JP2015056852A - 静電容量型トランスデューサ、音響センサ及びマイクロフォン - Google Patents

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Abstract

【課題】アコースティックホールの開口面積を大きくしてS/N比を向上させ、かつ、振動電極板(ダイアフラム)の落下衝撃時などにおける耐久力を向上させる。
【解決手段】基板の上には、ダイアフラムが配設される。基板の上に設けたドーム状のバックプレートは、ダイアフラムを覆っている。バックプレートの下面には、ダイアフラムと対向するようにして固定電極板を設けている。バックプレートと固定電極板には、複数個のアコースティックホール41a、41bが開口されており、バックプレートの下面にはストッパ43が設けられている。基板の上面に垂直な方向から見たとき、ストッパの断面中心Pからストッパ43に隣接するアコースティックホール41aの縁までの最短距離Dが、前記孔に囲まれていて前記突起が設けられていない領域の中心Qからその周囲のアコースティックホール41bの縁までの最短距離dよりも大きくなっている。
【選択図】図6

Description

本発明は、静電容量型トランスデューサ、音響センサ及びマイクロフォンに関する。具体的に言うと、本発明は、振動電極板(ダイアフラム)と固定電極板からなるコンデンサ構造によって構成された静電容量型トランスデューサに関する。また、本発明は、音響振動を電気信号に変換して出力する音響センサ(音響トランスデューサ)と、該音響センサを用いたマイクロフォンに関する。特に、本発明は、MEMS(Micro Electro Mechanical System)技術を用いて製作される微小サイズの静電容量型トランスデューサや音響センサに関するものである。
図1は、MEMS技術により作製された従来の静電容量型の音響センサの一例を示す断面図である。この音響センサ11では、基板12に空洞13が開口されており、空洞13の上面開口を覆うようにして基板12の上方にダイアフラム14(振動電極板)が設けられている。たとえば矩形状のダイアフラム14の場合であれば、その四隅部分をアンカー15によって基板12の上面で支持されている。基板12の上面にはドーム状をしたバックプレート16が形成されており、バックプレート16はダイアフラム14を覆っている。バックプレート16の下面には固定電極板17が設けられており、固定電極板17はダイアフラム14と対向している。ダイアフラム14と固定電極板17は互いに対向していて、音響振動を電気的な信号に変換するための可変コンデンサを構成している。また、バックプレート16及び固定電極板17には、円形のアコースティックホール18が多数開口されている。バックプレート16の下面には固定電極板17から飛び出るようにして複数のストッパ19が設けられている。このような音響センサとしては、たとえば特許文献1に開示されたものがある。
アコースティックホール18は音響振動の通路となる孔である。たとえば、アコースティックホール18から音響センサ11内に入った音響振動は、ダイアフラム14を振動させた後、空洞13へ抜けてゆく。あるいは、空洞13から音響センサ11内に入った音響振動は、ダイアフラム14を振動させた後、アコースティックホール18から外部へ抜けてゆく。また、ストッパ19は、ダイアフラム14が固定電極板17にスティック(固着)して離れなくなるのを防ぐために設けられている。ストッパ19を設けていない場合には、たとえばダイアフラム14と固定電極板17との間に加えられているバイアス電圧のためにダイアフラム14と固定電極板17の間に静電吸引力が発生し、その静電吸引力のためにダイアフラム14が固定電極板17に固着して離れなくなることがある。あるいは、製造プロセスにおいて、ダイアフラム14と固定電極板17との間のエアギャップに残留した水分の表面張力によってダイアフラム14が固定電極板17に固着して離れなくなることもある。ストッパ19は、このような場合に固定電極板17よりも先にダイアフラム14に当接し、ダイアフラム14が固定電極板17にくっつくのを防ぐものである。
このような静電容量型の音響センサでは、エアギャップにおける熱雑音に基因するS/N比の低下の問題がある。エアギャップにおける熱雑音とは、ダイアフラムと固定電極板との間のエアギャップ、すなわち準密閉空間内にある空気分子が、揺らぎ(熱運動)によってダイアフラムに衝突することにより発生するノイズである。ダイアフラムが空気分子の衝突によって受ける微小な力は、空気分子の揺らぎのためにランダムに変動するので、空気分子の衝突によってダイアフラムが不規則に振動し、音響センサには熱雑音に基因する電気的なノイズが発生する。特に、感度の高い音響センサでは、このような熱雑音に起因するノイズが大きく、S/N比が悪くなる。
このような熱雑音に起因するノイズは、バックプレート及び固定電極板に開口されているアコースティックホールの開口比率を大きくし、エアギャップ内の空気がアコースティックホールを通過しやすくすることにより軽減できる。したがって、上記音響センサ11においても、S/N比を向上させるためには、アコースティックホール18の開口面積(開口比率)を大きくする必要がある。
一方、ストッパ19の直径(あるいは断面積)が小さ過ぎる場合には、音響センサ11を落下させたときの衝撃によってダイアフラム14とストッパ19とが衝突し、ストッパ19の先端によってダイアフラム14が破損する場合がある。そのため、ストッパ19はある程度の太さ(あるいは断面積)が必要とされる。
しかしながら、S/N比を向上させるためにアコースティックホール18の開口面積を大きくすると、バックプレート16においてアコースティックホール18に囲まれた領域の面積が狭くなるので、直径の大きなストッパ19を設けることができなくなる。そのためストッパ19の直径を小さくせざるを得ず、上記のように音響センサ11の落下衝撃時などにストッパ19に衝突したダイアフラム14が破損しやすくなる。
また、ストッパ19の位置する箇所にはアコースティックホール18を重ねて設けることはできないので、ストッパ19の直径を太くすると、アコースティックホール18の開口面積を大きくすることができなくなり、音響センサ11のS/N比が低下する。
よって、従来の音響センサでは、S/N比を向上させるためにアコースティックホールの開口面積(開口比率)を大きくすることと、ダイアフラムの破損を防ぐためにストッパの直径(断面積)を大きくすることの間には、トレードオフの関係があった。
なお、特許文献2のFig.3に開示されたバックプレートでは、バックプレートの一部に他よりも広い領域(アコースティックホールのない領域)を設けている。しかし、特許文献2には、この広い領域にストッパを設けることは記載されていない。また、このような構造では、アコースティックホールの合計した開口面積が小さくなる。
特開2011−239324号公報 米国特許出願公開第2011/0075866号明細書(Fig.3)
本発明の目的とするところは、アコースティックホールの開口面積を大きくしてS/N比を向上させることができ、かつ、振動電極板(ダイアフラム)の落下衝撃時などにおける耐久力を向上させることのできる静電容量型トランスデューサや音響センサなどを提供することにある。
本発明に係る第1の静電容量型トランスデューサは、空洞を有する基板と、前記基板の上方に設けられた振動電極板と、前記基板の上に設けられたバックプレートと、前記振動電極板に対向させて前記バックプレートに設けられた固定電極板と、前記バックプレート及び前記固定電極板に設けられた複数個の孔と、前記バックプレートの、前記振動電極板に対向する箇所に設けられた突起とを備え、前記基板の上面に垂直な方向から見たとき、前記突起の断面中心から前記突起に隣接する孔の縁までの最短距離が、前記孔に囲まれていて前記突起が設けられていない領域の中心からその周囲の孔の縁までの最短距離よりも大きくなっていることを特徴としている。
本発明に係る第1の静電容量型トランスデューサによれば、前記基板の上面に垂直な方向から見たとき、前記突起の断面中心から前記突起に隣接する孔の縁までの最短距離が、前記孔に囲まれていて前記突起が設けられていない領域の中心からその周囲の孔の縁までの最短距離よりも大きくなっているので、孔の数を減らすことなく突起を設ける領域の面積を広くすることができる。その結果、孔の全開口面積をほぼ維持したままで突起の断面積を大きくすることができる。よって、静電容量型トランスデューサのS/N比を維持しつつ振動電極板の落下衝撃時などにおける耐久性を向上させることができる。
本発明に係る第1の静電容量型トランスデューサのある実施態様は、前記孔が一定面積の領域を単位として規則的に配列され、前記一定面積の領域のうち前記突起を有する領域に含まれる前記孔の総面積は、前記突起を有しない領域に含まれる前記孔の総面積よりも小さいことを特徴としている。かかる実施態様によれば、突起を有する領域で孔の総面積が小さくなっているので、その分だけ突起を設ける領域の面積を広くできる。一方、孔の開口面積は、突起の周囲だけで小さくなっており、全体としての孔の全開口面積の減少は小さなものである。よって、孔の全開口面積をほぼ維持したままで突起の断面積を大きくすることができる。
本発明に係る第1の静電容量型トランスデューサの別な実施態様は、前記突起に隣接する孔を囲む領域内に含まれる孔の数が、前記孔に囲まれていて前記突起が設けられていない領域の中心に隣接する孔を囲む領域内に含まれる孔の数に等しいことを特徴としている。かかる実施態様によれば、孔の数を減らすことなく突起を設ける領域の面積を広げているので、孔の全開口面積をほぼ維持したままで突起の断面積を大きくすることができる。
本発明に係る第2の静電容量型トランスデューサは、空洞を有する基板と、前記基板の上方に設けられた振動電極板と、前記基板の上に設けられたバックプレートと、前記振動電極板に対向させて前記バックプレートに設けられた固定電極板と、前記バックプレート及び前記固定電極板に設けられた複数個の孔と、前記バックプレートの、前記振動電極板に対向する箇所に設けられた突起とを備え、前記突起に隣接する前記孔のうち少なくとも1つの孔の面積が、前記突起に隣接しない孔の面積よりも小さいことを特徴としている。
本発明に係る第2の静電容量型トランスデューサによれば、突起に隣接する少なくとも1つの孔の面積を小さくすることで、突起を設けるための領域を広くでき、突起の断面積を大きくすることができる。しかも、孔の開口面積は、突起の周囲でだけ小さくなっているので、孔の全開口面積をほぼ維持したままで突起の断面積を大きくすることができる。本発明に係る第2の静電容量型トランスデューサにおいては、たとえば前記突起に隣接する孔と、それ以外の孔とが、相似な形状となっている。
本発明に係る第3の静電容量型トランスデューサは、空洞を有する基板と、前記基板の上方に設けられた振動電極板と、前記基板の上に設けられたバックプレートと、前記振動電極板に対向させて前記バックプレートに設けられた固定電極板と、前記バックプレート及び前記固定電極板に設けられた複数個の孔と、前記バックプレートの、前記振動電極板に対向する箇所に設けられた突起とを備え、前記突起に隣接する孔のうち少なくとも1つの孔が、他の孔に比べて前記突起に近い領域の縁が孔の内側へ引っ込んでいることを特徴としている。
本発明に係る第3の静電容量型トランスデューサによれば、突起に隣接する少なくとも1つの孔の縁が内側へ引っ込んでいるので、突起を設けるための領域を広くでき、突起の断面積を大きくすることができる。しかも、孔の開口面積は、突起の周囲でだけ小さくなっているので、孔の全開口面積をほぼ維持したままで突起の断面積を大きくすることができる。本発明に係る第3の静電容量型トランスデューサにおいては、たとえば前記突起に隣接する孔以外の孔は、互いに同一又は相似な形状を有しており、前記突起に隣接する孔のうち少なくとも1つの孔と、それ以外の孔とは、同一の形状でなく、かつ、相似な形状でもない。
本発明に係る第4の静電容量型トランスデューサは、空洞を有する基板と、前記基板の上方に設けられた振動電極板と、前記基板の上に設けられたバックプレートと、前記振動電極板に対向させて前記バックプレートに設けられた固定電極板と、前記バックプレート及び前記固定電極板に設けられた複数個の孔と、前記バックプレートの、前記振動電極板に対向する箇所に設けられた突起とを備え、前記突起に隣接する孔どうしの間隔が、前記突起に隣接しない孔どうしの間隔よりも広いことを特徴としている。
本発明に係る第4の静電容量型トランスデューサによれば、突起に隣接する孔どうしの間隔が広くなっているので、突起を設けるための領域を広くでき、突起の断面積を大きくすることができる。しかも、孔の開口面積を維持することができるので、S/N比を低下させることなく振動電極板の落下衝撃時などにおける耐性を向上させることができる。本発明に係る第4の静電容量型トランスデューサにおいては、たとえば前記突起に隣接する孔以外の孔が一定のピッチで規則的に配列しており、前記突起に隣接する孔の位置が、孔の規則的な位置よりも前記突起から離れる方向へ偏っている。
本発明に係る第5の静電容量型トランスデューサは、空洞を有する基板と、前記基板の上方に設けられた振動電極板と、前記基板の上に設けられたバックプレートと、前記振動電極板に対向させて前記バックプレートに設けられた固定電極板と、前記バックプレート及び前記固定電極板に設けられた複数個の孔と、前記バックプレートの、前記振動電極板に対向する箇所に設けられた突起とを備え、前記突起に隣接する孔のうち少なくとも1つの孔が扁平な開口形状を有し、扁平な開口形状を有する孔は、その短軸方向が、その中心と前記突起の断面中心とを結ぶ方向を向いていることを特徴としている。
本発明に係る第5の静電容量型トランスデューサによれば、突起を設けるための領域を広くでき、突起の断面積を大きくすることができる。しかも、孔の開口面積を維持することができるので、S/N比を低下させることなく振動電極板の落下衝撃時などにおける耐性を向上させることができる。
本発明に係る第1から第5の静電容量型トランスデューサのさらに別な実施態様は、前記突起に隣接する孔の縁と前記突起の縁とが離間していることを特徴としている。かかる実施態様によれば、バックプレートの強度低下を防ぐことができる。
本発明に係る第1から第5の静電容量型トランスデューサのさらに別な実施態様は、前記突起に隣接する孔で囲まれた領域の面積が、前記突起の断面積よりも大きいことを特徴としている。かかる実施態様によれば、バックプレートの強度低下を防ぐことができる。
本発明に係る第1から第5の静電容量型トランスデューサのさらに別な実施態様は、ある突起に隣接する孔と、別な突起に隣接する孔とが重複しないように前記突起が配列されていることを特徴としている。ある突起に隣接する孔と別な突起に隣接する孔とが重複していると、孔の開口面積が小さくなるためである。
本発明に係る静電容量型トランスデューサは、音響センサとして用いることもできる。また、その音響センサに回路部を組みあわせたマイクロフォンとして用いることもできる。
なお、本発明における前記課題を解決するための手段は、以上説明した構成要素を適宜組み合せた特徴を有するものであり、本発明はかかる構成要素の組合せによる多くのバリエーションを可能とするものである。
図1は、従来の静電容量型の音響センサの一例を示す断面図である。 図2は、本発明の実施形態1に係る音響センサの平面図である。 図3は、図2に示した音響センサの断面図である。 図4は、図2に示した音響センサにおいて、基板の上面に設けられたダイアフラムを示す平面図である。 図5は、図2のX部を拡大した図である。 図6(A)及び図6(B)は、本発明の実施形態1の音響センサにおけるアコースティックホールの配置の特徴を説明するための図である。 図7は、本発明の実施形態2におけるアコースティックホールの配置を示す図である。 図8(A)及び図8(B)は、本発明の実施形態2におけるアコースティックホールの配置の特徴を説明するための図である。 図9は、本発明の実施形態3におけるアコースティックホールの配置を示す図である。 図10(A)及び図10(B)は、本発明の実施形態3におけるアコースティックホールの配置の特徴を説明するための図である。 図11(A)及び図11(B)は、それぞれ本発明の変形例におけるアコースティックホールの配置を示す図である。 図12(A)及び図12(B)は、それぞれ本発明の別な変形例におけるアコースティックホールの配置を示す図である。 図13(A)及び図13(B)は、それぞれ本発明のさらに別な変形例におけるアコースティックホールの配置を示す図である。 図14は、本発明のさらに別な変形例におけるアコースティックホールの配置を示す図である。 図15は、本発明のさらに別な変形例におけるアコースティックホールの配置を示す図である。 図16(A)及び図16(B)は、設計上の留意点を説明するための図である。 図17(A)及び図17(B)は、別な設計上の留意点を説明するための図である。 図18(A)、図18(B)及び図18(C)は、さらに別な設計上の留意点を説明するための図である。 図19は、本発明の実施形態4におけるアコースティックホールの配置を示す図である。 図20は、本発明の実施形態5による音響センサの断面図である。 図21は、本発明に係る音響センサを内蔵したマイクロフォンの断面図である。
以下、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態を説明する。但し、本発明は以下の実施形態に限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々設計変更することができる。
(実施形態1)
図2−図5を参照して本発明の実施形態1による音響センサ31の構造を説明する。図2は本発明の実施形態1の音響センサ31を示す平面図である。図3は、音響センサ31の断面図である。図4は、基板32の上面に形成されたダイアフラム33(振動電極板)の形状を表した平面図である。図5は、図2のX部分を拡大して示す図である。
この音響センサ31は、MEMS技術を利用して作製された静電容量型センサである。音響センサ31においては、図3に示すように、シリコン基板等の基板32の上面に振動電極板、すなわちダイアフラム33が形成されており、微小なエアギャップ(空隙)を介してダイアフラム33の上方にバックプレート34が設けられている。
基板32には、表面から裏面に貫通した空洞35が開口されている。この空洞35は、音響センサ31の使用形態によって、バックチャンバとなり、あるいはフロントチャンバとなるものである。空洞35の壁面は、基板32の上面に垂直な面となっていてもよく、基板32の上面に対して傾いていてもよい。
ダイアフラム33は、導電性を有するポリシリコン薄膜によって形成されている。ダイアフラム33は、図4に示すように、略矩形状に形成されていて、そのコーナーからはそれぞれ対角方向へ向けて水平に脚片36が延出している。ダイアフラム33は、空洞35の上面を覆うようにして基板32の上面に配置され、脚片36の下面がアンカー38により支持されている。よって、ダイアフラム33は、基板32の上面から浮かせた状態で基板32の上面に配置されている。
空洞35の周囲においてダイアフラム33の下面と基板32の上面との間には、図3に示すように、音響振動又は空気を通過させるための高さ方向に狭い隙間、すなわちベントホール37が形成されている。ベントホール37は、脚片36と脚片36の間において、ダイアフラム33が基板32の上面と向かい合っている部分に沿って形成されている。
基板32の上面には、SiNからなるバックプレート34が設けられている。バックプレート34は、略矩形ドーム状に形成されていて、その空洞部分でダイアフラム33を覆っている。バックプレート34の下面には、ダイアフラム33と対向するようにして、ポリシリコンからなる固定電極板40が設けられている。
固定電極板40の下面とダイアフラム33の上面との間には微小なエアギャップ(空隙)が形成されている。固定電極板40とダイアフラム33は互いに対向しており、音響振動を検知して電気信号に変換するための可変コンデンサを構成している。
バックプレート34及び固定電極板40のほぼ全体には、上面から下面に貫通するようにして孔、すなわち音響振動を通過させるためのアコースティックホール41が多数穿孔されている。図2及び図5に示すように、アコースティックホール41は規則的に配列されている。図示例では、アコースティックホール41は、互いに60°又は120°の角度を成す3方向に沿って三角形状に配列されており、各アコースティックホール41の中心は一定のピッチで規則的に並んでいる。
図3に示すように、バックプレート34の下面には、円柱状をした微小な突起、すなわちストッパ43が多数設けられており、各ストッパ43は固定電極板40を貫通して下方へ突出している。ストッパ43は、バックプレート34と同じくSiNによって形成されており、絶縁性を有している。ストッパ43は、ダイアフラム33が固定電極板40に固着するのを防ぐために設けられており、固定電極板40を通過してバックプレート34の下面から突出している。
また、図2に示すように、ダイアフラム33の脚片36からはリード44が延出されており、リード44は電極パッド45と電気的に導通している。同様に、固定電極板40からはリード46が延出されており、リード46は電極パッド47と電気的に導通している。
この音響センサ31は上記のような構造を有し、音響振動によってダイアフラム33が振動すると、ダイアフラム33と固定電極板40との間の静電容量が変化することで、音響振動を電気信号に変換して出力するものである。
また、この音響センサ31は、アコースティックホール41の配置に特徴を有している。音響センサ31では、図5に示すように、アコースティックホール41が規則的に配列されており、ストッパ43に隣接するアコースティックホール41(以下、ストッパ43に隣接するアコースティックホール41を記号41aで示す。)の開口面積が、ストッパ43に隣接しないアコースティックホール41(ストッパ43に隣接しないアコースティックホール41を記号41bで示す。)の開口面積よりも小さくなっている。すなわち、ストッパ43を取り囲むアコースティックホール41aの開口面積が他のアコースティックホール41bの開口面積よりも小さくなっている。典型的な例では、図示のようにアコースティックホール41aは、アコースティックホール41bと相似な形状のままで開口面積が小さくなっている。
このようなアコースティックホール配置によれば、ストッパ43の設けられている箇所では、アコースティックホール41aに囲まれた領域の面積が広くなるので、断面積の大きなストッパ43を設けることが可能になり、落下衝撃時などにストッパ43の先端でダイアフラム33が破損されにくくなる(ただし、ストッパ43の断面積が大き過ぎると、ダイアフラム33がストッパ43にスティックするおそれがあるので、最適な断面積を選択する必要がある)。しかも、この音響センサ31では、ストッパ43を取り囲むアコースティックホール41aの開口面積だけが小さくなっているので、断面積の大きなストッパ43に合わせてアコースティックホール全体の開口面積を小さくした場合と比較すると、アコースティックホール41a、41bの全開口面積を大きくすることができ、音響センサ31のS/N比を大きくできる。また、すべてのアコースティックホールが、アコースティックホール41bと同じ大きさである場合(この場合には、断面積の大きなストッパ43を設けることはできなくなるが、)と比較しても、アコースティックホールの数は減らず、一部のアコースティックホール(41a)の開口面積が小さくなるだけであるので、S/N比の劣化も小さい。よって、本実施形態の音響センサ31によれば、S/N比を向上させ、かつ、ダイアフラムの耐久性を向上させることが可能になる。
上記のような優れた作用効果を有する音響センサ31におけるアコースティックホールの配置は、以下のような構成によって特徴づけられる。
まず、本実施形態におけるアコースティックホールは、図5に2点鎖線で示す三角形の領域を繰り返し最小単位として規則的に配列されている。そして、この一定面積の繰り返し最小単位のうちストッパ43を有する繰り返し最小単位に含まれるアコースティックホール41aの総面積は、ストッパ43を有しない繰り返し最小単位に含まれるアコースティックホール41bの総面積よりも小さくなっている。そのため、ストッパ43を設ける箇所では、アコースティックホール41aで囲まれた領域の面積が大きくなっている。
本実施形態の音響センサ31では、図6(A)に示すストッパ43の断面中心Pからストッパ43に隣接するアコースティックホール41aの縁までの最短距離Dが、図6(B)に示すストッパ43が設けられていない領域におけるストッパの断面中心に相当する点、すなわち前記孔に囲まれていて前記突起が設けられていない領域の中心Qからその周囲のアコースティックホール41bの縁までの最短距離dよりも長くなっている。
また、本実施形態の音響センサ31において、図6(A)に示すようにストッパ43に隣接するアコースティックホール41aを囲む枠42aと、図6(B)に示すようにストッパ43が設けられていない領域で、点Qに隣接するアコースティックホール41bを囲む枠42bを考える。このとき、本実施形態では、枠42aで囲まれた領域内に含まれるアコースティックホール41aの数が、枠42bで囲まれた領域内に含まれるアコースティックホール41bの数に等しい。
本実施形態では、上記のような特徴を有しているので、S/N比を向上させることができ、あるいはS/N比の低下を最小限に抑えることができるとともに、断面積の大きなストッパ43を設けることが可能になる。
(実施形態2)
図7は、本発明の実施形態2による音響センサにおけるバックプレート34の一部を拡大して示した図である。実施形態2においては、アコースティックホール41(41a、41b)を規則的に配列している。ストッパ43に隣接するアコースティックホール41aは、ストッパ43に近い領域の縁が内側へ引っ込んでいて他のアコースティックホール41bよりも開口面積が小さくなっている。よって、アコースティックホール41aと他のアコースティックホール41bとは、同一形状でもなく、相似な形状でもない。
実施形態2のアコースティックホール41では、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aの縁がストッパ43から遠くなるように後退しているので、ストッパ43の設けられている箇所においてアコースティックホール41aに囲まれた領域の面積が広くなる。よって、断面積の大きなストッパ43を設けることが可能になり、落下衝撃時などにストッパ43の先端でダイアフラム33が破損されにくくなる。しかも、実施形態2でも、アコースティックホールの数は減らず、ストッパ43を取り囲むアコースティックホール41aの開口面積だけが小さくなっているので、断面積の大きなストッパ43に合わせてアコースティックホール全体の開口面積を小さくした場合と比較すると、アコースティックホール41a、41bの全開口面積を大きくすることができ、音響センサ31のS/N比を向上させることができる。また、すべてのアコースティックホールが、アコースティックホール41bと同じ大きさである場合(この場合には、断面積の大きなストッパ43を設けることはできなくなるが、)と比較しても、S/N比の低下を最小限に抑えることができる。よって、実施形態2の場合においても、S/N比を向上させ、かつ、ダイアフラムの耐久性を向上させることが可能になる。
また、実施形態2のアコースティックホールも、実施形態1で述べたような特徴を備えている。すなわち、図7に示す2点鎖線で示す繰り返し最小単位のうちストッパ43を有する繰り返し最小単位に含まれるアコースティックホール41aの総面積は、ストッパ43を有しない繰り返し最小単位に含まれるアコースティックホール41bの総面積よりも小さくなっている。
また、実施形態2のアコースティックホールでも、図8(A)に示すストッパ43の断面中心Pからストッパ43に隣接するアコースティックホール41aの縁までの最短距離Dが、図8(B)に示すアコースティックホールに囲まれていてストッパ43が設けられていない領域の中心Qからその周囲のアコースティックホール41bの縁までの最短距離dよりも長くなっている。
また、実施形態2のアコースティックホールにおいても、図8(A)に示すようにストッパ43に隣接するアコースティックホール41aを囲む枠42a内にあるアコースティックホール41aの数と、図8(B)に示すようにストッパ43が設けられていない領域で、点Qに隣接するアコースティックホール41bを囲む枠42b内にあるアコースティックホール41bの数は等しくなっている。
(実施形態3)
図9は、本発明の実施形態3による音響センサにおけるバックプレート34の一部を拡大して示した図である。実施形態3においては、ストッパ43に隣接するアコースティックホール41aどうしの間隔が、ストッパ43に隣接しないアコースティックホール41bどうしの間隔よりも広くなっている。すなわち、この実施形態では、ストッパ43に隣接するアコースティックホール41a以外のアコースティックホール41bが一定のピッチで規則的に配列している。一方、ストッパ43に隣接するアコースティックホール41aの位置は、アコースティックホール41aをアコースティックホール41bの規則的な位置に置いたときよりもストッパ43から離れる方向へシフトしている。
実施形態3のアコースティックホール41では、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aがストッパ43から遠くなる方向へ移動しているので、ストッパ43の設けられている箇所においてアコースティックホール41aに囲まれた領域の面積が広くなる。よって、断面積の大きなストッパ43を設けることが可能になり、落下衝撃時などにストッパ43の先端でダイアフラム33が破損されにくくなる。しかも、実施形態3でも、アコースティックホールの数は減らず、ストッパ43を取り囲むアコースティックホール41aの開口面積だけが小さくなっているので、断面積の大きなストッパ43に合わせてアコースティックホール全体の開口面積を小さくした場合と比較すると、アコースティックホール41a、41bの全開口面積を大きくすることができ、音響センサ31のS/N比を向上させることができる。また、すべてのアコースティックホールが、アコースティックホール41bと同じ大きさである場合(この場合には、断面積の大きなストッパ43を設けることはできなくなるが、)と比較しても、S/N比の低下を最小限に抑えることができる。よって、実施形態2の場合においても、S/N比を向上させ、かつ、ダイアフラムの耐久性を向上させることが可能になる。
また、実施形態2のアコースティックホールも、実施形態1で述べたような特徴を備えている。すなわち、図10(A)に示すストッパ43の断面中心Pからストッパ43に隣接するアコースティックホール41aの縁までの最短距離Dが、図10(B)に示すアコースティックホールに囲まれていてストッパ43が設けられていない領域の中心Qからその周囲のアコースティックホール41bの縁までの最短距離dよりも長くなっている。
また、実施形態3のアコースティックホールにおいても、図10(A)に示すようにストッパ43に隣接するアコースティックホール41aを囲む枠42a内にあるアコースティックホール41aの数と、図10(B)に示すようにアコースティックホールに囲まれていてストッパ43が設けられていない領域の中心Qに隣接するアコースティックホール41bを囲む枠42b内にあるアコースティックホール41bの数は等しくなっている。
上記実施形態1−3を比較すると、実施形態3のようにストッパ43に隣接するアコースティックホール41aをシフトさせる方法では、アコースティックホール41aの開口面積を小さくすることなくストッパ43の断面積を大きくすることが可能である。しかし、アコースティックホール41a、41bの開口面積を最大化している場合には、アコースティックホール41aをシフトさせる余裕がないので、実施形態3は採用できない。実施形態1、2では、アコースティックホール41bが最大化されている場合でも採用することができる。しかも、実施形態1、2ではアコースティックホール41aの開口面積はアコースティックホール41bの開口面積よりも小さいが、アコースティックホール41bを最大化することでアコースティックホール全体の開口面積を大きくできるので、S/N比が良好になる。
(実施形態1−3の変形例)
実施形態3においては、アコースティックホール41が三角形状に配列されていたが、アコースティックホール41の配列の仕方は三角形状の配置に限らない。図11(A)及び図11(B)では、円形を基本とするアコースティックホール41を矩形状に配列している。特に、図11(A)の変形例では、アコースティックホール41を矩形状に配列したうえで、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aの開口面積を他のアコースティックホール41bの開口面積よりも小さくし、さらに、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aをストッパ43から遠くなる方向へシフトさせている。このように、実施形態1−3を組み合わせることにより、アコースティックホール41とストッパ43の寸法を最適化し、アコースティックホール41の開口面積を大きくし、かつ、より断面積の大きなストッパ43を設けることが可能になる。
また、図11(B)の変形例では、アコースティックホール41を矩形状に配列し、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aの縁をストッパ43から遠くなる方向へ後退させてアコースティックホール41aの面積を小さくしている。このような形態においても、さらにアコースティックホール41aの大きさを相似的に小さくしたり、ストッパ43から離れる方向へシフトさせる方法と組み合わせることができる。
図12(A)及び図12(B)は、アコースティックホール41を矩形状にした変形例である。図12(A)では、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aの開口面積を他のアコースティックホール41bの開口面積よりも小さくするとともに、アコースティックホール41aをストッパ43から遠くなる方向へシフトさせている。図12(B)では、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aの縁をストッパ43から遠くなる方向へ後退させてアコースティックホール41aの面積を小さくしている。なお、アコースティックホール41の角はアールを施して応力集中を緩和させている。
図13(A)及び図13(B)は、アコースティックホール41を六角形状にしてハニカム状に配置した変形例である。図13(A)では、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aの開口面積を他のアコースティックホール41bの開口面積よりも小さくするとともに、アコースティックホール41aをストッパ43から遠くなる方向へシフトさせている。図13(B)では、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aの縁をストッパ43から遠くなる方向へ後退させてアコースティックホール41aの面積を小さくしている。
図14は、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aを扁平な形状、たとえば楕円形状にしたものである。アコースティックホール41aは、その短軸方向がストッパ43の断面中心とアコースティックホール41aの中心とを結ぶ方向と平行となるように配置されている。この変形例では、アコースティックホール41aの開口面積をあまり小さくすることなく、好ましくはアコースティックホール41bと同じ開口面積に保ったままで、ストッパ43を設けるための領域の面積を広くすることができる。
図15は、ストッパ43を囲む複数個のアコースティックホール41aのうち一部のアコースティックホール41aにだけ実施形態1−3のような方法を適用したものである。図15では、1個のアコースティックホール41aだけ開口面積を小さくしている。このような変形例では、アコースティックホール41の総開口面積の減少を小さくしながら、ストッパ43の断面積を大きくすることができる。
(設計上の留意点)
まず、ストッパ43の配置は密になり過ぎないようにする。特に、図16(A)に示すようにストッパ43を含む繰り返し最小単位が隣合い、あるストッパ43に隣接するアコースティックホール41aと、別なストッパ43に隣接するアコースティックホール41aとが重複しないようにストッパ43が配列されていることが望ましい。第2の実施形態のような場合には、ストッパ43を含む繰り返し最小単位が隣合っていると、図16(B)に示すように、どのアコースティックホールの開口面積も小さくなり、アコースティックホールの総開口面積も小さくなるからである。また、第1の実施形態のような場合には、ストッパ43を含む繰り返し最小単位が隣合っていると、大部分のアコースティックホールの開口面積が小さくなるためである。
また、ストッパ43に隣接するアコースティックホール41aの縁とストッパ43の縁とは、離間していることが望ましい。この場合には、ストッパ43の周囲のアコースティックホール41aで囲まれる領域の面積は、図17(A)に示すように、ストッパ43の断面積よりも大きくなっており、アコースティックホール41aで囲まれる領域内にストッパ43が納まる。これに対し、図17(B)に示すように、ストッパ43の断面積が大きくなって、ストッパ43の縁がアコースティックホール41a内に飛び出たようになっていると、アコースティックホール41a内に飛び出たストッパ43の縁の端sに応力が集中し、バックプレート34の強度が低下する。ストッパ43に隣接するアコースティックホール41aの縁とストッパ43の縁が離間していれば、このようなバックプレート34の強度低下を防ぐことができる。
また、固定電極板40は、ストッパ43の周囲で途切れないようにすることが望ましい。すなわち、バックプレート34に図18(A)のようにアコースティックホール41aとストッパ43が設けられているとすると、固定電極板40は、図18(B)に示すように、アコースティックホール41とストッパ43の領域を除く領域の全面に設けておくことが望ましい。図18(C)のように、ストッパ43の周囲で固定電極板40が途切れていると、途切れている部分の端sに応力が集中しやすく、音響センサを落下させたときに固定電極板40やバックプレート34が破損しやすくなるためである。
(実施形態4)
図19は、本発明の実施形態4におけるストッパの配置を示す図である。この実施形態では、アコースティックホール41に囲まれた各領域にストッパ43、48を設けてあり、一部のストッパ43を囲むアコースティックホール41aだけに実施形態1−3のような変更を加えている。たとえば一部のストッパ43を囲むアコースティックホール41aだけが、その縁を内側へ後退させてあり、ストッパ43の断面積が他のストッパ48の断面積よりも大きくなっている。かかる実施形態では、ストッパの数を増やすことができるので、ストッパ間にダイアフラム33の一部が埋まり込んで固定電極板40に固着するおそれがない。また、一部のストッパ43の断面積が大きくなっているので、ダイアフラム33がストッパ43、48に衝突しても、ダイアフラム33が破損しにくい。しかも、アコースティックホール41の開口面積を大きくできるので、音響センサのS/N比も向上させることができる。
(実施形態5)
図20は、本発明の実施形態5に係る音響センサ51の断面図であって、固定電極板40の上方にダイアフラム33を設けたことを特徴としている。音響センサ51では、基板32の上面に絶縁層52を介して平板状のバックプレート34を設けている。バックプレート34の上面には、固定電極板40が形成されている。空洞35の上方において、バックプレート34及び固定電極板40には複数のアコースティックホール41が開口されている。また、バックプレート34の上面からは、ストッパ43が突出している。この実施形態においても、アコースティックホール41は上記各実施形態と同様な形状又は配置を有している。バックプレート34の上方には、固定電極板40と対向させるようにしてダイアフラム33が配設されている。ダイアフラム33は、バックプレート34の上面に設けられたアンカー38によって支持されている。
(マイクロフォンへの応用)
図21は、本発明に係る音響センサ、たとえば実施形態1の音響センサ31を内蔵したボトムポート型のマイクロフォン61の概略断面図である。このマイクロフォン61は、回路基板62とカバー63からなるパッケージ内に音響センサ31と回路部である信号処理回路65(ASIC)とを内蔵したものである。音響センサ31と信号処理回路65は、回路基板62の上面に実装されている。回路基板62には、音響センサ31内に音響振動を導き入れるための音導入孔64が開口されている。音響センサ31は、空洞35の下面開口を音導入孔64に合わせ、音導入孔64を覆うようにして回路基板62の上面に実装されている。したがって、音響センサ31の空洞35がフロントチャンバとなり、パッケージ内の空間がバックチャンバとなる。
音響センサ31と信号処理回路65は、ボンディングワイヤ66によって接続されている。さらに、信号処理回路65は、ボンディングワイヤ67によって回路基板62に接続されている。なお、信号処理回路65は、音響センサ31へ電源を供給する機能や、音響センサ31の容量変化信号を外部へ出力する機能を有する。
回路基板62の上面には、音響センサ31及び信号処理回路65を覆うようにしてカバー63が取り付けられる。パッケージは電磁シールドの機能を有しており、外部からの電気的な外乱や機械的な衝撃から音響センサ31や信号処理回路65を保護している。
こうして、音導入孔64から空洞35内に入った音響振動は、音響センサ31によって検出され、信号処理回路65によって増幅及び信号処理された後に出力される。このマイクロフォン61では、パッケージ内の空間をバックチャンバとしているので、バックチャンバの容積を大きくでき、マイクロフォン61を高感度化することができる。
なお、このマイクロフォン61においては、パッケージ内に音響振動を導き入れるための音導入孔64をカバー63の上面に開口していてもよい。この場合には、音響センサ31の空洞35がバックチャンバとなり、パッケージ内の空間がフロントチャンバとなる。
31、51 音響センサ
32 基板
33 ダイアフラム
34 バックプレート
40 固定電極板
41、41a、41b アコースティックホール
42a、42b 枠
43 ストッパ
61 マイクロフォン
62 回路基板
63 カバー
64 音導入孔
65 信号処理回路
P ストッパの断面中心
Q アコースティックホールに囲まれていてストッパが設けられていない領域の中心
D 点Pからストッパに隣接するアコースティックホールの縁までの最短距離
d 点Qからその周囲のアコースティックホールの縁までの最短距離

Claims (15)

  1. 空洞を有する基板と、
    前記基板の上方に設けられた振動電極板と、
    前記基板の上に設けられたバックプレートと、
    前記振動電極板に対向させて前記バックプレートに設けられた固定電極板と、
    前記バックプレート及び前記固定電極板に設けられた複数個の孔と、
    前記バックプレートの、前記振動電極板に対向する箇所に設けられた突起と、
    を備え、
    前記基板の上面に垂直な方向から見たとき、前記突起の断面中心から前記突起に隣接する孔の縁までの最短距離が、前記孔に囲まれていて前記突起が設けられていない領域の中心からその周囲の孔の縁までの最短距離よりも大きくなっていることを特徴とする静電容量型トランスデューサ。
  2. 前記孔が一定面積の領域を単位として規則的に配列され、
    前記一定面積の領域のうち前記突起を有する領域に含まれる前記孔の総面積は、前記突起を有しない領域に含まれる前記孔の総面積よりも小さいことを特徴とする、請求項1に記載の静電容量型トランスデューサ。
  3. 前記突起に隣接する孔を囲む領域内に含まれる孔の数が、前記孔に囲まれていて前記突起が設けられていない領域の中心に隣接する孔を囲む領域内に含まれる孔の数に等しいことを特徴とする、請求項1に記載の静電容量型トランスデューサ。
  4. 空洞を有する基板と、
    前記基板の上方に設けられた振動電極板と、
    前記基板の上に設けられたバックプレートと、
    前記振動電極板に対向させて前記バックプレートに設けられた固定電極板と、
    前記バックプレート及び前記固定電極板に設けられた複数個の孔と、
    前記バックプレートの、前記振動電極板に対向する箇所に設けられた突起と、
    を備え、
    前記突起に隣接する前記孔のうち少なくとも1つの孔の面積が、前記突起に隣接しない孔の面積よりも小さいことを特徴とする静電容量型トランスデューサ。
  5. 前記突起に隣接する孔と、それ以外の孔とが、相似な形状であることを特徴とする、請求項4に記載の静電容量型トランスデューサ。
  6. 空洞を有する基板と、
    前記基板の上方に設けられた振動電極板と、
    前記基板の上に設けられたバックプレートと、
    前記振動電極板に対向させて前記バックプレートに設けられた固定電極板と、
    前記バックプレート及び前記固定電極板に設けられた複数個の孔と、
    前記バックプレートの、前記振動電極板に対向する箇所に設けられた突起と、
    を備え、
    前記突起に隣接する孔のうち少なくとも1つの孔は、他の孔に比べて前記突起に近い領域の縁が孔の内側へ引っ込んでいることを特徴とする静電容量型トランスデューサ。
  7. 前記突起に隣接する孔以外の孔は、互いに同一又は相似な形状を有しており、
    前記突起に隣接する孔のうち少なくとも1つの孔と、それ以外の孔とは、同一の形状でなく、かつ、相似な形状でないことを特徴とする、請求項6に記載の静電容量型トランスデューサ。
  8. 空洞を有する基板と、
    前記基板の上方に設けられた振動電極板と、
    前記基板の上に設けられたバックプレートと、
    前記振動電極板に対向させて前記バックプレートに設けられた固定電極板と、
    前記バックプレート及び前記固定電極板に設けられた複数個の孔と、
    前記バックプレートの、前記振動電極板に対向する箇所に設けられた突起と、
    を備え、
    前記突起に隣接する孔どうしの間隔が、前記突起に隣接しない孔どうしの間隔よりも広いことを特徴とする静電容量型トランスデューサ。
  9. 前記突起に隣接する孔以外の孔が一定のピッチで規則的に配列しており、
    前記突起に隣接する孔の位置が、孔の規則的な位置よりも前記突起から離れる方向へ偏っていることを特徴とする、請求項8に記載の静電容量型トランスデューサ。
  10. 空洞を有する基板と、
    前記基板の上方に設けられた振動電極板と、
    前記基板の上に設けられたバックプレートと、
    前記振動電極板に対向させて前記バックプレートに設けられた固定電極板と、
    前記バックプレート及び前記固定電極板に設けられた複数個の孔と、
    前記バックプレートの、前記振動電極板に対向する箇所に設けられた突起と、
    を備え、
    前記突起に隣接する孔のうち少なくとも1つの孔が扁平な開口形状を有し、
    扁平な開口形状を有する孔は、その短軸方向が、その中心と前記突起の断面中心とを結ぶ方向を向いていることを特徴とする静電容量型トランスデューサ。
  11. 前記突起に隣接する孔の縁と前記突起の縁とが離間していることを特徴とする、請求項1、4、6、8または10のうちいずれか1項に記載の静電容量型トランスデューサ。
  12. 前記突起に隣接する孔で囲まれた領域の面積が、前記突起の断面積よりも大きいことを特徴とする、請求項1、4、6、8または10のうちいずれか1項に記載の静電容量型トランスデューサ。
  13. ある突起に隣接する孔と、別な突起に隣接する孔とが重複しないように前記突起が配列されていることを特徴とする、請求項1、4、6、8または10のうちいずれか1項に記載の静電容量型トランスデューサ。
  14. 請求項1、4、6、8または10のうちいずれか1項に記載の静電容量型トランスデューサを利用した音響センサであって、
    前記孔が、音響振動を通過させるためのアコースティックホールであることを特徴とする音響センサ。
  15. 請求項14に記載の音響センサと、前記音響センサからの信号を増幅して外部に出力する回路部とを備えたマイクロフォン。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013201795A1 (de) * 2013-02-05 2014-08-07 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauelement mit einer Membranstruktur
IT201700103511A1 (it) * 2017-09-15 2019-03-15 St Microelectronics Srl Dispositivo microelettronico dotato di connessioni protette e relativo processo di fabbricazione
JP7067891B2 (ja) * 2017-10-18 2022-05-16 Mmiセミコンダクター株式会社 トランスデューサ
CN209375863U (zh) * 2018-12-28 2019-09-10 瑞声声学科技(深圳)有限公司 麦克风
US11057693B2 (en) * 2019-12-05 2021-07-06 Aac Acoustic Technologies (Shenzhen) Co., Ltd. Microphone
CN217363312U (zh) * 2022-04-25 2022-09-02 瑞声声学科技(深圳)有限公司 Mems麦克风

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007104641A (ja) * 2005-09-09 2007-04-19 Yamaha Corp コンデンサマイクロホン
JP2009017578A (ja) * 2008-08-21 2009-01-22 Yamaha Corp コンデンサマイクロホン
JP2011239324A (ja) * 2010-05-13 2011-11-24 Omron Corp 音響センサ
JP2012135041A (ja) * 2012-03-15 2012-07-12 Omron Corp 音響センサ

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6741709B2 (en) * 2000-12-20 2004-05-25 Shure Incorporated Condenser microphone assembly
TW200738028A (en) * 2006-02-24 2007-10-01 Yamaha Corp Condenser microphone
JP5034692B2 (ja) * 2007-06-04 2012-09-26 オムロン株式会社 音響センサ
JPWO2009101757A1 (ja) * 2008-02-14 2011-06-09 パナソニック株式会社 コンデンサマイクロホン及びmemsデバイス
US8327711B2 (en) * 2008-02-20 2012-12-11 Omron Corporation Electrostatic capacitive vibrating sensor
US8948419B2 (en) 2008-06-05 2015-02-03 Invensense, Inc. Microphone with backplate having specially shaped through-holes
US8987842B2 (en) * 2012-09-14 2015-03-24 Solid State System Co., Ltd. Microelectromechanical system (MEMS) device and fabrication method thereof

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007104641A (ja) * 2005-09-09 2007-04-19 Yamaha Corp コンデンサマイクロホン
JP2009017578A (ja) * 2008-08-21 2009-01-22 Yamaha Corp コンデンサマイクロホン
JP2011239324A (ja) * 2010-05-13 2011-11-24 Omron Corp 音響センサ
JP2012135041A (ja) * 2012-03-15 2012-07-12 Omron Corp 音響センサ

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