JP2015141282A - 計測装置及び計測方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 計測装置1は、ポンプ光Pとストークス光STを発生する光源部10と、ポンプ光Pのパルスを伸長してストークス光STのパルス幅をポンプ光Pのパルス幅よりも短くするパルス伸長部30と、ストークス光STを分割する光分割部41と、パルス伸長されたポンプ光Pと一方のストークス光SMとを被検体S上で走査させる光走査部50と、被検体Sからのアンチストークス光ASを検出する第1の光検出部70と、他方のストークス光SSと被検体Sからのストークス光SMの反射光との干渉光を検出する第2の光検出部72とを含み、光源部10の光パラメトリック発振器12は、光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有する。
【選択図】 図2
Description
ポンプ光を発生する光源と、前記ポンプ光の第二高調波を励起光とする光パラメトリック発振器とを有し、前記光パラメトリック発振器からのアイドラー光をストークス光として発生する光源部と、
前記ポンプ光のパルスを伸長して、前記ストークス光のパルス幅を前記ポンプ光のパルス幅よりも短くするパルス伸長部と、
前記ストークス光を分割する光分割部と、
パルス伸長された前記ポンプ光と前記光分割部で分割された一方のストークス光とを前記被検体上で走査させる光走査部と、
前記被検体からのアンチストークス光を検出して検出信号を出力する第1の光検出部と、
前記光分割部で分割された他方のストークス光と、前記被検体からのストークス光の反射光との干渉光を検出して検出信号を出力する第2の光検出部と、
前記第1の光検出部からの検出信号と、前記第2の光検出部からの検出信号に基づいて、画像生成処理を行う信号処理部とを含み、
前記光パラメトリック発振器は、
光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有することを特徴とする。
ポンプ光を発生する手順と、
前記ポンプ光の第二高調波を励起光とする光パラメトリック発振器からのアイドラー光をストークス光として発生する手順と、
前記ポンプ光のパルスを伸長して、前記ストークス光のパルス幅を前記ポンプ光のパルス幅よりも短くするパルス伸長手順と、
前記ストークス光を分割する光分割手順と、
パルス伸長された前記ポンプ光と前記光分割手順で分割された一方のストークス光とを前記被検体上で走査させる光走査手順と、
前記被検体からのアンチストークス光を検出して検出信号を出力する第1の光検出手順と、
前記光分割手順で分割された他方のストークス光と、前記被検体からのストークス光の反射光との干渉光を検出して検出信号を出力する第2の光検出手順と、
前記第1の光検出手順で出力した検出信号と、前記第2の光検出手順で出力した検出信号に基づいて、画像生成処理を行う信号処理手順とを含み、
前記光パラメトリック発振器は、
光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有することを特徴とする。
パルス伸長された前記ポンプ光は、ピコ秒パルスレーザー光であり、前記ストークス光は、フェムト秒パルスレーザー光であってもよい。
前記光パラメトリック発振器からのシグナル光の波長を変調する光変調部を更に含み、
前記第1の光検出部が、
波長変調された前記シグナル光と、前記被検体からのアンチストークス光との干渉光を検出して検出信号を出力してもよい。
前記光パラメトリック発振器からシグナル光の波長を変調する光変調手順を更に含み、
前記第1の光検出手順では、
波長変調された前記シグナル光と、前記被検体からのアンチストークス光との干渉光を検出して検出信号を出力してもよい。
前記被検体からのアンチストークス光を増幅する光増幅部を更に含み、
前記第1の光検出部が、
波長変調された前記シグナル光と、増幅された前記アンチストークス光との干渉光を検出してもよい。
前記被検体からのアンチストークス光を増幅する光増幅手順を更に含み、
前記第1の光検出手順では、
波長変調された前記シグナル光と、増幅された前記アンチストークス光との干渉光を検出してもよい。
れる構成の全てが、本発明の必須構成要件であるとは限らない。
図2に、第1の実施の形態に係る計測装置の構成の一例を示す。計測装置1は、被検体(試料)Sに照射するポンプ光及びストークス光を発生する光源部10と、ポンプ光及びストークス光の被検体Sへの照射タイミングを調整するための光遅延部20と、ポンプ光のパルス幅を伸長してストークス光のパルス幅をポンプ光のパルス幅よりも短くするパルス伸長部30と、OCT参照光となるストークス光と被検体Sからのストークス光の反射光とを干渉させるための光干渉部40と、ポンプ光とストークス光とを被検体S上で走査させる光走査部50と、ポンプ光とストークス光とを被検体S上に集光させる対物レンズ60と、被検体Sからのアンチストークス光(CARS光)を検出する第1の光検出部70と、OCT参照光となるストークス光と被検体Sからのストークス光の反射光との干渉光を検出する第2の光検出部72と、信号処理部90と、表示部92とを含む。
レーザー光源11からの基本波が、ポンプ光パルスとして取り出される。
射する。
ングを示す。図4に示すように、ストークス光パルスは、f秒(数十f秒〜数百f秒)のパルス幅を有し、ポンプ光パルスは、パルス伸長部30でパルス幅が伸長されることで、p秒(数p秒〜数十p秒)のパルス幅を有する。また、ストークス光パルスとポンプ光パルスは、パルスの立ち上がりが略一致するように、光遅延部20でポンプ光の光路長が調整されている。
図6に、第2の実施の形態に係る計測装置の構成の一例を示す。なお、図6において、図2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付し、その説明を適宜省略する。
ハーフミラー、70 第1の光検出部、72 第2の光検出部、80 ダイクロイックミラー、82,83 ミラー、84 光変調部、86 光増幅部、90 信号処理部、9
2 表示部
Claims (8)
- ポンプ光を発生する光源と、前記ポンプ光の第二高調波を励起光とする光パラメトリック発振器とを有し、前記光パラメトリック発振器からのアイドラー光をストークス光として発生する光源部と、
前記ポンプ光のパルスを伸長して、前記ストークス光のパルス幅を前記ポンプ光のパルス幅よりも短くするパルス伸長部と、
前記ストークス光を分割する光分割部と、
パルス伸長された前記ポンプ光と前記光分割部で分割された一方のストークス光とを前記被検体上で走査させる光走査部と、
前記被検体からのアンチストークス光を検出して検出信号を出力する第1の光検出部と、
前記光分割部で分割された他方のストークス光と、前記被検体からのストークス光の反射光との干渉光を検出して検出信号を出力する第2の光検出部と、
前記第1の光検出部からの検出信号と、前記第2の光検出部からの検出信号に基づいて、画像生成処理を行う信号処理部とを含み、
前記光パラメトリック発振器は、
光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有する、計測装置。 - 請求項1において、
パルス伸長された前記ポンプ光は、ピコ秒パルスレーザー光であり、前記ストークス光は、フェムト秒パルスレーザー光である、計測装置。 - 請求項1又は2において、
前記光パラメトリック発振器からのシグナル光の波長を変調する光変調部を更に含み、
前記第1の光検出部が、
波長変調された前記シグナル光と、前記被検体からのアンチストークス光との干渉光を検出して検出信号を出力する、計測装置。 - 請求項3において、
前記被検体からのアンチストークス光を増幅する光増幅部を更に含み、
前記第1の光検出部が、
波長変調された前記シグナル光と、増幅された前記アンチストークス光との干渉光を検出する、計測装置。 - ポンプ光を発生する手順と、
前記ポンプ光の第二高調波を励起光とする光パラメトリック発振器からのアイドラー光をストークス光として発生する手順と、
前記ポンプ光のパルスを伸長して、前記ストークス光のパルス幅を前記ポンプ光のパルス幅よりも短くするパルス伸長手順と、
前記ストークス光を分割する光分割手順と、
パルス伸長された前記ポンプ光と前記光分割手順で分割された一方のストークス光とを前記被検体上で走査させる光走査手順と、
前記被検体からのアンチストークス光を検出して検出信号を出力する第1の光検出手順と、
前記光分割手順で分割された他方のストークス光と、前記被検体からのストークス光の反射光との干渉光を検出して検出信号を出力する第2の光検出手順と、
前記第1の光検出手順で出力した検出信号と、前記第2の光検出手順で出力した検出信号に基づいて、画像生成処理を行う信号処理手順とを含み、
前記光パラメトリック発振器は、
光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有する、計測方法。 - 請求項5において、
パルス伸長された前記ポンプ光は、ピコ秒パルスレーザー光であり、前記ストークス光は、フェムト秒パルスレーザー光である、計測方法。 - 請求項5又は6において、
前記光パラメトリック発振器からのシグナル光の波長を変調する光変調手順を更に含み、
前記第1の光検出手順では、
波長変調された前記シグナル光と、前記被検体からのアンチストークス光との干渉光を検出して検出信号を出力する、計測方法。 - 請求項7において、
前記被検体からのアンチストークス光を増幅する光増幅手順を更に含み、
前記第1の光検出手順では、
波長変調された前記シグナル光と、増幅された前記アンチストークス光との干渉光を検出する、計測方法。
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