JP2015119005A - 成膜装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、熱分解された材料ガスの密度を維持できる成膜装置を提供することを目的とする。
【解決手段】上面でウエハを保持する第1部分と、該第1部分につながる第2部分とを有するサセプタと、該サセプタの上方へ材料ガスを供給するガス供給部と、該第1部分を加熱する第1ヒータと、該第2部分を加熱する第2ヒータと、該第1ヒータと該第2ヒータの温度を制御する温度制御装置と、を備え、該温度制御装置は、該ウエハへの成膜中に、該第1ヒータの温度を保ちつつ、該第2ヒータの温度を増加させることで、該サセプタの上方の温度を一定に保つことを特徴とする。
【選択図】図1
【解決手段】上面でウエハを保持する第1部分と、該第1部分につながる第2部分とを有するサセプタと、該サセプタの上方へ材料ガスを供給するガス供給部と、該第1部分を加熱する第1ヒータと、該第2部分を加熱する第2ヒータと、該第1ヒータと該第2ヒータの温度を制御する温度制御装置と、を備え、該温度制御装置は、該ウエハへの成膜中に、該第1ヒータの温度を保ちつつ、該第2ヒータの温度を増加させることで、該サセプタの上方の温度を一定に保つことを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、例えば半導体デバイスの製造などに用いられる成膜装置に関する。
特許文献1には、材料ガスを反応炉に導入してウエハ(被処理物)に成膜するための成膜装置が開示されている。この成膜装置は、所望の膜厚の薄膜を得るために、ウエハの温度を測定しその測定結果を成膜条件に反映させるものである。
反応炉内でウエハに成膜するとサセプタにも成長物が堆積する。サセプタに堆積した堆積物は、サセプタからサセプタの上方に伝わる熱量を低下させる。これによりサセプタ上方の温度が低下すると、熱分解された材料ガス(以後、分解ガスという)の密度が低下するので、成長膜の品質が経時変化する問題があった。
本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、熱分解された材料ガスの密度を維持できる成膜装置を提供することを目的とする。
本願の発明に係る成膜装置は、上面でウエハを保持する第1部分と、該第1部分につながる第2部分とを有するサセプタと、該サセプタの上方へ材料ガスを供給するガス供給部と、該第1部分を加熱する第1ヒータと、該第2部分を加熱する第2ヒータと、該第1ヒータと該第2ヒータの温度を制御する温度制御装置と、を備え、該温度制御装置は、該ウエハへの成膜中に、該第1ヒータの温度を保ちつつ、該第2ヒータの温度を増加させることで、該サセプタの上方の温度を一定に保つことを特徴とする。
本願の発明に係る他の成膜装置は、上面でウエハを保持する第1部分と、該第1部分につながる第2部分とを有するサセプタと、該サセプタの上方へ材料ガスを供給するガス供給部と、該第1部分を加熱する第1ヒータと、該第2部分を加熱する第2ヒータと、該第1ヒータと該第2ヒータの温度を制御する温度制御装置と、該サセプタの上面の温度を測定する温度計と、を備え、該温度制御装置は、該ウエハへの成膜中に、該第1ヒータの温度を保ちつつ、該温度計の測定温度が低下するたびに該第2ヒータの温度を増加させることで、該サセプタの上面の温度を一定に保つことを特徴とする。
本願の発明に係る他の成膜装置は、上面でウエハを保持するサセプタと、該サセプタを加熱するヒータと、該サセプタの上面の温度を測定する温度計と、該サセプタの上方へ材料ガスを供給するガス供給部と、該ガス供給部へのガス供給量を調整するマスフローコントローラと、該マスフローコントローラを制御するガス流量設定部と、を備え、該ガス流量設定部は、該温度計の温度が低下するに伴い、該ガス供給部へのガス供給量を増加させるように該マスフローコントローラを制御し、該サセプタの上で熱分解された該材料ガスの密度を一定に保つことを特徴とする。
本発明によれば、サセプタ上方の温度を維持したり、材料ガスの供給量を増やしたりすることで、熱分解された材料ガスの密度を維持することができる。
本発明の実施の形態に係る成膜装置について図面を参照して説明する。同じ又は対応する構成要素には同じ符号を付し、説明の繰り返しを省略する場合がある。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係る成膜装置10の断面図である。成膜装置10は反応炉12を備えている。反応炉12の内部構成について説明する。反応炉12の中には支持台14で支持されたサセプタ16が設けられている。サセプタ16は、上面でウエハを保持する第1部分16aと、第1部分16aにつながる第2部分16bとを有している。第1部分16aはサセプタ16の外周部分であり、第2部分16bはサセプタ16の中央部分となっている。
図1は、本発明の実施の形態1に係る成膜装置10の断面図である。成膜装置10は反応炉12を備えている。反応炉12の内部構成について説明する。反応炉12の中には支持台14で支持されたサセプタ16が設けられている。サセプタ16は、上面でウエハを保持する第1部分16aと、第1部分16aにつながる第2部分16bとを有している。第1部分16aはサセプタ16の外周部分であり、第2部分16bはサセプタ16の中央部分となっている。
第1部分16aには窪みが形成されている。この窪みにはサテライトディスク20を介してウエハ22が設置されている。従って、第1部分16aはサテライトディスク20を介してウエハ22を保持している。なお、サテライトディスク20はそれ自体が回転することで均一な成膜を実現するために設けられるものであるが、本発明の成膜装置では省略しても良い。
第1部分16aの直下には第1部分16aを加熱する第1ヒータ30が設けられている。第1ヒータ30は平面視で例えば同心円状又は渦巻状に一体的に形成されている。第2部分16bの直下には第2部分16bを加熱する第2ヒータ32が設けられている。第2ヒータ32は平面視で例えば同心円状又は渦巻状に一体的に形成されている。
第1ヒータ30と第2ヒータ32には温度制御装置34が接続されている。温度制御装置34は第1ヒータ30と第2ヒータ32の温度を個別に制御するものである。なお、温度制御装置34は反応炉12の内に設けても良い。
反応炉12の上面にはガス供給部40が設けられている。ガス供給部40は、反応炉12の外部からサセプタ16の上方へ材料ガスを供給する部分である。供給された材料ガスはサセプタ16の外周方向に向かって流れ、排気口42から排気される。
成膜装置10を用いた成膜方法について説明する。ここでは、一例としてIII族元素であるGaとV族元素であるAs及びPによりGaAsPを成膜する。第1ヒータ30と第2ヒータ32を加熱した状態で、ガス供給部40からGaの材料ガスとAsの材料ガスであるAsH3とPの材料ガスであるPH3を反応炉12内へ供給する。これらの材料ガスはサセプタ16からの熱によりサセプタ16の上方にて分解されて、分解ガスがウエハ22にGaAs(y)P(1−y)をエピタキシャル成長させる。ここで、yは0より大きく1より小さい値である。
図2は、サセプタ16に堆積物50が堆積した成膜装置10の断面図である。堆積物50の生成に伴い、分解ガスの密度低下が懸念される。そこで、本発明の実施の形態1では、図3に示すように第1ヒータ30と第2ヒータ32の温度を制御する。つまり、温度制御装置34は、ウエハ22への成膜中に、第1ヒータ30の温度を保ちつつ、第2ヒータ32の温度を増加させる。第2ヒータ32の温度増加速度は、サセプタ16の上方の温度を一定に保つことができるように定める。具体的には、実験データ又はシミュレーション等から堆積物50がサセプタ16の上方の温度に与える影響を推定し、第2ヒータ32の温度増加速度を決める。
ウエハ22への成膜中には、サセプタ16における堆積物の量が増加するが、第1ヒータ30の温度を保ちつつ、第2ヒータ32の温度を増加させることで、サセプタ16上方の温度を一定に維持することができる。よって、分解ガスの密度が経時変化することを防止できるので、成長膜の品質を安定させることができる。
さらに、ウエハ22の温度への寄与が大きい第1ヒータ30の温度を維持することでウエハ22の温度を概ね一定にすることができる。そして、ウエハ22の温度への寄与が小さい第2ヒータ32の温度を上昇させることで、ウエハ22の温度を維持しつつ、第2部分16bの温度を上昇させることができる。
上記のとおり、成膜装置10を用いた成膜方法はサセプタ16への堆積物の増加を前提に分解ガスの密度を維持するものであるため、成膜処理が行われるたびにサセプタを交換したりサセプタに堆積した堆積物を除去したりする必要がない。よってサセプタ交換又は堆積物除去に伴う生産性の低下とコスト増加の問題を解消できる。
ガス供給部40から反応炉12の内に供給する材料ガスの種類は、熱分解されるものであれば特に限定されない。第1ヒータ30を第1部分16aに埋め込み、第2ヒータ32を第2部分16bに埋め込んでも良い。その他、本発明の特徴を失わない範囲で様々な変形が可能である。なお、これらの変形は以下の実施の形態に係る成膜装置に応用できる。
以下の実施の形態に係る成膜装置については、実施の形態1に係る成膜装置10との相違点を中心に説明する。
実施の形態2.
図4は、本発明の実施の形態2に係る成膜装置100の断面図である。反応炉12の上面には開口12aが設けられている。この開口12aは、例えばガラスなどの光に対して透明な透明材料102で塞がれている。反応炉12の外には、透明材料102を介してサセプタ16の上面の温度を測定する温度計104が設けられている。温度計104は、第2部分16bの上面の温度を測定する放射温度計である。
図4は、本発明の実施の形態2に係る成膜装置100の断面図である。反応炉12の上面には開口12aが設けられている。この開口12aは、例えばガラスなどの光に対して透明な透明材料102で塞がれている。反応炉12の外には、透明材料102を介してサセプタ16の上面の温度を測定する温度計104が設けられている。温度計104は、第2部分16bの上面の温度を測定する放射温度計である。
温度制御装置106は温度計104と接続されている。温度制御装置106は、ウエハ22への成膜中に、第1ヒータ30の温度を保ちつつ、温度計104の測定温度が低下するたびに第2ヒータ32の温度を増加させる。図5は、温度計104の温度変化と第2ヒータ32の温度変化等を示す図である。図5に示されるように、サセプタ上の堆積物の量の増加に伴い温度計104の温度が低下すると、温度制御装置106が第2ヒータ32の温度を上昇させる。これにより、サセプタ16の上面の温度を一定に保つ。なお、この制御は自動かつリアルタイムで行うことが好ましい。
この発明はサセプタ16上方の温度を一定に保つことが目的であるので、温度計104により温度測定する場所は、サセプタ16のうち最もサセプタ16上方の温度に寄与する部分であることが好ましい。成膜装置100で最もサセプタ16上方の温度に寄与する部分は第2部分16bであるため、温度計104により第2部分16bの温度を測定した。しかしながら、サセプタ16上方の温度を一定に保つことができれば、第1部分16aの温度を測定してもよい。
実施の形態3.
図6は、本発明の実施の形態3に係る成膜装置150の断面図である。実施の形態1、2の成膜装置はサセプタ上方の温度を維持することで分解ガスの密度を一定に保つものであったが、成膜装置150はガス供給量を増加させることで分解ガスの密度を一定に保つものである。
図6は、本発明の実施の形態3に係る成膜装置150の断面図である。実施の形態1、2の成膜装置はサセプタ上方の温度を維持することで分解ガスの密度を一定に保つものであったが、成膜装置150はガス供給量を増加させることで分解ガスの密度を一定に保つものである。
成膜装置150は上面でウエハ22を保持するサセプタ16を備えている。サセプタ16を加熱するためにサセプタ16の直下にヒータ151が設けられている。温度計104にはガス流量設定部152が接続されている。ガス流量設定部152は、ガス供給部40へのガス供給量を調整するマスフローコントローラ160、162に接続されている。ガス流量設定部152は、マスフローコントローラ160、162を制御する。
ガス流量設定部152は、温度計104で測定した温度を表示する温度表示部154を備えている。ガス流量設定部152は、予め設定された成膜プロセスを実現するように各材料ガスの供給量を指令する指令部156を備えている。そして、温度表示部154と指令部156は調整部158に接続されている。調整部158は、サセプタ温度が基準温度(予め定めた温度)のときのサセプタ上方における各材料ガスの熱分解率のデータを有している。調整部158は、このデータと、温度計104で測定した温度におけるサセプタ上方の各材料ガスの熱分解率との差を演算する。そしてこの熱分解率の差に基づいて、分解ガスの密度が基準値(予め定めた値)となるようにマスフローコントローラ160、162に信号を出す。
サセプタ16への堆積物の増加に伴い温度計104の温度は低下していくので、ガス流量設定部152は、温度計104の温度が低下するに伴い、ガス供給部40へのガス供給量を増加させるようにマスフローコントローラ160、162を制御する。そして、ガス供給量の増加分は、サセプタ16の上で熱分解された材料ガスの密度を一定に保つことができるように決められる。従って、成膜装置150によれば、サセプタ16への堆積物がサセプタ16上方の温度を低下させても、分解ガスの密度を維持できる。
ガス流量設定部152は、分解ガスの密度を維持するように材料ガス供給量を増加させるものであれば、他の構成としてもよい。なお、ここまでで説明した各実施の形態に係る成膜装置の特徴は適宜に組み合わせて用いてもよい。
10 成膜装置、 12 反応炉、 12a 開口、 16 サセプタ、 16a 第1部分、 16b 第2部分、 20 サテライトディスク、 22 ウエハ、 30 第1ヒータ、 32 第2ヒータ、 34 温度制御装置、 40 ガス供給部、 42 排気口、 50 堆積物、 100 成膜装置、 102 透明材料、 104 温度計、 150 成膜装置、 151 ヒータ、 152 ガス流量設定部、 154 温度表示部、 156 指令部、 158 調整部、 160,162 マスフローコントローラ
Claims (4)
- 上面でウエハを保持する第1部分と、前記第1部分につながる第2部分とを有するサセプタと、
前記サセプタの上方へ材料ガスを供給するガス供給部と、
前記第1部分を加熱する第1ヒータと、
前記第2部分を加熱する第2ヒータと、
前記第1ヒータと前記第2ヒータの温度を制御する温度制御装置と、を備え、
前記温度制御装置は、前記ウエハへの成膜中に、前記第1ヒータの温度を保ちつつ、前記第2ヒータの温度を増加させることで、前記サセプタの上方の温度を一定に保つことを特徴とする成膜装置。 - 上面でウエハを保持する第1部分と、前記第1部分につながる第2部分とを有するサセプタと、
前記サセプタの上方へ材料ガスを供給するガス供給部と、
前記第1部分を加熱する第1ヒータと、
前記第2部分を加熱する第2ヒータと、
前記第1ヒータと前記第2ヒータの温度を制御する温度制御装置と、
前記サセプタの上面の温度を測定する温度計と、を備え、
前記温度制御装置は、前記ウエハへの成膜中に、前記第1ヒータの温度を保ちつつ、前記温度計の測定温度が低下するたびに前記第2ヒータの温度を増加させることで、前記サセプタの上面の温度を一定に保つことを特徴とする成膜装置。 - 前記温度計は、前記第2部分の上面の温度を測定する放射温度計であることを特徴とする請求項2に記載の成膜装置。
- 上面でウエハを保持するサセプタと、
前記サセプタを加熱するヒータと、
前記サセプタの上面の温度を測定する温度計と、
前記サセプタの上方へ材料ガスを供給するガス供給部と、
前記ガス供給部へのガス供給量を調整するマスフローコントローラと、
前記マスフローコントローラを制御するガス流量設定部と、を備え、
前記ガス流量設定部は、前記温度計の温度が低下するに伴い、前記ガス供給部へのガス供給量を増加させるように前記マスフローコントローラを制御し、前記サセプタの上で熱分解された前記材料ガスの密度を一定に保つことを特徴とする成膜装置。
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