JP5878598B2 - 投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法、装置、プログラムおよび記録媒体 - Google Patents

Description

本発明は、投影型静電容量式タッチパネルの座標の計算に関し、特には、投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法、装置、プログラムおよび記録媒体に関する。

近年、投影型静電容量式タッチパネルにおけるタッチ座標の計算には、加重平均法が多く用いられる。このような計算方法は、様々な応用における精度要求を満たしている。しかしながら、タッチ位置がタッチパネルの周縁部に近い位置になると、このような計算方法により計算された周縁部の座標に大きい誤差が発生してしまい、ユーザインタフェースに対する誤タッチが発生することがある。

図１は、従来技術に係る投影型静電容量式タッチパネル上のタッチ座標を計算する計算方法を例示する模式図である。６行８列のセンサマトリックスを例にした場合、Ｐ１１、Ｐ１２およびＰ１３はそれぞれ三つのタッチ点を示し、各点それぞれの十字線中心は各点の実際の位置を示し、太線枠により囲まれた範囲はタッチ感知範囲を示すとする。

この場合、公知の座標計算方法により、Ｐ１１、Ｐ１２およびＰ１３の三点それぞれのｘ座標を計算すると、以下のようになる。

以上の計算結果によれば、非周縁部タッチ点（例えばＰ１２）の場合、従来の計算方法により算出されたｘ座標と実際のｘ座標との間の誤差が比較的小さいものの、周縁部タッチ点（例えばＰ１１およびＰ１３）の場合、従来の計算方法により算出されたｘ座標と実際のｘ座標との間には比較的大きい誤差が発生する、ことが分かる。

従来技術において、ｙ座標の計算方法はｘ座標の計算方法に類似している。したがって、従来の計算方法により算出された周縁部タッチ点のｙ座標と実際のｙ座標との間にも、比較的多きい誤差が同様に発生する。

発明の開示
本発明は上記の問題を解決するためになされたものであり、投影型静電容量式タッチパネルの周縁部にあるタッチ点座標の精度を向上できる投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法および装置を提供することをその目的とする。

本発明は、一方向に沿って配列された感知ラインＬ_１、Ｌ_２、……Ｌ_Ｍを含む（但し、Ｌ_１およびＬ_Ｍは周縁部感知ラインである）投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法に関するものである。前記方法は、周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得し、仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得し、前記仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度と前記周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度に対し加重平均をとることにより、座標値を取得する、ことを特徴とする。

本発明は、一方向に沿って配列された感知ラインＬ_１、Ｌ_２、……Ｌ_Ｍを含む（但し、Ｌ_１およびＬ_Ｍは周縁部感知ラインである）投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善装置に関するものである。当該装置は、周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得するための第１の取得モジュールと、仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得するための第２の取得モジュールと、前記仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度と前記周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度に対し加重平均をとることにより、座標値を取得するための演算モジュールとを含むことを特徴とする。

また、本発明は、投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善プログラムに関するものである。当該プログラムは、一方向に沿って配列されたＭ本の感知ラインＬ_１、Ｌ_２、……Ｌ_Ｍを含む（但し、Ｌ_１およびＬ_Ｍは周縁部感知ラインである）投影型静電容量式タッチパネルを備える設備に内蔵のプロセッサに、周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得し、仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得し、前記仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度と前記周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度に対し加重平均をとることにより、座標値を取得する手順を実行させることを特徴とする。

本発明は、上記のプログラムが記録された記録媒体に関するものである。
従来技術に係る加重平均法によりタッチ点の座標を計算する際に、座標算出のために、通常、少なくとも３本の感知ラインからのタッチ信号が必要となる。しかし、周縁部タッチ点の場合、２本の感知ラインからのタッチ信号しか得られない。これらの２本の感知ラインからのタッチ信号のみにより座標値を計算する場合（本願の背景技術にて言及した計算方法をご参照）、算出した座標値が実際の座標値より小さくなってしまう。

本発明の実施例においては、周縁部タッチ点の座標を計算する際に、外側に隣り合う仮想感知ラインを生成し、この仮想感知ラインを含む３本の感知ラインからのタッチ信号を用いて加重平均法により座標を確定する。それゆえ、算出された座標は実際の座標より小さくはならない。

従来技術に係る投影型静電容量式タッチパネル上のタッチ座標を計算する計算方法を例示的に示す模式図である。 本発明の実施例に係る投影型静電容量式タッチパネルを示す平面模式図である。 本発明の実施例に係る投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法の流れを模式的に示すフロチャートである。 本発明の実施例に係る投影型静電容量式タッチパネルを例示的に示す模式図である。 本発明の実施例に係る投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善装置を示す模式図である。

図２は、本発明の実施例に係る投影型静電容量式タッチパネルを示す平面模式図である。当該投影型静電容量式タッチパネルは、一方向（例えばｘ軸方向）に沿って配列されたＭ本の感知ラインであるＬ_１、Ｌ_２、……Ｌ_Ｍを含む。但し、Ｌ_１とＬ_Ｍは周縁部感知ラインである。Ｐ２１、Ｐ２２およびＰ２３はそれぞれ三つのタッチ点を示し、各点それぞれの十字線中心は各点の実際の位置を示し、太線枠により囲まれた範囲はタッチ感知範囲を示すとする。

図３は、本発明の実施例に係る投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法を模式的に示すフロチャートである。当該図に示すように、当該方法は以下のようなステップを含む。

ステップ（以下Ｓと略す）１０１：周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得する。

Ｓ１０２：仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得する。
本発明の実施例において、周縁部タッチ点の座標を計算する際に、複数本の仮想感知ラインを生成する。例えば、ｘ座標を計算する際に、周縁部タッチ点（例えばＰ２３）が感知ラインＬ_１上に位置し、且つＰ２３のタッチ感知範囲内に感知ラインＬ_１およびＬ_２が含まれている（このうち、Ｌ_１が感知できる信号が最も強い）とすれば、感知ラインＬ_１の左側に位置する仮想感知ラインＬ_０を生成し、仮想感知ラインＬ_０の仮想信号強度を取得する。

また、例えば、ｘ座標を計算する際に、周縁部タッチ点（例えばＰ２１）が感知ラインＬ_Ｍ上に位置し、且つＰ２１のタッチ感知範囲内に感知ラインＬ_Ｍ−１およびＬ_Ｍが含まれている（このうち、Ｌ_Ｍが感知できる信号が最も強い）とすれば、感知ラインＬ_Ｍの右側に位置する仮想感知ラインＬ_Ｍ＋１を生成し、仮想感知ラインＬ_Ｍ＋１の仮想信号強度を取得する。

以下、本発明の実施例において仮想信号強度を確定する方法について説明する。
感知ラインにより感知された信号強度は、理想的な状況において、有効タッチ面積に線形比例する。Ｐ２１点を例にする場合、Ｐ２１点のタッチ感知範囲は、仮想感知ラインＬ_Ｍ＋１上の面積と感知ラインＬ_Ｍ−１上の面積の和が感知ラインＬ_Ｍ上の面積に等しい。それゆえ、感知ラインＬ_Ｍにより感知された信号強度Ｓ_Ｍは、仮想感知ラインＬ_Ｍ＋１により感知された信号強度Ｓ_Ｍ＋１と感知ラインＬ_Ｍ−１により感知された信号強度Ｓ_Ｍ−１の和と等しくなる。即ち、Ｓ_Ｍ−１＋Ｓ_Ｍ＋１＝Ｓ_Ｍが成立する。したがって、感知ラインＬ_Ｍ＋１により感知された仮想信号強度はＳ_Ｍ−Ｓ_Ｍ−１により確定することができる。同様に、感知ラインＬ_０により感知された仮想信号強度はＳ_１−Ｓ_２により確定することができる。

しかしながら、あらゆるタッチパネルにとって、感知ラインにより感知された信号強度が有効タッチ面積に線形比例するとは言えない。それゆえ、本発明では、補正係数Ｒを用いて調整を行なうことにより、異なるタッチパネル設計に適応するようにしている。補正係数を用いる場合、感知ラインＬ_Ｍ＋１により感知された仮想信号強度はＲ・Ｓ_Ｍ−Ｓ_Ｍ−１により確定することができる。Ｒは、例えば０．５乃至１．５の値をとることができる。

同様に、感知ラインＬ_０により感知された仮想信号強度はＲ・Ｓ_１−Ｓ_２により確定することができる。

Ｓ１０３：仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度と周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度とに対し加重平均をとることにより、座標値を取得する。

具体的には、周縁部タッチ点が感知ラインＬ_１上に位置する場合、以下の公式（１）により周縁部タッチ点の座標値を算出することができる。

但し、ｘ_０は仮想感知ラインＬ_０の座標であり、ｘ_１は感知ラインＬ_１の座標であり、ｘ_２は感知ラインＬ_２の座標であり、Ｘは周縁部タッチ点のｘ軸座標値である。

周縁部タッチ点が感知ラインＬ_Ｍ上に位置する場合、以下の公式（２）により周縁部タッチ点の座標値を算出することができる。

但し、ｘ_Ｍ−１ は感知ラインＬ_Ｍ−１の座標であり、ｘ_Ｍは感知ラインＬ_Ｍの座標であり、ｘ_Ｍ＋１は仮想感知ラインＬ_Ｍ＋１の座標である。

以下、本発明に係る方法について、具体的な例を挙げて説明するようにする。
図４は、本発明の実施例に係る投影型静電容量式タッチパネルを例示的に示す模式図である。図４には、６行８列のセンサマトリックスが示されている。当該マトリックスは、ｘ方向に沿って配列された８本の感知ラインとｙ方向に沿って配列された６本の感知ラインを含む。Ｐ３１、Ｐ３２およびＰ３３はそれぞれ三つのタッチ点を示し、各点それぞれの十字線中心は各点の実際の位置を示し、太線枠により囲まれた範囲はタッチ感知範囲を示すとする。

非周縁部タッチ点（例えばＰ３２）に対しては、公知の加重平均法を用いることができる。例えば、Ｐ３２のタッチ感知範囲内の感知ラインＬ_４、Ｌ_５およびＬ_６の座標はそれぞれ４、５および６であり、これらの感知ラインにより感知された信号強度はそれぞれ０．７５、１および０．２５であるとすると、Ｐ３２のｘ座標は

になる。
左側の周縁部タッチ点Ｐ３３の場合、例えば、ｘ座標を計算する際に、まず、周縁部タッチ点Ｐ３３のタッチ感知範囲内の感知ラインＬ_１により感知された信号強度（例えば１）および感知ラインＬ_２により感知された信号強度（例えば０）を取得し、次に、仮想感知ラインＬ_０の仮想座標０および仮想信号強度（１−０）を取得する。本実施例では、Ｒ＝１とする。

上記のようにして取得した各信号強度および座標を公式（１）に代入すれば、周縁部タッチ点Ｐ３３のｘ座標値である

が得られる。このｘ座標値はＰ３３の実際位置座標０と等しい。
右側の周縁部タッチ点Ｐ３１の場合、例えば、ｘ座標を計算する際に、まず、周縁部タッチ点Ｐ３１のタッチ感知範囲内の感知ラインＬ_７により感知された信号強度（例えば０．２５）および感知ラインＬ_８により感知された信号強度（例えば０．２５）を取得し、次に、仮想感知ラインＬ_９の仮想座標９および仮想信号強度（１−０．２５）を取得する。本実施例では、Ｒ＝１とする。

上記のようにして取得した各信号強度および座標を公式（２）に代入すれば、周縁部タッチ点Ｐ３１のｘ座標値である

が得られる。このｘ座標値は、Ｐ３１の実際位置座標７．７５と等しい。
本発明の実施例に係る計算方法により算出されたｘ座標値と従来技術に係る加重平均法により算出されたｘ座標値を比較すると、本発明の実施例に係る計算方法により算出された周縁部タッチ点のｘ座標値は当該点の実際のｘ座標値と一致するようになり、ｘ座標の精度が向上されたことが分かる。

ｙ座標の計算方法は、ｘ座標の計算方法と同様であり、同様にｙ座標の精度を向上することができる。

以下、本発明に係る計算方法を用いた場合投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度が向上できる理由について説明する。

従来技術に係る加重平均法によりタッチ点の座標を計算する際には、座標確定のために、通常、少なくとも３本の感知ラインからのタッチ信号が必要となる。しかし、周縁部タッチ点の場合、２本の感知ラインからのタッチ信号しか得られない。これらの２本の感知ラインからのタッチ信号のみにより座標値を計算する場合（本願の背景技術にて言及した計算方法をご参照）、算出した座標値が実際の座標値より小さくなってしまう。

本発明の実施例においては、周縁部タッチ点の座標を計算する際に、外側に隣り合う仮想感知ラインを生成し、この仮想感知ラインを含む３本の感知ラインからのタッチ信号を用いて加重平均法により座標を確定する。なお、周縁部タッチ点のタッチ感知範囲のうち、３本の感知ラインそれぞれ上に位置する各部分の面積関系により、仮想感知ラインの仮想信号強度を確定する。例えば、周縁部タッチ点が前記感知ラインＬ_１上に位置する場合、仮想感知ラインＬ_０の仮想信号強度をＲ・Ｓ_１−Ｓ_２により確定し、周縁部タッチ点が感知ラインＬ_Ｍ上に位置する場合、仮想感知ラインＬ_Ｍ＋１の仮想信号強度をＲ・Ｓ_Ｍ−Ｓ_Ｍ−１により確定する。それゆえ、算出された座標は実際の座標より小さくならない。

また、補正係数Ｒにより仮想信号強度を調整することで、算出された座標が様々なタッチパネル設計に適応できるようになり、座標の精度をさらに改善することができる。

図５は、本発明の実施例に係る投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善装置を示す模式図である。当該投影型静電容量式タッチパネルは、一方向に沿って配列されたＭ本の感知ラインＬ_１、Ｌ_２、……Ｌ_Ｍを含む。但し、Ｌ_１とＬ_Ｍは周縁部感知ラインである。当該装置は、第１の取得モジュール４１、第２の取得モジュール４２および演算モジュール４３を含む。当該第１の取得モジュール４１は、周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得するためのものであり、当該第２の取得モジュール４２は、仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得するためのものである。演算モジュール４３は、第１の取得モジュール４１および第２の取得モジュール４２と接続され、第２の取得モジュール４２により取得された仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度と第１の取得モジュール４１により取得された周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度との加重平均をとることにより座標値を取得するためのものである。

周縁部タッチ点が感知ラインＬ_１上に位置し、且つＬ_１およびＬ_２が周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内に位置する場合、仮想感知ラインはＬ_０になり、第２の取得モジュール４２により取得される仮想信号強度はＲ・Ｓ_１−Ｓ_２になる。

周縁部タッチ点が感知ラインＬ_Ｍ上に位置し、且つＬ_Ｍ−１およびＬ_Ｍが周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内に位置する場合、仮想感知ラインはＬ_Ｍ＋１になり、仮想信号強度はＲ・Ｓ_Ｍ−Ｓ_Ｍ−１になる。

本発明の一実施例によれば、当該投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善装置は、投影型静電容量式タッチパネルを備える設備（例えば、移動端末、ノートパソコン、デスクトップパソコン）に内蔵のプロセッサ（例えばＣＰＵ）により実現することができる。本発明の実施例に係る投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法は、ソフトウェアにより実現することができる。例えば、投影型静電容量式タッチパネルを備える設備の記憶モジュールに組込まれたファームウェア（ｆｉｒｍｗａｒｅ）として開発され、プロセッサが当該ファームウェアにしたがって本発明に係る精度改善方法を実行することができる。

以上、幾つかの実施例を参照しながら本発明について説明したが、上記の実施例において用いた用語は、本発明を説明するための例示的なものであって、本発明に対する限定として捕らえてはいけない。本発明は、発明の精神および趣旨を遺脱してない限り、様々な形態により具体的に実施可能であるため、上記の実施例は、その具体的な内容に限定されず、添付の特許請求の範囲により限定される趣旨及び範囲内で広く解釈すべきであるので、特許請求の範囲またはその均等の範囲内のすべての変形および改良は添付の特許請求の範囲に含まれる、と理解すべきである。

Claims (10)

1. 一方向に沿って配列されたＭ本の感知ラインＬ_１、Ｌ_２、……Ｌ_Ｍを含む（但し、Ｌ_１およびＬ_Ｍは周縁部感知ラインである）投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法において、
   周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得し、
   仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得し、
   前記仮想感知ラインの前記仮想座標および前記仮想信号強度と前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度に対し加重平均をとることにより、座標値を取得し、
   前記周縁部タッチ点が前記感知ラインＬ _１ 上に位置し、前記感知ラインＬ _１ および前記感知ラインＬ _２ が前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内に位置し、仮想感知ラインはＬ _０ になり、且つ、前記タッチ感知範囲は、前記仮想感知ラインＬ _０ 上の面積と前記感知ラインＬ ₂ 上の面積の和が前記感知ラインＬ ₁ 上の面積に等しい場合、前記仮想信号強度はＲ・Ｓ _１ −Ｓ _２ になる（但し、Ｓ _１ は前記感知ラインＬ _１ により感知された信号強度であり、Ｓ _２ は前記感知ラインＬ _２ により感知された信号強度であり、Ｒは補正係数である）
   ことを特徴とする投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法。
2. 前記周縁部タッチ点の座標値は
   
   である（但し、ｘ_０は前記仮想感知ラインＬ_０の座標であり、ｘ_１は前記感知ラインＬ_１の座標であり、ｘ_２は前記感知ラインＬ_２の座標である） ことを特徴とする請求項１に記載の投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法。
3. 一方向に沿って配列されたＭ本の感知ラインＬ _１ 、Ｌ _２ 、……Ｌ _Ｍ を含む（但し、Ｌ _１ およびＬ _Ｍ は周縁部感知ラインである）投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法において、
   周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得し、
   仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得し、
   前記仮想感知ラインの前記仮想座標および前記仮想信号強度と前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度に対し加重平均をとることにより、座標値を取得し、
   前記周縁部タッチ点が前記感知ラインＬ _Ｍ 上に位置し、前記感知ラインＬ _Ｍ−１ および前記感知ラインＬ _Ｍ が前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内に位置し、仮想感知ラインはＬ _Ｍ＋１ になり、且つ、前記タッチ感知範囲は、前記仮想感知ラインＬ _Ｍ＋１ 上の面積と前記感知ラインＬ _Ｍ−１ 上の面積の和が前記感知ラインＬ _Ｍ 上の面積に等しい場合、前記仮想信号強度はＲ・Ｓ _Ｍ −Ｓ _Ｍ−１ になる（但し、Ｓ _Ｍ は前記感知ラインＬ _Ｍ により感知された信号強度であり、Ｓ _Ｍ−１ は前記感知ラインＬ _Ｍ−１ により感知された信号強度であり、Ｒは補正係数である）
   ことを特徴とする投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法。
4. 前記周縁部タッチ点の座標値は
   である（但し、ｘ_Ｍ−１は前記感知ラインＬ_Ｍ−１の座標であり、ｘ_Ｍは前記感知ラインＬ_Ｍの座標であり、ｘ_Ｍ＋１は前記仮想感知ラインＬ_Ｍ＋１の座標である）
   ことを特徴とする請求項３に記載の投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法。
5. Ｒの値は０．５〜１．５である
   ことを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善方法。
6. 一方向に沿って配列された感知ラインＬ_１、Ｌ_２、……Ｌ_Ｍを含む（但し、Ｌ_１およびＬ_Ｍは周縁部感知ラインである）投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善装置において、
   周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得するための第１の取得モジュールと、
   仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得するための第２の取得モジュールと、
   前記仮想感知ラインの前記仮想座標および前記仮想信号強度と前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度に対し加重平均をとることにより、座標値を取得するための演算モジュールと
   を含み、
   前記周縁部タッチ点が前記感知ラインＬ _１ 上に位置し、前記感知ラインＬ _１ および前記感知ラインＬ _２ が前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内に位置し、仮想感知ラインはＬ _０ になり、且つ、前記タッチ感知範囲は、前記仮想感知ラインＬ _０ 上の面積と前記感知ラインＬ ₂ 上の面積の和が前記感知ラインＬ ₁ 上の面積に等しい場合、前記仮想信号強度はＲ・Ｓ _１ −Ｓ _２ になる（但し、Ｓ _１ は前記感知ラインＬ _１ により感知された信号強度であり、Ｓ _２ は前記感知ラインＬ _２ により感知された信号強度であり、Ｒは補正係数である）
   ことを特徴とする投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善装置。
7. 一方向に沿って配列された感知ラインＬ _１ 、Ｌ _２ 、……Ｌ _Ｍ を含む（但し、Ｌ _１ およびＬ _Ｍ は周縁部感知ラインである）投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善装置において、
   周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得するための第１の取得モジュールと、
   仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得するための第２の取得モジュールと、
   前記仮想感知ラインの前記仮想座標および前記仮想信号強度と前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度に対し加重平均をとることにより、座標値を取得するための演算モジュールと
   を含み、
   前記周縁部タッチ点が前記感知ラインＬ _Ｍ 上に位置し、前記感知ラインＬ _Ｍ−１ および前記感知ラインＬ _Ｍ が前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内に位置し、仮想感知ラインはＬ _Ｍ＋１ になり、且つ、前記タッチ感知範囲は、前記仮想感知ラインＬ _Ｍ＋１ 上の面積と前記感知ラインＬ _Ｍ−１ 上の面積の和が前記感知ラインＬ _Ｍ 上の面積に等しい場合、前記仮想信号強度はＲ・Ｓ _Ｍ −Ｓ _Ｍ−１ になる（但し、Ｓ _Ｍ は前記感知ラインＬ _Ｍ により感知された信号強度であり、Ｓ _Ｍ−１ は前記感知ラインＬ _Ｍ−１ により感知された信号強度であり、Ｒは補正係数である）
   ことを特徴とする投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善装置。
8. 一方向に沿って配列されたＭ本の感知ラインＬ_１、Ｌ_２、……Ｌ_Ｍを含む（但し、Ｌ_１およびＬ_Ｍは周縁部感知ラインである）投影型静電容量式タッチパネルを備える設備に内蔵のプロセッサに、
   周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得し、
   仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得し、
   前記仮想感知ラインの前記仮想座標および前記仮想信号強度と前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度に対し加重平均をとることにより、
   座標値を取得する手順を実行させ、
   前記周縁部タッチ点が前記感知ラインＬ _１ 上に位置し、前記感知ラインＬ _１ および前記感知ラインＬ _２ が前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内に位置し、仮想感知ラインはＬ _０ になり、且つ、前記タッチ感知範囲は、前記仮想感知ラインＬ _０ 上の面積と前記感知ラインＬ ₂ 上の面積の和が前記感知ラインＬ ₁ 上の面積に等しい場合、前記仮想信号強度はＲ・Ｓ _１ −Ｓ _２ になる（但し、Ｓ _１ は前記感知ラインＬ _１ により感知された信号強度であり、Ｓ _２ は前記感知ラインＬ _２ により感知された信号強度であり、Ｒは補正係数である）
   ことを特徴とする投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善プログラム。
9. 一方向に沿って配列されたＭ本の感知ラインＬ _１ 、Ｌ _２ 、……Ｌ _Ｍ を含む（但し、Ｌ _１ およびＬ _Ｍ は周縁部感知ラインである）投影型静電容量式タッチパネルを備える設備に内蔵のプロセッサに、
   周縁部タッチ点のタッチ感知範囲内の感知ラインにより感知された信号強度を取得し、
   仮想感知ラインの仮想座標および仮想信号強度を取得し、
   前記仮想感知ラインの前記仮想座標および前記仮想信号強度と前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内の感知ラインの座標および感知された信号強度に対し加重平均をとることにより、
   座標値を取得する手順を実行させ、
   前記周縁部タッチ点が前記感知ラインＬ _Ｍ 上に位置し、前記感知ラインＬ _Ｍ−１ および前記感知ラインＬ _Ｍ が前記周縁部タッチ点の前記タッチ感知範囲内に位置し、仮想感知ラインはＬ _Ｍ＋１ になり、且つ、前記タッチ感知範囲は、前記仮想感知ラインＬ _Ｍ＋１ 上の面積と前記感知ラインＬ _Ｍ−１ 上の面積の和が前記感知ラインＬ _Ｍ 上の面積に等しい場合、前記仮想信号強度はＲ・Ｓ _Ｍ −Ｓ _Ｍ−１ になる（但し、Ｓ _Ｍ は前記感知ラインＬ _Ｍ により感知された信号強度であり、Ｓ _Ｍ−１ は前記感知ラインＬ _Ｍ−１ により感知された信号強度であり、Ｒは補正係数である）
   ことを特徴とする投影型静電容量式タッチパネルの周縁部座標の精度改善プログラム。
10. 請求項９に記載のプログラムが記録された記録媒体。