JP2014183542A - 放射線撮像システム - Google Patents

Abstract

【課題】アーチファクトの小さい良質な画像を得ることを課題とする。
【解決手段】放射線撮像システムは、複数の画素により出力された画素出力値を用いて補正係数を算出する補正係数算出手段（２０８）と、補正係数算出手段により算出された補正係数を用いて、複数の画素により出力された画素出力値を補正する補正手段（２０９）とを有し、駆動制御手段（２０６）は、検知手段により放射線の照射開始が検知されるまで、複数の画素の暗電流による電荷のリセットを行うリセット動作を繰り返し行い、リセット動作は、互いに隣接せずに配置されたｎ（ｎは２以上の整数）行が同時に行われ、補正係数算出手段は、放射線が照射開始された時刻から検知手段が放射線の照射開始を検知するまでの間にリセット動作が行われた行に属する画素の画素出力値と、リセット動作が行われた行に属する画素の隣接行に属する画素の画素出力値とを用いて補正係数を算出する。
【選択図】図１

Description

本発明は、医療診断における一般撮影などの静止画撮影や透視撮影などの動画撮影に好適に用いられる放射線撮像システムに関する。

現在、Ｘ線による医療画像診断や非破壊検査に用いる撮影装置として、半導体材料によって形成された平面検出器（Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ；以下ＦＰＤと略す）を用いた放射線撮像装置が普及している。このような放射線撮像装置は、例えば医療画像診断においては、一般撮影のような静止画撮影や、透視撮影のような動画撮影のデジタル撮像装置として用いられている。このような撮像装置では、Ｘ線発生装置とＦＰＤの同期を行う構成が一般的である。しかしながら、ＦＰＤの設置時にＸ線発生装置とのつなぎこみが必要であり、設置場所が制限されるという課題がある。このような課題に対して、現在では、放射線の照射の開始や終了を検知することが可能な放射線撮像装置及び放射線撮像システムが提案されている。

しかしながら、このような放射線撮像装置及び放射線撮像システムにおいて、放射線の照射が実際に開始されてから放射線撮像装置で放射線の照射開始を検知するまでに、時間がかかることがある。従って、その間に読み出し処理やリセット処理を行った画素において発生した有用な電荷の一部が、信号線に流出し、画像にアーチファクトを生じる可能性がある。

そこで、特許文献１では、このようなアーチファクトが複数の走査線に連続して現われることを防止する方法が開示されている。特許文献１は、放射線の照射の開始までのリセット処理において、検出部上で隣接する走査線以外の走査線にオン電圧を印加するようにして、オン電圧を順次印加しながら放射線の照射を待つ方法を開示している。さらに、放射線の照射後の読み出し処理で読み出された画像において、アーチファクトに該当する走査線上の画像データは破棄し、隣接する画像データに基づいて線形補間することにより、アーチファクトを修復する形態が示されている。

また、放射線の照射の開始までに上記のリセット処理の代わりに、読み出し処理を行い、放射線の照射が為された時の読み出し処理で読み出された画像データと放射線の照射後の読み出し処理で読み出された画像データを加算してアーチファクトを修復する。

特開２０１１−２４９８９１号公報

しかしながら、上記のように、アーチファクトに該当する走査線上の画像データを破棄し、隣接する画像データで線形補間することにより修復する方法の場合、該当する走査線上の診断情報が失われてしまうため、解像度が低下してしまうという課題がある。また、隣接する画像データにライン状のノイズが乗ってしまった場合、正しく修復できない場合がある。

また、上記のように、放射線の照射が為された時の読み出し処理で読み出された画像データと放射線の照射後の読み出し処理で読み出された画像データを加算してアーチファクトを修復する場合、２枚の画像を加算する。その場合、加算後の画像では画素ごとの出力のバラツキを示すランダムなノイズが約√２倍増加してしまうという課題がある。

本発明の目的は、放射線の照射開始を検知可能であり、アーチファクトの小さい良質な画像を得ることができる放射線撮像システムを提供することである。

本発明の放射線撮像システムは、行列状に配置され、放射線を電荷に変換して画素出力値を出力する複数の画素と、放射線の照射開始を検知する検知手段と、前記検知手段により放射線の照射開始が検知されると、前記複数の画素に対してリセット動作から電荷の蓄積動作に切り替える駆動制御手段と、前記複数の画素により出力された画素出力値を用いて補正係数を算出する補正係数算出手段と、前記補正係数算出手段により算出された補正係数を用いて、前記複数の画素により出力された画素出力値を補正する補正手段とを有し、前記駆動制御手段は、前記検知手段により放射線の照射開始が検知されるまで、前記複数の画素の暗電流による電荷のリセットを行うリセット動作を繰り返し行い、前記リセット動作は、互いに隣接せずに配置されたｎ（ｎは２以上の整数）行が同時に行われ、前記補正係数算出手段は、前記放射線が照射開始された時刻から前記検知手段が放射線の照射開始を検知するまでの間に前記リセット動作が行われた行に属する画素の画素出力値と、前記リセット動作が行われた行に属する画素の隣接行に属する画素の画素出力値とを用いて補正係数を算出することを特徴とする。

補正係数を用いて補正することにより、放射線の照射開始を検知可能であり、アーチファクトの小さい良質な画像を得ることができる。

第１の実施形態による放射線撮像システムの構成例を示す図である。 第１の実施形態による放射線撮像装置の構成例を示す図である。 第１の実施形態の制御方法を示すフローチャートである。 第１の実施形態の駆動方法の例を示す図である。 第１の実施形態が解決しようとする課題を説明するための図である。 第１の実施形態による補正係数の算出方法を示す図である。 第２の実施形態による補正係数の算出方法を示す図である。 第３の実施形態による補正係数の算出方法を示す図である。 第４の実施形態による補正係数の算出方法を示す図である。

（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態に係る放射線撮像システムの構成例を示すブロック図である。放射線撮像システムは、放射線発生装置２０１、放射線制御装置２０２、制御コンピュータ２０８、放射線撮像装置２０３及び画像表示手段２１０を有する。制御コンピュータ２０７は、補正係数算出手段２０８及びアーチファクト補正手段２０９を有する。放射線撮像装置２０３は、二次元センサ部２０４、検知手段２０５及び駆動制御手段２０６を有する。なお、放射線は、放射線崩壊によって放出される粒子（光子を含む）の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、同程度以上のエネルギーを有するビーム、例えばＸ線や粒子線、宇宙線なども、含まれるものとする。

放射線発生装置２０１は、放射線制御装置２０２の制御により、放射線を照射する。放射線は、被写体を介して、放射線撮像装置２０３に照射される。二次元センサ部２０４は、放射線に応じた画像情報を生成する。検知手段２０５は、放射線の照射の開始及び終了を検知し、その検知に応じて曝射信号を駆動制御手段２０６に出力する。駆動制御手段２０６は、曝射信号に応じて、駆動タイミング信号を二次元センサ部２０４に出力し、二次元センサ部２０４の駆動を制御する。補正係数算出手段２０８は、二次元センサ部２０４から取得した画像情報を用いて補正係数を算出し、アーチファクト補正手段２０９に出力する。アーチファクト補正手段は、その補正係数を用いて、二次元センサ部２０４から取得した画像情報を補正し、アーチファクトを低減する。画像表示手段２１０は、アーチファクト補正手段２０９により補正された画像情報を表示する。

図２は、図１の二次元センサ部２０４の構成例を示す回路図である。二次元センサ部２０４は、放射線を検出する素子（画素）を２次元行列状に配置したセンサであり、放射線を検出して画像情報を出力する。図２では、説明の簡便化のために、３行×３列の画素を有する検出部１１２の例を示す。しかしながら、実際の二次元センサ部２０４はより多画素であり、例えば１７インチの放射線撮像装置２０３では約２８００行×約２８００列の画素を有している。

検出部１１２は、行列状に配置された複数の画素を有する。各画素は、放射線又は光を電荷に変換する変換素子Ｓ１１〜Ｓ３３と、変換素子Ｓ１１〜Ｓ３３の電荷に応じた電気信号を出力するスイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３３とを有し、画素出力値を出力する。変換素子Ｓ１１〜Ｓ３３は、間接型の変換素子又は直接型の変換素子であり、照射された放射線を電荷に変換する。間接型の変換素子Ｓ１１〜Ｓ３３は、放射線を光に変換する波長変換体と、その光を電荷に変換する光電変換素子とを有する。直接型の変換素子Ｓ１１〜Ｓ３３は、放射線を直接電荷に変換する。照射された光を電荷に変換する光電変換素子としては、ガラス基板等の絶縁性基板上に配置されアモルファスシリコンを主材料とするＭＩＳ型フォトダイオードを用いることができる。また、光電変換素子は、ＰＩＮ型フォトダイオードでもよい。

スイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３３は、制御端子と２つの主端子を有するトランジスタであり、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）が好ましい。変換素子Ｓ１１〜Ｓ３３は、それぞれ、一方の電極がスイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３３の２つの主端子の一方に電気的に接続され、他方の電極が共通のバイアス線Ｂｓを介してバイアス電源部１０３と電気的に接続される。１行目の複数のスイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ１３は、それらの制御端子が１行目の駆動線Ｇ（１）に共通に電気的に接続される。２行目の複数のスイッチ素子Ｔ２１〜Ｔ２３は、それらの制御端子が２行目の駆動線Ｇ（２）に共通に電気的に接続される。３行目の複数のスイッチ素子Ｔ３１〜Ｔ３３は、それらの制御端子が３行目の駆動線Ｇ（３）に共通に電気的に接続される。垂直駆動回路１１４は、例えばシフトレジスタであり、駆動線Ｇ（１）〜Ｇ（３）を介して、駆動信号をスイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３３に供給することにより、スイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３３の導通状態を行単位で制御する。

１列目の複数のスイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３１は、それぞれ、一方の主端子が変換素子Ｓ１１〜Ｓ３１に接続され、他方の主端子が１列目の信号線Ｓｉｇ１に電気的に接続されている。１列目のスイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３１が導通状態である間に、１列目の変換素子Ｓ１１〜Ｓ３１の電荷に応じた電気信号が、信号線Ｓｉｇ１を介して読み出し回路１１３に出力される。２列目の複数のスイッチ素子Ｔ１２〜Ｔ３２は、それぞれ、一方の主端子が変換素子Ｓ１２〜Ｓ３２に接続され、他方の主端子が２列目の信号線Ｓｉｇ２に電気的に接続されている。２列目のスイッチ素子Ｔ１２〜Ｔ３２が導通状態である間に、２列目の変換素子Ｓ１２〜Ｓ３２の電荷に応じた電気信号が、信号線Ｓｉｇ２を介して読み出し回路１１３に出力される。３列目の複数のスイッチ素子Ｔ１３〜Ｔ３３は、それぞれ、一方の主端子が変換素子Ｓ１３〜Ｓ３３に接続され、他方の主端子が３列目の信号線Ｓｉｇ３に電気的に接続されている。３列目のスイッチ素子Ｔ１３〜Ｔ３３が導通状態である間に、３列目の変換素子Ｓ１３〜Ｓ３３の電荷に応じた電気信号が、信号線Ｓｉｇ３を介して読み出し回路１１３に出力される。列方向に複数配列された信号線Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ３は、複数の画素から出力された電気信号を並列に読み出し回路１１３に出力する。

読み出し回路１１３は、信号線Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ３の電気信号をそれぞれ増幅する増幅回路１０６を信号線Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ３毎に設けている。各増幅回路１０６は、積分アンプ１０５と、可変ゲインアンプ１０４と、サンプルホールド回路１０７とを有する。積分アンプ１０５は、信号線Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ３の電気信号を増幅する。可変ゲインアンプ１０４は、積分アンプ１０５からの電気信号を可変ゲインで増幅する。サンプルホールド回路１０７は、可変ゲインアンプ１０４で増幅された電気信号をサンプルしホールドする。積分アンプ１０５は、信号線Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ３の電気信号を増幅して出力する演算増幅器１２１と、積分容量１２２と、リセットスイッチ１２３とを有する。積分アンプ１０５は、積分容量１２２の値を変えることにより、ゲイン（増幅率）を変更することが可能である。各列の演算増幅器１２１は、それぞれ、反転入力端子が信号線Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ３に接続され、正転入力端子が基準電圧Ｖｒｅｆの基準電源部１１１に接続され、出力端子が増幅された電気信号を出力する。基準電源部１１１は、各演算増幅器１２１の正転入力端子に基準電圧Ｖｒｅｆを供給する。積分容量１２２は、演算増幅器１２１の反転入力端子と出力端子の間に配置される。サンプルホールド回路１０７は、制御信号ＳＨのサンプリングスイッチ１２４と、サンプリング容量１２５とを有する。また、読み出し回路１１３は、各列のスイッチ１２６と、マルチプレクサ１０８とを有する。マルチプレクサ１０８は、各列のスイッチ１２６を順次導通状態することにより、各増幅回路１０６から並列に出力される電気信号を順次、出力バッファアンプ１０９にシリアル信号として出力する。出力バッファアンプ１０９は、電気信号をインピーダンス変換して出力する。アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換器１１０は、出力バッファアンプ１０９から出力されたアナログ電気信号をデジタル電気信号に変換し、画像情報として図１の制御コンピュータ２０７に出力する。

バイアス電源部１０３は、電流−電圧変換回路１１５及びＡ／Ｄ変換器１２７を有する。電流−電圧変換回路１１５は、バイアス線Ｂｓにバイアス電圧Ｖｓを供給しつつ、バイアス線Ｂｓに流れる電流を電圧に変換し、Ａ／Ｄ変換器１２７に出力する。Ａ／Ｄ変換器１２７は、電流情報を有するアナログ電圧値を電流情報を有するデジタル電圧値に変換して出力する。図１の検知手段２０５は、Ａ／Ｄ変換器が出力する電流情報を用いて放射線の照射開始及び照射終了を検知する。

垂直駆動回路１１４は、図１の駆動制御手段２０６から入力された制御信号Ｄ−ＣＬＫ，ＯＥ，ＤＩＯに応じて、スイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３３を導通状態にする導通電圧と非道通状態とする非導通電圧を有する駆動信号を、各駆動線Ｇ（１）〜Ｇ（３）に出力する。これにより、垂直駆動回路１１４は、スイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３３の導通状態及び非導通状態を制御し、検出部１１２を駆動する。制御信号Ｄ−ＣＬＫは、垂直駆動回路１１４として用いられるシフトレジスタのシフトクロックである。制御信号ＤＩＯは、垂直駆動回路１１４のシフトレジスタの転送パルスである。制御信号ＯＥは、垂直駆動回路１１４のシフトレジスタの出力イネーブル信号である。以上により、垂直駆動回路１１４は、駆動の時間と走査方向を設定する。また、駆動制御手段２０６は、制御信号ＲＣ、制御信号ＳＨ、及び制御信号ＣＬＫを読み出し回路１１３に出力することによって、読み出し回路１１３の各構成要素の動作を制御する。制御信号ＲＣは、積分アンプ１０５のリセットスイッチ１２３の動作を制御するための信号である。制御信号ＳＨは、サンプルホールド回路１０７のサンプリングスイッチ１２４を制御するための信号である。制御信号ＣＬＫは、マルチプレクサ１０８の動作を制御するためのクロック信号である。

図３は、図１の放射線撮像システムの制御方法を示すフローチャートである。ステップＳ３０１では、駆動制御手段２０６は、放射線の照射が開始されたか否かを判定する。検知手段２０５は、Ａ／Ｄ変換器１２７が出力する電流情報（照射される放射線に応じた電気信号）が閾値以上になった場合に、放射線の照射の開始を示す曝射信号を駆動制御手段２０６に出力する。駆動制御手段２０６は、曝射信号が入力された場合には放射線の照射が開始されたと判断し、曝射信号が入力されない場合には放射線の照射が開始されていないと判断する。放射線の照射が開始された場合にはステップＳ３０３に進み、放射線の照射が開始されていない場合にはステップＳ３０２に進む。ステップＳ３０２では、二次元センサ部２０４は、駆動制御手段２０６の制御により、リセット動作を行う。その後、ステップＳ３０１に戻る。二次元センサ部２０４は、放射線の照射前に、画素の暗電流によって生じた電荷のリセットを行うリセット動作を繰り返し行う。リセット動作は、先頭行（１行目）の画素から最終行（Ｙ行目）の画素まで行われ、最終行の画素に達した場合は、先頭行の画素に戻る。リセット動作については、図４を用いて後に説明する。

ステップＳ３０３では、駆動制御手段２０６は、放射線の照射が終了したか否かを判定する。検知手段２０５は、Ａ／Ｄ変換器１２７が出力する電流情報（照射される放射線に応じた電気信号）が閾値未満になった場合に、曝射信号の出力を停止する。駆動制御手段２０６は、曝射信号の入力が停止された場合には放射線の照射が終了したと判断し、曝射信号が入力されている場合には放射線の照射が終了していないと判断する。放射線の照射が終了した場合にはステップＳ３０５に進み、放射線の照射が終了していない場合にはステップＳ３０４に進む。ステップＳ３０４では、二次元センサ部２０４は、駆動制御手段２０６の制御により、電荷の蓄積動作を行う。その後、ステップＳ３０３に戻る。電荷の蓄積動作は、全ての画素のスイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３３を非導通状態にして、放射線の照射に応じた電荷を蓄積する動作である。放射線の照射が終了するまで、電荷の蓄積動作が行われる。

ステップＳ３０５では、二次元センサ部２０４は、駆動制御手段２０６の制御により、放射線の照射に応じた電荷を読み出す読み出し動作Ｘを行う。読み出し動作Ｘでは、スイッチ素子Ｓ１１〜Ｓ３３が行単位で導通状態になり、先頭行の画素から最終行の画素まで行単位で順番に信号線Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ３に電気信号が出力され、Ａ／Ｄ変換器１１０が先頭行から最終行までの画素の画像情報を出力する。

次に、ステップＳ３０６では、二次元センサ部２０４は、駆動制御手段２０６の制御により、リセット動作を行う。次に、ステップＳ３０７では、二次元センサ部２０４は、駆動制御手段２０６により、電荷の蓄積動作を行う。ただし、この蓄積動作では、放射線の照射が為されていないため、暗電流による電荷が変換素子Ｓ１１〜Ｓ３３に蓄積される。暗電流による電荷を蓄積する蓄積動作は、ステップＳ３０４の放射線の照射に応じた電荷を蓄積する蓄積動作と同じ期間だけ行われる。

次に、ステップＳ３０８では、二次元センサ部２０４は、駆動制御手段２０６の制御により、暗電流による電荷を読み出す読み出し動作Ｆを行う。読み出し動作Ｆでは、スイッチ素子Ｓ１１〜Ｓ３３が行単位で導通状態になり、先頭行の画素から最終行の画素まで行単位で順番に信号線Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ３に電気信号が出力される。Ａ／Ｄ変換器１１０は、先頭行から最終行までの画素の画像情報（暗電流情報）を出力する。

次に、ステップＳ３０９では、制御コンピュータ２０７は、オフセット補正を行う。具体的には、制御コンピュータ２０７は、ステップＳ３０５の読み出し動作Ｘの画像情報とステップＳ３０８の読み出し動作Ｆの画像情報との差分を算出することにより、オフセット補正を行う。放射線の照射による画像から暗電流成分を差し引くことにより、オフセット補正が行われる。

次に、ステップＳ３１０では、補正係数算出手段２０８は、オフセット補正された画像情報を用いて補正係数を算出する。次に、ステップＳ３１１では、アーチファクト補正手段２０９は、補正係数算出手段２０８により算出された補正係数を用いて、アーチファクトを補正する。次に、ステップＳ３１２では、画像表示手段２１０は、アーチファクト補正手段２０９により補正された画像を表示する。

図４は、放射線撮像装置２０３の駆動方法を示すタイミングチャートであり、駆動線Ｇ（１）〜Ｇ（Ｙ）の駆動信号及び放射線の制御信号を示す。図２に示すように、駆動線Ｇ（１）は１行目の画素の駆動線であり、駆動線Ｇ（Ｙ）はＹ行目（最終行）の画素の駆動信号である。放射線発生装置２０１は、放射線の制御信号がハイレベルの場合には放射線を照射し、放射線の制御信号がローレベルの場合には放射線を照射しない。

まず、図３のステップＳ３０２に示したように、二次元センサ部２０４は、放射線の照射が開始されるまで、リセット動作を繰り返し行う。リセット動作は、スイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ３３の奇数行と偶数行とに分けて行われ、かつ複数行が同時に導通状態とされる。図４には、４行同時に導通状態とする場合を示している。

まず、奇数行の４本の駆動線Ｇ（１），Ｇ（３），Ｇ（５），Ｇ（７）の駆動信号が導通電圧になり、奇数行の駆動線Ｇ（１），Ｇ（３），Ｇ（５），Ｇ（７）に対応するスイッチ素子Ｔ１１，Ｔ３１等を導通状態にする。次に、次の奇数行の４本の駆動線Ｇ（９），Ｇ（１１），Ｇ（１３），Ｇ（１５）の駆動信号が導通電圧になり、奇数行の駆動線Ｇ（９），Ｇ（１１），Ｇ（１３），Ｇ（１５）に対応するスイッチ素子Ｔ９１等を導通状態にする。同様にして、最後の奇数行の駆動線Ｇ（Ｙ−１）までリセット動作を行う。

その後、偶数行の４本の駆動線Ｇ（２），Ｇ（４），Ｇ（６），Ｇ（８）の駆動信号が導通電圧になり、偶数行の駆動線Ｇ（２），Ｇ（４），Ｇ（６），Ｇ（８）に対応するスイッチ素子Ｔ２１，Ｔ４１等を導通状態にする。次に、次の偶数行の４本の駆動線Ｇ（１０），Ｇ（１２），Ｇ（１４），Ｇ（１６）の駆動信号が導通電圧になり、偶数行の駆動線Ｇ（１０），Ｇ（１２），Ｇ（１４），Ｇ（１６）に対応するスイッチ素子を導通状態にする。同様にして、最後の偶数行の駆動線Ｇ（Ｙ）までリセット動作を行う。

放射線発生装置２０１により放射線の照射が開始されると、検知手段２０５により放射線の照射の開始が検知され、二次元センサ部２０４は、駆動制御手段２０６の制御によりリセット動作を終了し、ステップＳ３０４の蓄積動作へ移行する。すなわち、時刻Ｋ＿ｓｔｏｐにおいて、駆動制御手段２０６は、検知手段２０５により放射線の照射開始が検知されると、複数の画素に対してリセット動作から電荷の蓄積動作に切り替える。なお、図２では、検知手段２０５は、バイアス線Ｂｓに流れるバイアス電流の情報により放射線の照射の有無を検知しているが、放射線の照射の検知用に別途センサを搭載してもよい。蓄積動作では、駆動線Ｇ（１）〜Ｇ（Ｙ）の駆動信号が非導通電圧になり、すべてのスイッチ素子Ｔ１１等が非導通状態になり、変換素子Ｓ１１等に放射線に応じた電荷が蓄積される。

その後、ステップＳ３０５の読み出し動作Ｘが行われる。読み出し動作では、駆動線Ｇ（１）〜Ｇ（Ｙ）が順次、導通電圧になり、スイッチ素子Ｔ１１等が行単位で導通状態になり、各行の画像情報が出力される。

このような駆動の場合に、放射線発生装置２０１による放射線の照射の開始時刻Ｘ＿ｓｔａｒｔから検知手段２０５による放射線の照射の開始の検知時刻Ｋ＿ｓｔｏｐまでの期間に、リセット動作が行われる。その期間にリセット動作された駆動線Ｇ（ｙ）、Ｇ（ｙ＋２）、Ｇ（ｙ＋４）、Ｇ（ｙ＋６）の画素では、放射線の照射に応じた電荷の一部が失われ、画像にアーチファクトが生じてしまう。

図５は、図４の駆動におけるアーチファクトの画像の例を示す図である。放射線照射開示時刻Ｘ＿ｓｔａｒｔから放射線照射検知時刻Ｋ＿ｓｔｏｐまでにリセット動作が行われた奇数行の画素では、出力が低下し、横縞状のアーチファクトが発生する。

図４のリセット動作の利点は、以下の２点である。第１に、アーチファクトの行の隣接行は、アーチファクトのない（出力低下のない）正常行になるため、画像情報の近い隣接行を用いて補正係数を算出できる。第２に、複数行のスイッチ素子が同時に導通状態となるため、同時に導通状態となった複数行の画素において、アーチファクトの量がほぼ同じになる。

図６（Ａ）及び（Ｂ）は、アーチファクトの補正方法を説明するための図である。図６（Ａ）は、アーチファクトを有する画素の概念図である。例えば、ｙ行目、ｙ＋２行目、ｙ＋４行目及びｙ＋６行目の画素は、リセット動作により、放射線の照射に応じた電荷の一部が失われ、アーチファクトが生じた画素である。図６（Ｂ）は、図６（Ａ）のｘ列の画素の出力値を示す。ここで、Ｄ（ｘ，ｙ）は、ｘ列ｙ行の画素の出力値を表す。ｙ行目、ｙ＋２行目、ｙ＋４行目及びｙ＋６行目の画素は、隣接画素に比べ、出力値が小さくなり、アーチファクトが発生している。

次に、補正係数算出手段２０８の補正係数算出方法を説明する。まず、出力値Ｄ（ｘ，ｙ）を単純に隣接行の画素の出力値で線形補間した場合の補正後の出力値Ｄ’（ｘ，ｙ）は、以下の式（１）で表される。
Ｄ’（ｘ，ｙ）＝｛Ｄ（ｘ，ｙ−１）＋Ｄ（ｘ，ｙ＋１）｝／２ ・・・（１）

単純に隣接行の画素出力値で線形補間した上式（１）には、元々の出力値Ｄ（ｘ，ｙ）が含まれていない。すなわち、出力値Ｄ（ｘ，ｙ）が破棄されるので、出力値Ｄ（ｘ，ｙ）の画像情報は失われ、解像度が低下するという課題がある。また、隣接行であるｙ−１行目、あるいはｙ＋１行目にラインノイズが重畳した場合、補正誤差が大きくなり、補正後の出力値Ｄ’（ｘ，ｙ）は本来の値と離れた値になってしまう場合がある。

そこで、補正係数算出手段２０８は、まずｘ列ｙ行の画素とその隣接行の画像出力値を用いて、次式（２）の補間係数ａ（ｘ，ｙ）を算出する。
ａ（ｘ，ｙ）＝｛Ｄ（ｘ，ｙ−１）＋Ｄ（ｘ，ｙ＋１）｝／｛２×Ｄ（ｘ，ｙ）｝ ・・・（２）

ここで、画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ）は、放射線照射開始時刻Ｘ＿ｓｔａｒｔから放射線照射開始検知時刻Ｋ＿ｓｔｏｐまでの間にリセット動作が行われた行に属する画素の画素出力値である。画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ−１）及びＤ（ｘ，ｙ＋１）は、放射線照射開始時刻Ｘ＿ｓｔａｒｔから放射線照射開始検知時刻Ｋ＿ｓｔｏｐまでの間にリセット動作が行われた行に属する画素の隣接行に属する画素の画素出力値である。

また、補正係数算出手段２０８は、ｘ列ｙ＋２行、ｘ列ｙ＋４行、ｘ列ｙ＋６行の画素とそれらの隣接行の画像出力値を用いて、同様にして、補間係数ａ（ｘ，ｙ＋２）、ａ（ｘ，ｙ＋４）、ａ（ｘ，ｙ＋６）を算出する。補正係数算出手段２０８は、これらの４つの補間係数の平均値を算出し、その平均値をアーチファクト補正に用いる補正係数Ａ（ｘ，ｙ）とする。４つの補間係数の平均値を用いることにより、各行に重畳するラインノイズの影響を低減することができる。

上記のように、補正係数算出手段２０８は、次式（３）により、アーチファクト補正に用いる補正係数Ａ（ｘ，ｙ）を算出する。ここで、ｎは、同時にリセット動作を行う行数であり、例えば４である。リセット動作は、図４に示すように、１行おきに配置されたｎ（ｎは２以上の整数）行が同時に行われる。
Ａ（ｘ，ｙ）＝｛Σ｛Ｄ（ｘ，ｙ＋２×ｎ−３）＋Ｄ（ｘ，ｙ＋２×ｎ−１）｝／｛２×Ｄ（ｘ，ｙ＋２×ｎ−２）｝｝／ｎ ・・・（３）

ここで、補正係数Ａ（ｘ，ｙ）は、ｎを１から４まで変化させた場合の総和Σを用いて算出される。画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ＋２×ｎ−２）は、リセット動作が同時に行われたｎ行に属する画素の画素出力値である。画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ＋２×ｎ−３）及びＤ（ｘ，ｙ＋２×ｎ−１）は、リセット動作が同時に行われたｎ行に属する画素の隣接行に属する画素の画素出力値である。補正係数算出手段２０８は、リセット動作が同時に行われたｎ行に属する画素の画素出力値と、リセット動作が同時に行われたｎ行に属する画素の隣接行に属する画素の画素出力値とを用いて補正係数Ａ（ｘ，ｙ）を算出する。

補正係数Ａ（ｘ，ｙ）の算出は、リセット動作において同時に導通状態とする行数ｎと同じ数だけの補間係数ａ（ｘ，ｙ）等を用いて行う。これによって、補正係数Ａ（ｘ，ｙ）の精度を向上させることができる。放射線の照射に応じた電荷の一部が失われることによるアーチファクトの量は、放射線の照射の開始時刻Ｘ＿ｓｔａｒｔから、各スイッチ素子Ｔ１１等が導通状態から非導通状態に切り換わる時刻までの時間に依存する。このため、同時にリセット動作が行われたｎ行分（ｙ行目、ｙ＋２行目、・・・、ｙ＋２×ｎ−２行目）の画像情報は、ほぼ同じアーチファクトの量となる。このため、リセット動作において同時に導通状態となる複数行を１つのブロックとして、補正係数Ａ（ｘ，ｙ）を算出し、ｎ行分（ｙ行目、ｙ＋２行目、・・・、ｙ＋２×ｎ−２行目）の画像情報を補正する。また、補正係数Ａ（ｘ，ｙ）は、ｎ個の補間係数ａ（ｘ，ｙ）、ａ（ｘ，ｙ＋２）、・・・、ａ（ｘ，ｙ＋２×ｎ−２）の平均値を用いるため、ラインノイズの影響を低減した補正係数となる。

次に、アーチファクト補正手段２０９は、補正係数算出手段２０８により算出された式（３）の補正係数Ａ（ｘ，ｙ）を用いて、アーチファクト補正を行い、補正後の出力値Ｄ’（ｘ，ｙ）を出力する。以下、アーチファクト補正方法を説明する。

図４及び図６（Ａ）、（Ｂ）に示したように、リセット動作において、４行同時にスイッチ素子を導通状態にする。その場合、同時にリセット動作が行われた４行分（ｙ行目、ｙ＋２行目、ｙ＋４行目、ｙ＋６行目）の画像情報は、式（３）のｎ＝４の場合の補正係数Ａ（ｘ，ｙ）を用いて補正される。

アーチファクト補正手段２０９は、次式（４）のように、ｘ列ｙ行の画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ）及び補正係数Ａ（ｘ，ｙ）の乗算により、ｘ列ｙ行の画素におけるアーチファクト補正後の出力値Ｄ’（ｘ、ｙ）を算出する。
Ｄ’（ｘ，ｙ）＝Ｄ（ｘ，ｙ）×Ａ（ｘ，ｙ） ・・・（４）

また、アーチファクト補正手段２０９は、次式（５）のように、ｘ列ｙ＋２行の画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ＋２）及び補正係数Ａ（ｘ，ｙ）の乗算により、ｘ列ｙ＋２行の補正後の画素出力値Ｄ’（ｘ、ｙ＋２）を算出する。
Ｄ’（ｘ，ｙ＋２）＝Ｄ（ｘ，ｙ＋２）×Ａ（ｘ，ｙ） ・・・（５）

また、アーチファクト補正手段２０９は、次式（６）のように、ｘ列ｙ＋４行の画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ＋４）及び補正係数Ａ（ｘ，ｙ）の乗算により、ｘ列ｙ＋４行の補正後の画素出力値Ｄ’（ｘ、ｙ＋４）を算出する。
Ｄ’（ｘ，ｙ＋４）＝Ｄ（ｘ，ｙ＋４）×Ａ（ｘ，ｙ） ・・・（６）

また、アーチファクト補正手段２０９は、次式（７）のように、ｘ列ｙ＋６行の画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ＋６）及び補正係数Ａ（ｘ，ｙ）の乗算により、ｘ列ｙ＋６行の補正後の画素出力値Ｄ’（ｘ、ｙ＋６）を算出する。
Ｄ’（ｘ，ｙ＋６）＝Ｄ（ｘ，ｙ＋６）×Ａ（ｘ，ｙ） ・・・（７）

上式（４）〜（７）により、同時にリセット動作を行う４行分（ｙ行目、ｙ＋２行目、ｙ＋４行目、ｙ＋６行目）の画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ）等を補正することにより、以下の２点の効果が得られる。第１に、元々の画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ）を用いるので、画像情報を失うことなく、アーチファクト補正が可能となる。第２に、式（３）で算出される補正係数Ａ（ｘ，ｙ）を用いるので、ラインノイズの影響を受けにくいアーチファクト補正が可能となる。

また、上記の第２の効果において、リセット動作で同時に導通状態とする行数ｎを大きくするほど、平均化によるノイズ除去効果が増大する。また、上記のように、検知手段２０５がバイアス線Ｂｓを流れるバイアス電流の情報を用いて、放射線の照射の開始を検知する場合、リセット動作で同時に導通状態とする行数ｎを大きくするほど、検知感度は向上する。しかし、一方で、リセット動作で同時に導通状態とする行数ｎを大きくすると、スイッチ素子Ｔ１１等の導通状態と非導通状態を切り替える際のスイッチングノイズが増大してしまい、画質やバイアス電流の検出に悪影響を与えてしまう。このため、本実施形態のように、リセット動作で同時に導通状態とする行数ｎは、ｎ＝４程度が望ましい。なお、本実施形態では、リセット動作は、図４に示すように、１行おきに配置されたｎ（ｎは２以上の整数）行が同時に行われているが、本発明はそれに限定されるものではない。本発明のリセット動作は、互いに隣接せずに配置されたｎ行が同時に行われればよく、例えば、奇数行を２つの群に、偶数行を２つの群に、更に分けて、それぞれの群でｎ行が同時に行われればよい。

（第２の実施形態）
図７（Ａ）及び（Ｂ）は、本発明の第２の実施形態によるアーチファクトの補正方法を説明するための図であり、図６（Ａ）及び（Ｂ）に対応する。以下、本実施形態が第１の実施形態と異なる点を説明する。

第１の実施形態の補正係数Ａ（ｘ，ｙ）は、まず、補間係数ａ（ｘ，ｙ）をｘ列ｙ行の画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ）とその隣接行の画素出力値を用いて算出した。本実施形態では、補正係数算出手段２０８は、ｙ行目の画素出力値を行方向の任意の領域内で平均化した出力値Ｄ_avg（ｘ，ｙ）を演算する。同様に、補正係数算出手段２０８は、ｙ−１行目及びｙ＋１行目の画素出力値を行方向の任意の領域内で平均化した出力値Ｄ_avg（ｘ，ｙ−１）及びＤ_avg（ｘ，ｙ＋１）をそれぞれ演算する。次に、補正係数算出手段２０８は、次式（８）におり、ｙ−１行目、ｙ行目及びｙ＋１行目の平均画素出力値Ｄ_avg（ｘ，ｙ−１）、Ｄ_avg（ｘ，ｙ）及びＤ_avg（ｘ，ｙ＋１）を用いて、ｙ行目の補間係数ａ_avg（ｘ，ｙ）を算出する。
ａ_avg（ｘ，ｙ）＝｛Ｄ_avg（ｘ，ｙ−１）＋Ｄ_avg（ｘ，ｙ＋１）｝／｛２×Ｄ_avg（ｘ，ｙ）｝ ・・・（８）

上記と同様に、補正係数算出手段２０８は、ｘ列ｙ＋２行、・・・、ｘ列ｙ＋２×ｎ−２行の画素出力値とそれらの隣接行の画素出力値を用いて、補間係数ａ_avg（ｘ，ｙ＋２）、・・・、ａ_avg（ｘ，ｙ＋２×ｎ−２）を算出する。そして、補正係数算出手段２０８は、これらのｎ個の補間係数ａ_avg（ｘ，ｙ＋２）、・・・、ａ_avg（ｘ，ｙ＋２×ｎ−２）の平均値を演算し、その平均値をアーチファクト補正用の補正係数とする。式（８）において、ｙ行目の画素出力値を行方向の任意の領域内で平均化した出力値Ｄ_avg（ｘ，ｙ）を用いることにより、画素毎のランダムなノイズを平均化できるため、補正精度を向上させることができる。

上記のように、補正係数算出手段２０８は、次式（９）により、ｙ−１行目、ｙ行目及びｙ＋１行目の平均画素出力値Ｄ_avg（ｘ，ｙ−１）、Ｄ_avg（ｘ，ｙ）及びＤ_avg（ｘ，ｙ＋１）を用いて、ｘ列ｙ行の補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）を算出する。ここで、ｎは、リセット動作で同時に導通状態とする行数である。
Ａ_avg（ｘ，ｙ）＝｛Σ｛Ｄ_avg（ｘ，ｙ＋２×ｎ−３）＋Ｄ_avg（ｘ，ｙ＋２×ｎ−１）｝／｛２×Ｄ_avg（ｘ，ｙ＋２×ｎ−２）｝｝／ｎ ・・・（９）

ここで、補正係数補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）は、ｎを１から４まで変化させた場合の総和Σを用いて算出される。平均値Ｄ_avg（ｘ，ｙ＋２×ｎ−２）は、リセット動作が行われた行に属する複数の画素の画素出力値の平均値である。平均値Ｄ_avg（ｘ，ｙ＋２×ｎ−３）及びＤ_avg（ｘ，ｙ＋２×ｎ−１）は、リセット動作が行われた行に属する画素の隣接行に属する複数の画素の画素出力値の平均値である。補正係数算出手段２０８は、リセット動作が行われた行に属する複数の画素の画素出力値の平均値と、リセット動作が行われた行に属する画素の隣接行に属する複数の画素の画素出力値の平均値とを用いて補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）を算出する。

なお、図７（Ａ）では、駆動線Ｇ（ｙ）のｙ行目について、ｘ−５列目からｘ＋５列目までの画素出力値を平均化して出力値Ｄ_avg（ｘ，ｙ）を求めているが、その代わりに、ｙ行目の全ての列の画素出力値を平均化した出力値Ｄ_avg（ｙ）を求めてもよい。その場合、補正係数算出手段２０８は、リセット動作が行われた行に属するすべての画素の画素出力値の平均値と、リセット動作が行われた行に属する画素の隣接行に属するすべての画素の画素出力値の平均値とを用いて補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）を算出する。

次に、アーチファクト補正手段２０９は、次式（１０）により、ｘ列ｙ行の画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ）及び補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）の乗算により、ｘ列ｙ行のアーチファクト補正後の画素出力値Ｄ’（ｘ、ｙ）を算出する。
Ｄ’（ｘ，ｙ）＝Ｄ（ｘ，ｙ）×Ａ_avg（ｘ，ｙ） ・・・（１０）

また、アーチファクト補正手段２０９は、次式（１１）により、ｘ列ｙ＋２行の画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ＋２）及び補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）の乗算により、ｘ列ｙ＋２行のアーチファクト補正後の画素出力値Ｄ’（ｘ、ｙ＋２）を算出する。また、アーチファクト補正手段２０９は、次式（１２）により、画素出力値Ｄ（ｘ，ｙ＋２×ｎ−２）及び補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）の乗算により、アーチファクト補正後の画素出力値Ｄ’（ｘ、ｙ＋２×ｎ−２）を算出する。アーチファクト補正手段２０９は、式（１１）及び（１２）と同様にして、ｘ列ｙ＋２行、・・・、ｘ列ｙ＋２×ｎ−２行の補正後の画素出力値を算出する。

Ｄ’（ｘ，ｙ＋２）＝Ｄ（ｘ，ｙ＋２）×Ａ_avg（ｘ，ｙ） ・・・（１１）
・
・
・
Ｄ’（ｘ，ｙ＋２×ｎ−２）＝Ｄ（ｘ，ｙ＋２×ｎ−２）×Ａ_avg（ｘ，ｙ） ・・・（１２）

上記のようにアーチファクト補正を行うことにより、画像情報を失うことなく、ノイズの影響の少ないアーチファクト補正が可能となる。また、上記のアーチファクト補正方法は、放射線の照射に応じた電荷の一部が失われることによるアーチファクトを補正するためのものである。そのため、放射線の照射が開始されてからリセット動作を行っていない行については、アーチファクトは発生しないため、アーチファクト補正は不要である。また、アーチファクト補正は、画像上の偶数行と奇数行とのオフセットバラツキが大きい場合には、図３のステップＳ３０９で、そのオフセットバラツキを補正した後で、行われることが望ましい。

（第３の実施形態）
図８（Ａ）及び（Ｂ）は、本発明の第３の実施形態によるアーチファクトの補正方法を説明するための図であり、図６（Ａ）及び（Ｂ）に対応する。以下、本実施形態が第１の実施形態と異なる点を説明する。

図８（Ａ）に示すように、本実施形態では、二次元センサ部２０４の画素に飽和画素８０１があった場合の補正係数の算出方法を説明する。図８（Ａ）には、ｘ列ｙ＋３行、ｘ列ｙ＋５行及びｘ列ｙ＋７行の画素８０１の出力値が飽和している場合の画素出力値の概念図を示している。また、図８（Ｂ）には、ｘ列の画素出力値の概念図を示している。図８（Ｂ）に示すように、飽和画素８０１があった場合、飽和画素８０１の画素出力値Ｄ（ｘ、ｙ＋３）、Ｄ（ｘ、ｙ＋５）、Ｄ（ｘ、ｙ＋７）を用いて、補間係数ａ（ｘ、ｙ＋２）、ａ（ｘ、ｙ＋４）及びａ（ｘ、ｙ＋６）を求める場合を考える。その場合、補間係数ａ（ｘ、ｙ＋２）、ａ（ｘ、ｙ＋４）及びａ（ｘ、ｙ＋６）は、異常な値になってしまう。さらには、アーチファクト補正に用いる補正係数Ａ（ｘ，ｙ）の値も異常な値になってしまう。

このため、図８（Ｂ）に示すように、飽和画素８０１があった場合、アーチファクト補正に用いる補正係数Ａ（ｘ，ｙ）を前述の式（３）により算出する際、飽和画素８０１の画素出力値を用いて算出された補間係数は使用しない。すなわち、補正係数算出手段２０８は、飽和画素８０１以外の画素出力値を用いて算出された補間係数のみの平均値により、アーチファクト補正に用いる補正係数Ａ（ｘ，ｙ）を算出する。こうすることにより、飽和画素８０１があった場合のアーチファクト補正誤差を低減することができる。

また、図８（Ａ）に示した位置に飽和画素８０１があった場合、ｘ列ｙ＋４行及びｘ列ｙ＋６行の画素出力値も飽和画素の可能性が高い。このため、これらの画素の出力値Ｄ’（ｘ，ｙ＋４）及びＤ’（ｘ，ｙ＋６）は、アーチファクト補正を行わず、飽和画素とみなしてもよい。また、補正係数算出手段２０８は、画像情報を用いて飽和画素の座標を探し出してもよい。また、制御コンピュータ２０７に、別途、飽和画素の座標を特定する座標特定手段を設けてもよい。

以上のように、補正係数算出手段２０８は、複数の画素の中に画素出力値が飽和している飽和画素８０１がある場合には飽和画素８０１の画素出力値を除外して補正係数Ａ（ｘ，ｙ）を算出する。これにより、飽和画素８０１があった場合のアーチファクト補正誤差を低減することができる。

（第４の実施形態）
図９（Ａ）及び（Ｂ）は、本発明の第４の実施形態によるアーチファクトの補正方法を説明するための図であり、図７（Ａ）及び（Ｂ）に対応する。以下、本実施形態が第２の実施形態と異なる点を説明する。

本実施形態では、図９（Ａ）に示すように、二次元センサ部２０４の画素に行の線欠陥９０１があった場合の補正係数の算出方法を説明する。図９（Ａ）には、駆動線Ｇ（ｙ＋３）のｙ＋３行目に線欠陥９０１があった場合の画素出力値の概念図を示している。図９（Ａ）には、第２の実施形態で述べたように、ｙ行目の画素出力値を行方向の任意の領域内で平均化した出力値Ｄ_avg（ｘ，ｙ）の概念図を示している。

図９（Ｂ）に示すように、ｙ＋３行目の線欠陥９０１の画素出力値は、飽和している。例えば、ｙ＋３行目に線欠陥９０１があった場合、ｙ＋３行目の画素出力値を用いて算出された補間係数ａ_avg（ｘ，ｙ＋２）及びａ_avg（ｘ，ｙ＋４）は、異常な値になってしまう。さらには、アーチファクト補正に用いる補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）の値も異常な値になってしまう。

このため、図９（Ｂ）に示すように、行の線欠陥があった場合、補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）を前述の式（９）により算出する際、線欠陥９０１の行の画素出力値を行方向の任意の領域内で平均化した出力値を用いて算出した補間係数は使用しない。すなわち、補正係数算出手段２０８は、線欠陥９０１の行以外の行の画素出力値を行方向の任意の領域内で平均化した出力値を用いて算出した補間係数の平均値を、アーチファクト補正に用いる補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）として算出する。こうすることにより、線欠陥９０１があった場合のアーチファクト補正誤差を低減することができる。

なお、補正係数算出手段２０８は、予め工場出荷時に提供される欠陥座標の情報を有し、補正係数を算出する際に、その欠陥座標の情報を用いて線欠陥の座標を認識することができる。

以上のように、補正係数算出手段２０８は、複数の画素の中に欠陥画素がある場合には欠陥画素の画素出力値を除外して補正係数Ａ_avg（ｘ，ｙ）を算出する。これにより、欠陥画素があった場合のアーチファクト補正誤差を低減することができる。

なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。

２０４ 二次元センサ部、２０５ 検知手段、２０６ 駆動制御手段、２０８ 補正係数算出手段、２０９ アーチファクト補正手段

Claims (7)

1. 行列状に配置され、放射線を電荷に変換して画素出力値を出力する複数の画素と、
   放射線の照射開始を検知する検知手段と、
   前記検知手段により放射線の照射開始が検知されると、前記複数の画素に対してリセット動作から電荷の蓄積動作に切り替える駆動制御手段と、
   前記複数の画素により出力された画素出力値を用いて補正係数を算出する補正係数算出手段と、
   前記補正係数算出手段により算出された補正係数を用いて、前記複数の画素により出力された画素出力値を補正する補正手段とを有し、
   前記駆動制御手段は、前記検知手段により放射線の照射開始が検知されるまで、前記複数の画素の暗電流による電荷のリセットを行うリセット動作を繰り返し行い、
   前記リセット動作は、互いに隣接せずに配置されたｎ（ｎは２以上の整数）行が同時に行われ、
   前記補正係数算出手段は、前記放射線が照射開始された時刻から前記検知手段が放射線の照射開始を検知するまでの間に前記リセット動作が行われた行に属する画素の画素出力値と、前記リセット動作が行われた行に属する画素の隣接行に属する画素の画素出力値とを用いて補正係数を算出することを特徴とする放射線撮像システム。
2. 前記補正係数算出手段は、前記リセット動作が同時に行われたｎ行に属する画素の画素出力値と、前記リセット動作が同時に行われたｎ行に属する画素の隣接行に属する画素の画素出力値とを用いて補正係数を算出することを特徴とする請求項１記載の放射線撮像システム。
3. 前記補正係数算出手段は、前記リセット動作が行われた行に属する複数の画素の画素出力値の平均値と、前記リセット動作が行われた行に属する画素の隣接行に属する複数の画素の画素出力値の平均値とを用いて補正係数を算出することを特徴とする請求項１又は２記載の放射線撮像システム。
4. 前記補正係数算出手段は、前記リセット動作が行われた行に属するすべての画素の画素出力値の平均値と、前記リセット動作が行われた行に属する画素の隣接行に属するすべての画素の画素出力値の平均値とを用いて補正係数を算出することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の放射線撮像システム。
5. 前記補正係数算出手段は、前記複数の画素の中に画素出力値が飽和している飽和画素がある場合には前記飽和画素の画素出力値を除外して前記補正係数を算出することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の放射線撮像システム。
6. 前記補正係数算出手段は、前記複数の画素の中に欠陥画素がある場合には前記欠陥画素の画素出力値を除外して前記補正係数を算出することを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の放射線撮像システム。
7. さらに、放射線を照射する放射線発生装置を有することを特徴とする請求項１〜６のいずれか１項に記載の放射線撮像システム。

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