JP2014165758A - 圧電振動デバイス及び発振器 - Google Patents

圧電振動デバイス及び発振器 Download PDF

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良和 田中
Takashi Sarada
孝史 皿田
Katsutaka Kaiho
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Abstract

【課題】圧電振動片を強固に固定しても圧電振動片に掛かる応力を低減させ、振動特性の劣化を防止する圧電振動デバイスを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、ベース基板と、前記ベース基板の上面側に固定された少なくても1つ以上の支持部と、前記ベース基板の上面に対向させた状態で前記ベース基板に接合された蓋基板と、前記ベース基板と前記蓋基板との間に形成されたキャビティ内に収納され支持部に固定された圧電振動片と、を備えている圧電振動デバイスにおいて、前記支持部は、前記ベース基板の上面側に固定される固定部と、前記固定部から延設され、前記圧電振動片を固定し、変形可能な変形部と、を有し、前記変形部における前記圧電振動片を固定する側の面と反対側の面と、前記ベース基板の上面との間に空間を有し、前記変形部は、前記反対側の面の方向に変形することを特徴とする。
【選択図】図2

Description

本発明は、電子素子を実装した圧電振動デバイスに関する。
近年普及している携帯電話等の携帯情報端末には表面実装型の小型パッケージを用いた電子デバイスが多く使用されている。例えば振動子やMEMS、ジャイロセンサ、加速度センサ等は、中空のキャビティ構造のパッケージに電子素子が収納される構造を有している。中空のキャビティ構造のパッケージは、例えばベース基板と蓋基板とを接合して気密封止する構成するものが知られている。近年小型化に伴って、電子デバイスをベース基板に接合する方法としてフリップチップボンディング方法が用いられている(例えば特許文献1)。
ここで、ベース基板上に圧電振動片が金属バンプで固定された圧電振動子について簡単に説明する。即ち、図9に示すように、圧電振動子100は、圧電振動片103と、凹型に形成されたベース基板101と、ベース基板101に接合部108で接合された蓋基板102から構成されている。
圧電振動片103は、水晶等の圧電材料から形成されており、圧電振動片103を挟んで、該圧電振動片103を振動させるための励振電極105a、105bがパターニングされている。圧電振動片103は、ベース基板上に形成された引き回し電極106a、106b上に励振電極105a、105b、金属バンプ104を介して接合される。
ベース基板101には凹部が形成され、蓋基板102で封止することでキャビティ109が構成される。該圧電振動片103は前記キャビティ109内に収納される。
ベース基板101は、セラミック基板で構成され、ベース基板101の底面には、側面に亘って外部電極107a、107bが形成されている。このうち一方の外部電極107aが、引き回し電極106aを介して圧電振動片103の一方の励振電極105aに電気的に接続されており、他方の外部電極107bが、引き回し電極106bを介して圧電振動片103の他方の励振電極105bに電気的に接続されている。
蓋基板102はセラミック基板あるいは金属基板で構成され、ベース基板101上の接合面108でシーム溶接あるいはAu−Sn溶接されて、キャビティ109を封止する。
特開2010−103868号公報
しかしながら、図9に示すように、圧電振動片203は、実装時にベース基板201の金属バンプ204に押し付けられた状態で強固に固定され、圧電振動片203に応力が加わり、振動を阻害してしまう。また、実装時の押付量を制御することは困難であるため、圧電振動片203にワレなどの損傷を及ぼし、生産性を低下させる。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、圧電振動片を強固に固定しても圧電振動片に掛かる応力を低減させ、振動特性の劣化を防止する圧電振動デバイスを提供することを目的とする。
本発明は、ベース基板と、前記ベース基板の上面側に固定された少なくても1つ以上の支持部と、前記ベース基板の上面に対向させた状態で前記ベース基板に接合された蓋基板と、前記ベース基板と前記蓋基板との間に形成されたキャビティ内に収納され、前記支持部に固定された圧電振動片と、を備えている圧電振動デバイスにおいて、前記支持部は、前記ベース基板の上面側に固定される固定部と、前記固定部から延設され、前記圧電振動片を固定し、変形可能な変形部と、を有し、前記変形部における前記圧電振動片を固定する側の面と反対側の面と、前記ベース基板の上面との間に空間を有し、前記変形部は、前記反対側の面の方向に変形することを特徴とする。
これによれば、従来の課題であったフリップチップボンディング方法による実装時に圧電振動片にかかる応力を、金属梁がたわむことで緩和することができる。この結果、周波数温度特性のばらつきやCI上昇などの特性劣化を防止することができる。
また、前記変形部は、金属で形成されるバンプを介して前記圧電振動片を固定されてもよい。
また、前記ベース基板は前記上面に凹部を有し、前記反対側の面と前記凹部の底面との間に前記空間を有することを特徴とする。これにより、変形部を確実に変形することができる。
また、前記圧電振動片は、2つの励振電極と、それぞれの前記励振電極に接続する2つの実装電極と、を有し、前記支持部は、金属梁で形成され、前記変形部は、1つの前記実装電極と電気的に接続する。これにより、支持部は実装電極と電気的に接続するために用いることができる。
また、2つの前記支持部を有し、それぞれの前記支持部の前記変形部は、異なる前記実装電極と電気的に接続する。これにより、圧電振動片を実装する部分すべてにおいて、応力を緩和することができる。
本発明により、パッケージ上に形成された梁がたわむことで水晶片にかかるフリップチップボンディング方法による実装時の押付量を緩和することができ、これにより、振動特性の劣化を防ぐことができる。
本発明の第一実施形態に係る圧電振動デバイスの上面模式図である。 本発明の第一実施形態に係る圧電振動デバイスのAA’断面模式図である。 本発明の第一実施形態に係る圧電振動デバイスの製造プロセスを示した図である。 本発明の第一実施形態に係る圧電振動デバイスの製造プロセスを示した図である。 本発明の第二実施形態に係る圧電振動デバイスのAA’断面模式図である。 本発明の第三実施形態に係る圧電振動デバイスの上面模式図である。 本発明の第三実施形態に係る圧電振動デバイスのAA’断面模式図である。 本発明の第四実施形態に係る発振器の上面模式図である。 従来公知の圧電振動デバイスの縦断面模式図である。
<圧電振動デバイス>
(第一実施形態)
以下、本発明の第一実施形態に係る圧電振動デバイス1について図1および図2を参照して説明する。
図1は、第一実施形態に係る圧電振動デバイス1の上面模式図である.なお,図1については蓋基板3を省略している.また、図2は、圧電振動デバイス1のAA’断面模式図である。
本実施形態の圧電振動デバイス1は、ベース基板2と、ベース基板2に対向させた状態でベース基板2に接合された蓋基板3と、で2層に積層された箱状に形成されている。また、圧電振動デバイス1は、ベース基板2と蓋基板3との間に形成されたキャビティ16内に圧電振動片4が収納された表面実装型の圧電振動デバイスである。また、圧電振動片4をベース基板2に保持する方法が、圧電振動片4の一方の短辺側を保持する片持ち状態である。
圧電振動片4は、バルクの水晶から形成されたATカット型の振動片である。
この圧電振動片4は、上面側の励振電極5と、それと対向するように配置された下面側の励振電極6と、それぞれに電気的に接続された実装電極13a、13bと、励振電極5、6と実装電極13a、13bとを電気的に接続した引出電極14を有している。すなわち、実装電極13aは上面側の引出電極14を介して励振電極5と接続され、実装電極13bは下面側の引出電極14を介して励振電極6に接続されている。実装電極13a、13bは上面及び下面に形成され、上下間を側面電極8が電気的に接続する。
上面側の励振電極5、下面側の励振電極6、実装電極13a、13b、側面電極8、引出電極14は,例えば、Cr、Ni、Au、Al、Ti等の導電性膜の被膜、あるいはこれら導電性膜のいくつかを組み合わせた積層膜より形成される。
蓋基板3は、例えば金属材料や絶縁材料、セラミック材料からなり、ベース基板2が接合される接合面側には、圧電振動片4が収まる矩形状の凹部が形成されている。この凹部は、両基板2、3が重ね合わされたときに圧電振動片4を収容するキャビティ16となるキャビティ16用の凹部である。そして蓋基板3は、この凹部をベース基板2側に対向させた状態で接合膜9を介して該ベース基板2に対して接合されている。
ベース基板2は、例えば絶縁材料、セラミック材料、半導体からなり、蓋基板3に対して重ね合わせ可能な大きさに板状に形成されている。
また、ベース基板2には貫通電極7a、7bが形成される。貫通電極7a、7bはベース基板2の圧電振動片4の支持面である上面と、その反対面である下面を導通させると共に、圧電振動デバイス1内の気密を保つ。またベース基板2は、貫通電極7a、7bを形成した部分と異なる部分で、圧電振動片5の実装電極に対応する部分にベース基板凹部21を有する。また、ベース基板2のキャビティ16より外側の位置でキャビティ16を囲って接合膜9が形成される。陽極接合技術などにより、接合膜9を介してベース基板2と蓋基板3が接合される。接合方法に関しては特に限定しない。
また、ベース基板2は、外部からの信号を受けるために、貫通電極7a、7bと電気的に接続された外部電極10が設けられている。このように構成された圧電振動子1は、ベース基板2に形成された外部電極10a、10bに対して、所定の駆動信号を印加することで、圧電振動片4の表裏に設けられた励振電極5、6のそれぞれに電流を流すことができ、所定の周波数で共振する。そして、振動を利用して、制御信号のタイミング源やリファレンス信号源等として利用することができる。
ベース基板2は、圧電振動片4が支持される上面側に、ベース基板2の上面側に固定された少なくても1つ以上の支持部を有している。本実施形態においては、2つの支持部が形成されている。また、各支持部は、金属梁20a、20bで形成される。それぞれの支持部の変形部は、異なる実装電極と電気的に接続する。
金属梁20a、20bは、ベース基板の上面側に固定される固定部と、固定部から延設され、圧電振動片を固定し、変形可能な変形部とを有する。また、金属梁20a、20bは、ベース基板2の上面のうち、圧電振動片5の実装電極が位置する側の2つ角部に配置される。
また、変形部における圧電振動片5を固定する側の面と反対の面と、ベース基板凹部21の底面との間に空間を有する。本実施形態においては、一方の変形部から他方の変形部まで1つの空間で構成されている。また、それぞれの支持部の変形部は、圧電振動片5を固定する側の面と反対の面の方向、すなわち空間側の方向に変形することができる。また、固定部はベース基板2の上面のベース基板凹部21と異なる位置に固定されている。また、変形部は、固定部からベース基板凹部21に向かって延設されている。本実施形態において、ベース基板凹部21は、ベース基板2の上面の端部の中央に位置する。また、ベース基板凹部21は、金属梁20a、20bの自由端側の下側に設けられた矩形状の凹部である。また、金属梁20aの固定部は、ベース基板2の上面で内部電極30と電気的に接続する。また、金属梁20bの固定部は金属接合技術などを用いて貫通電極7bと接続している。
図1に示すように、金属梁幅W1に対してベース基板凹部幅W2がW2>W1の関係を保つように形成されている。ここで、ベース基板凹部21は、圧電振動片4に対して大きな面積を持つように形成されていても良い。
内部電極30は、ベース基板2の上面の1辺に沿って、金属梁20aの固定部から、圧電振動片5の実装電極13a、13bが配置される短辺と反対の短辺側に向かって形成されている。また、内部電極30の固定部側の端部と異なる端部は、貫通電極7aと接続している。
内部電極30は、フォトリソグラフィなどのパターニング処理を行うことによって形成される。また、金属梁20a、20bの変形部上にバンプ15a、15bが形成される。バンプ15a、15bは例えば、Au、Cu、Ni、Al、Cr、鉛フリーはんだなどの導電性金属からなる。バンプ15a、15bは金属梁20a、20bから圧電振動片4が支持される側に向かって突出した形状であって、圧電振動片4の実装電極13a、13bと直接接合し、圧電振動片4を固定する。
本実施形態において、図2に示すように金属梁20a、20bは、固定部が固定端側に位置し、変形部が自由端側に位置する。また、本実施例の金属梁20a、20bの板厚は、数100μm〜数mm程度で形成されている。これは、数100μmより薄すぎると圧電振動片4を支持できず、数mmより厚すぎると圧電振動片4の実装時の押付力により金属梁20a、20bが塑性変形できない。このため、それらを同時に達成するために板厚は決定される。金属梁20a、20bは、例えばNi、Fe、Au、Al、Ti、Crやこれらの合金などからなる。なお、各金属梁の材料によっては、この厚さに限定されない。
貫通電極7a、7bは、ベース上面から下面までを貫通する金属からなる。各貫通電極は、例えばNi、Fe、Au、Al、Ti、Crやこれらの合金などからなる。金属梁20a、20bと貫通電極7a、7bは、同一材料からなっていても良い。
このように形成されたベース基板凹部21の空間があるため、金属梁20a、20bの変形部は、金属梁20a、20b上のバンプ15a、15bと圧電振動片4の実装電極13a、13bが直接接合する際に押付けられる。そして、変形部は、ベース基板凹部21が形成されている位置に向けて塑性変形をしている。このとき、ベース基板凹部21の段差、すなわち変形部における圧電振動片5を固定する側の面と反対の面と、ベース基板凹部21の底面との間の間隔は、圧電振動片4の実装時の押付による変位よりも大きくする。図2は、変形部が塑性変形している状態を示す。
また、金属梁及び貫通電極が直接接合する金属梁20b及び貫通電極7bは、一体形成されていてもよい。例えば、金属梁20b及び貫通電極7bは、T字型の金属ピンで形成される。この場合、金属梁20bは金属ピンの板状の基部からなり、貫通電極7bは金属ピンの基部から垂直に延出する円柱の延出部からなる。また、金属梁20b及び貫通電極7bは、溶接等により一体化されてもよい。なお、金属梁20a及び貫通電極7aにおいても、内部電極を介さず直接接合することも可能である。その際は金属梁20a及び貫通電極7aも一体形成されてもよい。
また、貫通電極7bはベース基板2に対して突出したように配置されてもよい。すなわち、貫通電極7bがベース基板2よりも厚く形成され、それぞれの厚さの差分が貫通電極7bの突出部となる。この場合、金属梁20bは、全体がベース基板2の上面から離間し、貫通電極7bの端面で固定される。また、この場合においても、金属梁20bと貫通電極7bは一体となるように形成されていても良い。この場合においても、支持部は、ベース基板2の上面側に固定される。このとき、上記の離間により、変形部における圧電振動片4を固定する側の面と反対側の面と、ベース基板2の上面との間に空間が形成されるため、ベース基板凹部21を設ける必要がない。
ここで、圧電振動デバイス1の製造方法の一例を図3(A)から(K)を用いて説明する。
図3(A)のようにベース基板2にベース基板2を貫通する一対のスルーホール(貫通孔)を、後述する蓋基板3との封止時に形成されるキャビティ16側に設けられる。
図3(B)のようにそのスルーホールを埋めるように貫通電極7a、7bを形成する。貫通電極7a、7bとスルーホールは、ベース基板2を溶融することで、それらの隙間を完全に塞ぐ。また、貫通電極7a、7bはめっき法などを用いて形成しても良い。また、貫通電極7a、7bは基板の厚み方向に対して垂直に形成されているが、この場合に限らず、例えばベース基板2の下面に向かって漸次径が縮径するテーパー状に形成しても構わない。貫通電極7bは、貫通電極7aとベース基板2の対角線上に形成される。
次に、ベース基板2にベース基板凹部21を形成する。この工程では、まずベース基板2上にスピンコート法、スプレー法などを用いて、フォトレジストを塗布する。そして、通常のフォトリソグラフィ技術を利用して、図3(C)のようにエッチングマスク31を形成する。
その後、図3(D)のようにベース基板2のエッチングマスク31が形成されていない領域をドライエッチングやウェットエッチングなどにより除去する。このとき、厚み方向に除去した深さが、ベース基板凹部21の段差となるため、エッチングレートを適切にコントロールし、所定深さだけ除去する。また、エッチングマスク31の面寸法はベース基板凹部21の面寸法とほぼ同一となる。
その後、図3(E)のようにエッチングマスク31を除去する。
次に、図3(F)に示すように貫通電極7bに金属梁20bを電気的に接続し、かつ、ベース基板2の上面及び貫通電極20bの端面に固定部を固定する。また、金属梁20aは、金属梁20bとベース基板凹部21を挟んで対向するベース基板2の上面に固定される。金属梁20a、20bは、圧電振動片4が固定可能であり、圧電振動片4を押圧するときに、固定部と変形部とが破断せず応力を吸収可能な剛性を持つように設計される。ここでいう破断とは、金属梁20a、20bが固定部と変形部との間で分断され、圧電振動片4と各貫通電極とが電気的導通が確保できない状態のことを言う。
貫通電極7aと金属梁20aとの電気的な接続では、図3(G)のようにフォトリソグラフィ技術を用いたパターニングで内部配線30を形成し、導通を取る。
なお、貫通電極7bと金属梁20bを直接金属接合しても良い。また、貫通電極7bと金属梁20bが一体構造となっていても良い。
次に、図3(H)のように金属梁20a、20bの変形部上にバンプ15a、15bを形成する。バンプ15a、15bは、実装時に圧電振動片4の実装電極13a、13bと接続可能な位置に形成する。
次に、図4(I)のようにベース基板2の縁部に、フォトリソグラフィ技術を用いたパターニングで接合膜9を形成する。接合膜9と各金属梁とは、離間して接合せず、電気的に絶縁している。
次に、バンプ15a、15bと圧電振動片4の実装電極13a、13bの導通が取れるようにフリップチップボンディング方法により接合を行う。この時、図4(J)のように実装時に圧電振動片4にかかる応力を緩和させるように、金属梁20a、20bが空間側、すなわち、ベース基板凹部21の底面側に変位する。
最後に、容器105と蓋106を固着させる(図4(K))。この時容器105の内部は大気であっても真空であっても良い。
上述したように、本実施形態では、バンプ15a、15bが金属梁20a、20bの変形部上に形成されている。また、その金属梁20a、20bの変形部のバンプ15a、15b側とは逆側にベース基板凹部21のような空間を設けている。
このような構成にすることで、従来の課題であったFCB実装時に圧電振動片4にかかる応力を、金属梁20a、20bがたわむことで緩和することができる。この結果、周波数温度特性やCI低下など圧電振動デバイス1の特性の劣化を防止することができる。
また、バンプ接合を用いることができたことにより、導電性接着剤を用いた場合の課題を解決することができる。すなわち、本実施形態により、接着領域を大きく確保する必要がなく、特性の変化を防ぐことができる。
また、導電性接着剤は凝固するまでに時間がかかるので、組立製造中、圧電振動片4を保持している。あるいは、導電性接着剤が凝固する時、圧電振動片4の自重でベース基板2に平行になるようにあらかじめ圧電振動片4を斜めに傾けて接着する方法を取らなければならない。本実施形態において、バンプ接合をすることでこのような工程を省くことができる。
(第二実施形態)
次に、本発明に係る圧電振動デバイス1の第2実施形態について図5を参照して説明する。なお、第一実施形態に係る圧電振動デバイス1と同一構成については、その説明を省略する。図5に示すように、金属梁20a、20bと実装電極13a、13bとを直接接合している。この場合、それぞれの接合部分において、金属を拡散させ、金属間接合する。
このような構成にすることで、より低背化に向いている。また、バンプ形成工程を減らすことが出来るため、生産性が高い。
(第三実施形態)
次に、本発明に係る圧電振動デバイス1の第3実施形態について図6および図7を参照して説明する。なお、第一、第二実施形態に係る圧電振動デバイス1と同一構成については、その説明を省略する。
圧電振動片4がフォトリソグラフィ技術を利用したウェットエッチング加工のZ’軸に長辺を持つ矩形チップである。
このような構成にすることで、圧電振動片50の短辺側の側面が傾斜して形成される。図7に示すように短辺側の側面は、圧電振動片50の上面から傾斜する上面傾斜部と、下面から傾斜する下面傾斜部とを有する。上面傾斜部及び下面傾斜部は、圧電振動片50の外側に広がって傾斜する。そのため、上面傾斜部及び下面傾斜部の接辺が最も幅が広い。ここで、図7に示す通り、この傾斜部を利用して、圧電振動片50の両側に形成される側面で支持することができる。これにより、実装が励振強度へ与える影響を少なくできる。また、上述の通りバンプ形成工程を減らすことも出来るため、生産性が高い。
<発振器>
(第四実施形態)
図8は、本発明の第四実施形態に係る発振器60の上面模式図である。本発振器60は第一実施形態に示す圧電振動片4を用いた圧電振動デバイス1を組み込んでいる。図8に示すように、発振器60は、基板63、この基板上に設置した圧電振動デバイス1、集積回路61及び電子部品62を備える。圧電振動デバイス1は、電極端子に与えられる駆動信号に基づいて一定周波数の信号を生成し、集積回路61及び電子部品62は、圧電振動デバイス1から供給される一定周波数の信号を処理して、クロック信号等の基準信号を生成する。本発明による圧電振動デバイス1は、高信頼性でかつ小型に形成することができるので、発振器60の全体をコンパクトに構成することができる。
なお、本発明は各実施形態に限定されず、ベース基板と、ベース基板の上面側に固定された少なくても1つ以上の支持部と、ベース基板の上面に対向させた状態でベース基板に接合された蓋基板と、ベース基板と蓋基板との間に形成されたキャビティ内に収納され支持部に固定された圧電振動片と、を備えている圧電振動デバイスにおいて、支持部は、ベース基板の上面側に固定される固定部と、固定部から延設され、圧電振動片を固定し、変形可能な変形部と、を有し、変形部における圧電振動片を固定する側の面と反対側の面と、ベース基板の上面との間に空間を有し、変形部は、反対側の面の方向に変形していればよい。
例えば、支持部が1つであってもよい。この場合、ベース基板凹部は、ベース基板の圧電振動片を実装する側の短辺の中央部分から支持部の配置される側に向かって形成される。また、ベース基板凹部は、この短辺の中央部分から支持部の配置される側と反対側には形成されていない。このため、実装電極のうち支持部に固定しないものは、ベース基板の上面に形成された金属膜上にバンプを介して固定される。この場合でも、支持部側で圧電振動片の実装時の応力を緩和することができる。
また、第一実施形態では、ベース基板凹部は、両方の支持部の変形部が位置するように1つ形成されているが、各変形部に対して、1つずつ形成されてもよい。この場合、2つのベース基板凹部が形成される。また、この際、支持部の変形部側が自由端である必要はない。例えば、1つの支持部の両端は、ベース基板の上面に固定されている。この場合、変形部は支持部の中央部に形成され、変形部の圧電振動片を固定する側と反対側のみにベース基板凹部が形成される。これらの場合にも、変形部は変形可能に形成される。
また、第一実施形態では、2つの実装電極を固定する2つの支持部が配置されているが、2つの実装電極を1つの支持部で形成してもよい。この場合、支持部は、絶縁性の樹脂、ガラスなどの絶縁材料や、セラミック材料で形成される。また、支持部の上面に各実装電極と電気的に接続する金属膜が形成される。各金属膜は、それぞれ電気的に絶縁している。また、各金属膜は、それぞれ異なる貫通電極と電気的に接続する。すなわち、圧電振動子は、1つの支持部に固定される。この場合にも、支持部の変形部が変形可能に形成されているため、圧電振動片の実装時の応力を緩和することができる。
また、各実施形態では、貫通電極を形成して、圧電振動片の実装電極と外部電極とを電気的に接続するが、これに限られない。例えば、金属梁は、ベース基板の上面と蓋基板の下面との間まで延出されてキャビティ外まで形成される。ベース基板の側面には、側面電極が形成され、金属梁のキャビティ外に形成された部分と側面電極とが接続し、さらに側面電極がベース基板の下面まで引き回されて外部電極と接続する構成にしてもよい。
また、支持部は少なくとも1つ以上形成されていればよい。
1 圧電振動デバイス
2 ベース基板
3 蓋基板
4 圧電振動片
5、6 励振電極
7a、7b 貫通電極
8 側面電極
9 接合膜
10 外部電極
13a、13b 実装電極
14 引出電極
15a、15b バンプ
16 キャビティ
20a、20b 金属梁
W1 金属梁幅
21 ベース基板凹部
W2 ベース基板凹部幅
30 内部電極
31 エッチングマスク
40 発振器
41 集積回路
42 電子部品
43 基板
50 ‘圧電振動片
60 発振器
61 集積回路
62 電子部品
63 基板
100 圧電振動子
101 ベース基板
102 蓋基板
103 圧電振動片
104 金属バンプ
105 励振電極
106 引き回し電極
107 外部電極
108 接合部
109 キャビティ

Claims (6)

  1. ベース基板と、前記ベース基板の上面側に固定された少なくても1つ以上の支持部と、前記ベース基板の上面に対向させた状態で前記ベース基板に接合された蓋基板と、前記ベース基板と前記蓋基板との間に形成されたキャビティ内に収納され、前記支持部に固定された圧電振動片と、を備えている圧電振動デバイスにおいて、
    前記支持部は、前記ベース基板の上面側に固定される固定部と、前記固定部から延設され、前記圧電振動片を固定し、変形可能な変形部と、を有し、
    前記変形部における前記圧電振動片を固定する側の面と反対側の面と、前記ベース基板の上面との間に空間を有し、
    前記変形部は、前記反対側の面の方向に変形することを特徴とする圧電振動デバイス。
  2. 前記変形部は、金属で形成されるバンプを介して前記圧電振動片を固定することを特徴とする請求項1に記載の圧電振動デバイス。
  3. 前記ベース基板は前記上面に凹部を有し、
    前記反対側の面と前記凹部の底面との間に前記空間を有することを特徴とする請求項1に記載の圧電振動デバイス。
  4. 前記圧電振動片は、2つの励振電極と、それぞれの前記励振電極に接続する2つの実装電極と、を有し、
    前記支持部は、金属梁で形成され、
    前記変形部は、1つの前記実装電極と電気的に接続することを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の圧電振動デバイス。
  5. 2つの前記支持部を有し、
    それぞれの前記支持部の前記変形部は、異なる前記実装電極と電気的に接続することを特徴とする請求項4に記載の圧電振動デバイス。
  6. 請求項1に記載の圧電振動デバイスと、
    前記圧電振動デバイスに駆動信号を供給する駆動回路と、を備える発振器。



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