JP2015137953A - ホットメルト検査装置及び方法 - Google Patents

Abstract

【課題】資材の状態、移動速度、環境温度、設定等に左右されず、ホットメルトの良否を正しく検査することができるホットメルト検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】同一量及び同一形状に塗布されるように設定された同一面上の複数のホットメルト４１ａ〜４１ｆを１つのグループとし、当該グループ内の１つのホットメルト４１ａを基準とし、基準のホットメルト４１ａの面積の画素数に対する基準以外のホットメルト４１ｂ〜４１ｆの面積の画素数の相対的な比又は差分を求め、求めた比又は差分に基づいて、複数のホットメルト４１ａ〜４１ｆの良否を判定する。
【選択図】図２

Description

本発明は、段ボール箱等の箱体の接着に用いられるホットメルト接着剤の検査を行うホットメルト検査装置及び方法に関する。

ホットメルト接着剤（以降、ホットメルトと呼ぶ。）の検査装置として、従来は、赤外線カメラを用いた赤外線画像検査装置が用いられている（例えば、下記の特許文献１）。

特開２００４−２０２４３号公報

上記のような赤外線画像検査装置では、赤外線カメラから取り込んだ段ボール箱の画像に対し、予め設定された閾値温度以上の温度を持つ画素をホットメルト塗布部と認識し、認識したホットメルト部の面積等を求め、求めた値と予め設定された値とを比較することにより、ホットメルトが正常に塗布されているか否かを検査している。

ところが、上記の赤外線画像検査装置では、赤外線を用いて、ホットメルト塗布部を認識しているため、資材の状態、移動速度、環境温度等の変化により、ホットメルト塗布部と認識する画素が大きく変化し、信頼性が低かった。

例えば、ホットメルト塗布部の温度は、段ボールの上から画像を撮って、その認識を行っているため、段ボールの内側の温度、湿度等の変化や材質による熱伝導率の違いに影響されて、同じ量のホットメルトが塗布されていても、認識されたホットメルト部の画像は大きく変化する。このように、段ボールの状態の変化に影響を受けてしまう。

又、段ボール箱は、収容する製品の流れてくる量に応じて、その移動速度が変化しており、ノズルから噴射されるホットメルトの量は、移動速度が低速になるほど長い時間噴射されるため、ホットメルトの量が移動速度に応じて変化する。そのため、ホットメルト塗布部と認識した画素の面積が正常な範囲であっても、実際のホットメルトの量が正常であると判断できているとは言い難く、ホットメルトの量が適切であるかを判定することが難しく、ホットメルトの有無の検査にしかならなかった。このように、資材の移動速度の変化にも影響を受けてしまう。

又、検査のためには、ホットメルト塗布部と判断する閾値温度、そして、ホットメルトの量が適切であると判定する画素数の許容範囲を予め登録しておく必要があるが、例えば、冬場に設定した閾値温度や許容範囲を夏場にそのまま使用すると、環境温度により検出される画素数が大きく異なるため、結果として、不良品を判定することができず、そのまま、ラインに流してしまうおそれがある。逆に、夏場に設定した閾値温度や許容範囲を冬場にそのまま使用すると、結果として、正常品を不良品と判定する誤検出が頻発するおそれがある。この傾向は、季節だけで無く、天候の変化や朝晩といった短時間でも現れる。このように、環境温度の変化にも影響を受けてしまう。

そこで、季節や天候や朝晩の環境温度に応じて、閾値温度や許容範囲をその都度変更することも考えられるが、実際の運用面では支障が生じる。これは、塗布位置や塗布長さを変更した場合でも同様である。

更に、ホットメルトを塗布するノズルは、使用回数や使用方法により、ノズル詰まりが発生してくる。ノズル詰まりにより、塗布するホットメルトの量は減少してくるので、清掃を行わず、そのまま継続使用していると、必然的に、塗布量不足となり、異常が発生する。そのため、製品の不良品が生じたり、生産中に、突然、清掃作業が必要となり、製造期日の遅れや製品廃棄が生じたりするおそれがある。

このようなことから、ホットメルトの検査装置には、以下のようなことが求められている。
（１）資材の状態や移動速度等に左右されず、ホットメルトの検査が行えること。
（２）天候、季節、昼夜等の環境温度に左右されず、ホットメルトの検査が行えること。
（３）閾値等の設定を頻繁に行わなくても、ホットメルトの検査が行えること。
（４）ホットメルトの誤検出を減らすこと。
（５）ホットメルトの量が判別できること。

本発明は上記課題に鑑みなされたもので、資材の状態、移動速度、環境温度、設定等に左右されず、ホットメルトの良否を正しく検査することができるホットメルト検査装置及び方法を提供することを目的とする。

上記課題を解決する第１の発明に係るホットメルト検査装置は、
紫外光により発光する発光材入りのホットメルトを箱体の接着に用いる際に、前記箱体に塗布した複数の前記ホットメルトを検査するホットメルト検査装置であって、
複数の前記ホットメルトに紫外光を照射する光源手段と、
前記光源手段から前記紫外光が照射された複数の前記ホットメルトの発光を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で撮像された画像を解析処理し、複数の前記ホットメルトの検査を行う処理手段とを備え、
前記処理手段は、
複数の前記ホットメルトの画像の解析処理により、各々の前記ホットメルトの大きさを示す画素数を求め、
同一量及び同一形状に塗布されるように設定された複数の前記ホットメルトを１つのグループとし、前記１つのグループ内の１つの前記ホットメルトを基準とし、基準の前記ホットメルトの画素数に対する基準以外の前記ホットメルトの画素数の相対的な比又は差分を求め、求めた前記比又は前記差分に基づいて、複数の前記ホットメルトの良否を判定する
ことを特徴とする。

上記課題を解決する第２の発明に係るホットメルト検査装置は、
上記第１の発明に記載のホットメルト検査装置において、
前記処理手段は、
前記大きさとして、前記ホットメルトの面積、縦長さ及び横長さのいずれか１つ以上を用いる
ことを特徴とする。

上記課題を解決する第３の発明に係るホットメルト検査装置は、
上記第１又は第２の発明に記載のホットメルト検査装置において、
前記処理手段は、
１つの前記箱体内の同一面上の複数の前記ホットメルトを、前記１つのグループとする
ことを特徴とする。

上記課題を解決する第４の発明に係るホットメルト検査装置は、
上記第１又は第２の発明に記載のホットメルト検査装置において、
前記処理手段は、
異なる前記箱体同士の同一位置の前記ホットメルトを、前記１つのグループとする
ことを特徴とする。

上記課題を解決する第５の発明に係るホットメルト検査方法は、
紫外光により発光する発光材入りのホットメルトを箱体の接着に用いる際に、前記箱体に塗布した複数の前記ホットメルトを検査するホットメルト検査方法であって、
複数の前記ホットメルトに紫外光を照射して、前記紫外光が照射された複数の前記ホットメルトの発光を撮像し、
撮像された複数の前記ホットメルトの画像を解析処理して、各々の前記ホットメルトの大きさを示す画素数を求め、
同一量及び同一形状に塗布されるように設定された複数の前記ホットメルトを１つのグループとし、前記１つのグループ内の１つの前記ホットメルトを基準とし、基準の前記ホットメルトの画素数に対する基準以外の前記ホットメルトの画素数の相対的な比又は差分を求め、求めた前記比又は前記差分に基づいて、複数の前記ホットメルトの良否を判定することにより、複数の前記ホットメルトの検査を行う
ことを特徴とする。

上記課題を解決する第６の発明に係るホットメルト検査方法は、
上記第５の発明に記載のホットメルト検査方法において、
前記大きさとして、前記ホットメルトの面積、縦長さ及び横長さのいずれか１つ以上を用いる
ことを特徴とする。

上記課題を解決する第７の発明に係るホットメルト検査方法は、
上記第５又は第６の発明に記載のホットメルト検査方法において、
１つの前記箱体内の同一面上の複数の前記ホットメルトを、前記１つのグループとする
ことを特徴とする。

上記課題を解決する第８の発明に係るホットメルト検査方法は、
上記第５又は第６の発明に記載のホットメルト検査方法において、
異なる前記箱体同士の同一位置の前記ホットメルトを、前記１つのグループとする
ことを特徴とする。

本発明によれば、従来のように、天候、季節、昼夜等の環境に左右されたり、資材の状態、移動速度に左右されたりすることはなく、又、撮像手段と検査対象物の箱体との測定距離が変動しても、その変動に左右されることはなく、更に、閾値の設定を頻繁に変更しなくても、ホットメルトの検査を行うことができ、グループ内の複数のホットメルトの量が相対的に適正であるかどうか判定することができる。そして、ノズル詰まりにより、一部のホットメルトの量が変化した場合には、相対的な比較、判定を行うことにより、確実に異常を検出することができる。

本発明に係るホットメルト検査装置の実施形態の一例を示す概略構成図である。 図１に示したホットメルト検査装置で実施するホットメルト検査方法を説明する図である。 ホットメルトを塗布する箱体を説明する斜視図である。

以下、図１〜図３を参照して、本発明に係るホットメルト検査装置及び方法の実施形態を説明する。

［実施例１］
図１は、本実施例のホットメルト検査装置を示す概略構成図であり、図２は、図１に示したホットメルト検査装置で実施するホットメルト検査方法を説明する図である。又、図３は、ホットメルトを塗布する箱体を説明する斜視図である。

最初に、図３を参照して、ホットメルトを塗布し、接着して形成する箱体について説明する。図３に示す箱体３０は、例えば、段ボール等により一枚の箱展開シートを作製し、その箱展開シートを折り曲げ、折り曲げた際に重なる部分にホットメルトを塗布し、重なる部分同士を接着して形成したものである。

具体的には、箱体３０のトップパネル部３１とトップパネル部３１に重ねるトップフラップ面３２とにおいて、トップフラップ面３２に複数のホットメルト４１ａ〜４１ｆを塗布し、トップパネル部３１とトップフラップ面３２とを接着しており、又、内サイドフラップ面３３、３４と内サイドフラップ面３３、３４に重ねる外サイドフラップ面３５、３６とにおいて、内サイドフラップ面３３、３４に複数のホットメルト４２ａ〜４２ｄを塗布し、内サイドフラップ面３３、３４と外サイドフラップ面３５、３６とを接着して、箱体３０を形成している。なお、図３においては、図中右側の内サイドフラップ面３３、３４、外サイドフラップ面３５、３６、ホットメルト４２ａ〜４２ｄを図示しているが、その反対側（図中左側）も同様である。

そして、本実施例においては、箱体３０を形成する際の接着に用いるホットメルト４１ａ〜４１ｆ、ホットメルト４２ａ〜４２ｄとして、紫外光（ＵＶ（Ultra Violet）光）により発光する発光材（例えば、蛍光剤、蛍光増白剤等）入りの熱可塑性接着剤を用いている。

そのため、本実施例のホットメルト検査装置は、図１に示すように、ホットメルト４２ａ〜４２ｄにＵＶ光を照射するＵＶ光源装置１１（光源手段）と、ＵＶ光が照射されたホットメルト４２ａ〜４２ｄの発光（可視光）を撮像する撮像装置１２（撮像手段）と、撮像したホットメルト４２ａ〜４２ｄの画像を解析処理して、箱体３０に塗布したホットメルト４２ａ〜４２ｄの検査を行う処理装置１３（処理手段）とを有する。

本実施例のホットメルト検査装置において、撮像装置１２としては、可視光を撮像するＣＣＤ（Charge-Coupled Device）カメラやＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）カメラ等の一般的な電子撮像素子で良く、従来のように、赤外線カメラのような特殊なカメラを用いる必要はない。

この撮像装置１２は、ホットメルトを塗布した検査面（図１中のトップフラップ面３２や内サイドフラップ面３３、３４）に垂直に設置することが望ましい。このような設置が不可能な場合、何の補正もしなければ、同じ量のホットメルトが塗布されていても、撮像装置と検査面（検査面上のホットメルト）との間に生じる離隔距離の違いによって、検査誤差が生じることとなる。このような場合には、垂直に設置した撮像装置で撮像した検査対象（ホットメルト）の測定値（例えば、面積の画素数）を１００％基準とし、垂直に設置できなかった撮像装置で撮像した同じ検査対象の測定値を１００％基準へ補正する補正係数を求め、求めた補正係数を用いて補正するようにすれば良い（下記式１参照）。

更には、ホットメルトガン等の機械装置、温熱環境、設置場所の照明環境が経年変化した場合の対応係数（通常＝１．００）を考慮しても良い（下記式２参照）。下記式１、式２は、撮像範囲が広いために、撮像装置１２を複数用いる場合にも適用可能である。

補正後の測定値＝測定値×補正係数 ・・・（式１）
補正後の測定値＝測定値×補正係数×対応係数 ・・・（式２）

なお、図１では、ホットメルト４２ａ〜４２ｄの検査を行うホットメルト検査装置を図示したが、ホットメルト４１ａ〜４１ｆの検査を行うホットメルト検査装置も同様の構成である。

例えば、箱体３０になる箱展開シートは、ベルトコンベア２０により移動されて、移動しながら箱体３０に形成されていく。具体的に説明すると、箱体３０のトップフラップ面３２に複数のホットメルト４１ａ〜４１ｆを塗布し、トップパネル部３１とトップフラップ面３２とを接着し、その後、内サイドフラップ面３３、３４に複数のホットメルト４２ａ〜４２ｄを塗布し、内サイドフラップ面３３、３４と外サイドフラップ面３５、３６とを接着して、箱体３０を形成していく。この場合には、塗布したホットメルト４１ａ〜４１ｆの検査を行うホットメルト検査装置を上流側に、塗布したホットメルト４２ａ〜４２ｄの検査を行うホットメルト検査装置を下流側に、同様の構成で、ベルトコンベア２０に沿って配置すれば良い。

次に、図２も参照して、本実施例のホットメルト検査方法を説明する。なお、図２では、ホットメルト４１ａ〜４１ｆ（後述するグループ１）を図示して説明を行うが、ホットメルト４２ａ〜４２ｄでも同様である。又、ホットメルト４１ａ〜４１ｆは、全て同一面上にあり、全て垂直方向から撮影されたものとする。

図１は、ホットメルト４２ａ〜４２ｄの検査を行うホットメルト検査装置であるが、この図１を参照して、その検査手順を説明すると、ＵＶ光源装置１１からＵＶ光を照射し、ＵＶ光により発光したホットメルト４１ａ〜４１ｆを撮像装置１２で撮像すると、例えば、図２に示すような画像が撮像されることになる。そして、撮像したホットメルト４１ａ〜４１ｆの画像を処理装置１３で解析処理し、各ホットメルト４１ａ〜４１ｆ大きさを示す面積の画素数を求め、以下に説明する相対的な比較、判定を行うことにより、ホットメルト４１ａ〜４１ｆの検査を行う。なお、面積に限らず、各ホットメルト４１ａ〜４１ｆの大きさを示す縦長さ（ベルトコンベア２０の進行方向に沿う方向の長さ）や横長さ（ベルトコンベア２０の進行方向に垂直な方向の長さ）の画素数を求めても良い。

一例として、解析処理により求めた各ホットメルト４１ａ〜４１ｆの面積の画素数を下記表１の通りとする。

そして、本実施例では、検査対象のホットメルト４１ａ〜４１ｆの中から、基準となる任意の１つのものとそれ以外のものを選択、区分し、基準となるものの画素数に対するそれ以外のものの画素数の比を求め、求めた比が予め設定した相対的数値の範囲内にあるか否かにより、ホットメルトの不良品の有無を判定して、検査を行っている。なお、比に代えて、基準との差分でも良い。

基準として、例えば、図２中の左端にあるホットメルト４１ａを選択し、基準に対する比０．８以上１．２以下の数値範囲を良品とすると、下記表２のように、同一グループ内のホットメルト４１ａ〜４１ｆの中に不良品があることを判定することができる。

又、基準として、例えば、図２中の左端から２番目のホットメルト４１ｂを選択した場合にも、同じく、基準に対する比０．８以上１．２以下の数値範囲を良品とすると、下記表３のように、同一グループ内のホットメルト４１ａ〜４１ｆの中に不良品があることを判定することができる。

更に、どのホットメルトが塗布量不足なのか、どのホットメルトが塗布量過度なのかを確認するためには、統計的な処理を行えば良い。例えば、全ホットメルト４１ａ〜４１ｆの画素数の平均値を求め、求めた平均値に対して、各ホットメルト４１ａ〜４１ｆの画素数の比を求め、平均値に対する比０．８以上１．２以下の数値範囲を良品として、同一グループ内のホットメルト４１ａ〜４１ｆの良否を判定すれば良い。上記表１での全ホットメルト４１ａ〜４１ｆの画素数の平均値は約１０３．３であるので、この平均値に対して、各ホットメルト４１ａ〜４１ｆの画素数の比を求めると、下記表４に示す結果となる。

上記表４から、同一グループ内のホットメルト４１ａ〜４１ｆの良否を判定することができ、ホットメルト４１ｂが塗布量不足の不良品と、ホットメルト４１ｆが塗布量過度の不良品と判定できる。

塗布量の判定と同様に、更に、塗布位置についても良否を判定しても良い。具体的には、検査対象のホットメルト４１ａ〜４１ｆの中から、基準となる１つのものとそれ以外のものを選択、区分し、基準となるものの位置に対するそれ以外のものの相対位置を求め、求めた相対位置が予め設定した範囲内にあるか否かにより、ホットメルトの塗布位置の良否を判定して、検査を行えば良い。

更に、ホットメルトには、塗布可能な領域と、異物混入の観点により、塗布不可能な領域とがある。そのため、同一グループ内の複数のホットメルトは、予め決められた領域内に塗布されるので、処理装置１３においても、図２に示すように、予め決められた領域Ｒを規定しておき、同一グループ内の複数のホットメルト全てが領域Ｒ内にあるか否かを解析し、判定することにより、同一グループ内の複数のホットメルトの塗布位置の検査を行うこともできる。

通常、ホットメルトは、１つの箱体に対し、同一量、同一形状のホットメルトを同時に複数箇所に塗布しており、同一のグループとなる複数のホットメルトがあり、全ての箇所のホットメルトの塗布量が、同じように増えたり、同じように減ったりすることは、確率的に無いに等しい。塗布位置についても、全ての箇所のホットメルトの塗布位置が、同じ配分で位置ずれすることは、確率的に無いに等しい。

そこで、本実施例では、上述したように、同一のグループに属する複数の箇所のホットメルトを計測し、そのグループの中から基準となる箇所のホットメルトを１つ選択し、基準となるホットメルトとそれ以外のホットメルトとを相対的に比較することにより、塗布量の増減、塗布位置のずれを相対的に判定し、良否を判定して、検査を行っている。本実施例の場合、従来設定していた適正な塗布量を事前に登録する必要はなく、又、環境の変化や状態の変化に応じて、設定の変更を行う必要もなく、従来と比べると、登録作業や運用面が顕著に容易となる。

又、ホットメルトガンのノズルは、塗布回数や運休等により定期清掃が必要である。ノズルが目詰りしてくると、ホットメルトの塗布量は減少してくる傾向となる。そのため、本実施例においても、基準となるホットメルトとそれ以外のホットメルトとを相対的に比較することにより、ノズルの詰まり具合を検査することができる（ノズルの詰り検査）。この場合は、後述するグループ８、９での基準を用いて、比較、判定を行えば良い。その場合、基準を１とすると、処理装置１３は、基準に対する比が、例えば、以下の表５に示すような範囲となるときに、注意、警告を表示するようにしている。

上述したように検査することにより、ホットメルトの塗布量が減る、塗布位置がずれる、ホットメルトガンのノズルの詰まり等の異常を検出することができる（塗布量検査、塗布位置検査、ノズル詰り検査）。又、ホットメルトガンの故障によって、全てのホットメルトを全く塗布しない場合には、基準自体も検出することができないので、不良と判定することができ、その異常を検出することができる（無塗布検査）。更には、ホットメルトを塗布した後に形が乱れる場合等の異常も検出することができる。

相対的に比較、判定を行うグループとしては、本実施例では、上述したホットメルト４１ａ〜４１ｆを含めて、下記表６、表７のような組み合わせが考えられる。なお、ここでは、図１中の手前側を反充填側とし、奥側を充填側として説明する。この充填側とは、箱体３０に収容する製品を充填する側のことである。なお、前提として、同一グループ内のホットメルトは、同一量、同一形状に塗布されるように設定されているものとする。

又、ホットメルトガンのノズルの方に着目して、同一箱体内だけでのグループに限らず、異なる箱体同士のホットメルトを同一のグループとし、相対的に比較、判定を行っても良い。この場合、前提として、同一グループ内のホットメルトは、同一量、同一形状、同一位置に塗布されるように設定されているものとする。

このように、異なる箱体同士でのホットメルトをグループとする場合には、ｎ回前に個々のノズルから塗布された個々のホットメルトを基準として、今回個々のノズルから塗布された個々のホットメルトを相対的に比較、判定する。なお、ｎは任意の正の整数である。

グループ８を、図１、図２を参照して説明すると、ホットメルト４１ａを塗布するホットメルトガンのノズルに着目する場合には、ｎ回前にノズルからトップフラップ面３２に塗布されたホットメルト４１ａを基準とし、今回ノズルからトップフラップ面３２に塗布されたホットメルト４１ａを同一のグループ８とし、これらを用いて相対的に比較、判定することになる。他のホットメルト４１ｂ〜４１ｆについても同様である。

又、グループ９を、図１を参照して説明すると、ホットメルト４２ａを塗布するホットメルトガンのノズルに着目する場合には、ｎ回前にノズルから内サイドフラップ面３３に塗布されたホットメルト４２ａを基準とし、今回ノズルから内サイドフラップ面３３に塗布されたホットメルト４２ａを同一のグループ９とし、これらを用いて相対的に比較、判定することになる。他のホットメルト４２ｂ〜４２ｄについても同様である。

以上のようなグループ２〜９を用いる場合も、上述したグループ１と同様に、ホットメルトが撮像される度に各グループ内での相違性を検査するので、必要な設定は相対的な相違性だけであり、それ以外の設定は予め設定する必要はない。

このようにして、塗布したホットメルトを相対的に比較、判定しているので、従来のように、天候、季節、昼夜等の環境に左右されたり、資材の状態、移動速度に左右されたりすることはなく、又、撮像装置１２と検査対象物の箱体３０との測定距離が変動しても、その変動に左右されることはなく、更に、閾値の設定を頻繁に変更しなくても、検査を行うことができ、グループ内の複数のホットメルトの量が相対的に適正であるかどうか判定することができる。そして、ノズル詰まりにより、一部のホットメルトの量が変化した場合には、上述したような相対的な比較、判定を行うことにより、確実に異常を検出することができる。

なお、ＵＶ光源装置１１、撮像装置１２、処理装置１３等に起因する検出値のばらつきはあるが、このばらつきは全体的に発生するため、相対的な比較、判定を行う本実施例への影響は小さく、誤検出は少ない。

又、本実施例では、相対的な比較、判定を行っているので、基本的には、判定のための絶対的な数値の設定は必要ないが、ホットメルトの量が不足すると、箱体３０の接着不良が発生するおそれがあるため、ホットメルトの絶対量の下限値となる下限閾値を設定するようにしても良い。

本発明は、段ボール箱等の箱体を組み立てる際の接着に用いるホットメルトの検査に適用されるものである。

１１ ＵＶ光源装置
１２ 撮像装置
１３ 処理装置
２０ ベルトコンベア
３０ 箱体
４１ａ〜４１ｆ、４２ａ〜４２ｄ ホットメルト

Claims (8)

1. 紫外光により発光する発光材入りのホットメルトを箱体の接着に用いる際に、前記箱体に塗布した複数の前記ホットメルトを検査するホットメルト検査装置であって、
   複数の前記ホットメルトに紫外光を照射する光源手段と、
   前記光源手段から前記紫外光が照射された複数の前記ホットメルトの発光を撮像する撮像手段と、
   前記撮像手段で撮像された画像を解析処理し、複数の前記ホットメルトの検査を行う処理手段とを備え、
   前記処理手段は、
   複数の前記ホットメルトの画像の解析処理により、各々の前記ホットメルトの大きさを示す画素数を求め、
   同一量及び同一形状に塗布されるように設定された複数の前記ホットメルトを１つのグループとし、前記１つのグループ内の１つの前記ホットメルトを基準とし、基準の前記ホットメルトの画素数に対する基準以外の前記ホットメルトの画素数の相対的な比又は差分を求め、求めた前記比又は前記差分に基づいて、複数の前記ホットメルトの良否を判定する
   ことを特徴とするホットメルト検査装置。
2. 請求項１に記載のホットメルト検査装置において、
   前記処理手段は、
   前記大きさとして、前記ホットメルトの面積、縦長さ及び横長さのいずれか１つ以上を用いる
   ことを特徴とするホットメルト検査装置。
3. 請求項１又は請求項２に記載のホットメルト検査装置において、
   前記処理手段は、
   １つの前記箱体内の同一面上の複数の前記ホットメルトを、前記１つのグループとする
   ことを特徴とするホットメルト検査装置。
4. 請求項１又は請求項２に記載のホットメルト検査装置において、
   前記処理手段は、
   異なる前記箱体同士の同一位置の前記ホットメルトを、前記１つのグループとする
   ことを特徴とするホットメルト検査装置。
5. 紫外光により発光する発光材入りのホットメルトを箱体の接着に用いる際に、前記箱体に塗布した複数の前記ホットメルトを検査するホットメルト検査方法であって、
   複数の前記ホットメルトに紫外光を照射して、前記紫外光が照射された複数の前記ホットメルトの発光を撮像し、
   撮像された複数の前記ホットメルトの画像を解析処理して、各々の前記ホットメルトの大きさを示す画素数を求め、
   同一量及び同一形状に塗布されるように設定された複数の前記ホットメルトを１つのグループとし、前記１つのグループ内の１つの前記ホットメルトを基準とし、基準の前記ホットメルトの画素数に対する基準以外の前記ホットメルトの画素数の相対的な比又は差分を求め、求めた前記比又は前記差分に基づいて、複数の前記ホットメルトの良否を判定することにより、複数の前記ホットメルトの検査を行う
   ことを特徴とするホットメルト検査方法。
6. 請求項５に記載のホットメルト検査方法において、
   前記大きさとして、前記ホットメルトの面積、縦長さ及び横長さのいずれか１つ以上を用いる
   ことを特徴とするホットメルト検査方法。
7. 請求項５又は請求項６に記載のホットメルト検査方法において、
   １つの前記箱体内の同一面上の複数の前記ホットメルトを、前記１つのグループとする
   ことを特徴とするホットメルト検査方法。
8. 請求項５又は請求項６に記載のホットメルト検査方法において、
   異なる前記箱体同士の同一位置の前記ホットメルトを、前記１つのグループとする
   ことを特徴とするホットメルト検査方法。

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