JP2015066520A - 塗布装置、塗布方法 - Google Patents

Abstract

【課題】塗膜の均一性を好適に検査可能な塗布装置等を提供する。【解決手段】塗布装置１は、基材１０に塗布を行う塗布部４０と、塗布部４０により塗布が行われた搬送中の基材１０から、複数箇所をサンプルとして採取し、重量を測定する検査部３０ｂと、各サンプルの重量に基づく膜厚の差を算出する比較部５５と、を具備する。塗布部４０は、圧胴４３によって基材１０を版胴４４に押圧することで版胴４４のインキ４６を基材１０へ塗布するものであり、比較部５５により算出された膜厚の差に基づいて、圧胴４３の押圧力を制御部５３より制御することで、基材１０の膜厚が均一に制御される。【選択図】図１

Description

本発明は、基材に塗布を行う塗布装置、塗布方法に関する。

壁紙や化粧板等の製品では、表面に色調等を付与し意匠性を持たせるために塗膜を形成することがある。意匠性を高めるためには、製品全体の塗膜の膜厚を適正な値にして色調を揃える必要があり、従来、塗布前に調色及び試し刷りを実施している。特に、壁紙のように左右に複数並べて用いるものでは、製品の製造後にも左右両端をつき合わせて比較し、色調等が同じであるか否かの検査を実施し、不均一な場合には、ロット全体を不良として廃棄している。

このような塗膜の不均一性を未然に防ぐため、塗膜形成中に膜厚が適正な値になっているかを評価する方法として、光干渉を利用した光学式膜厚計により、フィルム上の塗膜の膜厚を測定し、塗布工程の制御を行う方法が提案されている（例えば、特許文献１）。

特開２０１０−１８８３１６号公報

しかしながら、壁紙等の場合、壁紙自体に若干の凹凸がある場合や、意匠性を高めるために塗膜に粒子等の固形物を含ませる場合があり、このようなケースでは光の反射や散乱が発生し、光学的に塗膜の膜厚を測定することが困難であった。

本発明は前述した問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、塗膜の均一性を好適に検査可能な塗布装置等を提供することにある。

前述した目的を達成するための第１の発明は、基材に塗布を行う塗布部と、前記塗布部により塗布が行われた搬送中の前記基材から、複数箇所をサンプルとして採取し、重量を測定する塗布後検査部と、前記重量に基づく各サンプルの塗膜量について、差を算出する比較部と、を具備することを特徴とする塗布装置である。

本発明では、基材の重量に基づいて塗膜量を求めることが可能になり、光学的に測定を行う場合の前記した問題がなく、好適に塗膜量の差を検査できる。また、インラインで計測した塗膜量の差から、塗膜の均一性を製品の製造中に評価できるので、塗布部の制御に利用して製品の品質を高めたり、品質保証に利用することが可能になる。

前記塗布後検査部は、前記基材の搬送方向と直交する幅方向の両端部から採取したサンプルについて重量を測定し、前記比較部は、前記基材の幅方向の両端部のサンプルについて、塗膜量の差を算出することが望ましい。
これにより、基材の幅方向の塗膜の均一性を評価することが可能になり、壁紙のように基材を幅方向に並べて用いるような場合に特に有効である。

前記塗布部は、圧胴によって前記基材を版胴に押圧することで前記版胴のインキを前記基材へ塗布するものであり、前記塗布装置は、前記比較部により算出された塗膜量の差に基づいて、前記圧胴の押圧力を調整する制御部を更に具備することが望ましい。
これにより、塗膜量の差をフィードバックして、塗膜量が均一になるように塗布部を好適に制御できる。圧胴の押圧力を増加させると塗膜量が増加し、押圧力を減少させると塗膜量が減少するので、圧胴の押圧力の調整により塗膜量の制御が可能になる。

また、前記塗膜量は、前記サンプルの塗膜の膜厚であることが望ましい。
インキを塗布する場合には膜厚によって色調が変わるので、膜厚を用いることで、意匠性の観点により即した評価ができる。

また、前記基材は、ロール状に巻かれた状態から巻き出して搬送されるものであり、前記塗布装置は、前記サンプルの採取を行うため、前記基材を搬送方向に沿って切り離すスリット部を更に具備することが望ましい。
これにより、製品の製造とサンプルの検査を別に行うことができ、サンプルの検査が製品の製造工程へ与える影響が少なくなる。

また、前記塗布部により塗布を行う前の搬送中の前記基材からサンプルを採取し、重量を測定する塗布前検査部を更に具備し、前記塗膜量は、前記塗布後検査部で測定されたサンプルの重量と、前記塗布前検査部で測定されたサンプルの重量に基づくものであることが望ましい。
製品の製造中に測定した塗布前の基材の重量を用いることで、より正確な塗膜量の検査が可能になる。

前記塗布装置は、前記塗布部により塗布が行われた前記基材を乾燥する乾燥部を更に具備し、前記塗布後検査部は、乾燥後の前記基材から前記サンプルを採取することが望ましい。
乾燥後の基材からサンプルを採取することで、サンプルの取扱が容易になり、また製品に近い状態での評価が行える。

第２の発明は、塗布部が、基材に塗布を行うステップと、検査部が、前記塗布部により塗布が行われた搬送中の前記基材から、複数箇所をサンプルとして採取し、重量を測定するステップと、比較部が、前記重量に基づく各サンプルの塗膜量について、差を算出するステップと、を具備することを特徴とする塗布方法である。

本発明により、塗膜の均一性を好適に検査可能な塗布装置等を提供することが可能になる。

塗布装置１を示す図 スリット部２０を示す図 塗布部４０を示す図 検査部３０ａ、３０ｂを示す図 計算部３３のハードウェア構成を示す図 塗布装置１による塗布方法の流れを示すフローチャート アキュムレート機構５０を示す図 塗布装置１ａを示す図 サンプル２９ａ、２９ｂを示す図

以下、本発明の実施形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。

［第１の実施形態］
（１．塗布装置）
図１は本発明の第１の実施形態に係る塗布装置１を示す図である。この塗布装置１は、給紙部１１、塗布部４０、乾燥部５０、製品巻取部１７、スリット部２０、２５、検査部３０ａ、３０ｂ、試料巻取部１３、比較部５５、制御部５３等で構成される。

給紙部１１では、ロール状に巻かれたウェブ状の基材１０が、リールから巻き出されて搬送される。この基材１０は、例えばロール紙等の表面に樹脂層を形成したエンボス加工前の壁紙であり、塗布装置１でインキの塗布を行うことで意匠が施される。ただし、基材１０はこれに限らず、塗布の対象となるものであればよい。

スリット部２０は、搬送中の基材１０から検査用の試料１２を切り離すものである。図２（ａ）に、本実施形態のスリット部２０を示す。

図２（ａ）に示すように、スリット部２０では、基材１０が搬送ローラー１９によって矢印Ａで示される搬送方向に搬送される。搬送方向と直交する基材１０の幅方向の両端部から所定幅離れた位置には、２つのカッター２１がそれぞれ配置される。この２つのカッター２１により、基材１０の幅方向の両端部が搬送方向に沿って切断される。各カッター２１ａ、２１ｂによって切り離された所定幅の基材１０の端部は、それぞれ試料１２ａ、１２ｂとして検査部３０ａ（塗布前検査部）へと搬送される。一方、残った基材１０は塗布部４０に搬送される。

図１の説明に戻る。塗布部４０は基材１０へインキを塗布し、印刷を行うものである。本実施形態では、基材１０全体に同じ柄が繰り返す意匠の印刷を行う。インキによる塗膜の膜厚は色調に影響し、一般的に膜厚が大きい程色は濃くなり膜厚が小さいと色は薄くなる。

図３は塗布部４０を示す図である。図３（ａ）に示すように、塗布部４０は、例えば、インキ４６を充填したインキパン４８、インキングロール４５、版胴４４、ドクターブレード４７、圧胴４３等で構成される。

インキングロール４５の下部はインキ４６に浸されており、インキングロール４５の回転によりインキ４６が版胴４４の表面に付着する。版胴４４の表面には印刷柄に応じた凹凸が形成され、回転中にドクターブレード４７によって表面の余分なインキ４６を掻き取ることで、版胴４４の凹部にインキ４６が残った状態になる。

塗布部４０では、基材１０が矢印Ｂに示す方向に搬送され、その際に版胴４４に接する。圧胴４３は基材１０を版胴４４へと押し付けつつ回転し、これにより版胴４４の凹部のインキ４６が搬送中の基材１０に付着し、印刷が行われる。

図３（ｂ）は、圧胴４３を回転軸４３１の方向に沿って見た図である。圧胴４３の回転軸４３１の両端には、回転軸４３１を支持する支持材である２つのコッター部材４２がそれぞれ接続される。各コッター部材４２ａ、４２ｂには、それぞれコッター制御器４１ａ、４１ｂが接続される。

コッター制御器４１ａ、４１ｂは、例えばエアシリンダー（不図示）を伸長させることにより、コッター部材４２ａ、４２ｂを矢印に示すように版胴４４側へと押し込み、圧胴４３の回転軸４３１方向の端部における押圧力を調整するものである。コッター部材４２ａ、４２ｂの押し込み量（エアシリンダーの伸長量）は、制御部５３からの制御信号に基づき独立に制御される。制御部５３には、例えばＰＬＣ（programmable logic controller）が用いられる。

図１の説明に戻る。塗布部４０においてインキ４６が塗布された後の基材１０は、乾燥部５０に搬送される。乾燥部５０は、搬送中の基材１０に炉内で熱風を吹き付け、基材１０のインキ４６を乾燥させるものである。

乾燥後の基材１０は、スリット部２５に搬送される。スリット部２５は、前記のスリット部２０と同様の構成を有し、乾燥後の基材１０の幅方向の両端部を試料１５として切り離すものである。切り離された両端部はそれぞれ試料１５ａ、１５ｂとして検査部３０ｂ（塗布後検査部）に搬送される。

図２（ｂ）は試料１５の位置を示す図である。本実施形態では、前記のスリット部２０で試料１２ａ、１２ｂを切り離した後の基材１０の両端部を、更にスリット部２５において試料１５ａ、１５ｂとして切り離す。従って、基材１０において試料１５ａ、１５ｂはそれぞれ試料１２ａ、１２ｂの内側の位置にある。なお、図２（ｂ）において２９は、後述するサンプルの採取位置を示す。

図１の説明に戻る。試料１５が切り取られた基材１０は、製品として製品巻取部１７に搬送される。製品巻取部１７では製品がロール状に巻き取られる。

検査部３０ａは、試料１２の単位面積あたり重量を算出するものである。検査部３０ａは、基材１０の両端部を切り離した各試料１２ａ、１２ｂについて設けられる。

ここで、図４（ａ）を参照して検査部３０ａについて説明する。図４（ａ）に示すように、検査部３０ａは、採取手段３１、測定手段３２、計算手段３３等を有する。ここでは試料１２ａの検査部３０ａについて説明するが、試料１２ｂについても同様の検査部３０ａが設けられる。

採取手段３１は、試料１２ａを搬送ローラー１９で搬送しつつ、サンプル２９の採取を行うものである。本実施形態では、所定面積の打抜き型を有する打抜きポンチ２３と、試料１２ａの打抜きポンチ２３側と逆側の面に沿って配置された打抜き台２５で採取手段３１を構成し、矢印Ｃに示すように打抜きポンチ２３で搬送中の試料１２ａを打抜くことでサンプル２９を採取する。サンプル採取後の試料１２ａは試料巻取部１３（図１参照）でロール状に巻き取られる。

測定手段３２は、サンプル２９の重量を測定する計量器であり、採取手段３１の下方に配置される。採取手段３１で打ち抜かれたサンプル２９は、矢印Ｄで示すように測定手段３２の上部の計量台に落下し、重量が測定される。測定値は計算手段３３に出力される。

なお、本実施形態では、図２（ｂ）に示すように試料１２ａの搬送方向（図の左右方向に対応する）に沿って所定間隔でサンプル２９を採取して都度重量を測定するので、測定済みのサンプル２９を取り除くための除去機構を設けることが望ましく、例えばエアーを吹き付けてサンプル２９を除去するブロー装置などを用いることができる。

計算手段３３は、サンプル２９の重量をサンプル２９の面積で割って、試料１２ａのサンプル２９の単位面積当たり重量を計算する。計算手段３３としては、例えばＰＬＣを用いることができ、計算に必要な試料１２ａのサンプル２９の面積は予め入力、設定されている。また、計算結果は後述する検査部３０ｂの計算手段３３に出力される。

図４（ｂ）は検査部３０ｂを示す図である。検査部３０ｂは、試料１５の塗膜量として膜厚を算出するものである。検査部３０ｂは、前記の検査部３０ａと同様、採取手段３１、測定手段３２、計算手段３３等を有し、基材１０の両端部を切り離した各試料１５ａ、１５ｂについて設けられる。ここでは試料１５ａの検査部３０ｂについて説明するが、試料１５ｂについても同様の検査部３０ｂが設けられる。

本実施形態において、検査部３０ｂの計算手段３３は、検査部３０ａの計算手段３３から取得した試料１２ａのサンプル２９の単位面積当たり重量と、検査部３０ｂの測定手段３２で測定した試料１５ａの重量を用いて、試料１５ａの膜厚を算出する。算出結果である膜厚は比較部５５に出力される。

比較部５５は、試料１５ａ、１５ｂの膜厚を検査部３０ｂから取得してこれらの差を算出し、もって膜厚の比較を行うものである。比較部５５は、計算手段３３と同様、ＰＬＣ等で構成することができる。

制御部５３は、比較部５５による膜厚の比較結果に基づいてコッター制御器４１ａ、４１ｂに制御信号を出力し、コッター部材４２ａ、４２ｂ（図３（ｂ）参照）の押し込み量を調整し、圧胴４３による押圧力を調整する。これにより、塗布部４０における基材１０への塗膜量が制御可能である。

（２．膜厚の比較と塗膜量の制御）
次に、上記した膜厚の比較と塗膜量の制御について説明する。

すなわち、基材１０の幅方向の一方の端部の試料１２ａ、１５ａについて説明すると、検査部３０ｂの計算手段３３は、試料１２ａのサンプル２９の単位面積当たり重量と、試料１５ａのサンプル２９の重量とを用いて、下式（１）によっての試料１５ａのサンプル２９の膜厚を算出する。
［（試料１５ａのサンプル２９の重量）−（試料１２ａのサンプル２９の単位面積当たり重量）×（試料１２ａのサンプル２９の面積）］
÷［（試料１５ａのサンプル２９の面積）×（塗膜の密度）］…（１）

なお、本実施形態ではサンプル２９を採取する面積が全ての検査部３０ａ、３０ｂで共通であるものとし、この値が、前記した検査部３０ａの計算手段３３と同様、検査部３０ｂの計算手段３３にも予め入力、設定される。この値は、上記の式（１）における（試料１２ａのサンプル２９の面積）と（試料１５ａのサンプル２９の面積）として用いられる。

また、式（１）の（塗膜の密度）としては、乾燥部５０での乾燥により揮発するインキ４６の溶剤分を除いたインキ４６の固形分の密度を用いる。この値も、検査部３０ｂの計算手段３３に予め入力、設定される。

基材１０の幅方向の他方の端部の試料１２ｂ、１５ｂに関しても、検査部３０ｂの計算手段３３が上記と同様の計算を行い、試料１５ｂのサンプル２９の塗膜の膜厚が算出される。

比較部５５は、下式（２）によって試料１５ａ、１５ｂのサンプル２９の膜厚の差の絶対値を算出し、膜厚の比較を行う。
｜（試料１５ａのサンプル２９の膜厚）−（試料１５ｂのサンプル２９の膜厚）｜…（２）

比較部５５は、式（２）の値が所定の閾値以上であれば制御部５３に信号を出力する。制御部５３は、この信号に応じてコッター制御器４１ａ、４１ｂに制御信号を出力し、圧胴４３の押圧力を調整する。

例えば試料１５ａのサンプル２９の膜厚が試料１５ｂより大きい場合、試料１５ａに対応する基材１０の幅方向の端部に位置するコッター部材４２ａ（図３（ｂ）参照）の押し込み量を、式（２）の値に対応する値だけ小さくする旨を示す信号を、比較部５５から制御部５３に出力する。制御部５３は、この信号に基づいて、コッター制御器４１ａを介してコッター部材４２ａ（図３（ｂ）参照）の押し込み量を調整する。

基材１０の幅方向の各端部の膜厚は、コッター部材４２ａ、４２ｂの押し込みに伴う圧胴４３の各端部での押圧力に対応し、押し込み量を小さくして押圧力を小さくする程、版胴４４から基材１０に移り付着するインキ４６が減少する。

従って、前記の制御により試料１５ａに対応する基材１０の幅方向の端部の膜厚が減少し、基材１０の幅方向の両端部の膜厚を均等にすることが可能になる。幅方向の両端部の膜厚が均等となれば、その間の膜厚も同じく均等になる。これにより、膜厚の違いによる印刷ムラを無くすことが可能になる。

なお、上記のように試料１５ａのサンプル２９の膜厚が試料１５ｂより大きい場合は、試料１５ｂに対応する基材１０の幅方向の端部に位置するコッター部材４２ｂ（図３（ｂ）参照）の押し込み量を、式（２）の値に対応する値だけ強める旨を示す信号を、比較部５５から制御部５３に出力してもよい。これによって試料１５ｂに対応する基材１０の幅方向の端部の膜厚を増加させ、基材１０の幅方向の両端部の膜厚を均等にすることが可能である。

（３．塗布方法）
次に、図６を参照して塗布装置１による塗布方法の流れについて説明する。図６は塗布方法の流れを示すフローチャートである。

本実施形態では、塗布部４０等の諸条件の調整を行った後、塗布装置１の稼働を開始する（Ｓ１）。これとともに検査部３０ａ、３０ｂ、比較部５５も動作を開始する。

前記したように、基材１０の幅方向の両端部は、塗布部４０による塗布前にスリット部２０で切り離され、試料１２ａ、１２ｂとして検査部３０ａに送られる。検査部３０ａは、前記したように試料１２ａ、１２ｂからサンプル２９を採取し、サンプル２９の単位面積当たり重量を算出する（Ｓ２）。

試料１２ａ、１２ｂを切り離した後の基材１０は、塗布部４０でのインキ４６の塗布と乾燥部５０での乾燥が行われ、スリット部２５にて幅方向の両端部が切り離される。切り離された基材１０の両端部は試料１５ａ、１５ｂとして検査部３０ｂに送られる。検査部３０ｂは、前記したように、試料１５ａ、１５ｂからサンプル２９を採取して重量を測定し、これと試料１２ａ、１２ｂのサンプル２９の単位面積当たり重量を用いて、試料１５ａ、１５ｂのサンプル２９の膜厚を算出する（Ｓ３）。

比較部５５は、前記したように試料１５ａ、１５ｂの膜厚の差を算出することにより比較を行う（Ｓ４）。

比較部５５は、前記した式（２）の差が所定の閾値未満であれば（Ｓ４；Ｎｏ）、そのまま稼働を続けＳ８の処理に移る。

一方、比較部５５は、式（２）の差が所定の閾値以上であれば（Ｓ４；Ｙｅｓ）、前記したように、基材１０の幅方向の膜厚を均一に保つべく、コッター部材４２ａ、４２ｂの押し込み量を調整するための信号を制御部５３に出力する。制御部５３は、この信号に基づき、コッター制御器４１ａ、４１ｂにコッター部材４２ａ、４２ｂの押し込み量を調整する旨の制御信号を送信する（Ｓ６）。

なお、比較部５５にランプやスピーカー等の警報装置（不図示）を接続しておき、上記のように式（２）の差が所定の閾値以上であれば、警報を出力するようにしてもよい。

コッター制御器４１ａ、４１ｂは、制御信号に基づいてコッター部材４２ａ、４２ｂの押し込み量の調整を行う（Ｓ７）。これにより、圧胴４３の端部の押圧力が調整され、基材１０の幅方向の端部の塗膜量が制御され、基材１０の幅方向の膜厚が均一に保たれる。

製品の生産終了まで（Ｓ８；Ｎｏ）、以上のＳ２〜Ｓ７の処理を繰り返しつつ塗布装置１の稼働を続け、製品の生産終了（Ｓ８；Ｙｅｓ）に伴い、塗布装置１の稼働を終了する。

以上説明したように、本実施形態の塗布装置１では、基材１０の重量に基づいて基材１０の塗膜量として膜厚を求めることが可能になり、光学的に測定を行う場合に問題となる、基材自身の凹凸や、塗膜中の粒子等の影響を受けることなく、好適に膜厚の差を検査できる。また、インラインで計測した膜厚の差から、基材１０における塗膜の均一性を製品の製造中に評価できる。

従って、本実施形態では、膜厚の差に基づいて圧胴４３の端部における押圧力をフィードバック制御することで、塗膜量が均一になるように塗布部４０を制御できる。圧胴４３の押圧力を増加させると塗膜量が増加し、押圧力を減少させると塗膜量が減少するので、これにより塗膜量の制御が可能であり、膜厚を均一にして製品の品質を高めることができる。

あるいは、上記のような塗布部４０の制御を行わなくても、算出した膜厚の差は品質保証に利用することが可能である。例えば試料１５ａ、１５ｂの膜厚の差が所定の閾値以上の場合には、基材１０の製品部分の対応する箇所に印刷機構（不図示）等でマーキングを行うことも可能であり、これにより製品の製造後に不良箇所を除去して用いることも可能である。

また、本実施形態では、基材１０の幅方向の両端部から採取したサンプル２９について膜厚の差を算出するので、基材１０の幅方向の塗膜の均一性を評価することが可能になり、壁紙のように基材１０を幅方向に並べて用いるような場合に特に有効である。ただし、サンプル２９の採取位置はこれに限らず、製品として使用しない箇所であればよい。

加えて、例えば試料１５ａの搬送方向の前後のサンプル２９（図２（ｂ）参照）の膜厚の差を求め、これにより膜厚が基材１０の搬送方向で均一に保たれているか否かを評価することも可能である。例えば膜厚の差が所定の閾値以上であれば、その差を解消すべく上記と同様に圧胴４３の押圧力を調整することが可能である。

あるいは、試料１５ａの膜厚自体が所定の範囲にあるかを判定し、判定結果に応じて圧胴４３の押圧力を調整することも可能である。例えば所定の範囲を下回っていれば、膜厚を大きくするために圧胴４３による押圧力を上昇させればよい。以上は試料１５ｂについても同様である。

また、本実施形態では試料１５ａ、１５ｂのサンプル２９の塗膜量として膜厚を求めたが、塗膜量としてはこれに限らず、塗膜の量を表すものであり、かつサンプル２９の重量に基づくものであればよい。例えばサンプル２９の単位面積当たりの塗膜の重量を求めてもよい。この場合は、試料１５ａのサンプル２９の重量をサンプル２９の面積で割った単位面積当たり重量から、試料１２ａの単位面積当たり重量を減算すればよい。試料１５ｂについても同様である。ただし、インキ４６を塗布する場合には膜厚によって色調が変わるので、膜厚を用いることで、意匠性の観点により即した評価ができる。

さらに、本実施形態では、塗布前の基材１０の試料１２ａ、１２ｂのサンプル２９の単位面積当たり重量を用いて、試料１５ａ、１５ｂのサンプル２９の膜厚の算出を行ったが、塗布前の基材１０の単位面積当たり重量は一定値とみなすことも可能である。この場合には、試料１２ａ、１２ｂのサンプル２９の測定を省略することができ、スリット部２０、検査部３０ａは省略可能である。ただし、製品の製造中に塗布前の基材１０の重さを測定しておくことで、より正確な検査が行える。

また、本実施形態では、乾燥後の試料１５ａ、１５ｂについてサンプル２９の膜厚の測定を行ったが、スリット部２５を乾燥部５０の前に設置して乾燥前の膜厚の測定を行うことも可能である。この場合は前記の式（１）の（塗膜の密度）としてインキ４６の溶剤を含む全体の密度を用いるとよい。ただし、本実施形態のように乾燥後の試料１５ａ、１５ｂについてサンプル２９の膜厚の測定を行った方が、試料の取扱が容易であり、製品に近い状態での評価ができる利点がある。

その他、本実施形態の塗布装置１では塗布部４０による単色刷りを行ったが、多色刷りであってもよい。この場合、図１に示した塗布部４０と乾燥部５０のユニットが色数分並んだ構成になるので、各ユニットの後にスリット部２５と検査部３０ｂを設置すれば各ユニットでのインキ塗布、乾燥後の試料のサンプル２９の重量が測定できる。

２色目以降のユニットでのインキ塗布、乾燥後のサンプル２９の膜厚としては、前のユニットでのインキ塗布、乾燥後のサンプル２９の単位面積当たり重量を、式（１）における（試料１２ａのサンプル２９の単位面積当たり重量）の代わりに用いれば、各ユニットで塗布したインキ４６の膜厚が算出できる。

さらに、検査部３０ａ、３０ｂにおけるサンプル２９の採取を正確に行うために、採取手段３１でのサンプル打抜き時に試料１２、１５の搬送を停止するようにしてもよい。

この場合、図７（ａ）に示すように、試料１２、１５の搬送経路において、スリット部２０、２５と検査部３０ａ、３０ｂの間に、試料１２、１５を滞留させる滞留機構であるアキュムレート機構５０を設けるとよい。

図７（ａ）のアキュムレート機構５０は、複数の搬送ローラー１９を有し、サンプル採取時以外の通常時にはその回転により試料１２、１５を搬送する。

一方、サンプル２９の採取時には、ニップローラー１９ａ等により試料１２、１５を保持し、試料巻取部１３での巻取も一旦停止して検査部３０ａ、３０ｂにおける試料１２、１５の搬送を停止する。すると、図７（ｂ）の矢印Ｅに示すようにアキュムレート機構５０の一部の搬送ローラー１９が下方に移動し、スリット部２０、２５から搬送された試料１２、１５が滞留する。

サンプル採取後は、検査部３０ａ、３０ｂでの試料１２、１５の搬送速度を、アキュムレート機構５０までの搬送速度より大きくすれば、アキュムレート機構５０における試料１２、１５の滞留が解消され、図７（ａ）に示すように搬送ローラー１９が元の位置に戻る。

また、本実施形態では、サンプル２９の採取を行うため、スリット部２０、２５にて基材１０を搬送方向に沿って切り離した。これにより、製品の製造とサンプル２９の検査を別に行うことができ、サンプル２９の検査が製品の製造工程へ与える影響が少なくなる利点がある。ただし、基材１０から直接サンプル２９を採取することも可能である。以下、この例を第２の実施形態として説明する。第２の実施形態は第１の実施形態と異なる点について主に説明し、同様の点については説明を省略する。

［第２の実施形態］
図８は、本発明の第２の実施形態に係る塗布装置１ａを示す図である。前記した通り、この塗布装置１ａは基材１０から直接サンプル２９を採取する点で第１の実施形態と異なり、基材１０の搬送経路において、給紙部１１と塗布部４０の間に検査部３０ａが設けられ、乾燥部５０と巻取部１７の間に検査部３０ｂが設けられる。

各検査部３０ａ、３０ｂは、前記の採取手段３１により、図９に示すように基材１０の幅方向の両端部からサンプル２９ａ、２９ｂをそれぞれ直接採取する。この場合も、前記と同様、膜厚の測定とその比較が可能であり、第１の実施形態と同様の効果が得られる。

また、第１の実施形態ではスリット部２０、２５で基材１０の幅方向の両端部を切り離すが、本実施形態ではそのような必要がないので、基材１０に製品として不要な箇所が少なくても容易に適用可能である。

また、本実施形態では、サンプル２９ａ、２９ｂの採取位置を近づけることで、膜厚の算出を精度よく行うことが可能である。このため、検査部３０ｂにおいてサンプル２９ｂを採取する際に、基材１０においてサンプル２９ａを採取した後の空きを検出するセンサを用いることが可能である。センサでの空き検出に応じて前記の打抜きポンチ２３による打抜きを行うことで、サンプル２９ａ、２９ｂの採取位置を近接させることが可能である。さらに、図７で説明したようなアキュムレート機構５０を適用し、検査部３０ｂでのサンプル２９ｂの採取時などで基材１０の搬送を一旦停止することも可能である。

以上、添付図を参照しながら、本発明の実施形態を説明したが、本発明の技術的範囲は、前述した実施形態に左右されない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。

１………塗布装置
１０………基材
１２、１２ａ、１２ｂ、１５、１５ａ、１５ｂ………試料
２０、２５………スリット部
２９、２９ａ、２９ｂ………サンプル
３０ａ、３０ｂ………検査部
３１………採取部
３２………測定部
３３………計算部
４０………塗布部
４１、４１ａ、４１ｂ………コッター制御器
４２、４２ａ、４２ｂ………コッター
４３………圧胴
４４………版胴
５３………制御部
５５………比較部

Claims (8)

1. 基材に塗布を行う塗布部と、
   前記塗布部により塗布が行われた搬送中の前記基材から、複数箇所をサンプルとして採取し、重量を測定する塗布後検査部と、
   前記重量に基づく各サンプルの塗膜量について、差を算出する比較部と、
   を具備することを特徴とする塗布装置。
2. 前記塗布後検査部は、
   前記基材の搬送方向と直交する幅方向の両端部から採取したサンプルについて重量を測定し、
   前記比較部は、
   前記基材の幅方向の両端部のサンプルについて、塗膜量の差を算出することを特徴とする請求項１に記載の塗布装置。
3. 前記塗布部は、
   圧胴によって前記基材を版胴に押圧することで前記版胴のインキを前記基材へ塗布するものであり、
   前記塗布装置は、
   前記比較部により算出された塗膜量の差に基づいて、前記圧胴の押圧力を調整する制御部を更に具備することを特徴とする請求項１または請求項２記載の塗布装置。
4. 前記塗膜量は、前記サンプルの塗膜の膜厚であることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の塗布装置。
5. 前記基材は、ロール状に巻かれた状態から巻き出して搬送されるものであり、
   前記塗布装置は、
   前記サンプルの採取を行うため、前記基材を搬送方向に沿って切り離すスリット部を更に具備することを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の塗布装置。
6. 前記塗布部により塗布を行う前の搬送中の前記基材からサンプルを採取し、重量を測定する塗布前検査部を更に具備し、
   前記塗膜量は、前記塗布後検査部で測定されたサンプルの重量と、前記塗布前検査部で測定されたサンプルの重量に基づくものであることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の塗布装置。
7. 前記塗布装置は、
   前記塗布部により塗布が行われた前記基材を乾燥する乾燥部を更に具備し、
   前記塗布後検査部は、乾燥後の前記基材から前記サンプルを採取することを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれかに記載の塗布装置。
8. 塗布部が、基材に塗布を行うステップと、
   検査部が、前記塗布部により塗布が行われた搬送中の前記基材から、複数箇所をサンプルとして採取し、重量を測定するステップと、
   比較部が、前記重量に基づく各サンプルの塗膜量について、差を算出するステップと、
   を具備することを特徴とする塗布方法。

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