JP2015012424A - ラッチ及びフリップフロップ - Google Patents

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【課題】ラッチの安定動作を保証する技術を提供する。【解決手段】ラッチは、入力端子から入力信号Dを受ける第1のインバータINV1と、クロック信号CKにより開閉が制御される制御スイッチSW1と、制御スイッチSW1を介して第1のインバータINV1の出力に入力が接続された第2のインバータINV2とに加えて、第3のインバータINVZ1を備える。第3のインバータINVZ1は、第2のインバータINV2の出力にゲートが接続されたトランジスタT07,T10と、入力端子にゲートが接続されたトランジスタT08,T09との直列回路を有し、かつ第2のインバータINV2の入力に出力が接続されている。【選択図】図1

Description

本発明は、ラッチ及びフリップフロップに関するものである。
半導体集積回路には多数のラッチ及びフリップフロップが使用される。モバイル機器の普及を背景に半導体集積回路の低消費電力化への要求が高まる中、ラッチ及びフリップフロップの低消費電力化が一層望まれる。
一般に、フリップフロップの低消費電力化のためには、クロック信号の伝播経路上に存在するトランジスタをできるだけ削減することが望ましい。例えば、クロック信号を受ける制御スイッチをP型トランジスタ及びN型トランジスタで構成するのではなく、P型トランジスタのみ又はN型トランジスタのみで構成すれば、スイッチング電流が削減される結果、低消費電力化を実現できる。
ある従来技術によれば、フリップフロップを構成するマスターラッチ及びスレーブラッチの各々において、クロック信号を受ける制御スイッチをP型トランジスタのみ又はN型トランジスタのみで構成し、かつ当該制御スイッチの出力信号を受けるインバータのスイッチングレベルを、当該制御スイッチを構成するトランジスタの閾値電圧よりも高くする(特許文献1参照)。
特許第3572700号公報
上記従来技術によれば、近年の半導体集積回路の微細化に伴うトランジスタ特性のばらつきの増大に起因して、制御スイッチの出力信号を受けるインバータの誤動作が避けられない。
本発明の目的は、ラッチ及びフリップフロップの安定動作を保証する技術を提供することにある。
ある観点によれば、本発明に係るラッチは、入力信号を受ける入力端子と、制御信号を受ける制御端子と、制御信号によって入力信号の透過又は遮断を行う制御スイッチと、内部のラッチ信号及びラッチ帰還信号とを備えたラッチであって、入力信号とラッチ信号とが一致するとき、ラッチ信号及びラッチ帰還信号は保持され、入力信号が制御信号によって透過されているとき、入力信号が変化すると、ラッチ信号は変化し、ラッチ帰還信号はハイインピーダンス状態を経て変化した後、ラッチ信号及びラッチ帰還信号は保持されるものである。
このラッチでは、制御スイッチがP型トランジスタ又はN型トランジスタのいずれかのみで構成された場合に、制御スイッチが透過されているとき、入力信号が変化するとラッチ帰還信号がわずかな期間に中間レベルとなる場合があるが、入力信号とラッチ信号とが少しでも一致する方向にはたらくと、ラッチ帰還信号が中間レベルからすぐにハイレベル又はローレベルへ安定する。
他の観点によれば、本発明に係るラッチは、入力信号を受ける入力端子と、制御信号を受ける制御端子と、入力端子に入力が接続された第1のインバータと、制御信号により開閉が制御される制御スイッチと、制御スイッチを介して第1のインバータの出力に入力が接続された第2のインバータと、第2のインバータの出力にゲートが接続されたトランジスタと入力端子にゲートが接続されたトランジスタとの直列回路を有しかつ第2のインバータの入力に出力が接続された第3のインバータとを備えたものである。
このラッチでは、制御スイッチがP型トランジスタ又はN型トランジスタのいずれかのみで構成された場合に、制御スイッチが閉じているとき、入力信号が変化すると第2のインバータの入力がわずかな期間に中間レベルとなる場合があるが、入力信号と第2のインバータの出力とが少しでも一致する方向にはたらくと、第2のインバータの入力が中間レベルからすぐにハイレベル又はローレベルへ安定する。
本発明に係るフリップフロップは、上記ラッチを2個以上組み合わせて構成されたものである。上記ラッチの安定動作により、当該フリップフロップの安定動作を保証できる。
本発明によれば、トランジスタ特性が大きくばらついた場合でもラッチ及びフリップフロップの安定動作を保証することができる。
本発明の実施形態1に係るフリップフロップの回路図である。 図1のフリップフロップの動作を示す波形図である。 図1のフリップフロップの第1変形例の回路図である。 図1のフリップフロップの第2変形例の回路図である。 本発明の実施形態2に係るフリップフロップの回路図である。 本発明の実施形態3に係るフリップフロップの回路図である。 本発明の実施形態4に係るフリップフロップの回路図である。 図7のフリップフロップの動作を示す波形図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
《実施形態1》
図1は、本発明の実施形態1に係るフリップフロップの回路図である。図1のフリップフロップは、入力信号Dを入力とするP型トランジスタT01とN型トランジスタT02とで構成されたインバータINV1と、インバータINV1の出力とノードn1との間に介在し、クロック信号CKを制御入力とするP型トランジスタT03で構成された制御スイッチSW1と、ノードn1を入力としノードn2を出力とするP型トランジスタT05とN型トランジスタT06とで構成されたインバータINV2と、P型トランジスタT07とP型トランジスタT08とN型トランジスタT09とN型トランジスタT10との直列回路で構成されてノードn2を入力としノードn1を出力とするインバータINVZ1と、ノードn2とノードn3との間に介在し、クロック信号CKを制御入力とするN型トランジスタT12で構成された制御スイッチSW2と、ノードn3を入力としノードn4を出力とするP型トランジスタT13とN型トランジスタT14とで構成されたインバータINV3と、P型トランジスタT15とP型トランジスタT16とN型トランジスタT17とN型トランジスタT18との直列回路で構成されてノードn4を入力としノードn3を出力とするインバータINVZ2と、ノードn4を入力とし出力信号Qを出力とするP型トランジスタT19とN型トランジスタT20とで構成されたインバータINV4とから構成される。
ノードn2へマスターラッチ信号を出力するインバータINV2と、ノードn1へマスターラッチ帰還信号を出力するインバータINVZ1とによって、マスターラッチが形成される。マスターラッチ信号とマスターラッチ帰還信号とが相反するとき、マスターラッチが保持状態となる。
同様に、ノードn4へスレーブラッチ信号を出力するインバータINV4と、ノードn3へスレーブラッチ帰還信号を出力するインバータINVZ2とによって、スレーブラッチが形成される。スレーブラッチ信号とスレーブラッチ帰還信号とが相反するとき、スレーブラッチが保持状態となる。
ここで、インバータINVZ1において、P型トランジスタT07のゲートとN型トランジスタT10のゲートとは、ノードn2に接続されている。P型トランジスタT08のゲートとN型トランジスタT09とは、入力信号Dを受ける。インバータINVZ1は、入力信号Dがローレベルのときは反転出力し、入力信号Dがハイレベルのときはハイインピーダンス出力する。
同様に、インバータINVZ2において、P型トランジスタT15のゲートとN型トランジスタT18のゲートとは、ノードn4に接続されている。P型トランジスタT16のゲートとN型トランジスタT17とは、ノードn1に接続されている。インバータINVZ2は、ノードn1がローレベルのときは反転出力し、ノードn1がハイレベルのときはハイインピーダンス出力する。
図2は、図1のフリップフロップの動作を示す波形図である。制御スイッチSW1はP型トランジスタT03のみで構成されているため、入力信号Dがローレベルからハイレベルへ変化すると、ノードn1はローレベルからP型トランジスタT03の閾値電圧Vtpだけ上がった中間レベルをわずかな期間伝播させるが、ハイレベルの入力信号DによってトランジスタT09がオンになれば、ノードn2がハイレベルに上がり切らない中間レベルであっても、トランジスタT10が少しオンすることにより、ノードn1がすぐにローレベルへ安定する。
同様に、制御スイッチSW2はN型トランジスタT12のみで構成されているため、ノードn1がハイレベルからローレベルへ変化すると、ノードn3はハイレベルからN型トランジスタT12の閾値電圧Vtnだけ下がった中間レベルをわずかな期間伝播させるが、ローレベルのノードn1によってトランジスタT16がオンになれば、ノードn4がローレベルに下がり切らない中間レベルであっても、トランジスタT15が少しオンすることにより、ノードn3がすぐにハイレベルへ安定する。
トランジスタ特性がばらつき、たとえトランジスタT03,T12の閾値電圧が大きく、当該閾値電圧がインバータINV2,INV4のスイッチングレベルを超えている場合でも、ノードn2,n4が少しでも変化すれば、中間レベルはすぐにローレベル又はハイレベルへ安定するため、フリップフロップの誤動作を防止できる。
更に、クロック信号CKの伝播経路上に存在するトランジスタがトランジスタT03,T12のみであり、スイッチング電流が低減されるので、低消費電力化できる。
図3は、図1のフリップフロップの第1変形例の回路図である。第1変形例では、トランジスタT06,T13の閾値電圧を大きくしている。こうすることにより、トランジスタT03,T12の閾値電圧よりもインバータINV2,INV3のスイッチングレベルを大きくすることができ、中間レベルをよりハイレベル又はローレベルに近づけることができるため、より安定に動作する。
同様の効果は、トランジスタT03,T12の閾値電圧を相対的に小さくすることによっても得られる。閾値電圧を変える手段としては、トランジスタのゲートの不純物濃度を変えることのほか、トランジスタのゲート長又は基板電位を変えることがよく知られている。
図4は、図1のフリップフロップの第2変形例の回路図である。第2変形例では、トランジスタT07,T10,T15,T18の閾値電圧を大きくしている。こうすることにより、図2中の時刻t1からt2までの間、ノードn1がローレベル、ノードn4がハイレベルであるため、インバータINVZ2がハイインピーダンス出力でノードn3がローレベルを維持するには不安定となり得るが(以下、ダイナミック状態と呼ぶ)、トランジスタT16,T18はオンなので、トランジスタT15,T17のオフ電流の大小でノードn3の安定性が決まり、ここでは、トランジスタT15の閾値電圧が大きいのでトランジスタT15を流れるオフ電流が小さく、トランジスタT17の閾値電圧が相対的に小さいのでトランジスタT17を流れるオフ電流が大きいため、ノードn3がローレベルで安定する。
同様に、図2中の時刻t3からt4までの間、入力信号Dがローレベル、ノードn2がハイレベルであるため、インバータINVZ1がハイインピーダンス出力でノードn1がダイナミック状態となり得るが、トランジスタT08,T10はオンなので、トランジスタT07,T09のオフ電流の大小でノードn1の安定性が決まり、ここでは、トランジスタT07の閾値電圧が大きいのでトランジスタT07を流れるオフ電流が小さく、トランジスタT09の閾値電圧が相対的に小さいのでトランジスタT09を流れるオフ電流が大きいため、ノードn1がローレベルで安定する。
このように、第2変形例によれば、ハイインピーダンス状態のノードがあったとしても、低消費電力を維持しつつ、安定に動作できる。
《実施形態2》
図5は、本発明の実施形態2に係るフリップフロップの回路図である。実施形態2では、実施形態1のトランジスタT08,T09,T16,T17のドレイン及びソースにそれぞれ並列にトランジスタT27,T28,T29,T30を接続し、それらのゲートには、イネーブル信号ENと、トランジスタT25,T26からなるインバータINV5によるイネーブル反信号NENとを、それぞれ図5のように接続する。
こうすれば、イネーブル信号ENをハイレベルにすることにより、ダイナミック状態をなくし、より安定に動作できる。
《実施形態3》
図6は、本発明の実施形態3に係るフリップフロップの回路図である。実施形態3では、実施形態1のトランジスタT08,T09,T16,T17のドレイン及びソースにそれぞれ並列にトランジスタT31,T28,T29,T32を接続し、それらのゲートにはクロック信号CKを、それぞれ図6のように接続する。
こうすれば、クロック信号CKの変化に応じて、ダイナミック状態をなくし、より安定に動作する。
《実施形態4》
図7は、本発明の実施形態4に係るフリップフロップの回路図である。図7のフリップフロップは、クロック信号CKを入力としクロック反信号NCKを出力とするP型トランジスタT21とN型トランジスタT22とで構成されたインバータINV6と、入力信号Dを入力とするP型トランジスタT01とN型トランジスタT02とで構成されたインバータINV1と、インバータINV1の出力とノードn1との間に介在し、クロック信号CKを制御入力とするP型トランジスタT03とクロック反信号NCKを制御入力とするN型トランジスタT04とで構成された制御スイッチSW1と、ノードn1を入力としノードn2を出力とするP型トランジスタT05とN型トランジスタT06とで構成されたインバータINV2と、P型トランジスタT07とP型トランジスタT08とN型トランジスタT09とN型トランジスタT10との直列回路で構成されてノードn2を入力としノードn1を出力とするインバータINVZ1と、ノードn2とノードn3との間に介在し、クロック反信号NCKを制御入力とするP型トランジスタT11とクロック信号CKを制御入力とするN型トランジスタT12とで構成された制御スイッチSW2と、ノードn3を入力としノードn4を出力とするP型トランジスタT13とN型トランジスタT14とで構成されたインバータINV4と、P型トランジスタT15とP型トランジスタT16とN型トランジスタT17とN型トランジスタT18との直列回路で構成されてノードn4を入力としノードn3を出力とするインバータINVZ2と、ノードn4を入力とし出力信号Qを出力とするP型トランジスタT19とN型トランジスタT20とで構成されたインバータINV4とから構成される。
ノードn2へマスターラッチ信号を出力するインバータINV2と、ノードn1へマスターラッチ帰還信号を出力するインバータINVZ1とによって、マスターラッチが形成される。マスターラッチ信号とマスターラッチ帰還信号とが相反するとき、マスターラッチが保持状態となる。
同様に、ノードn4へスレーブラッチ信号を出力するインバータINV4と、ノードn3へスレーブラッチ帰還信号を出力するインバータINVZ2とによって、スレーブラッチが形成される。スレーブラッチ信号とスレーブラッチ帰還信号とが相反するとき、スレーブラッチが保持状態となる。
ここで、インバータINVZ1において、P型トランジスタT07のゲートとN型トランジスタT10のゲートとは、ノードn2に接続されている。P型トランジスタT08のゲートとN型トランジスタT09とは、入力信号Dを受ける。インバータINVZ1は、入力信号Dがローレベルのときは反転出力し、入力信号Dがハイレベルのときはハイインピーダンス出力する。
同様に、インバータINVZ2において、P型トランジスタT15のゲートとN型トランジスタT18のゲートとは、ノードn4に接続されている。P型トランジスタT16のゲートとN型トランジスタT17とは、ノードn1に接続されている。インバータINVZ2は、ノードn1がローレベルのときは反転出力し、ノードn1がハイレベルのときはハイインピーダンス出力する。
図8は、図7のフリップフロップの動作を示す波形図である。クロック信号CKがローレベルのとき、制御スイッチSW1が透過されているため、時刻t1において入力信号Dが変化すると、その変化がノードn1へ伝播する。このとき、インバータINVZ1はハイインピーダンス出力されているため、ノードn1の状態は信号競合なくスムーズに変化できる。
時刻t2においてクロック信号CKがローレベルからハイレベルへ遷移すると、制御スイッチSW1が遮断されインバータINVZ1が反転出力することによりマスターラッチが保持状態となり、更に制御スイッチSW2が透過されるため、マスターラッチ信号がノードn3,n4を通して出力Qへ伝播する。
このとき、インバータINVZ2はハイインピーダンス出力されているため、ノードn3の状態は信号競合なくスムーズに変化できる。時刻t3において入力信号Dが変化しても、制御スイッチSW1が遮断されているため、その変化がフリップフロップ内部に影響することはない。
時刻t4において、クロック信号CKがハイレベルからローレベルへ遷移すると、制御スイッチSW2が遮断されインバータINVZ2が反転出力することによりスレーブラッチが保持状態となり、更に制御スイッチSW1が透過されるため、入力信号Dがノードn1を通して伝播し、次のクロック信号CK変化に備えてマスターラッチへ入力信号Dを取り込む。
以上のように、クロック信号CKがローレベルからハイレベルへ遷移するときのみ、入力信号Dが出力信号Qへ伝播し、そのとき以外は、マスターラッチ又はスレーブラッチが出力信号Qを保持させる。
実施形態4によれば、実施形態1よりもクロック信号CK,NCKの伝播経路上に存在するトランジスタが多いが、中間レベルが一切発生しない回路構成であるため、非常に安定に動作する。
以上、実施形態1〜4を説明したが、これらの実施形態中の構成要素を組み合わせて新たな実施の形態とすることも可能である。また、実施形態1〜4では2個のラッチからなるフリップフロップを説明したが、3個以上のラッチを組み合わせてフリップフロップを構成することも可能である。
以上説明してきたとおり、本発明に係るラッチ及びフリップフロップは、トランジスタ特性が大きくばらついた場合でも安定動作を保証できるため、モバイル機器等の電子機器に搭載される半導体集積回路等として有用である。
CK クロック信号(制御信号)
D 入力信号
EN イネーブル信号
INV1〜INV7 インバータ
INVZ1,INVZ2 ハイインピーダンス出力可能なインバータ
n1〜n4 ノード
NCK クロック反信号
NEN イネーブル反信号
SW1,SW2 制御スイッチ
T01〜T32 トランジスタ
Q 出力信号

Claims (11)

  1. 入力信号を受ける入力端子と、制御信号を受ける制御端子と、前記制御信号によって前記入力信号の透過又は遮断を行う制御スイッチと、内部のラッチ信号及びラッチ帰還信号とを備えたラッチであって、
    前記入力信号と前記ラッチ信号とが一致するとき、前記ラッチ信号及び前記ラッチ帰還信号は保持され、
    前記入力信号が前記制御信号によって透過されているとき、前記入力信号が変化すると、前記ラッチ信号は変化し、前記ラッチ帰還信号はハイインピーダンス状態を経て変化した後、前記ラッチ信号及び前記ラッチ帰還信号は保持されることを特徴とするラッチ。
  2. 請求項1記載のラッチにおいて、
    前記入力信号と前記ラッチ信号とが一致せず、かつ前記入力信号が前記制御信号によって遮断されているとき、前記ラッチ帰還信号はハイインピーダンス状態となることを特徴とするラッチ。
  3. 請求項1記載のラッチにおいて、
    前記入力信号と前記ラッチ信号とが一致せず、かつ前記入力信号が前記制御信号によって遮断されているとき、前記ラッチ帰還信号は保持されることを特徴とするラッチ。
  4. 請求項1記載のラッチにおいて、
    イネーブル信号を受けるイネーブル入力端子を更に備え、
    前記イネーブル信号は、前記ラッチ帰還信号のハイインピーダンス状態と保持状態とを切り替えることを特徴とするラッチ。
  5. 入力信号を受ける入力端子と、
    制御信号を受ける制御端子と、
    前記入力端子に入力が接続された第1のインバータと、
    前記制御信号により開閉が制御される制御スイッチと、
    前記制御スイッチを介して前記第1のインバータの出力に入力が接続された第2のインバータと、
    前記第2のインバータの出力にゲートが接続されたトランジスタと、前記入力端子にゲートが接続されたトランジスタとの直列回路を有し、かつ前記第2のインバータの入力に出力が接続された第3のインバータとを備えたことを特徴とするラッチ。
  6. 請求項5記載のラッチにおいて、
    前記制御スイッチは、P型トランジスタ又はN型トランジスタのいずれか一方のみで構成されたことを特徴とするラッチ。
  7. 請求項5記載のラッチにおいて、
    前記第2のインバータのスイッチングレベルは、前記制御スイッチを構成するトランジスタの閾値電圧よりも高いことを特徴とするラッチ。
  8. 請求項5記載のラッチにおいて、
    前記第3のインバータにて、前記第2のインバータの出力にゲートが接続されたトランジスタのオフ電流よりも、前記入力端子にゲートが接続されたトランジスタのオフ電流の方が大きいことを特徴とするラッチ。
  9. 請求項5記載のラッチにおいて、
    イネーブル信号を受けるイネーブル入力端子を更に備え、
    前記第3のインバータは、前記入力端子にゲートが接続されたトランジスタのドレイン及びソースにおいて並列接続され、かつ前記イネーブル入力端子にゲートが接続されたトランジスタを更に有することを特徴とするラッチ。
  10. 請求項5記載のラッチにおいて、
    前記第3のインバータは、前記入力端子にゲートが接続されたトランジスタのドレイン及びソースにおいて並列接続され、かつ前記制御端子にゲートが接続されたトランジスタを更に有することを特徴とするラッチ。
  11. 請求項1〜10のいずれか1項に記載のラッチを2個以上組み合わせて構成されたことを特徴とするフリップフロップ。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160127621A (ko) * 2015-04-27 2016-11-04 삼성전자주식회사 반도체 회로
KR101699241B1 (ko) * 2015-08-18 2017-01-25 (주)에이디테크놀로지 저전력, 고속 처리가 가능한 플립플랍 회로
WO2019235363A1 (ja) * 2018-06-04 2019-12-12 国立大学法人京都工芸繊維大学 D型フリップフロップ回路
JP2020053813A (ja) * 2018-09-26 2020-04-02 東芝情報システム株式会社 フリップフロップ回路及び半導体装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6310913A (ja) * 1986-07-02 1988-01-18 Toshiba Corp 雑音除去回路
US5311070A (en) * 1992-06-26 1994-05-10 Harris Corporation Seu-immune latch for gate array, standard cell, and other asic applications
JPH08213884A (ja) * 1995-02-06 1996-08-20 Yamaha Corp Mos型スタティックフリップフロップ
JPH10294652A (ja) * 1997-04-18 1998-11-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路
JP2004343570A (ja) * 2003-05-16 2004-12-02 Sony Corp フリップフロップ回路
US20050040873A1 (en) * 2003-08-20 2005-02-24 Tooru Wada Semiconductor integrated circuit
JP2005252787A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 Renesas Technology Corp フリップフロップ回路
JP2009105967A (ja) * 2009-02-06 2009-05-14 Japan Aerospace Exploration Agency シングルイベント耐性のラッチ回路
JP2010263659A (ja) * 2010-07-30 2010-11-18 Renesas Electronics Corp 半導体集積回路

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6310913A (ja) * 1986-07-02 1988-01-18 Toshiba Corp 雑音除去回路
US5311070A (en) * 1992-06-26 1994-05-10 Harris Corporation Seu-immune latch for gate array, standard cell, and other asic applications
JPH08213884A (ja) * 1995-02-06 1996-08-20 Yamaha Corp Mos型スタティックフリップフロップ
JPH10294652A (ja) * 1997-04-18 1998-11-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路
JP2004343570A (ja) * 2003-05-16 2004-12-02 Sony Corp フリップフロップ回路
US20050040873A1 (en) * 2003-08-20 2005-02-24 Tooru Wada Semiconductor integrated circuit
JP2005252787A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 Renesas Technology Corp フリップフロップ回路
JP2009105967A (ja) * 2009-02-06 2009-05-14 Japan Aerospace Exploration Agency シングルイベント耐性のラッチ回路
JP2010263659A (ja) * 2010-07-30 2010-11-18 Renesas Electronics Corp 半導体集積回路

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160127621A (ko) * 2015-04-27 2016-11-04 삼성전자주식회사 반도체 회로
KR102441781B1 (ko) 2015-04-27 2022-09-08 삼성전자주식회사 반도체 회로
KR101699241B1 (ko) * 2015-08-18 2017-01-25 (주)에이디테크놀로지 저전력, 고속 처리가 가능한 플립플랍 회로
WO2019235363A1 (ja) * 2018-06-04 2019-12-12 国立大学法人京都工芸繊維大学 D型フリップフロップ回路
JPWO2019235363A1 (ja) * 2018-06-04 2021-07-15 国立大学法人京都工芸繊維大学 D型フリップフロップ回路
US11277122B2 (en) 2018-06-04 2022-03-15 National University Corporation Kyoto Institute Of Technology D-type flip-flop circuit
JP2020053813A (ja) * 2018-09-26 2020-04-02 東芝情報システム株式会社 フリップフロップ回路及び半導体装置

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