JP2015028528A - 透過型回折光学素子及び計測装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 0.8μm帯の波長のTE偏光とTM偏光の両方について高い回折効率を実現する透過型回折光学素子を提供する。【解決手段】 石英で形成される0.8μm帯の波長用の透過型回折光学素子であって、石英の屈折率をn、回折格子に入射する光の波長をλ(nm)、回折格子のピッチをp(nm)、回折格子の深さをD(μm)、回折格子の幅を前記ピッチで割った値であるデューティー比をαとすると、回折格子のピッチ、深さ及びデューティー比が高い回折効率を得るための所定の条件を満たすことを特徴とする。【選択図】 図1
Description
本発明は、透過型回折光学素子及び計測装置に関する。
眼底を検査するために光干渉断層計(Optical coherence tomography:OCT)が使用されている。光干渉断層計における方式の一つとしてスペクトラルドメインOCT(Spectral−domain OCT:SD−OCT)が存在する。SD−OCTにおいては、広帯域波長の光を出射する光源と分光器を用いて被検物からの光の周波数分布を検出し、検出信号をフーリエ変換することで深さ方向の断面像を得る。分光器内では回折光学素子によって、参照光と眼底からの被検光との干渉光を波長毎に分離し、センサによって波長毎の光強度(光量)を検出している。眼底検査用のOCTでは、光源の波長として0.8μm帯の波長、例えば、中心波長が840nm〜880nmの広帯域の波長が使用される。
OCTにおいて回折光学素子の回折効率は得られる断面像の明るさに影響する。また、使用する波長帯域端での回折効率低下は断面像における分解能の悪化に繋がる。分解能はスペクトルの半値幅に反比例するため、中心波長と波長帯域端の波長との回折効率に差があるとスペクトルの半値幅が小さくなり、分解能が大きくなる(悪化する)からである。よって、中心波長のみだけではなく、回折光学素子による分光対象となる波長帯域全域で回折効率が高いことが重要である。また、回折光学素子にはランダムな偏光光が入射するため、TE偏光とTM偏光の両方に対して回折効率が高いことが求められる。
様々なタイプの回折光学素子のうち、一般的に回折効率が高いのは、主に低次回折光を出射する透過型回折光学素子である。透過型回折光学素子に関する高回折効率化に関して、特許文献1に光通信用のC−band帯域(1530〜1565nm)のTE偏光とTM偏光の両方に対して90%以上の高い回折効率を実現するための回折格子のピッチ、幅及び高さの条件が記載されている。また、特許文献2には、回折格子の直下に薄膜層を設け、この薄膜層の屈折率分布を、回折格子により高い回折効率を実現するために適した分布にすることが記載されている。特許文献2に記載の回折光学素子に入射する光の波長は1350nm〜1750nmである。
特許文献1には、光通信用のC−band帯域においてTE偏光とTM偏光の両方に対して高い回折効率を実現する格子の条件が記載されているものの、0.8μm帯の波長についてTE偏光とTM偏光の両方に対して高い回折効率を実現するものではない。
特許文献2に記載の回折光学素子に入射する光の波長は1350nm〜1750nmであって、特許文献2に記載の回折光学素子も0.8μm帯の波長について高いTE偏光とTM偏光の両方に対して回折効率を実現するものではない。さらに、特許文献2に記載の薄膜層を形成するためには、製造プロセスが煩雑になり、製造コストが増加してしまう。薄膜層を形成せずに、単一材料で回折光学素子を形成した方が簡単である。
以上のように、0.8μm帯の波長のTE偏光とTM偏光の両方について高い回折効率を実現する透過型回折光学素子の回折格子の条件は知られていない。
そこで、本発明は、0.8μm帯の波長のTE偏光とTM偏光の両方について高い回折効率を実現する透過型回折光学素子を提供することを目的とする。
上記課題を解決する本発明の一側面としての透過型回折光学素子は、石英で形成される0.8μm帯の波長用の透過型回折光学素子であって、石英の屈折率をn、回折格子に入射する光の波長をλ(nm)、回折格子のピッチをp(nm)、回折格子の深さをD(μm)、回折格子の幅を前記ピッチで割った値であるデューティー比をαとすると、回折格子のピッチ、深さ及びデューティー比が下記の式を満たすことを特徴とする透過型回折光学素子。
2n×p<3λ
D>7.8638×10−6×p2−1.4279×10−2×p+7.9734
α>−8.5747×10−4×p+1.2328
D>13.19×α2−14.16×α+5.360
D<15.44×α2−15.73×α+5.870
2n×p<3λ
D>7.8638×10−6×p2−1.4279×10−2×p+7.9734
α>−8.5747×10−4×p+1.2328
D>13.19×α2−14.16×α+5.360
D<15.44×α2−15.73×α+5.870
本発明によれば、0.8μm帯の波長のTE偏光とTM偏光の両方について高い回折効率を実現する透過型回折光学素子を提供することができる。
(実施例1)
本実施例では、眼底検査用の光干渉断層計(OCT)に使用される回折光学素子について説明する。
本実施例では、眼底検査用の光干渉断層計(OCT)に使用される回折光学素子について説明する。
眼底検査用のOCTは、網膜、前眼部角膜、隅角、虹彩など眼球における様々な箇所の断面像や立体像を得る事を可能とし、黄斑変性や緑内障などの網膜疾患の診断に特に効果を発揮する。近年広く用いられているOCTはSD−OCT(Spectral Domain OCT)と呼ばれるものである。SD−OCTにおいては、広帯域波長の光を出射する光源と分光器を用いて、被検物からの光の周波数分布を検出し、検出信号をフーリエ変換することで深さ方向の断面像を得る。分光器内では回折光学素子によって、参照光と眼底からの被検光との干渉光を波長毎に分離(分光)し、CCDセンサによって波長毎の光強度(光量)を検出する。回折光学素子は、光の回折現象を利用し、回折格子に入射したある波長帯域幅の光に対して、特定波長を特定方向に透過ないし反射させることで分光を実現するものである。眼底検査用のOCTでは、光源の波長として0.8μm帯の波長、例えば、中心波長が840nm〜880nmの広帯域の波長が使用される。そのため、分光器内で0.8μm帯の波長用の回折光学素子が用いられる。本方式においては、干渉計の参照ミラーを機械的に動かしながら検出対象物の深さ方向の断面像を得るTD−OCT(Time Domain OCT)と比較して、測定および画像処理の速度や空間解像度、検出感度の面で優位である。
OCTで得られる画像の性能を考慮した際に、回折光学素子に求められる性能の一つが回折効率である。回折効率は、入射光量に対して所望の次数に回折される光量の割合を示す値である。回折効率は画像の明るさに寄与するため、高い回折効率である事が望まれる。
回折効率には入射光の偏光依存性がある。SD−OCT用の広帯域波長を射出する光源からの光は一般に偏光に関して特定の振動方向が存在しない。よって、回折光学素子としては、TE偏光とTM偏光(s偏光とp偏光)の両方に対して高い回折効率である事が望まれる。
また、回折効率は入射波長により異なるが、例えば、特定の中心波長で高い回折効率であったとしても、広波長帯域の端の波長で回折効率が低ければ、CCDセンサで検出した検出信号をフーリエ変換した後に得られる画像の分解能が悪化し、計測精度が低くなる。このため、特定の1波長だけではなく、少なくとも使用する波長帯域全域において高い回折効率である必要がある。
SD−OCT用の回折光学素子としては一般に透過型回折光学素子が用いられている。透過型回折光学素子は、通常、反射型回折光学素子より回折効率が高いからである。透過型回折光学素子の一つの形態として、高純度の石英ガラス基板に直接エッチングして形成された回折光学素子がある。透過型回折光学素子では、回折格子が形成された面とは反対側の表面に反射防止膜がコーティングされているため、回折格子が形成された面とは反対側の表面での光のロスはほとんどない。そのため、透過型回折光学素子における光のロスはほとんど、回折格子により所望の次数以外の他の次数で伝搬する光だけとなる。一方、反射型回折光学素子では、反射率90%前後の金属膜コーティングが反射層となっており、反射層での光のロスが大きいため、透過型回折光学素子より低い回折効率となる。
本実施例における透過型回折光学素子1の断面図を図1に示す。透過型回折光学素子1は、石英ガラスの基板上に塗布されたレジストを露光装置で露光して、露光された基板に現像およびエッチングをすることにより形成される。この方法では、特許文献2に記載の薄膜層を形成するよりも比較的簡易なプロセスで透過型回折光学素子を形成する事が出来る。透過型回折光学素子1には断面が凹凸構造の回折格子2が形成され、回折格子2は複数の凸形状の部分(凸部3)と凸部間の溝部からなる。本実施例では回折格子2の凸部3を矩形形状とする。凸部3はy方向に同じ断面形状で延びており、複数の凸部3がx方向に繰り返し配列されており、ラインアンドスペースの回折格子2が形成されている。
図1に示す回折光学素子1の形状を規定するパラメータを説明する。回折格子2の凸部3または凸部3間の溝部が一方向に等間隔のピッチpで配列され、入射光を回折させている。回折格子のピッチpの逆数を本数と呼び、通常1mmあたりの本数で示される。また、回折格子2が形成されている回折格子面に垂直な格子法線4の方向(z方向)における回折格子2(凸部3)の長さを格子深さDとする。回折格子2の凸部3が繰り返し並ぶ配列方向(x方向)における凸部3の長さを格子幅wとする。格子幅wをピッチpで割った値(w/p)をデューティー比αと呼ぶ。回折格子6の形状は、ピッチpまたは本数、格子深さD、および、デューティー比αを定義することで一意に決定される。
ピッチpまたは本数、格子深さD、および、デューティー比αは、回折光がどの次数に配分されるか、すなわち、回折効率に大きく影響する。よって、ピッチpまたは本数、格子深さD、および、デューティー比αを適切に設定することにより、高い回折効率を実現することができる。そこで、本実施例では、計算機を用いたシミュレーションにより、ピッチpまたは本数、格子深さD、および、デューティー比αの3つのパラメータを変化させて、回折効率の計算を行った。計算は電磁場解析法の一種であるRCWA法を用いて計算される。
計算を行う上で入射光の波長を規定する必要がある。現在実用化されているSD−OCTの光源は、中心波長が840nm〜880nmなどの所謂0.8μm帯の波長帯域の光源なので、本実施例ではこの波長帯域内の特定波長855nmの光に対する回折効率を計算した。なお、回折光学素子を形成する材料は石英ガラスの単一材料とした。石英ガラスは0.8μm帯の波長において透過率が非常に高く、化学的安定性に優れた安価な材料である。石英ガラス表面にエッチングなどにより回折格子構造を設けて透過型回折光学素子として用いることは広く知られている。
光の入射角度および出射角度に関してはリトロー配置(条件)にて計算を行った。図2に示すように、回折格子2が形成されている面とは反対側の面に入射光5が入射し、入射光5が回折光学素子1内を透過して、回折格子2で回折して出射される。リトロー配置とは、入射光5の入射角θ1と所望の次数の回折光6の出射角θ2とが等しい配置であることを指す。回折光は波長に応じて出射角が異なるから、ある波長、例えば使用波長帯域における中心波長についてリトロー配置が成り立つように設計される。
入射光5の入射角θ1と回折光6の出射角θ2の関係は、波長をλ(nm)、回折次数をm、回折格子2のピッチをp(nm)とすると、m×λ=p×(sinθ1+sinθ2)という方程式で表される。リトロー配置においては、θ1=θ2であり、リトロー角θをθ=θ1=θ2と定義した際に、m×λ=2p×sinθという式が成立する。
本実施例においては、所望の次数の回折光6を1次回折光として、1次回折光に関する回折効率に関する計算を行った。これは、2次以上の高次回折光を用いると光が各次数に分離されることになり、高回折効率が実現出来ないためである。本実施例では、回折光のうち1次回折光の光量が最大となり、1次回折光に関する回折効率が最大となるように回折格子2の形状のパラメータを設定する。
回折光学素子1から空気中に1次回折光が出射される形で回折が生じる場合に、回折格子2が形成されている面で反射する2次回折光7が発生する条件が存在する。1次回折光の出射角(リトロー角)をθ、2次の反射回折光7が発生する場合の2次の反射回折光の出射角をθ3、回折光学素子1の屈折率をnとすると、2次の反射回折光7が発生(存在)する場合、2λ=p×(sinθ+n×sinθ3)が成り立つ。一方、θは1次回折光6の出射角なので、λ=2p×sinθという式が成立する。この2つの式より、sinθ3=3λ/(2n×p)となる。0≦sinθ3≦1の場合に、θ3の値が存在するので、0≦3λ/(2n×p)≦1の条件を満たす場合には、2次反射回折光7が存在することになる。言い換えれば、3λ/(2n×p)>1の場合には、2次反射回折光が存在しない。したがって、2次反射回折光が発生せずに、高い回折効率を実現するためには、2n×p<3λとなるようなピッチpを設定する必要がある。
屈折率nを1.45、波長λを855nmとして、上記の式2n×p<3λに代入すると、2p(ピッチpの2倍)は844nm以下である必要があり、本数で表すと1131本/mm以上となる。
なお、ここで回折光学素子1から空気中に出射される回折に関して述べたが、空気中から回折光学素子1に入射する回折においても同様の条件下で、2次の透過回折光が生じる。よって高回折効率化のためには、同様に2n×p<3λの条件を満たす必要がある。
ピッチまたは本数に関する上記条件を考慮し、シミュレーションでは本数を1150本から1500本とした。また、格子深さDを1μmから3μm、デューティー比αを0.3から0.8の範囲で変化させて計算を行った。格子深さを必要以上に大きくすることや、デューティー比を0.5から大きく乖離した値を選択することは、回折光学素子の製造を考えた場合、技術的、コスト的にメリットは無いため、上記範囲に設定した。
計算により得られる回折効率は、リトロー配置条件のもとで、回折格子2において透過回折が生じた際の透過前の総光量に対する透過1次回折光の光量の比率であり、回折格子面とは反対側の面による影響は含まないとした。先に述べた通り、SD−OCT用の光源は一般に偏光に関し特定の振動方向が存在せず、回折光学素子は両偏光に対し高い回折効率であることが求められる。そのため、両偏光の平均回折効率を計算した。
計算結果を図3〜5に示す。図3は回折格子の本数が1200本の場合において、格子深さDとデューティー比αに対する回折効率を示す図である。図3(A)はTM偏光に対する回折効率、図3(B)はTE偏光に対する回折効率を示す図であり、図3Cは両偏光についての回折効率の平均値を示す図である。図3(A)〜(C)において、黒色から白色になるにつれて値が大きくなっていることを表し、等高線が記されている。図3(A)、(B)からも明らかな通り、格子深さ及びデューティー比に対する回折効率は偏光により異なり、両偏光ともに高い回折効率を示すときの格子深さ及びデューティー比の場合に、両偏光についての平均回折効率が高い。
図4は、回折格子の本数が1400本の場合において、格子深さDとデューティー比αに対する回折効率を示す図である。図4(A)はTM偏光に対する回折効率、図4(B)はTE偏光に対する回折効率を示す図であり、図4(C)は両偏光についての回折効率の平均値を示す図である。図3(A)と図4(A)を比較した場合、TM偏光について、格子深さとデューティー比に対する回折効率の依存性はほぼ変わらない。しかし、図3(B)と図4(B)を比較した場合、TM偏光について、格子深さとデューティー比に対する回折効率の依存性は異なったものとなる。具体的には、図4(B)において高回折効率となるときの格子深さが、図3(B)において高回折効率となるときの格子深さよりも大きくなる傾向がある。デューティー比についても同様である。これに伴い、格子深さとデューティー比に対する平均回折効率の依存性も変化する。図3(C)と図4(C)を比較した場合、TM偏光と同様に、平均回折効率に関しても、本数増加に伴い、高回折効率となる格子深さとデューティー比が共に大きくなっていることが明確である。
図5に、両偏光についての平均回折効率の格子深さとデューティー比に対する依存性を示す。図5(A)は、回折格子の本数が1200本である場合において、両偏光についての平均回折効率の格子深さとデューティー比に対する依存性を示す。図5(B)、(C)、(D)は、それぞれ回折折格子の本数が1300本、1400本、1500本である場合を示す。
一般的に、従来の回折光学素子の回折効率は、使用する波長帯域内における最大値でも90%程度である。そのため、本実施例では、従来よりも高い回折効率を実現するために、計算効率として93%あれば十分に高い回折効率と言える。そこで、本実施例では、両偏光の平均回折効率が93%以上であるという条件に着目し、その条件を満たす各パラメータの値を規定する。
図5から、両偏光の平均回折効率が93%以上となる領域を調べた結果、それぞれの本数における計算結果において、2本の直線A、Bと2本の2次曲線C、Dに囲まれた領域で規定できる事がわかった。直線Aは、上記条件を満たす格子深さDの下限値を定め、ある一定の値の格子深さで定義される。直線Bは、上記条件を満たすデューティー比の下限値を定め、ある一定の値のデューティー比で定義される。
直線A、Bは回折格子の本数に依存性がある一方で、2次曲線C、Dは回折格子の本数に依存性がほぼ無い。本数はピッチpの逆数であるため、直線Aは格子深さDとピッチpの関数として表され、直線Bはデューティー比αとピッチpの関数として表さる。曲線C、Dは格子深さDおよびデューティー比αの関数として表される。
図6は、本数すなわちピッチp(nm)に対して、直線Aを規定する格子深さD(μm)と、直線Bを規定するデューティー比αをプロットした図である。
直線Aを規定する格子深さDを2次関数で近似すると、直線Aを規定する格子深さD(μm)とピッチp(nm)との関係は、
D=7.8638×10−6×p2−1.4279×10−2×p+7.9734
・・・数1
となる。
D=7.8638×10−6×p2−1.4279×10−2×p+7.9734
・・・数1
となる。
直線Bを規定するデューティー比αを1次関数で近似すると、直線Bを規定するデューティー比αとピッチp(nm)との関係は、
α=−8.5747×10−4×p+1.2328 ・・・数2
となる。
α=−8.5747×10−4×p+1.2328 ・・・数2
となる。
図7は、直線C、Dを規定する格子深さD(μm)とデューティー比αとの関係を示す図である。格子深さD(μm)とデューティー比αとの関係を2次関数で近似すると、直線Cは、
D=13.19×α2−14.16×α+5.360 ・・・数3
となり、直線Dは、
D=15.44×α2−15.73×α+5.870 ・・・数4
となる。先に述べた通り、この関係は本数にほぼ依存しない。
D=13.19×α2−14.16×α+5.360 ・・・数3
となり、直線Dは、
D=15.44×α2−15.73×α+5.870 ・・・数4
となる。先に述べた通り、この関係は本数にほぼ依存しない。
以上より、両偏光の平均回折効率が93%以上を達成し得る回折格子のパラメータは、以下の5つの不等式を満たさなければならない。数6〜9は直線A、Bと曲線C、Dで囲まれる領域を示す。
2n×p<3λ ・・・数5
D>7.8638×10−6×p2−1.4279×10−2×p+7.9734
・・・数6
α>−8.5747×10−4×p+1.2328 ・・・数7
D>13.19×α2−14.16×α+5.360 ・・・数8
D<15.44×α2−15.73×α+5.870 ・・・数9
2n×p<3λ ・・・数5
D>7.8638×10−6×p2−1.4279×10−2×p+7.9734
・・・数6
α>−8.5747×10−4×p+1.2328 ・・・数7
D>13.19×α2−14.16×α+5.360 ・・・数8
D<15.44×α2−15.73×α+5.870 ・・・数9
先に述べた通り、SD−OCT用の回折光学素子には使用波長帯域全域において高い回折効率であることが求められる。先の計算では波長を855nmとして計算したが、上記不等式を満たす回折格子の形状であれば、855nm以外の波長を含む波長帯域でも高い回折効率が達成されることを以下に示す。
例として、上記不等式を満たすパラメータとして、格子本数1200本、ピッチ833.3nm、格子深さ2.06μm、デューティー比0.66を設定し、そのときの回折効率を計算した。波長855nmでは、TE偏光についての回折効率が97.6%、TM偏光についての回折効率が98.1%であり、両偏光についての平均回折効率は97.9%である。
SD−OCTで用いられる波長帯域は800nm付近の帯域で多様であるが、本実施例では795nmから915nmでの波長の光の入射を想定し、その波長帯域での回折効率の計算を行った。また、入射光の入射角は中心波長855nmのリトロー配置条件である30.86度である。
上記条件のもと、795nmから915nmの波長帯域における回折効率の計算を行って得られた計算結果を図8に示す。波長帯域の端の795nm、915nmにおいて、TE、TM両偏光についての平均回折効率は93.0%であり、一般に入手できる従来の回折光学素子の同波長帯域における回折効率と比較して十分に高い。このように回折格子のパラメータを設定したことにより、この波長帯域では回折効率は、設定波長855nmで値がピークとなる2次関数で変化する。したがって、設定波長855nmにおいて、高い回折効率となる回折格子のパラメータを選択することにより、使用波長帯域内で高い回折効率が実現されると言える。
以上より、上記不等式を満たすピッチpまたは本数、格子深さDおよびデューティー比αの3つのパラメータで規定される回折格子を有する回折光学素子であれば、0.8μm帯の波長のTE偏光とTM偏光の両方について高い回折効率を実現することができる。
(実施例2)
次に、第2実施例における回折光学素子10を説明する。実施例1では、回折格子の凸部の断面が矩形であったが、本実施例では回折格子の凸部の断面は矩形ではなく、側面が傾きをもつ。例えば、エッチングによって回折格子を形成する場合には、凸部の側面が垂直に形成されず、傾きを持って形成される。そのような場合は、図9に示すように、回折格子20の凸部30の断面は等脚台形状となる。凸部30の側面は、格子法線40に対して傾斜しており、数度の角度θkをもっている。つまり、回折格子20の深さ方向に凸部30の幅が変化している。ピッチp、格子深さDは実施例1と同様である。ただし、格子幅wは、格子法線40方向に一定では無いので、格子深さDの半分の位置における凸部30の配列方向(x方向)の幅と定める。このように、回折格子20の所定の深さにおける凸部30の幅を用いてデューティー比を定める。
次に、第2実施例における回折光学素子10を説明する。実施例1では、回折格子の凸部の断面が矩形であったが、本実施例では回折格子の凸部の断面は矩形ではなく、側面が傾きをもつ。例えば、エッチングによって回折格子を形成する場合には、凸部の側面が垂直に形成されず、傾きを持って形成される。そのような場合は、図9に示すように、回折格子20の凸部30の断面は等脚台形状となる。凸部30の側面は、格子法線40に対して傾斜しており、数度の角度θkをもっている。つまり、回折格子20の深さ方向に凸部30の幅が変化している。ピッチp、格子深さDは実施例1と同様である。ただし、格子幅wは、格子法線40方向に一定では無いので、格子深さDの半分の位置における凸部30の配列方向(x方向)の幅と定める。このように、回折格子20の所定の深さにおける凸部30の幅を用いてデューティー比を定める。
図10に、傾斜角度θkを4度として、回折効率の波長依存性を計算した結果を示す。なお、実施例1の計算と同様、格子本数1200本、ピッチ833.3nm、格子深さ2.06μm、デューティー比0.66、入射角30.86度として計算を行っている。
設定波長855nmにおいて両偏光の平均回折効率は97.6%、波長帯域端の795nmにおいては94.7%、915nmにおいては93.0%となった。以上より、回折格子の凸部の側面が傾斜角をもっている場合でも、上記不等式を満たすパラメータで規定される回折格子を有する回折光学素子であれば、0.8μm帯の波長のTE偏光とTM偏光の両方について高い回折効率を実現することができる。
(実施例3)
次に、前述の透過型回折光学素子を利用した、光干渉断層法を用いる計測装置(SD−OCT装置、眼科装置)を説明する。
次に、前述の透過型回折光学素子を利用した、光干渉断層法を用いる計測装置(SD−OCT装置、眼科装置)を説明する。
まず、本実施例に係るSD−OCT装置の構成について説明する。図11は本実施例に係るSD−OCT装置の構成を示す図である。光源101から出射された0.8μm帯の波長の光はビームスプリッタ102によって参照光112と測定光111とに分割される。測定光111は、レンズ104を介して観察対象(被検物:眼105)に照射されると、反射や散乱によって戻り光113となって戻される。戻り光113と参照光112は、ビームスプリッタ102によって合波され、干渉光114となる。干渉光114は、回折光学素子107により分光され、レンズ108を通ってセンサ109に照射される。そして、センサ109が、干渉光の強度を波長毎にアナログ電気信号に変換(光電変換)し、画像情報処理部110に出力する。画像情報処理部110は、入力されたアナログ電気信号をデジタル電気信号に変換(A/D変換)し、波長毎のデジタル電気信号に基づいて被検物の断層画像を計算処理によって求める。具体的には、画像情報処理部110は、波長毎のデジタル電気信号にフーリエ変換処理などの処理を施すことにより、眼105の断層像を得る。これにより、眼105の眼底を検査することができる。
回折光学素子107には、実施例1又は2の透過型回折光学素子が使用される。回折光学素子107はリトロー配置で使用される。実施例1又は2の回折光学素子は、0.8μm帯の波長帯域においてTE偏光とTM偏光の両方について高い回折効率を実現することができるので、SD−OCT装置で得られる画像の分解能が小さくなり、高精度に計測を行うことができる。
以上、本実施形態について説明したが、本発明は本実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
Claims (10)
- 石英で形成される0.8μm帯の波長用の透過型回折光学素子であって、
石英の屈折率をn、回折格子に入射する光の波長をλ(nm)、回折格子のピッチをp(nm)、回折格子の深さをD(μm)、回折格子の幅を前記ピッチで割った値であるデューティー比をαとすると、
回折格子のピッチ、深さ及びデューティー比が以下の式を満たすことを特徴とする透過型回折光学素子。
2n×p<3λ
D>7.8638×10−6×p2−1.4279×10−2×p+7.9734
α>−8.5747×10−4×p+1.2328
D>13.19×α2−14.16×α+5.360
D<15.44×α2−15.73×α+5.870 - 前記回折格子による回折光のうち1次回折光の光量が最大であり、
ある波長において前記1次回折光の出射角は前記回折格子に入射する光の入射角に等しいことを特徴とする請求項1に記載の透過型回折光学素子。 - 前記回折格子に入射する光の中心波長は840nmから880nmの間にあることを特徴とする請求項1又は2に記載の透過型回折光学素子。
- 前記回折格子の断面は台形であり、前記回折格子の深さの半分の位置における幅を前記ピッチで割った値であるデューティー比が前記式を満たすことを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の透過型回折光学素子。
- 前記回折格子の深さ方向に前記回折格子の幅が変化し、前記回折格子の所定の深さにおける前記回折格子の幅を前記ピッチで割った値であるデューティー比が前記式を満たすことを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の透過型回折光学素子。
- 前記回折格子の断面は矩形であることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の透過型回折光学素子。
- 0.8μm帯の波長の光を被検物に照射して前記被検物を計測する計測装置であって、
前記被検物からの光を分光する、請求項1乃至6の何れか1項に記載の透過型回折光学素子と
前記透過型回折光学素子で分光された光を検出するセンサとを有することを特徴とする計測装置。 - 前記透過型回折光学素子の配置はリトロー配置であることを特徴とする請求項7に記載の計測装置。
- 前記計測装置は光干渉断層計であることを特徴とする請求項7又は8に記載の計測装置。
- 前記光干渉断層計は眼底検査用であることを特徴とする請求項9に記載の計測装置。
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