JP2015118067A - 磁気検知装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 配置スペースを効果的に使用でき、しかも磁気センサの配置誤差などに起因する出力ノイズを最少限に制限できる磁気検知装置を提供する。【解決手段】 磁気検知装置1は、4つの検知ブロック10A,10B,10C,10Dを有している。それぞれの検知ブロックには正方形の磁界誘導層11が設けられ、磁界誘導層11の端面の辺に沿って磁気センサR11,R12,・・・が配置されている。Z方向の外部磁界が磁界誘導層11に案内され、磁気センサR11,R12,・・・によってX成分またはY成分として検知される。また、X方向とY方向の外乱磁界は検知出力として現れない。【選択図】図1

Description

本発明は、GMR素子などの磁気センサを使用して、その感度軸と直交する向きの磁界成分を検知する磁気検知装置に関する。
特許文献1に、軟磁性材料で形成されて磁界誘導層として機能する磁性体が設けられた磁気検知装置が開示されている。
この磁気検知装置は、基板がX−Y平面と平行な表面を有し、この表面に複数の磁気センサが配置され、複数の磁気センサでブリッジ回路が構成されている。前記磁気センサは長尺形状であり、複数の磁気センサが、互いに平行にY方向へ延びている。そして、それぞれの磁気センサの感度軸は、X方向へ向けられている。
前記磁性体によって、Z方向の外部磁界が誘導され、誘導された外部磁界が、それぞれの磁気センサに対してX方向成分として与えられる。そのため磁性体は、Z方向への高さ寸法が大きく、且つY方向へ細長く形成され、それぞれの磁性体とそれぞれの磁気センサとが平行に対向している。
国際公開 WO 2010/068146 A1
特許文献1に記載されている従来の磁気検知装置は、磁気センサと磁性体とが共にY方向に長く形成されているため、小型に構成するのが難しく、例えばほぼ正方形の領域内などの限られたスペースに配置することが困難である。
特許文献1に記載されている磁気検知装置は、全ての磁気センサの感度軸がX方向に向けられているが、感度軸に対して外部磁界が逆向きに作用する磁気センサを直列に接続してブリッジ回路を構成することで、X方向の外部磁界に対して検知出力が発生しないように考慮されている。しかし、個々の磁気センサと磁性体との対向状態にばらつきが生じるのを避けることができず、また個々の磁気センサの特性にもばらつきがあるため、この種の磁界検知装置では、X方向の外乱による検知出力がノイズとして重畳するのを完全に防止するのが困難である。
また、特許文献1に記載の磁気検知装置では、磁界を誘導するための磁性体が細長い形状であるため、強い磁場に晒されると軟磁性材料の磁性体に残留磁化(いわゆる帯磁)が残りやすくなる。この残留磁場により磁気センサの検知出力にオフセットが発生し、地磁気などを検知したときの検知出力にノイズとして重畳しやすくなる。
本発明は上記従来の課題を解決するものであり、全体を小型に構成しやすくなり、しかも、本来検知すべきではない外乱磁界が作用したときの影響を低減できる磁気検知装置を提供することを目的としている。
本発明は、磁界を誘導する磁界誘導層と、前記磁界誘導層で誘導された磁界を検知する複数の磁気センサとが設けられた磁気検知装置において、
前記磁界誘導層は、基準平面と平行な端面を有し、それぞれの前記磁気センサは、基準平面と平行な向きの感度軸を有し、
対を成す前記磁気センサは、前記端面の中心を挟んで対向し、2つの磁気センサの感度軸が、対向方向と平行で且つ互いに逆向きに設定されており、
対を成す前記磁気センサが複数組設けられて、いずれかの対を成す前記磁気センサの対向方向と、他の対を成す前記磁気センサの対向方向とが、互いに直交していることを特徴とするものである。
本発明の磁気検知装置は、少なくとも4個の磁気センサを有しており、基準平面と垂直な向きの外部磁界が磁界誘導層で誘導されて、基準平面と平行な磁界成分としてそれぞれの磁気センサで検知される。少なくとも4個の磁気センサが、互いの直交する方向で対向しているため、正方形などの狭い領域内に配置できるようになる。
本発明は、1つの前記磁界誘導層に対応して設けられた複数の前記磁気センサは、全て感度軸が前記磁界誘導層の内部に向けられ、または前記磁界誘導層の外側へ向けられているものとして構成できる。
本発明は、1つの前記磁界誘導層に対応して設けられた複数の前記磁気センサは、全て直列に接続されていることが好ましい。
この構成では、対を成す磁気センサのそれぞれと磁界誘導層との対向距離の誤差や、対を成す磁気センサの特性のばらつきなどにより、対を成す磁気センサの対向方向での外乱磁場を検知してしまうことがある。この場合であっても、この磁気センサとは感度軸が直交している磁気センサが直列に接続されているため、前記外乱磁場による出力変動をほぼ1/2に抑制することが可能になる。
本発明は、1つの前記磁界誘導層と、これに対応して設けられた複数の前記磁気センサで1つの検知ブロックが構成され、それぞれの検知ブロックでは、複数の前記磁気センサが全て直列に接続されており、
複数の前記磁気センサの感度軸が全て前記磁界誘導層の内部に向けられている検知ブロックと、複数の前記磁気センサの感度軸が全て前記磁界誘導層の外側へ向けられている検知ブロックとが直列に接続され、直列に接続された検知ブロックに電圧が与えられるとともに、直列に接続された2つの検知ブロックの中点から検知出力が得られるものとして構成される。
さらには、直列に接続された検知ブロックが2列並列に接続されてフルブリッジ回路が構成されている。
本発明は、前記磁界誘導層の前記端面は四角形であり、それぞれの前記磁気センサが四角形のそれぞれの辺に沿って配置されていることが好ましい。
さらに、それぞれの前記磁気センサは、前記辺の長さの中心部に配置されていることが好ましい。
本発明の磁気検知装置は、前記磁界誘導層は、中心部に穴を有し、前記端面は前記穴の縁部である内辺と、外側の縁部である外辺を有し、前記磁気センサは、前記内辺と前記外辺の双方に沿って配置されており、
内辺に沿って配置された前記磁気センサと、外辺に沿って配置された前記磁気センサとで、感度軸の向きが逆であるものであってもよい。
本発明の磁気検知装置は、複数の磁気センサが直交方向に対向する構造であるため、基準平面に沿う各方向での寸法の差を小さくでき、狭いスペース内に配置しやすくなる。
また、交差方向に配置された複数の磁気センサを直列に接続することにより、外乱磁場に対する出力変動を抑制することが可能である。
さらに、磁界誘導層を細長く形成する必要がないため、強い磁場に晒されたときに、いわゆる帯磁と称される残留磁場が磁界誘導層に残りにくくなり、帯磁による検知出力のオフセットを抑制できる。
本発明の第1の実施の形態の磁気検知装置の全体構造を示す平面図、 (A)は図1に示す磁気検知装置を構成する検知ブロックの構造を示す平面図、(B)は前記(A)をB−B線で切断した断面図、 (A)(B)は、磁気センサの平面形状を実施の形態別に示す平面図、 磁気センサの縦断面図、 図1に示す磁気検知装置の等価回路図、 (A)は本発明の第2の実施の形態の磁気検知装置を示す平面図、(B)はその等価回路図、 本発明の第3の実施の形態の磁気検知装置を示す平面図、 (A)は本発明の第4の実施の形態の磁気検知装置を示す平面図、(B)はその等価回路図、 本発明の第5の実施の形態の磁気検知装置を示す平面図、
図1に示す磁気検知装置1は、外部磁界のうちの図の紙面に直交するZ方向の成分を検知するためのものである。この磁気検知装置1は、外部磁界のうちの紙面と平行なX方向の成分を検知する他の磁気検知装置ならびにY方向の成分を検知する他の磁気検知装置と組み合わされて、直交する3方向の外部磁界を検知できるものとして構成することが可能である。この磁気検知装置は地磁気センサなどとして使用される。
磁気検知装置1は、X−Y平面と平行な基準面を有しており、この基準面は図2(B)に示す支持基板2の表面2aに一致している。
磁気検知装置1には、第1の検知ブロック10Aと第2の検知ブロック10Bならびに第3の検知ブロック10Cと第4の検知ブロック10Dとが設けられており、4個の検知ブロック10A,10B,10C,10Dは基準面と平行な面に並べられて配置されている。
第1の検知ブロック10Aは、磁界誘導層11と4個の磁気センサR11,R12,R13,R14を有している。図2(B)に示すように、磁気センサR11,R12,R13,R14は、支持基板2の表面2aに固定されている。磁気センサR11,R12,R13,R14は、絶縁層3で覆われており、絶縁層3の上に磁界誘導層11が設置されている。
第1の検知ブロック10Aに設けられた磁気センサR11とR13は、長手方向がY方向に向けられており、磁気センサR12とR14は長手方向がX方向に向けられている。磁気センサR11とR13は長手方向が互いに平行に向けられ、磁気センサR12とR14は長手方向が互いに平行に向けられている。磁気センサR11,R13の長手方向と磁気センサR12,R14の長手方向は互いに直交している。
図3には、磁気センサR12,R14の平面形状が実施の形態別に示されている。磁気センサR11,R13は、磁気センサR12,R14とは長手方向の向きが相違しているだけであり、その構造は実質的に同じである。
図3(A)に示す磁気センサR12,R14は、素子部20が1本設けられ、その長手方向がX方向に向けられている。素子部20のX方向に向く両端部に電極層13a,13aが設けられている。図3(B)に示す磁気センサR12、R14は、複数の素子部20を有している。それぞれの素子部20は長手方向がX方向へ向けられて互いに平行に配置されている。X方向の両側には連結導電層13bが設けられ、X方向の両端部において素子部20の端部が互い違いに導通させられて、複数の素子部20によっていわゆるミアンダパターンが形成されている。そして、Y方向の両端部に位置する素子部20の互いに逆向きの端部に電極層13c,13cが形成されている。
電極層13a,13cならびに連結導通層13bは、金や銀または銅などの低抵抗材料で形成されている。
図4には、図3(A)(B)に示された素子部20をX−Z面と平行な切断面で切断した断面図が示されている。
図4に示すように、支持基板2の表面2aに金属が多層に積層された積層構造を有する素子部20が形成されている。素子部20を構成する金属層はスパッタ工程やCVD工程で成膜されている。
素子部20は、巨大磁気抵抗効果を発揮する磁気抵抗効果素子層(GMR層)である。支持基板2の表面2aに絶縁下地層4が形成され、その上に、素子部20が積層されている。素子層20では、絶縁下地層4の表面にシード層21が形成され、その上に固定磁性層22と非磁性層23とフリー磁性層24が順に積層され、フリー磁性層24が保護層25で覆われている。シード層21はNiFeCr(ニッケル−鉄−クロム合金)などで形成され、固定磁性層22はシード層21の表面に直接固定されて形成されている。
固定磁性層22は、第1の固定層22aと第2の固定層22b、ならびに第1の固定層22aと第2の固定層22bとの間に位置する非磁性中間層22cを有する積層フェリ構造である。第1の固定層22aと第2の固定層22bは、CoFe合金(コバルト−鉄合金)などの軟磁性材料で形成されている。非磁性中間層22cはRu(ルテニウム)などである。
積層フェリ構造の固定磁性層22は、第1の固定層22aと第2の固定層22bの磁化が反平行に固定されたいわゆるセルフピン構造である。セルフピン構造は、固定磁性層22の磁化を固定するために反強磁性層を用いていない。反強磁性層を用いるものでは、反強磁性層と固定磁性層とを積層し、磁場中で熱処理することで、固定磁性層の磁化を固定するが、積層フェリ構造の固定磁性層22では、磁場中で熱処理を行うことなく、量子力学的には第1の固定層22aと第2の固定層22bの反強磁性結合(いわゆるRKKY相互作用)により、磁化の向きが固定されている。
図4に示す非磁性層23はCu(銅)などの非磁性材料で形成されている。フリー磁性層24は、NiFe合金(ニッケル−鉄合金)などの軟磁性材料で形成されている。フリー磁性層24は、縦方向(Y方向)の長さ寸法が横方向(X方向)の幅寸法よりも十分に大きく、その形状異方性によって、磁化がX方向へ向けて揃えられている。したがって、フリー磁性層24の磁化を縦方向へ揃えるための縦バイアス付与構造を備えていない。固定磁性層22が積層フェリ構造であり、磁場中の熱処理が不要であると、フリー磁性層24の磁気異方性を保持しやすくなっている。フリー磁性層24を覆う保護層25はTa(タンタル)などで形成されている。
磁気抵抗効果に寄与する固定磁性層22の磁化の固定方向は、第2の固定層22bの磁化方向である。素子部20では、固定磁性層22の固定磁化Pの方向が幅方向に向けられている。磁気センサは、前記固定磁化Pの方向が感度軸である。フリー磁性層24の磁化は、これに与えられる外部磁界の方向に向けられ、素子部20は、固定磁性層22の固定磁化の向きとフリー磁性層24の磁化の向きとの相対的な角度差に応じて電気抵抗が変化する。素子部20は、これに作用する外部磁界のうち、固定磁化Pの方向に沿う磁界成分が大きくなるにしたがって電気抵抗が小さくなり、固定磁化Pの方向と逆向きの磁界成分が大きくなるにしたがって磁気抵抗が大きくなる。また、固定磁化Pと直交する向きの磁界成分によっては電気抵抗が変化しない。
図2(A)(B)に示す磁界誘導層11は、NiFe合金(ニッケル−鉄合金)や、FeCoNi合金(鉄−コバルト−ニッケル合金)などの透磁率の高い軟磁性材料で形成されている。磁界誘導層11は、絶縁層3の表面においてメッキ工程で成形される。
図2(A)(B)に示す磁界誘導層11は六面体形状であり、その下向きの端面12は、基準平面である支持基板2の表面2aと平行に対向している。端面12の形状は四角形であり、図2の実施の形態に示すように、好ましくは正方形である。
次に、第1の検知ブロック10Aにおける磁界誘導層11と4個の磁気センサR11,R12,R13,R14との位置関係を説明する。
図2(A)には、磁界誘導層11の平面形状の中心(図心)Oが示されている。この中心Oは正方形の端面12の図心でもある。磁界誘導層11の端面12は第1の外辺12aと第2の外辺12bと第3の外辺12cならびに第4の外辺12dを有している。
第1の検知ブロック10Aでは、磁気センサR11と磁気センサR13が第1の対を形成している。磁気センサR11,R13は中心Oを挟んで位置し、それぞれ中心Oから等距離に配置されている。また、磁気センサR11の長手方向(Y方向)の中心と、磁気センサR13の長手方向(Y方向)の中心とを結ぶ対向線L1は、中心Oを通過している。
磁気センサR12と磁気センサR14によって第2の対が形成されている。磁気センサR12,R14は、中心Oを挟んで位置し、それぞれ中心Oから等距離に配置されている。また、磁気センサR12の長手方向(X方向)の中心と、磁気センサR14の長手方向(X方向)の中心とを結ぶ対向線L2は、中心Oを通過している。
第1の対を成す磁気センサR11,R13の対向方向と、第2の対を成す磁気センサR12,R14の対向方向は直交し、対向線L1と対向線L2とが中心Oにおいて直交している。
磁気センサR11,R12,R13,R14を構成する素子部20は、固定磁性層22の固定磁化Pすなわち感度軸の方向が素子の幅方向に向けられている。図2(A)に示すように、磁気センサR11の固定磁化P11と磁気センサR13の固定磁化P13は対向方向であるX方向に向けられて、固定磁化P11と固定磁化P13は互いに逆向きである。磁気センサR12の固定磁化P12と磁気センサR14の固定磁化P14は対向方向であるY方向に向けられて、固定磁化P12と固定磁化P14は互いに逆向きである。すなわち、全ての磁気センサR11,12,13,14の感度軸の方向である固定磁化の方向が、磁界誘導層11の中心Oに向けられている。
図1に示すように、第1の検知ブロック10Aでは、磁気センサR11と磁気センサR12とが配線31aによって接続され、磁気センサR12と磁気センサR13とが配線31bによって接続され、磁気センサR13と磁気センサ14とが配線31cによって接続され、磁気センサR11,R12,R13,R14が直列に接続されている。なお、配線31a,31b,31cならびに以下において説明する他の配線層は、支持基板2の表面2aに形成された導電パターンによって形成されている。
ここで、図2に示されている第1の検知ブロック10Aによる磁界検知動作を説明する。
磁気センサR11と磁気センサR13は、中心Oを挟んでX方向で対向しているため、図2(B)に矢印で示すように、外部磁界のうちのZ方向で下向きの成分Hpは、磁界誘導層11に案内され、下端の端面12から漏れ出て、そのX方向の成分Hvが磁気センサR11とR13に与えられる。逆に、外部磁界のうちのZ方向で上向きの成分は端面12から磁界誘導層11の内部に誘導されるため、このとき磁気センサR11とR12にX方向の磁界成分が与えられる。
磁気センサR12と磁気センサR14は、中心Oを挟んでY方向で対向しているため、外部磁界のうちのZ方向の上向きの成分または下向きの成分が磁界誘導層11で誘導されるときに、磁気センサR12と磁気センサR14に対してY方向の磁界成分が与えられる。
磁気センサR11とR13は、中心Oを挟んでX方向で対向することで、磁界誘導層11で誘導される外部磁界をX方向の成分として検知でき、磁気センサR12,R14は、中心Oを挟んでY方向で対向することで、磁界誘導層11で誘導される外部磁界をY方向の成分として検知できる。磁界誘導層11で誘導される外部磁界のうち、X方向の成分を磁気センサR11,R13に効率良く与え、Y方向の成分を磁気センサR12,R14に効率良く与えるためには、磁気センサR11,R12,R13,R14が、端面12の外辺12a,12b,12c,12dに接近した位置で、磁界誘導層11の端面12に対向していることが好ましい。
さらに、磁界誘導層11で誘導された磁界成分が磁気センサR11,R12,R13,R14によってバランス良く検知されるためには、磁気センサR11が外辺12aのX方向の中央部に対向することが好ましい。同様に、磁気センサR12,R13,R14が、外辺12b,12c,12dの中央部に対向することが好ましい。
図2(A)に示すように、4個の磁気センサR11,R12,R13,R14の固定磁化P12,P12,P13,P13の向きは、全て中心Oに向けられている。そのため、磁界誘導層11で誘導された外部磁界のX方向成分とY方向成分は、全ての磁気センサR11,R12,R13,R14の固定磁化P12,P12,P13,P13の向きに対して同じように作用する。すなわち、Z方向の下向きに誘導される磁界は、固定磁化P12,P12,P13,P13と逆向きの磁界として与えられ、Z方向の上向きに誘導される磁界は、固定磁化P12,P12,P13,P13と平行な向きの磁界として与えられる。
そのため、磁界誘導層11で誘導されるZ方向の磁界成分に対しては、全ての磁気センサR11,R12,R13,R14の電気抵抗が同じ変化を示す。また、全ての磁気センサR11,R12,R13,R14が直列に接続されているため、合成抵抗R1は、個々の磁気センサの抵抗変化の4倍となる。
図2(A)に示すように、X方向で対向する磁気センサR11の固定磁化P11と磁気センサR13の固定磁化P13は、互いに逆向きである。したがって、磁気検知装置1に作用する外部磁界のうちの磁界誘導層11で誘導されていないX方向の外乱成分に関しては、磁気センサR11と磁気センサR13の一方の抵抗値が増加すると他方の抵抗値が低下する関係となる。磁気センサR11,R12,R13,R14が直列に接続されているため、その合成抵抗R1では、X方向の外乱成分による抵抗値の変化が相殺される。同様にY方向の外乱成分が作用したときも、磁気センサR12と磁気センサR14の抵抗値が互いに逆に変化するため、合成抵抗R1では相殺される。
ここで、磁気センサR11と磁気センサR13に着目すると、磁気センサR11と磁界誘導層11との相対位置と、磁気センサR13と磁界誘導層11との相対位置との間には、誤差(公差)が発生するのを避けることができない。さらに磁気センサR11と磁気センサR13とで特性を完全に一致させることは難しい。そのため、外部磁界のうちのX方向の外乱成分が作用したときに、磁気センサR11の抵抗変化と磁気センサR13抵抗変化の絶対位置どうしが一致しなくなり、X方向の外乱成分による抵抗変化が検知出力として現れるようになり、これが本来検知すべきZ方向の磁界に対する検知出力に対してノイズ成分として重畳する。
一方で、X方向の外乱磁界が作用したときに、磁気センサR12と磁気センサR14の抵抗は変化しないため、4個の磁気センサR11,R12,R13,R14が直列に接続されていると、その合成抵抗R1を基準としたときに、X方向の外乱磁界による磁気センサR11,R13の抵抗値の変化による影響を1/2に低減させることができる。これは、磁気センサR12,R14にY方向の外乱磁界が作用したときも同じである。
このように、X方向に対向して対を成す磁気センサR11,R13と、Y方向に対向して対を成す磁気センサR12,R14とを直列に接続することにより、磁界誘導層11で誘導されるZ方向の磁界に対する感度をそれぞれの磁気センサの感度の4倍にでき、また、本来検出すべきではないX方向の外乱成分とY方向の外乱成分に対する出力感度の影響を、合成抵抗R1において1/2の影響に留めることが可能になる。
なお、磁界誘導層11には、地磁気などのような検知しようとする外部磁界とは異なる強い磁場が与えられることがある。例えば、磁気検知装置1に磁石や強い磁力を持つ機器などが不用意に接近すると磁界誘導層11に本来検知すべきではない磁界が与えられる。しかし、磁界誘導層11は四角形で好ましくは正方形であるため、従来の細長い磁性体のような帯磁となる大きな残留磁化が残りにくくなっている。仮に、磁界誘導層11にわずかでも残留磁化があると、その磁化が磁気センサに外乱磁界として作用することになる。しかし、前記検知ブロック10Aでは、X方向やY方向の外乱磁界が作用しも、その影響を低減できるため、検知出力に大きなオフセットが残る現象を防止しやすい。
図1に示す第2の検知ブロック10Bでは、磁界誘導層11の端面12に4個の磁気センサR21,R22,R23,R24が対向し、これら磁気センサが直列に接続されている。第2の検知ブロック10Bでは、磁気センサR21,R22,R23,R24の固定磁化P21,P22,P23,P24の方向が、第1の検知ブロック10Aと同様に磁界誘導層11の中心Oに向けられている。よって、第1の検知ブロック10Aの合成抵抗R1と第2の検知ブロック10Bの合成抵抗R2は、外部磁界に対する反応が同じである。
第3の検知ブロック10Cでは、磁界誘導層11の端面12に4個の磁気センサR31,R32,R33,R34が対向し、これら磁気センサが直列に接続されている。第3の検知ブロック10Cでは、磁気センサR31,R32,R33,R34の固定磁化P31,P32,P33,P34の方向が、磁界誘導層11の中心Oと逆方向の外側に向けられている。
第4の検知ブロック10Dでは、磁界誘導層11の端面12に4個の磁気センサR41,R42,R43,R44が対向し、これら磁気センサが直列に接続されている。第4の検知ブロック10Dでは、磁気センサR41,R42,R43,R44の固定磁化P41,P42,P43,P44の方向が、磁界誘導層11の中心Oと逆方向の外側に向けられている。
よって、第3の検知ブロック10Cの合成抵抗R3と第4の検知ブロック10Dの合成抵抗R4は、外部磁界に対する反応が同じである。また、第1の検知ブロック10Aならびに第2の検知ブロック10Bの外部磁界に対する抵抗変化と、第3の検知ブロック10Cと第4の検知ブロック10Dの外部磁界に対する抵抗変化は、互いに逆極性となる。
図1に示すように、第1の検知ブロック10Aの磁気センサ群と、第4の検知ブロック10Dの磁気センサ群とが直列に接続され、第3の検知ブロック10Cの磁気センサ群と第2の検知ブロック10Bの磁気センサ群とが直列に接続されている。第1の検知ブロック10Aの磁気センサ群と第3の検知ブロック10Cの磁気センサ群に電源電圧Vddが与えられ、第2の検知ブロック10Bの磁気センサ群と第4の検知ブロック10Dの磁気センサ群とが接地されている。そして、第1の検知ブロック10Aの磁気センサ群と、第4の検知ブロック10Dの磁気センサ群との中点で第1の検知出力V1が得られ、第3の検知ブロック10Cの磁気センサ群と第2の検知ブロック10Bの磁気センサ群との中点で第2の検知出力V2が得られる。
第1の検知ブロック10Aの磁気センサ群の合成抵抗R1、第2の検知ブロック10Bの磁気センサ群の合成抵抗R2、第3の検知ブロック10Cの磁気センサ群の合成抵抗R3、第4の検知ブロック10Dの磁気センサ群の合成抵抗R4による、磁気検知装置1の等価回路は、図5に示す通りである。
この磁気検知装置1では、Z方向で下向き(支持基板2に向く方向)の外部磁界が与えられると、合成抵抗R1,R2が大きくなり、合成抵抗R3,R4が小さくなる。よって第1の検知出力V1から第2の検知出力V2の差をとった差動出力が中点電位よりも低下する。逆に、Z方向で上向きの外部磁界が与えられると、差動出力が中点電位よりも上昇する。
また、前述のように、それぞれの磁気センサの配置の誤差や、特性のばらつきがあったとしても、磁界誘導層11に誘導されることなく作用するX方向とY方向の外乱磁界による検知出力のノイズを低減させることが可能である。
図6(A)は本発明の第2の実施の形態の磁気検知装置101の平面図である。
この磁気検知装置101に設けられた磁界誘導層111は、平面形状が四角形で好ましくは正方形であるが、中心部に四角形で好ましくは正方形の穴112が上下方向(Z方向)に貫通して形成されている。磁界誘導層111の下側の端面は、4つの外辺113a,113b,113c,113dを有するとともに、穴112の縁部に4つの内辺114a,114b,114c,114dを有している。
磁気センサR111は、磁界誘導層111の端面の外辺113aに沿って配置され、磁気センサR112,R113,R114は、外辺113b,113c,113dに沿って配置されている。磁気センサR111,R112,R113,R114の固定磁化P111,P112,P113,P114の向きは、磁界誘導層111の中心Oに向けられている。そして、磁気センサR111,R112,R113,R114は、配線131a,131b,131cによって直列に接続されている。
また、磁気センサR121は、磁界誘導層111の端面の内辺114aに沿って配置され、磁気センサR122,R123,R124は、内辺114b,114c,114dに沿って配置されている。磁気センサR121,R122,R123,R124の固定磁化P121,P122,P123,P124も磁界誘導層111の中心Oに向けられている。そして、磁気センサR121,R122,R123,R124は、配線132a,132b,132cによって直列に接続されている。
さらに、磁気センサR111,R112,R113,R114の磁気センサ列と、磁気センサR121,R122,R123,R124の磁気センサ列とが直列に接続されている。図6(B)の等価回路では、磁気センサR111,R112,R113,R114の合成抵抗がR110で示され、磁気センサR121,R122,R123,R124の合成抵抗がR120で示されている。
この磁気検知装置101は、直列に接続された合成抵抗R110と合成抵抗R120に電圧Vddが印加され、合成抵抗R110と合成抵抗R120との中点から検知出力V0が得られる。
磁界誘導層111に対してZ方向の下向き(支持基板2に向く方向)の磁界が印加されると、合成抵抗R110が増加し、合成抵抗R120が低下する。よって検知出力V0が中点電位よりも低下する。逆に磁界誘導層111に対してZ方向の上向きの磁界が印加されると、検知出力V0が中点電位よりも上昇する。
また、X方向の外乱成分またはY方向の外乱成分が与えられたときは、合成抵抗R110とR120が変化しない設計である。前記第1の検知ブロック10Aについて説明したように、磁気センサR111,R112,R113,R114ならびに磁気センサR121,R122,R123,R124と磁界誘導層111との相対位置にばらつきがあったり、個々の磁気センサの特性にばらつきがあったとしても、その影響を、合成抵抗R110,R120において1/2の頻度に低減することが可能である。
なお、図6に示す磁気検知装置101を2つ組み合わせてフルブリッジ回路を構成することも可能である。
また、図6において、内側に位置する磁気センサR121,R122,R123,R124の固定磁化を固定磁化P121,P122,P123,P124とは逆向きとなるように中心Oへの向きと逆向きに設定し、磁気センサR111,R112,R113,R114と磁気センサR121,R122,R123,R124を全て直列に接続して1つの検知ブロックを構成してもよい。
図7に示す第3の実施の形態の磁気検知装置201は、磁界誘導層211の平面形状が八角形状であり、端面の各辺に沿って磁気センサが配置されている。磁気センサR211とR213はX方向に対向して対を成し、磁気センサR212とR214は,Y方向に対向して対を成している。X方向とY方向は互いに直交する方向である。磁気センサR211,R212,R213,R214は直列に接続され、それぞれの固定磁化Paは磁界誘導層211の中心Oから離れる方向に向けられている。
磁気センサR221とR223はα方向に対向して対を成し、磁気センサR222とR224はβ方向に対向して対を成している。α方向とβ方向は互いに直交する方向である。磁気センサR221,R222,R223,R224は直列に接続され、それぞれの固定磁化Pbは磁界誘導層211の中心Oに向けられている。
図6(B)に示した等価回路と同様に、直列に接続された磁気センサR211,R212,R213,R214の合成抵抗と、直列に接続された磁気センサR221,R222,R223,R224の合成抵抗をさらに直列に接続し、電圧Vddを印加するとともに、両合成抵抗の中点から検知出力V0が得られるようにしてもよい。
または、8個の磁気センサの固定磁化の方向を全て中心Oに向く方向、または中心Oと逆向きの方向に設定し、8個の磁気センサを全て直列に接続して1つの検知ブロックを形成し、図1に示したように、この検知ブロックを4個接続してフルブリッジを構成することも可能である。
図8(A)に示す第4の実施の形態の磁気検知装置301は、正方形の磁界誘導層311の端面の各辺に沿って磁気センサR311,R312,R313,R314が配置されている。磁気センサR311とR313の固定磁化Pdは磁界誘導層311の中心Oに向く方向と逆向きに設定され、磁気センサR312とR314の固定磁化Peの方向は中心Oに向けられている。
磁気センサR311,R312,R313,R314は、図8(B)の等価回路に示すようにフルブリッジに接続されている。そして検知出力V1,V2を得ることが可能となっている。
本発明は、磁界誘導層の中心を挟んで互いに対向する対を成す磁気センサが2組以上設けられ、それぞれの組での磁気センサの対向方向が互いに直交していればどのような構成も可能である。例えば図9に示す磁気検知装置401のように、磁界誘導層411の平面形状が真円形状であり、Y方向に対向している磁気センサR411,R413と,X方向に対向している磁気センサR412,R414が、真円形状の端面の縁部に沿うように円弧形状に形成されていてもよい。この場合の、固定磁化Pfは、磁界誘導層411の中心Oに向けられ、または中心Oと逆方向に向けられる。
R 磁気センサ
P 固定磁化
1 磁気検知装置
2 支持基板
10A,10B,10C,10D 検知ブロック
11 磁界誘導層
12 端面
20 素子部
22 固定磁性層
23 非磁性層
24 フリー磁性層
101 磁気検知装置
111 磁界誘導層
201 磁気検知装置
211 磁界誘導層
301 磁気検知装置
311 磁界誘導層
401 磁気検知装置
411 磁界誘導層

Claims (8)

  1. 磁界を誘導する磁界誘導層と、前記磁界誘導層で誘導された磁界を検知する複数の磁気センサとが設けられた磁気検知装置において、
    前記磁界誘導層は、基準平面と平行な端面を有し、それぞれの前記磁気センサは、基準平面と平行な向きの感度軸を有し、
    対を成す前記磁気センサは、前記端面の中心を挟んで対向し、2つの磁気センサの感度軸が、対向方向と平行で且つ互いに逆向きに設定されており、
    対を成す前記磁気センサが複数組設けられて、いずれかの対を成す前記磁気センサの対向方向と、他の対を成す前記磁気センサの対向方向とが、互いに直交していることを特徴とする磁気検知装置。
  2. 1つの前記磁界誘導層に対応して設けられた複数の前記磁気センサは、全て感度軸が前記磁界誘導層の内部に向けられ、または前記磁界誘導層の外側へ向けられている請求項1記載の磁気検知装置。
  3. 1つの前記磁界誘導層に対応して設けられた複数の前記磁気センサは、全て直列に接続されている請求項2記載の磁気検知装置。
  4. 1つの前記磁界誘導層と、これに対応して設けられた複数の前記磁気センサで1つの検知ブロックが構成され、それぞれの検知ブロックでは、複数の前記磁気センサが全て直列に接続されており、
    複数の前記磁気センサの感度軸が全て前記磁界誘導層の内部に向けられている検知ブロックと、複数の前記磁気センサの感度軸が全て前記磁界誘導層の外側へ向けられている検知ブロックとが直列に接続され、直列に接続された検知ブロックに電圧が与えられるとともに、直列に接続された2つの検知ブロックの中点から検知出力が得られる請求項1記載の磁気検知装置。
  5. 直列に接続された検知ブロックが2列並列に接続されてフルブリッジ回路が構成されている請求項4記載の磁気検知装置。
  6. 前記磁界誘導層の前記端面は四角形であり、それぞれの前記磁気センサが四角形のそれぞれの辺に沿って配置されている請求項1ないし5のいずれかに記載の磁気検知装置。
  7. それぞれの前記磁気センサは、前記辺の長さの中心部に配置されている請求項6記載の磁気検知装置。
  8. 前記磁界誘導層は、中心部に穴を有し、前記端面は前記穴の縁部である内辺と、外側の縁部である外辺を有し、前記磁気センサは、前記内辺と前記外辺の双方に沿って配置されており、
    内辺に沿って配置された前記磁気センサと、外辺に沿って配置された前記磁気センサとで、感度軸の向きが逆である請求項1記載の磁気検知装置。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018054477A (ja) * 2016-09-29 2018-04-05 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁気センサおよび磁気センサの製造方法
JP2018162993A (ja) * 2017-03-24 2018-10-18 Tdk株式会社 磁気センサ
WO2018199067A1 (ja) * 2017-04-25 2018-11-01 コニカミノルタ株式会社 磁気センサー
WO2019111765A1 (ja) * 2017-12-04 2019-06-13 株式会社村田製作所 磁気センサ
WO2019111766A1 (ja) * 2017-12-04 2019-06-13 株式会社村田製作所 磁気センサ
WO2019111782A1 (ja) * 2017-12-04 2019-06-13 株式会社村田製作所 磁気センサ
JP2019117184A (ja) * 2017-12-26 2019-07-18 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2019168239A (ja) * 2018-03-22 2019-10-03 Tdk株式会社 磁気センサ装置
JP2019168302A (ja) * 2018-03-23 2019-10-03 Tdk株式会社 磁気センサ
WO2022018978A1 (ja) * 2020-07-22 2022-01-27 株式会社村田製作所 磁気センサ
WO2023162584A1 (ja) * 2022-02-24 2023-08-31 株式会社村田製作所 磁気センサ

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009276159A (ja) * 2008-05-14 2009-11-26 Sae Magnetics (Hk) Ltd 磁気センサ
WO2011068146A1 (ja) * 2009-12-02 2011-06-09 アルプス電気株式会社 磁気センサ
JP2012047708A (ja) * 2010-08-30 2012-03-08 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 磁気センサ
JP2012127788A (ja) * 2010-12-15 2012-07-05 Alps Electric Co Ltd 磁気センサ

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009276159A (ja) * 2008-05-14 2009-11-26 Sae Magnetics (Hk) Ltd 磁気センサ
WO2011068146A1 (ja) * 2009-12-02 2011-06-09 アルプス電気株式会社 磁気センサ
JP2012047708A (ja) * 2010-08-30 2012-03-08 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 磁気センサ
JP2012127788A (ja) * 2010-12-15 2012-07-05 Alps Electric Co Ltd 磁気センサ

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018054477A (ja) * 2016-09-29 2018-04-05 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁気センサおよび磁気センサの製造方法
JP2018162993A (ja) * 2017-03-24 2018-10-18 Tdk株式会社 磁気センサ
US10401441B2 (en) 2017-03-24 2019-09-03 Tdk Corporation Magnetic sensor
WO2018199067A1 (ja) * 2017-04-25 2018-11-01 コニカミノルタ株式会社 磁気センサー
US11333723B2 (en) 2017-12-04 2022-05-17 Murata Manufacturing Co., Ltd. Magnetic sensor
WO2019111765A1 (ja) * 2017-12-04 2019-06-13 株式会社村田製作所 磁気センサ
WO2019111766A1 (ja) * 2017-12-04 2019-06-13 株式会社村田製作所 磁気センサ
WO2019111782A1 (ja) * 2017-12-04 2019-06-13 株式会社村田製作所 磁気センサ
US11467231B2 (en) 2017-12-04 2022-10-11 Murata Manufacturing Co., Ltd. Magnetic sensor
JP2019117184A (ja) * 2017-12-26 2019-07-18 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2019168239A (ja) * 2018-03-22 2019-10-03 Tdk株式会社 磁気センサ装置
JP2019168302A (ja) * 2018-03-23 2019-10-03 Tdk株式会社 磁気センサ
WO2022018978A1 (ja) * 2020-07-22 2022-01-27 株式会社村田製作所 磁気センサ
WO2023162584A1 (ja) * 2022-02-24 2023-08-31 株式会社村田製作所 磁気センサ

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