JP2015102629A - 検出ユニットおよびレーザ共焦点顕微鏡 - Google Patents

検出ユニットおよびレーザ共焦点顕微鏡 Download PDF

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Abstract

【課題】戻り光の光量損失を抑えつつ容易かつ低コストで、検出部の検出チャンネル数を増加したり検出部を交換したりする。【解決手段】所定の光形式の光を入射させる検出用入射ポート75Aと、検出用入射ポート75Aから入射された光の少なくとも一部を検出する検出器57Aと、検出用入射ポート75Aに入射した光の少なくとも他の一部を同一の光形式で出射可能な検出用出射ポート65Aとを備える検出ユニット5Aを提供する。【選択図】図1

Description

本発明は、検出ユニットおよびレーザ共焦点顕微鏡に関するものである。
従来、標本からの光を検出する検出部が複数接続されたレーザ共焦点顕微鏡が知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載のレーザ共焦点顕微鏡は、スキャナとピンホールとを備えるスキャナユニットに接続した検出ユニット内に増設ポートを設けて検出部を着脱可能にしたり、検出部を備える複数の検出ユニットを光ファイバによりスキャナユニットに対して着脱可能に接続したりすることで、複数の検出部を交換することができるようになっている。
特開2002−221663号公報
しかしながら、特許文献1に記載のレーザ走査型共焦点顕微鏡のように、内部増設ポートにより検出部を接続するのでは、予め設けた内部増設ポートの数しか検出部を増設できないため検出チャンネルを増加可能な数に限りがあり、また、検出部を配置する自由度も少ないという不都合がある。また、光ファイバにより複数の検出部を接続するのでは、光ファイバの伝達ロスによって光量損失が発生するという不都合がある。
本発明は、光量損失を抑えつつ容易かつ低コストで、検出部の検出チャンネルの数を増加したり検出部を交換したりすることができる検出ユニットおよびレーザ共焦点顕微鏡を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、所定の光形式の光を入射させる検出用入射ポートと、該検出用入射ポートから入射された光の少なくとも一部を検出する検出部と、前記検出用入射ポートに入射した光の少なくとも他の一部を同一の光形式で出射可能な検出用出射ポートとを備える検出ユニットを提供する。
本発明によれば、検出用入射ポートから入射された光の少なくとも一部が検出部により検出される一方、検出用入射ポートから入射された光の少なくとも他の一部が検出用出射ポートから出射される。したがって、一の検出ユニットの検出用出射ポートに他の検出ユニットの検出用入射ポートを一致させて隣接配置することで、一の検出ユニットの検出用出射ポートから出射された光を他の検出ユニットの検出用入射ポートから入射させて、入射した光の少なくとも一部を検出部により検出することができる。
その結果、隣接させる検出ユニットの増設や交換によって、検出チャンネル数の増加や検出部の位置すなわち配置順序の変更を容易かつ低コストで行うことができる。
上記発明においては、前記検出用入射ポートから入射した光の光路を分離し、分離した一方の光路の光を前記検出部に入射させ、他方の光路の光を前記検出用出射ポートに入射させる分離部を備えることとしてもよい。
このように構成することで、分離部により光路が分離された光は、一部が検出部により検出されて残りが検出用出射ポートから外部に出射される。したがって、検出ユニットごとに分離部による光路の分離を調整することで、簡易な構成で所望の光を検出することができる。
上記発明においては、前記検出用入射ポートに入射させる光が平行光からなる前記光形式を有することとしてもよい。
このように構成することで、走査ユニットと検出ユニットとの間および検出ユニット間での光の伝達ロスを極力低減し、光量損失を抑制することができる。
上記発明においては、前記検出用入射ポートに入射された光を前記所定の光形式を変えずにリレーするリレー光学系を備えることとしてもよい。
このように構成することで、リレー光学系により、平行光が持つ微少な拡がり角による光束径の増大をも抑制して、隣接配置した他の検出ユニットに入射させることができる。したがって、検出部による検出効率を維持しつつ検出部の数を増加することができる。
本発明は、光源から発せられた照明光を反射して標本上で走査させ、該標本からの戻り光を照明光の反射位置と同位置で反射して照明光の光路に沿って戻す走査光学系と、該走査光学系を収容し、この走査光学系により照明光の光路に沿って戻された戻り光を所定の光形式で外部に出射する走査用出射ポートを有する走査用筐体とを備える走査ユニットと、前記検出部を収容し、前記検出用入射ポートおよび前記検出用出射ポートを有する検出用筐体を備える複数の上記いずれかの検出ユニットとを備え、前記走査用筐体および各前記検出用筐体が、互いに装着状態において前記走査用出射ポートから出射させる戻り光と前記検出用入射ポートから入射させる戻り光の光軸を一致させるように着脱可能に形成されているとともに、これらの検出用筐体どうしが、互いに装着状態において前記検出用出射ポートから出射させる戻り光と前記検出用入射ポートから入射させる戻り光の光軸を一致させるように着脱可能に形成されているレーザ共焦点顕微鏡を提供する。
本発明によれば、走査ユニットの走査用筐体に対していずれかの検出ユニットの検出用筐体が戻り光を所定の光形式を変えずに出入可能に装着されるとともに、検出ユニットどうしの検出用筐体が戻り光を所定の光形式を変えずに順に出入可能に装着される。そして、光源から発せられた照明光が走査ユニットの走査光学系によって標本上で走査されて、標本からの戻り光がその走査光学系を介して走査用出射ポートから出射され、検出ユニットごとに順に戻り光が検出用入射ポートから入射されてその少なくとも一部が各検出部により検出される一方、少なくとも他の一部が検出用出射ポートから出射される。
この場合において、互いに装着された走査ユニットと検出ユニットの走査用出射ポートから出射させる戻り光と検出用入射ポートから入射させる戻り光の光軸が一致するとともに、互いに装着された検出ユニットどうしの検出用出射ポートから出射させる戻り光と検出用入射ポートから入射させる戻り光の光軸が一致するので、検出光学系の有効光束径を守りつつ複数の検出ユニットを順に隣接配置していくことができる。したがって、戻り光がけられることなく検出チャンネルの数を自由に増加したり、各検出部の位置、すなわち配置順序を自由に変更したりすることができる。また、走査ユニットと検出ユニットまたは検出ユニットどうしを直接接続することにより、ファイバ接続のような光量伝達ロスも生じない。
したがって、戻り光の光量損失を抑えつつ容易かつ低コストで、検出部の検出チャンネルの数の増加や検出部の交換を行うことができる。
上記発明においては、前記走査ユニットが、前記標本に対して共役な位置に配置されたピンホールを備え、該ピンホールにより、前記走査用出射ポートから出射される戻り光の光束を制限することとしてもよい。
このように構成することで、ピンホールにより、標本における照明光の焦点位置において発生した戻り光のみを通過させて走査用出射ポートから出射し、検出ユニットによりその少なくとも一部を検出することができる。これにより、標本における照明光の焦点位置を高精度に観察することができる。
上記発明においては、前記検出用筐体が、前記走査用筐体に装着された状態で、前記走査用出射ポートから出射される戻り光の光軸上に前記検出用入射ポートおよび前記検出用出射ポートが配置され、かつ、他の前記検出用筐体に装着された状態で、該他の検出用筐体の前記検出用出射ポートから出射される戻り光の光軸上に前記検出用入射ポートおよび前記検出用出射ポートが配置されるように形成されていることとしてもよい。
このように構成することで、走査ユニットといずれかの検出ユニットおよび複数の検出ユニットどうしの接続を容易にすることができる。
本発明によれば、光量損失を抑えつつ容易かつ低コストで、検出部の検出チャンネルの数を増加したり検出部を交換したりすることができるという効果を奏する。
本発明の第1実施形態に係る検出ユニットおよびレーザ共焦点顕微鏡を示す縦断面図である。 図1の走査ユニット、第1検出ユニットおよび第2検出ユニットを積み重ねて装着した状態を示す斜視図である。 図1の走査ユニットと第1検出ユニットとを離間した状態を示す図である。 図1の走査用筐体の上面を高さ方向に上方から見た図である。 図1の検出用筐体の上面を高さ方向に上方から見た図である。 図1の検出用筐体の底面を高さ方向に下方から見た図である。 図2の走査ユニット、第1検出ユニットおよび第2検出ユニットの縦断面図である。 図1の検出ユニットの分離部における信号光の光軸のずれを示す図である。 図8の検出ユニットに光軸補正部を設けた様子を示す図である。 図9の光軸補正部の厚さおよび傾きを変更した変形例を示す図である。 本発明の第1実施形態の第1変形例に係る第1検出ユニットおよび第2検出ユニットを示す縦断面図である。 図11の第1検出ユニットおよび第2検出ユニットの別の例を示す図である。 図11の第1検出ユニットおよび第2検出ユニットのさらに別の例を示す図である。 本発明の第1実施形態の第2変形例に係る走査ユニット、第1検出ユニットおよび第2検出ユニットを示す縦断面図である。 本発明の第2実施形態に係る検出ユニットおよびレーザ共焦点顕微鏡を示す縦断面図である。
〔第1実施形態〕
本発明の第1実施形態に係る検出ユニットおよびレーザ共焦点顕微鏡について図面を参照して以下に説明する。
本実施形態に係るレーザ共焦点顕微鏡100は、図1および図2に示すように、光源(図示略)から発せられた照明光を標本Sに照射する顕微鏡本体1と、顕微鏡本体1により標本Sに照射される照明光を走査する走査ユニット3と、照明光が照射されることにより標本Sにおいて発生する蛍光等の信号光(戻り光)を検出する第1検出ユニット5Aおよび第2検出ユニット5Bとを備えている。
顕微鏡本体1は、標本Sを載置するステージ11と、走査ユニット3により走査された照明光を反射する反射ミラー13と、反射ミラー13により反射された照明光を標本Sに照射する一方、標本Sからの信号光を集光して照明光の光路に沿って戻す対物レンズ15とを備えている。
走査ユニット3は、図3に示すように、第1検出ユニット5Aに対して着脱可能に形成されている。また、走査ユニット3は、図1および図3に示すように、走査光学系21と、ピンホール光学系(以下、PH光学系という。)31と、これらを収容する略直方体形状の走査用筐体41とを備えている。
走査光学系21は、光源からの照明光を反射するダイクロイックミラー23と、ダイクロイックミラー23により反射された照明光を偏向するスキャナ25と、スキャナ25により偏向された照明光を集光する瞳投影レンズ27と、瞳投影レンズ27により集光された照明光を平行光に変換して顕微鏡本体1に入射させる結像レンズ29とを備えている。
スキャナ25は、例えば、2軸ガルバノミラーであり、相互に直交する軸線回りに揺動可能な一対のガルバノミラー(図示略)により構成されている。このスキャナ25は、一対のガルバノミラーにより、ダイクロイックミラー23からの照明光を反射して標本S上で2次元的(X軸方向およびY軸方向)に走査させ(スキャン)、標本Sから対物レンズ15を介して戻る信号光を照明光の反射位置と同位置で反射してダイクロイックミラー23に戻す(ディスキャン)ようになっている。
ダイクロイックミラー23は、照明光をスキャナ25に向けて反射する一方で、スキャナ25を介して戻る信号光を透過させてPH光学系31に入射させるようになっている。
PH光学系31は、ダイクロイックミラー23を透過した信号光を集光する共焦点レンズ33と、共焦点レンズ33により集光された信号光の通過を制限するピンホール(PH)35と、ピンホール35を通過した信号光を平行光に変換するコリメートレンズ37と、平行光に変換された信号光を外部に向けて反射する反射ミラー39とを備えている。
ピンホール35は、標本Sと共役な位置に配置されており、共焦点レンズ33により集光された信号光の内、標本Sにおける対物レンズ15の焦点位置において発生した信号光のみを通過させることができるようになっている。
走査用筐体41には、これら走査光学系21およびPH光学系31の各光学系がその短手方向に沿って間隔を空けて配されている。この走査用筐体41は、図3および図4に示すように、底面に平行に配された略平坦な上面43を有している。上面43には、厚さ方向に貫通し、反射ミラー39により反射された信号光を所定の光形式で外部に出射させる走査用出射ポート45が形成されている。
また、上面43には、底面側とは反対側に向かって突出する2つの位置決めピン47,48と、固定ビス9(図2参照)を締結可能な4つのタップ49とが設けられている。2つの位置決めピン47,48は、走査用筐体41の長手方向の両端部付近にそれぞれ配されている。4つのタップ49は、走査用筐体41の長手方向の両端部付近に2つずつ設けられ、それぞれ短手方向に間隔を空けて配されている。
図4において、符号aは走査用筐体41の長手方向における走査用出射ポート45と一方の位置決めピン47との間の距離を示し、符号bは同じく走査用筐体41の長手方向における位置決めピン47,48どうしおよびタップ49どうしの距離を示し、符号cは走査用筐体41の短手方向における走査用出射ポート45と一方のタップ49との間の距離を示し、符号dは同じく走査用筐体41の短手方向におけるタップ49どうしの距離を示している。
第1検出ユニット5Aおよび第2検出ユニット5Bは、互いに同一の構成を有しており、相互に着脱可能に形成されている。すなわち、これら検出ユニット5A,5Bは、図1および図3に示すように、信号光の光路を分離可能な分離部51A,51Bと、分離部51A,51Bにより分離された一方の光路の信号光を検出する検出光学系53A,53Bと、これらを収容する略直方体形状の検出用筐体61A,61Bとを備えている。図3は、第1検出ユニット5Aを例示している。
分離部51A,51Bは、例えば、ダイクロイックミラー、反射ミラーまたは素ガラス等であり、信号光の少なくとも一部を検出光学系53に向けて反射し、信号光の残りを透過させるようになっている。本実施形態においては、分離部51として平行平面板からなるダイクロイックミラーを採用し、信号光の光軸に対して45°傾けて配置することとする。分離部51としては、図示しないターレットにより、他のダイクロイックミラー、反射ミラーまたは素ガラス等を選択的に光路に挿入することが可能であり、分離する信号光の波長を適宜変更することができるようになっている。
検出光学系53A,53Bは、分離部51A,51Bにより反射された信号光に含まれる励起波長帯域の光を遮断して所定の波長の蛍光のみを透過させるバリアフィルタ55A,55Bと、バリアフィルタ55A,55Bを透過した蛍光を検出する検出器(検出部)57A,57Bとを備えている。
検出器57A,57Bは、例えば、光電子増倍管であり、検出した蛍光の強度に応じた電気信号を出力するようになっている。これら検出器57A,57Bは、例えば、検出する波長域や検出感度が互いに異なっている。
検出用筐体61A,61Bには、分離部51A,51Bおよび検出光学系53A,53Bの各光学系がその短手方向に沿って間隔を空けて配されている。検出用筐体61A,61Bは、図5および図6に示すように、互いに平行に配された略平坦な上面63A,63Bおよび底面73A,73Bを有している。
上面63A,63Bには、分離部51A,51Bを透過した信号光を同一の光形式で出射可能な検出用出射ポート65A,65Bが形成されている。また、上面63A,63Bには、底面73A,73B側とは反対側に向かって突出する2つの位置決めピン67A,67Bおよび68A,68Bと、固定ビス9を締結可能な4つのタップ69A,69Bとが設けられている。
2つの位置決めピン67A,67Bおよび68A,68Bは、図5に示すように、検出用筐体61A,61Bの長手方向の両端部付近にそれぞれ配されている。4つのタップ69A,69Bは、検出用筐体61A,61Bの四隅にそれぞれ配されている。これら2つの位置決めピン67A,67Bおよび68A,68Bは、検出用出射ポート65A,65Bを基準にして、走査用出射ポート45を基準にした走査用筐体41の2つの位置決めピン47,48と同じ位置関係および距離寸法を有している。また、4つのタップ69A,69Bは、検出用出射ポート65A,65Bを基準にして、走査用出射ポート45を基準にした走査用筐体41の4つのタップ49と同じ位置関係および距離寸法を有している。
また、検出用筐体61A,61Bの底面73A,73Bには、図6に示すように、外部からの信号光をその光形式を変えずに入射可能な検出用入射ポート75A,75Bが形成されている。この検出用入射ポート75A,75Bは、入射させる信号光の光軸が検出用出射ポート65A,65Bから出射させる信号光の光軸と同軸となるように配されている。
また、底面73A,73Bには、走査用筐体41の位置決めピン47,48および検出用筐体61A,61Bの位置決めピン67A,67Bおよび68A,68Bを挿入可能な嵌合孔77A,77Bおよび長孔78A,78Bと、固定ビス9が貫通可能な4つのビス通し孔79A,79Bとが設けられている。
嵌合孔77A,77Bおよび長孔78A,78Bは、検出用筐体61A,61Bの長手方向の両端部付近にそれぞれ配されている。4つのビス通し孔79A,79Bは、検出用筐体61A,61Bの四隅にそれぞれ配されている。図6において、符号aは検出用筐体61A,61Bの長手方向における検出用入射ポート75A,75Bと嵌合孔77A,77Bとの間の距離を示し、符号bは同じく検出用筐体61の長手方向における嵌合孔77A,77Bと長孔78A,78Bとの間およびビス通し孔79A,79Bどうしの距離を示し、符号cは検出用筐体61A,61Bの短手方向における検出用入射ポート75A,75Bと一方のビス通し孔79A,79Bとの間の距離を示し、符号cは同じく検出用筐体61A,61Bの短手方向におけるビス通し孔79A,79Bどうしの距離を示している。
すなわち、これら嵌合孔77A,77B、長孔78A,78Bは、それぞれ走査用筐体41の2つの位置決めピン47,48および他の検出用筐体61A,61Bの位置決めピン67,68に対応する位置関係および距離寸法を有している。また、4つのビス通し孔79A,79Bは、それぞれ走査用筐体41の4つのタップ49および他の検出用筐体61A,61Bの4つのタップ69A,69Bに対応する位置関係および距離寸法を有している。
したがって、走査ユニット3の2つの位置決めピン47,48を第1検出ユニット5Aの嵌合孔77Aおよび長孔78Aにそれぞれ挿入して位置決めするとともに、走査ユニット3の4つのタップ49と第1検出ユニット5Aの4つのビス通し孔79Aとをそれぞれ一致させて走査用筐体41と検出用筐体61Aとを隣接配置すると、走査ユニット3の走査用出射ポート45と第1検出ユニット5Aの検出用入射ポート75Aとを一致させることができるようになっている。
そして、第1検出ユニット5Aのビス通し孔79Aに固定ビス9を貫通させて走査ユニット3のタップ49により締結させることで、図7に示すように、走査ユニット3の走査用出射ポート45から出射させる信号光と第1検出ユニット5Aの検出用入射ポート75Aから入射させる信号光の光軸とを一致させて走査用筐体41と検出用筐体61Aとを固定することができるようになっている。
また、第1検出ユニット5Aの2つの位置決めピン67A,68Aを第2検出ユニット5Bの嵌合孔77Bおよび長孔78Bにそれぞれ挿入して位置決めするとともに、第1検出ユニット5Aの4つのタップ69Aと第2検出ユニット5Bの4つのビス通し孔79Bとをそれぞれ一致させて検出用筐体61A,61Bどうしを隣接配置すると、第1検出ユニット5Aの検出用出射ポート65Aと第2検出ユニット5Bの検出用入射ポート75Bとを一致させることができるようになっている。
そして、第2検出ユニット5Bのビス通し孔79Bに固定ビス9を貫通させて第1検出ユニット5Aのタップ69Aにより締結させることで、図7に示すように、第1検出ユニット5Aの検出用出射ポート65Aから出射させる信号光と第2検出ユニット5Bの検出用入射ポート75Bから入射させる信号光の光軸とを一致させて検出用筐体61A,61Bどうしを固定することができるようになっている。
このように構成された検出ユニット5A,5Bおよびレーザ共焦点顕微鏡100の作用について図1を用いて説明する。
本実施形態に係るレーザ共焦点顕微鏡100により標本Sを観察するには、走査ユニット3の走査用筐体41に対して第1検出ユニット5Aの検出用筐体61Aを信号光が所定の光形式を変えずに出入可能に装着するとともに、検出ユニット5A,5Bの検出用筐体61A,61Bどうしが信号光を所定の光形式を変えずに順に出入可能に装着する。
次いで、ステージ11に標本Sを載置し、光源から発せられる照明光を走査ユニット3に入射させる。走査ユニット3に入射した照明光は、ダイクロイックミラー23により反射されてスキャナ25により偏向された後、瞳投影レンズ27により集光され結像レンズ29により平行光に変換されて顕微鏡本体1に入射する。
顕微鏡本体1に入射した照明光は、反射ミラー13により反射されて対物レンズ15により標本に照射される。これにより、スキャナ25の一対のガルバノミラーの揺動角度に応じて、標本Sの焦点面上で照明光が2次元的に走査される。
照明光が照射されることにより標本Sにおいて発生する信号光は、対物レンズ15により集光された後、反射ミラー13、結像レンズ29、瞳投影レンズ27を介して照明光の光路を戻り、スキャナ25によりディスキャンされてダイクロイックミラー23を透過する。ダイクロイックミラー23を透過した信号光は、共焦点レンズ33により集光され、その内の標本における対物レンズ15の焦点位置において発生した信号光のみがピンホール35を通過してコリメータレンズ47により平行光に変換される。そして、平行光に変換された信号光は、反射ミラー39により反射されて走査用出射ポート45から平行光束のまま外部に出射される。
走査用出射ポート45から出射した信号光は、第1検出ユニット5Aの検出用入射ポート75Aから平行光束のまま検出用筐体61Aに入射し、分離部51Aにより波長に応じて光路が分離される。分離部51Aにより反射された所定の波長の信号光はバリアフィルタ55Aを介して検出器57Aにより検出され、分離部51Aを透過した他の波長の信号光は検出用出射ポート65Aから平行光束のまま外部に出射される。
検出用出射ポート65Aから出射した信号光は、第2検出ユニット5Bの検出用入射ポート75Bから平行光束のまま検出用筐体61Bに入射し、分離部51Bにより波長に応じて光路が分離される。分離部51Bにより反射された所定の波長の信号光はバリアフィルタ55Bを介して検出器57Bにより検出され、分離部51Bを透過した他の波長の信号光は検出用出射ポート65Bから平行光束のまま外部に出射される。
以上説明したように、本実施形態に係る検出ユニット5A,5Bおよびレーザ共焦点顕微鏡100によれば、互いに装着された走査ユニット3と第1検出ユニット5Aとの間で走査ユニット3の走査用出射ポート45から出射させる信号光と第1検出ユニット5Aの検出用入射ポート75Aから入射させる信号光の光軸が一致するとともに、互いに装着された検出ユニット5A,5Bどうしの間で第1検出ユニット5Aの検出用出射ポート65Aから出射させる信号光と第2検出ユニット5Bの検出用入射ポート75Bから入射させる信号光の光軸が一致するので、検出光学系53A,53Bの有効光束径を守りつつ複数の検出ユニット5A,5Bを順に隣接配置していくことができる。したがって、戻り光がけられることなく検出チャンネルの数を自由に増加したり、検出ユニット5A(検出器57A)と検出ユニット5B(検出器57B)の位置を自由に入れ換えたりすることができる。また、走査ユニット3と第1検出ユニット5Aまたは検出ユニット5A,5Bどうしが直接続されることにより、ファイバ接続のような光量伝達ロスも生じない。
これにより、信号光の光量損失を抑えつつ容易かつ低コストで、レーザ共焦点顕微鏡100の検出チャンネルの数の追加や検出器57A,57Bの位置交換を行うことができる。なお、軸上光線のみを扱うレーザ共焦点顕微鏡では、検出ユニットを例えば複数個追加して光路長が大きく伸びても、軸外光線のケラレによる周辺光量の不足の問題が発生することはない。
本実施形態においては、図8に示すように、分離部51A,51Bが平行平面板であるため、分離部51A,51Bに入射直前の信号光に対して透過後の信号光は光軸がσだけシフトする。σは平行平面板の厚さおよび屈折率によって決まる。屈折率が1.5程度で厚さが1mmのガラス材質からなる平行平面板ではσは約0.3mmとなる。本実施形態においては、検出用出射ポート65A,65Bおよび検出用入射ポート75A,75Bに対して分離部51A,51Bの位置が決まっているので、隣接する検出ユニット5A,5B間で光軸がずれることはない。すなわち、検出ユニット5A,5B全体がσだけずれることになる。
この場合において、図9示すように、分離部51A,51Bと検出用出射ポート65A,65Bとの間に、分離部51A,51Bにおいてシフトした信号光の光軸をシフトした分だけ戻す光軸補正部59A,59Bを設けることとしてもよい。例えば、分離部51A,51Bとしてガラス材料からなる平行平面板を採用した場合は、光軸補正部59A,59Bとしてその平行平面板と同じ厚さを有するガラス材料からなる平行平面板のダミーガラスを採用し、分離部51A,51Bに対して逆向きに45°傾けて配置することとすればよい。
このようにすることで、分離部51A,51Bを透過した信号光が、光軸補正部59A,59Bにより分離部51A,51Bにおいてシフトした分だけ反対方向にシフトされて光軸のずれが補正され、検出用出射ポート65A,65Bから出射される。平行平面板からなる分離部51A,51Bの厚さが1mmの場合に分離部51A,51Bによる信号光の光軸のシフト量は、例えば0.3mm程度と小さいが、検出ユニット5A,5Bを多く接続すると、検出ユニット5A,5Bどうしのずれがレーザ共焦点顕微鏡100の外観を損なったり周辺ユニットと干渉したりすることがある。分離部51A,51Bによる光軸のずれを光軸補正部59A,59Bによりキャンセルすることで、検出ユニット5A,5B周辺のユニットの干渉や検出ユニット5A,5Bの外観のずれをなくすことができる。
図9においては、光軸補正部59A,59Bが、分離部51A,51Bと同じ厚さの平行平面板であって分離部51A,51Bに対して逆向きに45°傾けて配置することとしたが、分離部51A,51Bによる信号光の光軸のずれを元に戻すことができればよい。例えば、図10に示すように、光軸補正部59A,59Bとして、分離部51A,51Bよりも厚さが厚い平行平面板を採用し、45°よりも傾きを小さくして配置することとしてもよい。
本実施形態は以下のように変形することができる。
第1変形例としては、図11に示すように、検出用入射ポート75A,75Bに入射した信号光を所定の光形式を変えずにリレーするリレー光学系81A,81Bを備えることしてもよい。リレー光学系81A,81Bは、例えば、信号光を集光する第1リレーレンズ83A,83Bと第1リレーレンズ83A,83Bにより集光された信号光を平行光に変換する第2リレーレンズ85A,85Bとにより構成し、分離部51A,51Bと検出用出射ポート65A,65Bとの間の光路上に配置することとすればよい。
このようにすることで、分離部51A,51Bを透過した信号光は、リレー光学系81の第1リレーレンズ83A,83Bにより集光された後、第2リレーレンズ85A,85Bにより平行光に変換されて、所定の光形式のまま検出用出射ポート65A,65Bから出射される。したがって、リレー光学系81A,81Bにより、微少な拡がり角による光束径の増大を抑制して隣接する検出ユニットに入射させることができる。これにより、検出器57A,57Bによる検出効率を維持しつつ検出器57A,57Bの数を増加することができる。
本変形例においては、例えば、図12に示すように、検出用入射ポート75A,57Bと分離部51A,51Bとの間にリレー光学系81A,81Bを配置することとしてもよい。このようにすることで、検出用入射ポート75A,75Bに入射した信号光は、リレー光学系81A,81Bの第1リレーレンズ83A,83Bにより集光された後、第2リレーレンズ85A,85Bにより平行光に変換されて分離部51A,51Bにより光路が分離される。
また、本変形例においては、図13に示すように、PH光学系31のコリメートレンズ37および反射ミラー13に代えて、リレー光学系81Aの第1リレーレンズ83Aをピンホール35と走査用出射ポート45との間に配置し、第2リレーレンズ85Aを検出用入射ポート75Aと分離部51Aとの間に配置することとしてもよい。また、他のリレー光学系81Bの第1リレーレンズ83Bを第1検出ユニット5Aの分離部51Aと検出用出射ポート75Bとの間に配置し、第2リレーレンズ85Bを第2検出ユニット5Bの検出用出射ポート65Bと分離部51Bとの間に配置することとしてもよい。この場合、第1リレーレンズ83AをPH光学系31と兼用することができる。
第2変形例としては、例えば、図14に示すように、検出ユニット5A,5Bを各検出用入射ポート75A,75Bおよび各検出用出射ポート65A,65Bを通過する信号光の光軸が走査用筐体41の上面43に対して平行になるように、検出ユニット5A,5Bの向きを変えて走査用筐体41の上面43に並べて配置することとしてもよい。
この場合、走査用筐体41の上面43に対して信号光を平行に出射できるように走査用出射ポート45を配置するとともに、PH光学系31の反射ミラー13により反射された信号光を走査用筐体41の上面43上を沿うように折り返す反射ミラー87を追加し、反射ミラー87により反射された信号光を走査用出射ポート45から走査用筐体41の上面に沿って出射させて、各検出用筐体41に順次入射させることとすればよい。このようにすることで、レーザ共焦点顕微鏡100の高さに制限がある場合でも、検出器57A,75Bの検出チャンネルの数を増加することができる。
〔第2実施形態〕
次に、本発明の第2実施形態に係る検出ユニットおよびレーザ共焦点顕微鏡について説明する。
本実施形態に係るレーザ共焦点顕微鏡200は、図15に示すように、走査光学系21が、ダイクロイックミラー23を透過した信号光を走査用出射ポート45に向けて反射する反射ミラー89を備え、また、PH光学系31に代えて、各検出ユニット5A,5BがPH光学系131A,131Bを備える点で第1実施形態と異なる。
以下、第1実施形態に係る検出ユニット5A,5Bおよびレーザ共焦点顕微鏡100と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
PH光学系131A,131Bは、分離部51A,51Bにより分離された信号光を集光する結像レンズ133A,133Bと、ピンホール135A,135Bと、コリメートレンズ137A,137Bとを備え、これらが分離部51A,51Bと検出光学系53A,53Bとの間に検出用筐体61A,61Bの短手方向に沿って配されている。
このように構成されたレーザ共焦点顕微鏡200によれば、スキャナ25によりディスキャンされた信号光がダイクロイックミラー23を透過した後、反射ミラー89により反射されて走査用出射ポート45から平行光束のまま外部に出射される。
走査用出射ポート45から出射した信号光は、第1検出ユニット5Aの検出用入射ポート75Aから平行光束のまま検出用筐体61Aに入射し、分離部51Aにより波長に応じて光路が分離される。分離部51Aにより反射された所定の波長の信号光は、PH光学系131Aの結像レンズ133Aにより集光され、その内の標本における対物レンズ15の焦点位置において発生した信号光のみがピンホール135Aを通過してコリメータレンズ137Aにより平行光に変換され、検出光学系53Aにより検出される。一方、分離部51Aを透過した他の波長の信号光は検出用出射ポート65Aから平行光束のまま外部に出射される。
検出用出射ポート65Aから出射した信号光は、第2検出ユニット5Bの検出用入射ポート75Bから平行光束のまま検出用筐体61Bに入射する。そして、第1検出ユニット5Aと同様にして、分離部51Bにより分離された所定の波長の信号光がPH光学系131Bを介して検出光学系53Bにより検出され、他の波長の信号光が検出用出射ポート65Bから平行光束のまま外部に出射される。
本実施形態に係るレーザ共焦点顕微鏡200によれば、検出ユニット5A,5Bごとに、検出する蛍光の波長に応じてピンホール135A,136Bのピンホール径を変更することができる。したがって、信号光をより詳細に検出でき、ユーザの利便性を向上することができる。
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、本発明を上記各実施形態および変形例に適用したものに限定されることなく、これらの実施形態および変形例を適宜組み合わせた実施形態に適用してもよく、特に限定されるものではない。
また、例えば、上記各実施形態においては、2つの検出ユニット5A,5Bを例示して説明したが、レーザ共焦点顕微鏡100が検出ユニット5A,5Bと同様の構成の検出ユニットを3つ以上備えることとしてもよい。この場合、第1検出ユニット5Aと第2検出ユニット5Bとの装着と同様にして、3つ目以降の検出ユニットを順次隣接配置することとすればよい。
また、上記各実施形態においては、位置決めピン47,48,67A,67A,68A,68Bにより走査用筐体41と検出用筐体61Aおよび検出用筐体61A,61Bどうしを位置決めすることとしたが、筐体どうしを装着した状態で走査ユニット3の走査用出射ポート45と第1検出ユニット5Aの検出用入射ポート75Aおよび第1検出ユニット5Aの検出用出射ポート65Aと第2検出ユニット5Bの検出用入射ポート75Bをそれぞれ一致させることができればよく、例えば、2方向の当て付け等によりこれらを位置決めすることとしてもよい。
上記各実施形態においては、検出ユニット5A,5Bが同一の構成を有することとして説明したが、例えば、より高感度な光電子増倍管など、使用する検出器57A,57Bの種類が異なり、それに合わせて検出光学系53A,53Bが異なっていてもよい。この場合、走査ユニット3および検出ユニット5A,5Bへの取り付け方式が同じで、筐体41,61A,61Bどうしを装着した状態で、走査ユニット3の走査用出射ポート45と第1検出ユニット5Aの検出用入射ポート75Aおよび第1検出ユニット5Aの検出用出射ポート65Aと第2検出ユニット5Bの検出用入射ポート75Bとをそれぞれ一致させることができればよい。
なお、上記各実施形態およびその変形例においては、走査ユニット3、第1検出ユニット5A、第2検出ユニット5Bの順に配置する場合を例示したが、例えば、走査ユニット3以降は自由であり、第2検出ユニット5B、第1検出ユニット5Aの順に配置することとしてもよく、その場合も装着の仕方は同様である。
3 走査ユニット
5A 第1検出ユニット(検出ユニット)
5B 第2検出ユニット(検出ユニット)
21 走査光学系
35 ピンホール
41 走査用筐体
45 走査用出射ポート
51A,51B 分離部
57A,57B 検出器(検出部)
61A,61B 検出用筐体
65A,65B 検出用出射ポート
75A,75B 検出用入射ポート
81A,81B リレー光学系
100,200 レーザ共焦点顕微鏡
S 標本

Claims (7)

  1. 所定の光形式の光を入射させる検出用入射ポートと、
    該検出用入射ポートから入射された光の少なくとも一部を検出する検出部と、
    前記検出用入射ポートに入射した光の少なくとも他の一部を同一の光形式で出射可能な検出用出射ポートとを備える検出ユニット。
  2. 前記検出用入射ポートから入射した光の光路を分離し、分離した一方の光路の光を前記検出部に入射させ、他方の光路の光を前記検出用出射ポートに入射させる分離部を備える請求項1に記載の検出ユニット。
  3. 前記検出用入射ポートに入射させる光が平行光からなる前記光形式を有する請求項1または請求項2に記載の検出ユニット。
  4. 前記検出用入射ポートに入射された光を前記所定の光形式を変えずにリレーするリレー光学系を備える請求項3に記載の検出ユニット。
  5. 光源から発せられた照明光を反射して標本上で走査させ、該標本からの戻り光を照明光の反射位置と同位置で反射して照明光の光路に沿って戻す走査光学系と、該走査光学系を収容し、この走査光学系により照明光の光路に沿って戻された戻り光を所定の光形式で外部に出射する走査用出射ポートを有する走査用筐体とを備える走査ユニットと、
    前記検出部を収容し、前記検出用入射ポートおよび前記検出用出射ポートを有する検出用筐体を備える複数の請求項1から請求項4のいずれかに記載の検出ユニットとを備え、
    前記走査用筐体および各前記検出用筐体が、互いに装着状態において前記走査用出射ポートから出射させる戻り光と前記検出用入射ポートから入射させる戻り光の光軸を一致させるように着脱可能に形成されているとともに、これらの検出用筐体どうしが、互いに装着状態において前記検出用出射ポートから出射させる戻り光と前記検出用入射ポートから入射させる戻り光の光軸を一致させるように着脱可能に形成されているレーザ共焦点顕微鏡。
  6. 前記走査ユニットが、前記標本に対して共役な位置に配置されたピンホールを備え、該ピンホールにより、前記走査用出射ポートから出射される戻り光の光束を制限する請求項5に記載のレーザ共焦点顕微鏡。
  7. 前記検出用筐体が、前記走査用筐体に装着された状態で、前記走査用出射ポートから出射される戻り光の光軸上に前記検出用入射ポートおよび前記検出用出射ポートが配置され、かつ、他の前記検出用筐体に装着された状態で、該他の検出用筐体の前記検出用出射ポートから出射される戻り光の光軸上に前記検出用入射ポートおよび前記検出用出射ポートが配置されるように形成されている請求項5または請求項6に記載のレーザ共焦点顕微鏡。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018129833B4 (de) * 2017-12-04 2020-01-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopsystem, Detektionseinheit für Mikroskopsystem und Verfahren zur mikroskopischen Abbildung einer Probe
US20230314126A1 (en) * 2022-04-04 2023-10-05 Applied Materials, Inc. Methods for high-resolution, stable measurement of pitch and orientation in optical gratings

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06160725A (ja) * 1992-11-20 1994-06-07 Olympus Optical Co Ltd 鏡筒およびアダプター
JPH06347703A (ja) * 1993-06-03 1994-12-22 Olympus Optical Co Ltd 中間接続鏡筒
US20010054676A1 (en) * 2000-06-23 2001-12-27 Shinichirou Kawamura Optical image separation system and confocal scanning unit
JP2002221663A (ja) * 2001-01-29 2002-08-09 Nikon Corp 走査型共焦点顕微鏡
JP2006138928A (ja) * 2004-11-10 2006-06-01 Olympus Corp 生体観察装置
US20090067042A1 (en) * 2004-11-10 2009-03-12 Yoshihisa Tanikawa In-vivo examination apparatus
JP2009116031A (ja) * 2007-11-06 2009-05-28 Nikon Corp 光検出ユニット、顕微鏡
US20110279893A1 (en) * 2008-11-17 2011-11-17 Femtonics Kft. Laser scanning microscope

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2146234A1 (en) 2008-07-15 2010-01-20 Femtonics Kft. Laser scanning microscope
JP5289884B2 (ja) 2008-10-01 2013-09-11 オリンパス株式会社 レーザ顕微鏡装置
US8424111B2 (en) * 2010-06-23 2013-04-16 Olympus Corporation Near-field optical microscope, near-field optical probe, and sample observation method
CN103189737B (zh) 2010-10-29 2017-05-31 奥林巴斯株式会社 图像分析方法以及图像分析装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06160725A (ja) * 1992-11-20 1994-06-07 Olympus Optical Co Ltd 鏡筒およびアダプター
JPH06347703A (ja) * 1993-06-03 1994-12-22 Olympus Optical Co Ltd 中間接続鏡筒
US20010054676A1 (en) * 2000-06-23 2001-12-27 Shinichirou Kawamura Optical image separation system and confocal scanning unit
JP2002062480A (ja) * 2000-06-23 2002-02-28 Yokogawa Electric Corp 光学画像分離装置及び共焦点スキャナユニット
JP2002221663A (ja) * 2001-01-29 2002-08-09 Nikon Corp 走査型共焦点顕微鏡
JP2006138928A (ja) * 2004-11-10 2006-06-01 Olympus Corp 生体観察装置
US20090067042A1 (en) * 2004-11-10 2009-03-12 Yoshihisa Tanikawa In-vivo examination apparatus
JP2009116031A (ja) * 2007-11-06 2009-05-28 Nikon Corp 光検出ユニット、顕微鏡
US20110279893A1 (en) * 2008-11-17 2011-11-17 Femtonics Kft. Laser scanning microscope

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