JP2014513279A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2014513279A5
JP2014513279A5 JP2014500514A JP2014500514A JP2014513279A5 JP 2014513279 A5 JP2014513279 A5 JP 2014513279A5 JP 2014500514 A JP2014500514 A JP 2014500514A JP 2014500514 A JP2014500514 A JP 2014500514A JP 2014513279 A5 JP2014513279 A5 JP 2014513279A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photosensor
substrate
scintillator
scintillator array
row
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014500514A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6071077B2 (ja
JP2014513279A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/IB2012/051300 external-priority patent/WO2012127403A2/en
Publication of JP2014513279A publication Critical patent/JP2014513279A/ja
Publication of JP2014513279A5 publication Critical patent/JP2014513279A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6071077B2 publication Critical patent/JP6071077B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (15)

  1. 2つの対向する主面を有するフォトセンサ基板を得るステップであって、前記2つの対向する主面の一方が、少なくとも1つのフォトセンサ素子の少なくとも1つのフォトセンサ行を有し、前記得られるフォトセンサ基板が、100ミクロンに等しい又はそれより大きい厚さを有する、ステップと、
    前記フォトセンサ基板にシンチレータアレイを光学的に結合するステップであって、前記シンチレータアレイが、少なくとも1つの相補的なシンチレータ素子の少なくとも1つの相補的なシンチレータ行を有し、前記少なくとも1つの相補的なシンチレータ行が、前記少なくとも1つのフォトセンサ行に光学的に結合され、前記少なくとも1つの相補的なシンチレータ素子が、前記少なくとも1つのフォトセンサ素子に光学的に結合される、ステップと、
    前記シンチレータアレイに光学的に結合された前記フォトセンサ基板を薄化して、前記シンチレータアレイに光学的に結合された、100ミクロンより小さいオーダーの厚さを有する薄化されたフォトセンサ基板を生成するステップと、
    を含む方法。
  2. 前記2つの対向する主面の一方が、第1の領域及び第2の領域を有し、前記少なくとも1つのフォトセンサ素子の前記少なくとも1つのフォトセンサ行が、前記第1の領域に結合され、前記シンチレータアレイが、前記少なくとも1つのフォトセンサ素子の前記少なくとも1つのフォトセンサ行及び前記第2の領域に結合される、請求項1に記載の方法。
  3. 前記シンチレータアレイは、前記少なくとも1つのフォトセンサ素子の前記少なくとも1つのフォトセンサ行に光学的に結合される第1のシンチレータ及び前記第2の領域に結合される別の材料を含む、請求項2に記載の方法。
  4. 前記フォトセンサ基板に前記シンチレータアレイを光学的に結合する前に、前記フォトセンサ基板に処理エレクトロニクス及び導電性ピンの少なくとも一方を結合するステップを更に含み、前記フォトセンサ基板に前記シンチレータアレイを結合した後、前記処理エレクトロニクス及び前記導電性ピンの前記少なくとも一方が、前記フォトセンサ基板及び前記シンチレータアレイの間に配される、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の方法。
  5. 前記少なくとも1つのフォトセンサ素子の前記少なくとも1つのフォトセンサ行、及び前記処理エレクトロニクス及び前記導電性ピンの前記少なくとも一方が、前記フォトセンサ基板の同じ表面に配される、請求項4に記載の方法。
  6. 前記処理エレクトロニクス及び前記導電性ピンの前記少なくとも一方が、前記シンチレータアレイの凹部の表面に配される、請求項4に記載の方法。
  7. 前記フォトセンサ基板に前記処理エレクトロニクス、前記導電性ピン及び前記シンチレータアレイを結合する前に、前記フォトセンサ基板を薄化するステップと、
    前記薄化されたフォトセンサ基板を支持担体上に配するステップと、
    前記薄化されたフォトセンサ基板が前記支持担体上に配されている間に、前記薄化されたフォトセンサ基板に前記処理エレクトロニクス及び前記導電性ピンを取り付けるステップと、
    前記薄化されたフォトセンサ基板が前記支持担体上に配されている間に、前記フォトセンサ基板に前記シンチレータアレイを光学的に結合するステップと、
    を含む、請求項4乃至6のいずれか1項に記載の方法。
  8. 前記フォトセンサ基板が、複数のフォトセンサ基板を有する材料シートの一部であり、前記方法が更に、
    前記複数のフォトセンサ基板にそれぞれ複数の処理エレクトロニクスを結合するステップと、
    前記フォトセンサ基板に前記処理エレクトロニクスを少なくとも結合した後、前記材料シートから前記フォトセンサ基板を物理的に取り出すステップと、
    を含む、請求項4乃至6のいずれか1項に記載の方法。
  9. 前記フォトセンサ基板に前記少なくとも1つのシンチレータアレイを結合する前に、前記フォトセンサ基板を支持構造上に配し、前記フォトセンサ基板の少なくとも1つのコンポーネントを前記支持構造上の前記フォトセンサ基板に結合するステップを更に含む、請求項1乃至8のいずれか1項に記載の方法。
  10. 前記少なくとも1つのフォトセンサ素子を、前記フォトセンサ基板の外部に位置する処理エレクトロニクスに電気的に結合するステップを更に含む、請求項1に記載の方法。
  11. 検出器タイル基板に、前記薄化されたフォトセンサ基板の複数を機械的に及び電気的に結合して、検出器タイルを形成するステップを更に含む、請求項1乃至10のいずれか1項に記載の方法。
  12. 前記検出器タイルの複数を機械的に及び電気的に結合して、検出器アレイを形成するステップを更に含む、請求項11に記載の方法。
  13. 前記薄化されたフォトセンサ基板の厚さが、25〜75ミクロンのレンジにある、請求項1乃至10のいずれか1項に記載の方法。
  14. 前記薄化されたフォトセンサ基板の厚さが、50ミクロンのオーダーである、請求項1乃至11のいずれか1項に記載の方法。
  15. イメージング検出器であって、タイル基板及び前記タイル基板に沿ってx方向に沿って配される複数の検出器モジュールを有する少なくとも1つの検出器タイル、を有し、
    1の検出器モジュールが、フォトセンサ基板のフォトセンサ素子の少なくとも1つのフォトセンサ行に結合される、z方向に沿って延在するシンチレータ素子の少なくとも1つのシンチレータ行を有するシンチレータアレイを有し、
    前記シンチレータアレイに結合されるフォトセンサ基板は、100ミクロンに等しい又はそれより大きい初期厚さを有し、前記イメージング検出器のフォトセンサ基板は、100ミクロンより小さい薄化された厚さを有する、イメージング検出器。
JP2014500514A 2011-03-24 2012-03-19 スペクトルイメージング検出器の製造方法 Active JP6071077B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201161467044P 2011-03-24 2011-03-24
US61/467,044 2011-03-24
PCT/IB2012/051300 WO2012127403A2 (en) 2011-03-24 2012-03-19 Spectral imaging detector

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014513279A JP2014513279A (ja) 2014-05-29
JP2014513279A5 true JP2014513279A5 (ja) 2015-04-16
JP6071077B2 JP6071077B2 (ja) 2017-02-01

Family

ID=45937487

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014500514A Active JP6071077B2 (ja) 2011-03-24 2012-03-19 スペクトルイメージング検出器の製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (2) US9281422B2 (ja)
EP (1) EP2689269B1 (ja)
JP (1) JP6071077B2 (ja)
CN (1) CN103443652B (ja)
RU (1) RU2595795C2 (ja)
WO (1) WO2012127403A2 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2997397B1 (en) 2013-05-16 2017-10-04 Koninklijke Philips N.V. Imaging detector
CN105723243B (zh) 2013-11-15 2019-07-09 皇家飞利浦有限公司 柔性基底上的双面有机光探测器
EP3120383B1 (en) * 2015-01-15 2017-11-29 Koninklijke Philips N.V. Imaging detector module assembly
EP3532872B1 (en) * 2016-10-26 2024-05-01 Koninklijke Philips N.V. Radiation detector scintillator with an integral through-hole interconnect
US10247007B2 (en) 2017-05-02 2019-04-02 General Electric Company Airfoil shape for a turbine rotor blade
US10352170B2 (en) 2017-05-02 2019-07-16 General Electric Company Airfoil shape for a turbine rotor blade
US10422227B2 (en) 2017-05-02 2019-09-24 General Electric Company Airfoil shape for a turbine rotor blade
US10280774B2 (en) 2017-05-03 2019-05-07 General Electric Company Turbine nozzle airfoil profile
US10415406B2 (en) 2017-05-03 2019-09-17 General Electric Company Turbine nozzle airfoil profile
US10408072B2 (en) 2017-05-08 2019-09-10 General Electric Company Turbine nozzle airfoil profile
US10436034B2 (en) 2017-05-15 2019-10-08 General Electric Company Airfoil shape for a turbine rotor blade
US10533440B2 (en) 2017-05-15 2020-01-14 General Electric Company Turbine nozzle airfoil profile
WO2019041172A1 (en) 2017-08-30 2019-03-07 Shenzhen United Imaging Healthcare Co., Ltd. SYSTEM, METHOD AND DETECTOR MODULE FOR PET IMAGING
CN111133338A (zh) * 2017-08-31 2020-05-08 皇家飞利浦有限公司 具有单片闪烁体的多层探测器
DE102018200845B4 (de) 2018-01-19 2021-05-06 Siemens Healthcare Gmbh Montageverfahren für die Herstellung eines Röntgendetektors, Röntgendetektor und Röntgengerät
US20200185450A1 (en) * 2018-12-06 2020-06-11 Analog Devices, Inc. Shielded integrated device packages
IT201900010638A1 (it) * 2019-07-02 2021-01-02 St Microelectronics Srl Rilevatore di radiazione a scintillatore e dosimetro corrispondente

Family Cites Families (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57172272A (en) * 1981-04-17 1982-10-23 Toshiba Corp Multichannel type radiation detector
US5043582A (en) * 1985-12-11 1991-08-27 General Imagining Corporation X-ray imaging system and solid state detector therefor
JPS62231222A (ja) 1986-03-31 1987-10-09 Nitto Electric Ind Co Ltd 液晶配向膜形成用溶液
US5179284A (en) * 1991-08-21 1993-01-12 General Electric Company Solid state radiation imager having a reflective and protective coating
RU2123710C1 (ru) * 1996-01-31 1998-12-20 Товарищество с ограниченной ответственностью "Медтех" Матричный рентгеновский приемник
FR2758630B1 (fr) * 1997-01-21 1999-04-09 Thomson Tubes Electroniques Procede de scellement etanche d'un detecteur de rayonnement a l'etat solide et detecteur obtenu par ce procede
US6114703A (en) * 1997-10-21 2000-09-05 The Regents Of The University Of California High resolution scintillation detector with semiconductor readout
DE19841423C1 (de) * 1998-09-10 1999-12-30 Siemens Ag Strahlendetektor, insbesondere eines Computertomographen
US6522715B2 (en) * 2000-12-29 2003-02-18 Ge Medical Systems Global Technology Company Llc High density flex interconnect for CT detectors
JP5038209B2 (ja) * 2001-04-11 2012-10-03 日本結晶光学株式会社 放射線検出装置
JP2003084066A (ja) * 2001-04-11 2003-03-19 Nippon Kessho Kogaku Kk 放射線検出器用部品、放射線検出器および放射線検出装置
US6510195B1 (en) * 2001-07-18 2003-01-21 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Solid state x-radiation detector modules and mosaics thereof, and an imaging method and apparatus employing the same
US6895077B2 (en) * 2001-11-21 2005-05-17 University Of Massachusetts Medical Center System and method for x-ray fluoroscopic imaging
AU2003250429A1 (en) * 2002-09-18 2004-04-08 Koninklijke Philips Electronics N.V. Radiation detector
US7019304B2 (en) * 2003-10-06 2006-03-28 General Electric Company Solid-state radiation imager with back-side irradiation
WO2005057235A1 (en) * 2003-12-09 2005-06-23 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Shielding for an x-ray detector
US7075091B2 (en) 2004-01-29 2006-07-11 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Apparatus for detecting ionizing radiation
JP2006058168A (ja) * 2004-08-20 2006-03-02 Hamamatsu Photonics Kk 放射線撮像素子および放射線撮像方法
DE102004052452B4 (de) * 2004-10-28 2008-05-29 Siemens Ag Strahlungsdetektor zur Erfassung von Strahlung
JP2006145431A (ja) * 2004-11-22 2006-06-08 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 放射線検出器、放射線撮像装置、放射線ct装置及び放射線検出器の製造方法
CN101163988B (zh) * 2005-04-22 2012-06-13 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于tof-pet的数字硅光电倍增管
JP5268633B2 (ja) 2005-04-26 2013-08-21 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ スペクトルctのための検出器アレイ
US7968853B2 (en) * 2005-04-26 2011-06-28 Koninklijke Philips Electronics N.V. Double decker detector for spectral CT
US7399972B2 (en) * 2005-06-09 2008-07-15 Nihon Kessho Kogaku Co., Ltd. Component for radiation detector and radiation detector
EP1934633A2 (en) * 2005-10-05 2008-06-25 Koninklijke Philips Electronics N.V. Computed tomography detector using thin circuits
US8710448B2 (en) * 2006-03-30 2014-04-29 Koninklijke Philips N.V. Radiation detector array
US7692156B1 (en) * 2006-08-23 2010-04-06 Radiation Monitoring Devices, Inc. Beam-oriented pixellated scintillators for radiation imaging
US7608837B2 (en) * 2006-11-24 2009-10-27 Tower Semiconductor Ltd. High resolution integrated X-ray CMOS image sensor
US8586933B2 (en) * 2007-04-25 2013-11-19 Koninklijke Philips N.V. Radiation detector having a split laminate optical coupling
CN104330816A (zh) * 2007-11-09 2015-02-04 皇家飞利浦电子股份有限公司 吸湿性闪烁体的保护
JP2009147212A (ja) * 2007-12-17 2009-07-02 Nippon Kessho Kogaku Kk 光検出器および光検出器を用いた光検出装置
WO2009083852A2 (en) * 2007-12-21 2009-07-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Radiation-sensitive detector with a scintillator in a composite resin
JP4650586B2 (ja) * 2008-02-04 2011-03-16 株式会社島津製作所 放射線検出器、およびそれを備えた断層撮影装置
JP4877417B2 (ja) * 2008-06-05 2012-02-15 株式会社島津製作所 放射線検出器の製造方法
US7737409B2 (en) * 2008-06-12 2010-06-15 Analog Devices, Inc. Silicon detector and method for constructing silicon detectors
WO2010010608A1 (ja) * 2008-07-22 2010-01-28 株式会社島津製作所 放射線断層撮影装置の製造方法
CN105044758B (zh) * 2008-11-18 2022-06-14 皇家飞利浦电子股份有限公司 光谱成像检测器
CN102216807B (zh) * 2008-11-21 2016-08-17 皇家飞利浦电子股份有限公司 平铺式辐射检测器的组装方法
KR101497498B1 (ko) * 2008-12-19 2015-03-03 삼성전자주식회사 방사선 신호의 투과 영상을 획득하는 방법 및 장치
JP5247486B2 (ja) * 2009-01-16 2013-07-24 浜松ホトニクス株式会社 裏面入射型フォトダイオードアレイ及び放射線検出器
US8373132B2 (en) * 2009-02-06 2013-02-12 Koninklijke Philips Electronics N. V. Radiation detector with a stack of scintillator elements and photodiode arrays
US9164700B2 (en) 2009-03-05 2015-10-20 Sandisk Il Ltd System for optimizing the transfer of stored content in response to a triggering event
US8466421B2 (en) * 2010-07-30 2013-06-18 Varian Medical Systems Inc. Radiation detector with multiple operating schemes
JP5422581B2 (ja) * 2011-01-31 2014-02-19 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置及びその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014513279A5 (ja)
RU2013147397A (ru) Спектральный детектор изображения
EP3028067B1 (en) Photodetector array on curved substrate
JP2018532293A5 (ja)
JP2014534611A5 (ja)
US10326039B2 (en) Proximity detector device with interconnect layers and related methods
EP1889285A4 (en) METHOD AND SYSTEM FOR PRODUCING THE SIDE OF SEMICONDUCTOR COMPONENTS WITH CONDUCTIVE INTERCONNECTIONS
JP2017076683A5 (ja)
EP2417630B1 (en) A method for manufacturing a radiation imaging panel comprising imaging tiles
JP2012118060A5 (ja)
JP2013080838A5 (ja)
JP2012002700A5 (ja)
WO2012135395A3 (en) Active backplane for thin silicon solar cells
JP2015115420A5 (ja)
US9313386B2 (en) Image detector with lens assembly and related methods
US9013017B2 (en) Method for making image sensors using wafer-level processing and associated devices
JP2013246021A5 (ja)
JP2010528301A5 (ja)
US20100013041A1 (en) Microelectronic imager packages with covers having non-planar surface features
JP2012044091A5 (ja)
EP3794380A1 (en) Sensor unit, radiation detector and method of manufacturing a sensor unit
EP3355082B1 (en) Radiation detector panel assembly structure
CN106161886B (zh) 一种线路板以及提高线路板平整度的方法
EP3355081B1 (en) Direct conversion compound semiconductor tile structure
JP2016118506A (ja) 放射線検出装置、その製造方法及び放射線撮像システム