를 측정하여 상기 측정값을 출력하는 지연시간 측정부를 구비할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 터치 패널부의 상기 터치 패드부의 상기 복수개의 터치 패드들 각각은 상기 하나의 레이어에 매트릭스 형태로 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 터치 패널부의 상기 지연시간 측정부는 펄스 신호를 발생하는 펄스 발생부, 상기 채널들 각각과 연결되고, 상기 채널과 연결된 상기 터치 패드의 커패시턴스에 따라 상기 펄스 신호를 지연시켜 복수개의 감지 신호를 출력하는 복수개의 감지 신호 발생부들, 상기 펄스 신호에 응답하여 기준 신호를 출력하는 기준 신호 발생부, 및 상기 복수개의 감지 신호들 각각과 상기 기준 신호의 지연 시간 차이를 계산하고, 상기 지연 시간 차이를 상기 측정값으로 출력하는 지연시간 계산부를 구비할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 터치 패널부의 상기 터치 패드부의 상기 터치 패드들은 상기 터치 패드부 상의 위치에 따라 서로 다른 크기를 가지고, 상기 복수개의 터치 패드들 각각과 상기 대응하는 채널을 연결하는 연결선들은 상기 터치 패드들의 상기 터치 패드부 상의 위치에 따라 서로 다른 길이를 가질 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치는 상기 측정값을 입력하여 노이즈를 제거하고, 상기 터치 패드들 각각의 크기 차이 및 상기 연결선들의 길이 차이를 보상하는 프리 프로세싱부를 더 구비할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치는 상기 접촉 위치의 좌표를 입력하여 노이즈를 제거하고, 정렬하여 출력하는 포스트 프로세싱부를 더 구비할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부는 상기 측정값을 기초로 상기 로우 프레임을 생성하고, 상기 측정값의 최대값을 검출하고, 상기 로우 프레임에서 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 상기 적어도 하나의 클러스터를 생성하는 클러스터링 동작을 수행하는 클러스터링부, 및 상기 클러스터들 각각에 대하여 가중치 평균을 이용하여 상기 클러스터들 각각의 중심점 좌표를 계산하고, 상기 중심점 좌표를 상기 접촉 위치의 좌표로 출력하는 중심점 계산부를 구비할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 접촉 위치 검출부의 상기 중심점 계산부는 상기 클러스터들 각각을 구성하는 셀에서 오프셋 값을 차감한 후에 상기 중심점 좌표를 계산할 수 있다.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 접촉 위치 검출 방법은 접촉 물체의 접촉 위치에 따라 측정값을 출력하는 터치 패널부를 출력하는 입력 장치의 접촉 위치 검출 방법에 있어서, 상기 측정값을 기초로 로우 프레임을 생성하는 단계, 상기 로우 프레임에서 최대값을 가지는 셀을 기준으로 클러스터를 생성하되, 복수개의 클러스터에 동시에 포함되는 중복셀이 있으면, 상기 중복셀의 값을 상기 중복셀과 인접한 셀들의 값에 따라 상기 복수개의 클러스터 각각으로 분할하여 상기 적어도 하나의 클러스터를 생성하는 단계, 및 상기 클러스터에 대하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 검출 방법의 상기 클러스터를 생성하는 단계는 상기 중복셀이 있고, 상기 중복셀이 제1 클러스터와 제2 클러스터에 동시에 포함되는 경우, 상기 중복셀과 인접한 셀들 중 상기 제1 클러스터에 포함되는 셀들의 합과 상기 중복셀과 인접한 셀들 중 상기 제2 클러스터에 포함되는 셀들의 합의 비율에 따라 상기 중복셀을 상기 제1 클러스터와 상기 제2 클러스터로 분할할 수도 있고, 상기 중복셀의 상하좌우로 인접한 셀들 중 상기 제1 클러스터에 포함되는 셀들의 합과 상기 중복셀의 상하좌우로 인접한 셀들 중 상기 제2 클러스터에 포함되는 셀들의 합의 비율에 따라 상기 중복셀을 상기 제1 클러스터와 상기 제2 클러스터로 분할할 수도 있다.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 검출 방법의 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 단계는 상기 적어도 하나의 클러스터들 각각의 가중 기하 중심을 계산함으로써 상기 접촉 위치의 좌표를 계산할 수 있다.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 검출 방법의 상기 클러스터를 생성하는 단계의 제1 형태는 상기 로우 프레임의 상기 최대값을 가지는 셀의 주변의 셀들 각각에 대하여 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 증감을 검출하는 단계, 및 상기 주변의 셀들 중 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 감소하는 셀들이 상기 최대값을 가지는 셀과 동일한 클러스터를 구성하도록 클러스터링하는 단계를 구비할 수 있다.
이 경우에, 본 발명의 접촉 위치 검출 방법은 상기 로우 프레임에서 상기 클러스터를 차감하여 링크 프레임을 계산하는 단계, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 검출하는 단계, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀에 대응하는 상기 로우 프레임의 셀의 주변의 셀들 각각에 대하여, 상기 로우 프레임에서 상기 대응하는 로우 프레임의 셀을 기준으로 증감을 검츨하여 클러스터링하는 단계를 더 구비할 수 있다.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 검출 방법의 상기 클러스터를 생성하는 단계의 제2 형태는 상기 최대값을 가지는 셀을 중심으로 일정 영역 내의 셀들을 하나의 클러스터로 구성할 수 있다.
이 경우에, 본 발명의 접촉 위치 검출 방법은 상기 로우 프레임에서 상기 클러스터를 차감하여 링크 프레임을 계산하는 단계, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 검출하는 단계, 및 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀에 대응하는 상기 로우 프레임의 셀을 중심으로 상기 로우 프레임의 일정 영역 내의 셀들이 하나의 클러스터를 구성하도록 클러스터링하거나, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 중심으로 상기 링크 프레임의 일정 영역 내의 셀들이 하나의 클러스터를 구성하도록 클러스터링하는 단계를 더 구비할 수 있다.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 검출 방법은 사이의 거리가 기준거리 이하인 클러스터들을 하나의 클러스터로 병합하는 단계를 더 구비할 수 있다.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 검출 방법은 상기 클러스터의 크기고 기준 크기 이상이면 라지 터치임을 표시하는 단계를 더 구비할 수 있다.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 검출 방법의 상기 좌표를 계산하는 단계는 상기 클러스터에 대하여 가중치 평균을 이용하여 상기 클러스터의 중심점 좌표를 계산하고, 상기 중심점 좌표를 상기 접촉 위치의 좌표로 출력할 수 있다. 이 경우에, 상기 좌표를 계산하는 단계는 상기 클러스터를 구성하는 각각의 셀에 대하여 오프셋 값을 감산한 후에 상기 중심점 좌표를 계산할 수 있다.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 검출 방법의 상기 터치 패널부는 하나의 레이어에 서로 이격되어 배치되고, 각각 대응하는 채널과 연결된 복수개의 터치 패드들을 구비할 수 있다. 이 경우에, 상기 복수개의 터치 패드들 각각은 상기 터치 패드부 상의 위치에 따라 서로 다른 크기를 가지고, 상기 복수개의 터치 패드들 각각과 상기 대응하는 채널을 연결하는 연결선들은 상기 터치 패드들의 상기 터치 패드부 상의 위치에 따라 서로 다른 길이를 가질 수 있다.
이 경우에, 상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 검출 방법은 상기 측정값을 입력하여 노이즈를 제거하고, 상기 터치 패드들 각각의 크기 차이 및 상기 터치 패드들 각각과 상기 대응하는 채널을 연결하는 연결선들의 길이 차이를 보상하는 단계를 더 구비할 수 있다.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 검출 방법은 상기 접촉 위치의 좌표에서 노이즈를 제거하고, 상기 접촉 위치의 좌표를 정렬하여 출력하는 단계를 더 구비할 수 있다.
따라서, 본 발명의 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법은 보다 정확하게 접촉 위치를 감지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 입력 장치의 실시예의 구성을 나타내는 것이다.
도 2는 도 1에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 터치 패널부의 실시예의 구성을 나타내는 것이다.
도 3은 도 2에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 터치 패널부의 터치 패턴부의 실시예의 구성을 나타내는 것이다.
도 4는 도 2에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 터치 패널부의 지연시간 측정부의 실시예의 구성을 나타내는 것이다.
도 5는 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법을 설명하기 위한 동작 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 좌표 결정 방법을 설명하기 위한 동작 흐름도이다.
도 7은 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제1 실시예를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제1 실시예에 있어서, 대각선 방향의 셀에 대한 클러스터링 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법에 있어서, 중복셀을 분할하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 도 7에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제1 실시예에 따라 검출된 클러스터에서 중복셀 분할 동작을 수행한 클러스터들을 나타낸 도면이다.
도 11은 본 발명의 입력 장치의 접촉 위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제2 실시예를 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 도 11에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제2 실시예에 따라 검출된 클러스터에서 중복셀 분할 동작을 수행한 클러스터들을 나타낸 도면이다.
도 13은 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제3 실시예를 설명하기 위한 도면이다.
이하, 첨부된 도면을 참고로 하여 본 발명의 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법을 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 입력 장치(100)의 실시예의 구성을 나타내는 것으로서, 본 발명의 입력 장치(100)는 터치 패널부(10), 프리 프로세싱부(20), 접촉위치 계산부(30), 포스트 프로세싱부(40)를 구비할 수 있다. 접촉위치 계산부(30)는 클러스터링부(32) 및 중심점 계산부(34)를 구비할 수 있다.
도 1에 나타낸 블록들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.
터치 패널부(100)는 복수개의 터치 패드들을 구비할 수 있으며, 접촉 물체의 접촉 위치에 따라 측정값(P_V)을 출력한다. 복수개의 터치 패드들 각각은 접촉 여부 및 접촉 물체와의 접촉 면적에 따라 가변되는 커패시턴스 값을 가질 수 있다. 이 경우, 측정값(P_V)은 상기 복수개의 터치 패드의 커패시턴스 값에 대응하는 값일 수 있다. 상기 커패시턴스 값은 펄스 신호의 지연 시간을 측정함으로써 측정될 수 있다.
프리 프로세싱부(20)는 상기 측정값들(P_V)을 선처리하여 대상 측정값들(pP_V)을 출력한다. 프리 프로세싱부(20)는 상기 측정값들(P_V)을 필터링하거나, 상기 측정값들로부터 문턱값을 차감함으로써 노이즈를 제거할 수 있다. 또한, 프리 프로세싱부(20)는 상기 터치 패드들의 기하학적 불일치 또는 상기 터치 패드들 각각과 연결되는 연결선의 길이 차이 등에 기인하는 오차를 상쇄하기 위한 교정동작을 수행할 수도 있다. 또한, 프리 프로세싱부(20)는 공정상 변화 또는 환경 변화에 따른 영향을 상쇄하기 위한 교정동작을 수행할 수도 있다.
접촉위치 계산부(30)는 상기 대상 측정값들(pP_V)을 입력하고, 상기 대상 측정값들(pP_V) 중 최대값을 가지는 셀을 기준으로 상기 대상 측정값들(pP_V)을 클러스터링하며, 클러스터 각각에 대한 좌표값(T_C)을 계산하여 출력한다.
클러스터링부(32)는 상기 대상 측정값들(pP_V) 중 최대값을 가지는 셀을 검출하고, 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 상기 대상 측정값들(pP_V)을 적어도 하나의 클러스터로 분할하여 클러스터링된 측정값(pP_VC)을 출력한다. 클러스터링부(32)는 상기 최대값을 가지는 셀 주변의 셀들 각각에 대해 크기 변화를 검출함으로써 클러스터링 동작을 수행할 수도 있으며, 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 소정 영역의 셀들이 하나의 클러스터를 형성하도록 클러스터링 동작을 수행할 수도 있다. 클러스터링 동작에 대한 구체적인 내용은 후술한다.
중심점 계산부(34)는 상기 클러스터링된 측정값(pP_VC)을 입력하고, 클러스터들 각각에 대해 접촉 좌표(T_C)를 계산하여 출력한다. 중심점 계산부(34)는 클러스터들 각각에 대해 상기 클러스터링된 측정값(pP_VC)의 가중 평균(weighted average)을 계산하여 상기 클러스터들 각각의 기하 중심(geometric center)을 상기 접촉 좌표(T_C)로 출력할 수 있다.
포스트 프로세싱부(40)는 상기 접촉 좌표(T_C)를 입력하고, 정렬(sorting)하거나, 필터링(filtering)하여 최종 접촉 좌표(pT_C)를 출력한다.
도 2는 도 1에 나타낸 본 발명의 입력 장치(100)의 터치 패널부(10)의 실시예의 구성을 나타내는 것으로서, 터치 패드부(11) 및 지연시간 측정부(12)를 구비할 수 있다.
도 2에 나타낸 블록들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.
터치 패드부(11)는 복수개의 채널들(ch1~ch(n))과 각각 연결된 복수개의 터치 패드들을 구비할 수 있다. 상기 복수개의 터치 패드들 각각은 접촉 물체와의 접촉 여부 및/또는 접촉 물체와의 접촉 정도(예를 들면, 접촉 물체와의 접촉 면적)에 따라 가변되는 커패시턴스 값을 가질 수 있다.
지연시간 측정부(12)는 상기 복수개의 채널들(ch1~ch(n))을 통하여 상기 터치 패드들 각각의 커패시턴스 값을 나타내는 측정값(P_V)을 출력한다. 지연시간 측정부(12)는 펄스 신호가 상기 터치 패드들 각각의 커패시턴스에 의해 지연되는 시간을 측정하여 상기 지연시간을 상기 측정값(P_V)으로 출력할 수 있다.
도 3은 도 2에 나타낸 본 발명의 입력 장치(100)의 터치 패널부(10)의 터치 패드부(11)의 실시예의 구성을 나타내는 것이다. 도 3에 나타낸 바와 같이, 터치 패드부(11)는 좌우 대칭 형태로 형성될 수 있다.
도 3에 나타낸 바와 같이, 본 발명의 입력 장치(100)의 터치 패널부(10)의 터치 패드부(11)는 하나의 레이어(layer)에 형성될 수 있다. 터치 패드부(11)의 터치 패드들(PA11 ~ PA44, PB11 ~ PB44)은 하나의 레이어에 매트릭스 형태로 배치될 수 있다. 또한, 터치 패드들(PA11 ~ PA44, PB11 ~ PB44) 각각은 복수개의 채널들(ch1 ~ ch32) 중 대응하는 채널과 1:1로 연결될 수 있다. 또한, 터치 패드들(PA11 ~ PA44, PB11 ~ PB44) 각각의 면적은 터치 패드부(11) 상의 터치 패드의 위치에 따라 결정될 수 있다. 또한, 터치 패드들(PA11 ~ PA44, PB11 ~ PB44) 각각과 대응하는 채널(ch1 ~ ch2)을 연결하는 연결선의 길이도 터치 패드부(11)상의 터치 패드의 위치에 따라 결정될 수 있다. 또한, 터치 패드들(PA11 ~ PA44, PB11 ~ PB44) 각각은 접촉 물체와의 접촉 여부 및/또는 접촉 물체와의 접촉 정도(예를 들면, 접촉 물체와의 접촉 면적)에 따라 가변되는 커패시턴스를 가진다.
도 4는 도 2에 나타낸 본 발명의 입력 장치(100)의 터치 패널부(10)의 지연시간 측정부(12)의 실시예의 구성을 나타내는 것으로서, 지연시간 측정부(12)는 펄스 발생부(13), 복수개의 감지신호 발생부(14-1, 14-2, ...), 기준신호 발생부(15), 및 지연시간 계산부(16)를 구비할 수 있다. 복수개의 감지신호 발생부(14-1, 14-2, ...) 각각은 대응하는 채널과 연결될 수 있다.
도 4에 나타낸 블록들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.
펄스 발생부(13)는 펄스 신호(pl)를 출력한다.
감지신호 발생부들(14-1, 14-2, ...) 각각은 연결된 채널(ch1, ch2, ...)과 연결된 터치 패드의 커패시턴스에 따라 상기 펄스 신호(pl)를 지연시켜 감지 신호(s_pl1, s_pl2, ...)를 출력한다.
기준신호 발생부(15)는 상기 펄스 신호(pl)에 응답하여 기준 신호(r_pl)를 출력한다. 기준신호 발생부(15)는 상기 펄스 신호(pl)를 일정한 시간 지연시켜 상기 기준 신호(r_pl)를 출력할 수 있다.
지연시간 계산부(16)는 상기 기준 신호(r_pl)와 상기 감지 신호들(s_pl1, s_pl2, ...) 각각의 지연시간 차이를 계산하여 계산된 지연시간 차이를 측정값(P_V)으로 출력할 수 있다.
도 4에서는 감지신호 발생부가 복수개이고, 각각이 대응하는 채널과 연결되는 경우를 예시하였으나, 감지신호 발생부의 수는 채널의 수보다 적어질 수 있으며, 이 경우, 스위치를 구비하여 복수개의 채널이 순차적으로 감지신호 발생부와 연결되도록 구성될 수도 있다.
도 5는 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법을 설명하기 위한 동작 흐름도이다.
도 5를 참고하여 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 측정값들(P_V) 중 문턱값보다 큰 값이 있는지 여부를 판단한다. (s100 단계)
s100 단계에서 판단한 결과, 문턱값보다 큰 측정값이 없다면 클러스터링 동작을 수행하지 않는다.
s100 단계에서 판단한 결과, 문턱값보다 큰 측정값이 있다면 로우 프레임에서 최대값을 검출한다. (s110 단계) 로우 프레임은 터치 패널부(10)로부터 출력되는 측정값들로 구성된 프레임을 의미한다. 예를 들면, 터치 패널부(10)가 도 3에 나타낸 것과 같은 터치 패드부(11)를 구비하는 경우, 상기 로우 프레임은 터치 패드들(PA11 ~ PA44, PB11 ~ PB44) 각각에 대응하는 측정값들을 터치 패드들(PA11 ~ PA44, PB11 ~ PB44) 각각의 위치에 대응하는 위치에 배치되도록 행렬 형태로 나열한 데이터일 수 있다. 따라서, 로우 프레임에서 최대값을 검출한다는 것은 측정값들 중에서 최대값을 검출한다는 것과 동일한 의미이다.
상기 로우 프레임은 상기 측정값들(P_V)을 선처리한 대상 측정값들(pP_V)을 이용하여 구성될 수도 있다.
다음으로, 로우 프레임 또는 링크 프레임에서 최대값을 가지는 셀을 기준으로 클러스터링 동작을 수행한다. (s120 단계) 클러스터링 동작은 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 증감에 따라 수행될 수도 있으며, 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 일정한 영역을 설정하는 방법으로 수행될 수도 있다. 상세한 클러스터링 동작에 대하여는 후술한다.
다음으로, 링크 프레임을 계산한다. (s130 단계) 링크 프레임은 로우 프레임 또는 직전에 계산된 링크 프레임으로부터 직전에 계산된 클러스터를 차감하여 계산될 수 있다.
다음으로, 직전에 계산된 링크 프레임에서 문턱값보다 큰 측정값이 있는지 여부를 판단한다. (s140 단계)
s140 단계에서 판단한 결과, 직전에 계산된 링크 프레임에서 문턱값보다 큰 측정값이 있다면, 직전에 계산된 링크 프레임에서 최대값을 검출한다. (s150 단계)
다음으로, s120 단계 내지 s140 단계를 반복한다.
s140 단계에서 판단한 결과, 직전에 계산된 링크 프레임에서 문턱값보다 큰 측정값이 없다면, 클러스터링 동작을 종료하고, 클러스터링된 측정값(pP_VC)을 출력한다. 클러스터링된 측정값(pP_VC)은 적어도 하나 이상의 클러스터로 구성될 수 있다.
도 6은 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 좌표 결정 방법을 설명하기 위한 동작 흐름도이다.
도 6을 참고하여 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 좌표 결정 방법을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 클러스터링된 측정값(pP_VC)을 해석하여 클러스터가 존재하는지 여부를 판단한다. (s200 단계)
s200 단계에서 판단한 결과, 클러스터가 없다면 종료한다.
s200 단계에서 판단한 결과, 클러스터가 있다면, 클러스터의 수가 복수개인지 여부를 판단한다. (s210 단계)
s210 단계에서 판단한 결과, 클러스터의 수가 하나라면 해당 클러스터의 중심점 좌표를 계산한다. (s240 단계) 중심점 좌표는 가중치 평균을 이용하여 계산될 수 있다. 즉, 중심점 좌표는 클러스터의 가중 기하 중심의 좌표일 수 있다.
s210 단계에서 판단한 결과, 클러스터의 수가 복수개라면, 먼저 복수개의 클러스터에 포함되는 중복셀이 있는지를 검출하고, 중복셀이 있으면 이를 분할한다. (s220 단계) 즉, 중복셀의 측정값을 중복셀 주변의 셀의 측정값에 따라 분할하여 각 클러스터에 포함시킬 수 있다.
다음으로, 클러스터들 사이의 거리가 소정의 기준 거리 이하인 경우, 기준 거리 이하인 클러스터들을 하나의 클러스터로 병합한다. (s230 단계)
다음으로, 클러스터들 각각에 대하여 중심점 좌표를 계산한다. (s240 단계)
다음으로, 클러스터의 크기가 기준 크기보다 큰지 여부를 판단한다. (s250 단계)
s250 단계에서 판단한 결과, 기준 크기보다 큰 클러스터가 존재한다면, 큰 접촉(large touch)임을 표시한다. (s260 단계)
다음으로, 계산된 중심점 좌표들을 출력한다. (s270 단계)
본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법은 도 5 및 도 6의 일부 단계를 생략하고 실시될 수도 있다. 예를 들면, 중복셀을 분할하지 않을 수도 있으며, 클러스터를 병합하지 않을 수도 있다.
또한, 각 단계의 순서도 바뀔 수도 있다. 예를 들면, 중심점 좌표를 먼저 계산한 후에 클러스터를 병합할 수도 있으며, 클러스터를 병합한 후에 중복셀을 분할할 수도 있다. 또한, 중복셀 분할 단계(s220)는 클러스터링 단계에서 클러스터링 동작(s120 단계) 중에 수행될 수도 있다.
도 7은 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제1 실시예를 설명하기 위한 도면이다. 도 7에서, T110은 로우 프레임을, T120 및 T140은 클러스터들을, T130 및 T150은 링크 프레임을 각각 나타낸다.
도 7을 참고하여 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제1 실시예를 설명하면 다음과 같다.
먼저, 로우 프레임(T110)에서 최대값을 찾는다. 최대값은 3행2열의 348이다.
다음으로, 로우 프레임(T110)에서, 최대값을 가지는 셀(로우 프레임(T110)의 3행2열)을 기준으로 수직, 수평 방향의 셀들의 증감을 검출하여, 감소하는 셀들을 상기 최대값을 가지는 셀과 동일한 클러스터에 포함시킨다. 수직 방향의 경우, 1행2열까지 계속 감소하고, 4행2열까지 감소한다. (셀의 값이 0인 것 또는, 셀의 값이 문턱값보다 작은 것은 무시할 수 있다.) 따라서, 로우 프레임(T110)의 1행2열, 2행2열, 4행2열의 셀들은 최대값을 가지는 셀(3행2열)과 동일한 클러스터를 구성한다. 수평 방향의 경우, 3행1열까지 감소하고, 3행4열까지 감소한다. 따라서, 3행1열, 3행3열, 3행4열의 셀들은 최대값을 가지는 셀(3행2열)과 동일한 클러스터를 구성한다.
다음으로, 대각선 방향의 셀들의 증감을 검출하여, 감소하는 셀들을 상기 최대값을 가지는 셀과 동일한 클러스터에 포함시킨다. 도 8을 참고하면, Ph>0, Pv>0, Pd<Ph+Pv, Pd<Pc인 조건을 모두 만족하면, 대각선 방향의 셀은 감소하는 것으로 판단할 수 있다. 도 8에서, Pc는 기준셀을, Pv 및 Ph는 상기 기준셀(Pc)과 동일한 클러스터에 포함되고, 상기 기준셀(Pc)의 수직 및 수평 방향에 인접한 셀을, Pd는 상기 기준셀(Pc)의 대각선 방향에 인접한 셀로서, 상기 Pv 및 Ph의 교점에 위치하는 셀이며, 최대값을 가지는 셀과 동일한 클러스터에 포함될지 여부를 판단할 대상셀을 각각 나타낸다. 상기 기준셀(Pc)은 대각선 방향의 셀들에 대한 클러스터링 동작이 최초로 이루어질 경우에는 상기 최대값을 가지는 셀이 되며, 이후, 상기 최대값을 가지는 셀과 동일한 클러스터에 포함되어있는 셀 중 대상셀(Pd)에 따라 결정된다.
로우 프레임에서, 최대값을 가지는 셀(3행2열)을 기준으로 상술한 조건을 만족하는 셀은 1행3열, 2행3열, 4행3열, 및 2행4열의 셀들이 된다. 따라서, 최대값을 가지는 셀(3행2열)이 포함되는 클러스터는 도 7의 T120과 같이 주어진다. T120에서 점으로 해칭된 영역이 최대값을 가지는 셀(3행2열)이 포함되는 클러스터이다.
다음으로, 로우 프레임(T110)에서 첫 번째 클러스터(T120)를 차감하여 링크 프레임(T130)을 계산한다.
다음으로, 링크 프레임(T130)에서 최대값을 검출한다. 링크 프레임에서 최대값을 가지는 셀은 3행5열이다.
다음으로, 클러스터(T120)를 구하는 방법과 동일한 방법으로, 로우 프레임(T110)에서 최대값을 가지는 셀(3행5열)을 기준으로 클러스터링 동작을 수행하면 두 번째 클러스터(T140)를 구할 수 있다. T140에서 점으로 해칭된 영역이 최대값을 가지는 셀(3행5열)이 포함되는 클러스터이다.
다음으로, 링크 프레임(T130)에서 상기 두 번째 클러스터(T140)를 차감하여 두 번째 링크 프레임(T150)을 계산한다. 두 번째 링크 프레임(T150)에서는 문턱값(여기서 문턱값은 0이라고 가정)을 초과하는 셀이 없으므로, 클러스터링 동작을 중단한다.
도 9는 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법에 있어서, 중복셀을 분할하는 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 9에서, Pol은 중복셀을, PAc, PAr, PAb, PBu, PBl, 및 PBc 등은 중복셀(Pol)과 인접한 셀들을 각각 나타낸다. 또한, 인접한 셀들(PAc, PAr, 및 PAb)과 인접한 셀들(PBu, PBl, 및 PBc)은 각각 다른 클러스터에 포함되는 셀이다.
Xa가 중복셀(Pol) 성분 중 인접한 셀들(PAc, PAr, 및 PAb)이 포함된 클러스터로 분할되는 값이고, Xb가 중복셀(Pol) 성분 중 인접한 셀들(PBu, PBl, 및 PBc)이 포함된 클러스터로 분할되는 값이라고 할 때, Xa 및 Xb는 다음과 같은 수학식 1에 의해 결정될 수 있다.
Figure 112010068128415-pat00001
또는, Xa 및 Xb는 간략하게 다음과 같은 수학식 2에 의해 결정될 수도 있다.
Figure 112010068128415-pat00002
상술한 바와 같이, 중복셀 분할 동작은 클러스터링 동작 중에 수행될 수도 있으며, 클러스터들 각각에 대한 접촉위치의 좌표를 결정하는 동작 중에 수행될 수도 있다.
도 10은 도 7에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제1 실시예에 따라 검출된 클러스터(T120, T140)에서 중복셀 분할 동작을 수행한 후의 클러스터들(T121, T141)을 나타낸 것으로서, 상기 수학식 1에 의해 중복셀들(2행4열 및 3행4열)을 분할한 클러스터들(T121, T141)을 나타낸 것이다.
먼저, 3행4열의 셀에 대하여 수학식 1을 적용하면 다음과 같다.
Figure 112010068128415-pat00003
상기 수식에서, Xa는 3행4열의 셀의 값 중, 클러스터(T121)의 성분이고, Xb는 3행4열의 셀의 값 중, 클러스터(T141)의 성분이다.
마찬가지로, 2행4열의 셀에 대하여 수학식 1을 적용하면, 클러스터(T121)의 성분은 약 4가 되고, 클러스터(T141)의 성분은 약 8이 된다.
다음으로, 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 좌표 결정 방법을 설명하면 다음과 같다. 상술한 바와 같이, 클러스터 각각에 대한 접촉 물체의 접촉 위치의 좌표(즉, 중심점 좌표)는 가중치 평균을 이용하여 계산될 수 있다. 즉, 중심점 좌표는 클러스터의 가중 기하 중심의 좌표일 수 있다.
클러스터의 i행j열의 값을 Vij라 하고, 접촉 물체의 접촉 위치의 x축 좌표값을 T_Cx, 접촉 물체의 접촉 위치의 y축 좌표값을 T_Cy라고 하면, x축 좌표값(T_Cx) 및 y축 좌표값(T_Cy)은 각각 다음과 같은 수학식 3에 의해 결정될 수 있다. 수학식 3에서, n은 클러스터의 행의 개수를, m은 클러스터의 열의 개수를 각각 나타낸다.
Figure 112010068128415-pat00004
상기 수학식에서, Vij는 측정값(P_V) 또는 대상 측정값(pP_V)일 수도 있으며, 측정값(P_V) 또는 대상 측정값(pP_V)에서 오프셋 값을 뺀 값일 수도 있다. 상기 오프셋 값은 터치 패드들(PA11 ~ PA44, PB11 ~ PB44) 각각의 모양이나 면적의 차이 등 터치 패드들 각각의 차이에 기인한 영향을 상쇄시키기 위한 값일 수도 있으며, 터치 패드들(PA11 ~ PA44, PB11 ~ PB44) 각각과 채널(ch1~ch(n)) 사이의 거리 차이 등 터치 패드부(11)의 형태에 기인한 영향을 상쇄시키기 위한 값일 수도 있으며, 기타 주변 환경 등의 영향을 상쇄시키기 위한 값일 수도 있다. 이러한 오프셋 값은 제작자 또는 사용자에 의해 설정될 수 있다.
도 10에 나타는 클러스터들(T121, T141)에 대해, 상기 수학식 3을 적용하여 클러스터들 각각의 접촉 위치의 좌표(즉, 중심점 좌표)를 구하면 다음과 같다.
클러스터(T121)의 중심점 좌표의 x축 좌표값은
Figure 112010068128415-pat00005
이고,
클러스터(T121)의 중심점 좌표의 y축 좌표값은
Figure 112010068128415-pat00006
이 된다.
동일한 방법으로 계산하면, 클러스터(T141)의 중심점 좌표는 (4.70, 3.64)가 된다.
도 11은 본 발명의 입력 장치의 접촉 위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제2 실시예를 설명하기 위한 도면이다.
먼저, 로우 프레임(T200)에서 최대값을 검출한다. 최대값을 가지는 셀은 4행5열이 된다.
다음으로, 최대값을 가지는 셀(4행5열)을 기준으로 일정 영역의 셀들이 동일한 클러스터(T210)를 구성하도록 클러스터링 동작을 수행한다. 도 11에 나타낸 실시예에서는, 최대값을 가지는 셀(4행5열)을 중심으로 인접한 8개의 셀들이 하나의 클러스터(T210)를 구성한다. (T210에서 점으로 해칭된 부분 참조)
다음으로, 로우 프레임(T200)에서 첫 번째 클러스터(T210)를 차감하여 첫 번째 링크 프레임(T220)을 계산한다.
다음으로, 첫 번째 링크 프레임(T220)에서 최대값을 검출한다. 최대값을 가지는 셀은 2행2열이 된다.
다음으로, 로우 프레임(T200)에서 최대값을 가지는 셀(2행2열)을 기준으로 일정 영역의 셀들이 상기 최대값을 가지는 셀(2행2열)과 동일한 클러스터(T230)를 구성하도록 클러스터링 동작을 수행한다.
다음으로, 첫 번째 링크 프레임(T220)에서 두 번째 클러스터(T230)를 차감하여 두 번째 링크 프레임(T240)을 계산한다.
다음으로, 두 번째 링크 프레임(T240)에서 최대값을 검출한다. 최대값을 가지는 셀은 2행7열이 된다.
다음으로, 로우 프레임(T200)에서 최대값을 가지는 셀(2행7열)을 기준으로 일정 영역의 셀들이 상기 최대값을 가지는 셀(2행7열)과 동일한 클러스터(T250)를 구성하도록 클러스터링 동작을 수행한다.
다음으로, 두 번째 링크 프레임(T240)에서 세 번째 클러스터(T250)를 차감하여 세 번째 링크 프레임(T260)을 계산한다.
세 번째 링크 프레임(T260)에서는 문턱값(여기서, 문턱값은 80이라고 가정한다. 문턱값은 생산자 또는 사용자에 의해 설정될 수 있다.) 이상을 가지는 셀이 없으므로, 클러스터링 동작을 종료한다.
도 12는 도 11에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제2 실시예에 따라 검출된 클러스터에서 중복셀 분할 동작을 수행한 경우의 클러스터들을 나타내는 도면이다.
도 9 및 수학식 1에 따라 첫 번째 클러스터(T210)와 세 번째 클러스터(T250)의 중복셀(3행6열)을 분할하면 도 12의 클러스터들(T211, T251)이 된다.
다음으로, 클러스터 각각에 대한 접촉 물체의 접촉 위치의 좌표(즉, 중심점 좌표)를 계산하면, 클러스터(T211), 클러스터(T231), 및 클러스터(T251)의 중심점 좌표는 각각 (4.99, 3.96), (2.15, 1.86), 및 (6.74, 2.36)이 된다.
도 13은 본 발명의 입력 장치의 접촉위치 검출 방법의 클러스터링 방법의 제3 실시예를 설명하기 위한 도면이다.
먼저, 로우 프레임(T300)에서 최대값을 검출한다. 최대값을 가지는 셀은 4행5열이 된다.
다음으로, 로우 프레임(T300)에서 상기 최대값을 가지는 셀(4행5열)을 기준으로 일정 영역 내의 셀들이 상기 최대값을 가지는 셀(4행5열)과 동일한 클러스터를 구성하도록 클러스터링 동작이 수행된다. 이때, 주변의 셀들의 값들을 참조하여 중복셀(3행6열)을 검출하고, 수학식 1을 이용하여 상기 중복셀(3행6열)의 성분 중 최대값을 가지는 셀(4행5열)이 포함되는 클러스터의 성분을 계산한다. 따라서, 첫 번째 클러스터(T310)에서 중복셀(3행6열)의 값은 47이 된다.
다음으로, 로우 프레임(T300)에서 첫 번째 클러스터(T310)를 차감하여 첫 번째 링크 프레임(T320)을 계산한다.
다음으로, 첫 번째 링크 프레임(T320)에서 최대값을 검출한다. 첫 번째 링크 프레임(T320)에서 최대값을 가지는 셀은 2행2열이 된다.
다음으로, 첫 번째 링크 프레임(T320)에서, 최대값을 가지는 셀(2행2열)을 기준으로 일정 영역 내의 셀들이 상기 최대값을 가지는 셀(2행2열)과 동일한 클러스터(T330)를 구성하도록 클러스터링 동작이 수행된다. 이때, 첫 번째 링크 프레임(T320)에서 두 번째 클러스터(T330) 주변의 셀들의 값들을 참조하면 중복셀이 없음을 알 수 있으므로, 중복셀 분할 동작은 수행하지 않는다.
다음으로, 첫 번째 링크 프레임(T320)에서 두 번째 클러스터(T330)을 차감하여 두 번째 링크 프레임(T340)을 계산한다.
다음으로, 두 번째 링크 프레임(T340)에서 최대값을 검출한다. 두 번째 링크 프레임(T340)에서 최대값을 가지는 셀은 2행7열이다.
다음으로, 두 번째 링크 프레임(T340)에서, 최대값을 가지는 셀(2행7열)을 기준으로 일정 영역 내의 셀들이 동일한 클러스터(T350)를 구성하도록 클러스터링 동작이 수행된다. 두 번째 링크 프레임(T340)에서 세 번째 클러스터(T350) 주변의 셀들의 값을 참조하면 중복셀이 없음을 알 수 있으므로, 중복셀 분할 동작은 수행되지 않는다.
다음으로, 두 번째 링크 프레임(T340)에서 세 번째 클러스터(T350)를 차감하여 세 번째 링크 프레임(T360)을 계산한다.
세 번째 링크 프레임(T360)에서 문턱값보다 큰 값을 가지는 셀이 없음을 검출하면 클러스터링 동작이 종료된다.
도 13의 클러스터들(T310, T330, T350)은 도 12의 클러스터들(T211, T231, T251)과 동일함을 알 수 있다. 따라서, 도 13의 클러스터들(T310, T330, T350) 각각의 중심점 좌표는 도 12에서 설명한 것과 동일한 값을 가지게 된다.
상기에서는 본 발명의 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (38)

  1. 접촉 물체의 접촉 위치에 따라 측정값을 출력하는 터치 패널부; 및
    상기 측정값을 기초로 로우 프레임을 생성하고, 상기 로우 프레임에서 최대값을 가지는 셀을 기준으로 적어도 하나의 클러스터를 생성하되, 복수개의 클러스터에 동시에 포함되는 중복셀이 있으면, 상기 중복셀의 값을 상기 중복셀과 인접한 셀들의 값에 따라 상기 복수개의 클러스터 각각으로 분할하여 상기 적어도 하나의 클러스터를 생성하는 클러스터링 동작을 수행하며, 상기 적어도 하나의 클러스터들 각각에 대하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 접촉 위치 검출부를 구비하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 중복셀이 있고, 상기 중복셀이 제1 클러스터와 제2 클러스터에 동시에 포함되는 경우, 상기 중복셀과 인접한 셀들 중 상기 제1 클러스터에 포함되는 셀들의 합과 상기 중복셀과 인접한 셀들 중 상기 제2 클러스터에 포함되는 셀들의 합의 비율에 따라 상기 중복셀을 상기 제1 클러스터와 상기 제2 클러스터로 분할하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 중복셀이 있고, 상기 중복셀이 제1 클러스터와 제2 클러스터에 동시에 포함되는 경우, 상기 중복셀의 상하좌우로 인접한 셀들 중 상기 제1 클러스터에 포함되는 셀들의 합과 상기 중복셀의 상하좌우로 인접한 셀들 중 상기 제2 클러스터에 포함되는 셀들의 합의 비율에 따라 상기 중복셀을 상기 제1 클러스터와 상기 제2 클러스터로 분할하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 적어도 하나의 클러스터들 각각의 가중 기하 중심을 계산함으로써 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 로우 프레임의 상기 최대값을 가지는 셀의 주변의 셀들 각각에 대하여 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 증감을 검출하여, 상기 주변의 셀들 중 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 감소하는 셀들이 상기 최대값을 가지는 셀과 동일한 클러스터를 구성하도록 상기 클러스터링 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 로우 프레임에서 상기 클러스터를 차감하여 링크 프레임을 계산하고, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 검출하고, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀에 대응하는 상기 로우 프레임의 셀의 주변의 셀들 각각에 대하여 상기 대응하는 로우 프레임의 셀을 기준으로 증감을 검출하여 상기 클러스터링 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 링크 프레임의 모든 셀이 문턱값 이하가 될 때까지 상기 클러스터링 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 최대값을 가지는 셀을 중심으로 일정 영역 내의 셀들이 하나의 클러스터를 구성하도록 클러스터링 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 로우 프레임에서 상기 클러스터를 차감하여 링크 프레임을 계산하고, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 검출하고, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀에 대응하는 상기 로우 프레임의 셀을 중심으로 상기 로우 프레임의 일정 영역 내의 셀들이 하나의 클러스터를 구성하도록 상기 클러스터링 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 링크 프레임의 모든 셀이 문턱값 이하가 될 때까지 상기 클러스터링 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  11. 제8항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 로우 프레임에서 상기 클러스터를 차감하여 링크 프레임을 계산하고, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 검출하고, 상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 중심으로 상기 링크 프레임의 일정 영역 내의 셀들이 하나의 클러스터를 구성하도록 상기 클러스터링 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 링크 프레임의 모든 셀이 문턱값 이하가 될 때까지 상기 클러스터링 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  13. 제1항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    사이의 거리가 기준 거리 이하인 클러스터들을 병합하여 하나의 클러스터로 구성하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  14. 제1항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 클러스터의 크기가 기준 크기 이상이면 라지 터치임을 표시하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  15. 제1항에 있어서, 상기 터치 패널부는
    하나의 레이어에 배치되고, 각각 대응하는 채널과 연결된 복수개의 터치 패드들을 구비하는 터치 패드부; 및
    상기 채널을 통하여 상기 복수개의 터치 패드의 커패시턴스를 측정하여 상기 측정값을 출력하는 지연시간 측정부를 구비하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  16. 제15항에 있어서, 상기 복수개의 터치 패드들 각각은
    상기 하나의 레이어에 매트릭스 형태로 서로 이격되어 배치되는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  17. 제15항에 있어서, 상기 지연시간 측정부는
    펄스 신호를 발생하는 펄스 발생부;
    상기 채널들 각각과 연결되고, 상기 채널과 연결된 상기 터치 패드의 커패시턴스에 따라 상기 펄스 신호를 지연시켜 복수개의 감지 신호를 출력하는 복수개의 감지 신호 발생부들;
    상기 펄스 신호에 응답하여 기준 신호를 출력하는 기준 신호 발생부; 및
    상기 복수개의 감지 신호들 각각과 상기 기준 신호의 지연 시간 차이를 계산하고, 상기 지연 시간 차이를 상기 측정값으로 출력하는 지연시간 계산부를 구비하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  18. 제15항에 있어서,
    상기 복수개의 터치 패드들은 상기 터치 패드부 상의 위치에 따라 서로 다른 크기를 가지고,
    상기 복수개의 터치 패드들 각각과 상기 대응하는 채널을 연결하는 연결선들은 상기 터치 패드들의 상기 터치 패드부 상의 위치에 따라 서로 다른 길이를 가지는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  19. 제18항에 있어서, 상기 입력 장치는
    상기 측정값을 입력하여 노이즈를 제거하고, 상기 터치 패드들 각각의 크기 차이 및 상기 연결선들의 길이 차이를 보상하는 프리 프로세싱부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  20. 제1항에 있어서, 상기 입력 장치는
    상기 접촉 위치의 좌표를 입력하여 노이즈를 제거하고, 정렬하여 출력하는 포스트 프로세싱부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  21. 제1항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출부는
    상기 측정값을 기초로 상기 로우 프레임을 생성하고, 상기 측정값의 최대값을 검출하고, 상기 로우 프레임에서 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 상기 적어도 하나의 클러스터를 생성하는 클러스터링 동작을 수행하는 클러스터링부; 및
    상기 클러스터들 각각에 대하여 가중치 평균을 이용하여 상기 클러스터들 각각의 중심점 좌표를 계산하고, 상기 중심점 좌표를 상기 접촉 위치의 좌표로 출력하는 중심점 계산부를 구비하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  22. 제21항에 있어서, 상기 중심점 계산부는
    상기 클러스터들 각각을 구성하는 셀에서 오프셋 값을 차감한 후에 상기 중심점 좌표를 계산하는 것을 특징으로 하는 입력 장치.
  23. 접촉 물체의 접촉 위치에 따라 측정값을 출력하는 터치 패널부를 출력하는 입력 장치의 접촉 위치 검출 방법에 있어서,
    상기 측정값을 기초로 로우 프레임을 생성하는 단계;
    상기 로우 프레임에서 최대값을 가지는 셀을 기준으로 적어도 하나의 클러스터를 생성하되, 복수개의 클러스터에 동시에 포함되는 중복셀이 있으면, 상기 중복셀의 값을 상기 중복셀과 인접한 셀들의 값에 따라 상기 복수개의 클러스터 각각으로 분할하여 상기 적어도 하나의 클러스터를 생성하는 단계; 및
    상기 클러스터에 대하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  24. 제23항에 있어서, 상기 클러스터를 생성하는 단계는
    상기 중복셀이 있고, 상기 중복셀이 제1 클러스터와 제2 클러스터에 동시에 포함되는 경우, 상기 중복셀과 인접한 셀들 중 상기 제1 클러스터에 포함되는 셀들의 합과 상기 중복셀과 인접한 셀들 중 상기 제2 클러스터에 포함되는 셀들의 합의 비율에 따라 상기 중복셀을 상기 제1 클러스터와 상기 제2 클러스터로 분할하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  25. 제23항에 있어서, 상기 클러스터를 생성하는 단계는
    상기 중복셀이 있고, 상기 중복셀이 제1 클러스터와 제2 클러스터에 동시에 포함되는 경우, 상기 중복셀의 상하좌우로 인접한 셀들 중 상기 제1 클러스터에 포함되는 셀들의 합과 상기 중복셀의 상하좌우로 인접한 셀들 중 상기 제2 클러스터에 포함되는 셀들의 합의 비율에 따라 상기 중복셀을 상기 제1 클러스터와 상기 제2 클러스터로 분할하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  26. 제23항에 있어서, 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 단계는
    상기 적어도 하나의 클러스터들 각각의 가중 기하 중심을 계산함으로써 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  27. 제23항에 있어서, 상기 클러스터를 생성하는 단계는
    상기 로우 프레임의 상기 최대값을 가지는 셀의 주변의 셀들 각각에 대하여 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 증감을 검출하는 단계; 및
    상기 주변의 셀들 중 상기 최대값을 가지는 셀을 기준으로 감소하는 셀들이 상기 최대값을 가지는 셀과 동일한 클러스터를 구성하도록 클러스터링하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  28. 제27항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출 방법은
    상기 로우 프레임에서 상기 클러스터를 차감하여 링크 프레임을 계산하는 단계;
    상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 검출하는 단계;
    상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀에 대응하는 상기 로우 프레임의 셀의 주변의 셀들 각각에 대하여, 상기 로우 프레임에서 상기 대응하는 로우 프레임의 셀을 기준으로 증감을 검츨하여 클러스터링하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  29. 제23항에 있어서, 상기 클러스터를 생성하는 단계는
    상기 최대값을 가지는 셀을 중심으로 일정 영역 내의 셀들을 하나의 클러스터로 구성하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  30. 제29항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출 방법은
    상기 로우 프레임에서 상기 클러스터를 차감하여 링크 프레임을 계산하는 단계;
    상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 검출하는 단계; 및
    상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀에 대응하는 상기 로우 프레임의 셀을 중심으로 상기 로우 프레임의 일정 영역 내의 셀들이 하나의 클러스터를 구성하도록 클러스터링하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  31. 제29항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출 방법은
    상기 로우 프레임에서 상기 클러스터를 차감하여 링크 프레임을 계산하는 단계;
    상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 검출하는 단계; 및
    상기 링크 프레임에서 최대값을 가진 셀을 중심으로 상기 링크 프레임의 일정 영역 내의 셀들이 하나의 클러스터를 구성하도록 클러스터링하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  32. 제23항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출 방법은
    사이의 거리가 기준거리 이하인 클러스터들을 하나의 클러스터로 병합하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  33. 제23항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출 방법은
    상기 클러스터의 크기고 기준 크기 이상이면 라지 터치임을 표시하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  34. 제23항에 있어서, 상기 좌표를 계산하는 단계는
    상기 클러스터에 대하여 가중치 평균을 이용하여 상기 클러스터의 중심점 좌표를 계산하고, 상기 중심점 좌표를 상기 접촉 위치의 좌표로 출력하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  35. 제34항에 있어서, 상기 좌표를 계산하는 단계는
    상기 클러스터를 구성하는 각각의 셀에 대하여 오프셋 값을 감산한 후에 상기 중심점 좌표를 계산하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  36. 제23항에 있어서, 상기 터치 패널부는
    하나의 레이어에 서로 이격되어 배치되고, 각각 대응하는 채널과 연결된 복수개의 터치 패드들을 구비하고,
    상기 복수개의 터치 패드들 각각은 상기 터치 패드부 상의 위치에 따라 서로 다른 크기를 가지고, 상기 복수개의 터치 패드들 각각과 상기 대응하는 채널을 연결하는 연결선들은 상기 터치 패드들의 상기 터치 패드부 상의 위치에 따라 서로 다른 길이를 가지는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  37. 제36항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출 방법은
    상기 측정값을 입력하여 노이즈를 제거하고, 상기 터치 패드들 각각의 크기 차이 및 상기 터치 패드들 각각과 상기 대응하는 채널을 연결하는 연결선들의 길이 차이를 보상하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
  38. 제23항에 있어서, 상기 접촉 위치 검출 방법은
    상기 접촉 위치의 좌표에서 노이즈를 제거하고, 상기 접촉 위치의 좌표를 정렬하여 출력하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 접촉 위치 검출 방법.
KR1020100103008A 2010-10-21 2010-10-21 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법 KR101201979B1 (ko)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100103008A KR101201979B1 (ko) 2010-10-21 2010-10-21 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법
CN2011800505458A CN103180804A (zh) 2010-10-21 2011-10-18 输入装置以及其触控位置检测方法
JP2013533779A JP5502244B2 (ja) 2010-10-21 2011-10-18 入力装置及びこの装置の接触位置検出方法
US13/824,611 US20130207934A1 (en) 2010-10-21 2011-10-18 Input device and touch position detecting method thereof
PCT/KR2011/007727 WO2012053792A2 (ko) 2010-10-21 2011-10-18 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법
TW100138065A TW201220158A (en) 2010-10-21 2011-10-20 Input device and touch position detecting method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100103008A KR101201979B1 (ko) 2010-10-21 2010-10-21 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120041516A KR20120041516A (ko) 2012-05-02
KR101201979B1 true KR101201979B1 (ko) 2012-11-15

Family

ID=45975711

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100103008A KR101201979B1 (ko) 2010-10-21 2010-10-21 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20130207934A1 (ko)
JP (1) JP5502244B2 (ko)
KR (1) KR101201979B1 (ko)
CN (1) CN103180804A (ko)
TW (1) TW201220158A (ko)
WO (1) WO2012053792A2 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11886665B2 (en) 2021-12-07 2024-01-30 Lx Semicon Co., Ltd. Touch sensing apparatus and touch sensing method

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI450147B (zh) * 2011-10-26 2014-08-21 Elan Microelectronics Corp 多觸碰物件之識別方法
KR101427783B1 (ko) * 2012-12-26 2014-08-07 크루셜텍 (주) 터치 검출 장치 및 터치 검출 방법
KR102092665B1 (ko) * 2013-02-21 2020-03-24 주식회사 실리콘웍스 차동 터치 센싱 시스템의 좌표 계산 장치 및 방법
KR102127861B1 (ko) * 2013-03-05 2020-06-30 삼성전자주식회사 개선된 터치 센싱 정확도를 가지는 캐패시티브 터치 시스템 및 그에 따른 좌표 추출 방법
TWI554926B (zh) * 2013-06-05 2016-10-21 晨星半導體股份有限公司 感測電極及其感測方法
CN103279244B (zh) * 2013-06-06 2016-08-31 敦泰科技有限公司 一种电容式触摸屏
CN103294321A (zh) * 2013-06-06 2013-09-11 敦泰科技有限公司 一种触控显示装置
CN103294319A (zh) * 2013-06-06 2013-09-11 敦泰科技有限公司 电容式触摸屏
CN104252255B (zh) * 2013-06-25 2018-05-08 晨星半导体股份有限公司 感测电极及其感测方法
CN105247456B (zh) * 2013-06-28 2018-06-26 英特尔公司 使用图形处理器的并行触摸点检测
JP6100144B2 (ja) * 2013-11-19 2017-03-22 アルプス電気株式会社 入力装置およびその情報入力方法
CN104731419B (zh) * 2013-12-19 2017-12-29 晨星半导体股份有限公司 感测电极结构
KR102242891B1 (ko) * 2013-12-30 2021-04-21 엘지디스플레이 주식회사 가우시안 합성 모델을 이용한 터치 좌표 산출 방법
KR102183655B1 (ko) * 2014-01-28 2020-11-27 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
JP6303575B2 (ja) * 2014-02-18 2018-04-04 日本電産リード株式会社 タッチパネルのタッチ位置検出方法、タッチパネル検査方法、及びタッチパネル検査装置
KR101539330B1 (ko) * 2014-04-30 2015-07-30 엘지디스플레이 주식회사 표시장치용 표시패널
JP6199825B2 (ja) * 2014-07-30 2017-09-20 Smk株式会社 静電容量式タッチパネルとその入力操作位置検出方法
KR101631095B1 (ko) * 2014-08-20 2016-06-16 크루셜텍 (주) 클러스터 단위로 터치 검출을 수행하는 터치 검출 방법, 장치 및 이를 포함하는 플렉서블 터치 스크린 패널
JP6650344B2 (ja) * 2015-10-02 2020-02-19 パナソニック株式会社 物体検出装置及び物体検出方法
KR102468288B1 (ko) * 2015-10-30 2022-11-17 엘지디스플레이 주식회사 터치 표시장치
JP6445964B2 (ja) * 2015-12-28 2018-12-26 アルプス電気株式会社 入力装置、座標算出方法及び座標算出プログラム
TWI608384B (zh) * 2016-11-28 2017-12-11 敦泰電子有限公司 觸控筆觸碰位置偵測方法及系統
CN108762653B (zh) * 2018-04-26 2020-10-30 北京集创北方科技股份有限公司 触碰定位方法、装置及电子设备
CN111435283A (zh) * 2019-01-11 2020-07-21 敦泰电子有限公司 一种操作意图确定方法、装置及电子设备

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7663607B2 (en) * 2004-05-06 2010-02-16 Apple Inc. Multipoint touchscreen
KR100532094B1 (ko) * 1999-01-30 2005-11-29 삼성전자주식회사 터치패널의 노이즈 감소 장치 및 방법
KR100675830B1 (ko) * 2004-03-11 2007-01-29 주식회사 애트랩 이미지 센서, 광 포인팅 장치 및 광 포인팅 장치의 움직임계산 방법
KR100866484B1 (ko) * 2006-05-17 2008-11-03 삼성전자주식회사 다접점 터치 센서를 이용한 손가락의 이동 감지 장치 및방법
US8169380B2 (en) * 2007-03-16 2012-05-01 Savant Systems, Llc System and method for driving and receiving data from multiple touch screen devices
CN102257457A (zh) * 2008-12-25 2011-11-23 富士通株式会社 计算机程序、输入装置以及输入方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11886665B2 (en) 2021-12-07 2024-01-30 Lx Semicon Co., Ltd. Touch sensing apparatus and touch sensing method

Also Published As

Publication number Publication date
TW201220158A (en) 2012-05-16
CN103180804A (zh) 2013-06-26
JP5502244B2 (ja) 2014-05-28
WO2012053792A2 (ko) 2012-04-26
WO2012053792A3 (ko) 2012-06-14
JP2013539884A (ja) 2013-10-28
KR20120041516A (ko) 2012-05-02
US20130207934A1 (en) 2013-08-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101201979B1 (ko) 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 검출 방법
US9703415B2 (en) Touch panel, touch positioning method thereof and display device
EP3033660B1 (en) Touch panel electrode structure for user grounding correction
US20120200530A1 (en) Input device, and method for detecting the contact position of the device
US8674962B2 (en) Touch coordinate calculation method for touch panel
CN109388296B (zh) 使用互电容和自电容感测数据的混合处理计算触摸坐标
JP5878598B2 (ja) 投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法、装置、プログラムおよび記録媒体
CN103984440B (zh) 触控轨迹估算方法
US9495046B2 (en) Parasitic capacitance filter for single-layer capacitive imaging sensors
US20190384458A1 (en) Touchscreen and Touch Display Apparatus
WO2019014858A1 (zh) 触摸检测方法和触摸检测装置
CN102830877B (zh) 一种单导电层触摸屏多点定位方法和装置
JP6303575B2 (ja) タッチパネルのタッチ位置検出方法、タッチパネル検査方法、及びタッチパネル検査装置
TWI507959B (zh) 配合自容式觸控面板之校正裝置及校正方法
US10288657B2 (en) Sensor and method for detecting a number of objects
US20120019268A1 (en) Capacitance sensor layout scheme for linearity improvement
WO2022017247A1 (zh) 触摸传感器、触摸检测装置和电子设备
TWI507960B (zh) 觸控系統及其座標修正方法
US9134862B2 (en) Parallelogram electrode touch panel
US8350825B2 (en) Touch panel and touching point detection method thereof
KR101500330B1 (ko) 터치 패널
KR101363876B1 (ko) 멀티 터치 입력 처리 방법 및 장치
JP7378898B2 (ja) 入力装置
TWI569192B (zh) 觸控系統及其信號處理方法
US20220253180A1 (en) Electrostatic-capacitive proximity detecting device and method for detecting position of to-be-detected object

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee